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FIABILITE
F. Verdier, Y. Danto, F. Marc, O. Bonnaud
Laboratoire IXL UMRCNRS 5818
Universit Bordeaux 1
PLAN
INTRODUCTION
Les enjeux de la fiabilit
Principaux mcanismes de dfaillance
DEFINITIONS DE BASE
Distributions empiriques
Lois courantes
EFFETS DE LENVIRONNEMENT
Lois dacclration
Tests acclrs
Limites de validit
CONCLUSION
Nouvelles approches
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INTRODUCTION
Dfinition :
Probabilit qu'un dispositif assure une fonction donne dans des
conditions donnes pendant une dure dtermine
outils :
- observation : statistiques
fiabilit oprationnelle
- prvision : probabilits
fiabilit prvisionnelle
Dfaillance = cessation
de l'aptitude accomplir
une fonction donne
dure de vie
oprationnelle
taux de
profil de mission dfaillances
internes :
utilisation
externes :
environnement
L'EXIGENCE DE FIABILITE
4 Enjeux conomiques : cot de la fiabilit / rentabilit
conception --> fabrication / image de marque
4 Enjeux humains
Individuels :
quipements de trs grande diffusion
report des contraintes vers les systmes
Scurit
transports
Collectifs :
Distribution d'nergie, radiodiffusion, internet ...
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ASSURER LA FIABILITE
assemblage
fiabilit
prvisionnelle
procds de fabrication
conception
Svrit d'utilisation
produit
Complexit croissante
soussystmes
structures
lmentaires
fiabilit
oprationnelle
matriau
stockage
distribution
TENDANCES
10
1M
1980
1990
2000
1970
1980
1990
2000
100
1
0,1
1970
(chelle arbitraire)
100
1G
1k
1970
Svrit dutilisation
10
1980
1990
2000
1970
1980
1990
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2000
DEFAILLANCE
MODE DE DEFAILLANCE : Perturbation de la fonction
MECANISME DE DEFAILANCE
MECANISME DE DEGRADATION
Processus physique qui aboutit la dfaillance
Origine de la dfaillance
DEFAILLANCE
Seuil de dfaillance
Dpend du niveau considr / de l'utilisation
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matriau
design
procds
assemblage / encapsulation
DEFAILLANCES EXTRINSEQUES
dues des causes extrieures
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Paramtres technologiques
Geometries, dimensions
Materiaux
Soudure/collage
Type de botiers
Nombre de couches dinterconnections
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11
PRINCIPAUX MECANISMES DE
DEFAILLANCE (Composants Silicium)
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12
QUANTIFICATION DE LA FIABILITE
11
10
9
8
7
6
5
4
3
2
1
0
NS(t)
1
F(t)
Fi(tfi) = ND(tfi)/N
R(t)
ND(t)
tfi
F(0) = 0, F() = 1
R i(tfi) = NS(tfi)/N
F monotonement croissante
F(t)+ R(t) = 1
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GRANDEURS INTERESSANTES
f =
1 ND ( t + t ) ND ( t ) F (t )
=
N
t
t
h-1
3
2,5
2
(t)
1,5
1
0,5
0
Taux de dfaillances :
proportion de dfaillances par
unit de temps, par rapport au
nombre de survivants
f(t)
1 ND ( t + t ) ND ( t )
t
NS ( t )
F (t ) N
R (t ) 1
=
=
t R ( t )
t NS (t )
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14
DUREE DE VIE
Dure de fonctionnement moyenne de lchantillon
temps cumul oprationnel
nombre dindividus
1 ND (t )
N (t )
t op (t ) = NS (t fi )(t fi t fi1 ) + S (t t fND )
N i=1
N
h
12
MTBF
10
Pe
nte
1
8
6
1N
MTBF = t fi
N i=1
2
0
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15
APPROCHE PROBABILISTE
f(t)
1
6(t)
5
0,8
0,6
0,4
0,4
0,2
0,2
0,8
0,6
16
PROPRIETES
Interprtation physique :
Fonctions de probabilit :
Taux de dfaillances
-->
R = Ke
(u )du
0
avec R(0) = 1
R(t ) = e
(u )du
0
dR
dt
0 dt
MTBF = tf (t )dt = t
0
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(*)
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CAS PARTICULIER
Systmes constant : (t) = 0
(t ) = 0
R (t ) = e
0 t
F(t ) = 1 e
1
F(t)
0,8
0,6
0,4
1 0 t
f (t ) = e
0
1
MTBF =
0
t 50% =
37 %
0,2
0 t
ln 2
0
R(t)
t50%
1/0
...
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AUTRES DISTRIBUTIONS
Distributions normale, lognormale pour f
1,6
f normal
f lognormal
1,4
1,2
0,8
0,6
0,4
0,2
0
0
0,5
1,5
14
12
1
F from normal f
0,9
F from lognormal f
0,8
0,7
0,6
10
0,5
6
4
0,4
0,3
0,2
0,1
0
0
0,5
1,5
0,5
1,5
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DISTRIBUTION de WEIBULL
Distribution de Weibull
1
2,5
0,5
2
1,5
1
t
(t ) =
0,5
0
0
0,5
1,5
( 1)
5
1
4,5
0,9
0,8
3,5
0,7
0,6
0,4
0,3
0,2
1,5
0,1
0
0
0,5
1,5
0,5
2
2,5
0,5
0,5
2
0,5
0
0
0,5
1,5
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20
Changement de variable
Gausso-logarithmique
Distribution empirique
tf = 188 j
tf50% = 116 j
tf = 157 j
Distribution ajuste
MTBF = 181 j
tf = 113 j
tf = 160 j
Ajustement
par rgression linaire
Paramtres log-N :
m = 4.75
S = 0.94
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21
Changement de variable
Allen-Plait
Distribution empirique
tf = 188 j
tf50% = 116 j
tf = 157 j
w : variable de Weibull
Ajustement
par rgression linaire
Distribution ajuste
MTBF = 175 j
tf = 126 j
tf = 159 j
Paramtres de Weibull
= 165 j
= 1.10
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22
Changement de variable
Gausso-normal
Distribution empirique
tf = 335 j
tf50% = ?
tf = 392 j
Ajustement
par rgression linaire
Distribution ajuste
MTBF = 2083 j
tf = 2083 j
tf = 1814 j
Paramtres gaussiens
= 2083 j
= 1814j
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23
SYSTEMES ELECTRONIQUES
Courbe en baignoire
(t)
Dfaillances prcoces :
dfauts de fabrication
Dfaillances intrinsques
prpondrantes
= constant
Priode dusure :
affaiblissement
Dfaillances extrinsques
prpondrantes
Dfaillances intrinsques
prpondrantes
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24
Priode prcoce
Vie utile
Qualit substrat
Propret photolithogravure
Dfauts doxyde mince (MOS)
Dfauts dassemblage (soudure/brasure)
Mauvaise utilisation
Usure
Corrosion
Mcanismes diffusifs
Fatigue thermomcanique
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25
(t)
Interconnexion dgrade
par lectromigration
Interconnexion dtruite
par EOS
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26
Dfaillances prcoces :
origines discrtes
Dfaillances intrinsques
Vie utile :
taux de dfaillance non
mesurable
Usure
Dfaillances extrinsque
27
FACTEURS d'ENVIRONNEMENT
Effets des contraintes lies :
l'utilisation (contraintes "internes" )
Fiabilit
prvisionnelle
Influence sur :
les mcanismes de dgradation (acclration)
les caractristiques de fiabilit : taux de dfaillances
Lois d'acclration :
modles semi-empiriques
tests de vieillissement acclr
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28
FIABILITE PREVISIONNELLE
(Approche classique)
(t)
e1
e1
t
t
in
in
ra
ra
t
t
n
n
co
co
Base sur :
t
Y Hypothse : invariance de forme
de f(t), F(t), R(t) et donc (t)
valable principalement en priode
de vie utile
lois simples
Essais acclr
Base de donnes
Modle multiplicatif
= 0 T V ...
AX : facteur dacclration
0 : taux de dfaillance de
rfrence
4 Simplicit dutilisation
4 Pas de prise en compte explicite des
interactions entre contraintes
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29
LOIS d'ACCELERATION
Bases sur :
La physique de dgradation (connaissance du mcanisme)
(L'observation statistique)
JEM
Ea
D
= NJeZ * 0 e kT
paramtres physiques
donnes technologiques
kT
utilisation
environnement
dfaillance
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30
ACCELERATION DE LA DEGRADATION
R/R0 (%)
1
0,8
0,6
Analyse de la dgradation
T = T1
T = T2>T1
Critre de
dfaillance
0,4
0,2
0
tf2
tf1
relation de Black
utilisation
environnement
E
a
= nJne kT
paramtres
caractristiques
de fiabilit
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31
LOIS FREQUENTES
V
V
= ne m
Temprature
(composants ou structures passives)
T
T
= ne m
Loi d'Arrhenius
(composants semi-conducteurs ...)
E
a
= ne kT
Electromigration (Black)
Humidit (Eyring)
E
a
= nJne kT
E
a
= nRHne kT
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32
FACTEUR dACCELERATION
Ex : loi dactivation thermique (Arrhenius)
100000
Tu = 300 K
10000
E
a
= ne kT
AT
1000
100
Ea = 0,4 eV
Ea = 0,5 eV
Ea = 0,6 eV
Ea = 0,8 eV
Ea = 1 eV
10
1
300
Facteur dacclration A T
350
T (K)
400
450
500
E
a
e kT
(T)
=
=e
E
u
a
e kTu
E 1 1
a
k T Tu
T(K) = T(C)+273
k : constante de Boltzman
k = 1.38 10-23 JK-1
k = 8.65 10-5 eVK-1
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33
DIAGRAMME d'ARRHENIUS
Reprsentation simple de lactivation thermique
E
Ea
a
ln
=
ln
n
= ne kT
kT
T faible
T leve
1/T
1/T
Changement de variables :
ordonnes : ln (log)
abscisses : 1/T (1000/T)
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34
LIMITES DE VALIDITE
Physiques :
domaines de contraintes o le modle est valide
ex : modle dEyring inadapt pour RH<10 % ou RH --> 100%
diffrentes nergies dactivation pour llectromigration, selon la temprature
Exprimentales
opration sur : grand nombre de dfaillances observes
matrise des conditions exactes denvironnement
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35
LIMITES DE VALIDITE
Exemples
Electromigration :
phnomne complexe
en surface : 0.4 eV
T<110C
Electromigration
en surface
tR (t ) t
0
T>110C
Electromigration
aux joints de grains
1/T
1/T
Superposition des diffrentes contributions
--> domaines de prdominance en temprature
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36
LIMITES DE VALIDITE
Exemples
(t)
Ex : vibrations excessives
rvlation de soudures fragilesmais
dans la tolrance dune utilisation
normale
II
II
Ex : forte humidit
dfaillances par corrosion (mcanisme
dusure) apparition prcoce
Dure dobservation
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CONSTRUCTION DE LA FIABILITE
Tests
acclrs
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38
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39
OPTIMISATION
Approche POF (Physics of degradation)
Modle analytique de dgradation
Lois dvolution (lois prdictives)
Indicateurs de fiabilit
Grandeur facile mesurer
Signature prcoce dun mcanisme de dgradation ou dune
drive fonctionnelle
(non destructif)
Simulation
Mcanismes de dfaillance
Effets des paramtres des procds sur la fiabilit
Statistiques (en conditions acclres ou non)
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40
Contraintes critiques
(Assurance de la fiabilit)
Mode opratoire :
tests complets
tests raccourcis
Importance :
da la nature et de lintensit des contraintes
de la taille de l chantillon
validit statistique
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41
E
a
= 0Jne kT
t 50%
Ea
= AJne kT
Remarques :
Universit Bordeaux 1
42
6 4 3.0
2.0
1.5
1.0
0.8
0.7
0.60
0.50
99
95
% df.
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
Test 1
108
175
288
331
374
405
413
415
431
541
Test 2
97
114
123
125
171
203
216
225
237
265
335
372
Test 3
12
21
29
61
64
66
74
79
86
99
90
80
50
30
20
10
5
3
2
1.0
0.5
0.3
0.2
0.10
0.05
100
101
10 2
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103
43
PARAMETRES CARACTERISTIQUES
(Relation de Black)
Dpendance en fonction de T :
loi d Arrhenius
Dpendance en fonction de J :
loi en puissance
1000
100
100
t 50%
1000
tt50%
50%
10
10
1
2
2,5
1000/T
1/T
Rsolution du systme :
Ea = 1.04 eV
n = -2.3
A = 1010 s.i.
10
20
30
J (GAm-2)
Extrapolation
J = 100 MAm-2
T = 300 K
40
44
1,00E+15
1,00E+15
Ea = 1eV
1,00E+14
1,00E+14
1,00E+13
1,00E+13
1,00E+12
1,00E+12
1,00E+11
1,00E+11
Ea = 0.6eV
1,00E+10
1,00E+10
1,00E+09
1,00E+09
1,00E+08
1,00E+08
2
2,5
Ea = 1 eVEa
3,5
2,5
1000/T
la gamme de temprature de test favorise la
migration en volume, minoritaire
temprature normale
survaluation de t50%
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3,5
45
NOUVELLE APPROCHE :
RESISTANCE CONTRAINTE
Reprsentation instantane
Rsistance du dispositif
Probabilit de dfaillance
Prise en compte
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46
risque
marge de
scurit
Contrainte
Rsistance
DEFAILLANCE ALEATOIRE
t
Environnement svre, autres critres :
Variabilit des contraintes
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47
Rsistance
PHENOMENE DUSURE
Contrainte
( )
0
dure de vie garantie
t
(t) =
avec > 1
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48
CONCLUSIONS
Intgration de la fiabilit ds la conception
Connaissance des conditions dutilisation et de la dure requise
zro panne
Connaissance des paramtres technologiques
Connaissance des mcanismes de dgradation associs
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