Spectroscopie de photoélectron

induit par RX

Licence professionnelle
Septembre 2007
 Introduction
• ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis), ou XPS (X
ray Photoelectron Spectroscopy) «ou bien induced photoelectron »

• Une des trois principales techniques d’analyse de surfaces, les

deux autres étant la spectroscopie des électrons Auger (AES) et la
spectrométrie d’émission ionique secondaire ou SIMS (Secondary
Ion Mass Spectrometry).
 Principe de L’XPS
• 1. Particularités de l’ESCA. Comparaison avec les autres
techniques de surface.
• En général, c’est la première des techniques à mettre en oeuvre
pour aborder la résolution d’un problème de surface. La
méthode permet la détection de tous les éléments, à
l’exception de l’hélium et surtout malheureusement de
l’hydrogène; en effet ces éléments ne disposent pas de niveaux de
coeur spécifiques.
Principe de L’XPS
Principe de L’XPS
 Principe de L’XPS
• Principe de la méthode : le spectre
ESCA(XPS): L’ESCA est basée sur la mesure de l’énergie
cinétique des photoélectrons éjectés de l’échantillon
sous l’impact de rayons X d’énergie h connue et de
l’ordre du keV. Le spectre en énergie des photoélectrons
comporte des raies dont l’interprétation permet une
analyse chimique de l’échantillon.
• La figure 1 présente un exemple de spectre ESCA
enregistré sur une échelle d’énergie très étendue : 1 000
eV; le composé concerné est un polymère, le fluorure de
polyvinylidène (PVDF - polyvinylidene fluoride) de motif
monomérique –(CH2–CF2)n
Principe de L’XPS
 Principe de L’XPS
• Effet photoélectrique
• Le principe à la base de la spectroscopie ESCA est
l’effet photoélectrique, un des processus de l’interaction
des photons avec les électrons atomiques, mis en
évidence par Hertz (1887) et interprété par Einstein
(1935).
• Si la majorité des photons X traversant un échantillon
n’interagissent pas avec les atomes le constituant, une
partie de ces photons est cependant absorbée selon la
loi de Beer Lambert: Ix = I0exp(-ux)
• avec I0 et Ix intensités respectivement des faisceaux
incident et transmis, x épaisseur traversée, u coefficient
d’absorption linéaire des photons dans le matériau.
 Principe de L’XPS
• Raies ESCA:Nomenclature :
orbitales atomiques
Principe de L’XPS
 Principe de L’XPS
• Énergies de liaison: définition des énergies de liaison
• Le principe de la conservation de l’énergie de l’effet photoélectrique
stipule que l’énergie h des photons incidents se répartit entre Ei ,
l’énergie d’ionisation correspondant à l’éjection d’un électron d’une
orbitale de coeur de l’atome et Ecin, l’énergie cinétique communiquée au
photoélectron émis :
 Principe de L’XPS
• L’énergie d’excitation h étant connue, la
mesure de l’énergie cinétique Ecin des
photoélectrons permet de déterminer Ei
qui est caractéristique de l’atome et de
l’orbitale de coeur concernés comme le
montre le tableau 3. L’énergie d’ionisation
Ei est en fait appelée aussi énergie de
liaison EL de l’électron.
Principe de L’XPS
 Instrumentation
• Source de
rayonnement X
• Les mesures ESCA peuvent être
effectuées avec trois types de
sources X : les tubes à rayons X
classiques sans monochromateur,
ceux donnant une raie X
monochromatique (en général la
raie Al K) et le rayonnement
synchrotron avec
monochromateur.
• Tube à rayons X non
monochromatiques
Instrumentation
 Instrumentation
• Raie X monochromatique
• Les appareils modernes présentent tous, soit en configuration standard soit
en option, l’utilisation d’un monochromateur sur la source d’excitation X. En
ce cas, la radiation d’excitation concernée est toujours la raie Al K12. Les
monochromateurs X sont basés sur la diffraction de Bragg des photons. Le
faisceau polychromatique X est reçu sur une lame cristalline taillée
parallèlement à une famille de plans réticulaires et seules sont réfléchies les
longueurs d’onde qui remplissent la condition de réflexion sélective ou
condition de Bragg:
2dsin  = n 
• Avec:  angle d’incidence du faisceau X par rapport au
plan réticulaire de la surface du cristal,
• d distance entre deux plans réticulaires successifs,
•  longueur d’onde spécifique réfléchie,
• n nombre entier : 1, 2, 3… représentant l’ordre de
diffraction.
Instrumentation