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ANALYSE de CAPACITÉ : processus fabrication

aptitude d'un processus à satisfaire des exigences / spécifications

ƒ Définition

ƒ Limites "naturelles" de variabilité

ƒ Distinction entre 3 sortes de limites

ƒ Étapes pour évaluer la capacité d'un processus

ƒ Indices de capacité d'un processus

ƒ Exemples

DÉFINITION
Étude statistique d'un processus afin de déterminer si une
caractéristique qualité mesurable associée est capable de
satisfaire des limites de tolérance spécifiées (spécifications)
exigées pour le produit fabriqué par le processus.

CONDITION ESSENTIELLE
ƒ Le processus doit être en état de stabilité statistique ! ! !
ƒ Le processus doit avoir une personnalité statistique :
la caractéristique mesurable X doit suivre une distribution
statistique caractérisée par des paramètres constants.
( pour une période de temps suffisante )
ƒ La méthode par excellence pour faire l’étude :
avec une carte de Shewhart

autre méthode : avec un histogramme

attention : suppose la stabilité qui peut seulement


être établie avec une carte de contrôle !

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Bernard CLÉMENT, PhD IND 2501 février 2004
LIMITES DE TOLÉRANCE (spécifications)
2 limites X : caractéristique

LTI N LTS

LTI limite de tolérance inférieure


LTS limite de tolérance supérieure
N valeur nominale visée = (LTI + LTS)/2

Exemple : dimension sur une pièce usinée


X : 10.00 ± 0.01 (mm) ou 9.99 ≤ X ≤ 10.01

Une limite supérieure X X

LTS
Exemple : indice d'alcool dans le sang
X ≤ 0.08 mg/l

Une limite inférieure X

LTI

Exemple : moyenne cumulative d'un étudiant à Polytechnique


X ≥ 1.75
ÉTAPES D'UNE ÉTUDE DE CAPACITÉ
ƒ Plan de collecte de données : au moins 100 observations
ƒ Calcul de la dispersion du processus : carte de contrôle
ƒ Calcul des indices de capacité : C p et C pk
ƒ Décision sur l'aptitude et moyens pour amélioration

QUAND
ƒ processus existant
ƒ modification majeure d'un processus
ƒ qualification d'un nouveau processus
ƒ sélection d'un fournisseur

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Bernard CLÉMENT, PhD IND 2501 février 2004
LIMITES "NATURELLES" D'UN PROCESSUS
distribution de
moyenne µ
écart type σ
… 6σ

X
µ
LNI LNS
Limite Naturelle Limite Naturelle
Inférieure Supérieure
PAR CONVENTION on définit LNI et LNS par
LNI = µ - 3 σ LNS = µ + 3 σ

IDÉE À LA BASE DE CETTE DÉFINITION


Distribution gaussienne (LNI, LNS) couvre 99.73 %

On applique cette définition à toutes les distributions.

En pratique, les paramètres ( µ , σ ) ne sont pas connus et


doivent être estimés avec des données d'observations

1. plan de collecte pour construire une carte


2. vérification de la stabilité :
SI OUI
3. estimation des paramètres ( µ , σ )
4. calcul des indices C p C pl C pu C pk

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DISTINCTION ENTRE 3 TYPES DE LIMITES
Ne pas confondre
LIMITES DE TOLÉRANCE DU PRODUIT
LIMITES NATURELLES DE VARIATION DU PROCESSUS
LIMITES DE CONTRÔLE STATISTIQUE DU PROCESSUS

INDICES DE CAPACITÉ DE PROCESSUS


CP = ( LTS - LTI )/6σ
CPL = ( µ - LTI )/3σ
CPU = ( LTS - µ )/3σ
CPK = MIN (CPL, CPU)

INTERVALLES de CONFIANCE
χ α2 / 2 ,n −1 χ 12−α / 2 ,n −1
Cˆ p ≤ C p ≤ Cˆ p
n −1 n −1
 1 1   1 1 
ˆ
C pk 1− Z1−α / 2 + ˆ
 ≤ C pk ≤ C pk 1+ Z1−α / 2 + 
 ˆ
9nC pk 2(n −1)   ˆ
9nC pk 2(n −1) 
   
REMARQUES
ƒ Le diviseur 6 σ représente, la "grandeur" du processus :
c'est une convention
ƒ Les indices sont des nombres positifs sans unité.
Plus l'indice est grand meilleur est le processus.
ƒ CP ne tient pas en compte la possibilité que la moyenne µ du
processus soit différente de la valeur nominale N de l'intervalle
de tolérance. Il est préférable d'utiliser l'indice CPK
ƒ En pratique, toutes ces quantités seront des estimations car les
paramètres ( µ , σ ) de la distribution seront des estimés.
ƒ Il y a une relation directe entre les indices et le % de produits
non conformes fabriqués par le processus.

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CLASSIFICATION des PROCESSUS SELON C PK
Indice C pk Processus
< 1 ………… non capable
= 1 ………… capable
1.00 à 1.33 …… bon
1.33 à 1.50 …… très bon
>= 1.50 ……… excellent

C pk ET LE NOMBRE DE PRODUITS NON CONFORMES (NC)


DANS UN LOT DE 1 000 000

C pk 0.50 0.70 0.90 1.00 1.10 1.20 1.50 1.60


NC 66802 17865 3467 1350 484 159 3.4 1

EXEMPLE 1 : X dimension sur une pièce


Nominale visée : N = 72
Intervalle de tolérance 72 ± 20
LTI = 52 LTS = 92
N = ( LTS + LTI )/2

Données : 20 groupes de 5 pièces

gr mesures gr mesures
1 61 84 76 76 44 11 78 98 81 62 84
2 88 83 76 74 59 12 89 90 79 87 97
3 80 80 94 75 70 13 87 75 89 76 81
4 67 76 64 71 88 14 84 83 72 100 69
5 87 84 88 94 86 15 74 91 83 78 77
6 71 52 72 88 52 16 69 93 64 60 64
7 78 89 87 65 68 17 77 89 91 68 94
8 87 94 86 73 71 18 89 81 73 91 79
9 74 81 86 83 87 19 81 90 86 87 80
10 81 65 75 89 97 20 74 84 92 74 103

LTI = 72 - 20 = 52
LTS = 72 + 20 = 92
µ = 79.73 σ = 10.47
CPL = ( 79.73 - 52 )/3 * 10.47 = 0.88
CPU = ( 92 - 79.73 )/3 * 10.47 = 0.39
CPK = MIN (CPL, CPU) = 0.39
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UTILISATION de STATISTICA

Analyse processus mesure : Capacité de processus


Étude R et R

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EXEMPLE 2

Échantillon 1 2 3 4 5 6 7 8
Pièce 1 58 67 53 60 62 49 58 54
Pièce 2 61 61 49 65 55 53 61 57
Pièce 3 56 56 57 53 55 57 55 51
Pièce 4 57 60 55 50 58 58 56 56

Échantillon 9 10 11 12 13 14 15 16
Pièce 1 57 55 56 57 58 58 54 60
Pièce 2 68 54 55 57 51 60 65 61
Pièce 3 66 50 59 59 56 58 59 60
Pièce 4 59 54 63 55 60 58 61 57
N = 54 ± 8 LSL = 46 UCL = 62

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Variable: X34 Moy.: 57.3906 Sigma: 4.09265
Spécifications: LSI=46.0000 Nominal=54.0000 LSS=62.0000
Normale Cp=.6516 Cpk=.3754 Cpl=.9277 Cpu=.3754
-3.s LSI NOMINAL LSS +3.s
40

35

30

25
Fréquence

20

15

10

0
40 45 50 55 60 65 70 75

Variable: X34 (CartesShewhart.sta) -3.000 *Sigma=45.1127 +3.000 *Sigma=69.6686


Valeur
Limite de Spécification Inf. 46.00000
Spécification Nominale 54.00000
Limite Spécification Sup. 62.00000
CP (capabilité potentielle) 0.65158
CR (ratio de capabilité) 1.53474
CPK (excellence démontrée) 0.37542
CPL (indice capabilité inf.) 0.92773
CPU (indice capabilité sup.) 0.37542
K (correction non-centrage) 0.42383
CPM (capab. potentielle II) 0.50014

Le processus est – il stable ?

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Carte de Shewhart Xbar et R

Carte X-barre et R ; variable : X34


Histogramme des Moy ennes X-barre : 57.391 (57.391) ; Sigma : 3.6733 (3.6733) ; n : 4.
66

64
62.901
62

60
58
57.391
56
54

52 51.881
50
0 1 2 3 4 5 6 7 2 4 6 8 10 12 14 16

Histogramme des Etendues Etendue : 7.5625 (7.5625) ; Sigma : 3.2318 (3.2318) ; n : 4.


20
18
17.258
16
14
12
10
8 7.5625
6
4
2
0 0.0000
-2
0 1 2 3 4 2 4 6 8 10 12 14 16

Histogramme de Capabilité : X34


Ec-Type Intra : 3.673 ; Cp : .7260 ; Cpk : .4183
Ec-Type Global : 4.093 ; Pp : .6516 ; Ppk : .3754
LSI : 46.00 ; Nom. : 54.00 ; LSS : 62.00
LSI LSS
-3.*S Nominal +3.*S
20

15

10

0
42 44 46 48 50 52 54 56 58 60 62 64 66 68 70 72 74

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SixGraph - Carte X-barre et R : X34
X-barre : 57.391 (57.391) ; Sigma : 3.6733 (3.6733) ; n : 4. Droite de Henry
66 3
64 0.99
62.901 2
62 0.95
1 0.85
60 0.70
58 57.391 0 0.50
56 0.30
-1 0.15
54 0.05
52 -2
51.881 0.01
50 -3
2 4 6 8 10 12 14 16 46 48 50 52 54 56 58 60 62 64 66 68 70

Etendue : 7.5625 (7.5625) ; Sigma : 3.2318 (3.2318) ; n : 4. Tracé de Capabilité


20
18 17.258 Ec-Type Intra : 3.673 ; Cp : .3714 ; Cpk : .3714
16
14 Ec-Type Global : 4.093 ; Pp : .3333 ; Ppk : .3333
12 LSI : 53.30 ; Nom. : 57.39 ; LSS : 61.48
10
8 7.5625 Intra
6
4 Global
2 Limites
0 0.0000 Spéc.
-2
2 4 6 8 10 12 14 16 40 45 50 55 60 65 70 75

Valeurs Individuelles Histogramme de Capabilité


X-barre : 57.391 (57.391) ; Sigma : 3.6733 (3.6733) ; n : 4.
-3.*S LSINominalLSS +3.*S
70 20
68
66
64 62.901 15
62
60
58 57.391 10
56
54
52 51.881 5
50
48
46 0
2 4 6 8 10 12 14 16 42 44 46 48 50 52 54 56 58 60 62 64 66 68 70 72 74

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