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Formation

CEM 2

Conception CEM des quipements lectroniques


OBJECTIFS
Ce stage couvre lensemble de la conception CEM des quipements
depuis le schma lectronique lintgration des sous-ensembles. Les
rgles CEM de conception et dintgration des sous-ensembles sont
mises en vidence et entirement dcrites.
Les techniques de cblage, de filtrage et de blindage sont passes en
revue et clairement dfinies. Des exemples concrets et des
manipulations pratiques illustrent les principes noncs tout au long
du stage.

PUBLIC
Ingnieurs et techniciens en charge de la conception et de linstallation
des systmes ou installations lectriques et/ou lectroniques

1 700

Dates
Du 5 au 8 mars 2013
Du 8 au 11 octobre 2013

Dure

PROGRAMME

PRIX HT par personne

4 jours (28 heures)


Comprendre les contraintes CEM et leurs impacts sur les
quipements
Matriser lensemble des rgles CEM de conception et
dintgration
Intgrer la CEM dans le processus de dveloppement dun
quipement
Optimiser les couts inhrents aux choix en matire de CEM

1. Introduction la CEM
Fondamentaux de la CEM
Sources de perturbations
Propagation et rayonnement des champs
Impdance des conducteurs
Elments parasites des composants
2. Couplage des perturbations
Couplage par impdance commune.
Couplage par rayonnement.
Diaphonie
Couplage Carte-chssis.
Synthse des couplages

LCIE
Laboratoire Central
Des Industries Electriques
Une socit Bureau Veritas

33, av du Gnral Leclerc


BP 8
92260 Fontenay-aux-Roses
France

Lieu
LCIE o site client

CONTACTS
Diana Mouchache
Tl : 01 40 95 63 37
Fax : 01 40 95 54 00
diana.mouchache@lcie.fr
Catherine Barbier
Tl : 01 40 95 61 93
Fax : 01 40 95 54 04
catherine.barbier@lcie.fr
N dclaration dexistence
11 92 00 21792

Tl : +33 1 40 95 60 60
Fax : +33 1 40 95 86 56
contact @lcie.fr

Socit par Actions Simplifie


au capital de 15 745 984
RCS B 408 363 174

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www.lcie.fr

Formation
CEM 2

3. Les principales contraintes CEM et leurs effets sur les quipements


Organisation des essais CEM selon lenvironnement (industrie, automobile, aronautique, )
Essais dimmunit conduite temporelle
Essais dimmunit conduite radiofrquence
Essais dimmunit rayonne
Essais de foudre
Impact des perturbations sur les quipements
4. Rgles de conception CEM des cartes lectroniques
Choix des composants
Composants CEM
Utilisation des donnes des constructeurs
Impdances des conducteurs
Masse et alimentations
Capas de dcouplage
Diaphonie capacitive entre pistes
Diaphonie inductive entre pistes
Matrise des surfaces de boucles
Rayonnement des horloges
5. Rgles de conception CEM des boitiers
Rgles de cblage CEM.
Cbles blinds : performance des crans et raccordement des connecteurs
Optimisation dun filtrage
Filtrage des alimentations
Dcouplage des entres-sorties
Blindage des botiers et mises en uvre pratiques
Mise la masse des botiers
Intgration des systmes et sous ensembles.
6. Intgration de la CEM dans le cycle de conception dun produit
Dfinition des choix
Mthodologie de prise en compte des contraintes CEM dans le dveloppement.
Documentations composants et bibliographie
7. Travaux pratiques et dmonstrations
Inventaire des problmes rencontrs par essai en laboratoire
Maquettes de dmonstrations pratiques
Mise en uvre des solutions
Etudes de cas

Connaissances pralables : Electronique et lectricit


Intervenant : Expert CEM

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Une socit Bureau Veritas

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