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Dans un procd, certains paramtres sont critiques. La variation de ces paramtres peut affecter la qualit du produit. Ces paramtres doivent donc tre mesurs et matriss Les cartes de contrle permettent de reprsenter graphiquement des mesures qui refltent le comportement du procd : prvention par mesures directes sur le procd raction en temps rel en cas de drive utilisation des statistiques pour limiter le cot du contrle indication de la performance d'un procd (Cp, Cpk)
Les types de cartes de contrle tudis sont : les cartes pour donnes variables carte de x et R carte de x et carte de x et MR (tendue mobile) les cartes pour donnes attributs carte de pourcentage ou nombre de non conformits (type P ou NP) carte de nombre de dfauts par unit(type U) carte de nombre de dfauts par lot (type C) Mthode : Dfinition des donnes Choix des donnes et des caractristiques Choix de la taille des chantillons (entre 4 et 20) Choix de la frquence des relevs d'chantillons Choix du nombre d'chantillons (15 25) Exploitation des donnes Collecte des donnes Calcul des limites de contrle Tracer les donnes et les limites Interprter les rsultats Mener des actions correctives si ncessaire
2. Carte en X et en R
donnes n = taille des chantillons x = mesure de la variable surveille (n mesures par chantillon) on prlve k chantillons
caractristiques x = moyenne de l'chantillon R = tendue de l'chantillon x = moyenne des k valeurs x R = moyenne des k valeurs R
R = x max - xmin
chelles des diagrammes chelle en x : indice = (xmax xmin)/2 l'chelle varie de xmax + indice xmin - indice l'chelle varie de 0 Rmax x 1,5
chelle en R :
Limites de contrle limites en x : limite suprieure : LSC = x + (A2 . R) limite infrieure : LIC = x - (A2 . R) limite suprieure : LSC = R . D4 limite infrieure : LIC = R . D3
limites en R :
k = 15
mesure 2
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
3,53 3,59 3,53 3,50 3,49 3,51 3,58 3,56 3,51 3,51 3,55 3,53 3,49 3,52 3,53
3,55 3,58 3,56 3,56 3,57 3,57 3,57 3,58 3,56 3,55 3,57 3,55 3,55 3,54 3,61
3,53 3,53 3,53 3,56 3,58 3,55 3,59 3,53 3,59 3,54 3,55 3,54 3,58 3,52 3,60
3,53 3,56 3,54 3,56 3,57 3,51 3,57 3,57 3,57 3,52 3,57 3,54 3,55 3,56 3,55
3,52 3,55 3,56 3,53 3,54 3,52 3,54 3,58 3,55 3,56 3,54 3,48 3,50 3,50 3,54
3,532 3,562 3,544 3,542 3,550 3,532 3,570 3,564 3,556 3,536 3,556 3,528 3,534 3,528 3,566 3,5467
0,03 0,06 0,03 0,06 0,09 0,06 0,05 0,05 0,08 0,05 0,03 0,07 0,09 0,06 0,08 0,0593
de 3,507 3,592 (en pratique : de 3,500 3,600) de 0 0,135 D3 = 0 3,512 3,581 0 0,1251 D4 = 2,11
A2 = 0,58
3,580
3,560
3,540
3,520
10
12
14
16
0,120
0,100
0,080
0,060
0,040
0,020 0,000 0 2 4 6 8 10 12 14 16
Exercice : Tracer les cartes de contrle suivantes n=6 k 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 k = 20 x 203,1 205,2 204,1 204,4 203,8 205,5 204,5 202,8 203,9 205,5 R 4,2 6,1 5,4 0,9 4,8 2,3 3,2 1,9 7,5 4,2 k 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 x 204,0 204,5 203,8 203,7 203,6 201,0 201,1 204,8 205,5 204,4 R 2,5 5,0 2,4 3,0 2,5 4,1 3,8 6,6 5,0 4,6
D3 =
D4 =
xmax =
3. Carte en X et en S On n'utilise pas ces cartes si l'effectif de l'chantillon est infrieur 10 donnes n = taille des chantillons x = mesure de la variable surveille (n mesures par chantillon) on prlve k chantillons
caractristiques x = moyenne de l'chantillon S = cart-type biais de l'chantillon x = moyenne des k valeurs x S = moyenne des k valeurs S
chelles des diagrammes chelle en x : indice = (xmax xmin)/2 l'chelle varie de xmax + indice xmin - indice l'chelle varie de 0 Smax x 1,5
chelle en R :
Limites de contrle limites en x : limite suprieure : LSC = x + (A3 . S) limite infrieure : LIC = x - (A3 . S) limite suprieure : LSC = S . B4 limite infrieure : LIC = S . B3
limites en R :
4. Carte en X et en MR MR est l'tendue mobile Dans ce cas, la taille de l'chantillon est gal 1 (une seule mesure) L'tendue mobile MR est donc la diffrence entre deux relevs conscutifs.
MR = Xn+1 - Xn
Carte P : Proportion de dfectueux S'applique pour une taille n d'chantillon entre 50 et 100 avec 15 25 chantillons La taille de chaque chantillon ne doit pas forcment tre la mme, mais on ne dpasse pas 25% d'cart entre les tailles. p = nombre de dfectueux dans l'chantillon/n n = nombre moyen de pice dans les chantillons p = nombre total de dfectueux/nombre total de pices limite de contrle suprieure = p + 3 limite de contrle infrieure = p - 3 p(1 p) / n p(1 p) / n
Carte NP : nombre de dfectueux S'applique pour une taille n d'chantillon entre 50 et 100 avec 15 25 chantillons La taille de chaque chantillon doit tre la mme pour tous. np = nombre moyen de dfectueux pour un chantillon p = nombre total de dfectueux/nombre total de pices limite de contrle suprieure = np + 3 limite de contrle infrieure = np - 3 np(1 p) np(1 p)
Carte c : nombre de non conformits La taille n de l'chantillon est constante. c = nombre de dfauts dans un chantillon c = total des dfauts observs/nombre d'chantillons limite de contrle suprieure = c + 3 limite de contrle infrieure = c - 3 c c
Carte u : nombre de non conformits par unit de mesure La taille n de l'chantillon peut tre variable. c = nombre de dfauts dans un chantillon u = c/n pour chaque chantillon
u = total des dfauts observs/nombre total de pices limite de contrle suprieure = u + 3 limite de contrle infrieure = u - 3 u/n u/n