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OYAUM
ME DU MAROC
M
OFPPT
T Office de
d la Formation Profes
DIRECTION
ssionnelle et
N RECHERCH
e de la Prom
motion du Travail
HE ET INGENIERIE DE FOR
RMATION
T
RÉSUMMÉ DE THÉ
ÉORIE
&
GUID
DE DES TR
RAVAUX PRATIQUE
P ES
MOD
DULE METH
HODES DE
D CONT
TROLE ET
E DE
N°: 17 SUIVI DE PRODU
UCTION
SECT
TEUR : FAB
BRICATIO
ON MECAN
NIQUE
SPEC
CIALITE : TFM
T
NIVEA
AU : T
PORTAIL
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MODULES
ISTA
Document élaboré par :
Révision linguistique
-
-
-
Validation
- ETTAIB Chouaïb
-
-
MODULE 17 : MÉTHODES DE CONTRÔLE ET
DE SUIVI DE PRODUCTION
Code : Théorie : 41 %
Durée : 30 heures Travaux pratiques : 50 %
Responsabilité : D’établissement Évaluation : 9%
COMPETENCE
PRESENTATION
DESCRIPTION
CONTEXTE D’ENSEIGNEMENT
A partir
- Cahier des charges
- De données chiffrées
- De résultats de production
- De simulation et d'étude de cas
- De situations relatives aux compétences particulières
A l’aide :
- D’une documentation pertinente
- D'une production
- D'outils et d'appareillages de contrôle
- D'une production aux caractéristiques connues
OBJECTIFS ÉLÉMENTS DE CONTENU
- Méthodes de contrôle :
D. Déterminer une méthode de A 100%
contrôle appropriée.
Par échantillonnage
Par attribut
De réception
Par prélèvement
Contrôle intégré, auto-
contrôle
1) MESURAG
GE ENTRE DEUX PLA
ANS
a : Analyse de
d la spécifiication : D ± a
Phhase 1 Phase 2
Priincipe
Phhase 1: le coomparateur est
e étalonnéé (mise à zééro) sur une cale étalon de hauteur h déterminée en fonctiion
de la spécificaation donnéée par le desssin de définnition.
Phhase 2 : la piièce est ensuuite mise à la place de la cale. L'écart entre lees deux lec
turres permet de
d déterminner la dimennsion de la pièce
p :d=h-e
1
2
FICHE DE
D TECHN
NOLOGIE
OBJECTIF
F VÉR
RIFICATIO
ON DES SPÉ
ÉCIFICATIIONS
DIME
ENSIONNE ELLES
2) MESURAG
GE ENTRE UN AXE ET
T UN PLAN
N
a :Analyse
: dee la spécificcation
b :Méthode
: d mesure
de
Phasee 1: lecture directe
le diam
mètre est meesuré par leccture directee à l'aide d'u
un alésomèttre, on déterrmine ainsi le rayon r.
Phasee 2 : méthod
de différentielle
Par meesurage indiirect, à l'aidde d'un compparateur à to
ouche orienntable, on déétermine la distance dee la
généraatrice la pluss proche (pooint de rebroussement)) au plan.
1 PERPENDIC
P CULARITÉ
É ENTRE DEUX
D PLAN
NS
a :Analyse
: dee la spécificcation
F1 IT F2
b :Méthode
: d mesure
de
Étalonnagee Mesuraage
Phasee d'étalonnaage : le commparateur esst mis à zéroo par palpagge sur la génnératrice d'u
un cylindre
étalonn en contact avec la butéée (point dee rebroussem
ment).
Phasee de mesuraage: la surfaace de référence de la pièce
p est posée sur le m
marbre, la su
urface
considdérée en conntact avec laa butée. La variation lu
ue sur le com
mparateur ppermet de dééterminer laa
valeurr de ‘e’.
2. PARALLÉL
LISME ENT
TRE DEUX
X PLANS
a :A
Analyse de la
l spécificattion b :Méthodde de mesurre
P
Principe
On déplace le
O l comparatteur, après l'avoir étalonnné sur un point
p de la surface
s considérée, selo
on les
d
directions paarallèles auxx arêtes.
L variation lue sur le comparateur
La c r permet de déterminer la valeur dee e : e IT
3
FICHE DE
E TECHNO
OLOGIE
OBJECTIF
F CO
ONTROLE DES
D FORME ES SIMPLES
S,
DU
U PARALLE
ELISME ET DE LA PER
RPENDICULLARITE
1. GENERAL
LITE
L activitéss de fabricattions mécanniques se ram
Les mènent esseentiellemennt à réaliser ddes surfacess planes et
cyylindriques. Les formees et les positions des suurfaces eng
gendrées sonnt toujours iimparfaites,, il est nécess-
saaire, commee pour les dimensions,
d de donner une
u limite à la valeur des
d défauts aacceptables.
L contrôle a pour but de
Le d vérifier si les limitess ne sont pas dépasséess.
2 - RECTITUD
DE D'UNE DROITE. SYMBOLE
S :
Lorsque la laargeur d'unee surface est très faiblee devant sa longueur,
L l onn peut assim
miler la surfface à une
d
droite D.
E
EXEMPLE :
L droite réeelle doit êtree comprise entre
La e deux droites
d théo
oriques paraallèles distanntes de 0,1 mm
m
4
FICHE DE
E TECHNO
OLOGIE
OBJECTIF
F CO
ONTROLE DES
D FORME ES SIMPLES
S,
DU
U PARALLE
ELISME ET DE LA PER
RPENDICULLARITE
3 - PLANEITE LE :
E SYMBOL
E
EXEMPLE :
L surface seera acceptabble si elle esst comprisee entre deux plans théorriques paralllèles distan
La nts de 0,05 mm
m
F. effort sur
s ta piècee
f . déplaccements de la
l
pièce
C
C'est un conttrôle par coomparaison avec un plaan étalon en fonte ou enn granit appelé marbre. On enduit le
m
marbre d'unee mince couuche de prodduit coloré gras
g sur leq
quel on posee et on frottee doucemen
nt le plan à
contrôler. Lees surfaces en
e relief (paarties hautess) sont brillantes.
C
Cette méthodde ne permeet pas de chhiffrer les éccarts.
5
FICHE DE
E TECHNO
OLOGIE
OBJECTIF
F CO
ONTROLE DES
D FORME ES SIMPLES
S,
DU
U PARALLE
ELISME ET DE LA PER
RPENDICULLARITE
P
Propriété : Une droite qui a deux points com
mmuns avec un plan doiit être toute entière con
ntenue dans ce
plan. Le coontrôle s'effeectue par poositions succcessives de la réglette.
R
Remarque
L
L'intervalle d tolérancee de forme doit
de d être infférieur à la tolérance
t dimensionnellle.
4 - TOLERAN
NCES DE PO
OSITION
4.11 Parallélissme
E:
EXEMPLE // 0,1
T
Tout point de
d la surfacee S doit être compris enntre deux plaans théoriquues parallèles distants de
d 0,1 mm et
e
p
parallèles l surface S' choisie comme référeence.
à la
N
NOTA : La tolérance
t dee parallélism
me est inférieure à la to
olérance dim
mensionnellle mais supéérieure à la
toléérance de foorme.
6
FICHE DE
E TECHNO
OLOGIE
OBJECTIF
F CO
ONTROLE DES
D FORME ES SIMPLES
S,
DU
U PARALLE
ELISME ET DE LA PER
RPENDICULLARITE
4.22 Perpendiicularité
E:
EXEMPLE 0,1
SR : surfacce de référen
nce contrôlee
L comparatteur monté sur
Le s un support mobile indique
i les variations d'écartemen
d nt.
L contrôle se
Le s fait suivaant deux dirrections nonn parallèles f1 et f2 .
pendiculariité de deux plans
4.44 Contrôlee de la perp
A Sans messure
A)
É
Équerre à 900°. Calibre. Cylindre éttalon sur maarbre .
7
FICHE DE
E TECHNO
OLOGIE
OBJECTIF
F CO
ONTROLE DES
D FORME ES SIMPLES
S,
DU
U PARALLE
ELISME ET DE LA PER
RPENDICULLARITE
B Avec mesure
B)
U
Utilisation d comparatteur monté sur
du s un suppoort spécial ; le contrôlee de la perpeendicularitéé se ramène à
celle d'un paarallélisme entre
e la surfface S et un cylindre étalon.
R
Remarque
L
Lorsque l'onn veut déterm
miner les éccarts de posiition de deu
ux surfaces (ou deux liggnes), l'appaareil de
m
mesure ne partie dess erreurs de forme. On posera
donnne les lecturres englobannt automatiqquement un
comme princcipe que la vérification
v n doit porterr uniquemen
nt sur l'erreuur totale (différence enttre les valeuurs
exxtrêmes relevées au coomparateur).
5 . CYLINDR
RICITE
E
EXEMPLE :
L défaut dee cylindricitéé est caractéérisé par l'écart qui existe entre la surface S dd'une pièce et
Le e deux
cyylindres thééoriques coaaxiaux dontt la différence de rayon
n est : 0,05.
L cylindre est
Le e une surfface engenddrée par une droite G qu
ui se déplace parallèlem
ment à une direction
d fixxe
enn s'appuyannt sur un cerrcle C dont le plan est perpendicul
p laire à la dirrection donnnée.
8
FICHE DE
E TECHNO
OLOGIE
OBJECTIF
F CO
ONTROLE DES
D FORME ES SIMPLES
S,
DU
U PARALLE
ELISME ET DE LA PER
RPENDICULLARITE
9
FICHE DE
E TECHNO
OLOGIE
OBJECTIF
F CO
ONTROLE DES
D FORME ES SIMPLES
S,
DU
U PARALLE
ELISME ET DE LA PER
RPENDICULLARITE
EX
XERCICES
Coontrôle de l'équerre
l
- les parrallélismes ;
- la perppendicularitté ;
- la recttitude.
10
FICHE DE
E TECHNO
OLOGIE
OBJECTIF
F
CONTRO
OLE DES TO
OLERANC
CES DE PO
OSITION
1 INTRODUC
CTION
O n distingu e les toléraances de
Localisatio
on :
symétrie :
2 LOCALISA
ATION
2..1 Écriture
O n distinguue deux écrritures pouur localiserr l'axe d'un
n trou (fig. 1 a et 1 b).
Fiigure 1a : L'axe
L n prisme de côté t = 0,2 mm dont lees plans
du trou doit être situé à l'inttérieur d'un
m
médians sonnt situés à 15 et 22 mm
m des surrfaces de référence
r dee définition du trou.
Éccriture :
(a)
Fiigure 1b : L
L'axe du trrou doit êtrre situé daans une zon
ne cylindriique de diaamètre t = 0,2 mm doont
l'aaxe est situéé à 15 et 22 mm des surrfaces de référence de définition
d duu trou.
Écriture :
(b)
11
FICHE DE
E TECHNO
OLOGIE
OBJECTIF
F
CONTRO
OLE DES TO
OLERANC
CES DE PO
OSITION
2..2 Contrôlee
Mesu
ure indireccte de l'écaart.
Ill faut convvertir la tollérance de localisatioon en tolérrance dimensionnelle sur les cotes 15 et 22,
2
p
pour cela onn considère deux hypoothèses
Calcu
uls
12
FICHE DE
E TECHNO
OLOGIE
OBJECTIF
F
CONTRO
OLE DES TO
OLERANC
CES DE PO
OSITION
Appaareils de meesure
Le probl ème consi ste à relev er la dimennsion entree une générratrice et unn plan.
1. Au piied à couli sse et au micromètre
m à touche fixe
f cylindrrique.
2. Au coomparateurr à palpeur orientable.
3 SYMETRIE
E
3..1 Écriture et significaation de l'écart t
13
FICHE DE
E TECHNO
OLOGIE
OBJECTIF
F
CONTRO
OLE DES TO
OLERANC
CES DE PO
OSITION
3..2 Contrôlee
Mesu
ure directe au comparrateur
a) Pièèce en appuii sur la facee 1 réglage du
d comparatteur au zéroo.
b) Pièèce en appuii sur la facee 2, relever l'écart
l t'. Po f t' t.
our que la piièce soit accceptable il faut
Mesu
ure indireccte de l'écarrt
C1 - C2
C ou C t
C2 – C1
14
FICHE DE
E TECHNO
OLOGIE
OBJECTIF
F
CONTRO
OLE DES TO
OLERANC
CES DE PO
OSITION
4 CONCENTR
C RICITE ET
T COAXIAL
LITE
L symbole :
Le expriime deux sppécificationss.
La con
ncentricité :
C
C'est la tolérrance affectéée à la posittion du centtre d'un cerccle B par raapport au cenntre d'un ceercle A pris
comme référrence.
É
Écriture:
L centre duu cercle B dooit être situéé à l'intérieuur d'un cercle de 0 t = 0,1
Le 0 concentrrique au cen
ntre du cerccle
A pris comm
me référencee.
La coaaxialité
C
C'est la tolérrance affectéée à la posittion de l'axee d'un cylindre B par raapport à l'axxe d'un cylin
ndre A pris
comme référrence.
É
Écriture:
R
Règle : Le contrôle
c de la cylindriccité des deuxx surfaces doit
d être praatiqué avant le contrôle de la
coaxxialité.
15
FICHE DE
E TECHNO
OLOGIE
OBJECTIF
F
CONTRO
OLE DES TO
OLERANC
CES DE PO
OSITION
EX
XERCICE
Déécrire avec précision
p lees processuss de contrôlee de symétrrie, de coaxiialité et de localisation de la pièce
daans le cas d'uun travail unnitaire.
16
FICHE DE
E TECHNO
OLOGIE
OBJECTIF
F
EXEMPL
LES DE CO
ONTROLE DE COAXIIALITE
SPECIF
FICATION
NS A SOLUTIO
ONS TECHN
NIQUES
OBSER
RVATIONS
S
CONTROLERR PR
ROPOSEESS
I) Contrôle
C avvec une bro
oche de
p
précision
assurer la ccoaxialité dee l'axe de A
avec l'axe bbroche.
vérifier la cconcentricitté avec B.
I) Contrôle
C su
ur support à 90° à
L cylindre A est pris .
Le
p
portées rédu
uites
c
comme S.R
R. de mesuree.
I est nécesssaire, suivan
Il nt la
l
longueur duu cylindre
20f 8, de répéter la
m
mesure sur plusieurs
p
s
sections. Poour chaque ur banc de mesure
II) Contrôle su
L
L'axe du cyllindre 200f 8 doit
m
mesure le ceentre de la
ê compriss dans une zone
être z
s
section doit être situé à
c
cylindrique de 0,1 cooaxiale à
l
l'intérieur d''un cercle de
d
l'axe du cyliindre A.
t = 0,1 cooncentrique au
A. Serrrage de la ppièce en pinnce, l'axe
brooche, l'axe ppince et l'axe A sont
coaaxiaux.
17
FICHE DE
E TECHNO
OLOGIE
OBJECTIF
F
EXEMPLE
ES DE CON
NTROLE
Les solutioons techniquues sont fonnctions de laa précision et du nombrre de piècess à contrôlerr.
Les solutioons indiquéees sont valaables pour un
u contrôle à l'unité ou en petite séérie.
SPECIF
FICATIONS
SA SOLUTIO
ONS TECHN
NIQUES
OBSER
RVATIONS
CON
NTROLER PR
ROPOSEESS
L choix de la S.R..de
Le
c
contrôle est indifférent.. En
p
prenant alterrnativement A,
p B comm
puis me S.R., less
s
surfaces sonnt déclarées
p
parallèles sii l'écart max
xi
e
enregistre e < 0,05.
L surface de
La d référencee de
c
contrôle est imposée paar le
d
d.d.p.
16
FICHE DE
E TECHNO
OLOGIE
OBJECTIF
F
EXEMPLE
ES DE CON
NTROLE
SPECIF
FICATIONS
SA SOLUTIO
ONS TECHN
NIQUES
OBSER
RVATIONS
CON
NTROLER PR
ROPOSEESS
L plan A esst S.R. de
Le
contrôle impposé par le
d
d.d.p.
L contrôle consiste
Le c à
v
vérifier si les génératricces
d cylindre B sont
du
L
L'axe du cyylindre B dooit être
p
perpendicula
aires au plan
n A.
c
compris danns une zonee cylin-
M
Mesure suivvant 2 ou 4
d
drique de 0,1 parallèèle à la
g
génératrices .
r
référence A..
17
188
FICHE DE
D TECHN
NOLOGIE
OBJECTIF
F
ERREU
URS DE MESURE
M
1. DÉFINITIO
ONS
2. ORIGINES
S DES ERRE
EURS DE MESURE
M
Origines possibles
18
199
FICHE DE
D TECHN
NOLOGIE
OBJECTIF
F
ERREU
URS DE MESURE
M
Elles provviennent:
de sa mauvaise
m quualité;
d'un mauvais
m foncctionnemennt : jeu, frotttement... Paar exemple, un serrage trop fort dee la vis de
réglagge peut provvoquer un frrottement soource d'erreu
ur. A l'inverrse, son dessserrage ou l'usure du
lardonn peuvent enntraîner un jeu
j trop impportant;
d'un mauvais
m entrretien de l'innstrument : déformation des becs ou
o des palpeurs, usure,,
graduaations illisibbles...
3. ORIGINES
S DES ERRE
EURS DE MESURE
M
Erreurrs dues à l'oopérateur
Elles proviennent
p :
1. d'une mauuvaise lecturre des indiccations donn
nées par l'innstrument dee mesure;
19
200
FICHE DE
D TECHN
NOLOGIE
OBJECTIF
F
ERREU
URS DE MESURE
M
Ellles proviennnent essentiiellement dee la présencce d'élémentts parasites entre la surrface mesuréée et la toucche
de l'instrumennt de mesuree : bavures, copeaux...
Erreurrs dues à l'eenvironnem
ment
Elles prroviennent en particuliier:
de laa températuure ambiantee (20 °C),
du champ
c magnnétique,
du taux d'humiddité (hygrom
métrie),
de laa pression..
ORTANT: La
IMPO L mesure de
d la pièce sur
s le poste de travail s'inscrit danss une
d
démarche « qualité » ett peut avoir des conséqquences impportantes surr le
processus de
d fabricatioon
20
21
FICHE DE
D TECHN
NOLOGIE
OBJECTIF
F
ERREU
URS DE MESURE
M
4. QUALITÉS
S MÉTROL
LOGIQUES DES APPA
AREILS DE MESURE
Sensibiilité
C'est l'aaptitude d'uun appareil à indiquer une
u variation
n importante du signal de lecture sur
s le cadrann
lorsquee la variationn de la granndeur mesurrée est faible.
Fidélité
C'est l'aaptitude d'uun appareil de
d mesure à donner, po
our une mêm
me valeur dee la grandeu
ur mesurée et
e
dans dees conditionns d'utilisation définies,, des indicattions concoordantes entrre elles.
C'est l'aptitude
l d'uun instrumeent à donnerr des indicattions exempptes d'erreurrs. La justessse dépend
de la qualité
q de faabrication de l'instrumeent, - du soin
n apporté loors de l'étaloonnage.
Exactittude.
C'est l'aaptitude d'uun instrumennt à donner des indicatiions prochees de la valeeur conventiionnellemennt
vraie.
Dérive
La dériive est la lennte variationn au cours du
d temps d'u
une caractérristique méttrologique d'un
d
instrum
ment de mesure.
Mobilitté
C'est l'aaptitude d'uun instrumennt à répondrre aux petitees variations de la granndeur mesurrée.
21
22
FICHE DE TECHNOLOGIE
OBJECTIF
ERREURS DE MESURE
Exemples
- Erreur de justesse : les espacements entre les graduations d'un pied à coulisse ne sont pas réguliers.
- Erreur d'étalonnage: lorsque les graduations « zéro » ne coïncident pas sur les touches fixe et
mobile d'un micromètre d'extérieur à vernier.
Exemples
- Erreur de fidélité : la tige d'un comparateur est grippée et ne revient pas toujours dans la même
position.
- Erreur de lecture: l'opérateur fait une mauvaise interprétation de la lecture de la mesure
(erreur de parallaxe).
c. Erreur parasite
L'erreur est dite parasite lorsqu'elle est la conséquence d'une erreur grossière de l'opérateur au cours
d'une opération de mesurage.
Exemples
- Erreur de lecture au micromètre: l'opérateur oublie la rotation d'un tour de vernier (0,5 mm).
- Erreur de manipulation : lors de la mesure de diamètre d'un cylindre, les touches de l'appareil
de mesure ne sont pas sur les génératrices opposées.
5. RÔLE DE L'OPÉRATEUR
L'opérateur joue un rôle essentiel dans le bon déroulement d'une opération de mesurage.
II doit être attentif
au choix et à la qualité des appareils de mesure,
à la manipulation de ces appareils,
à la lecture des informations recueillies et à leur transcription.
22
23
FICHE DE TECHNOLOGIE
OBJECTIF CONSIGNATION DES INFORMATIONS ET DES
MESURES
SYSTEME DE
PRODUIT
PRODUCTION
Action
correctives
D’échantillons
CONTROLE Prélévement
STATISTIQUE
Le suivi statistique est basé sur l'interprétation de résultats relevés sur le poste de travail par l'opérateur.
Les données seront interprétées par un technicien du service « Qualité » qui pourra en déduire
La « capabilité » du processus. Le processus de fabrication est capable de produire les pièces
bonnes;
La « capabilité » de la machine. La machine est capable de produire les tolérances exigées.
La maîtrise statistique du procédé (S PC: Statistical Process Control) part de l'analyse des « 5 m »
responsables de la non-qualité (main-d'ceuvre, matière, moyen, méthodes, milieu).
Elle doit permettre :
D'intervenir sur le procédé avant de produire de la non-qualité,
De mesurer la capacité d'un procédé à fabriquer ce qu'on lui demande,
D'agir sur les variations pour assurer la stabilité dans le temps du procédé.
L'opérateur dispose d'un document d'aide à la décision permettant d'enregistrer des résultats de contrôle
par échantillonnage collectés au poste de travail : la carte de contrôle.
Ce document doit s'accompagner
D'une fiche d'instruction de contrôle,
D'une fiche d'interprétation des résultats,
D'une fiche de suivi du procédé.
L'opérateur, pour garder la mémoire de tous les événements qui parviennent au cours du déroulement
de la fabrication, les inscrit sur un journal de bord
23
24
FICHE DE TECHNOLOGIE
OBJECTIF
HISTOGRAMME
DEFINITION
L'histogramme est un diagramme qui représente la fréquence des données sous la forme de colonnes.
Il aide à identifier les changements ou variations dans les processus en cours de modification et indique
de quelle façon les différentes mesures d'un processus ou d'un produit peuvent être utiles quand des
normes sont établies.
40
30
20
10
24
24
FICHE DE TECHNOLOGIE
OBJECTIF
JOURNAL DE BORD
DÉFINITION
Ce journal permet de noter tous les événements survenant au cours d'une production.
Il est de plus en plus souvent remplacé par un terminal informatique piloté par l'opérateur.
EXEMPLE
Début de la production
Fin de la production
Réglages effectués
Changements d'outils
Incidents /Pannes
Changements de bruts
24
24
FICHE DE TECHNOLOGIE
OBJECTIF
Maîtrise statistique du procédé
1. GENERALITE
C’est un procédé de contrôle en cours de fabrication basé sur l’analyse statistique
2. CONNAISSANCES MINIMALES DE L’OUTIL STATISTIQUE.
Echantillon :
Un ou plusieurs individus prélevés dans une population et destinés à fournir une information
sur la population.
Population :
Ensemble des individus pris en considération.
Effectif :
Nombre d'individus de l'ensemble ou d'un sous-ensemble auquel on s'intéresse.
Valeur observée :
Valeur d'un caractère quantitatif résultant d'une observation ou d'un essai
Etendue :
Ecart entre la plus petite et la plus grande des valeurs observées.
.
Classe :
Dans le cas d'un caractère quantitatif, on opère souvent un groupement des observations, en
partageant l'intervalle total de variation en intervalles partiels joints appelés "classes".
Toutes les observations se situant dans une même classe sont ensuite considérées comme
ayant la même valeur.
24
25
FICHE DE TECHNOLOGIE
OBJECTIF
Maîtrise statistique du procédé
Limites de classe :
Valeurs qui définissent les bornes supérieures et inférieures d'une classe.
Variance :
Moyenne arithmétique des carrées des différences entre les observations et leur moyenne
arithmétique.
Ecart type :
Racine carrée positive de la variance
Estimation :
a) Opération, ayant pour but, à partir des observations obtenues sur un ou plusieurs
échantillons d'attribuer des valeurs numériques aux paramètres de la population
dont ce ou ces échantillons sont issus ou de la loi de probabilité considérée comme
représentant de cette population.
Moyenne (arithmétique) :
Quotient de la somme des observations par leur nombre.
25
26
FICHE DE TECHNOLOGIE
OBJECTIF
Maîtrise statistique du procédé
Contrôle
IT intervalle de tolérance (IT = Ts - Ti)
Ts tolérance supérieure
Ti tolérance inférieure
LCI ou LIC limite de contrôle inférieure ou limite inférieure de contrôle
LCS ou LSC limite de contrôle supérieure ou limite supérieure de contrôle
LSI ou LIS limite de surveillance inférieure ou limite inférieure de surveillance
26
277
FICHE DE
D TECHN
NOLOGIE
OBJECTIF
F
M
Maîtrise sttatistique du procéddé
3. LOI NORM
MALE OU LOI
L DE LAP
PLACE-GA
AUSS
27
288
FICHE DE
D TECHN
NOLOGIE
OBJECTIF
F
M
Maîtrise sttatistique du procéddé
N
Nota
Environ 68
6 % des inndividus envirron 95 % dees Enviroon 99,8 % des
d
m ± 1σ indivvidus sont compris individdus sont com
mpris
mpris dans l'iintervalle
sont com dans l'intervalle m±2σ dans l''intervalle m±3σ
m
4. NOTION DE
D CAPABILITE MAC
CHINE
28
29
FICHE DE TECHNOLOGIE
OBJECTIF
Maîtrise statistique du procédé
Besoin Connaître les valeurs des indices de capabilité machine pour estimer la variabilité de la
machine analysée. La connaissance de ces indices permet de vérifier la faisabilité d'une
opération de production.
Analyse
Remplir l'en-tête du document.
Dresser l'histogramme (reportez-vous à l'outil n°2 pour sa construction).
Réaliser le décompte des valeurs de la fréquence de f en partant du bas de
l'histogramme et inscrire ces résultats dans la colonne f . Ensuite calculer le
pourcentage correspondant par rapport à l'effectif de votre échantillon, vous
devez arriver en haut de la colonne f % à 100 %.
29
300
FICHE DE
D TECHN
NOLOGIE
OBJECTIF
F
M
Maîtrise sttatistique du procéddé
4. 2 Graphe de
d décision
n dans l'étude de la capabilité ma
achine
Inntervention
D réglage
De
30
31
FICHE DE
D TECHN
NOLOGIE
OBJECTIF
F
M
Maîtrise sttatistique du procéddé
E
Etude de la capabilité machine
m (loi normale) Machine : scie 1025
Efffectuée par :
+o.5
Caaractéristique : épaisseurr Dimensiion : 50 Opération : sciage débbit Identification de la pièce :
m
masque flassque 45 j 10
Re
elevé des valeurs
5,40 55,25 5,200 5,15 5,20 5,10
0 5,10 5,15 5,220 5,10
5,20 5 30 5,355 5,15 5,05 5,15
5 5,25 5,15 5,225 5, 20
5,25 5
5,20 5,155 5,10 5,20 5,10
0 5,15 5,30 5,220 5,25
5,20 5
5,10 5,200 5,30 5,10 5,25
5 5,15 5,20 5,225 5,15
5,15 5
5,05 5,155 5,20 5,10 5,15
5 5,20 5,30 5,220 5,05
Résultats
S
Spécification. 5 0+0.5 Observvation :
Estimatioon des défeectueux
Capabilité estimée
C e 8s = 0,625 mm machinne non capab
ble
maxi = 0 % M
Moyenne esstimée = 5,2
22 mm
Nota : la limite d'aacceptation
mini = 0,,3 % IIndice de caapabilité Cm
m = 1,07 est chooisie à 1,33 pour
p Cm et
C
Cmks = 1,199 Cmki = 0,94
Cmk
Date
31
32
FICHE DE TECHNOLOGIE
OBJECTIF
Maîtrise statistique du procédé
4s 3s 2s X 2s 3s 4s
Observation :
32
33
FICHE DE TECHNOLOGIE
OBJECTIF
CARTE DE CONTROLE
ZONE 1: Identification
Cpks
Cpki
LCSX
LCIX
LCSR
LCIR
ETENDUE: R
3 1,05 0 2,99
4 0,75 0 2,5
5 0,59 0 2,38
R 6 0,49 0 2,22
X OBSERVATION :
Xi
Opérateur
Date
Heure
ZONE 2: Tableau de relevés des valeurs des caractéristiques mesurées sur les pièces
33
34
FICHE DE TECHNOLOGIE
OBJECTIF
CARTE DE CONTROLE
1. DÉFINITIONS
X
X
i
Étendue R : c'est l'écart entre la plus grande et la plus petite valeur de l'échantillon.
R = XMax -- Xmini
Limites de contrôle de la moyenne (Sup.et inf.): LCS X et LCI X .
Limites de contrôle de l'étendue (Sup.et inf.): LCSR et LCIR.
Ce sont les limites supérieures et inférieures dans lesquelles doivent s'inscrire le: résultats des calculs
effectués à partir des valeurs mesurées.
34
355
FICHE DE
D TECHN
NOLOGIE
OBJECTIF
F
CARTE
E DE CON
NTROLE
2. 1 Règles
s de déci sion : an alyse du
u graphiq
que des moyenne
m es
Analyse du
d graphiqu
ue k: allure
e du graphiq
que Interpré
étation
Procédé sous contrôôle Le procédé estt sous contrrôle statistiq
que Le
graaphique est normal.
Rèègle :
2/3 des pooints sont sittués dans lee tiers centraal,
1/3 des pooints sont sittués dans lees 2/3
extérieurs..
Procédé noon sous conntrôle La présence d'un
d ou plussieurs pointts au-delà dee
(un poin
nt au-delà des limites de contrôlle)
l'u
une ou l'autrre des limittes de contrô
ôle constituue
unne preuve de
d la présencce de causess assignablees
enn ce ou ces points. C'esst le signal déclenchant
d t
unne analyse immédiate.
i
On
O peut l'inteerpréter ainsi :
la CL ou le point est faux;
le procéédé « a glisssé » (inciden nt isolé);
le systèm me de mesuure a changéé
(voir jouurnal de borrd).
Procédé noon sous conntrôle La présence ded tendancees inhabitueelles peut
(lon
ngues sériess en augmeentation) co
onstituer unne preuve dee changemeent de
caapabilité.
Lorsque l'on observe :
7 points consécutifss d'un mêmee côté de la
moyenne,
7 intervaalles conséccutifs en aug gmentation ou
diminutiion régulièrre,
c'est le signe qu'une dériive ou une tendance
t a
co
ommencé dans le procéédé.
Procédé noon sous conntrôle On
O marqueraa le point dééclenchant la l décision.
(longu
ues séries au
u-dessus et au-dessous Il est parfois utile de souuligner la séérie depuis
de la moyenne) so
on début jussqu'au pointt de décision n
On
O l'interprètte ainsi
la moyennne du procéédé a chang gé et peut êtrre
encore enn cours de cchangement;
le systèm me de mesurre a changé
(voir jourrnal de bordd).
35
366
FICHE DE
D TECHN
NOLOGIE
OBJECTIF
F
CARTE
E DE CON
NTROLE
Répartition
R innhabituelle de points:
Procédé noon sous conntrôle
(points troop rapprochhés des limittes de contrrôle) Moins dees 2/3 des pooints sont dans
d le tiers
central, on
o vérifiera :
1. Qu'iil n'y a pas dd'erreurs dee calcul danss
les CL
C ou dans le tracé;
2. L'abbsence de pllusieurs métthodes
d'échantillonnaage;
Plus de 2/3
2 des pointts sont danss le tiers
central (ppoints très raapprochés de
d X), on
vérifiera :
1. qu'ill n'y a pas dd'erreurs de calcul ou de
tracéé;
2. l'abssence de pluusieurs méth
hodes
d'échantillonnaage;
3. que les donnéess ont été corrrigées ou
moddifiées.
36
377
FICHE DE
D TECHN
NOLOGIE
OBJECTIF
F
CARTE
E DE CON
NTROLE
Procédé noon sous conntrôle Laa présence d'und ou plussieurs pointss au-delà dee
(un poiint au-delà des
d limites de contrôle) l'u
une ou l'autrre des limitees de contrô ôle constituee
unne preuve évvidente d'abbsence de co ontrôle en ce
ouu ces points.. D'autre paart, une causse assignablle
est responsabble de la valeeur extrêmee observée et e
ceeci doit déclencher le siignal d'analy yse immédiiate
dee l'opérationn pour recheercher cette cause.
Ceela conduit à une actionn correctivee.
On n interprète de la façonn suivante :
Un poinnt au-dessus de LÉS (ou u LÉS)
indique :
1. une erreur
e de callcul ou de trracé;
2. une variabilité
v pièce par pièèce, ce peut
être une
u augmenntation de R de la
popullation ou unne aggravatiion;
Un poinnt en dessous de LÉO (o ou LIÉ)
indique :
1. Une erreur
e de callcul ou de trracé;
2. Une diminution
d dde R de la population
p
(améliioration);
3. Un chhangement ddu système de mesure.
37
388
FICHE DE
D TECHN
NOLOGIE
OBJECTIF
F
CARTE
E DE CON
NTROLE
Interpréter ?
38
Résumé de Théorie et
METHODE DE CONTROLE ET DE SUIVI DE
Guide de travaux
PRODUCTION
pratique
IT Performance demandé
C
D Dispersion réelle
Image de la
Cp : est l'image de la qualité des pièces livrées chez le client capabilité procédé
IT de production du procédé
1- OBJECTIFS :
Le suivi et la maîtrise des dispersions disposent d'un outil : les cartes de contrôle. Elles permettent
d'avoir une image du déroulement du processus de fabrication et d'intervenir rapidement et à bon
escient sur celui-ci.
2- PRINCIPE DE FONCTIONNEMENT :
Nous supposons que la distribution de la spécification à contrôler suit une loi normale (ou sensiblement
normale).
Pour suivre l'évolution du procédé, des prélèvements d'échantillons sont effectués régulièrement (par
exemple : 5 pièces toutes les heures).
Pour chaque échantillon la moyenne et l'étendue (ou d'autres paramètres) sont calculées sur la
caractéristique à surveiller. Ces valeurs sont portées sur un graphique.
Au fur et à mesure qu'elle se remplit, la carte de contrôle permet la visualisation de l'évolution du
processus.
3
Résumé de Théorie et
METHODE DE CONTROLE ET DE SUIVI DE
Guide de travaux
PRODUCTION
pratique
~ les limites supérieures et inférieures de contrôles Lsc , Lic,
~ les limites supérieures et inférieures de surveillances Lss , Lis.
Lsc
Lss moyenne de la
caractéristique sur
X un échantillon de
Lis n pièces sur le 7éme
prélèvement
Lic
1 2 3 4 5 6 7 8 N° de prélèvements
Carte de contrôle de la moyenne
Une intervention sur le processus de fabrication pourra être décidée suivant la position des points reportés
(exemple : un point entre les lignes Ls et Lc entraîne un prélèvement plus rapproché).
8 ±0.2 24 51 24 8 ±0.2
6,1H1
10
12
A chaque heure, il est important de noter les événements qui sont intervenus :
C'EST LA CONSTRUCTION DU JOURNAL DE BORD DE LA FABRICATION.
Sans ce journal de bord, aucune analyse de la production ne sera possible.
Résumé de Théorie et
METHODE DE CONTROLE ET DE SUIVI DE
Guide de travaux
PRODUCTION
pratique
Il faut y signaler : . l'heure de prélèvement,
. l'heure des pauses et arrêts,
. les réglages,
. les pannes et incidents,
. les changements d'outils,
. les changements de lots de matière première,
. Les changements d'opérateurs
La production du support d'axe étant stabilisée, à 8h30 on effectue le premier prélèvement:
numéro (i)
échantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
pièce n°1 6.15 6.21 6.14 6.15 6.18 6.18 6.19 6.12 6.18 6.18
pièce n°2 6.14 6.15 6.16 6.13 6.13 6.17 6.19 6.15 6.17 6.14
pièce n°3 6.21 6.13 6.18 6.10 6.14 6.14 6.17 6.15 6.2 6.15
pièce n°4 6.20 6.14 6.10 6.19 6.18 6.18 6.17 6.14 6.2 6.12
pièce n°5 6.13 6.10 6.18 6.17 6.20 6.17 6.13 6.15 6.1 6.14
moyenne (Xi)
6.166 6.146 6.152 6.148 6.166 6.178 6.17 6.142 6.17 6.146
d'échantillon
Etendue (Wi)
0.08 0.11 0.08 0.09 0.07 0.02 0.06 0.03 0.1 0.06
d'échantillon
heure du 8h30 9h30 10h30 11h30 12h00 13h00 14h00 15h00 16h00 17h00
prélèvement
jour lundi lundi lundi lundi lundi lundi lundi lundi lundi lundi
événement pause
de
midi
A partir du premier échantillon, il est possible de commencer la construction des cartes de contrôle :
Carte de contrôle des moyennes : X
6.2
6.16
6.12 N° d'échantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23
0,1
0,08
0,06
0,04
0,02
0 N° d'échantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23
Limites de contrôle.
supérieure LSC X X KW
inférieure LIC X X KW
Limites de surveillance.
2
supérieure LSS X X KW
3
2
inférieure LIS X X KW
3
Limite de contrôle.
supérieure LSCW AW
Résumé de Théorie et
METHODE DE CONTROLE ET DE SUIVI DE
Guide de travaux
PRODUCTION
pratique
inférieure LICW BW
Limites de surveillance.
supérieure LSSW W
2
3
AW W
inférieure
2
LISW W BW W
3
Les coefficients A, B et K sont fonction de la taille de l'échantillon.
Effectif de chaque échantillon 3 4 5 6 7 8
A 2,574 2,282 2,114 2,004 1,924 1,864
B 0 0 0 0 0,076 0,136
K 1,023 0,729 0,577 0,483 0,419 0,373
Application à notre exemple :
1 n
Calcul de X et W : X Xi =6.1584 mm
n i 1
1 n
W Wi =0.07mm
n i 1
Calculs des limites de contrôle et de surveillance :
LSC X X KW = 6.1584+0.577.0.07=6.199mm
LICW BW = 0.0,005 = 0 mm
LSSW W
2
3
2
005 2,114.0 ,005 0 ,005= 0.121
AW W 0 ,0.07+(2/3)(2.114*0.07-0.07)
3
0 ,0087mm
mm
2
2
,005 0 0 ,005 0 ,0016
LISW W BW W 00.07+(2/3)(0*0.07-0.07)
3 3
= 0.023mm
mm
LSC
6.2
LSS
6.16
LIS
6.12 LIC N° d'échantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23
LSC
0,14
0,12 LSS
0,1
0,08
0,06
0,04
LIS
0,02
0 LIC N° d'échantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23
Application 1 : Compléter la carte de contrôle d’après les relevés de mesures indiqués sur Le tableau
ci-dessous.
10,01 10,03 10,01 10 03 9,93 9,95 10,01 10,03 10,03 10,01 9,99 9,97 10,03 10,05 9,93 9,99
10,01 9,95 9 97 9,99 10,07 10,01 9,99 9,99 9,99 9,99 9,97 9,95 10,01 9,97 9,97 9,97
10 05 10,01 9,97 9,93 9,99 10,01 9,99 9,99 9,97 10,03 10,01 10,01 10,05 9,99 10,01 9,99
Xi 9,99 9,99 10 03 10 03 9,99 9,95 9,99 10,01 10,01 10,01 10,05 10,01 9,97 10,01 9,99 10,01
9,98 10,05 9,99 10,03 9,95 9,99 9,99 10,01 9,98 10,01 10,05 10,03 9,99 9,99 10,01 10,05
OPERATEU
R
DATE
HEURE 7h 8h 9h 10h 11h 12h 14h 15h 16h 17h 18h 19h 20h 22h 23h 24h
Résumé de Théorie et
METHODE DE CONTROLE ET DE SUIVI DE
Guide de travaux
PRODUCTION
pratique
Cpks
Cpki
LCS X
LCIX
LCS R
LCIR
ETENDUE: R
Echantillon Ac Dc 1 Dc 2
2 1,93 0 4,12
3 1,05 0 2,99
4 0,75 0 2,5
5 0,59 0 2,38
R 6 0,49 0 2,22
X OBSERVATION :
Xi
Opérateur
Date
Heure
CORRIGE
Les stagiaires vont relever des cotes sur une série de pièces, puis ils vont calculer :
La moyenne
L’étendue
Les limites de contrôles de la moyenne
Les limites de contrôles de l’étendue
Résumé de Théorie et
METHODE DE CONTROLE ET DE SUIVI DE
Guide de travaux
PRODUCTION
pratique
Résumé de Théorie et
METHODE DE CONTROLE ET DE SUIVI DE
Guide de travaux
PRODUCTION
pratique
C pks 0 ,4 4
C pki 0 ,4 1 9
LC S X 1 0 ,0 4
L C IX 9 ,9 5 7
LCS R 0 ,1 5 2
L C IR 0
ETENDUE: R
E c h a n t illo n Ac D c1 D c2
2 1 ,9 3 0 4 ,1 2
3 1 ,0 5 0 2 ,9 9
4 0 ,7 5 0 2 ,5
5 0 ,5 9 0 2 ,3 8
R 0,07 0,1 0,06 0,1 0,14 0,05 0,02 0,04 0,06 0,04 0,08 0,08 0,06 0,08 0,08 0,08 6 0 ,4 9 0 2 ,2 2
X 10,008 10,006 9,994 10,002 9,986 9,982 9,994 10,006 9,996 10,01 10,014 9,994 10,01 10,002 9,982 10,002 O B S E R V A T IO N :
10,01 10,03 10,01 10,03 9,93 9,95 10,01 10,03 10,03 10,01 9,99 9,97 10,03 10,05 9,93 9,99
10,01 9,95 9,97 9,99 10,07 10,01 9,99 9,99 9,99 9,99 9,97 9,95 10,01 9,97 9,97 9,97 P ro c é d é n o n
Xi 10,05 10,01 9,97 9,93 9,99 10,01 9,99 9,99 9,97 10,03 10,01 10,01 10,05 9,99 10,01 9,99 c a p a b le
9,99 9,99 10,03 10,03 9,99 9,95 9,99 10,01 10,01 10,01 10,05 10,01 9,97 10,01 9,99 10,01
9,98 10,05 9,99 10,03 9,95 9,99 9,99 10,01 9,98 10,01 10,05 10,03 9,99 9,99 10,01 10,05
OPERATEUR
O p é ra te u r 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06
DATE 47
D a te
HEURE 7H 8H 9H 10 H 11 H 12 H 14 H 15 H 16 H 17 H 18 H 19 H 20 H 22 H 23 H 24 H
H e u re
39
FICHE DE TECHNOLOGIE
OBJECTIF
ETUDES DE LA CAPABILITÉ
39
Application 2 : Soit à contrôler un diamètre de 40 0,2.
Compléter la carte de contrôle d’après les relevés de mesures indiqués sur Le tableau ci-dessous.
40,1 40,18 40,1 40,18 39,8 39,82 40,1 40,18 40,18 40,1 39,88 39,84 40,18 40,2 39,8 39,88
40,1 39,82 39,84 40 40,24 40,1 39,88 39,88 39,88 39,88 39,84 39,82 40,1 39,86 39,86 39,86
40,2 40,1 39,84 39,8 39,88 40,1 39,88 39,88 39,84 40,2 40,1 40,1 40,2 40 40,1 39,88
Xi 39,88 39,88 40,18 40,18 39,88 39,82 39,88 40,1 40,1 40,1 40,2 40,1 39,84 40,14 39,88 40,1
40 40,2 40 40,18 39,82 39,88 39,88 40,1 39,84 40,1 40,2 40,18 39,88 39,88 40,1 40,2
OPÉRATEUR
DATE
HEURE 7h 8h 9h 10h 11h 12h 14h 15h 16h 17h 18h 19h 20h 22h 23h 24h
CARTE DE CO NTRÔ LE A T E L IE R : S E C T IO N : N ° C AR TE :
N O M M A C H IN E : N° : D E S IG N A T IO N D E L A P IE C E :
C A R A C T E R IS T IQ U E C O N T R O L E E : S P E C IF IC A T IO N : FREQUENCE :
R ESU LTATS
X
R
S
Cp
MOYENNE: X
C pks
C pki
LC SX
L C IX
LC SR
L C IR
ETENDUE: R
E c h a n tillo n Ac D c1 D c2
2 1 ,9 3 0 4 ,1 2
3 1 ,0 5 0 2 ,9 9
4 0 ,7 5 0 2 ,5
5 0 ,5 9 0 2 ,3 8
R 6 0 ,4 9 0 2 ,2 2
X O B S E R V A T IO N :
Xi
O p é ra te u r
D a te
H e u re
Calculer :
La moyenne
L’étendue
Les limites de contrôles de la moyenne
Les limites de contrôles de l’étendue
45
OPERATEUR
DATE 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06 25/ 06
HEURE 7H 8H 9H 10 H 11 H 12 H 14 H 15 H 16 H 17 H 18 H 19 H 20 H 22 H 23 H 24 H
LCS X
LCI X
LCS R
LCI R
ETENDUE:
R
Echantillon A B Dc
2 1,93 0 4,12
3 1,05 0 2,99
4 0,75 0 2,5
5 0,59 0 2,38
R 6 0,49 0 2,22
X OBSERVATION :
Procédé non
Xi capable
Opérateur
Date
Heure
46