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1
importantes actuellement sont de 4.5 kV pour les
diodes PN et de 1kV pour les diodes Schottky.
Diode SiC-6H
Les caractéristiques des diodes Schottky sur SiC sont -12
1xe
les suivantes :
-Métaux utilisés : Ti, Ni, Au, Pt, Pd -16
1xe
-Tension de seuil : 1 V à 1.5 V
-Courants de fuite : 10-10 A à 10-6 A -20
1xe
Ln(I)
-Température maximale d’utilisation : 700 °C
-Tension de claquage : > 1400 V -24
1xe
-Densité de courant (jonction polarisée en directe) :
jusqu'à 800 A/cm2 -28
1xe
Les caractéristiques des diodes PN sur SiC sont les
suivantes :
0 1 2 3 4 5
-Tension de seuil : 2.5 V à 2.6 V pour 6H-SiC et 2.8 V
pour le 4H-SiC Tension(V)
-Courants de fuite : 10-10 A à 10-4 A
Température maximale d’utilisation : 400 °C Fig 1 : Caractéristiques courant-tension des
Tension de claquage : qq kV jonctions pn à base de SiC
Paramètres Valeurs
des Diode des
en SiC paramètres
n
(0<V<1) 14,53
(1<V<2.5) 5,02
(2.5<V<3.5) 26,86
2.3 Caractéristique IV des jonctions PN à base de
SiC
3,37×10-10
Pour les diodes à base de SiC, les caractéristiques I-V Is(A) 1,86×10-13
sont illustrées dans les figures suivantes [4] : 5,53×10-8
-5
2,5x10
-5
2,0x10
Tab. 1 : Paramètres des jonctions PN à base de SiC
courant(A)
-5
1,5x10
3 INFLUENCE DE LA TEMPERATURE
-5
1,0x10
-6
La température est un paramètre important dans la
5,0x10
détermination du fonctionnement des dispositifs à
0,0 semi-conducteur. Dans le cas de la jonction PN le
courant de saturation est essentiellement dû aux
0 1 2 3 4 5
porteurs minoritaires générés par agitation thermique.
tension(V) Ce courant de saturation sera donc particulièrement
sensible à la température.
2
Son expression est donnée par :
-12
e-13
Eg
Is =kTme−
e-14
kT (1) e-15
e-16
avec m = 2 pour le germanium. e-17
e-18
m=1,5 pour le silicium. e-19
e-20
m=1,5 pour l’arsenic de gallium. e-21
e-22
Ln(I)
T=113K
e-23
e-24 T=143K
l’influence de la température sur les caractéristiques e-25
e-26
T=173K
T=203K
courant-tension des jonctions PN à base de SiC est e-27
e-28 T=243K
montrés par les résultats expérimentaux faites sur ces e-29
e-30 T=273K
jonctions. e-31
e
Les caractéristiques I-V, pour différentes valeurs de 0 1 2 3 4 5
températures sont présentées par les figures suivantes : tension(V)
-4
T=455K
6,0x10 l’intervalle 0<V<2V. Par contre pour V>2V cette
T=553K
-4 T=583K dernière à une variation exponentielle. Tel que pour les
4,0x10
faibles températures l’allure des I-V reste très faible
2,0x10
-4
puis, elle augmente avec la température, et le courant
de saturation augmente aussi avec la température. On
0,0
conclu de la courbe lnI(V) les paramètres suivants
0 1 2 3 4 5 illustrées dans le tab. 2
Tension(V)
-7
n
e-8 Diodes à (0<V<1)
e-9
e-10
e-11
e-12
différents (1<V<2) IS(A) RS(Ω)
e-13
e-14 températures (2.5<V<3.5)
e-15
e-16
e-17 T=303K
6,1 1,44×10-14
e-18
e-19 T=333K 113K 6,83 2,47×10-14 3,33
e-20 14,98
Ln(I)
e-21
e-22
T=363K
1,86×10-12
T=393K
e-23
e-24 T=423K 14,55 8,44×10-13
e-25
e-26 T=455K 143 K 5,84 3,7×10-15 2,63
e-27 T=553K
e-28
e-29 T=583K
50,79 9,16×10-10
e-30
e-31
e-32
18,5 5,47×10-12
e 173 K 5,56 3,57
0 1 2 3 4 5 8,83×10-15
Tension(V) 30,32 9,3×10-10
19,6 1,87×10-11
1,4x10
-5 203 K 5,08 1,05×1014 1,88
-5 T=113K
24,53 1,9×10-9
1,2x10
T=143K 18,88 4,89×10-11
-5 T=173K
1,0x10
T=203K
243 K 6,01 2,5×10-13 1,89
-6 T=243K 36,36 3,67×10-8
courant(A)
8,0x10
T=273K
6,0x10
-6 19,8 1,005×10-10
-6
273 K 5,47 2,18×10-13 1,23
4,0x10
25,8 1,95×10-8
-6
2,0x10 14,59 3,37×10-10
0,0 303 K 5,02 1,86×10-13 1,73
0 1 2 3 4 5 26,86 5,53×10-8
tension(V) 13,88 5,03×10-9
333K 4,56 1,54×10-13 2,37
25,97 1,01×10-7
14,78 1,01×10-19
363 K 15,24 1,71×10-12 1,68
3
31,49 2,45×10-7
17,24 3,58×10-9
393 K 7,14 5,62×10-11 2,26
29,85 1,83×10-7
-14
18,34 8,44×10-9 Ea=0.9eV
423 K 8,26 3,2×10-10 1,8 -16
Ln(Is)
-22
22,98 1,93×10-7 -24
28,66 2,25×10-7 -26
555 K 8,7 1,16×10-18 0,89
32,52 2,9×10-6
-28
583 K 15,68 3,77×10-7 1,53 1,6 1,8 2,0 2,2 2,4 2,6 2,8 3,0 3,2 3,4
a)
jonctions.
A partir des caractéristiques courant-tension en -36
polarisation directe en fonction de la température nous
traçons la caractéristique Ln(I) = f(V) et on observe -38
trois régions.
-40
Chaque région peut être modélisée par : 2 4 6 8 10 12 14
-1
1000/T(K )
I = I s exp( A × V ) (2)
Ea=0.14eV
E -24
I s = I 0 exp − a (3)
kT -26
Ln(Is)
-32
2 4 6 8 10 12 14
-14
-1
Ea=0.37eV
1000/T(K )
-16
b)
-18
-20
fonction de la température.
-22
a) hautes températures, b)basses températures.
-24
-26
1,6 1,8 2,0 2,2 2,4 2,6 2,8 3,0 3,2 3,4
-1
1000/T(K )
4
Dans la première zone, le courant varie linéairement 4 CONCLUSION
avec la tension. Elle peut donc être modélisée par
l’équation (2). Les énergies d’activation thermique du Dans cet article, nous avons présenté les
courant de saturation sont 0,37eV et 0,14eV, caractéristiques courant-tension expérimentales des
correspondant respectivement aux énergies diodes à jonctions PN en SiC et traduisant les
d’activations du Bore et du Phosphore pour les hautes mécanismes de passage de courant à travers ces
et basses températures. Cette valeur est inférieur à Eg/2, jonctions. Ainsi que nous avons traité les
ce qui confirme la non dépendance du courant en ni. caractéristiques courant-tension en fonction de la
Dans la deuxième zone, le courant de saturation est température dans le but de tracer le diagramme
activé par une énergie 0,9eV et 0,11eV, correspondant d’arréhunis pour déterminer les énergies d’activations.
respectivement aux énergies d’activations de l’Azote et Nous avons trouvé les facteurs d’idéalité différents de
du phosphore pour les hautes et basses températures. 1 et 2. Ceci est dû à la présence de défauts cristallins
Cette valeur est inférieur à Eg/2, ce qui confirme la non qui se trouvent dans les structures d’étude. Les facteurs
dépendance du courant en ni [4]. d’idéalité théoriques et expérimentaux sont très
différents, ceci est dû probablement aux défauts
cristallins dans ces structures. Pour identifier ces
6,0
défauts, il va falloir faire appel à d’autre méthodes de
5,5
caractérisations ( DLTS, DLOS, .etc...)
5,0
Coefficient d'idéalité n
4,5
4,0 BIBLIOGRAPHIE
3,5
3,0 [S. M. Sze.1981] « Physics of Semiconductor
2,5 Devices » Wiley and John & Sons , 2 nd édition. 831 p.
2,0 [H. Mathieu. 1984] « Physique des Semi-conducteurs
1,5 et des Composants Electroniques » masson 4ieme
1,0 édition.
0 100 200 300 400 500 600
[W Gerold.Neudeck] The PN junction diode. Modular
T(K)
series on solid state. Addison-Wesley publishing
company.
Fig 4 : Evolution du coefficient d’idéalité. [K. E. Ghaffour. 1999] “ Caractérisations électriques de
diodes bipolaires de puissance en SiC(6H) à structure
MESA. Thèse de doctorat, Université de Tlemcen..
[K.E.Ghaffour. 1998] et al « Electrical
4,0
Characterization of Silicon Carbide n+pp+ Diodes with
3,5
an N-implanted n+ Emitter » J. Appl. Phys., vol. 84,
n°6, p. 3073-3077.
3,0 [M.Lyakas, 1995] et al. Analysis of non ideal schottky
and pn junction diodes / extraction of parameters from
Rs(Ω)
2,5
I-V plots. 5481-5489.
2,0 [K. E. Ghaffour.] « Caractérisation du Spectre
d’Energie du α.SiC (6H) de Type n par la méthode de
1,5
l’Absorption Optique » Thèse de magister, Université
1,0 de Tlemcen.
100 150 200 250 300 350 400
T(K)