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d’enseignement NI ELVIS)
Frédéric BOULLOT
Ingénieur Commercial pour
l’Enseignement et la Recherche
frederic.boullot@ni.com
06 74 89 98 55
ni.com/france/enseignement
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Sommaire
ni.com/france/enseignement
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1 . Tendances actuelles dans
l’enseignement scientifique
• Renforcement des travaux pratiques vis-à-vis de l’enseignement
théorique
• Apprentissage orienté projet, démarche collaborative
• Conception, conception, conception
• Créativité et innovation
ni.com/france/enseignement
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2. Défis majeurs pour les enseignants en
électronique
ni.com/france/enseignement
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3. Défis pour les étudiants
• Anticiper le comportement d’un circuit
• Comprendre les effets des composants
sur le circuit
• Éviter les erreurs de câblage
• Effectuer facilement des mesures
• Comparer les résultats simulés aux
mesures réelles
Comprendre
ni.com/france/enseignement
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Traditionnellement…
ni.com/france/enseignement
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Plate-forme d’enseignement de
l’électronique (EEP)
SAISIE DE SCHÉMA PROTOTYPAGE
CONCEPTS ET DÉPLOIEMENT
ET
THÉORIQUES VALIDATION (PCB)
SIMULATION
ni.com/france/enseignement
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NI Multisim
NI Multisim
• Simulation SPICE
• Mode interactif de co-simulation
• Instruments NI ELVIS intégrés
• Intégration avec NI LabVIEW
• Plus de 20 analyses SPICE
• 22 instruments de mesure
• Simulation de microcontrôleurs (MCU)
ni.com/france/enseignement
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NI ELVIS II/II+
National Instruments Educational Laboratory Virtual Instrumentation Suite
NI ELVIS II/II+
Plate-forme multi-instruments de
conception et de prototypage pour
l’enseignement des circuits, systèmes
embarqués, systèmes de
contrôle/commande,
télécommunications
ni.com/france/enseignement
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NI LabVIEW
NI LabVIEW
Logiciel de programmation graphique
pour le test et la mesure, le contrôle
d’instruments, l’analyse des données,
l’affichage des résultats et la
distribution d’application sur des
cibles ou systèmes déportés
• Mesurer : • Optimiser :
• Acquérir • Concevoir
• Analyser • Prototyper
• Afficher • Déployer
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NI Ultiboard
Ultiboard
Environnement unifié pour
l’enseignement de la théorie des
circuits et de leur conception via la
saisie de schéma et la simulation
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NI Multisim : comment ça marche ?
Saisir un
schéma
Simuler
Analyser
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NI Multisim | Saisie de schémas et
simulation
• Simple
Saisie de schéma rapide et simple
Simulation interactive
Gamme complète d’analyses
• Apprentissage interactif
Simulation interactive “change-on-the-fly”
Composants interactifs, animés, 3D, virtuels
Annotation dynamique des valeurs sur le schéma
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NI ELVIS
Plate-forme multidisciplinaire
d’enseignement et d’ingénierie
ni.com/france/enseignement
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NI ELVIS : du concept à la réalité
• Système basé LabVIEW/DAQ
• Carte de prototypage amovible
• Fonctionnalités d’un instrument de mesure
intégrées
Câble
Matériel DAQ externe
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Famille NI ELVIS
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ELVISII+II | Spécifications
NI ELVIS Spécificationsmatérielles
matérielles
NOUVEAU Oscilloscope
Oscilloscope Protection interne du circuit
Fréquence
Résolutiond’échantillonnage
16-bits Fusibles échangeables
100 Méch./s
1.25 Méch/s sur une voie, Connectivité USB
Bande passante
500kéch/s 50 MHz
sur deux voies(-3dB) Plug-and-Play
Résolution 8 bits
multiplexées USB 2.0
Gamme d’entrée1±20
Bande passante à 1.5VMHz
max.
Sonde 1x AC/DC/GND
Couplage et 10x
Gamme
Filtre d’entrée
antibruit 20±10
MHz V
AC/DC
Sonde 1x et 10x Générateur de fonction
Connexion BNC 10 bits, ±5 V
Sinus 0,2 Hz à 5 MHz
Triangle/carré 0,2 Hz à
Multimètre numérique 1 MHz
Mesures isolées Contrôle logiciel ou manuel
Résolutions 5 chiffres ½ Connexion BNC ou via la
60 VDC, 20 Veff, 2 C A/N, 2 Arms, 100 MΩ carte de prototypage
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NI ELVIS II | Spécifications matérielles
Analyseur d’impédance DAQ intégré
AI : fréquence d’échantillonnage
Gamme 0,2 Hz à 35 kHz
en entrée à 1,25 Méch./s par voie,
NPN, PNP, diode
500 kéch./s pour deux voies
Résolution 16 bits
Autres analyseurs AO : taux de rafraîchissement
Analyseur (traceur) de Bode
2,8 Méch./s
Analyseur courant-tension 2 fils
24 DIO,15 PFI, 2 CTR
Analyseur courant-tension 3 fils
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NI ELVISmx Driver | Spécifications
logicielles
• Instruments NI ELVISmx
• VIs Express NI LabVIEW
• API NI-DAQmx
• NI LabVIEW SignalExpress
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LabVIEW SignalExpress et LabVIEW
Comparaison des résultats
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Comparaison | Théorie (simulation) et
mesures
Les étudiants peuvent comparer les données simulées et les signaux
mesurés avec le même instrument
Accédez à NI ELVIS en
un clic et commutez de la
simulation à la mesure
avec NI ELVIS II
Les faces-avant NI ELVIS de Multisim comparent
les données simulées sous Multisim avec les
signaux mesurés avec NI ELVIS
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Comparaison et analyse | LabVIEW
SignalExpress et LabVIEW
Flexibilité et personnalisation avec la conception graphique sous NI
LabVIEW
Simulated Simulated
Data IN Data OUT
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Bilan du cycle de conception
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NI ELVIS II : une plate-forme flexible
Des applications pour chaque domaine
CONTRÔLE/ SYSTÈMES SCIENCES
CIRCUITS TÉLÉCOMS
COMMANDE EMBARQUÉS APPLIQUÉES
Systèmes
linéaires, non Transmissions, Physique,
Microcontrôleur,
Électronique linéaires, FPGA chimie,
fibre optique biomédical
asservissements
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Nouveau : Carte ELVIS - FPGA
Plate-forme de développement de
circuits numériques basée sur le
FPGA Spartan 3E de Xilinx
• Possibilités de mesures et
programmation FPGA
• E/S analogiques/numériques
• Connectivité JTAG-USB
• Programmable avec LabVIEW
FPGA et les outils Xilinx
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Carte ELVIS - FPGA| Programmation
VHDL/Verilog NI LabVIEW
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Nouveautés en contrôle/commande
Actionneur QNET-013 VTOL
Contrôle de vol : décollage et atterrissage vertical
Modèle dynamique aérospatial,
contrôle/commande cinématique
Inclus:
VIs spécifiques
Contenu de TP
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Module LabVIEW Control Design and Simulation
Conception graphique de systèmes Enseignement de l’Algorithm engineering
Concevoir et optimiser des modèles de systèmes complexes et dynamiques Ajustement rapide des algorithmes et changement interactif des paramètres de simulation
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Nouveau FOTEx : fibre optique
Système d’apprentissage de fibre optique
ETT-211 (FOTEx)
Blocs fonctionnels à câbler
LabVIEW Soft Front Panels (faces-avant
logicielles)
Contenu de TP inclus
Exemples de TP
Transmission optique de signaux
Séparation et combinaison de signaux
optiques
Liens bidirectionnels de fibre optique
Multiplexage en longueur d’onde (WDM)
Pertes optiques
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DATEx | Télécommunication
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Enseignement | Télécommunication
DATEx Amplitude Modulation Lab
Scope Ch1
Scope Ch0
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NEW EMONA | Éco-conception
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NI ELVIS | Embarqué
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Enseignement | Embarqué
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Exemples d’utilisateurs
• Lycées
Pré-bac Exemples :
• Physique appliquée Lycée Colbert à Lorient
• Sciences de l’ingénieur Lycée Viette à Besançon
Post-Bac : BTS SE, CIRA, TPIL
• Instrumentation
• Électronique
• Mécanique
• Automatismes
• Écoles d’ingénieurs/Universités
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En mars et en avril
• TP itinérant Multisim/ELVIS
• 9 villes visitées :
Lille (07 mars) Toulouse (29 mars)
Belfort (09 mars) Bordeaux (31 mars)
Orsay (16 mars) Rouen (05 avril)
Grenoble (22 mars) Angers (07 avril)
Montpellier (24 mars)
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Résumé
Plate-forme Plate-forme
d’enseignement de d’enseignement
l’électronique NI ELVIS
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http://www.iut-orsay.u-psud.fr/
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Département de Mesures Physiques
de l’IUT d’Orsay
IUT d'Orsay
350 étudiants plateau de Moulon
91400 ORSAY
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Nos motivations
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Flux d’étudiants :
• 130 étudiants en S1 (UE Électricité 1) et en S2 (UE Électronique)
• 35 étudiants en 1er et 2ème semestres décalés (mêmes modules)
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Objectifs pédagogiques :
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R2
R1
+
- _
ve vs
ve + vs
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R1 -
ve + vs
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Conclusions
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Ressources en ligne
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Ressources de support
Information sur les produits :
ni.com/multisim/f ni.com/nielvis/f
ni.com/academic/eep ni.com/academic/circuits
Coordonnées
• 01 57 66 24 24
Support : ni.com/ask
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Question ?
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