LLeess ccaarrtteess ddee ccoonnttrrlleess

S
Syynntthhssee

LES CARTES DE
CONTROLES
QUALITE
S53. Contrle de la qualit

Capacits
Raliser des cartes de contrle

Comptences
C34 Contrler la production

Savoirs technologiques associes

Dcoder un diagramme Hishikawa
Dcoder le diagramme PARETO
Construire une carte de contrle
Interprter une carte de contrle

PLAN DE LETUDE
1

INTRODUCTION

LA QUALITE DANS LENTREPRISE

2.1

Dfinition ( NF X50-120 ISO 8402)

2.2

Mise en place

LES OUTILS

3.1
Outils danalyse
3.1.1
Diagramme ISHIKAWA ou diagramme CAUSES-EFFET
3.1.2
La loi de PARETO ( Loi des 80/20 OU Diagramme ABC)

3
3
4

3.2
Outils de suivi de production
3.2.1
Les plans de contrle(NFX 06-22)

4
4

LE SPC

LES CARTES DE CONTROLE

5.1

Objectifs

5.2

Principe de fonctionnement

5.3

Analyse

aaarrr

S
STTII G
GM
MA
A

cccaaarrrttteeesssdddeee

P
Prroodduuccttiiqquuee

P
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5.4

S
Syynntthhssee

Calculs

1 Introduction
Toute entreprise souhaite, bien entendu, produire la quantit quil faut ( pas de stock), ,
au moment il faut (pas de dlai), sans dfaut, sans panne ni accident et au moindre cot.
Pour arriver cet objectif, il faut essayer de supprimer les gaspillages. Les Japonais sont les
premiers lavoir compris. Leur approche sarticule autour de laugmentation de
la__________
____________ leur produit.

2 La qualit dans lentreprise

2.1

Dfinition ( NF X50-120 ISO 8402)

Ensemble de proprits et de caractristiques dun produit, ou dun service, qui lui
confrent laptitude satisfaire les besoins (exprimes ou implicites) des utilisateurs.
Lentreprise prend un engagement vis--vis de son client sur le produit ou le service
quelle fournit en ce qui concerne :
* La conformit aux spcifications ;
* LAPTITUDE satisfaire le BESOIN du client.
Afin de rpondre ces attentes, elle met en place un ensemble de procdures
permettant de raliser la qualit de ses produits. On parle alors de______________
_______________________________.
Celle-ci utilise diffrents moyens pour y parvenir. Ce sont
les____________________ _______________________________.

2.2

Mise en place
Afin damliorer la qualit, on peut agir de 2 faons.
La premire consiste surveiller le processus de fabrication, et dintervenir lorsque
un dysfonctionnement se produit ( drglage, bris doutil, etc..).
La seconde est dagir en amont. On cherche comprendre quelles sont les causes des
dysfonctionnements afin dy remdier.
Les outils de la qualit vont donc tre de 2 ordres :
* Les outils danalyse :
On tudiera :
* le diagramme cause - effet
* le diagramme Pareto.
* Les outils de suivi de production :
On tudiera :
* les plans de contrles
* la mthode SPC.

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3 Les outils
3.1 Outils danalyse
3.1.1 Diagramme ISHIKAWA ou diagramme CAUSES-EFFET
___________________________________________________________________________
__________________________________________________________________________.
1re tape : On dfinit avec prcision LEFFET.
2me tape : On recherche lensemble des causes possibles qui peuvent produire leffet. Cette
recherche est fate par un BRAINSTORMING (remue-mninges).
3me tape : On assemble les diffrentes causes par familles.
4me tape : On construit le diagramme
1

1
2

EFFET
2
1

2
1

Les flches 1 reprsentent les causes principales ;

les flches 2 reprsentent le causes secondaires ;
les flches 3 reprsentent les causes tertiaires
Exercice :
1re tape :

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3.1.2 La loi de PARETO ( Loi des 80/20 OU Diagramme ABC)

______________________________________________________________________
______________________________________________________________________.
Les statistiques mettent en vidence que 80% des effets est due 20% de causes .
On peut ainsi agir sur un problme en sattaquant aux causes donnant le plus deffet.
Exercice :
Elment
A
B
C
D
E
F
G
H
I

Valeur
9
8
87
3
7
45
2
14
12

Elment

valeur

N ordre
1
2
3
4
5
6
7
8
9

Cumul %

S=
100,00
90,00
80,00
70,00
60,00
50,00
40,00
30,00
20,00
10,00
0,00

10,00

0,00
1

3.2

Outils de suivi de production

3.2.1 Les plans de contrle(NFX 06-22)

Un plan de contrle dfinie la stratgie de contrle retenue.
Cest dire :
* Le nombre de contrle
* la taille du prlvement
* Le mode de prlvement

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Il prend en compte les donnes suivantes :

*: risque fournisseur (appel risque ) : Probabilit de se voir refuser un lot dont la
proportion relle Pr de pices dfectueuses est infrieure la proportion
dacceptation Pa. (Pr<Pa)
* risque client (appel risque ) :: Probabilit daccepter des lots dont la proportion
relle Pr de pices dfectueuses est suprieure la proportion dacceptation Pa. (Pr>Pa)
Mthode :
Le contrle est effectue par ECHANTILLONNAGE .
On prlve n pices parmi N pices que contient le lot. Elles composent lchantillon du
lot de production et sont considres alors comme reprsentatives de lensemble du
lot.
On contrle cet chantillon. On obtient ainsi une proportion Pn de pices dfectueuses.
Pn est alors une estimation de Pr, proportion relle de pices dfectueuses du lot de N
pices
Si la proportion Pn de pices dfectueuses est infrieure au seuil dacceptation Pa, on
ACCEPTE TOUT LE LOT. Dans le cas contraire, on REFUSE tout le lot.
Deux situations se prsentent alors :
1er cas : Pn<Pa
LOT ACCEPTE
Si Pr<Pa
LOT ACCEPTE
Dcision prise BONNE
SI Pr>Pa
LOT REFUSE
Dcision prise MAUVAISE
Le client a____________ un mauvais lot provenant du fournisseur. Cest le risque
____.
2me cas : Pn>Pa
LOT__________
Si Pr>Pa
LOT ___________
Dcision prise ___________
SI Pr<Pa
LOT __________
Dcision prise ____________
. Le client a __________ un bon lot provenant du fournisseur. Cest le risque _______.
PRELEVER UN ECHANTILLON DE N
INDIVIDUS
CONTROLER LES N INDIVIDUS

OUI

Pn>Pa

NON

ACCEPTER LE LOT
REJETER LE LOT

Plan de contrle simple

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4 LE SPC
SPC :

STASTISTICAL PROCESS CONTROL

SURVEILLANCE DES PROCEDES EN CONTINU
MSP : MAITRISE STATISTIQUE DES PROCEDES
Cest une mthode qui permet de contrler le procd de fabrication de faon continu.
On prlve et on contrle un chantillon de n pices parmi N pices fabriques. On
reporte le rsultats graphiquement sur des cartes de contrles
Il se met en place en 3 phases :
Etude du procd
Mise sous contrle statistique ( Eliminations des causes assignables)
Suivi du procd ( Dtermination des capabilits machine Cm et procd Cp)
4.1.1.1 Types de contrles
On peut contrler :
* la RECEPTION ;
* en cours de FABRICATION.
Fabrication
Contrle de
Premire
Dernire
Contrle de
Montage
des pices
rception
opration
opration
rception
Expdition
brutes
des pices
des pices
Contrle par poste

Par mesurage

Par contrle

4.1.1.2 Contrles par mesures

La spcification contrle est une grandeur chiffre par un appareil de mesure. On
surveille alors 2 paramtres :
* LA TENDANCE CENTRALE de la fabrication ( Moyenne,...)
* LA VARIABILITE de la fabrication ( Etendue,..)
Exemple :
Echantillon n1
Echantillon n2
28.82
28.85
28.87
28.85
28.85
28.85
28.88
28.85
28.83
28.85
Moyenne
.........
...........
Etendue
..........
............
4.1.1.3 Contrles par attribut
La spcification contrle est qualitative. On classe les chantillons par rapport une
proprit quils possdent ou non. On surveille alors 2 paramtres :
* la proportion de dfectueux (pices qui ne possdent pas la proprit ) ;
* le nombre de dfauts par unit de contrle.
4.1.1.4 Mise en place du MSP
On doit suivre la mthode suivante :
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Choisir le domaine dapplication (Pice ou machine)

Analyser les causes de variabilit du procd( Brainstorming, Diagramme causeseffet ; PARETO, AMDEC, etc..)
choisir les paramtres surveiller (moyenne ou mdiane, tendue ou cart type )
Mettre en place cartes de contrles provisoires
Rechercher et supprimer les causes assignables
Calculer les nouvelles limites
Calculer les indices de capabilits (Cp, Cpk)
Effectuer un suivi, et amliorer.

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5 Les cartes de contrle

5.1

Objectifs
Elles permettent le suivi de la production en donnant une image du droulement de la
fabrication.
On peut alors intervenir et limiter, voire supprimer, le nombre de pices dfectueuses.

5.2

Principe de fonctionnement
Pour suivre lvolution du procd, des chantillons sont effectus rgulirement.
Pour chaque chantillons, on calcule la moyenne, et ltendue. Ces valeurs sont alors
portes sur un graphique. Au fur et mesure, on remplit la carte qui donne alors une
visualisation de lvolution du processus. Des limites de contrles(99,8%) et de
surveillances(95%) sont mises en place pour savoir si lvolution est correcte. De plus,
un journal de bord rpertorie tous les vnements permettant un analyse par la suite.
Les limites de contrle sont choisies telles que 99,8% des moyennes soient entre
-3,09 et +3,09 . Cela reprsente 2 chances sur 1000 pour quune moyenne soit hors de ces limites.
Les limites de surveillances sont choisies telles que95% des moyennes soient entre
-1,96 et +1,96 . Cela reprsente 5 chances sur 100 pour quune moyenne soit hors de ces limites.

5.3

Analyse
1er cas : La valeur de la carte est entre Lsi ( Lc infrieure) et Lss (Ls suprieure). Le
processus produit des pices bonnes .
2me cas : La valeur de la carte est entre Lci et Lci , ou entre Lss et Lcs. Il faut alors
reprendre u n chantillon pour confirmer si cest le processus qui est drgl, ou si c est
le lot de pice qui possde un dfaut. Si cela se confirme, il faut envisager un rglage :
sinon on poursuit le processus
3me cas : La valeur de la carte est infrieure Lci ou suprieure Lcs. Le processus
est drgl. Une action corrective simpose

5.4

Calculs
( X 1 + X 2 + ... X n )

n
W = ( X m a x X m in )
__

X 1 + X 2 + .. X m
m
W 1 + W 2 + . .W m
W =
m
X =

X =

X reprsenta la ______
W reprsente ________
n est la taille des chantillons
Lc reprsente la limite de contrle
Ls reprsente la limite de surveillance

Limites carte de contrle de la moyenne

.
X reprsente la moyenne des moyenne
W reprsente la moyenne des tendue
m est le nombre dchantillons

Limites pour les cartes de contrle de

ltendue

Lc = X Ac.W

Lc = D c . W

Ls = X As.W

Ls = D s. W

As, Ac, Dc, Ds sont de coefficients fonction de la taille de lchantillon

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