Iec 61000-6-1-2016

I E C 61 000-6-1
®
Edition 3.0 201 6-08
I N TE R N ATI ON AL
STAN DAR D
N OR M E
I N TE R N ATI ON ALE
El ectrom ag n eti c co m pati bi l i ty (E M C) –
Part 6-1 : G en eri c stan d ard s – I m m u n i ty stan d ard for resi d en ti al , com m erci al an d
l i g h t-i n d u stri al en vi ro n m en ts
Co m pati bi l i té él ectrom ag n éti q u e (CE M ) –
Parti e 6-1 : N o rm es g én éri q u es – N orm e d ’ i m m u n i té pou r l es en vi ron n em en ts
rési d en ti el s, com m erci au x et d e l ' i n d u stri e l ég ère

IEC 61 000-6-1 :201 6-08(en-fr)
TH I S P U B L I C ATI O N I S C O P YR I G H T P R O TE C TE D
C o p yri g h t © 2 0 1 6 I E C , G e n e va , Sw i t z e rl a n d
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Technical Specifications, Technical Reports and other English and French, with equivalent terms in 1 5 additional
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committee,…). It also gives information on projects, replaced IEC publications issued since 2002. Some entries have been
and withdrawn publications. collected from earlier publications of IEC TC 37, 77, 86 and
CISPR.
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INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
INTERNATIONALE
ICS 33.1 00.20 ISBN 978-2-8322-3567-6
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Atten ti on ! Veu i l l ez vou s assu rer q u e vou s avez o bten u cette pu bl i cati on vi a u n d i stri bu teu r ag réé.
® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission

Marque déposée de la Commission Electrotechnique Internationale
–2– I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
CONTENTS
FOREWORD . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
I N TRODU CTI ON . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
1 Scope . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
2 N ormati ve references. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
3 Terms an d defin i tions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
4 Perform ance cri teria . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
5 Condi ti ons du ri ng testin g . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 0
6 Produ ct docu men tation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 0
7 Appl icabi li ty . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 0
8 M easu remen t uncertain ty . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1
9 I mmu ni ty test requ iremen ts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 1
An nex A (i nformative) Gu idance for product comm ittees . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 6
Bi bliog raph y . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 8
Fi gu re 1 – Equi pm en t ports . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
Table 1 – I mm u n ity requ iremen ts – Enclosu re port . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2

Table 2 – I mm u n ity requ iremen ts – Sig nal /control ports . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 3
Table 3 – I mm u n ity requ iremen ts – I npu t an d ou tpu t DC power ports . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 4
Table 4 – I mm u n ity requ iremen ts – I npu t an d ou tpu t AC power ports . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 5
Table A. 1 – I m mu ni ty tests and test levels to be considered in fu ture or for particu lar
produ ct fam ili es . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 7
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6 –3–
I NTERNATI ONAL ELECTROTECHN I CAL COMMI SSI ON

____________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 6-1 : Generic standards –
Immunity standard for residential,
commercial and light-industrial environments
FOREWORD
1 ) Th e I n tern ati on al El ectrotech n i cal Com m i ssi on (I EC) i s a worl d wi d e org an i zati on for stan dard i zati on com pri si n g
al l n ati on al el ectrotech n i cal com m i ttees (I EC N ati on al Com m i ttees) . Th e obj ect of I EC i s to prom ote
i n tern ati on al co-operati on on al l q u esti on s con cern i n g stan dard i zati on i n th e el ectri cal an d el ectron i c fi el ds. To
th i s en d an d i n ad di ti on to oth er acti vi ti es, I EC pu bl i sh es I n tern ati on al Stan d ards, Tech n i cal Speci fi cati on s,
Tech n i cal Reports, Pu bl i cl y Avai l abl e Speci fi cati on s (PAS) an d G u i d es (h ereafter referred to as “I EC
Pu bl i cati on (s) ”) . Th ei r preparati on i s en tru sted to tech n i cal com m i ttees; an y I E C N ati on al Com m i ttee i n terested
i n th e su bj ect d eal t wi th m ay parti ci pate i n th i s preparatory work. I n tern ati on al , g overn m en tal an d n on -
g overn m en tal org an i zati on s l i ai si n g wi th th e I EC al so parti ci pate i n th i s preparati on . I EC col l aborates cl osel y
wi th th e I n tern ati on al Org an i zati on for Stan d ard i zati on (I SO) i n accordan ce wi th con d i ti on s d eterm i n ed by
ag reem en t between th e two org an i zati on s.
2) Th e form al d eci si on s or ag reem en ts of I EC on tech n i cal m atters express, as n earl y as possi bl e, an i n tern ati on al
con sen su s of opi n i on on th e rel evan t su bj ects si n ce each tech n i cal com m i ttee h as represen tati on from al l
i n terested I EC N ati on al Com m i ttees.
3) I EC Pu bl i cati on s h ave th e form of recom m en d ati on s for i n tern ati on al u se an d are accepted by I EC N ati on al
Com m i ttees i n th at sen se. Wh i l e al l reason abl e efforts are m ad e to en su re th at th e tech n i cal con ten t of I EC
Pu bl i cati on s i s accu rate, I EC can n ot be h el d respon si bl e for th e way i n wh i ch th ey are u sed or for an y
m i si n terpretati on by an y en d u ser.
4) I n ord er to prom ote i n tern ati on al u n i form i ty, I EC N ati on al Com m i ttees u n d ertake to appl y I EC Pu bl i cati on s
tran sparen tl y to th e m axi m u m exten t possi bl e i n th ei r n ati on al an d reg i on al pu bl i cati on s. An y d i verg en ce
between an y I EC Pu bl i cati on an d th e correspon d i n g n ati on al or reg i on al pu bl i cati on sh al l be cl earl y i n d i cated i n
th e l atter.
5) I EC i tsel f does n ot provi d e an y attestati on of con form i ty. I n d epen d en t certi fi cati on bod i es provi d e con form i ty
assessm en t servi ces an d , i n som e areas, access to I EC m arks of con form i ty. I EC i s n ot respon si bl e for an y
servi ces carri ed ou t by i n d epen d en t certi fi cati on bodi es.
6) Al l u sers sh ou l d en su re th at th ey h ave th e l atest edi ti on of th i s pu bl i cati on .
7) N o l i abi l i ty sh al l attach to I EC or i ts di rectors, em pl oyees, servan ts or ag en ts i n cl u di n g i n d i vi du al experts an d
m em bers of i ts tech n i cal com m i ttees an d I EC N ati on al Com m i ttees for an y person al i n j u ry, property d am ag e or
oth er d am ag e of an y n atu re wh atsoever, wh eth er di rect or i n d i rect, or for costs (i n cl u d i n g l eg al fees) an d
expen ses ari si n g ou t of th e pu bl i cati on , u se of, or rel i an ce u pon , th i s I EC Pu bl i cati on or an y oth er I EC
Pu bl i cati on s.
8) Atten ti on i s d rawn to th e N orm ati ve referen ces ci ted i n th i s pu bl i cati on . U se of th e referen ced pu bl i cati on s i s
i n di spen sabl e for th e correct appl i cati on of th i s pu bl i cati on .
9) Atten ti on i s d rawn to th e possi bi l i ty th at som e of th e el em en ts of th i s I EC Pu bl i cati on m ay be th e su bj ect of
paten t ri g h ts. I EC sh al l n ot be h el d respon si bl e for i d en ti fyi n g an y or al l su ch paten t ri g h ts.
I n tern ati onal Standard I EC 61 000-6-1 h as been prepared by I EC techni cal com mittee 77:
El ectromag netic compatibi li ty.
Th is thi rd edi tion cancel s an d repl aces the second edi tion published i n 2005. This edi tion
consti tu tes a techn ical revi si on.
Th is edition i ncludes th e fol lowin g sig ni fican t tech nical chang es with respect to the previou s
edi tion :
a) im provement of the en vironm en tal description ;
b) extension of th e frequency rang e for th e radio-frequency el ectromag netic field test
accordin g to I EC 61 000-4-3;
–4– I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
c) amended test l evels at particu lar frequenci es for th e radio-frequ ency electrom agn eti c field
test according to I EC 61 000-4-3;
d) ch ang e of th e repetition frequency for the fast transien ts i mmu n ity test accordin g to
I EC 61 000-4-4;
e) i ntroduction of requ irem en ts according to I EC 61 000-4-34;
f) revision of th e test levels;
g ) consi derati on of measu remen t u ncertain ty;
h) addi ti on of An nex A.
The text of th is standard i s based on th e following docu men ts:
FDI S Report on voti n g

77/520/FDI S 77/522/RVD
Fu ll i n formati on on the votin g for the approval of th is stan dard can be fou nd in the report on
votin g i ndicated i n the above table.
Th is pu blication has been drafted in accordance wi th the I SO/I EC Directi ves, Part 2.
A l i st of al l parts in th e I EC 61 000 seri es, pu blish ed un der th e g en eral title Electromagnetic

compatibility (EMC) , can be fou nd on th e I EC websi te.
The com mi ttee h as decided that th e con ten ts of th is pu bl icati on wi ll remain u nchan ged u n ti l
th e stabil ity date indicated on the I EC websi te u nder "h ttp://webstore. iec. ch " in the data
related to the specific publ ication . At th is date, the publ ication will be
• recon firmed,
• withdrawn ,
• replaced by a revised edi ti on , or
• amended.
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6 –5–
I NTRODUCTI ON
I EC 61 000 is pu blished in separate parts accordin g to the followin g stru ctu re:
Part 1 : General
General considerations (in troduction , fu ndamen tal principles)
Defin i tions, terminolog y
Part 2: Environment
Descri ption of the en viron men t
Classification of the en vironm en t
Compatibi li ty l evels
Part 3: Limits
Em ission l imits
I m mu nity limi ts (insofar as th ey do n ot fal l u nder th e responsibili ty of the product
commi ttees)
Part 4: Testing and measurement techniques
M easu remen t techn iqu es
Testing techniques
Part 5: Installation and mitigation guidelines
I nstal lation g ui delines
M i tig ati on methods and devices
Part 6: Generic standards
Part 9: Miscellaneous
Each part is fu rther su bdi vided in to several parts, publ ished either as I nternational Standards
or as Techn ical Speci fi cations or Tech nical Reports, some of wh ich h ave already been
pu blished as sections. Others wil l be pu blished with the part nu mber followed by a dash and a
second nu mber identifyin g the subdivisi on (example: I EC 61 000-6-1 ) .
–6– I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 6-1 : Generic standards –
Immunity standard for residential,
commercial and light-industrial environments
1 Scope
Th is part of I EC 61 000 for EMC imm un i ty requ iremen ts applies to electrical and electron ic
equ ipmen t intended for use in residen tial, comm ercial , pu bl ic and li g ht-in du strial locations.
I m mu nity requ irem ents in the frequ ency ran ge 0 H z to 400 GH z are covered. N o tests n eed to
be performed at frequ encies wh ere no requiremen ts are speci fi ed.
Th is g eneric EMC imm un i ty stan dard is appl icabl e i f no relevan t dedicated produ ct or produ ct-
fam il y EM C im mu nity standard exists.
Th is standard applies to electrical and electronic equ ipmen t in tended to be operated in

• resi den tial locati ons, as defi ned in 3. 8, both in door an d ou tdoor,
• comm ercial, public and l ig h t i ndu strial locations, as defin ed in 3. 9, both i ndoor and
ou tdoor.
Th is stan dard applies also to equ ipm en t which is battery operated or is powered by a non-
pu blic, bu t non-indu stri al, l ow voltag e power distribu tion system if this equ ipm en t is in tended
to be u sed in the locations defined in 3. 8 or 3. 9.
Th is standard defi nes the im mun i ty test requ iremen ts for equi pmen t speci fi ed in the scope in
relati on to con tinu ous and transi en t, con du cted and radi ated distu rbances, inclu din g
electrostatic discharg es.
The im mu nity requ iremen ts have been selected to ensu re an adequ ate level of im mu nity for
equ ipmen t operatin g with in residen tial, comm erci al, pu blic an d lig ht-indu strial locations. Th e
levels do not, however, cover extrem e cases, wh ich may occur at any l ocation , bu t with an
extremel y low probabi li ty of occu rrence. N ot all distu rbance phen om ena h ave been inclu ded
for testi ng pu rposes in th is standard, bu t on l y those considered as relevan t for the equ ipm en t
covered by th is stan dard. These test requ iremen ts represent essential electrom ag netic
compatibil i ty i m mu n ity requ i rem en ts. They are speci fied for each port considered.
N OTE 1 I n form ati on on oth er d i stu rban ce ph en om en a i s g i ven i n I E C TR 61 000-4-1 .
N OTE 2 Safety con si d erati on s are n ot covered by th i s stan d ard .
N OTE 3 I n speci al cases, si tu ati on s wi l l ari se wh ere th e l evel s of d i stu rban ces m ay exceed th e test l evel s
speci fi ed i n th i s stan d ard , for exam pl e wh ere a h an d -h el d tran sm i tter i s u sed i n proxi m i ty to eq u i pm en t. I n th ese
i n stan ces, speci al m i ti g ati on m easu res m ay h ave to be em pl oyed .
2 Normative references
The following docu men ts, in whole or in part, are n orm ati vel y referenced in this docum en t and
are indispensabl e for i ts application . For dated references, on l y the edition ci ted appl ies. For
u ndated references, th e latest edition of th e referenced docu men t (inclu ding an y
amendm ents) appl ies.
I EC 60050-1 61 , International Electrotechnical Vocabulary – Part 161: Electromagnetic

compatibility (avail able at: www. electropedi a. org )
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6 –7–
Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-2: Testing and

I EC 61 000-4-2:2008,
measurement techniques – Electrostatic discharge immunity test
I EC 61 000-4-3:2006,
measurement techniques – Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test
I EC 61 000-4-3:2006/AMD1 :2007
I EC 61 000-4-3:2006/AMD2:201 0

I EC 61 000-4-4:201 2,
measurement techniques – Electrical fast transient/burst immunity test
I EC 61 000-4-5:201 4, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-5: Testing and
measurement techniques –Surge immunity test
I EC 61 000-4-6:201 3, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-6: Testing and
measurement techniques – Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency
fields
I EC 61 000-4-8:2009, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-8: Testing and
measurement techniques – Power frequency magnetic field immunity test
I EC 61 000-4-1 1 :2004,
measurement techniques – Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity
tests
I EC 61 000-4-20:201 0,
measurement techniques – Emission and immunity testing in transverse electromagnetic
(TEM) waveguides
I EC 61 000-4-21 :201 1 ,
measurement techniques – Reverberation chamber test methods
I EC 61 000-4-22:201 0,
measurement techniques – Radiated emissions and immunity measurements in fully anechoic
rooms (FARs)
I EC 61 000-4-34:2005, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-34: Testing and
measurement techniques – Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity
tests for equipment with mains current more than 16 A per phase
I EC 61 000-4-34:2005/AM D1 :2009
3 Terms and definitions
For the pu rposes of th is docu men t, th e terms and defin itions g iven in I EC 60050-1 61 as well
as the fol lowing appl y.
N OTE Ad d i ti on al d efi n i ti on s rel ated to EM C an d to rel evan t ph en om en a are g i ven i n oth er I EC an d CI SPR
pu bl i cati on s.
3.1
port
particu lar i n terface of the equ ipmen t wh ich cou ples th is equ ipment with or is in flu enced by th e
external electromag netic en viron men t
N ote 1 to en try: Exam pl es of ports of i n terest are sh own i n Fi g u re 1 . Th e en cl osu re port i s th e ph ysi cal bou n d ary
of th e eq u i pm en t (e. g . en cl osu re) . Th e en cl osu re port provi d es for radi ated an d el ectrostati c d i sch arg e (ESD)
en erg y tran sfer, wh ereas th e oth er ports provi d e for con d u cted en erg y tran sfer, ei th er by d i rect i n j ecti on or by
i n d u cti on .
–8– I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
Enclosure port
AC power port Signal/control port
EQUIPMENT
DC power port IEC

Figure 1 – Equipment ports
3.2
enclosure port
ph ysical bou ndary of the equ ipmen t throug h which electromagnetic fields m ay radiate or on
which they may impin ge
3.3
signal/control port
port at wh ich a con du ctor or cable in tended to carry si gnals i s con nected to the equ ipm ent
EXAM PLE An al og i n pu ts, ou tpu ts an d con trol l i n es; d ata bu ses; com m u n i cati on n etworks, etc.
3.4
power port
port at wh ich a conductor or cable, carryi ng the electrical i npu t/ou tpu t power needed for th e
operati on (fu nctioni ng) , is connected to the equ ipm ent
3.5
public mains network
electricity lines to wh ich al l categ ories of consu mers h ave access and which are operated by
an electrical power supply and/or distribu tion org an ization for the pu rpose of su pplyi ng
electrical energ y
3.6
long distance line
l i ne connected to a sign al/con trol port and whi ch inside a bui lding is l on g er than 30 m, or
wh ich leaves the bu ilding (i ncl uding a l ine instal led ou tdoors)
3.7
low voltage
voltag e h aving a valu e below a con ven ti onall y adopted limi t
N ote 1 to en try: Low vol tag e i s typi cal l y con si d ered as a set of vol tag e l evel s u sed for th e d i stri bu ti on of el ectri ci ty
an d wh ose u pper l i m i t i s g en eral l y accepted to be 1 000 V AC or 1 500 V DC.
[SOU RCE: I EC 60050-1 51 :2001 , 1 51 -1 5-03]
3.8
residential location
location which exists as an area of l an d desig nated for the constru ction of domestic dwellings,
and is ch aracterized by th e fact that equ ipmen t is directl y con nected to a low-vol tage public
mains network or con nected to a dedicated DC sou rce which is in ten ded to in terface between
th e equ i pm ent and the low-vol tage mains network
EXAM PLE Exam pl es of resi den ti al l ocati on s are: h ou ses, apartm en ts, farm bu i l d i n g s u sed for l i vi n g .
N ote 1 to en try: Th e fu n cti on of a d om esti c d wel l i n g i s to provi de a pl ace for on e or m ore peopl e to l i ve.
A d wel l i n g can be a si n g l e, separate bu i l di n g (as i n a d etach ed h ou se) or a separate secti on of a l arg er bu i l d i n g (as
i n an apartm en t i n an apartm en t bl ock) .
N ote 2 to en try: Th e con n ecti on between l ocati on an d el ectrom ag n eti c en vi ron m en t i s g i ven i n 3. 1 1 .
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6 –9–
3.9
commercial, public and light-industrial location
location exempl ified by areas of th e ci ty cen tre, offices, pu bl ic transport systems
(road/train/un dergrou nd) , and modern bu sin ess centres con tain in g a concen trati on of office
au tomation equ ipmen t (PCs, fax mach in es, photocopiers, telephones, etc. ) , an d characterized
by the fact that equ ipmen t is directly conn ected to a low-vol tage pu blic mains network or
connected to a dedicated DC sou rce which is i n tended to in terface between th e equ ipm en t
and th e l ow-vol tage mains network
EXAM PLE Exam pl es of com m erci al , pu bl i c or l i g h t-i n d u stri al l ocati on s are:

• retai l ou tl ets, for exam pl e sh ops, su perm arkets;
• bu si n ess prem i ses, for exam pl e offi ces, ban ks, h otel s, d ata cen tres;
• areas of pu bl i c en tertai n m en t, for exam pl e ci n em as, pu bl i c bars, d an ce h al l s;
• pl aces of worsh i p, for exam pl e tem pl es, ch u rch es, m osq u es, syn ag og u es;
• ou td oor l ocati on s, for exam pl e petrol stati on s, car parks, am u sem en t an d sports cen tres;
• g en eral pu bl i c l ocati on s, for exam pl e parks, am u sem en t faci l i ti es, pu bl i c offi ces;
• h ospi tal s, ed u cati on al i n sti tu ti on s, for exam pl e sch ool s, u n i versi ti es, col l eg es;
• pu bl i c traffi c area, rai l way stati on s, an d pu bl i c areas of an ai rport;
• l i g h t-i n d u stri al l ocati on s, for exam pl e worksh ops, l aboratori es, servi ce cen tres.
N ote 1 to en try: Th e con n ecti on between l ocati on an d el ectrom ag n eti c en vi ron m en t i s g i ven i n 3. 1 1 .
3.1 0
DC distribution network
local DC electricity su ppl y n etwork in the i n frastru ctu re of a certain site or bu i ldin g i n tended
for flexible u se by one or more differen t types of equ ipment and ensuring con tin uou s power
su pply i ndependen tl y from the conditi ons of the pu bl ic mains n etwork
N ote 1 to en try: Con n ecti on to a rem ote l ocal battery i s n ot reg ard ed as a DC d i stri bu ti on n etwork, i f su ch a l i n k
com pri ses on l y power su ppl y for a si n g l e pi ece of eq u i pm en t.
3.1 1
electromagnetic environment
totali ty of electrom ag n etic ph enomen a existi ng at a gi ven location
N ote 1 to en try: I n g en eral , th e el ectrom ag n eti c en vi ron m en t i s ti m e-d epen d en t an d i ts d escri pti on m ay n eed a
stati sti cal approach .
N ote 2 to en try: I t i s very i m portan t n ot to con fu se th e el ectrom ag n eti c en vi ron m en t an d th e l ocati on i tsel f.
[SOU RCE: I EC 60050-1 61 :1 990, 1 61 -01 -01 , modified – N ote 2 to entry has been added. ]
4 Performance criteria
A fu nctional description and a defin i ti on of th e equ i pm ent under test's (EU T) speci fic
performance cri teria, durin g or as a consequ ence of im mu nity testin g , shal l be provided by the
man u facturer and n oted i n the test report. Th ey sh al l be consisten t wi th one of th e followin g
g eneral criteria for each test as specifi ed in Tabl e 1 to Tabl e 4:
a) Performance criterion A: The EU T shal l con tinu e to operate as in tended durin g and after
th e test. N o deg radation of performance or loss of fu ncti on is al lowed below a
performance l evel speci fied by the manu facturer, wh en the EU T is u sed as in tended. I f th e
performance level is n ot speci fied by th e manu facturer, thi s may be deri ved from the
produ ct description an d docu men tation and wh at th e u ser may reasonably expect from the
equ ipment i f u sed as in tended.
b) Perform ance cri terion B: The EU T shal l continue to operate as in tended after the test. N o
deg radation of performance or loss of fu ncti on is allowed below a performance l evel
specified by the m anu factu rer, when th e EU T is u sed as i n ten ded. Th e performance level
may be replaced by a permissible l oss of performance. H owever, du ri ng the test
– 10 – I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
deg radation of perform ance is all owed bu t no ch ang e of actu al operating state or stored
data is allowed. I f the m ini mu m performance level or the perm issibl e perform ance loss is
n ot speci fied by the manu facturer, either of these may be deri ved from the produ ct
description and docu mentation and what th e u ser m ay reasonably expect from the
equ ipment i f u sed as in tended.
c) Perform ance criterion C: Temporary loss of function is al lowed du rin g th e test, provided
th e fu nction i s self-recoverable or can be restored by the operation of the con trols.
I f, as a resu lt of the application of the tests defin ed i n this stan dard, the EU T becom es
dang erous or u nsafe, i t sh all be deem ed to have fai led the test.
5 Conditions during testing

The equ i pment u nder test (EU T) shal l be tested in the expected most susceptible operating
mode, for example identi fi ed by perform ing lim i ted pre-tests. This m ode shall be consistent
with n orm al applications. The con fig u ration of th e test sam ple shal l be varied to ach ieve
maximu m susceptibili ty consistent wi th typical applications and instal lati on practi ce. The
con fi g uration and m ode of operation durin g th e tests shall be precisel y noted in th e test
report.
I f the equ ipm en t is part of a system, or can be connected to au xiliary equ ipmen t, the
equ ipmen t sh all be tested whi le con nected to th e m inimu m represen tative con fig uration of
au xi liary equ ipmen t necessary to exercise th e ports. Au xili ary equ ipment m ay be si mu l ated.
I n cases wh ere a man u factu rer's speci fication requ ires external protecti on devices or
measures wh ich are cl early speci fied in the u ser's m anu al, the test requ iremen ts of th is
standard shal l be appl ied wi th the external protecti on devices or measures in place.
I f th e equ ipm en t has a large nu mber of sim ilar ports or ports wi th m an y sim i lar conn ections, a
su fficient num ber shall be selected to si mu late actu al operatin g conditi ons and to ensu re th at
al l th e differen t types of term in ati on are covered. J ustification for th e selection of the tested
ports sh al l be inclu ded in th e test report.
The tests shall be carried ou t at one si ng le set of parameters wi thi n the operating ran ges of
temperatu re, hu mi dity an d atmospheric pressure speci fied for th e product and at th e rated
su pply vol tag e, un less oth erwise indicated in th e basic standard.
6 Product documentation
I f th e m anu factu rer is usi ng h is own specification for an acceptable level of EMC performance
or degradation of EMC performance du ri ng or after the testin g requ ired by th is standard, this
fact sh all be stated in the user docum en tati on . Th is specificati on itsel f shal l be made avai labl e
u pon request.
7 Applicability
The appl icati on of tests for eval u ation of im mu nity depends on th e particu lar equ ipmen t, i ts
con fi g uration , i ts ports, its technolog y and its operating conditions.
Tests shal l be appl ied to th e relevan t ports of th e equ ipmen t according to Table 1 to Table 4.
Tests shal l on l y be carried ou t wh ere th e relevan t ports exist.
I t may be determi ned from consideration of th e electrical characteristics and u sag e of

particu lar equi pmen t that some of th e tests are inappropriate and th erefore un necessary. I n
su ch a case, th e decision and ju sti fication not to test sh al l be recorded in the test report.
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6 – 11 –
8 Measurement uncertainty
Wh ere g u idance for the assessmen t of the i nstru men tation u ncertain ty of an im mu nity test is
specified in I EC TR 61 000-1 -6 or i n the corresponding basic standard, this shou ld be
followed.
9 Immunity test requirements

The im mu n ity test requ iremen ts for equ i pm ent covered by th is stan dard are g iven on a port by
port basis an d listed in Table 1 to Tabl e 4.
Tests shall be conducted i n a wel l-defi ned and reproduci bl e m an ner.
The tests shal l be carried ou t in di vidu al ly as si ng le tests. The tests m ay be performed i n an y

order. I den ti cal u ni ts may be u sed for testing i n parallel, and this in form ati on sh al l be
recorded in th e test report.
The descripti on of the test, relevant g enerator, appropriate m ethods, and the set-u p to be
used are g i ven i n basic standards, wh ich are referred to in Table 1 to Table 4.
The conten ts of th ese basic stan dards are not repeated here, however m odi fications or
addi tional in form ati on needed for th e practical appl ication of the tests are g i ven in th is
standard.
Table 1 – Immunity requirements – Enclosure port
En vironmental phenomena Test Units Basi c standards Remarks Performance
speci fi cations criterion
1 .1 Power-freq u en cy m ag n eti c 50, 60 Hz I EC 61 000-4-8 Appl i cabl e on l y to equ i pm en t con tai n i n g d evi ces A
fi el d su scepti bl e to m ag n eti c fi el ds.
3 A/m
Th e test sh al l be carri ed ou t at th e freq u en ci es
appropri ate to th e power su ppl y freq u en cy.
Eq u i pm en t i n ten d ed for u se i n areas su ppl i ed on l y at
on e of th ese freq u en ci es n eed on l y be tested at th at
freq u en cy.
1 .2 Rad i o-freq u en cy 80 to 1 000 MHz I EC 61 000-4-3 a, b, c Th e test l evel speci fi ed i s th e r. m . s. val u e of th e A
el ectrom ag n eti c fi el d . d
u n m od u l ated carri er.
Am pl i tu d e m odu l ated 3 V/m
80 % AM (1 kH z)
1 .3 Rad i o-freq u en cy 1 , 4 to 6, 0 GHz I EC 61 000-4-3 a, b, c Th e test l evel speci fi ed i s th e r. m . s. val u e of th e A
el ectrom ag n eti c fi el d . d
u n m od u l ated carri er.
Am pl i tu d e m od u l ated 3 V/m
– 12 –
80 % AM (1 kH z)
1 .4 El ectrostati c Con tact ± 4 (ch arg e vol tag e) kV I EC 61 000-4-2 See th e basi c stan d ard for appl i cabi l i ty of con tact B
d i sch arg e d i sch arg e an d /or ai r d i sch arg e test.
Ai r ± 8 (ch arg e vol tag e) kV B
d i sch arg e
a I EC 61 000-4-20 m ay be u sed for sm al l EU Ts as defi n ed i n I EC 61 000-4-20.
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6

b A fu l l y an ech oi c room (FAR) as d escri bed i n I EC 61 000-4-22 m ay al so be u sed as a test si te for rad i o-freq u en cy i m m u n i ty test.
c A reverberati on ch am ber (RVC) as d escri bed i n I EC 61 000-4-21 m ay al so be u sed . Th e forward power i n j ected i n to a reverberati on ch am ber P i n pu t i s g i ven by th e req u i red test
el ectri c-fi el d stren g th Etest as fol l ows:
2
 
 Etest 
Pinput =  f 
 E × CLF ( f ) 
 24or9 
f
wh ere CLF(f) i s th e ch am ber l oadi n g factor (d i m en si on l ess) at freq u en cy f, an d E i s th e averag e of th e n orm al i zed E-fi el d (i n (V/m ) /W 0 , 5 ) , obtai n ed from th e em pty
24 or 9
ch am ber val i d ati on (see An n exes B an d D of I EC 61 000-4-21 : 201 1 ) .
d For i n form ati on reg ard i n g si tu ati on s wi th a h i g h con cen trati on of m obi l e tran sm i tters, see for exam pl e I EC TR 61 000-2-5: 201 1 , 9. 3.
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
Table 2 – Immunity requirements – Signal/control ports
Envi ronmental Test speci ficati ons Units Basic Remarks Performance
phenomena standards criterion
2. 1 Rad i o-freq u en cy com m on 0, 1 5 to 80 MHz I EC 61 000-4-6 Th e test l evel speci fi ed i s th e r. m . s. val u e of A
m od e th e u n m od u l ated carri er. a, b
3 V
80 % AM (1 kH z)
c, d
2. 2 Su rg es 1 , 2/50 (8/20) Tr /Td µ s I EC 61 000-4-5 B
l i n e-to-earth ±1 kV (open ci rcu i t test
vol tag e)
2. 3 Fast tran si en ts ± 0, 5 kV (open ci rcu i t test I EC 61 000-4-4 Capaci ti ve cl am p u sed . b, e B
vol tag e)
5/50 tr / t w n s
5 or 1 00 Repeti ti on frequ en cy kH z
a
– 13 –
Th e test l evel can al so be d efi n ed as th e equ i val en t cu rren t i n to a 1 50 Ω l oad .
b Appl i cabl e on l y to ports i n terfaci n g wi th cabl es wh ose total l en g th accordi n g to th e m an u factu rer’ s fu n cti on al speci fi cati on m ay exceed 3 m .
c Appl i cabl e on l y to ports i n terfaci n g wi th l on g d i stan ce l i n es (see 3. 6) .
d Wh ere th e n orm al fu n cti on i n g can n ot be ach i eved becau se of th e i m pact of th e cou pl i n g /d ecou pl i n g n etwork (CDN ) on th e E U T, th e test sh al l be d on e wi th th e red u ced
fu n cti on al i ty. A rati on al e sh al l be g i ven i n th e test report for doi n g so. After th e test an d th e rem oval of th e CDN , th e n orm al fu n cti on sh al l n ot be affected .
e Th e test m ay be perform ed at on e or at both repeti ti on freq u en ci es. Th e u se of 5 kH z repeti ti on freq u en cy i s trad i ti on al ; h owever, 1 00 kH z i s cl oser to real i ty.
Table 3 – Immunity requirements – Input and output DC power ports
Envi ronmental Test speci ficati ons Units Basic Remarks Performance
phenomena standards criterion
3. 1 Rad i o-freq u en cy com m on 0, 1 5 to 80 MHz I EC 61 000-4-6 Th e test l evel speci fi ed i s th e r. m . s. val u e of A
m od e th e u n m od u l ated carri er. a, b
3 V
80 % AM (1 kH z)
c, f, g
3. 2 Su rg es 1 , 2/50 (8/20) Tr /Td µ s I EC 61 000-4-5 B
vol tag e)
l i n e-to-l i n e ± 0, 5 kV (open ci rcu i t test
vol tag e)
d, e, h
3. 3 Fast tran si en ts ± 0, 5 kV (open ci rcu i t test I EC 61 000-4-4 B
vol tag e)
5/50 tr / t w n s
– 14 –
DC ports wh i ch are n ot i n ten ded to be con n ected to a DC di stri bu ti on n etwork sh al l be tested as si g n al ports.
a Th e test l evel can al so be d efi n ed as th e equ i val en t cu rren t i n to a 1 50 Ω l oad .
b Appl i cabl e on l y to ports i n terfaci n g wi th cabl es wh ose total l en g th accordi n g to th e m an u factu rer's fu n cti on al speci fi cati on m ay exceed 3 m .
c Appl i cabl e on l y to ports i n terfaci n g wi th l on g d i stan ce l i n es; n ot appl i cabl e to i n pu t ports i n ten d ed for con n ecti on to a battery or a rech arg eabl e battery wh i ch sh al l be
rem oved or d i scon n ected from th e eq u i pm en t for rech arg i n g .
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6

d N ot appl i cabl e to i n pu t ports i n ten d ed for con n ecti on to a battery or a rech arg eabl e battery wh i ch sh al l be rem oved or di scon n ected from th e eq u i pm en t for rech arg i n g .
e Eq u i pm en t wi th a DC power i n pu t port i n ten ded for u se wi th a d edi cated AC–DC power ad aptor sh al l be tested on th e AC power i n pu t of th e AC–DC power ad aptor speci fi ed
by th e m an u factu rer (see test l evel of Tabl e 4) . Wh ere n o ad aptor i s speci fi ed th e test sh al l be d on e on th e DC power port u si n g th e test l evel of Tabl e 4. Wh ere an ad aptor
i s speci fi ed th e test i s appl i cabl e to DC power i n pu t ports on l y wh en i n ten ded to be con n ected perm an en tl y to cabl es l on g er th an 3 m .
f Eq u i pm en t wi th a DC power i n pu t port i n ten ded for u se wi th an AC–DC power ad aptor sh al l be tested on th e AC power i n pu t of th e AC–DC power ad aptor speci fi ed by th e
m an u factu rer or, wh ere n o adaptor i s speci fi ed , th e test sh al l be d on e on th e DC power port u si n g th e test l evel s of th i s tabl e.
g For su ppl y vol tag es wh ere n o test eq u i pm en t i s com m erci al l y avai l abl e (e. g . CDN s) , th i s test i s n ot req u i red .
h Th e test m ay be perform ed at on e or at both repeti ti on freq u en ci es. Th e u se of 5 kH z repeti ti on freq u en cy i s trad i ti on al ; h owever, 1 00 kH z i s cl oser to real i ty.
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
Table 4 – Immunity requirements – Input and output AC power ports
Envi ronmental Test speci ficati ons Units Basi c Remarks Performance
phenomena standards cri terion
4. 1 Rad i o-freq u en cy 0, 1 5 to 80 MHz I EC 61 000-4-6 Th e test l evel speci fi ed i s th e r. m . s. val u e of A
com m on m od e th e u n m od u l ated carri er. a
3 V
80 % AM (1 kH z)
4. 2 Vol tag e d i ps 0 % resi d u al vol tag e I EC 61 000-4-1 1 Vol tag e sh i ft at zero crossi n g s. b, e B c
0, 5 cycl e I EC 61 000-4-34
0 % resi d u al vol tag e B c
1 cycl e
70 % resi d u al vol tag e C
25/30 at 50/60 H z cycl e
4. 3 Vol tag e i n terru pti on s 0 % resi d u al vol tag e I EC 61 000-4-1 1 Vol tag e sh i ft at zero crossi n g s. b, e C
250/300 at 50/60 H z cycl e I EC 61 000-4-34
– 15 –
4. 4 Su rg es 1 , 2/50 (8/20) Tr /Td µ s I EC 61 000-4-5 See Cl au se 5, parag raph 3 B
of th i s stan dard. d
vol tag e)
l i n e-to-l i n e ±1 kV (open ci rcu i t test
vol tag e)
f
4. 5 Fast tran si en ts ±1 kV (open ci rcu i t test I EC 61 000-4-4 B
vol tag e)
5/50 tr / t w n s
a Th e test l evel can al so be d efi n ed as th e equ i val en t cu rren t i n to a 1 50 Ω l oad .
b Appl i cabl e on l y to i n pu t ports.
c For el ectron i c power con verters, th e operati on of protecti ve d evi ces (e. g . u n d ervol tag e protecti on ) an d th e perform an ce cri teri on C are al l owed .
d For su ppl y vol tag es wh ere n o test eq u i pm en t i s com m erci al l y avai l abl e (e. g . CDN s) , th i s test i s n ot req u i red .
e Th e test sh al l be carri ed ou t at th e freq u en ci es appropri ate to th e power su ppl y freq u en cy. Eq u i pm en t i n ten d ed to be u sed i n reg i on s wh ere on l y on e of th ese frequ en ci es i s
appl i ed n eeds to be tested at th i s speci fi c freq u en cy on l y.
f Th e test m ay be perform ed at on e or at both repeti ti on freq u en ci es. Th e u se of 5 kH z repeti ti on freq u en cy i s trad i ti on al ; h owever, 1 00 kH z i s cl oser to real i ty.
– 16 – I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
Annex A
(informative)
Guidance for product committees

Accordi ng to I EC Gu ide 1 07 g en eric im mun i ty standards specify a set of requ iremen ts, test
procedures and generalized perform ance criteria applicable to such produ cts or systems
in tended to be operated at locati ons havin g th e respective electromag netic en viron men t. The
norm ati ve part of this docu men t defin es a min imum set of i mm u n ity requ irem en ts for
equ ipmen t operatin g at locati ons in residen tial , commercial , and lig h t-indu stri al en vironmen ts.
H owever, there are electromag netic phen om ena wh ich are expected to occur or increase i n
th e fu tu re which m ig h t be relevant for some produ cts or produ ct fam il ies or in terference
cases. EMC comm ittees sh ou ld provi de advice and su pport to th e product committees in
setting of corresponding i mmu ni ty levels.
The pu rpose of Annex A i s to in dicate tests which m ig h t be relevan t for su ch fu tu re situ ations
or for some produ cts or produ ct famili es. Th e produ ct committees are requested to consider
th ose tests and test levels g i ven in Table A. 1 . As these tests are n ot formal ly referenced in
th is standard they are not needed for dem onstrating compl iance wi th this standard.
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6 – 17 –
Table A.1 – Immunity tests and test levels to be considered in future

or for particular product families
Electromagnetic Basi c standard Test levels Remarks
phenomenon according to basic
standard
Sh ou l d be con si d ered for eq u i pm en t
wh i ch i s l i kel y exposed to osci l l atory
tran si en ts, i n d u ced i n l ow-vol tag e cabl es
Ri n g wave I EC 61 000-4-1 2 2 d u e to th e swi tch i n g of el ectri cal n etworks
an d reacti ve l oad s, fau l ts an d i n su l ati on
breakdown of power su ppl y ci rcu i ts or
l i g h tn i n g .
H arm on i cs/ Sh ou l d be con si d ered for eq u i pm en t
i n terh arm on i cs/ I EC 61 000-4-1 3 2 wh i ch con tai n s ph ase-con trol s or oth er
si g n al l i n g zero-crossi n g detecti on tech n i q u es.
wh i ch i s l i kel y exposed to d i stu rban ces
(for exam pl e i n case of l on g cabl i n g )
typi cal l y g en erated by
– th e power di stri bu ti on system , wi th i ts
Com m on m od e fu n d am en tal freq u en cy, si g n i fi can t
con d u cted h arm on i cs an d i n terh arm on i cs;
I EC 61 000-4-1 6 2
d i stu rban ces bel ow – power el ectron i c eq u i pm en t (e. g .
1 50 kH z power con vertors) , wh i ch m ay i n j ect
d i stu rban ces i n to th e g rou n d
con d u ctors an d earth i n g system
(th rou g h stray capaci tan ce or fi l ters) ,
or g en erate di stu rban ces i n si g n al
an d con trol l i n es by i n d u cti on .
Sh ou l d be con si d ered for eq u i pm en t i n
i n d u stri al pl an ts bei n g exposed to
Sl ow d am ped repeti ti ve osci l l atory tran si en ts g en erated
I EC 61 000-4-1 8 2
osci l l atory wave by swi tch i n g tran si en ts an d th e i n j ecti on
of i m pu l si ve cu rren ts i n power system s
(n etworks an d el ectri cal eq u i pm en t) .
Di fferen ti al m od e sen si ti ve to AC power su ppl y
con d u cted d i stu rban ces i n th e freq u en cy ran g e 2 kH z
I EC 61 000-4-1 9 3
d i stu rban ces bel ow to 1 50 kH z, g en erated for exam pl e by
1 50 kH z power l i n e com m u n i cati on (PLC) system s
or power el ectron i c equ i pm en t.
Vol tag e d i ps, sh ort Sh ou l d be con si d ered for eq u i pm en t
i n terru pti on s an d sen si ti ve to th ese ph en om en a.
vol tag e vari ati on s I EC 61 000-4-29 2
on DC i n pu t power
ports
sen si ti ve to AC power su ppl y
Broad ban d a d i stu rban ces i n th e freq u en cy ran g e
I EC 61 000-4-31
d i stu rban ces above 1 50 kH z, g en erated for exam pl e by
broad ban d com m u n i cati on system s
operati n g on m ai n s.
a Th i s basi c stan d ard i s cu rren tl y u n d er d evel opm en t.
– 18 – I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
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techniques – Damped oscillatory wave immunity test
I EC 61 000-4-1 9, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-19: Testing and measurement
techniques – Test for immunity to conducted, differential mode disturbances and signalling in
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techniques – Voltage dips, short interruptions and voltage variations on d.c. input power port
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1 U n d er con si derati on .
– 20 – I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
SOMMAI RE
AVAN T-PROPOS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
I N TRODU CTI ON . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
1 Domain e d'appl ication . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
2 Références n orm atives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
3 Termes et défin itions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
4 Critères d’aptitu de à la fonction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
5 Condi ti ons pendan t l 'essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
6 Docum en tation du produ it . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
7 Appl icabi li té . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
8 I ncerti tu de de mesu re . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
9 Exi g ences pou r les essais d'imm un i té . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
An nexe A (in form ati ve) Gu ide à l ’i n tention des com ités de produ i ts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
Bi bliog raph ie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
Fi gu re 1 – Accès d’équ ipemen t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
Tableau 1 – Exi gences d'im mun i té – Accès par l’en veloppe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30

Tableau 2 – Exi gences d'im mun i té – Accès sig nal/comm ande . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
Tableau 3 – Exi gences d'im mun i té – Accès par les born es de puissance d'en trée et de
sortie en cou ran t con tinu . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
Tableau 4 – Exi gences d'im mun i té – Accès par les born es de puissance d'en trée et de
sortie en cou ran t al ternatif . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
Tableau A. 1 – Essais d'im mu nité et n iveau x d'essai à prendre en compte pou r l'avenir
ou pou r des fam il les de produ its particu lières . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6 – 21 –
COMMI SSI ON ÉLECTROTECHN I QUE I NTERNATI ONALE

____________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

Partie 6-1 : Normes génériques –
Norme d’immunité pour les environnements
résidentiels, commerciaux et de l'industrie légère
AVANT-PROPOS
1 ) La Com m i ssi on E l ectrotech n i q u e I n tern ati on al e (I EC) est u n e org an i sati on m on di al e d e n orm al i sati on
com posée d e l 'en sem bl e d es com i tés él ectrotech n i qu es n ati on au x (Com i tés n ati on au x d e l ’ I EC) . L’ I EC a pou r
obj et d e favori ser l a coopérati on i n tern ati on al e pou r tou tes l es q u esti on s d e n orm al i sati on d an s l es d om ai n es
d e l 'él ectri ci té et d e l 'él ectron i q u e. À cet effet, l ’ I EC – en tre au tres acti vi tés – pu bl i e d es N orm es
i n tern ati on al es, d es Spéci fi cati on s tech n i q u es, d es Rapports tech n i q u es, d es Spéci fi cati on s accessi bl es au
pu bl i c (PAS) et d es G u i d es (ci -après d én om m és "Pu bl i cati on (s) d e l ’ I EC") . Leu r él aborati on est con fi ée à d es
com i tés d 'étu des, au x travau x d esq u el s tou t Com i té n ati on al i n téressé par l e su j et trai té peu t parti ci per. Les
org an i sati on s i n tern ati on al es, g ou vern em en tal es et n on g ou vern em en tal es, en l i ai son avec l ’ I EC, parti ci pen t
ég al em en t au x travau x. L’ I EC col l abore étroi tem en t avec l 'Org an i sati on I n tern ati on al e de N orm al i sati on (I SO) ,
sel on des con di ti on s fi xées par accord en tre l es deu x org an i sati on s.
2) Les déci si on s ou accords offi ci el s d e l ’ I EC con cern an t l es q u esti on s tech n i q u es représen ten t, d an s l a m esu re
d u possi bl e, u n accord i n tern ati on al su r l es su j ets étu di és, étan t d on n é q u e l es Com i tés n ati on au x de l ’ I EC
i n téressés son t représen tés dan s ch aq u e com i té d’ étu des.
3) Les Pu bl i cati on s d e l ’ I EC se présen ten t sou s l a form e d e recom m an d ati on s i n tern ati on al es et son t ag réées
com m e tel l es par l es Com i tés n ati on au x d e l ’ I EC. Tou s l es efforts rai son n abl es son t en trepri s afi n q u e l ’ I EC
s'assu re de l 'exacti tu d e du con ten u tech n i q u e d e ses pu bl i cati on s; l ’ I EC n e peu t pas être ten u e respon sabl e de
l 'éven tu el l e m au vai se u ti l i sati on ou i n terprétati on q u i en est fai te par u n q u el con q u e u ti l i sateu r fi n al .
4) Dan s l e bu t d 'en cou rag er l 'u n i form i té i n tern ati on al e, l es Com i tés n ati on au x d e l ’ I EC s'en g ag en t, d an s tou te l a
m esu re possi bl e, à appl i q u er d e façon tran sparen te l es Pu bl i cati on s d e l ’ I EC d an s l eu rs pu bl i cati on s n ati on al es
et rég i on al es. Tou tes di verg en ces en tre tou tes Pu bl i cati on s d e l ’ I EC et tou tes pu bl i cati on s n ati on al es ou
rég i on al es correspon d an tes doi ven t être i n di q u ées en term es cl ai rs d an s ces dern i ères.
5) L’ I EC el l e-m êm e n e fou rn i t au cu n e attestati on d e con form i té. Des org an i sm es d e certi fi cati on i n d épen d an ts
fou rn i ssen t d es servi ces d 'éval u ati on d e con form i té et, dan s certai n s secteu rs, accèden t au x m arq u es de
con form i té d e l ’ I EC. L’ I EC n 'est respon sabl e d 'au cu n d es servi ces effectu és par l es org an i sm es d e certi fi cati on
i n d épen d an ts.
6) Tou s l es u ti l i sateu rs d oi ven t s'assu rer q u 'i l s son t en possessi on d e l a dern i ère éd i ti on de cette pu bl i cati on .
7) Au cu n e respon sabi l i té n e doi t être i m pu tée à l ’ I EC, à ses ad m i n i strateu rs, em pl oyés, au xi l i ai res ou
m an d atai res, y com pri s ses experts parti cu l i ers et l es m em bres d e ses com i tés d 'étu d es et d es Com i tés
n ati on au x d e l ’ I EC, pou r tou t préj u di ce cau sé en cas d e dom m ag es corporel s et m atéri el s, ou d e tou t au tre
d om m ag e de q u el q u e n atu re q u e ce soi t, di recte ou i n di recte, ou pou r su pporter l es coû ts (y com pri s l es frai s
d e j u sti ce) et l es d épen ses décou l an t d e l a pu bl i cati on ou d e l 'u ti l i sati on d e cette Pu bl i cati on d e l ’ I EC ou d e
tou te au tre Pu bl i cati on d e l ’ I EC, ou au crédi t q u i l u i est accord é.
8) L'atten ti on est atti rée su r l es référen ces n orm ati ves ci tées d an s cette pu bl i cati on . L'u ti l i sati on d e pu bl i cati on s
référen cées est obl i g atoi re pou r u n e appl i cati on correcte d e l a présen te pu bl i cati on .
9) L’ atten ti on est atti rée su r l e fai t q u e certai n s d es él ém en ts d e l a présen te Pu bl i cati on d e l ’ I EC peu ven t fai re
l ’ obj et d e d roi ts d e brevet. L’ I EC n e sau rai t être ten u e pou r respon sabl e d e n e pas avoi r i d en ti fi é d e tel s d roi ts
d e brevets et d e n e pas avoi r si g n al é l eu r exi sten ce.
La N orm e in tern ati onale I EC 61 000-6-1 a été établ ie par le com i té d'études 77 de l'I EC:
Compatibi li té électromag nétiqu e.
Cette troisièm e édi ti on an nu le et rem place l a deu xi ème édition parue en 2005. Cette édition
consti tu e u ne révisi on tech nique.
Cette édition i ncl u t les m odi fications techn iqu es majeures su ivantes par rapport à l 'édi tion
précéden te:
a) amélioration de la description de l 'envi ronnemen t;
– 22 – I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
b) extension de la plag e de fréqu ences pou r l 'essai au x ch am ps électrom ag nétiqu es au x

fréqu ences radi oélectriqu es conformémen t à l'I EC 61 000-4-3;
c) m odi fication des n iveau x d'essai à des fréqu ences particu l ières pou r l 'essai au x ch amps
électrom ag nétiques au x fréqu ences radi oélectriqu es conformémen t à l'I EC 61 000-4-3;
d) m odi fication de la fréqu ence de répéti tion pou r l'essai d'immu ni té au x transitoi res rapides
con formémen t à l'I EC 61 000-4-4;
e) présen tation des exigences con formém en t à l 'I EC 61 000-4-34;
f) révision des n i veau x d'essai ;
g ) prise en com pte de l'incerti tu de de m esure;
h) ajou t de l'Ann exe A.
Le texte de cette norme est issu des docu men ts su i van ts:
FDI S Rapport de vote

77/520/FDI S 77/522/RVD
Le rapport de vote i ndiqu é dans le tableau ci -dessu s donne tou te in formation su r l e vote ayan t
abou ti à l 'approbation de cette norme.
Cette pu bl ication a été rédig ée sel on les Directives I SO/I EC, Partie 2.
U ne l iste de tou tes les parties de la séri e I EC 61 000, publi ées sou s le ti tre g énéral
Compatibilité électromagnétique (CEM) , peu t être consu l tée su r le si te web de l'I EC.
Le com i té a déci dé qu e le con ten u de cette pu bl ication ne sera pas m odi fi é avan t l a date de
stabi l ité indiquée su r le si te web de l’I EC sous "http://webstore. iec. ch " dans les données
relati ves à la pu bl ication recherchée. À cette date, l a publication sera
• recon du i te,
• su pprim ée,
• remplacée par u n e édi tion révisée, ou
• amendée.
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6 – 23 –
I NTRODUCTI ON
L'I EC 61 000 est pu bliée sou s form e de plu sieu rs parties con formémen t à la structure
su i van te:
Partie 1 : Généralités
Considérati ons g én érales (in trodu ction, principes fondamentau x)
Défin i tions, terminolog ie
Partie 2: Environnement
Descri ption de l'environn em en t
Classification de l'environ nemen t
N iveau x de compatibi li té
Partie 3: Limites
Li mi tes d'émission
Li mi tes d'i mmu n ité (dans la mesure où elles ne relèvent pas des comi tés de produ its)
Partie 4: Techniques d’essai et de mesure
Tech niqu es de m esu re
Tech niqu es d'essai
Partie 5: Guide d'installation et d'atténuation
Gui de d'installation
M éth odes et dispositifs d'attén uation
Partie 6: Normes génériques
Partie 9: Divers
Chaqu e parti e est à son tou r su bdi vi sée en plusi eu rs parti es, pu bliées soit com me N ormes
in ternationales soit comm e Spéci fications techni qu es ou Rapports techniqu es, don t certaines
on t déjà été publ iées comm e sections. D’au tres seron t pu bl iées avec le nu méro de parti e,
su i vi d’un ti ret et complété d’un second nu méro identifian t la su bdi vision
(exem pl e: I EC 61 000-6-1 ) .
– 24 – I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

Partie 6-1 : Normes génériques –
Norme d’immunité pour les environnements
résidentiels, commerciaux et de l'industrie légère
1 Domaine d'application
La présen te partie de l 'I EC 61 000 concern an t les exigences d'im mu n ité en mati ère de
compatibi li té électrom ag n étiqu e s'appl iqu e au x équ ipements électriqu es et électron iqu es
desti nés à être u tilisés dans des si tes résidentiels, commerciau x, pu blics et de l 'indu stri e
lég ère. La présen te partie cou vre les exig ences d’i mm u ni té dans la plag e de fréqu ences de
0 H z à 400 GH z. I l n’est pas n écessaire de réal iser des essais au x fréqu ences pou r lesqu elles
au cu ne exig ence n ’est spécifiée.
Cette norme génériqu e d'im mu n ité CEM s'appl ique en l'absence de n orm e d'immu ni té CEM
applicable, spéci fiqu e à u n produ it ou à un e fam il le de produ its.
La présen te norme s'appl iqu e au x équ ipemen ts électriqu es et électron iqu es destin és à être
u tilisés dans
• des si tes résiden tiels, comme décrit en 3. 8, à la fois à l 'i n térieu r et à l'extérieu r,
• des sites com merci au x, publics et de l 'i ndu stri e l ég ère, comm e décri t en 3. 9, à l a fois à
l 'intérieu r et à l'extérieu r.
La présente n orm e s'appli que égalem ent au x équ ipem en ts al imentés par pil es ou batteri es ou
par un système de distribu tion basse tension non pu blic, m ais n on i ndu striel, lorsqu e ces
équ ipemen ts son t destinés à être u tilisés dans les si tes décri ts en 3. 8 ou 3. 9.
La présente n orm e définit l es exig ences des essais d'im mu ni té au x pertu rbations con tin u es et
transitoires, condu ites et rayon nées, y com pris au x décharges électrostati ques, pour les
équ ipemen ts spéci fiés dans l e domai ne d'application .
Les exig ences d'i mmu nité ont été choisies pou r assu rer u n n iveau adéqu at d'i mm u nité pour
les équ ipemen ts u til isés dans des sites rési den tiels, commerciau x, pu blics et de l'indu strie
lég ère. Ces n i veau x ne cou vren t cepen dan t pas les cas extrêm es qu i peu ven t apparaître,
mais avec un e très faible probabilité, sur un site quelcon qu e. La présen te n orm e ne comporte
pas, pou r l es besoins des essais, tou s les ph én omènes pertu rbateu rs m ais u ni qu emen t ceu x
qu i son t considérés com me applicables au x équ ipemen ts cou verts par l a norm e. Ces
exig ences d'essai représen ten t l es exig ences essentielles de com patibil ité électrom ag nétiqu e
concernan t l'imm un i té. Ell es son t spécifiées pou r ch aqu e accès considéré.
N OTE 1 Des i n form ati on s su r d ’ au tres ph én om èn es pertu rbateu rs son t fou rn i es d an s l 'I EC TR 61 000-4-1 .
N OTE 2 La présen te n orm e n e trai te pas d es aspects d e sécu ri té.
N OTE 3 Dan s d es cas spéci au x, d es si tu ati on s peu ven t apparaître d an s l esq u el l es l es n i veau x d e pertu rbati on
peu ven t d épasser l es n i veau x d 'essai spéci fi és d an s l a présen te n orm e, par exem pl e l orsq u 'u n ém etteu r portati f
est u ti l i sé à proxi m i té d 'u n équ i pem en t. Dan s ces ci rcon stan ces, d es m esu res parti cu l i ères d 'attén u ati on peu ven t
d evoi r être em pl oyées.
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6 – 25 –
2 Références normatives
Les docu men ts su i van ts son t ci tés en référence de m anière normati ve, en i n tégral ité ou en
partie, dans le présen t docum en t et son t indispensabl es pou r son appl ication . Pou r les
références datées, seu le l ’édi tion ci tée s’appli qu e. Pour l es références non datées, la dern ière
édi tion du docu m en t de référence s’appli qu e (y compris les éven tu els amen dem en ts) .
Vocabulaire Électrotechnique International – Partie 161: Compatibilité

I EC 60050-1 61 ,
électromagnétique (disponible sou s: www. electropedia. org )
I EC 61 000-4-2:2008, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-2: Techniques d'essai
et de mesure – Essai d'immunité aux décharges électrostatiques
et de mesure – Essai d’immunité aux champs électromagnétiques rayonnés aux fréquences
radioélectriques
I EC 61 000-4-3:2006/AMD1 :2007
I EC 61 000-4-3:2006/AMD2:201 0
I EC 61 000-4-4:201 2, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-4: Techniques d'essai

et de mesure – Essai d'immunité aux transitoires électriques rapides en salves
et de mesure – Essai d'immunité aux ondes de choc
et de mesure – Immunité aux perturbations conduites, induites par les champs
radioélectriques
et de mesure – Essai d'immunité au champ magnétique à la fréquence du réseau
I EC 61 000-4-1 1 :2004, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-11: Techniques
d'essai et de mesure – Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations
de tension
I EC 61 000-4-20:201 0, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-20: Techniques
d'essai et de mesure – Essais d’émission et d’immunité dans les guides d’onde TEM
I EC 61 000-4-21 :201 1 , Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-21: Techniques
d'essai et de mesure – Méthodes d'essai en chambre réverbérante
Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-22: Techniques
I EC 61 000-4-22:201 0,
d'essai et de mesure – Mesures de l'immunité et des émissions rayonnées dans des
enceintes complètement anéchoïques (FAR)
I EC 61 000-4-34:2005, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-34: Techniques
d'essai et de mesure – Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations
de tension pour matériel ayant un courant d’alimentation de plus de 16 A par phase
I EC 61 000-4-34:2005/AM D1 :2009
3 Termes et définitions
Pou r les besoins du présent docu men t, les termes et défin iti ons donnés dans
l'I EC 60050-1 61 , ainsi qu e les su ivan ts s’appliquen t.
– 26 – I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
N OTE D’ au tres d éfi n i ti on s rel ati ves à l a com pati bi l i té él ectrom ag n éti qu e (CEM ) et au x ph én om èn es q u i s’ y
rattach en t fi g u ren t d an s d ’ au tres pu bl i cati on s d e l 'I EC et d u CI SPR.
3.1
accès
in terface parti cu lière de l’équi pement qui cou ple cet équ ipemen t avec ou qu i est influ encé par
l'en viron nemen t électromagnétiqu e externe
N ote 1 à l ’ arti cl e: Des exem pl es d 'accès présen tan t u n i n térêt son t représen tés à l a Fi g u re 1 . L'accès par
l 'en vel oppe est l a fron ti ère ph ysi q u e d e l ’ apparei l (par exem pl e, l 'en vel oppe) . L'accès par l 'en vel oppe perm et u n
tran sfert d 'én erg i e rayon n ée et d e d éch arg e él ectrostati q u e (DES) , al ors q u e l es au tres accès perm etten t u n
tran sfert de l 'én erg i e con d u i te, soi t par i n j ecti on di recte, soi t par i n d u cti on .
Accès par l’enveloppe

Accès de puissance à courant alternatif Accès signal/commande
ÉQUIPEMENT
Accès de puissance à courant continu IEC
Figure 1 – Accès d’équipement

3.2
accès par l'enveloppe
fron tière physiqu e du m atériel à travers laqu el le des champs électromag nétiqu es peu ven t
rayon ner ou à laqu elle ils peu vent se h eu rter
3.3
accès signal/commande
accès au quel u n condu cteu r ou u n câble destin é à transporter des sig nau x est connecté à
l 'équ ipemen t
EXEM PLE Les en trées an al og i q u es, sorti es et l i g n es d e com m an d e, l es bu s d e d on n ées et l es réseau x d e

com m u n i cati on , etc.
3.4
accès par les bornes de puissance
poin t au qu el u n con ducteu r ou u n câbl e transportan t l'énerg ie él ectrique d'en trée/de sortie
nécessaire au fonctionnemen t est connecté à l'équ ipemen t
3.5
réseau public d'alimentation
li gnes él ectriqu es au xqu el les tou tes l es catég ories de consom mateurs on t accès et qui son t
rég ies par un org anisme assuran t la fou rn iture et/ou la distribu tion d'én erg ie él ectrique
3.6
ligne de grande longueur
li gne raccordée à un accès si gnal/comm ande et qu i à l ’i ntéri eu r d’u n bâtimen t est d’u ne
lon gu eur supérieu re à 30 m , ou qu i sort du bâtiment (y compris u n e lig ne instal lée à
l’extérieur)
3.7
basse tension
tensi on électriqu e de valeu r in férieu re à u n e li mi te adoptée par conven tion
N ote 1 à l 'arti cl e: La basse ten si on est g én éral em en t con si d érée com m e u n en sem bl e d es n i veau x de ten si on
u ti l i sés pou r l a d i stri bu ti on d 'én erg i e él ectri q u e et d on t l a l i m i te su péri eu re g én éral em en t adm i se est d e 1 000 V en
cou ran t al tern ati f et 1 500 V en cou ran t con ti n u .
[SOU RCE: I EC 60050-1 51 :2001 , 1 51 -1 5-03]

I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6 – 27 –
3. 8
si te résid entiel
site qu i existe en tan t qu e surface conçu e pou r la constructi on d'habitations et est caractérisé
par le fai t qu e l'équ ipemen t est directemen t rel ié à u n réseau pu bl ic d'al imentation basse
tensi on ou à un e sou rce de cou rant con ti nu dédiée destinée à servir d'in terface en tre
l'équ ipemen t et le réseau pu blic d'alim en tati on basse tension
EXEM PLE Les si tes rési d en ti el s son t par exem pl e d es m ai son s, d es appartem en ts et d es bâti m en ts ag ri col es
réservés à l 'h abi tati on .
N ote 1 à l ’ arti cl e: U n e h abi tati on a pou r bu t d 'offri r u n toi t à u n e ou pl u si eu rs person n es. U n e h abi tati on peu t être
u n bâti m en t u n i q u e et séparé (com m e d an s u n e m ai son i n d i vi du el l e) ou u n e secti on i sol ée d 'u n bâti m en t pl u s
g ran d (com m e d an s u n i m m eu bl e) .
N ote 2 à l 'arti cl e: Le l i en en tre si te et en vi ron n em en t él ectrom ag n éti q u e est don n é en 3. 1 1 .
3. 9
si te com m ercial , pu bl i c et de l 'i nd u strie l ég ère
site correspondan t par exem pl e au x espaces du cen tre-vil le, au x bu reau x, au x systèmes de
transport en com mun (rou te/trai n/sou terrain ) et au x cen tres d’affaires m odernes bénéfici an t
d'u n i mportan t matéri el bu reau tiqu e (ordinateu rs, télécopieu rs, ph otocopi eu ses, téléphon es,
etc. ) et caractérisé par le fai t que l'équ ipemen t est directement rel ié à u n réseau pu blic
d'al imen tation basse tension ou à u n e sou rce de couran t con ti nu dédiée destinée à servi r
d'interface en tre l 'équ ipem ent et le réseau pu blic d'alimen tation basse tension
EXEM PLE Les si tes com m erci au x, pu bl i cs ou d e l 'i n d u stri e l ég ère com pren n en t n otam m en t:
• l i eu x d e ven te au d étai l , par exem pl e bou ti q u es, su perm arch és;
• l ocau x com m erci au x, par exem pl e bu reau x, ban q u es, h ôtel s, cen tres d e trai tem en t d es don n ées;
• l ocau x d e l oi si rs recevan t d u pu bl i c, par exem pl e ci n ém as, bars, d an ci n g s;
• l i eu x d e cu l te, par exem pl e tem pl es, ég l i ses, m osq u ées, syn ag og u es;
• si tes extéri eu rs, par exem pl e stati on s-servi ce, parcs de stati on n em en t, cen tres de l oi si rs et cen tres sporti fs;
• si tes pu bl i cs, par exem pl e parcs, i n stal l ati on s d e l oi si rs, bu reau x pu bl i cs;
• h ôpi tau x, établ i ssem en ts scol ai res, par exem pl e écol es, u n i versi tés, facu l tés;
• voi e pu bl i q u e, g ares et zon es pu bl i q u es d 'aéroport;
• l ocau x d e l 'i n d u stri e l ég ère, par exem pl e atel i ers, l aboratoi res, cen tres d e servi ces.
N ote 1 à l 'arti cl e: Le l i en en tre si te et en vi ron n em en t él ectrom ag n éti qu e est d on n é en 3. 1 1 .
3. 1 0
réseau de d i stributi on en cou ran t conti nu
réseau d'alim entation électrique local en cou rant con tinu dans l'i nfrastru cture d'u n site ou d'un
bâtiment donné desti né à u ne u ti lisati on flexible par u n ou plu sieu rs types d’équ ipemen ts et
assu ran t u ne ali men tati on con tinu e in dépendamm en t des condi ti ons du réseau pu blic
d'al imen tation
N ote 1 à l ’ arti cl e: La con n exi on à u n e batteri e l ocal e di stan te n 'est pas con si d érée com m e u n réseau de
d i stri bu ti on en cou ran t con ti n u , si u n e tel l e l i ai son n e com pren d q u e l 'al i m en tati on pou r u n seu l équ i pem en t.
3. 1 1
en vi ronnement él ectromag nétiq ue
ensemble des phénomèn es électrom ag nétiqu es existan t à u n en droi t donné
N ote 1 à l 'arti cl e: L’ en vi ron n em en t él ectrom ag n éti q u e d épen d en g én éral d u tem ps et sa d escri pti on peu t exi g er
u n e approch e stati sti qu e.
N ote 2 à l 'arti cl e: I l est très i m portan t d e n e pas con fon d re l 'en vi ron n em en t él ectrom ag n éti q u e avec l e si te l u i -
m êm e.
[SOU RCE: I EC 60050-1 61 :1 990, 1 61 -01 -01 , modifiée – N ote 2 à l'article a été ajou tée. ]
– 28 – I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
4 Critères d’aptitude à la fonction

U ne descripti on fonctionn el le et u ne définition des cri tères spécifiqu es d’apti tu de à l a fonction
de l'équ ipem en t en essai (EU T 1 ) , pendant ou à l’issue des essais d'im mu ni té, doi ven t être
fou rn ies par le fabrican t et consig nées dans l e rapport d'essai . Elles doiven t être coh éren tes
avec l'u n des critères g énérau x su i van ts pou r chaqu e essai , com me spéci fié dans les
Tableau x 1 à 4:
a) Cri tère d’apti tu de A: L'EU T doit continu er à fonction ner comme prévu pendan t et après
l 'essai . Au cu ne dégradation de l’aptitu de ou perte de fonction n 'est au torisée au-dessous
d’u n niveau d'aptitude spéci fié par le fabricant lorsqu e l'EU T est u ti lisé comme prévu . Si le
n iveau d'aptitu de n 'est pas spécifi é par l e fabrican t, i l peu t être dédu i t de la descripti on et
de la docum entation du produ i t et de ce qu e l'u ti lisateu r est raisonnabl emen t en droit
d'attendre de l’équ ipemen t s'il est u til isé com me prévu .
b) Cri tère d’aptitude B: L'EU T doi t con tinu er à foncti onn er comm e prévu après l'essai .
Au cune dégradation de l ’aptitu de ou perte de fonction n 'est au torisée au -dessou s d’un
n iveau d'aptitude spéci fié par le fabrican t lorsque l'EU T est u ti lisé comm e prévu . Le
n iveau d'aptitu de peu t être remplacé par u ne perte d'apti tu de adm issible. Tou tefois, si u ne
dég radation de l’aptitude est au torisée pendan t l 'essai, au cu ne modification du m ode de
fonctionnemen t réel ou des don nées mémorisées n 'est adm issible. Si le n iveau m in i mal
d'aptitude ou l a perte d'aptitude adm issible n'est pas spécifi é par l e fabricant, ils peu ven t
être dédu its de l a description et de la docu men tation du produ it et de ce qu e l'u til isateur
est raison nablemen t en droi t d'attendre de l ’équ ipem ent s'il est u ti lisé com me prévu .
c) Cri tère d’apti tu de C: U ne perte de fonction tem poraire est admise pendant l'essai, pou rvu
qu e cette fonction soit au torécupérable ou pu isse être rétablie par u ne interven tion su r les
comm andes.
Si l 'EU T devien t dangereu x ou présen te des risqu es par su ite de l 'appl ication des essais
défi nis dans l a présen te n orm e, i l doit être considéré comme n 'ayant pas satisfait à l'essai .
5 Conditions pendant l'essai

L'équ ipement en essai (EU T) doit être sou mis au x essais dans l e m ode de fonction nemen t
répu té condu ire à la susceptibil i té la plu s g rande, iden ti fi é par exemple en réal isan t des
essais prélimi naires l imi tés. Ce mode doi t être cohéren t avec l es appli cations normales. La
con fi g uration de l 'échanti llon d’essai doi t être choisie pour obten ir l a su scepti bi li té maximale
correspondant au x appl ications et pratiques d'instal lation types. La confi g u ration et l e mode
de fonctionnement u til isés au cours des essais doiven t être consi gnés avec précision dans le
rapport d'essai .
Si l ’équi pemen t fait partie d'u n systèm e, ou peu t être raccordé à des équ ipem ents au xi li ai res,
il doit être soum is à l’essai en étant conn ecté à l a con fig uration représentative m ini male
d’équ ipemen ts au xil i aires permettan t l ’essai au x accès. Les équ ipemen ts au xil i aires peu vent
être si mu lés.
Lorsqu e l a spécification du fabrican t exig e des dispositifs ou des mesu res de protection
externes qu i son t cl airem en t spécifié(e) s dans le manu el u tilisateu r, l es exig ences d'essai de
la présen te n orm e doiven t être appliquées avec l es disposi ti fs ou les mesu res de protection
externes m is(es) en œuvre.
Si l ’équ ipem en t possède u n g rand n ombre d'accès analog ues ou d'accès comportan t un
g ran d n ombre de con nexions an alog u es, u n n ombre su ffisan t d'entre eu x doit être ch oi si pour
sim u ler l es condi tions de fonction nemen t réel les et pour s'assu rer que tou s l es di fféren ts
types d'accès son t cou verts. La ju stifi cation associée au choix des accès sou mis à essai doi t
être i ncluse dans le rapport d'essai .
__________
1 EU T = equipment under test.
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6 – 29 –
Les essais doi ven t être effectu és au n i veau d’u n ensemble u ni que de param ètres dans les
plages de fonction nem ent de températu re, d’h um idi té et de pression atmosphériqu e
spécifiées pou r le produ i t et à la tensi on assig née d’alimen tation , sau f indication contraire
dans la n orm e de base.
6 Documentation du produit
Si le fabrican t u tilise sa propre spéci fication de n i veau acceptable de com patibi li té
électrom ag nétique ou de dégradation , pen dan t ou après les essais exig és par la présente
norm e, ce fait doit être i ndiqué dans la docu men tation desti née au x u til isateurs. Cette
spécification doit être el le-même dispon ible su r dem ande.
7 Applicabilité
L'applicati on des essais pour l'évalu ation de l'imm un i té dépend du type particu l ier
d’équ ipemen t, de sa config u ration , de ses accès, de sa technolog ie et de ses con ditions de
fonctionnemen t.
Les essais doi ven t être appl iqu és au x accès appropriés de l’équ ipem ent con formémen t au x
Tableau x 1 à 4. Ces essais ne doiven t être effectu és qu e lorsqu e l es accès correspondan ts
existen t.
I l peu t être déterminé à partir de l'étu de des caractéristiqu es électriqu es et de l'u sag e d’un
équ ipemen t particu li er qu e certains des essais son t i nappropriés et, en conséquence i nu ti les.
Dans u n tel cas, la décision et la justification de ne pas effectu er l'essai doi ven t être
consig nées dans le rapport d'essai .
8 Incertitude de mesure
Si des li gnes directrices pou r l'évalu ati on de l'incerti tu de de l'instru men tation d'un essai
d'im mu ni té son t spéci fi ées dans l'I EC TR 61 000-1 -6 ou dans la norme de base
correspondan te, i l con vi ent de les observer.
9 Exigences pour les essais d'immunité

Les exigences pou r les essais d'imm u ni té pou r les équ ipem ents cou verts par la présente
norm e sont indi qu ées accès par accès, et répertori ées dans l es Tableaux 1 à 4.
Les essais doi ven t être effectués selon une procédu re bi en défi nie et reproducti ble.
Les essais doi ven t être effectu és comme des essais indépendan ts les u ns des au tres. Les
essais peu ven t être réal isés dans n’i mporte qu el ordre. Des u ni tés identiqu es peu ven t être
u tilisées pou r des essais en paral lèle et ces in form ati ons doi ven t être consign ées dans l e
rapport d'essai .
La descri ption de l 'essai , les caractéristiques du g énérateu r, les méth odes appropriées et le
m on tag e à u tiliser son t donn és dans les normes de base m en tionnées dans l es Tableau x 1
à 4.
Le contenu de ces n ormes de base n ’ est pas répété ici ; cependan t des modifications ou des
i nformations complémentaires nécessaires à l ’ appl ication prati qu e des essais son t données
dans la présen te n orm e.
Tableau 1 – Exigences d'immunité – Accès par l’enveloppe
Phénomènes Spécificati ons Unités Normes de base Remarques Cri tère
d’ envi ronnem ent d’ essai d’ apti tude
1 .1 Ch am p m ag n éti q u e à l a 50, 60 Hz I EC 61 000-4-8 Appl i cabl e u n i qu em en t au x équ i pem en ts com portan t A
fréq u en ce du réseau d es d i sposi ti fs sen si bl es au x ch am ps m ag n éti q u es.
3 A/m
L'essai d oi t être effectu é à d es fréq u en ces
correspon dan t à l a fréq u en ce d e l ’ al i m en tati on . I l est
n écessai re q u e l es éq u i pem en ts desti n és à être
u ti l i sés d an s des zon es al i m en tées à seu l em en t u n e
d e ces fréq u en ces soi en t sou m i s à l 'essai u n i q u em en t
à cette fréq u en ce.
1 .2 Ch am p él ectrom ag n éti q u e à 80 à 1 000 MHz I EC 61 000-4-3 a, b, c Le n i veau d 'essai spéci fi é est cel u i d e l a val eu r A
fréq u en ce rad i oél ectri q u e. d effi cace d e l a porteu se avan t m od u l ati on .
M od u l é en am pl i tu d e 3 V/m
80 % M A (1 kH z)
1 .3 Ch am p él ectrom ag n éti q u e à 1 , 4 à 6, 0 GHz I EC 61 000-4-3 a, b, c Le n i veau d 'essai spéci fi é est cel u i d e l a val eu r A
fréq u en ce rad i oél ectri q u e. d effi cace d e l a porteu se avan t m od u l ati on .
3 V/m
M od u l é en am pl i tu d e
– 30 –
80 % M A (1 kH z)
1 .4 Déch arg e Déch arg e ± 4 (ten si on de kV I EC 61 000-4-2 Voi r l a n orm e de base pou r l 'appl i cabi l i té d es essai s B
él ectrostati q u e au con tact ch arg e) d e d éch arg es au con tact et/ou d es d éch arg es d an s
l 'ai r.
Déch arg e ± 8 (ten si on de kV B
d an s l 'ai r ch arg e)
a L'I EC 61 000-4-20 peu t être u ti l i sée pou r l es EU T d e peti te tai l l e d éfi n i s d an s l 'I EC 61 000-4-20.
b U n e en cei n te com pl ètem en t an éch oïq u e (FAR) com m e d écri te d an s l 'I EC 61 000-4-22 peu t ég al em en t être u ti l i sée com m e si te d 'essai pou r l 'essai d 'i m m u n i té à fréq u en ce
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6

rad i oél ectri q u e.
c U n e ch am bre réverbéran te (RVC) com m e d écri te d an s l 'I EC 61 000-4-21 peu t ég al em en t être u ti l i sée. La pu i ssan ce i n ci den te i n j ectée dan s u n e ch am bre réverbéran te P i n pu t
est d on n ée par l 'i n ten si té d ’ essai exi g ée du ch am p él ectri q u e Etest com m e su i t:
2
 
 Etest 
Pinput =  f 
 E × CLF ( f ) 
 24or9 
f
où CLF(f) est l e facteu r d e charg e d e l ’ en cei n te (san s d i m en si on ) à l a fréqu en ce f et E est l a m oyen n e d u ch am p E n orm al i sé (en (V/m ) /W 0, 5 ) , obten u s à parti r de l a
24 or 9
val i d ati on d e l ’ en cei n te vi d e (voi r An n exes B et D d e l 'I E C 61 000-4-21 :201 1 ) .
d Pou r d es i n form ati on s rel ati ves à d es si tu ati on s d an s l esq u el l es d es ém etteu rs m obi l es son t n om breu x, voi r par exem pl e 9. 3 d e l 'I EC TR 61 000-2-5: 201 1 .
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
Tableau 2 – Exigences d'immunité – Accès signal/commande
Phénomènes Spécificati ons d’ essai Uni tés Normes de base Remarques Cri tère
d’ en vironnem ent d’ apti tude
2. 1 Fréq u en ce radi oél ectri q u e 0, 1 5 à 80 MHz I EC 61 000-4-6 Le n i veau d 'essai spéci fi é est cel u i d e l a A
en m od e com m u n val eu r effi cace d e l a porteu se avan t
3 V m od u l ati on . a, b
80 % M A (1 kH z)
2. 2 On d es de ch oc 1 , 2/50 (8/20) Tr /Td µ s I EC 61 000-4-5 c, d B
ph ase-terre ±1 kV (ten si on d 'essai en
ci rcu i t ou vert)
2. 3 Tran si toi res rapi d es ± 0, 5 kV (ten si on d 'essai en I EC 61 000-4-4 U ti l i sati on d e l a pi n ce capaci ti ve. b , e B
ci rcu i t ou vert)
5/50 tr / t w n s
5 ou 1 00 Fréqu en ce d e répéti ti on
kH z
– 31 –
a Le n i veau d ’ essai peu t ég al em en t être d éfi n i com m e étan t l e cou ran t éq u i val en t d an s u n e ch arg e d e 1 50 Ω .
b Appl i cabl e seu l em en t au x accès con n ectés à d es câbl es d on t l a l on g u eu r total e, sel on l es spéci fi cati on s fon cti on n el l es d on n ées par l e fabri can t, peu t d épasser 3 m .
c Appl i cabl e seu l em en t au x accès con n ectés à d es l i g n es d e g ran d e l on g u eu r (voi r 3. 6) .
d Lorsq u e l e fon cti on n em en t n orm al n e peu t pas être obten u en rai son d e l 'i m pact d u réseau d e cou pl ag e/d écou pl ag e (RCD) su r l 'équ i pem en t en essai (EU T) , l 'essai d oi t être
effectu é avec l a fon cti on n al i té réd u i te. Au qu el cas, u n e j u sti fi cati on d oi t être fou rn i e d an s l e rapport d 'essai . Après l 'essai et après avoi r reti ré l e réseau d e
cou pl ag e/d écou pl ag e, l a fon cti on n orm al e n e d oi t pas être affectée.
e L'essai peu t être réal i sé à u n e seu l e ou au x d eu x fréq u en ces d e répéti ti on . I l est cou ran t d 'u ti l i ser u n e fréq u en ce d e répéti ti on de 5 kH z; tou tefoi s, u n e fréq u en ce d e
1 00 kH z est pl u s proch e d e l a réal i té.
Tableau 3 – Exigences d'immunité – Accès par les bornes de puissance d'entrée et de sortie en courant continu
Phénomènes Spécificati ons Uni tés Normes de base Remarques Critère
d’ en vironnem ent d’ essai d’ aptitude
3. 1 Fréq u en ce radi oél ectri q u e en 0, 1 5 à 80 MHz I EC 61 000-4-6 Le n i veau d 'essai spéci fi é est cel u i d e A
m od e com m u n l a val eu r effi cace d e l a porteu se
3 V avan t m odu l ati on . a, b
80 % M A (1 kH z)
c, f, g
3. 2 On d es de ch oc 1 , 2/50 (8/20) Tr /Td µ s I EC 61 000-4-5 B
ph ase-terre ±1 kV (ten si on d 'essai en ci rcu i t
ou vert)
en tre ph ases ± 0, 5 kV (ten si on d 'essai en ci rcu i t
ou vert)
d , e, h
3. 3 Tran si toi res rapi d es ± 0, 5 kV (ten si on d 'essai en ci rcu i t I EC 61 000-4-4 B
ou vert)
5/50 tr / tw n s
5 ou 1 00 Fréq u en ce d e répéti ti on kH z
– 32 –
Les accès en cou ran t con ti n u n on d esti n és à être raccordés à u n réseau d e di stri bu ti on en cou ran t con ti n u d oi ven t être sou m i s à essai com m e d es accès par l es born es d e
si g n au x.
b Appl i cabl e seu l em en t au x accès con n ectés à d es câbl es d on t l a l on g u eu r total e, sel on l es spéci fi cati on s fon cti on n el l es d on n ées par l e fabri can t, peu t d épasser 3 m .
c Appl i cabl e seu l em en t au x accès con n ectés à d es l i g n es d e g ran d e l on g u eu r; n on appl i cabl e au x accès d ’ en trée d esti n és au raccord em en t à u n e pi l e ou u n e batteri e
rech arg eabl e, q u i d oi t être reti rée ou d écon n ectée d e l ’ éq u i pem en t pou r être rech arg ée.
d N on appl i cabl e au x accès d’ en trée d esti n és au raccord em en t à u n e pi l e ou u n e batteri e rech arg eabl e, q u i d oi t être reti rée ou décon n ectée d e l ’ équ i pem en t pou r être
rech arg ée.
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6

e Les éq u i pem en ts com portan t u n accès d ’ en trée pou r cou ran t con ti n u d esti n és à être u ti l i sés avec u n ad aptateu r d 'al i m en tati on cou ran t al tern ati f – cou ran t con ti n u d oi ven t
être sou m i s à l ’ essai su r l 'en trée en cou ran t al tern ati f d e l 'ad aptateu r d 'al i m en tati on cou ran t al tern ati f – cou ran t con ti n u spéci fi é par l e fabri can t (voi r l e n i veau d 'essai d u
Tabl eau 4) . Lorsq u ’ au cu n ad aptateu r n 'est spéci fi é, l 'essai d oi t être effectu é su r l 'accès par l es born es d e pu i ssan ce en cou ran t con ti n u con form ém en t au n i veau d 'essai d u
Tabl eau 4. Lorsq u ’ u n ad aptateu r est spéci fi é, l 'essai est appl i cabl e au x accès d ’ en trée pou r cou ran t con ti n u seu l em en t l orsq u e ceu x-ci son t d esti n és à être con n ectés en
perm an en ce à d es câbl es don t l a l on g u eu r est su péri eu re à 3 m .
f Les éq u i pem en ts com portan t u n accès d 'en trée pou r cou ran t con ti n u d esti n és à être u ti l i sés avec u n ad aptateu r d 'al i m en tati on cou ran t al tern ati f – cou ran t con ti n u d oi ven t
être sou m i s à l 'essai su r l 'en trée en cou ran t al tern ati f d e l 'ad aptateu r d 'al i m en tati on cou ran t al tern ati f – cou ran t con ti n u spéci fi é par l e fabri can t ou , l orsq u 'au cu n adaptateu r
n 'est spéci fi é, l 'essai d oi t être effectu é su r l 'accès par l es born es de pu i ssan ce en cou ran t con ti n u con form ém en t au x n i veau x d 'essai de ce tabl eau .
g Dan s l e cas d e ten si on s d 'al i m en tati on pou r l esq u el l es au cu n éq u i pem en t d 'essai n 'est di spon i bl e su r l e m arch é (par e xem pl e, réseau x d e cou pl ag e/d écou pl ag e) , cet essai
n 'est pas exi g é.
h L'essai peu t être réal i sé à u n e seu l e ou au x deu x fréq u en ces d e répéti ti on . I l est cou ran t d 'u ti l i ser u n e fréq u en ce d e répéti ti on d e 5 kH z; tou tefoi s, u n e fréq u en ce d e 1 00 kH z
est pl u s proch e d e l a réal i té.
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
Tableau 4 – Exigences d'immunité – Accès par les bornes de puissance d'entrée et de sortie en courant alternatif
Phénomènes Spéci fi cations d’ essai Unités Normes de base Remarques Critère d’ apti tude
d’ envi ronnem ent
4. 1 Fréq u en ce radi oél ectri q u e 0, 1 5 à 80 MHz I EC 61 000-4-6 Le n i veau d 'essai spéci fi é A
en m od e com m u n 3 V est cel u i de l a val eu r
effi cace d e l a porteu se
80 % M A (1 kH z) avan t m odu l ati on . a
4. 2 Creu x d e ten si on 0 ten si on rési d u el l e % I EC 61 000-4-1 1 La réd u cti on d e tensi on est B c
0, 5 cycl e I EC 61 000-4-34 effectu ée au x passag es à

zéro. b, e
0 ten si on rési du el l e % B c
1 cycl e
70 ten si on rési du el l e % C
25/30 à 50/60 H z cycl e
4. 3 Cou pu res d e ten si on 0 ten si on rési du el l e % I EC 61 000-4-1 1 La réd u cti on d e ten si on est C
250/300 à 50/60 H z cycl e I EC 61 000-4-34 effectu ée au x passag es à
zero. b, e
– 33 –
4. 4 On d es de ch oc 1 , 2/50 (8/20) Tr /Td µ s I EC 61 000-4-5 Voi r Arti cl e 5, al i n éa 3 d e l a B
présen te n orm e. d
ph ase-terre ±2 kV (ten si on d 'essai en ci rcu i t
ou vert)
en tre ph ases ±1 kV (ten si on d 'essai en ci rcu i t
ou vert)
f
4. 5 Tran si toi res rapi d es ±1 kV (ten si on d 'essai en ci rcu i t I EC 61 000-4-4 B
ou vert)
5/50 tr / t w n s
5 ou 1 00 Fréqu en ce d e répéti ti on kH z
b Appl i cabl e u n i qu em en t au x accès d 'en trée.
c Pou r l es con verti sseu rs él ectron i q u es de pu i ssan ce, l e fon cti on n em en t d es d i sposi ti fs d e protecti on (par exem pl e, protecti on à m i n i m u m d e ten si on ) et l e cri tère d’ apti tu d e
C son t adm i s.
d Dan s l e cas d es ten si on s d 'al i m en tati on pou r l esq u el l es au cu n éq u i pem en t d 'essai n 'est d i spon i bl e su r l e m arch é (par exem pl e, réseau x d e cou pl ag e/décou pl ag e) , cet essai
n 'est pas exi g é.
e L’ essai doi t être effectu é à des fréq u en ces correspon d an t à l a fréq u en ce de l ’ al i m en tati on . I l est n écessai re q u e l es éq u i pem en ts d esti n és à être u ti l i s és d an s d es zon es où
seu l e u n e d e ces fréq u en ces est appl i q u ée soi en t sou m i s à l 'essai u n i q u em en t à cette fréqu en ce spéci fi qu e.
f L'essai peu t être réal i sé à u n e seu l e ou au x d eu x fréq u en ces d e répéti ti on . I l est cou ran t d 'u ti l i ser u n e fréq u en ce d e répéti ti on d e 5 kH z; tou tefoi s, u n e fréq u en ce d e
1 00 kH z est pl u s proch e d e l a réal i té.
– 34 – I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
Annexe A
(informative)
Guide à l’intention des comités de produits

Con formémen t au Gu ide 1 07 de l ’I EC, les norm es g én ériqu es su r l'imm un i té spéci fi en t u n
ensemble d'exig ences, de procédu res d'essai et de cri tères d’aptitu de g énéral isés appl icables
au x produ its ou systèmes destinés à être u til isés su r des sites présentan t u n en viron nement
électromag nétique propre. La partie n orm ative du présent docu ment défin it u n ensemble
mi nimu m d'exig ences d'i mm u ni té pou r les équ ipemen ts u ti li sés sur certains si tes dans des
en viron nements résidenti els, com merciau x et de l ’in du strie lég ère.
Tou tefois, des phénom èn es électrom ag nétiqu es susceptibles de se produ ire ou d’au g men ter
à l'aven ir peu ven t être pertinents pou r des produ its, fam il les de produ its ou cas d'i nterférence
spécifiques. I l convient qu e les com ités sur la compatibili té électromag nétique (CEM)
fournissen t des conseils au x comi tés de produ its et les aident à défin ir les n i veau x d'immu ni té
correspondan ts.
L'Ann exe A a pou r objet d'i ndiqu er les essais su sceptibles d’être u tiles pour des situ ations
fu tu res ou pour certains produ i ts ou familles de produi ts. I l est deman dé au x comi tés de
produ its de teni r compte des essais et des n i veaux d'essai don nés dans le Tableau A. 1 . Dans
la mesu re où ces essais ne son t pas formel lemen t cités en référence dans la présente norme,
ils ne son t pas nécessai res pou r démontrer la conform i té à la présente norm e.
I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6 – 35 –
Tableau A.1 – Essais d'immunité et niveaux d'essai à prendre en compte

pour l'avenir ou pour des familles de produits particulières
Phénomène Norme de base Ni veaux d'essai Remarques
électromag nétique conformément à
la norme de base
I l con vi en t d 'en ten i r com pte pou r l es
éq u i pem en ts su scepti bl es d 'être exposés à
d es tran si toi res osci l l atoi res, i n d u i ts d an s
On d e si n u soïdal e d es câbl es à basse ten si on en rai son d e l a
I EC 61 000-4-1 2 2
am orti e com m u tati on des réseau x él ectri q u es, d es
ch arg es réacti ves, d es d éfau ts et d e
ru ptu re d 'i sol em en t d es ci rcu i ts
d 'al i m en tati on ou d e l a fou d re
H arm on i q u es/
éq u i pem en ts présen tan t d es com m an d es
i n terharm on i q u es/ I E C 61 000-4-1 3 2
d e ph ase ou d 'au tres tech n i q u es de
si g n al i sati on
d étecti on de passag e à zéro.
éq u i pem en ts su scepti bl es d 'être exposés à
d es pertu rbati on s (par exem pl e, en cas de
l on g câbl ag e) , h abi tu el l em en t g én érées
par
– l e systèm e d e d i stri bu ti on
d 'al i m en tati on , avec sa fréq u en ce
Pertu rbati on s fon d am en tal e et ses h arm on i qu es et
con d ui tes en m od e i n terh arm on i q u es i m portan ts;
I E C 61 000-4-1 6 2
com m u n en d essou s d e – l es éq u i pem en ts d’ él ectron i q u e d e
1 50 kH z pu i ssan ce (par exem pl e,
con verti sseu rs d e pu i ssan ce) q u i
peu ven t g én érer d es pertu rbati on s
d an s l es con d u cteu rs d e terre et l es
i n stal l ati on s d e m i se à l a terre (à
travers u n e capaci té parasi te ou d es
fi l tres) , ou d an s l es l i g n es d e si g n al et
d e com m an d e par i n d u cti on .
éq u i pem en ts présen ts d an s l es
i n stal l ati on s i n d u stri el l es et exposés à d es
On d e osci l l atoi re tran si toi res osci l l atoi res répéti ti fs g én érés
I EC 61 000-4-1 8 2
am orti e par d es tran si toi res d e com m u tati on et par
l 'i n j ecti on d e cou ran ts i m pu l si fs d an s l es
réseau x él ectri q u es (réseau x et
éq u i pem en ts él ectri q u es) .
éq u i pem en ts sen si bl es au x pertu rbati on s
Pertu rbati on s d e l 'al i m en tati on en cou ran t al tern ati f d an s
con d u i tes en m od e l a pl ag e d e fréq u en ces d e 2 kH z à
I EC 61 000-4-1 9 3
d i fféren ti el en d essou s 1 50 kH z, g én érées par exem pl e par d es
d e 1 50 kH z systèm es d e com m u n i cati on par cou ran ts
porteu rs en l i g n e (CPL) ou d es
éq u i pem en ts d ’ él ectron i q u e d e pu i ssan ce.
Creu x d e ten si on , I l con vi en t d 'en ten i r com pte pou r l es
cou pu res brèves et éq u i pem en ts sen si bl es à ces ph én om èn es.
vari ati on s d e ten si on
I EC 61 000-4-29 2
su r l es accès de
pu i ssan ce en cou ran t
con ti n u
éq u i pem en ts sen si bl es au x pertu rbati on s
d e l 'al i m en tati on en cou ran t al tern ati f d an s
Pertu rbati on s à l arg e a
I E C 61 000-4-31 l a pl ag e d e fréq u en ces su péri eu res à
ban d e
1 50 kH z, g én érées par exem pl e par d es
systèm es d e com m u n i cati on à l arg e ban d e
fon cti on n an t su r secteu r.
a Cette n orm e d e base est en cou rs d’ él aborati on .
– 36 – I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6
Bibliographie
I EC TR 61 000-1 -6, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 1-6: General – Guide to the
assessment of measurement uncertainty (dispon ible en ang lais seu lemen t)
I EC TR 61 000-2-5:201 1 ,Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 2-5:
Environnement – Description et classification des environnements électromagnétiques
I EC 61 000-4-1 , Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-1: Techniques d’essai et de
mesure – Vue d’ensemble de la série CEI 61000-4
Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-12: Techniques d'essai et
I EC 61 000-4-1 2,
de mesure – Essai d'immunité à l’onde sinusoïdale amortie
I EC 61 000-4-1 3, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-13: Techniques d’essai et
de mesure – Essais d’immunité basse fréquence aux harmoniques et inter-harmoniques
incluant les signaux transmis sur le réseau électrique alternatif
Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-16: Techniques d’essai et
I EC 61 000-4-1 6,
de mesure – Essai d’immunité aux perturbations conduites en mode commun dans la gamme
de fréquences de 0 Hz à 150 kHz
Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-18: Techniques d’essai et
I EC 61 000-4-1 8,
de mesure – Essai d’immunité à l’onde oscillatoire amortie
I EC 61 000-4-1 9, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-19: Techniques d’essai et
de mesure – Essai pour l'immunité aux perturbations conduites en mode différentiel et à la
signalisation dans la gamme de fréquences de 2 kHz à 150 kHz, aux accès de puissance à
courant alternatif
I EC 61 000-4-29, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-29: Techniques d'essai et
de mesure – Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations de
tension sur les accès d'alimentation en courant continu
Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-31: Techniques d'essai
I EC 61 000-4-31 2 ,
et de mesure – Essai d'immunité aux perturbations conduites à large bande sur les accès
d'alimentation secteur en courant alternatif
I EC Gu ide 1 07 de l 'I EC,Compatibilité électromagnétique – Guide pour la rédaction des
publications sur la compatibilité électromagnétique
___________
__________
2 A l 'étu d e.
I N TE RN ATI O N AL
E LE C TR OTE C H N I C AL
CO M M I S SI O N
3 , ru e d e Vare m bé
PO Box 1 31
CH -1 21 1 G e n e va 2 0
S wi tze rl an d
Te l : + 41 22 9 1 9 0 2 1 1
Fax: + 4 1 22 9 1 9 0 3 0 0
i n fo @ i e c. ch
www. i e c. ch

Iec 61000-6-1-2016

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I E C 61 000-6-1

El ectrom ag n eti c co m pati bi l i ty (E M C) –

Co m pati bi l i té él ectrom ag n éti q u e (CE M ) –

Parti e 6-1 : N o rm es g én éri q u es – N orm e d ’ i m m u n i té pou r l es en vi ron n em en ts

rési d en ti el s, com m erci au x et d e l ' i n d u stri e l ég ère

I N TER N ATI ON ALE

El ectro m ag n eti c com pati bi l i ty (EM C) –

l i g h t-i n d u stri al en vi ron m en ts

Com pati bi l i té él ectrom ag n éti q u e (CE M ) –

Parti e 6-1 : N o rm es g én éri q u es – N o rm e d ’ i m m u n i té pou r l es en vi ron n em en ts

rési d en ti el s, com m erci au x et d e l ' i n d u stri e l ég ère

ICS 33.1 00.20 ISBN 978-2-8322-3567-6

® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission

Table 1 – I mm u n ity requ iremen ts – Enclosu re port . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2

I NTERNATI ONAL ELECTROTECHN I CAL COMMI SSI ON

ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

FDI S Report on voti n g

A l i st of al l parts in th e I EC 61 000 seri es, pu blish ed un der th e g en eral title Electromagnetic

ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Th is standard applies to electrical and electronic equ ipmen t in tended to be operated in

N OTE 1 I n form ati on on oth er d i stu rban ce ph en om en a i s g i ven i n I E C TR 61 000-4-1 .

N OTE 2 Safety con si d erati on s are n ot covered by th i s stan d ard .

I EC 60050-1 61 , International Electrotechnical Vocabulary – Part 161: Electromagnetic

Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-2: Testing and

Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-4: Testing and

3 Terms and definitions

DC power port IEC

[SOU RCE: I EC 60050-1 51 :2001 , 1 51 -1 5-03]

EXAM PLE Exam pl es of com m erci al , pu bl i c or l i g h t-i n d u stri al l ocati on s are:

5 Conditions during testing

I t may be determi ned from consideration of th e electrical characteristics and u sag e of

9 Immunity test requirements

Tests shall be conducted i n a wel l-defi ned and reproduci bl e m an ner.

The tests shal l be carried ou t in di vidu al ly as si ng le tests. The tests m ay be performed i n an y

I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6

I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6

Guidance for product committees

Table A.1 – Immunity tests and test levels to be considered in future

Fi gu re 1 – Accès d’équ ipemen t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26

Tableau 1 – Exi gences d'im mun i té – Accès par l’en veloppe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30

COMMI SSI ON ÉLECTROTECHN I QUE I NTERNATI ONALE

COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

b) extension de la plag e de fréqu ences pou r l 'essai au x ch am ps électrom ag nétiqu es au x

FDI S Rapport de vote

COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

N OTE 2 La présen te n orm e n e trai te pas d es aspects d e sécu ri té.

Vocabulaire Électrotechnique International – Partie 161: Compatibilité

I EC 61 000-4-4:201 2, Compatibilité électromagnétique (CEM) – Partie 4-4: Techniques d'essai

Accès par l’enveloppe

Accès de puissance à courant continu IEC

Figure 1 – Accès d’équipement

EXEM PLE Les en trées an al og i q u es, sorti es et l i g n es d e com m an d e, l es bu s d e d on n ées et l es réseau x d e

[SOU RCE: I EC 60050-1 51 :2001 , 1 51 -1 5-03]

N ote 2 à l 'arti cl e: Le l i en en tre si te et en vi ron n em en t él ectrom ag n éti q u e est don n é en 3. 1 1 .

N ote 1 à l 'arti cl e: Le l i en en tre si te et en vi ron n em en t él ectrom ag n éti qu e est d on n é en 3. 1 1 .

4 Critères d’aptitude à la fonction

5 Conditions pendant l'essai

9 Exigences pour les essais d'immunité

I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6

I EC 61 000-6-1 :201 6 © I EC 201 6

0, 5 cycl e I EC 61 000-4-34 effectu ée au x passag es à

Guide à l’intention des comités de produits

Tableau A.1 – Essais d'immunité et niveaux d'essai à prendre en compte