Test des circuits intgrs VLSI

version 1.0

PHY 569

Alain Greiner

Plan

PHY 569

Les enjeux du test

Test fonctionnel et test structurel

Le modle des collages et la simulation de fautes

La gnration automatique de vecteurs de test

Test des circuits squentiels : le scan-path

Alain Greiner

Rendement de fabrication
=

Nombre de puces sans dfauts

Nombre de puces total sur une tranche

Les principales causes de dfauts physiques:

poussires
dfauts cristallins
dsalignements de masques
Le rendement dcroit exponentiellement avec la surface de la puce

exp(- kS)
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Objectifs du test de production

Il sagit de faire le tri entre les puces fonctionnelles et les
puces dfectueuses, pour viter de monter une puce
dfectueuse dans un quipement :
on ne cherche pas dtecter dventuelles erreurs de conception
on ne cherche pas identifier la cause du disfonctionnement
On parle de test GO / NOGO
Les deux principaux objectifs sont donc :
minimiser le nombre de pices dfectueuses non dtectes
minimiser la dure du test (quelques secondes au plus par pice).

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Le cot du test
test sous
pointes

test en
botier

test sur
carte

test dans
lquipement

test chez
le client

y
x

X 10
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X 10

X 10

X 10
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La responsabilit du test
Description RTL

bibliothque

synthse

Net-list cellules
bibliothque

Vecteurs de test

Place & Route

Dessin des masques

Vrif temporelle, lectrique, etc.

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Equipementier

Fabrication

Fabricant
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Les enjeux du test

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Le modle des collages et la simulation de fautes

La gnration automatique de vecteurs de test

Test des circuits squentiels : le scan-path

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Taux de couverture
Un vecteur de test est un couple, constitu par :
- un ensemble de valeurs imposes sur les signaux dentre
- un ensemble de valeurs attendues sur les signaux de sortie
Un jeu de vecteurs V dfinit le filtre qui permet dliminer
les puces dfectueuses.
Le taux de couverture est la mtrique qui permet de mesurer
lefficacit dun jeu de vecteurs particulier pour un circuit particulier.

La dfinition de cette mtrique est un problme difficile !!!

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Test fonctionnel
Pour un circuit combinatoire possdant N
entres, le test fonctionnel exhaustif suppose
dappliquer 2N suppose valeurs sur les entres

M
C

C
M

N
Combi

Pour un circuit squentiel possdant N

entres et M bits mmoriss dans des
registres internes, le test fonctionnel
exhaustif suppose dappliquer 2N+M
vecteurs de test

CK
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Test structurel
Le nombre de vecteurs de test augmente de faon exponentielle (2N+M )
avec la complexit des circuits.
Le nombre de composants dfectueux possibles augmente linairement
avec la complexit des circuits
On oublie donc la fonctionnalit du circuit, et on dfinit le taux de couverture
structurel dun jeu de vecteurs V :

nombre de dfauts dtects par au moins un vecteur de V

nombre de dfauts total du circuit.

Il faut donc dfinir un modle de dfauts, permettant dnumrer

tous les dfauts possibles dun circuit

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La gnration automatique de vecteurs de test

Le test des circuits squentiels : le scan-path

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Modle des collages

z

On dispose dune description du circuit de type netlist comportant N portes logiques

On considre que tout dfaut physique a pour effet que

le circuit se comporte comme si un et un seul des N
signaux du circuit tait coll 0 ou coll 1 .

=> Avec cette hypothse (trs violente), le nombre total de

circuits fautifs est dnombrable, et gal 2N

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12

Exemple : multiplexeur 1 bit

A

B
X

Ce circuit possde 3 entres A, B, C

et 7 signaux : A, B, C, X, Y, Z, T
Il y a donc 23 = 8 vecteurs de test,
et 14 collages possibles,
(donc 14 circuits fautifs possibles).

Notation:
- On note S0X le circuit fautif
dont le signal X est coll 0
- On note S1X le circuit fautif
dont le signal X est coll 1.

Question : Quelles est le taux de couverture fourni

par les trois vecteurs (001) (011) (111) ?
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13

Simulation de fautes

Vecteur
A B C

O
K

S
0
A

S
1
A

S
0
B

S
1
B

S
0
C

S
1
C

S
0
X

S
1
X

S
0
Y

S
1
Y

S
0
Z

S
1
Z

S
0
T

S
1
T

0 0 1 0 0 0 0 1 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1
0 1 1 1 1 1 0 1 0 1 1 1 1 1 1 0 0 1
1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 0 0 1
La simulation de fautes permet de calculer le taux de couverture dun jeu
de vecteurs V, en construisant progressivement une liste de tous les circuits
fautifs dtects par au moins un vecteur de V.
Elle est trs coteuse en temps de calcul puisquelle demande un nombre
de simulations gal au produit du nombre de collages possibles par le
nombre de vecteurs de lensemble V.

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Gnration automatique
z

On cherche rsoudre le problme suivant :

Trouver un vecteur de test qui dtecte un collage
particulier dun signal interne du circuit

Il faut satisfaire deux contraintes :

sensibiliser un chemin entre une entre du circuit et
le nud X, pour pouvoir contrler X (et forcer une
valeur diffrente de la valeur de collage)
sensibiliser un chemin entre le nud X et une sortie
du circuit, pour pouvoir observer la valeur effective
du nud X.

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16

Exemple : multiplexeur 1 bit

A

B
X

Question : trouver un vecteur

de test permettant de dtecter
le collage 1 du nud Y

1/ contrlabilit :
- pour forcer Y 0, il faut (X=1) et (A=1)
- pour cela il faut (C = 0) et (A = 1)
2/ observabilit
- pour que Y soit observable, il faut Z =1
- pour cela, il faut (B = 0) ou (C = 0)

=> Les deux vecteurs (A B C) = (1 0 0) et (A B C) = (1 1 0) dtectent le collage S1Y

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17

Principe des ATPG

Les gnrateurs automatiques de vecteurs de test (Automatic Test
Pattern Generator) fonctionnent sur le principe suivant :
1.
2.

3.

4.

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On construit un dictionnaire des fautes du circuit, o toutes

les fautes sont initialement marques non dtectes
On gnre aleatoirement un premier ensemble V de vecteurs de
test. On dtermine, par simulation de fautes, toutes les fautes
dtectes par au moins un vecteur de V . On les marque
dtectes dans le dictionnaire.
On prend la premire faute SiX non dtecte, et on calcule (par
sensibilisation des chemins) un vecteur de test V qui dtecte la
faute SiX. On dtermine, par simulation de fautes, toutes les
fautes dtectes par V, et on les marque dans le dictionnaire.
On recommence le point 3 tant que le taux de couverture est
infrieur un seul prdfini (98% par exemple).

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18

Avertissement
z

Le taux de couverture (au sens du modle des collages) dun jeu de

vecteurs de test V nest jamais gal 100%, car il existe des fautes
non dtectables, cause de la redondance des schmas logiques.

Le taux de couverture ne permet pas de calculer le pourcentage de

circuits dfectueux non dtects : Un taux de couverture de 95% ne
signifie pas que le pourcentage de circuits dfectueux non dtects est
gal 5% ! Ce pourcentage est heureusement bien infrieur,

Il y a une corrlation exprimentale entre un taux de couverture lev

et un pourcentage de dfauts non dtects trs faible a permis au
modle des collages de simposer comme une mtrique fiable dans
lindustrie de la micro-lectronique.

Un taux de couverture de 98% est gnralement considr comme

suffisant et acceptable.

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La gnration automatique de vecteurs de test

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Observabilit et Contrlabilit
Pour tester un bloc combinatoire, il faut pouvoir :
contrler les valeurs de ses entres
observer les valeurs de ses sorties

Combi

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Combi

Combi

Combi

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21

Technique de Scan-Path
scout

Combi

Combi

ck
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Combi

scin

Combi

mode

ck
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22

Mode Scan
Le mode scan permet de transformer lensemble des N bascules
internes en un (long) registre dcalage : il faut N cycles pour
charger une nouvelle configuration dans les N registres
1

scout

mode

1
DOUT

DIN

scin
1

ck

Cot du scan path :

un multiplexeur par bit
trois connecteurs externes : mode, scin, scout
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23

Pas de test
Lapplication dun vecteur de test correspond la squence suivante :
1/ N cycles en mode scan pour initialiser le scan-path
(chargement srie du vecteur de test dans les registres
internes en utilisant lentre scin)
2/ 1 cycle en mode fonctionnel pour crire dans les registres
internes le rsultat calcul par les blocs combinatoires.
3/ N cycles en mode scan pour relire en srie, sur la sortie
scout, les rsultats du vecteur de test, stocks dans les
registres.

=> Lapplication dun seul vecteur de test necessite 2N+1 cycles !

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24

Registre habill
Dans le cas gnral, lcriture dans un registre est contrle par
trois signaux :

mode : activation du scan-path

wen : autorisation dcriture en mode fonctionnel

reset : initialisation
La priorit est la suivante : mode > reset > wen
wen

reset

mode

Din
Dout

scin
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ck
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Danger du scan-path
Lutilisation du scan-path peut crer des court-circuits sur les bus,
lorsque les commandes des metteurs trois-tats sont stockes dans
des registres scannables
2

dcodeur gnrant des commandes

dcriture sur le bus mutuellement exclusives
x0

x1

x2

x3

mode
scout

scin
D1
sel1

D2
sel2

D3
sel3

bus X
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