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18/01/2018 TP :DFT

Ramzi Mezlini

2017/2018
TP : Méthode de test intégré BIST
(Built In Self Test)

1. Evaluation d’un générateur de vecteur de test «LFSR» :


Code VHDL

Code VHDL
2. Test banch

3. Simulation avec Modelsim

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