Surtronic Duo ®

Testeurs de rugosité de surface portables

 Son rôle Surtronic® Duo
Le Surtronic Duo est un testeur de rugosité
de surface portable de qualité supérieure
qui mesure plusieurs paramètres de rugosité
d’un seul clic. Les paramètres de mesure
de la rugosité tels que Ra, Rz, Rp, Rv et Rt
sont affichés sur un écran cristaux liquides Technologie Bluetooth
intuitif de 2,4 pouces de grande luminosité. Il Communication rapide et fiable
fonctionne sur batterie rechargeable, pour plus entre l’unité de déplacement et
de commodité dans la réalisation de mesures l’afficheur/unité de commande.
rapides, faciles et précises sur le terrain dans
pratiquement tous les environnements et sur la
plupart des surfaces.
Mesure
Son principe Bouton de mesure
tactile excellent pour les
Le palpeur robuste en diamant est déplacé orientations difficiles
sur la pièce par un mécanisme motorisé de
grande précision pour s’assurer qu’il parcourt la
distance horizontale correcte. Le mouvement
vertical du palpeur est détecté par un capteur
piézo de haute qualité lorsqu’il franchit des
crêtes et des creux, et convertit ce mouvement
mécanique en signaux électriques. Le signal
électrique est numérisé et envoyé à un
microprocesseur qui réalise le calcul instantané
des paramètres de la surface en utilisant des
algorithmes standardisés.

Séparés
Le Duo se divise en
une unité d’affichage/
commande et une unité
de déplacement via un
mécanisme de coulisse et
blocage.

Charge mini USB

Le port mini USB peut être utilisé pour Palpeur diamant et capteur
effectuer la charge avec le chargeur secteur piézo
fourni (ou avec n’importe quel chargeur USB Le palpeur capteur piézo robuste
standard). avec pointe diamant garantit une
mesure très fiable.

Batterie Li-Poly
Technologie de batterie
rechargeable la plus avancée, pour
une fiabilité et une autonomie
inégalées de la batterie.

22
 La simplicité avant tout
La philosophie de Surtronic est de garder le
processus simple. C’est l’outil idéal pour tous
les inspecteurs souhaitant vérifier la rugosité
Graphique de profil
de la surface, dans les applications les plus
Graphique clair et détaillé
exigeantes.
présentant la surface de mesure
– excellent pour identifier les • Inspections entrantes
défauts de manière visuelle.
• Dernières inspections avant expédition
• Contrôle du processus sur la chaîne de
production
Navigation simple à 3 • Contrôle de grands composants ou
boutons structures
Accès immédiat aux options de
menu et aux paramètres. Étalons et traçabilité
L'étalon de référence fourni peut être
utilisé pour l'étalonnage de l'instrument
et le contrôle de l'usure du palpeur afin de
garantir l'obtention de résultats précis.

Mesure Capacité optimale

Étalons de rugosité ±(2 % + 0,004 µm)
(Ra)
Texture de la surface ±3 % de la valeur
de la pièce de travail mesurée par
ou du composant (Ra) passage

Étalonnage et tests UKAS

Taylor Hobson garantit une certification
intégrale des artéfacts et instruments dans
ses salles blanches accréditées ISO par
l'UKAS. Notre laboratoire agréé UKAS est
capable de mesurer tous les paramètres
associés à la texture d'une surface, y compris
les dérivés français, allemands, américains et
japonais.

Port de recharge mini

USB
Recharge depuis le secteur ou
n’importe quel port de charge
USB standard.
0026

Moulage caoutchouté 2624

Durabilité renforcée et meilleure

prise pour une protection
imbattable dans les environnements
agressifs des ateliers.

33
 Testeurs de rugosité portables solides,
rapides et fiables ...
Testeurs de rugosité durables pour les applications en atelier,
dans les locaux industriels ou dans des salles de contrôle

Rapides et fiables rapide, et de l’écran cristaux liquides industriel en

Il suffit d'appuyer sur le bouton de mesure afin
d'afficher en quelques secondes seulement un
jeu complet de résultats de mesure traçables
comprenant un profil graphique détaillé.
Construit pour durer, grâce à sa
conception ...
Des moulages caoutchoutés résistants aux chocs
entourent un écran Mylar haute durabilité en retrait
et protégé. L’appareil est donc suffisamment robuste
pour résister aux environnements industriels les plus
exigeants.
InstantOn
Grâce à la technologie InstantOn, ces instruments
sont prêts à l'emploi en moins de 5 secondes après
la mise en route !
couleur de 2,4 pouces, très net et lisible en plein jour
Connectivité Bluetooth
Cette technologie Bluetooth de nouvelle génération
est dotée d’une connectivité super efficace
permettant d’avoir une communication sans fil entre
l’écran et l’unité de déplacement.
Construit pour la puissance...
Alimenté par la technologie Li-Poly industrielle et
fiable, le Surtronic Duo fonctionne 24h/24 et 7j/7 et
peut effectuer plus de 2 000 mesures par charge.
Paramètres disponibles : ISO 4287 Rugosité*
Rt – hauteur totale du profil
Rp – hauteur maximale des pics du profil

Mesures sur site Rv – profondeur maximale des creux du profil

Surveillez l'usure et les modifications de la rugosité
Rz – hauteur maximale du profil
sur site pendant la durée de vie d'un produit. Par ex.
les altérations subies en termes de rugosité par une
hélice de turbine, signe annonciateur d'un défaut ou
Ra – déviation moyenne arithmétique
de perte d'efficacité.
Autres paramètres disponibles
Rsk, Rku, Rq, Rz1max
Convivial au lieu d’être rébarbatif ! * Inclut les paramètres primaires
Les Surtronic Duo sont aussi simples et conviviaux
qu’un SmartPhone. Les utilisateurs peuvent
bénéficier du menu intuitif à 3 boutons et accès
4
Applications

Rectification Verre et construction

Tôles d’acier

Fraisage Industrie aéronautique Rodage

Tournage Turbines

Sols

et bien plus encore ...

Contrôle du processus - Rectification, tournage, meulage, rodage, polissage,

extrusion

Industrie lourde - Construction navale, pipelines, tôlerie

Aérospatiale - Hélices de turbine, arbres de turbine, composants composites

de voilure

Autres - Rouleaux d'impression, revêtements de sol, assemblage, verre

5
Caractéristiques techniques
Performances de l’instrument Surtronic® Duo
Capteur Résolution 0,01 μm (0,4 μin) 0,01 μm (0,4 μin)

Mesure Plage (Ra) Jusqu’à 40 μm (1600 μin) Jusqu’à 40 μm (1600 μin)

Plage (Rz, Rv, Rp, Rt) Jusqu’à 199 μm (7800 μin) Jusqu’à 199 μm (7800 μin)

Répétabilité 2 % de la valeur + bruit

Précision 5 % de la lecture + 0,1 μm (4 μin)

Bruit 0,1 μm (4 μin)

Étalonnage Processus Étalonnage logiciel automatisé

Norme En mesure d'étalonner selon les normes de rugosité ISO 4287

Paramètres Normes ISO 4287

ISO 4287 (Rugosité) Ra, Rz, Rp, Rv, Rt, Rz1max, Rsk, Rq, Rku

ISO 4287 (Primaire) Pa, Pz, Pp, Pv, Pt

Technique Surtronic® Duo

Sortie de don- À l’écran Jusqu'à 5 résultats par page, sélection sur le graphique affiché
nées
Batterie Chargeur Mini USB 5V 1A 110-240 VAC 50 / 60 Hz

Durée de charge 4 heures

Puissance Autonomie de la batterie > 10 000 mesures par charge

Durée en veille 5 000 heures

InstantOn Max. 5 s après la sortie de veille pour l'aptitude à la mesure

Fonction mise en veille 5 minutes
automatique

Capacités de l’instrument Surtronic® Duo

Ensemble cap- Type de capteur Piézo
teur
Type de palpeur Diamant, rayon 5 μm (200 μin)

Capteur Force du capteur 200 mg

Type de mesure Glissante

Filtre Type de filtre Gaussien

Point de coupe du filtre 0,8 mm

Longueur de déplace-
Déplacement 5 mm (0,2 in)
ment
Vitesse de déplacement 2 mm / s (0,08 po / s)

Afficher Unités μm / μin

Environnement/aspects physiques Surtronic® Duo

Caractéristiques Poids, fixation comprise 0,4 Kg (14 oz)
physiques
Source électrique Batterie rechargeable Li-Poly

Conditions de Température 5 à 40 °C (41 à 104 °F)

service
Humidité 0 - 80 % sans condensation

Conditions de Température 0 à 50 °C (32 à 122 °F)

stockage
Humidité 0 - 80 % sans condensation

6
 Dimensions du Surtronic® Duo

70

54 54
105
100 mm 92 92 353535
mm
92 mm

54 mm 45 mm

54
45
45
105
105

8.5 8.5

En quoi consiste un pâtin45? Quelle différence fait la taille de la

Le Surtronic Duo est un appareil à pâtin. Le pâtin guide
le capteur le long de la pièce de travail, alors que la pièce
forme la référence de la mesure. Cette méthode facilite
généralement la configuration en réduisant la nécessité de
mise à niveau. Elle diminue aussi les effets des vibrations
grâce à une boucle de mesure beaucoup plus petite.
70
70
pointe du palpeur ?
Ces instruments utilisent une pointe de palpeur de 5 μm
(200 μin) de rayon Ceci convient à leur utilisation d’outil
portable pour contrôler la rugosité de trois manières :
• D
 urabilité – La pointe a moins de chances d’être

endommagée, même quand elle est mal manipulée.

92

Le pâtin fait partie intégrante du capteur et a un rayon

suffisamment grand pour éviter les mouvements pendant • M
 aintenance – Il est plus facile d’enlever les impuretés
l’entrée et la sortie des caractéristiques de rugosité de la et l’huile qui s’accumulent sur la pointe pendant
surface. Le palpeur et le pâtin sont indépendants dans leur l’utilisation. 45
mouvement en 53 hauteur (Z) mais se déplacent 2ensemble
9 • A
 daptabilité – Joue le rôle de filtre pour éliminer
dans la direction de la mesure. Les déviations de surface les fréquences superficielles les plus élevées, qui
8.5

sont enregistrées comme la différence entre le mouvement sont mesurées de manière plus fiable dans un
du palpeur et celui du pâtin dans la direction Z. environnement contrôlé.
35

Le pâtin joue le rôle de filtre mécanique en éliminant une D’autres instruments Taylor Hobson utilisent un palpeur
54

grande partie de la forme générale du composant. Enfin, dont la pointe fait 2 μm de rayon(80 μin). Ce rayon
les longueurs d’onde supérieures au diamètre du pâtin ne plus petit, associé à une tête de capteur inductive
501

seront pas prises en compte. ayant une faible force de contact, permet d’analyser les
imperfections de surface les plus fines.
5.8

105 mm

1 Pointe de palpeur
2 Pâtin
3 Mouvement du palpeur (Z)
4 Direction de mesure (X)
4
70 mm
07

3
2

Remarque : le profil de rugosité n’est pas dessiné à l’échelle

7
Paramètres d’amplitude

Z l1 l2 l3 l4 l5 Z Rp1max

X X

Rv1max
L

Ra, Rq, Pa, Pq Rv, Rp, Rt, Pv, Pp, Pt,

l1 - l5 sont des longueurs d’échantillonnage
consécutives et égales (la longueur
d’échantillonnage l correspond à la longueur du point
de coupe du filtre λc).
La longueur d’évaluation « L » est définie comme la
longueur du profil utilisé pour évaluer les
paramètres de rugosité de la surface (contenant
généralement plusieurs longueurs
d’échantillonnage, cinq longueurs d’échantillonnage
consécutives sont prises en standard).
Ra est le paramètre de rugosité international
universellement reconnu et le plus utilisé. Il s'agit de
la moyenne arithmétique des écarts absolus du
profil de rugosité par rapport à la ligne moyenne.
*Rv est la profondeur maximale du profil sous la ligne
de valeur moyenne pour la longueur d'échantillonnage.
*Rp est la hauteur maximale du profil au-dessus de la
ligne de valeur moyenne pour la longueur
d'échantillonnage.
Rt est la hauteur maximale pic-creux du profil dans la
longueur d'évaluation.
Pv, Pp et Pt sont les paramètres correspondants à
partir du profil d’ondulation et primaire,
respectivement.
Z Courbe de distribution
Profil amplitude

X
1 l
Ra =
l 0 | |
z(x) dx Rsk est négatif

Rq est la valeur moyenne quadratique (rms) des X

écarts du profil par rapport à la ligne moyenne. l
Rsk est positif
1 l 2
Rq = z (x) dx Rsk, Rku
l 0
Pa et Pq sont les paramètres correspondants à partir Rsk – Asymétrie – est la mesure de symétrie du profil
du profil primaire. autour de la ligne de valeur moyenne. Elle différencie
Remarque : Rq est parfois désigné par RMS. les profils asymétriques du même Ra ou Rq.

Rsk = 1 1
l 3
z (x) dx
Rq3 l 0
Z
Rku – Aplatissement – est une mesure de la netteté
du profil de surface.

X
Rku = 1 1 z4 (x) dx
l
Rq l 0
4

Rz1max
Rsk et Rku sont calculées dans la longueur
d’échantillonnage.
Rz1max

Rz1max est la plus grande différence pic-creux dans
toute longueur d’échantillonnage au sein de la
longueur d’évaluation.
* L a plupart des paramètres sont définis sur une
longueur d’échantillonnage, mais en pratique plusieurs
longueurs d’échantillonnage sont évaluées (en
général, cinq) et la moyenne est calculée. Ceci fournit
une meilleure estimation statistique de la valeur
mesurée du paramètre.

8
Bases de la finition des surfaces
La surface de tous les composants présente une
texture qui varie en fonction de la structure du
composant et de sa méthode de fabrication. On
peut répartir ces surfaces en trois grandes
catégories : Rugosité, ondulation et forme. Pour
contrôler le processus de fabrication ou prédire
le comportement d’un composant pendant
l’utilisation, il faut quantifier les caractéristiques de
la surface en utilisant des paramètres de texture
de surface.
On peut répartir les paramètres de texture de
surface en trois types de base :
Paramètres d’amplitude – Mesure des
caractéristiques verticales des déviations de
surface
Paramètres d’espacement – Mesure des
caractéristiques horizontales des déviations de
surface
Paramètres hybrides – Combinaisons de
paramètres d’espacement et d’amplitude
Longueur d’échantillon – Le profil est divisé en
longueur d’échantillon I, qui sont suffisamment
longues pour inclure une quantité de données
statistiquement fiable. Pour l’analyse de la rugosité
et de l’ondulation, la longueur d’échantillon est
égale au point de coupe sélectionné.
Longueur d'échantillonnage (Lc) – Un point de
coupe est un filtre qui utilise des moyens
électroniques ou mathématiques pour supprimer
ou réduire les données superflues pour examiner
les longueurs d’ondes dans la région étudiée. La
longueur d’échantillon est également appelée
longueur du point de coupe.
Point de coupe recommandé ISO 4288-1996
Profils périodiques Profils non périodiques
Distance d’espacement Sm
Rz (µm)
(mm)
>0,013 à 0,04 (0,025) à 0,1
>0,04 à 0,13 >0,1 à 0,5
>0,13 à 0,4 >0,5 à 10
>0,4 à 1,3 >10 à 50
>1,3 à 4 >50 à 200
Longueur d’évaluation – La longueur dans la
direction de l’axe X utilisée pour évaluer le profil
examiné. La longueur d’évaluation peut contenir
au moins une longueur d’échantillon. Pour les
profils primaires, la longueur d’évaluation est
égale à la longueur d’échantillon.
Normes – Lorsque cela est pertinent, les
équipements Taylor Hobson respectent les
procédures déterminées dans ISO 3274-1996,
ISO 4287-1997, ISO 4288-1996, ISO 11 562 et
d’autres normes internationales.
Tous les paramètres utilisant les profils de
rugosité, d’ondulation ou primaires sont
conformes aux hypothèses suivantes :
T = Type de profil, soit R (rugosité) soit
W (ondulation) soit P (primaire)
n = Suffixe du paramètre, par ex. q, t, p, v, etc.
N = Nombre de longueurs d’échantillonnage
mesurées
Quand un paramètre est affiché, sous Tn (par ex.
Rp), on part du principe que la valeur a été
mesurée sur 5 longueurs d’échantillonnage. Si le
nombre de longueurs d’échantillonnage mesurées
est différent de 5 longueurs d’échantillonnage, le
paramètre affichera ce nombre, c’est-à-dire TnN,
par ex. Rp2.
Règle max – Si un paramètre affiche aussi le max
(par ex. Rz1max) la valeur mesurée ne pourra
pas être plus élevée que la valeur de tolérance
spécifiée. Si max n’est pas affiché (par ex. Rp),
16 % des valeurs mesurées peuvent être
supérieures à la valeur de tolérance spécifiée.
Consulter ISO 4288-1996 pour avoir plus de
détails sur les règles Max et 16 %.
Longueur d'échantil- Longueur d’échantillon-
lonnage nage/longueur d’évaluation
Ra (µm) lc (mm) lc/L (mm)
(0,006) à 0,02 0,08 0,08/0,4
>0,02 à 0,1 0,25 0,25/1,25
>0,1 à 2 0,8 0,8/4
>2 à 10 2,5 2,5/12,5
>10 à 80 8 8/40
9
Accessoires et étalons

1 Chargeur solaire hybride 2 Sacoche de transport compacte

portable et rechargeable* Sécurise le Surtronic Duo et évite
les chutes accidentelles surtout
Chargeur portable pour charger
pour les applications mettant
le Surtronic Duo sur le terrain.
en jeu des mesures en hauteur.
Se recharge par USB, au
secteur ou par l’énergie Code SA-51
solaire.

Code SC-15

3 Chargeur USB 4 Étui de transport

Chargeur mini USB rigide*
5V 1A 110-240 VAC
Étui étanche à l’air et
50/60 Hz avec
à l’eau qui offre au
adaptateurs
Surtronic Duo une
internationaux
protection supplémentaire
Code SC-10 pour un rangement et/ou
un transport sûr.

Code SA-55

5 Étalon 6 Socle magnétique*

Pour étalonner et contrôler l’instrument Surtronic Duo. Socle compact et léger conçu spécialement pour
réaliser des mesures dans différentes orientations, y
Code CS-20 compris à l’envers sur les surfaces métalliques.

Ra 5,81 μm (229 μin) Code SA-41

* Non
 fourni de série avec Surtronic Duo
Tous les accessoires ci-dessus sont disponibles à la commande.
Contactez votre représentant Taylor Hobson si vous avez des
exigences supplémentaires ou spéciales.

10
Gamme de produits Surtronic®

Surtronic® S100-series propose des relevés de rugosité très

rapidement avec un écran de grande taille et une organisation simple
des menus. Alimenté par batterie et offrant ainsi une portabilité totale
avec une mémoire intégrée allant jusqu'à 100 mesures.
• Support de palpeur unique pour une flexibilité intégrale
• Grande longueur de déplacement et portée de capteur étendue
• Logiciel PC puissant compris
Fonctionnalités

Plage / résolution du capteur 400 µm (0,012 po) / 0,01 µm (0,4 µpo)

Précision (5 µm pointe diamant) 1% du relevé + LSD µm

IntraTouch mesure la rugosité, l’ondulation et le contour.

Un système portable économique pour l'analyse de la
texture de surface de haut niveau en atelier.
• Module de déplacement de 50 mm(1,97 in) avec repère de
rectitude
• L'étalonnage automatique sur une sphère garantit
l’exactitude des mesures de rayon et de forme
Fonctionnalités
Plage / résolution du Portée de 16 nm @ 1 mm (0,63 µin @ 0.04 in) / portée
capteur de 3 nm @ 0,2 mm (0,12 µin @ 0,008 in)
Précision de rectitude 0,2 µm sur 20 mm (8 µin sur 0,78 in)

Le Surtronic® R-50/R-80 est suffisamment robuste pour une

utilisation en atelier, tout en étant assez précis pour les salles de contrôle,
offrant ainsi une solution flexible pour toutes les mesures de flexibilité et
de forme.
• Orientation de capteur brevetée
• Suffisamment robuste pour fonctionner 24h/h, 7j/7
• Logiciel d'écran tactile convivial

Fonctionnalités
Résolution du capteur 30 nm (1.18 µpo)
Précision de la broche ±25 nm (0,98 µpo)

La série Surtronic® R-100 mise sur la robustesse et la facilité d’utilisation

du R-50/R-80, offrant des capacités de production plus élevées et une
fonctionnalité améliorée, comprenant les analyses harmoniques avancées et
une résolution plus élevée du capteur.
• Robuste, rapide et convivial
• Avec le système de centrage rapide Rapid CentreTM *
• Capacité de production 3 pièces / minute, configuration comprise

Fonctionnalités

Résolution du capteur 6 nm (0,24 µin)

Précision de la broche ±25 nm (0,98 µpo)

* Le dispositif de centrage est fourni de série avec les modèles R-120 / R-125, 11
ou disponible à l’achat en tant qu’accessoires pour les autres modèles.
 Les experts en métrologie Département commercial
Taylor Hobson est un fabricant leader mondial Email: taylor-hobson.sales@ametek.com
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niveaux nanométriques de résolution et de fiabilité. • F abrication de précision – services d’usinage sur contrat
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Surtronic Duo_FR_19 January
de surface et la circularité exécutés par des métrologistes
expérimentés
• Formation d’opérateur – une instruction sur site
engendrera une productivité et une aptitude supérieures
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instruments dans notre laboratoire ou sur le site du client

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(siège social international) Rond Point de l’Epine Champs #310, Gyeonggi R&DB Center, 906-5, lui-dong,
© DiskArt™ 1988

PO Box 36, 2 New Star Road Batiment D, 78990 Elancourt, France Yeongtong-gu, Suwon, Gyeonggi, 443-766, Korea
Leicester, LE4 9JD, England Tél: +33 130 68 89 30 Tél: +82 31 888 5255
Tél: +44 (0)116 276 3771 Fax: +33 130 68 89 39 Fax: +82 31 888 5256
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