Plan du chapitre II Chapitre 1: La Maitrise Statistique des Procédés Btude de capabilité * Principes du MSPISPC 1 Les sources dea variable * Performance du Processus (capabilitélog terme) + Capable Processus (eapabilté court terme) "es indicateurs ie a cible RAR Introduction :Les évolutions qu’apportent In MSP [MSP — taste Tastom pou ane, vale @ mani we ecu ce fs gu ts ot asec responsi ela ne > Cen ave fat ane mode Cant-contde gu pemst “Le principe de Ia Maitre Statistique des Procéde— Intervention ___Renseignenent Intervention sur le processus" sur la performance sur la progution re wean) (Pacer ets) Introduction :Les évolutions qu’apporteat la MSPIntroduction :Les évolutions qu’apportent la MSP Ja MSP st sa éqivalet ov matte dade a pgs dv monet de Ledtude des capabilités gu pemet carci Valquation ee Sesion do proctitis Les cartes de contrOle coi sot des ot epiqus poms de Procédé__, Variabilité Jexactement fe mémc produit, Ces variations vieanont de l'ensemble lu prot’ de action, ‘Exemple soe 2 pices cigs srigalssucesveneal sur Causes des defauts du produit came proce , Tas ss des as Son pO aT SET Ta eT eG A Les sources de Ia variabilité V I] causes conten Qeteiteacctemlle | | communes \\ variable processus — | \ a / Causes j tera machine, \\ Reproduetbiné ‘Ripetemerity wh ‘elon in MSP ts Norme NFX 50020 ‘Geom psdiieeta legals on ps ai es esc tessa pete sez ar ap contr mn du tay mr er rrearapentns er sare: phésoméns acs pte gad vombe, erence plete MSP = ELIMINATION DES CAUSES Les sources de Ia var -Broctsle maltrise (sous controle statistique) Sauser aigaicires (communes) learacterine on processus 2 Survelance et effort permanent pour éiminer les causes “Biocede non maitnse Surveiller un processus Surveiller un processus.. "user Pt sre process elas atin sure podutler un process ” net ov mea, le seve! nis pte po te de Frey ou vet ee ploes qu fon fabgens On eae rochsns pcr ler eset rons, One oa [Surveiller un process Seated igs eae se) Surveiller un processus, _{Surveilier un processus... ] ———— a qua gence hates ance ne ge plat psbleLe concept de capabilité (aptitude) ¥ Performance du Processus (capabilité long terme: cay 7 Capabitté Processus (capabilité cour terme: apa shite) Les indicatens és a eile (nie de capaiseTasucty) 7 Capabitité du mayen de contrdle CMC Le concept de eapabilité (aptitude) > Lobjatif de cete eet de ane pale mie on ple > etme farce apa (gation de capi) cx le ome ude Nout von cependt chat de crane le te Le concept de eapabilité (aptitude) > de pret de enter apt dwn proces ile ane ecg ‘lea alers de pert SpiesPerformance du Processus ( eapabilité long terme) "ner de peromane neistese Rp (CP) 1 nor deSeeare Fk (Cp > cate prance pend en ence Ia dlperaon abate (peson & — [Performance du Processus (capabilité long terme) ‘esine pele mag, eee longue Pp> 3 at [Performance du Processus (capabilité long terme) “ Iniateur de drélage Fok > Pp> 1.33 MAIS procédé décentrée _Dlstance Moyenme Limit lapis proche) _ ité long terme) [Performance du Processus (caps hPerformance du Processus (capabili long terme) [Performance du Processus ( capabilité long terme) Capabiie long ame Capabit proses Performance recta Inerptaion de Pe Prk re a Résumé PoaPrket — MPa capable Pparpee # Juste capable Pp&Ppk> 122 |: Capable Ppa Ppk> 1.65 Tits capable Te TR ER A ART ‘Rigg paral =F A Capabilité Processus (capabi court terme) ‘Capabiieé Processus = Capabilié court terme = Cepabilié machine > Lapel pt apices ease gle den dopenion ah moyen ce pediion eon nner de prema inntgu Cp (Cm) Inner de page Cp em). Capabilité Processus (capabilité court terme) Capa roca = Capbié court terme = Cpsbté machine ‘Eos pe ea cp oor es i gu pt > cyt pis cs es wi i~ Capabitité Processus (capabilité court terme) Capable Processus = Cs 2 epetcrk 5 court terme = Capabiité machine {ie le see prs) Capabilité Processus ( capabilité court terme) Capa Processus = Capsbiit cour terme: Interpréttion de Cp et pk et conde Cp> 133 et cone ie centre i Cpk> 129 Pear x ais Cpe reaper BT + Si¢petepksapescue 138 machine spb tien ede + sicp> 1330 cpi-<128 machine cage ene = Sip <1.38 machine soa capt apabité machine [Le concept de capabilté(aptitude)| Lest ble: e Cm pm Le concept de capabilité (aptitude) Synthise des diffrent indicateurs de capabllitéone Le concept de eapabilifé (aptitude) nese: nape decal de capbit (aptitude) + cles tpe epee i Frm om 3. > Cal ig gar pee moyenne nips rod cet option ‘rales pe penne fu ppm cre oan spree ih Fae kc inp le ei etn ot Capabilité court terme Performance long terme I= Estimation de P’écart type court terme eat type court terme On tient S bare rot type cnet tee Tren tian 8 heeale Sart spe on ust oti des valeurs Individuals disponibles (voir bases de statistiques) eat ne gonutn car np try lité, performance processus ¥ ¥ fend — ‘apabilité du Moyen de Mesure ~—~Capabilité du Moyen de Mesure (METHODE = ure | Sac aucpes Cpa Moyen deCoale JN All lACapabilité du Moyen de Mesure [Définitions » Sr ir ee een ta ‘Sieridemewans Coxe ——Capabilité du Moyen de Mesure Definitions Hid Hh Sp res iin ea net = J\\. “Capabilité du Moyen de Mesure Définitions epnacibii da mse Sipe le ye sno, dtu Moyen de Mesure 4 Grr mthae moyenne tee) Aeon, eae ne tet pt compe de Veen js, don ft= = du Moyen de Mesure Capa AR Comsiete Conde de tude (nda Charbonneny compte) 2 Dias 18.50 mas 20.04 1 os 0 pls de i gis a kilt ara de ii an nee 2. Fite Gloee Papers de mene pour andar A (exemple 4 Yad [oe I "Tae ‘alive cinesiona dun apparel elo, 7 a os 3 a es 1 i.e Wipe ls ia A fem 8 kate aspen “4 Mélanger let ites eles rdonner oper A afin gles set meses Co Drown o ‘Swan iice Reports eens. eerste | ‘lo Gn 5. llr appr de mest per et plans 2,3 nears ‘Conte tire OTe (6, Repaired etal ace dpi repre — a ——“Capabilité du Moyen de Mesure Fert rt men conga aie > La Capaie de Moyen de Conte EMC nt eitin Lavaca de > On comidve un mayen de mene ape & empl Sind 8! EME> 4 > Si EMC <4, lori amie Candle rocks de cnt (muni Scions er oer mare pr ar econ= = ~~ Capabitité du Moyen de Mesure ‘CMC méthode Charbonneau -Formules Rina input Ga @ Somes Lenina comer a GO cree = ~Capabilité du Moyen de Mesure Dispersion de Mnstrument de mesure 7 Dip "S| Lemopen demas es nse 5! CME> 400% GAGE < 259% —Capabilité du Moyen de Mesure spabilité du Moyen de Mesure ‘Tableau des ceticints Be~~ Relation entre Cpk et % de produit ee re elo ee n-ne ale epee chart te pone de os noses bse salt une Nn) PRET)#PHEm*3C,,) POT) #Pem-206,,) POLST) =PIY <3) een MeN a 22-3 [Rctation entre Cp et % de produit non conforme 49 err enprte para se gu pome de ic pent td ‘ice eked 00a Peels 00 pm Te i