SEPAM 011.o

GRID SOLUTION
RAPPORT D'ESSAIS DBS PROTECTIONS TRANCHE 3

Date : October 15, 2020 Page
RAPPORT D'ESSAIS
31BBA 11 GS Oil,
ARRIVEE DEPUIS UAT 31BBT10
PROJET : REHABILITATION DE LA CENTRALE

ELECTRIQUE KOUDIET EDRAOUECH - SKD
SITE: CENTRALE ELECTRIQUE DE KOUDIAT

DRAOUECH,
EL-TAREF, ALGERIA
REALISE PAR APPROUVE PAR
Karim Remili (EPSS) Zouhir MELOUK

51 INVERS JEU A 2 SEUIL L1:
Equipement a tester - Parametres equipement
Poste/Depart:
Poste: SKD Adresse poste: CCC KOUDIAT
Tranche: TRANCHE 3 Adresse depart: BOP 31
Equipement:
Nom/description: SEPAM S40 Constructeur: SCHENIEDER
Type
0
equipement: ARRIVEE DEPUIT TS Adresse equipement: 31BBA11GS011
N de serie/reference: 09311424
Info, supplementaire 1:
Valeurs nominales:
f nom: 50,00 Hz Nombre de phases: 3
U nom (secondaire): 100,0 V U primaire: 6,600 kV
I nom (secondaire): 5,000 A I primaire: 4,000 kA
Facteurs tension/courant residue!:

ULN/UN: 1,732 IN/I nom: 1,000
Limites:
U max: 200,0 V I max: 50,00 A
Filtres anti-rebond et antiparasite:

Duree d'anti-rebond: 3,000 ms Duree d'antiparasitage: 0,000 s
Detection de surcharge:
Duree d'inhibition: 50,00 ms
Autres proprietes de I'equipement:

Temps de retombee: 20,00 ms
Parametres de Tequipement a tester - Autres fonctions RIO
Configuration DJ
Description Nom Valeur
Tps decl. DJ Tps decl. DJ 50,00 ms
Tps term. DJ Tps term. DJ 100,00 ms
Temps de 52a, 52b en pourcentage du temps de DJ 52a, 52b en % de DJ 20,00 %
Equipement a tester - Parametres Overcurrent
General - Valeurs:
TimeTolAbs: 4,00 s Connexion TT: n/a
TimeTolRel: 5,00 % Connexion neutre TC: n/a
CurrentTolAbs: 0,05 Iref
CurrentTolRel: 5,00 %
Directionnel: Non
Elements - Phase:
Caracteristique de I Rapport de
Actif Nom declenchement Excitatio Temps degagement Direction
n
Oui I #1 SPhases IEC temps inverse normal 1,00 Iref 3,00 0,95 Non directionnel
Configuration du materiel
Equipement de test
Type N" de serie
CMC356 JA781R
Controle du materiel
Execute a Resultat Details
08/10/2020 16:27:45 Reussi
Sorties analogiques
Equipement de test Equipement a tester
Nom de Bornier de Signal
Equipement Connecteur I'affichage connexion
CMC356 I A 1 I L1 I L1
JA781R 2 I L2 I L2
3 I L3 I L3
N
Entrees binaires / analogiques

CMC356 1+ Dec Dec
JA781R 1-
2+ Detec. Detec.
2-
3+ Entr. bin. 3
3-
4+ Entr. bin. 4
4-
5+ Entr. bin. 5
5-
6+ Entr. bin. 6
o-
7+ Entr. bin. 7
7-
8+ Entr. bin. 8
O
o-
9+ Entr. bin. 9
Q
y-
10+ Entr. bin. 10
10-
1 Entr. bin. 11
2 Entr. bin. 12
N
Sorties binaires
CMC356 1+ Sort.bin 1 Sort.bin 1
JA781R 1-
2+ Sort.bin 2 Sort.bin 2
vJ~
11 Sort. bin. 5
12 Sort. bin. 6
13 Sort. bin. 7
14 Sort. bin. 8
N
Entrees analogiques CC
Source de temps
Mode de
fonctionnement: Aucun
References XRIO liees

Nom de reference Unite Valeur Chemin XRIO
RIO.CBCONFIGURATION1 TRIPTIME Tps_decl._DJ 50,00 ms RIO/Configuration DJ/Tps decl. DJ
Module de test
Nom: OMICRON Overcurrent Version: 4.00
Debut test: 08-oct.-2020 16:35:43 Fin test: 08-oct.-2020 16:36:28
Nom utilisateur: Samir Responsable: Engineer
Societe: EPSS
Parametres du test:
Modele defaut:
Reference tps: Apparition du defaut
Courant de charge: 0,000 A
Angle de charge: n/a
Duree pre-defaut: 100,0 ms
Duree abs. max.: 240,0 s
Duree post-defaut: 500,0 ms
Duree rel. max.: 100,0 %
Activer sortie de tension: Non
Tension de defaut LN (tous sauf defauts biphases): n/a
Tension de defaut LL (defauts biphases): n/a
Decroissance CC active: Non
Constante de temps: n/a
Duree min. caracteristique disjoncteur: 50,00 ms
Retombee thermique active: Non
Methode de retombee thermique: n/a
Message de retombee thermique: n/a
Test tir:
Type Par rapport a Facteur Amplitude Angle ttheo. tmin tmax
L1-E (...) n/a 9,000 A n/a 35,52 s 28,78 s 42,93 s
Sorties binaires:
Nom Etat
Sort.bin 1 0
Sort.bin 2 0
Sort.bin 3 0
Sort.bin 4 0
Entrees binaires:
Logique trigger:: Et
Nom Etat de declencheur
Dec 1
Detec. X
Resultats de test de tirs:

Type Par rapport a Facteur Amplitude Angle ttheo. treel Ecart: Surcharge Result
L1-E (...) n/a 9,000 A n/a 35,52 s 42,07 s 18,44 % Non Reussi
Diagrammes de types de defauts:
Type Angle
L1-E n/a
10000 -|
1000 -
100 -
10 -
5 7 10 20 30 50 70
l/A
Etat:
1 de 1 points testes.
1 points reussis.
0 points ayant echoue.
Evaluation generale: Test reussi!

51 INVERS JEU A 2 SEUIL L1-L2-L3:
Poste/Depart:
Equipement:
Type
0
Valeurs nominales:

ULN/UN: 1,732 IN/I nom: 1,000
Limites:
U max: 200,0 V I max: 50,00 A


Configuration DJ
General - Valeurs:
Directionnel: Non
Elements - Phase:
n
Equipement de test
Type N" de serie
CMC356 JA781R
08/10/2020 16:38:56 Reussi
Sorties analogiques
JA781R 2 I L2 I L2
3 I L3 I L3
N

CMC356 1+ Dec Dec
JA781R 1-
2+ Detec. Detec.
2-
3+ Entr. bin. 3
3-
4+ Entr. bin. 4
4-
5+ Entr. bin. 5
5-
6+ Entr. bin. 6
o-
7+ Entr. bin. 7
7-
8+ Entr. bin. 8
O
o-
9+ Entr. bin. 9
Q
y-
10+ Entr. bin. 10
10-
1 Entr. bin. 11
2 Entr. bin. 12
N
Sorties binaires
JA781R 1-
vJ~
11 Sort. bin. 5
12 Sort. bin. 6
13 Sort. bin. 7
14 Sort. bin. 8
N
Source de temps
Mode de

Module de test
Societe: EPSS
Parametres du test:
Modele defaut:
Test tir:
L1-L2-L3 (...) n/a 8,000 A n/a 59,29 s 49,69 s 70,59 s
Sorties binaires:
Nom Etat
Sort.bin 1 0
Sort.bin 2 0
Sort.bin 3 0
Sort.bin 4 0
Entrees binaires:
Dec 1
Detec. X

L1-L2-L3 (...) n/a 8,000 A n/a 59,29 s 54,03 s -8,877 % Non Reussi
Type Angle
L1-L2-L3 n/a
10000 -|
1000 -
100 -
10 -
5 7 10 20 30 50 70
l/A
Etat:
1 points reussis.

Poste/Depart:
Equipement:
Type
0
Valeurs nominales:

ULN/UN: 1,732 IN/I nom: 1,000
Limites:
U max: 200,0 V I max: 50,00 A


Configuration DJ
General - Valeurs:
Directionnel: Non
Elements - Phase:
n
Equipement de test
Type N" de serie
CMC356 JA781R
08/10/2020 16:38:56 Reussi
Sorties analogiques
JA781R 2 I L2 I L2
3 I L3 I L3
N

CMC356 1+ Dec Dec
JA781R 1-
2+ Detec. Detec.
2-
3+ Entr. bin. 3
3-
4+ Entr. bin. 4
4-
5+ Entr. bin. 5
5-
6+ Entr. bin. 6
o-
7+ Entr. bin. 7
7-
8+ Entr. bin. 8
O
o-
9+ Entr. bin. 9
Q
y-
10+ Entr. bin. 10
10-
1 Entr. bin. 11
2 Entr. bin. 12
N
Sorties binaires
JA781R 1-
vJ~
11 Sort. bin. 5
12 Sort. bin. 6
13 Sort. bin. 7
14 Sort. bin. 8
N
Source de temps
Mode de

Module de test
Societe: EPSS
Parametres du test:
Modele defaut:
Test tir:
L2-E (...) n/a 9,000 A n/a 47,36 s 39,71 s 55,91 s
Sorties binaires:
Nom Etat
Sort.bin 1 0
Sort.bin 2 0
Sort.bin 3 0
Sort.bin 4 0
Entrees binaires:
Dec 1
Detec. X

L2-E (...) n/a 9,000 A n/a 47,36 s 42,14 s -11,01 % Non Reussi
Type Angle
L2-E n/a
10000 -|
1000 -
100 -
10 -
5 7 10 20 30 50 70
l/A
Etat:
1 points reussis.

Poste/Depart:
Equipement:
Type
0
Valeurs nominales:

ULN/UN: 1,732 IN/I nom: 1,000
Limites:
U max: 200,0 V I max: 50,00 A


Configuration DJ
General - Valeurs:
Directionnel: Non
Elements - Phase:
n
Equipement de test
Type N" de serie
CMC356 JA781R
08/10/2020 16:38:56 Reussi
Sorties analogiques
JA781R 2 I L2 I L2
3 I L3 I L3
N

CMC356 1+ Dec Dec
JA781R 1-
2+ Detec. Detec.
2-
3+ Entr. bin. 3
3-
4+ Entr. bin. 4
4-
5+ Entr. bin. 5
5-
6+ Entr. bin. 6
o-
7+ Entr. bin. 7
7-
8+ Entr. bin. 8
O
o-
9+ Entr. bin. 9
Q
y-
10+ Entr. bin. 10
10-
1 Entr. bin. 11
2 Entr. bin. 12
N
Sorties binaires
JA781R 1-
vJ~
11 Sort. bin. 5
12 Sort. bin. 6
13 Sort. bin. 7
14 Sort. bin. 8
N
Source de temps
Mode de

Module de test
Societe: EPSS
Parametres du test:
Modele defaut:
Test tir:
L3-E (...) n/a 10,00 A n/a 40,12 s 33,46 s 47,34 s
Sorties binaires:
Nom Etat
Sort.bin 1 0
Sort.bin 2 0
Sort.bin 3 0
Sort.bin 4 0
Entrees binaires:
Dec 1
Detec. X

Type Angle
L3-E n/a
10000 -|
1000 -
100 -
10 -
5 7 10 20 30 50 70
l/A
Etat:
1 points reussis.

51 INVERS JEU A 1 SEUIL L1-L2-L3:
Poste/Depart:
Equipement:
Type
0
Valeurs nominales:

ULN/UN: 1,732 IN/I nom: 1,000
Limites:
U max: 200,0 V I max: 50,00 A


Configuration DJ
General - Valeurs:
Directionnel: Non
Elements - Phase:
n
Oui I #1 SPhases IEC temps extremement 1,00 Iref 1,00 0,95 Non directionnel
inverse
Equipement de test
Type N" de serie
CMC356 JA781R
08/10/2020 16:52:19 Reussi
Sorties analogiques
CMC356 V A 1 U L1-E U L1-E
JA781R 2 U L2-E U L2-E
3 U L3-E U L3-E
N
CMC356 V B 1 U(2)-1
JA781R N
JA781R 2 I L2 I L2
3 I L3 I L3
N
CMC356 I B 1 l(2)-1
JA781R 2 1(2)-2
3 l(2)-3
N

CMC356 1+ Dec Dec
JA781R 1-
2+ Detec. Detec.
2-
3+ Entr. bin. 3
3-
4+ Entr. bin. 4
4-
5+ Entr. bin. 5
5-
6+ Entr. bin. 6
o-
7+ Entr. bin. 7
7-
8+ Entr. bin. 8
O
o-
9+ Entr. bin. 9
Q
y-
10+ Entr. bin. 10
10-
1 Entr. bin. 11
2 Entr. bin. 12
N
Sorties binaires
JA781R 1-
vJ~
11 Sort. bin. 5
12 Sort. bin. 6
13 Sort. bin. 7
14 Sort. bin. 8
N
Source de temps
Mode de

Commentaire
Module de test
Societe: EPSS
Parametres du test:
Modele defaut:
Test tir:
L1-L2-L3 (...) n/a 8,000 A n/a 51,28 s 39,90 s 65,05 s
Sorties binaires:
Nom Etat
Sort.bin 1 0
Sort.bin 2 0
Sort.bin 3 0
Sort.bin 4 0
Entrees binaires:
Dec 1
Detec. X

Type Par rapport a Facteur Amplitude Angle ttheo. tree! Ecart: Surcharge Result
L1-L2-L3 (...) n/a 8,000 A n/a 51,28 s 54,04 s 5,386 % Non Reussi
Type Angle
L1-L2-L3 n/a
10000,00
1000,00
100,00
10,00
1,00
0,10
10 20 30 50 70
l/A
Etat:
1 points reussis.

51 INVERS JEU A 1 SEUIL L1N:
Poste/Depart:
Equipement:
Type
0
Valeurs nominales:

ULN/UN: 1,732 IN/I nom: 1,000
Limites:
U max: 200,0 V I max: 50,00 A


Configuration DJ
General - Valeurs:
Directionnel: Non
Elements - Phase:
n
inverse
Equipement de test
Type N" de serie
CMC356 JA781R
08/10/2020 16:52:19 Reussi
Sorties analogiques
3 U L3-E U L3-E
N
CMC356 V B 1 U(2)-1
JA781R N
JA781R 2 I L2 I L2
3 I L3 I L3
N
CMC356 I B 1 l(2)-1
JA781R 2 1(2)-2
3 l(2)-3
N

CMC356 1+ Dec Dec
JA781R 1-
2+ Detec. Detec.
2-
3+ Entr. bin. 3
3-
4+ Entr. bin. 4
4-
5+ Entr. bin. 5
5-
6+ Entr. bin. 6
o-
7+ Entr. bin. 7
7-
8+ Entr. bin. 8
O
o-
9+ Entr. bin. 9
Q
y-
10+ Entr. bin. 10
10-
1 Entr. bin. 11
2 Entr. bin. 12
N
Sorties binaires
JA781R 1-
vJ~
11 Sort. bin. 5
12 Sort. bin. 6
13 Sort. bin. 7
14 Sort. bin. 8
N
Source de temps
Mode de

Commentaire
Module de test
Societe: EPSS
Parametres du test:
Modele defaut:
Test tir:
L1-E (...) n/a 9,000 A n/a 35,71 s 27,10 s 45,58 s
Sorties binaires:
Nom Etat
Sort.bin 1 0
Sort.bin 2 0
Sort.bin 3 0
Sort.bin 4 0
Entrees binaires:
Dec 1
Detec. X

Type Par rapport a Facteur Amplitude Angle ttheo. tree! Ecart: Surcharge Result
Type Angle
L1-E n/a
10000,00 q
1000,00 -
100,00 -
10,00 -
1,00 - ^ ~
0,10 - 1 1 1 1
1 1 —I 1— I I I
5 7 10 20 30 50 70
l/A
Etat:
1 points reussis.

Poste/Depart:
Equipement:
Type
0
Valeurs nominales:

ULN/UN: 1,732 IN/I nom: 1,000
Limites:
U max: 200,0 V I max: 50,00 A


Configuration DJ
General - Valeurs:
Directionnel: Non
Elements - Phase:
n
inverse
Equipement de test
Type N" de serie
CMC356 JA781R
08/10/2020 16:52:19 Reussi
Sorties analogiques
3 U L3-E U L3-E
N
CMC356 V B 1 U(2)-1
JA781R N
JA781R 2 I L2 I L2
3 I L3 I L3
N
CMC356 I B 1 l(2)-1
JA781R 2 1(2)-2
3 l(2)-3
N

CMC356 1+ Dec Dec
JA781R 1-
2+ Detec. Detec.
2-
3+ Entr. bin. 3
3-
4+ Entr. bin. 4
4-
5+ Entr. bin. 5
5-
6+ Entr. bin. 6
o-
7+ Entr. bin. 7
7-
8+ Entr. bin. 8
O
o-
9+ Entr. bin. 9
Q
y-
10+ Entr. bin. 10
10-
1 Entr. bin. 11
2 Entr. bin. 12
N
Sorties binaires
JA781R 1-
vJ~
11 Sort. bin. 5
12 Sort. bin. 6
13 Sort. bin. 7
14 Sort. bin. 8
N
Source de temps
Mode de

Module de test
Societe: EPSS
Parametres du test:
Modele defaut:
Test tir:
L2-E (...) n/a 8,000 A n/a 51,28 s 39,90 s 65,05 s
Sorties binaires:
Nom Etat
Sort.bin 1 0
Sort.bin 2 0
Sort.bin 3 0
Sort.bin 4 0
Entrees binaires:
Dec 1
Detec. X

Type Angle
L2-E n/a
10000,00
1000,00
100,00
10,00
1,00
0,10
10 20 30 50 70
l/A
Etat:
1 points reussis.

Poste/Depart:
Equipement:
Type
0
Valeurs nominales:

ULN/UN: 1,732 IN/I nom: 1,000
Limites:
U max: 200,0 V I max: 50,00 A


Configuration DJ
General - Valeurs:
Directionnel: Non
Elements - Phase:
n
inverse
Equipement de test
Type N" de serie
CMC356 JA781R
08/10/2020 16:52:19 Reussi
Sorties analogiques
3 U L3-E U L3-E
N
CMC356 V B 1 U(2)-1
JA781R N
JA781R 2 I L2 I L2
3 I L3 I L3
N
CMC356 I B 1 l(2)-1
JA781R 2 1(2)-2
3 l(2)-3
N

CMC356 1+ Dec Dec
JA781R 1-
2+ Detec. Detec.
2-
3+ Entr. bin. 3
3-
4+ Entr. bin. 4
4-
5+ Entr. bin. 5
5-
6+ Entr. bin. 6
o-
7+ Entr. bin. 7
7-
8+ Entr. bin. 8
O
o-
9+ Entr. bin. 9
Q
y-
10+ Entr. bin. 10
10-
1 Entr. bin. 11
2 Entr. bin. 12
N
Sorties binaires
JA781R 1-
vJ~
11 Sort. bin. 5
12 Sort. bin. 6
13 Sort. bin. 7
14 Sort. bin. 8
N
Source de temps
Mode de

Module de test
Societe: EPSS
Parametres du test:
Modele defaut:
Test tir:
L3-E (...) n/a 7,000 A n/a 83,33 s 64,91 s 109,2 s
Sorties binaires:
Nom Etat
Sort.bin 1 0
Sort.bin 2 0
Sort.bin 3 0
Sort.bin 4 0
Entrees binaires:
Dec 1
Detec. X

Type Angle
L3-E n/a
10000,00 q
1000,00 -
100,00
10,00 -
1,00 - ~
0,10 - 1 1 1 1 1
1 —I 1— I I I
5 7 10 20 30 50 70
l/A
Etat:
1 points reussis.

Ramping:
Parametres du test
General
Nombre de rampes:
Nb. tot. incr. par test:
Temps total par test: 8,000 s
Nb. executions test: 1
Mode Entree: Sorties CMC/Amplifieateur
Type defaut::
Grandeurs rampees
U L1-E; L2-E; L3-E / Amplitude
Rampes
Rampe Rampe 1
U L1-E 43,00 V
0,00°
50,000 Hz
U L2-E 43,00 V
-120,00°
50,000 Hz
U L3-E 43.00 V0
120,00
50,000 Hz
I L1 0,000 A
0,00°
50,000 Hz
I L2 0,000 A
-120,00°
50,000 Hz
I L3 0,000 A
120,00 °
50,000 Hz
Impos. mode ph. Non
abs.
Sig. 1 De 43,00 V
Sig. 1 A 39,00 V
Sig. 1 Delta -577,3 mV
Sig. 1 d/dt -577,3 mV/s
Sort.bin 1 0
Sort.bin 2 0
Sort.bin 3 0
Sort.bin 4 0
dt par incr. 1,000 s
Incr. rampe 8
Temps rampe 8,000s
Trigger Bin
Logique trigger OU
Dec X
Detec. 1
Pas a pas arr. Non
Temporisation 0,000 s
Module de test
Norn: OMICRON Ramping Version: 4.00
Norn utilisateur: Samir Responsable: Engineer
Soeiete: EPSS
Resultats de revaluation
Mom/ Exec. Rampe Condition Sig. Nom. Reel Tol.- Tol.+ Ecart Eval. Treel
Montee Rampe 1 Dec 0->1 U 43,00 V 43,00 V 1,000 V 1,000 V 0,000 V + 36,00
L1-E;
L2-E;
L3-E
Eval.: + .. Reussi x .. Echoue o .. Non evalue
Etat du test:
Test reussi
Ramping 27 L1-L2-L3:
Parametres du test
General
Nombre de rampes: 1
Nb. tot. incr. par test: 8
Type defaut::
Grandeurs rampees
U L1-E/Amplitude
Rampes
Rampe Rampe 1
U L1-E 43,00 V
0,00°
50,000 Hz
U L2-E 57,73 V
-120,00°
50,000 Hz
U L3-E 57,73 V0
120,00
50,000 Hz
I L1 0,000 A
0,00°
50,000 Hz
I L2 0,000 A
-120,00°
50,000 Hz
I L3 0,000 A
120,00 °
50,000 Hz
Impos. mode ph. Non
abs.
Sig. 1 De 43,00 V
Sig. 1 A 39,00 V
Sig. 1 d/dt -577,3 mV/s
Sort.bin 1 0
Sort.bin 2 0
Sort.bin 3 0
Sort.bin 4 0
Incr. rampe 8
Temps rampe 8,000s
Trigger Bin
Logique trigger OU
Dec X
Detec. 1
Pas a pas arr. Non
Module de test
Soeiete: EPSS
Montee Rampe 1 Dec 0->1 U L1-E 43,00 V 43,00 V 1,000 V 1,000 V 0,000 V + 36,90
Etat du test:
Test reussi
Ramping 27 L1N:
Parametres du test
General
Nombre de rampes: 1
Type defaut::
Grandeurs rampees
U L1-E/Amplitude
Rampes
Rampe Rampe 1
U L1-E 43,00 V
0,00°
50,000 Hz
U L2-E 57,73 V
-120,00°
50,000 Hz
U L3-E 57,73 V0
120,00
50,000 Hz
I L1 0,000 A
0,00°
50,000 Hz
I L2 0,000 A
-120,00°
50,000 Hz
I L3 0,000 A
120,00 °
50,000 Hz
Impos. mode ph. Non
abs.
Sig. 1 De 43,00 V
Sig. 1 A 39,00 V
Sig. 1 d/dt -577,3 mV/s
Sort.bin 1 0
Sort.bin 2 0
Sort.bin 3 0
Sort.bin 4 0
Incr. rampe 8
Temps rampe 8,000s
Trigger Bin
Logique trigger OU
Dec X
Detec. 1
Pas a pas arr. Non
Module de test
Debuttest: 08-oct.-2020 18:11:15 Fin test: 08-oct.-2020 18:11:26
Soeiete: EPSS
Etat du test:
Test reussi
Ramping 27 L2N:
Parametres du test
General
Nombre de rampes: 1
Type defaut::
Grandeurs rampees
U L3-E / Amplitude
Rampes
Rampe Rampe 1
U L1-E 57,73 V
0,00°
50,000 Hz
U L2-E 57,73 V
-120,00°
50,000 Hz
U L3-E 43.00 V0
120,00
50,000 Hz
I L1 0,000 A
0,00°
50,000 Hz
I L2 0,000 A
-120,00°
50,000 Hz
I L3 0,000 A
120,00 °
50,000 Hz
Impos. mode ph. Non
abs.
Sig. 1 De 43,00 V
Sig. 1 A 39,00 V
Sig. 1 d/dt -577,3 mV/s
Sort.bin 1 0
Sort.bin 2 0
Sort.bin 3 0
Sort.bin 4 0
Incr. rampe 8
Temps rampe 8,000s
Trigger Bin
Logique trigger OU
Dec X
Detec. 1
Pas a pas arr. Non
Module de test
Soeiete: EPSS
Etat du test:
Test reussi
Ramping 51 L3N:
Parametres du test
General
Nombre de rampes: 1
Type defaut::
Grandeurs rampees
I L1; L2; L3 / Amplitude
Rampes
Rampe Rampe 1
I L1 15,50 A
0,00°
50,000 Hz
I L2 15,50 A
-120,00°
50,000 Hz
I L3 15.50 A0
120,00
50,000 Hz
Impos. mode ph. Non
abs.
Sig. 1 De 15,50 A
Sig. 1 A 16,00 A
Sig. 1 Delta 10,00 mA
Sig. 1 d/dt 100,0 mA/s
Sort.bin 1 0
Sort.bin 2 0
Sort.bin 3 0
Sort.bin 4 0
dt par incr. 100,0 ms
Incr. rampe 51
Temps rampe 5,100s
Trigger Bin
Logique trigger OU
Dec X
Detec. 1
Pas a pas arr. Non
Module de test
Soeiete: EPSS
Norn/ Exec. Rampe Condition Sig. Nom. Reel Tol.- Tol.+ Ecart Eval. Treel
Montee Rampe 1 Dee 0->1 I L1; 15,75 A 15,96 A 600,0 mA 600,0 mA 210,0 mA + 44,00
L2; L3
Etat du test:
Test reussi
Ramping 51:
Parametres du test
General
Nombre de rampes: 1
Type defaut::
Grandeurs rampees
I L1 / Amplitude
Rampes
Rampe Rampe 1
I L1 15,50 A
0,00°
50,000 Hz
I L2 0,000 A
-120,00°
50,000 Hz
I L3 0,000 A0
120,00
50,000 Hz
Impos. mode ph. Non
abs.
Sig. 1 De 15,50 A
Sig. 1 A 16,00 A
Sort.bin 1 0
Sort.bin 2 0
Sort.bin 3 0
Sort.bin 4 0
Incr. rampe 51
Temps rampe 5,100s
Trigger Bin
Logique trigger OU
Dec X
Detec. 1
Pas a pas arr. Non
Module de test
Soeiete: EPSS
Montee Rampe 1 Dee 0->1 I L1 15,75 A 15,97 A 600,0 mA 600,0 mA 220,0 mA + 92,40
Etat du test:
Test reussi
Ramping 51 L1N:
Parametres du test
General
Nombre de rampes: 1
Type defaut::
Grandeurs rampees
I L2 / Amplitude
Rampes
Rampe Rampe 1
I L1 0,000 A
0,00°
50,000 Hz
I L2 15,50 A
-120,00°
50,000 Hz
I L3 0,000 A0
120,00
50,000 Hz
Impos. mode ph. Non
abs.
Sig. 1 De 15,50 A
Sig. 1 A 16,00 A
Sort.bin 1 0
Sort.bin 2 0
Sort.bin 3 0
Sort.bin 4 0
Incr. rampe 51
Temps rampe 5,100s
Trigger Bin
Logique trigger OU
Dec X
Detec. 1
Pas a pas arr. Non
Module de test
Soeiete: EPSS
Etat du test:
Test reussi
Ramping 51 L2N:
Parametres du test
General
Nombre de rampes: 1
Type defaut::
Grandeurs rampees
I L3 / Amplitude
Rampes
Rampe Rampe 1
I L1 0,000 A
0,00°
50,000 Hz
I L2 0,000 A
-120,00°
50,000 Hz
I L3 15.50 A0
120,00
50,000 Hz
Impos. mode ph. Non
abs.
Sig. 1 De 15,50 A
Sig. 1 A 16,00 A
Sort.bin 1 0
Sort.bin 2 0
Sort.bin 3 0
Sort.bin 4 0
Incr. rampe 51
Temps rampe 5,100s
Trigger Bin
Logique trigger OU
Dec X
Detec. 1
Pas a pas arr. Non
Module de test
Soeiete: EPSS
Etat du test:
Test reussi
Ramping 51N JEU A:
Parametres du test
General
Nombre de rampes: 1
Type defaut::
Grandeurs rampees
I L1 / Amplitude
Rampes
Rampe Rampe 1
I L1 200,0 mA
0,00°
50,000 Hz
Impos. mode ph. Non
abs.
Sig. 1 De 200,0 mA
Sig. 1 A 500,0 mA
Sort.bin 1 0
Sort.bin 2 0
Sort.bin 3 0
Sort.bin 4 0
Incr. rampe 31
Temps rampe 3,100s
Trigger Bin
Logique trigger OU
Dec X
Detec. 1
Pas a pas arr. Non
Module de test
Soeiete: EPSS
Montee Rampe 1 Dee 0->1 I L1 302,0 mA 470,0 mA 500,0 mA 500,0 mA 168,0 mA + 28,60
Etat du test:
Test reussi
Sepam xxxx (10/10/2020) Page 1
Properties
Customer : SKD
Project : Protection Test
Switchboard : 31BBA11GS011
Cubicle : INCOMING FROM NAT 31BBT10
Print date : 08/10/20
Sepam hardware configuration

Type of application : Motor (M20)
Sepam Type : Sepam xxxx
Sepam model : UD model (with fixed advanced UMI)
MES (Input / output module) : MES114 (101 + 40 module)
MET148 (8 temperature sensors module) : Present
MSA141 (1 analog output module) : Absent
DSM303 (Remote advanced UMI module) : Absent
Interface de communication : ACE 937/949/959
Synchronization mode : Network
Module MET148
Type o f temp, se PT1 00
Unit: : Degrees Celsius (C)
Pre-as signment o f temp. sensors : Motor 1
Temp. sensor 1 Stator 1
Temp. sensor 4 Bearing 1
Temp. sensor 8 Ambient T.
Communication configuration
Communication protocol : MODBUS
Slave number : 6
Speed : 19200 Bauds
Parity : None
MODBUS Protocol parameters

Remote Control Mode : Direct
Program logic
Circuit breaker control : No
Logic discrimination : No
Use of logic inputs

111 Customized use
112 Customized use
113 Customized use
114 Customized use
121 Not used
122 Customized use
123 Customized use
124 Customized use
125 Customized use
126 Customized use
Set up outputs
Used Shunt coil Undervoltage coil Impulsed mode
01 Yes X
02 Yes X
03 Yes X
04 Yes X
011 Yes X
012 Yes X
013 Yes X
014 Yes X
General characteristics
Network frequency : 50 Hz
Setting group : A
Remote setting enabled : No
Sepam working language : English
CT rating : TC 5A
Number of CTs : II, 12, 13
Rated current (In) : 100 A
Base current (lb) : 100 A
Integration period : 5 mn
Residual current : 5A CT (CSH30 / CCA634)
Rated residual current (InO) : 100 A
Number of periods which are memorised before the fault recording trigger : 36 Periods
Protection: Phase overcurrent (50/51)

Element number : 1
Element activity : Off
Setting group A
Tripping curve : Definite time
Threshold current : 1260 A
Delay : 100 ms
Timer hold curve : Definite time
Timer hold delay : 0 ms
Harmonic 2 restraint : No
Icc current : 6300 A
Setting group B
Delay : 300 ms
Tripping behavior
Output 01 - Type : Shunt coil
Output 01 - Mode: Continuous
Latching : Yes
Activate output 01 : Yes
Trigger fault recording : With
Activate indicators : LI, L9
Protection: Phase overcurrent (50/51)

Element number : 2
Setting group A
Delay : 100 ms
Setting group B
Delay : 300 ms
Tripping behavior
Latching : Yes
Activate indicators : L2, L9
Protection: Earth fault (50N/51N)

Element number : 1
Setting group A
Delay : 100 ms
Setting group B
Delay : 300 ms
Tripping behavior
Latching : Yes
Protection: Earth fault (50N/51N)

Element number : 2
Setting group A
Delay : 100 ms
Setting group B
Delay : 300 ms
Tripping behavior
Latching : Yes
Protection: Temperature monitoring (38/49T)

Element number : 1
Alarm set point : 70 C
Tripping set point : 100 C
Alarm behavior
Activate an output : No
Activate indicators : Without
Tripping behavior
Output 01 - Type : Shunt coll

Element number : 2
Alarm behavior
Tripping behavior

Element number : 3
Alarm behavior
Tripping behavior
Sepam xxxx (10/10/2020) Page

Element number : 4
Alarm behavior
Tripping behavior

Element number : 5
Alarm behavior
Tripping behavior

Element number : 6
Alarm behavior
Tripping behavior

Element number : 7
Alarm behavior
Tripping behavior

Element number : 8
Alarm behavior
Tripping behavior
Activate output 01 : No
Sepam xxxx (10/10/2020) Page
Protection: Thermal overload (49RMS)

Basic settings (group A)

Heat rise alarm set point : 85 %
Heat rise tripping set point : 120 %
Heating time constant : 20 mn
Cooling time constant : 20 mn
Advanced settings
Negative sequence factor : Low (2,25)
Initial heat rise value : 0 %
Thermal overload inhibited by 126 : No
Accounting for ambient temperature : No
Additional settings (group B)

Activity : Off
Switching mode between A and B : Is
Switching current Is : 50 -ir of lb
Heat rise alarm set point : 85 %
Heat rise tripping set point : 120 %
Heating time constant : 20 mn
Cooling time constant : 20 mn
Initial heat rise value : 0 %
Alarm behavior
Tripping behavior
Activate indicators : L9
Protection: Phase undercurrent (37)

Setting group
Threshold current : 20 % of lb
Delay : 1000 ms
Tripping behavior
Latching : No
Protection: Negative sequence current / unbalance (46)

Setting group
Delay : 300 ms
Tripping behavior
Latching : Yes
Protection: Excessive starting time and locked rotor (48-51LR)

Delay for excessive starting time (ST) : 1000 ms
Delay for locked rotor (LT) : 1000 ms
Delay for locked rotor on start (LTS) : 500 ms
Tripping behavior
Latching : Yes
Trigger fault recording : Without
Protection: Starts per hour (66)

Period of time : 1 h
Total number of starts : 1
Number of consecutive hot starts : 1
Number of consecutive cold starts : 1
Time delay between starts : 0 mn
Tripping behavior
Latching : No
Activate output 01 : No
Trigger fault recording : Without

SEPAM 011.o

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GRID SOLUTION

RAPPORT D'ESSAIS DBS PROTECTIONS TRANCHE 3

ARRIVEE DEPUIS UAT 31BBT10

PROJET : REHABILITATION DE LA CENTRALE

SITE: CENTRALE ELECTRIQUE DE KOUDIAT

REALISE PAR APPROUVE PAR

Karim Remili (EPSS) Zouhir MELOUK

Equipement a tester - Parametres equipement

Facteurs tension/courant residue!:

Filtres anti-rebond et antiparasite:

Autres proprietes de I'equipement:

Parametres de Tequipement a tester - Autres fonctions RIO

Equipement a tester - Parametres Overcurrent

Entrees binaires / analogiques

References XRIO liees

Resultats de test de tirs:

Diagrammes de types de defauts:

Evaluation generale: Test reussi!

Equipement a tester - Parametres equipement

Facteurs tension/courant residue!:

Filtres anti-rebond et antiparasite:

Autres proprietes de I'equipement:

Parametres de Tequipement a tester - Autres fonctions RIO

Equipement a tester - Parametres Overcurrent

Entrees binaires / analogiques

References XRIO liees

Resultats de test de tirs:

Diagrammes de types de defauts:

Evaluation generale: Test reussi!

Equipement a tester - Parametres equipement

Facteurs tension/courant residue!:

Filtres anti-rebond et antiparasite:

Autres proprietes de I'equipement:

Parametres de Tequipement a tester - Autres fonctions RIO

Equipement a tester - Parametres Overcurrent

Entrees binaires / analogiques

References XRIO liees

Resultats de test de tirs:

Diagrammes de types de defauts:

Evaluation generale: Test reussi!

Equipement a tester - Parametres equipement

Facteurs tension/courant residue!:

Filtres anti-rebond et antiparasite:

Autres proprietes de I'equipement:

Parametres de Tequipement a tester - Autres fonctions RIO

Equipement a tester - Parametres Overcurrent

Entrees binaires / analogiques

References XRIO liees

Resultats de test de tirs:

Diagrammes de types de defauts:

Evaluation generale: Test reussi!

Equipement a tester - Parametres equipement

Facteurs tension/courant residue!:

Filtres anti-rebond et antiparasite:

Autres proprietes de I'equipement:

Parametres de Tequipement a tester - Autres fonctions RIO

Equipement a tester - Parametres Overcurrent

Entrees binaires / analogiques

References XRIO liees

Resultats de test de tirs:

Diagrammes de types de defauts:

Evaluation generale: Test reussi!

Equipement a tester - Parametres equipement

Facteurs tension/courant residue!: