- Document2.5téléversé parEllias Karankevich
- DocumentNelaev_SAPRtéléversé parEllias Karankevich
- DocumentПТП Испытания и контроль качества микроэлектронных устройствtéléversé parEllias Karankevich
- DocumentИспытания и контроль качества МЭУ. Спец. 2-41 01 31. к.116_11téléversé parEllias Karankevich
- Documentзондовые методы измерений(двухзондовый,четырёхзондовый)téléversé parEllias Karankevich
- DocumentFedorov v Sergeev n Kondrashin a Kontrol i Ispytaniia v Proetéléversé parEllias Karankevich
- Document1_2_Prezentatsia_Pogreshnost_Izmereny_I_Obrabotka_Rezultatov_Izmereniytéléversé parEllias Karankevich
- DocumentKursevich_Gistoryya_Belarusitéléversé parEllias Karankevich
- Document4_3_Sortirovka_I_Poisk_Informatsii_V_Massivetéléversé parEllias Karankevich
- DocumentMatson_E_a__Kryzhanovsky_D_v_Spravochnoe_Posobie_Po_Konstruirovaniyu_Mikroskhem_1982téléversé parEllias Karankevich
- DocumentRazvitie_Mop_Tekhnologiitéléversé parEllias Karankevich