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(54) Procédé pour déterminer l'état métallurgique d'une fonte par analyse thermique pour une
épaisseur d o n n é e
(57) L'invention concerne un procédé pour détermi- et un godet étroit (3). On calcule la vitesse critique de
ner l'état métallurgique d'une fonte pour une épaisseur trempe (Vcrit) et la vitesse de refroidissement pour
(e) donnée d'une pièce. On fait l'analyse thermique de l'épaisseur (e) considérée. Des abaques fournissent la
trois échantillons contenus respectivement dans un go- structure de fonte. Un calcul de la vitesse critique de
det au tellure (1 ), un godet de dimensions normales (2) recalescence permet d'affiner les prévisions.
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Printed byJouve, 75001 PARIS(FR)
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croporosités et les desserrements de grain. Régla- déjà cités précédemment. Le principe de la méthode re-
ge de l'inoculation. pose sur la connaissance de la loi de la solidification
eutectique de la fonte dépendante de :
[0012] Tout ceci complique par ailleurs l'exigence à
produire une fonte la moins chère possible laquelle né- s • L'état métallurgique qui recouvre le potentiel de ger-
cessite obligatoirement des modifications du lit de fu- mination et la composition chimique.
sion. A ce niveau la démarche d'évaluation de l'état mé- • La vitesse de refroidissement.
tallurgique devient économiquement très importante.
[0013] Schématiquement, l'état métallurgique dont [0021] En reproduisant une variation de la vitesse de
les facteurs d'influence sont divers et qui affecte les ré- 10 refroidissement et en y associant une caractérisation de
sultats sur les pièces doit être pris en compte le plus tôt l'eutectique métastable, l'invention permet de cerner
possible, c'est-à-dire en amont du processus de prépa- l'état métallurgique de l'alliage, c'est-à-dire son potentiel
ration de la fonte. de germination.
[0014] L'objet de l'invention est de mesurer cet état [0022] Le procédé selon l'invention est caractérisé
métallurgique par une méthode originale d'analyse ther- 15 par les étapes suivantes :
mique moins dépendante des conditions opératoires
que la classique éprouvette de trempe. a) on prélève trois échantillons de ladite fonte en
[0015] Rappelons qu'une fonte qui se solidifie, le fait fusion :
selon une loi caractérisée par des événements thermi-
ques qui sont : 20 un premier échantillon dans un godet d'analyse
thermique contenant une pastille de tellure,
• T1: Température de liquidus un deuxième échantillon dans un godet d'ana-
• Tse: Température de surfusion à l'eutectique lyse thermique de dimensions normales, et
• Tre: Température de recalescence à l'eutectique un troisième échantillon dans un godet d'ana-
• Tfsol : Température supposée de fin de la solidifi- 25 lyse thermique ayant au moins une dimension
cation. étroite ;
[0016] La température de surfusion eutectique est à b) on mesure les températures au coeur desdits
une distance de l'eutectique stable théorique appelée trois échantillons au cours de leur refroidissement
surfusion et de la recalescence appelée surfusion ap- 30 au moyen de dispositifs de mesure de températures
parente. et on relève les valeurs desdites températures en
[0017] Les positions de ces points varient avec la fonction du temps ;
composition de lafonte, son état de germination, l'épais- c) on calcule les vitesses de solidification des
seur des pièces. deuxième et troisième échantillons entre leurs tem-
[0018] La publication WO 86/01755 a déjà proposé 35 pératures de liquidus ou une température choisie
de traiter les relevés de température d'un échantillon de arbitrairement et leurs températures de surfusion à
fonte en fusion dans un godet, au centre du godet et l'eutectique à partir des valeurs de température re-
près de son bord, et de déterminer le degré de disper- levées en fonction du temps pour ces deux
sion de la forme du graphite de la fonte concernée au échantillons ;
moyen de calculs effectués par comparaison avec les 40 d) On détermine la vitesse critique de trempe de la-
résultats d'autres mesures sur étalons réalisées dans dite fonte à l'intersection de la droite représentative
les mêmes conditions. de la température de surfusion à l'eutectique en
[0019] Il est déjà, en outre, connu que, si on rapporte fonction de la vitesse de solidification et de la droite
sur un graphique ayant en abscisses la vitesse de re- représentative de la température de l'eutectique
froidissement et en ordonnées la température de surfu- 45 métastable relevée au cours du refroidissement du
sion à l'eutectique d'une fonte pour diverses épaisseurs premier échantillon ;
d'échantillons d'une même fonte, la courbe représenta- e) On calcule la vitesse de refroidissement pour
tive des points est une droite qui coupe la droite de la l'épaisseur donnée de la pièce à réaliser avec ladite
température de l'eutectique métastable en un point cor- fonte en fonction des vitesses de solidification des
respondant à la vitesse critique de solidification de ladite so deuxième et troisième échantillons et des épais-
fonte. Si la vitesse de refroidissement est supérieure à seurs desdits échantillons ;
cette vitesse critique de solidification, on obtient une f) On évalue l'état métallurgique attendu au moyen
fonte blanche, et en deçà de cette vitesse critique on de diagrammes préétablis qui expriment le rapport
obtient une fonte grise. d'une vitesse critique de trempe à la vitesse de re-
[0020] La présente invention propose de fournir un 55 froidissement pour différentes épaisseurs et diffé-
procédé de contrôle qualitatif de la fonte au stade de rentes fontes.
l'élaboration afin d'obtenir une prévision de la structure
finale des pièces tributaires des facteurs métallurgiques [0023] Avantageusement le procédé comporte en
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outre les étapes suivantes : [0027] Le premier godet 1 contient en outre au moins
une pastille 4 de tellure.
g) on calcule les vitesses de recalescence VREC [0028] Des thermocouples 5, 6, 7 sont introduits au
(vitesse maximale de réchauffement) des deuxiè- coeur de chaque échantillon. Ces thermocouples sont
me et troisième échantillons entre leurs températu- s reliés à un convertisseur analogique numérique 8, qui
res de surfusion à l'eutectique et leurs températures transforme les signaux analogiques représentatifs des
de recalescence, ce calcul étant fait à partir des va- températures en valeurs numériques, et qui est relié à
leurs de température relevées en fonction du temps un dispositif de calcul et de stockage 9, sous la forme
pour ces deux échantillons ; d'un P.C. par exemple, équipé d'un dispositif d'affichage
h) on détermine la vitesse critique de recalescence 10 10.
de ladite fonte à l'intersection de la droite représen- [0029] Selon le procédé de l'invention on laisse refroi-
tative de la température de recalescence en fonc- dir les échantillons contenus dans les godets 1, 2 et 3,
tion de la vitesse de recalescence et de la droite et on relève leurs températures en fonction du temps.
représentative de la température de l'eutectique [0030] Le premier échantillon contenu dans le godet
métastable relevée au cours du refroidissement du 15 I qui contient une pastille 4 de tellure se solidifie à une
premier échantillon ; température constante Te qui correspond à la tempéra-
i) on évalue la finesse et la configuration du graphite ture de l'eutectique métastable.
dans ladite fonte, au moyen de diagrammes préé- [0031] Les courbes C2, C3 des températures T en
tablis qui donnent ces finesses et configurations en fonction du temps t, relevées par les thermocouples 6
fonction de la relation entre la vitesse critique de 20 et 7, stockées par le dispositif de calcul 9 et représen-
trempe et la vitesse critique de recalescence. tées sur les figures 2 et 3 présentent un décrochement
I I correspondant à la température de liquidus T1 , puis
[0024] D'autres avantages et caractéristiques de l'in- une section 12 décroissante entre la température de li-
vention ressortiront à la lecture de la description suivan- quidus T1 et la température de surfusion à l'eutectique
te faite à titre d'exemple et en référence aux dessins 25 Tse, enfin une section croissante 13 entre la tempéra-
annexés dans lesquels : ture de surfusion à l'eutectique Tse et la température de
recalescence Tre, et enfin une section 14 décroissante.
la figure 1 montre les moyens utilisés pour la mise La courbe C2 représente la courbe de refroidissement
en oeuvre du procédé selon l'invention ; du deuxième échantillon contenu dans le godet normal
la figure 2 montre les courbes de refroidissement 30 2, et la courbe C3 est la courbe de refroidissement du
d'une première fonte ayant une forte trempabilité ; troisième échantillon contenu dans le godet étroit 3,
la figure 3 montre les courbes de refroidissement c'est-à-dire d'un échantillon mince qui refroidit plus ra-
d'une deuxième fonte ; pidement que l'échantillon contenu dans le deuxième
la figure 4 représente la relation entre la tempéra- godet 2.
ture de surfusion à l'eutectique et la vitesse de so- 35 [0032] Le dispositif de calcul 10 comporte des
lidification d'une fonte ; moyens, matériels et logiciels, pour calculer les points
lafigure 5 représente les diagrammes des états mé- remarquables des courbes C1 et C2, la vitesse de soli-
tallurgiques en fonction de la relation entre le rap- dification (Vsol) de chaque échantillon entre la tempé-
port de la vitesse critique de trempe à la vitesse de rature de liquidus (T1 ) et la température de surfusion à
refroidissement pour différentes épaisseurs ; 40 l'eutectique (Tse) ainsi que la vitesse de recalescence
la figure 6 représente le diagramme des finesses et (Vrec) entre la température de surfusion à l'eutectique
des configuration du graphite de la fonte en fonction (Tse) et la température de recalescence (Tre).
de la relation entre la vitesse critique de trempe et [0033] Sur le graphisme montré sur la figure 4, qui
la vitesse critique de recalescence, et comporte en abscisses la vitesse de solidification (Vsol)
la figure 7 représente un graphique qui montre 45 et en ordonnées les températures mesurées, on a porté
l'évolution des caractéristiques de vitesse critiques les points 15 et 16 représentatifs (Tse1, VsoM ; Tse 2,
pour deux teneurs en silicium différentes. Vsol2) des courbes C2 et C3, et une droite 17 parallèle
aux abscisses et correspondant à la température de
[0025] Sur lafigure 1 on a représenté par les référen- l'eutectique métastable déterminée par l'échantillon du
ces 1, 2 et 3 trois godets d'analyse thermique qui con- 50
so godet 1 au tellure. La droite 18 qui relie les points 15 et
tiennent chacun un échantillon de fonte en fusion pré- 16 exprime la relation température de surfusion à l'eu-
levé à partir d'un même bain de fonte en fusion. tectique (Tse) par rapport à la vitesse de solidification
[0026] Les premier et deuxième godets 1 et 2 ont des (Vsol). Le point d'intersection 19, de la droite 18 et de
dimensions normales et voisines et contiennent un la droite 17 définit la vitesse critique de trempe (Vcrit)
échantillon ayant une épaisseur e1 de trois centimètres 55 de la fonte.
environ. Le troisième godet 3 au contraire est étroit et [0034] En théorie, pour une vitesse de solidification
contient un échantillon ayant une épaisseur e2 au plus inférieure à cette vitesse critique de trempe, la fonte so-
égale à la moitié de l'épaisseur e1 . lidifie dans le diagramme stable, tandis que pour une
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vitesse de solidification supérieure à cette vitesse criti- un graphite de type A (50 %) et de type D et E (pour le
que de trempe, elle se solidifie dans le diagramme mé- solde), cela pour une vitesse critique légèrement supé-
tastable. rieure à la vitesse de refroidissement de l'échantillon du
[0035] Les points 15 et 16 représentés sur la figure 4 godet étroit.
ont pour abscisses les vitesses de solidification et pour s [0043] De manière plus générale, le rapport de la vi-
ordonnées les températures de solidification à l'eutecti- tesse critique à la vitesse de refroidissement de l'épais-
que des deuxième et troisième échantillons. seur considérée permet de qualifier l'état métallurgique
[0036] Si les points 15 et 16 ont pour abscisses les de la fonte à l'état liquide qui conduit par la suite au type
vitesses de recalescence (Vrec) et pour ordonnées les de structure de la fonte.
températures de recalescence (Tre), le point 19 aura 10 [0044] Sur lafigure 5 on a porté en abscisses la vites-
pour abscisse une Vitesse Critique de recalescence. se critique de trempe (Vcrit) calculée pour des échan-
[0037] Connaissant l'épaisseur e de la zone de la piè- tillons de divers types et en ordonnées la vitesse de re-
ce à réaliser en fonderie, zone dont la structure doit cor- froidissement pour diverses épaisseurs de pièces. Les
respondre à des critères préétablis, le dispositif de cal- droites 20, 21 , 22 représentent les droites pour lesquel-
cul 10 est apte à calculer la vitesse de refroidissement 15 les les rapports de la vitesse critique de trempe (Vcrit)
(Vref) de cette zone en fonction de cette épaisseur e et et de la vitesse de refroidissement (Vref) de l'épaisseur
des épaisseurs e1 et e2 des deuxième et troisième considérés sont respectivement de 1, 1 ; 2,5 et 5,5. Ces
échantillons. Cette vitesse de refroidissement (Vref) est droites 20, 21 , 22 séparent des domaines D1 à D4 cor-
portée en abscisse sur la figure 4. La distance entre les respondant à différentes structures de fontes grises :
abscisses Vref et Vcrit peut être reliée à la structure de 20
la fonte pour l'épaisseur donnée e. Cette structure de la le domaine référencé D1 correspond au domaine
fonte concerne les carbures, la forme du graphite, la fi- des structures fruitées qui comportent 50% de cé-
nesse de la structure, etc.... mentite eutectique ;
[0038] Les moyens de traitement du dispositif de cal- le domaine référencé D2 correspond au domaine
cul 10 permettent ainsi moyennant un étalonnage préa- 25 des structures présentant des carbures plus ou
lable et la création d'un référentiel statistique, à partir moins isolés ; les graphites des types D et E sont
de plusieurs épaisseurs e de pièces et plusieurs types majoritaires et du graphite de type A ou B est
de fonte, d'effectuer une prévision de la structure finale possible ;
de différents modèles de pièces en fonction de leur le domaine référencé D3 correspond au domaine
épaisseur e. 30 des structures présentant du graphite de type B et
[0039] Une variante du procédé consiste à utiliser les quelque A dont la proportion est au plus de 50%, et
caractéristiques obtenues grâce à la coulée des deux du graphite de type D et E pour le solde ;
godets 2 et 3 sans tellure et à y associer la position de le domaine référencé D4 correspond au domaine
l'eutectique métastable par le biais d'une relation qui des structures présentant du graphite de type A ma-
tient compte des teneurs chimiques en silicium et chro- 35 joritaire, avec quelque B et résiduel de D possible.
me éventuellement dosées par spectromètre.
[0040] La figure 2 montre le cas particulier d'une fonte [0045] Moyennant une analyse métallurgique spécifi-
à forte trempabilité (manque de germes, éléments car- que pour les différentes familles de fonte : très hypoeu-
burigènes). tectique, hypoeutectique, eutectique, un diagramme
[0041] L'échantillon mince du contrôle de l'analyse 40 semblable à celui de la figure 5 concourt à resserrer les
thermique subit une solidification eutectique qui se dé- dispersion de l'état initial de la fonte, voire à définir des
roule suivant un palier isotherme, sans surfusion appa- équivalences entre les charges ou produits ou les mo-
rente. Ce contrôle aboutit à une structure truitée de des de fusion.
l'échantillon mince dans lequel 50% de ledéburite est [0046] Sur cette base de travail, une approche plus
associé à un eutectique graphitique dont la répartition 45 complexe est également possible, elle tient compte d'un
de graphite est D et E. La vitesse critique calculée est critère supplémentaire relatif à la recalescence en rai-
comparable à la vitesse de refroidissement calculée. son notamment des fortes variations de la configuration
Pour le godet épais dont la vitesse de refroidissement du graphite et de sa finesse même lorsqu'une inocula-
se situe à une valeur nettement inférieure à Vcrit, la tion a été réalisée.
structure est exempte de carbures avec néanmoins du so [0047] Or, on sait que les propriétés de la fonte en
graphite D majoritairement. traction ou en fatigue ainsi que l'aptitude au frottement
[0042] La figure 3 montre un autre cas où la trempa- sont tributaires de la configuration du graphite.
bilité peut également être très forte, la courbe d'analyse [0048] En raison de cette importance et du fait que la
thermique issue de l'échantillon mince peut montrer une taille des lamelles de graphite dépendent de la tempé-
surfusion apparente et ce, malgré une température de 55 rature à laquelle s'est produit la croissance des cellules
surfusion proche de celle de l'eutectique métastable. eutectiques, deux vitesses critiques peuvent être com-
L'examen métallographique met alors en évidence une binées, l'une portant sur la surfusion eutectique, l'autre
structure faiblement trempée (5 à 8 % de carbures) avec ayant trait à la recalescence eutectique. De la sorte, un
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recherche européenne visé ci-dessus.
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Les renseignements fournis sont donnés à titre indicatif et n'engagent pas la responsabilité de l'Office européen des brevets.
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^our tout renseignement concernant cette annexe :voir Journal Officiel de l'Office européen des brevets, No.12/82
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