L a b o r a t o i r e d ’ I n t é g r a t i o n d e s S ys t è m e s e t d e s T e c h n o l o g i e s
Département Architecture, Conception et Logiciels Embarqués
Sujet de stage de fin d’étude Ingénieur / Master M2 (bac+5)
Titre : Evaluation de la sûreté de fonctionnement d’un système embarqué multiprocesseur sur
puce
Résumé : Le stage proposé s'inscrit dans le domaine de la fiabilisation des systèmes
multiprocesseurs sur puce pour l'embarqué. Les circuits intégrés fabriqués en technologie classique, ex. CMOS 32nm, sont sujets à des phénomènes de variation et de dégradation. Cet état de fait se traduit par le rejet d'un nombre significatif de puces en cours de fabrication qui subissent des déviations extrêmes, causant ainsi une chute non acceptable du rendement de fabrication. Le problème se posera également pendant l'utilisation du circuit et affecte sa fiabilité. Les paramètres électriques subiront des variations dynamiques qui sont causées par la combinaison de plusieurs phénomènes physiques tels que: le "IR-drop", le "NBTI", les porteurs chauds, les cycles thermiques, l'"electromigration", etc. Cela résulte en général par l'apparition d'un retard dans les délais de propagation du circuit puis d'une erreur causant ainsi une panne du circuit. Habituellement, le problème de la fiabilité des circuits intégrés est traité pendant l’étape de fabrication. Les lignes de production sont généralement soumises à diverses procédures de qualification et de réajustement de leurs paramètres de réglage afin d’atteindre un niveau de fiabilité suffisant (exprimé en général en Failure-In-Time, FIT). En parallèle, des tests accélérés (coûteux) peuvent être effectués sur différents lots de circuits afin d’éliminer ceux étant les plus fragiles. La complexité à concevoir des architectures de calcul multiprocesseurs combinée à la difficulté à maîtriser tous les phénomènes liés aux nouvelles technologies de fabrication nécessite un changement radical dans l’approche du problème, au risque de retarder le « time-to-market » ou de réduire le niveau de sûreté de fonctionnement dans le cas contraire. Le laboratoire a développé une méthodologie pour l’estimation de la fiabilité d’un tel système. Elle est implémentée sous la forme d’un simulateur intégré dans le flot de conception. Cela permet d’évaluer la fiabilité du circuit avec des valeurs réalistes des paramètres électriques du circuit. L’objectif du stage est de proposer une méthodologie d’évaluation de la sureté de fonctionnement d’un système embarqué multiprocesseur avec l’aide des outils existants dans le domaine. La méthodologie doit pouvoir s’inscrire dans celle existante. Il s’agira ainsi de comprendre tout d’abord les différentes étapes de conception d’un circuit intégré, d’analyser ensuite la méthodologie actuellement en cours pour l’évaluation de la fiabilité d’un circuit et de proposer enfin une nouvelle méthode. Le candidat devra évoluer de manière autonome et faire preuve d'initiatives dans ses choix. Il travaillera conjointement avec les équipes du CEA LIST et du LASQUO.
Durée : 6 mois
Pré-requis : Connaissances théoriques sur l’architecture des ordinateurs
Commissariat à l’Energie Atomique
Centre de Saclay – LIST/DACLE - Bâtiment 528 - Point courrier 94 - 91191 Gif sur Yvette Cedex