Collection Technique ..........................................................................

Cahier technique n 149

La CEM : la compatibilit
lectromagntique

J. Delaballe
Les Cahiers Techniques constituent une collection dune centaine de titres
dits lintention des ingnieurs et techniciens qui recherchent une
information plus approfondie, complmentaire celle des guides, catalogues
et notices techniques.
Les Cahiers Techniques apportent des connaissances sur les nouvelles
techniques et technologies lectrotechniques et lectroniques. Ils permettent
galement de mieux comprendre les phnomnes rencontrs dans les
installations, les systmes et les quipements.
Chaque Cahier Technique traite en profondeur un thme prcis dans les
domaines des rseaux lectriques, protections, contrle-commande et des
automatismes industriels.
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Rubrique : Le rendez-vous des experts
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accord de la Direction Scientifique et Technique, avec la mention obligatoire :
Extrait du Cahier Technique Schneider Electric n ( prciser) .
n 149
La CEM : la compatibilit
lectromagntique

Jacques DELABALLE

Docteur de lUniversit de Limoges en 1980, entre chez Merlin-Gerin

en 1986 aprs sept annes passes chez Thomson.
Il est responsable des laboratoires CEM du centre dessais de
Schneider Electric et membre du Comit 77 (Compatibilit
Electromagntique) de la Commission Electrotechnique
Internationale (CEI).

CT 149(e) dition dcembre 2001

Lexique

Compatibilit ElectroMagntique, CEM qualit en prsence dune perturbation

(abrviation) (VEI 161-01-07) lectromagntique.
Aptitude dun appareil ou dun systme La figure 1 permet de situer les diffrents
fonctionner dans son environnement termes ci-avant en terme de niveau.
lectromagntique, de faon satisfaisante et Dcibel
sans produire lui-mme des perturbations Unit de puissance sonore, aussi utilise pour
lectromagntiques intolrables pour tout ce qui exprimer des rapports damplitude selon la
se trouve dans cet environnement. relation :
Perturbation (lectromagntique) X/Xo (dB @) = 20 . log10 X/Xo, avec
(VEI 161-01-05) X = amplitude mesure,
Phnomne lectromagntique susceptible de Xo = amplitude de rfrence,
crer des troubles de fonctionnement dun @ = unit de mesure de X et Xo.
dispositif, dun appareil ou dun systme, ou Quelques exemples sont donns dans le tableau
daffecter dfavorablement la matire vivante ou suivant (cf. fig. 2 ).
inerte.
Note : une perturbation lectromagntique peut
tre un bruit, un signal non dsir ou une
modification du milieu de propagation lui-mme. Niveau Susceptibilit des matriels
Niveau de compatibilit (lectromagntique) (distribution statistique)
(VEI 161-03-10)
Niveau d'immunit
Niveau maximal spcifi de perturbations (valeur d'essai spcifie)
lectromagntiques auquel on peut sattendre
que soit soumis un dispositif, appareil ou
systme fonctionnant dans des conditions
particulires. Niveau de compatibilit
Note : en pratique le niveau de compatibilit (valeur conventionnelle)
lectromagntique nest pas un niveau maximal
absolu mais peut tre dpass avec une faible Niveau d'mission
probabilit. (distribution statistique)
Niveau de perturbation
(non dfini dans le VEI 161) Distribution statistique
Valeur dune perturbation lectromagntique de
forme donne, mesure dans des conditions fig. 1 : positionnement des niveaux en Compatibilit
spcifies. lectromagntique.
Limite de perturbation
(VEI 161-03-08)
Niveau maximal, admissible des perturbations Rapports des dB
lectromagntiques mesur dans des conditions amplitudes X/Xo
spcifies. 1 0
Niveau dimmunit 1,12 1
(VEI 161-03-14) 1,25 2
Niveau maximal dune perturbation 1,41 3
2 6
lectromagntique de forme donne agissant sur
3,2 10
un dispositif, appareil ou systme particulier, 4 12
pour lequel celui-ci demeure capable de 5 14
fonctionner avec la qualit voulue. 10 20
Susceptibilit (lectromagntique) 100 40
(VEI 161-01-21) 1000 60
Inaptitude dun dispositif, dun appareil ou dun
systme fonctionner sans dgradation de fig. 2 : rapports d'amplitude exprims en dB.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.2

 La CEM : la compatibilit
lectromagntique

La CEM est prise en compte ds l'tude pour la fabrication des matriels

lectrotechniques. Elle doit aussi tre applique leur mise en uvre.
Ainsi, de l'architecte concepteur des btiments jusqu'aux cbleurs
d'armoires, sans oublier les ingnieurs d'tudes de rseaux et les
installateurs, tous sont concerns par cette discipline de paix ; discipline
ayant pour objectif de faire cohabiter en bonne harmonie des matriels
susceptibles d'tre perturbs et/ou d'tre metteurs de perturbations.
Ce Cahier Technique, ralis partir d'une longue exprience acquise au
sein de Schneider Electric, prsente les perturbations rencontres et
quelques solutions pratiques.

Sommaire
1 Introduction 1.1 La Compatibilit Electromagntique - CEM - est un fait,
mais aussi une discipline p. 4
1.2 Aujourd'hui la CEM est indispensable p. 4
1.3 Sa thorie est complexe p. 5
2 La source 2.1 Il est important de bien la connatre p. 6
2.2 Un exemple de sources permanentes de perturbations conduites p. 7
2.3 Un exemple de sources de perturbations rayonnes p. 8
3 Le couplage 3.1 Diffrents modes de couplage existent p. 10
3.2 Le couplage champ cble, en mode commun ou diffrentiel p. 10
3.3 Le couplage par impdance commune p. 12
3.4 Le couplage cble cble en mode diffrentiel ou diaphonie p. 12
4 La victime 4.1 Les dfauts de fonctionnement p. 14
4.2 Des solutions p. 14
5 L'installation 5.1 L'installation est un paramtre important dans la CEM globale
d'un systme p. 17
5.2 A sa conception p. 17
5.3 A sa ralisation p. 18
5.4 Des exemples pratiques p. 18
6 Normes, moyens d'essais et essais 6.1 Les normes p. 20
6.2 Les moyens d'essais p. 20
6.3 Les essais p. 21
7 Conclusion p. 27
Annexe 1 : Impdance d'un conducteur en haute frquence p. 28
Annexe 2 : Les diffrentes parties d'un cble p. 29
Annexe 3 : Essais raliss aux laboratoires CEM de Schneider Electric p. 30
Annexe 4 : Bibliographie p. 32

Cahier Technique Schneider n 149 / p.3

1 Introduction
1.1 La compatibilit lectromagntique - CEM - est un fait,
mais aussi une discipline
Elle est le fait, pour des quipements ou
systmes, de supporter mutuellement leurs
effets lectromagntiques.
Selon le vocabulaire lectrotechnique
international VEI 161-01-07, la CEM est la
capacit dun dispositif, quipement ou systme,
fonctionner de manire satisfaisante dans son
environnement lectromagntique sans
1.2 Aujourdhui la CEM est indispensable
De fait depuis toujours, tout appareil est soumis
diverses perturbations lectromagntiques,
et tout appareil lectrique en gnre peu ou
prou.
Ces perturbations sont gnres de multiples
manires. A la base, leurs faits gnrateurs sont
principalement des variations brusques de
grandeurs lectriques, tension ou courant.
Une prsentation des perturbations lectriques
les plus courantes (cf. fig. 3 ) dans le domaine
lectrotechnique basse tension est faite dans le
Cahier Technique n 141. Le Cahier Technique
n 143 traite par ailleurs des perturbations dues
aux manuvres de lappareillage MT - Moyenne
Tension.
Ces perturbations peuvent se propager, par
conduction le long des fils et cbles, ou par
rayonnement sous forme dondes
lectromagntiques. Elles engendrent des
Classes Types
Energtiques Creux de tension
Frquences moyennes Harmoniques
Hautes frquences Surtensions
Dcharges lectrostatiques
Fig. 3 : les perturbations lectriques les plus courantes.
Cahier Technique Schneider n 149 / p.4
introduire de perturbations intolrables pour quoi
que ce soit dans cet environnement.
Cette dfinition est galement celle adopte par
la norme NF C 15-100, chapitre 33.
Elle est maintenant une discipline, celle
damliorer la cohabitation entre des lments
susceptibles dmettre des perturbations
lectromagntiques et/ou dy tre sensibles.
phnomnes indsirables ; le brouillage des
ondes radio et les interfrences des missions
radiolectriques dans les systmes de
contrle-commande en sont deux exemples.
Ces dernires annes, plusieurs facteurs se sont
conjugus pour augmenter limportance de la
CEM :
c les perturbations sont de plus en plus
importantes car U et I augmentent,
c les circuits lectroniques sont de plus en plus
sensibles,
c les distances entre les circuits sensibles
(souvent lectroniques) et les circuits
perturbateurs (de puissance), se rduisent.
Pour dvelopper ses nouveaux produits,
Schneider Electric a d approfondir puis mettre
en application cette discipline quest la CEM. En
effet, dans lappareillage lectrique moderne se
ctoient troitement courants faibles et courants
Origines
c Permutation de sources
c Court-circuit
c Dmarrage de moteurs de forte puissance
c Systmes semi-conducteurs de puissance
c Fours arc
c Coups de foudre directs ou indirects
c Manuvres d'appareils de commande
c Coupure de courants de court-circuit par
des appareils de protection
Dcharges de l'lectricit statique accumule
par une personne
 forts, lectronique de contrle-commande et
lectronique de puissance, lectronique de
protection et appareillage lectrique de
puissance.
La CEM est donc un critre fondamental
prendre en compte dans toutes les phases de
dveloppement et de fabrication des produits
(cf. fig. 4 ), mais aussi dans les phases
dinstallation et de cblage.
La CEM est dailleurs maintenant prise en
compte dans les normes et devient une
contrainte lgislative.
Lexprience et les ralisations
de Schneider Electric ne se limitent pas la
matrise du bon fonctionnement de tout systme
lectrique et/ou lectronique dans un
environnement lectromagntique habituel : par
exemple, les quipements raliss sont aussi
capables de rsister lenvironnement
lectromagntique le plus contraignant, celui des
IEM - HA - Impulsions ElectroMagntiques
Fig. 4 : un exemple d'application de la CEM : une
dorigine nuclaire en Haute Altitude. cellule MT SM6 intgre un disjoncteur qui coupe
Pour cela, le durcissement, ou amlioration de la des centaines d'ampres sous quelques dizaines de
tenue des systmes soumis des impulsions kilovolts, et une unit programmable SEPAM de
lectromagntiques dorigine nuclaire, protection et de contrle-commande. L'ensemble doit
ncessite la mise en uvre des techniques les toujours tre oprationnel, sans alas.
plus performantes de la CEM.

1.3 Sa thorie est complexe

Toute approche de la CEM conduit ltude dun
systme trois composantes :
c le gnrateur de perturbations ou source,
c la propagation ou couplage,
c et llment qui subit ou victime.
Bien que ces trois composantes ne soient pas
strictement indpendantes, dans la pratique elles
sont supposes comme telles.
A noter que linstallation qui sera aborde au
chapitre n 5, a un rle prpondrant dans la
propagation des perturbations.
Cette tude thorique est difficile, car elle
impose celle de la propagation des ondes
lectromagntiques rgie par un ensemble
dquations diffrentielles complexes : les
quations de Maxwell. Leur rsolution nest
gnralement pas possible de faon exacte dans
des structures physiques relles, et mme avec
des moyens informatiques trs performants, une
rsolution numrique approche est galement
trs difficile.
En pratique il faut donc traiter les problmes de
compatibilit lectromagntique en faisant un
certain nombre dhypothses simplificatrices, en
utilisant des modles, et surtout en ayant un
recours constant lexprimentation et la
mesure.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.5

2 La source
2.1 Il est important de bien la connatre
La connaissance, ou plus exactement
lidentification et la mesure, des sources est
indispensable car elle permet darrter le choix
des solutions mettre en uvre pour :
c limiter leur perturbation (placer un bloc
antiparasite RC en parallle sur la bobine CA, ou
une diode sur la bobine CC, dun contacteur par
exemple),
c viter les couplages (carter deux lments intentionnelles (soudeuse). Mais dune faon
difficilement compatibles par exemple),
c et insensibiliser les victimes potentielles
(utiliser des blindages par exemple).
Ses principales causes
Tout appareil ou phnomne physico-lectrique
qui met une perturbation lectromagntique,
par conduction ou par rayonnement, est qualifi
de source. Parmi les principales causes de
perturbations, il faut relever : la distribution
dnergie lectrique, les ondes hertziennes, les
dcharges lectrostatiques et la foudre.
c Dans la distribution dnergie lectrique un
grand nombre de perturbations proviennent de
manuvres de fermeture et douverture des
circuits :
v en basse tension, les ouvertures des circuits
inductifs comme les bobines de contacteurs, les
moteurs, les lectrovannes produisent aux
bornes des bobines des surtensions trs leves
et riches en hautes frquences (quelques kV et
des dizaines, voire centaines de MHz),
v en moyenne et haute tension louverture et la
fermeture des sectionneurs provoquent
lapparition dondes front trs raide (quelques Les couplages tant directement fonction de la
nanosecondes). Ces ondes sont particulirement
perturbantes pour les systmes
microprocesseur.
c Les ondes hertziennes provenant des
systmes de tlsurveillance, de tlcommande, signal rptitif, sa dcomposition en srie de
radio communication, tlvision, talkie-walkie,
sont, pour certains quipements lectroniques,
des sources de perturbation de lordre de
quelques volts par mtre. Tous ces metteurs
sont de nos jours de plus en plus utiliss et
conduisent durcir (protger) ces quipements.
c Enfin, lhomme peut se charger
lectrostatiquement ; par exemple en marchant
sur de la moquette.
Par temps froid et sec, son corps peut atteindre
un potentiel suprieur 25 kV ! Tout contact
avec un quipement lectronique provoque alors
Cahier Technique Schneider n 149 / p.6
une dcharge lectrique qui peut pntrer dans
lappareil par conduction et par rayonnement, et
dont le temps de monte trs court (quelques
nanosecondes) est trs perturbateur.
Principales caractristiques de ces
perturbations
Ces sources de perturbations peuvent tre
intentionnelles (metteur radio) ou non
gnrale elles se distinguent par les caract-
ristiques des perturbations quelles induisent :
v le spectre,
v la forme donde, ou le temps de monte, ou
lenveloppe spectrale,
v lamplitude,
v lnergie.
c Le spectre, ou bande de frquences couverte
par les perturbations peut tre trs troit, cas
des radiotlphones, ou au contraire large, four
arc par exemple.
Les perturbations impulsionnelles ont en
particulier un spectre trs large, pouvant aller
jusqu la centaine de MHz (cf. fig. 5 ). Nous
trouvons dans cette dernire catgorie essentiel-
lement les perturbations ayant pour source :
v des dcharges lectrostatiques,
v le fonctionnement dappareillage tels que
relais, sectionneurs, contacteurs, interrupteurs et
disjoncteurs, en BT et en MT/HT,
v et enfin dans un domaine plus spcifique
les Impulsions ElectroMagntiques Nuclaires
(I.E.M.N.).
frquence, la reprsentation frquentielle des
perturbations lectromagntiques est
couramment utilise en CEM.
Cette reprsentation sapparente, pour un
Fourier (comme une somme dharmoniques).
c La forme donde est caractristique de lallure
temporelle de la perturbation, sinusodale
amortie ou bi-exponentielle par exemple. Elle
sexprime sous la forme dun temps de monte
tm, dune frquence quivalente ce temps de
monte (0,35 / tm), ou simplement de la
frquence de la perturbation si elle est bande
troite, ou enfin sous la forme dune longueur
donde qui se ramne la frquence f par la
relation = c/f o c est la clrit de la lumire
(3.108 m.s-1).
 c Lamplitude est la valeur maximale atteinte par c Lnergie de la perturbation est lintgrale de
le signal, tension (volt), champ lectrique sa puissance sur toute la dure de cette
(volt/mtre),. perturbation (Joule).

Cas dun signal radio

Amplitude Densit
de la spectrale Bande troite
perturbation
0
Temps

T 0
1/T Frquence
Cas dun effet indirect de coup de foudre

Amplitude Densit
de la spectrale
perturbation
Bande large

0 0
tm Temps 0,35 / tm Frquence

Fig. 5 : exemple de catactristiques spectrales de perturbations.

2.2 Un exemple de sources permanentes de perturbations conduites

en lectronique de puissance
En lectronique de puissance, les sources de
perturbations sont principalement les transitoires
de tension, plus rarement de courant. La tension
peut varier de plusieurs centaines de volts en
quelques dizaines de nanosecondes, ce qui
reprsente des dV/dt suprieurs 10+9 V/s. Par
exemple, la technique de dcoupage par
Modulation de Largeur dImpulsions (MLI)
(cf. fig. 6 ) utilise pour constituer une tension
sinusodale partir dune tension continue,

a) b) tm td

U Ucc

Ucc

t
Uca

de)
a
Uc
ur be
nu so
Co e si
nd
rtio
(po

Fig. 6 : une source de perturbations dans les quipements d'lectronique de puissance : la technique de
dcoupage par modulation de largeur d'implusions.
a : principe,
b : une impulsion fortement agrandie, (chelle dilate de t), la portion de sinusode est disproportionne car elle
s'tale sur 20 ms ; tm 2 3 td (10 ns 1 s).

Cahier Technique Schneider n 149 / p.7

 ncessite des variations de tension entre 0 et
Ucc (660 V en triphas-redress) avec des
temps trs brefs de quelques nanosecondes
microsecondes selon les technologies.
Ces variations brusques de tension engendrent
divers phnomnes perturbateurs, dont par
exprience le plus gnant est la circulation de
courant travers toutes les capacits parasites.
En ne tenant compte que de la capacit parasite
Cp, le courant IMC = Cp.dV/dT.
Il suffit donc, avec les valeurs de fronts voqus
prcdemment, dune capacit parasite de
100 pF pour gnrer des courants de plusieurs
les perturbations gnres par ses propres
circuits de puissance.
La comprhension et la matrise du phnomne
la source sont ncessaires pour une limitation
efficace et conomique de lmission conduite.
Il existe dautres sources de perturbations
conduites, occurrence faible telles que la
foudre et les surtensions de manuvre ;
capables de gnrer des dV/dt et dI/dt
importants. Ces perturbations sont galement
gnratrices de champs rayonns.

;;
centaines de mA. Ce courant perturbateur va Isolant Radiateur
circuler dans le conducteur de rfrence de Semi-conducteur
tension de llectronique (circuit 0 V) et peut

;;
modifier des commandes (informations ou
ordres), se superposer des mesures sensibles,

;;
voire gner dautres exploitants en tant
rinject sur le rseau de distribution publique.
Prendre en compte ce type de phnomne, donc

;;
matriser la CEM, pourrait consister ralentir la V
monte de la tension. Mais une telle solution
entranerait une augmentation sensible des
pertes par commutation dans les transistors et
serait donc trs dfavorable du point de vue des
contraintes thermiques. Une autre manire Cp IMC
efficace de rduire ces courants est daugmenter
limpdance de mode commun (entre structures Masse
et masse). Ainsi par exemple, pour le montage
des composants lectroniques de puissance, Fig. 7 : la capacit parasite du radiateur de
deux solutions sont couramment utilises : refroidissement des composants lectroniques, un
c soit laisser flottants (sans liaison lectrique) les lment pris en compte dans la conception des bras
radiateurs de refroidissement des composants d'onduleur .
(cf. fig. 7 ), quand les rgles de scurit des
personnes le permettent,
c soit diminuer la capacit parasite entre le Rondelle isolante Epaisseur Capacit parasite
composant et son radiateur, par lutilisation dun pour botier TO3 (mm) (pF)
isolant constante dilectrique faible (cf. fig. 8 ). Mica 0,1 160
Autant de prcautions qui feront la diffrence Plastique 0,2 95
entre un convertisseur pollueur et un Alumine 2 22
convertisseur rinjectant sur le rseau des
Fig. 8 : capacits parasites typiques des principaux
perturbations minimales.
isolants utiliss pour le montage des composants
Il faut noter que llectronique bas niveau du lectroniques.
convertisseur doit tre, et est, protge contre

2.3 Un exemple de sources de perturbations

rayonnes : la fermeture dappareillage dans les
postes moyenne tension et trs haute tension
Lenvironnement dans les postes,
particulirement en moyenne tension et en trs
haute tension, peut comporter des champs
lectromagntiques impulsionnels trs intenses.
Certaines manuvres dappareillage gnrent
des variations de tension bien suprieures aux
tensions nominales en des temps extrmement
courts. A la fermeture dun interrupteur 24 kV par
exemple, les claquages dits de pramorage
font varier la tension de plusieurs dizaines de kV
en quelques nanosecondes (10-9 s). Des
prcisions sont apportes ce sujet dans le
Cahier Technique n 153 Disjoncteurs au
SF6 Fluarc et protection des moteurs MT .
Des mesures effectues dans les laboratoires
Schneider ont montr qu un mtre dune
cellule moyenne tension 24 kV en manuvre,
des champs impulsionnels sinusodaux amortis
atteignent une valeur crte de 7,7 kV/m et une
frquence de 80 MHz. Ces valeurs de champ

Cahier Technique Schneider n 149 / p.8

sont extrmement importantes. A titre de
comparaison, un metteur radio portatif de 1 W
(du type talkie-walkie) gnre, un mtre de son
antenne, des champs de lordre de 3 5 V/m.
Ces variations se propagent le long des
conducteurs, jeux de barres, cbles, lignes
ariennes. Etant donnes les frquences mises
en jeu, autrement dit la rapidit du phnomne,
les structures conductrices (jeux de barres) sont
de vritables antennes rayonnantes.
Et les champs lectromagntiques quelles
gnrent ont des caractristiques qui dpendent
fortement de lenvironnement physique
notamment des enveloppes mtalliques
(cloisonnements, cellules).
Dans les postes blinds trs haute tension, les
champs lectromagntiques sont
particulirement importants. Les postes blinds
isols au SF6 sont structure coaxiale, et
prsentent donc une impdance caractristique
a)
Fig. 9 : trois exemples dappareils lectronique
numrique dvelopps par Schneider Electric et
conus en tenant compte des tudes de CEM.
a : SEPAM, une unit de protection et contrle intgre
dans les quipements MT (marque Merlin Gerin) ;
b : une unit de protection et contrle des disjoncteurs
de puissance BT Masterpact (marque Merlin Gerin) ;
c : un variateur de vitesse de type ATV (marque
Telemecanique).
constante. Lors de brusques variations de
tension, il se cre alors lintrieur des
enveloppes mtalliques tubulaires des
phnomnes dondes stationnaires. Celles-ci
sont dues aux rflexions sur les ruptures
dimpdances que reprsentent par exemple les
cnes de traverse de sortie du blindage.
Lamplitude et la dure du phnomne sen
trouvent ainsi augmentes.
Lenvironnement lectromagntique de la
moyenne la trs haute tension demande donc
des tudes pousses de compatibilit
lectromagntique pour le dveloppement,
linstallation des relayages et des dispositifs de
contrle-commande. Ceci dautant plus que les
perturbations rayonnes ne sont pas les seules
perturbations gnres dans les postes qui sont
galement sources des transitoires conduits de
tension voqus au dbut de ce paragraphe
(cf. fig. 9 ).
b)
c)
Cahier Technique Schneider n 149 / p.9
3 Le couplage
3.1 Diffrents modes de couplage existent
Par couplage il faut comprendre liaison, passage
ou transmission des perturbations
lectromagntiques de la source vers la victime.
Le couplage est caractris par un cfficient k f
dit de couplage, exprim en dB (-75 dB par
exemple), pouvant tre dfini comme lefficacit
de transmission dune perturbation de la source
la victime potentielle (k = 20 log A reue/A mise,
avec A amplitude de la perturbation).
Dfinir ce coefficient est important dans la
connaissance de la CEM, car plus il est faible
3.2 Le couplage champ cble, en mode commun ou diffrentiel
Un champ lectromagntique peut se coupler
sur toute structure filaire, donc tout cble, et
gnrer sur ces structures des tensions soit en
mode commun (par rapport la masse), soit en
mode diffrentiel (entre fils), soit et dailleurs plus
gnralement les deux. Ces couplages sont
appels champ cble, cest leffet dantenne
des fileries, des pistes de circuits imprims etc.
c Les couplages en mode commun sont donc
ceux qui mettent en uvre des perturbations de
type tension ou courant de mode commun.
;;;;
;;;;
;;;;
;;;;
;;;;
;;;; Cp
;;;;
;;;;
Gnrateur de
perturbations
PE
Fig. 10 : tension et courant de mode commun entre deux relais d'un caisson d'appareillage basse tension d'une
cellule moyenne tension.
Cahier Technique Schneider n 149 / p.10
(plus sa valeur absolue en dcibel est
importante), plus la perturbation effectivement
reue par la victime potentielle est faible, et
meilleure est la CEM.
Trois modes de couplage sont classiquement
distingus :
c le couplage champ cble, en mode commun
ou diffrentiel,
c le couplage par impdance commune,
c le couplage cble cble en mode diffrentiel
ou diaphonie.
Une tension conduite de mode commun (VMC)
est une tension qui sapplique lensemble des
conducteurs actifs. Elle est rfrence par
rapport la masse ou par rapport la terre (cas
habituel en lectrotechnique) : ainsi les essais
disolement de mode commun, des disjoncteurs
basse tension, se font entre toutes les phases
relies et la terre.
Un courant de mode commun (IMC) est un
courant qui parcourt tous les conducteurs actifs
dans le mme sens (cf fig. 10 ). Le courant
;;;
;;;
;;;
;;;
IMC
;;;
;;; Cp
;;;
VMC
IMC ;;;
induit par un choc de foudre sur une ligne BT est verrait en transitoire une tension induite en srie
un courant de mode commun. gale 15 V.
c Les couplages de mode diffrentiel concernent Cette loi est considre comme correcte tant
des tensions ou courants au sens classique du que la plus grande dimension de la boucle
terme, par exemple entre les deux phases dun nexcde pas un dixime de la longueur donde
disjoncteur ou entre les deux fils qui amnent un de la perturbation.
signal de mesure llectronique. Il faut rappeler ici, quune telle boucle
Les quations qui rgissent le couplage entre (cf. fig. 12 ) est vite ralise dans le caisson
un champ lectromagntique dimpdance relayage avec les fils vert-jaune lorsquils sont
donde quelconque et une structure filaire, qui relis en toile la masse.
peut elle aussi tre quelconque, sont trs
complexes.
Dans la plupart des cas, elles ne peuvent tre
rsolues ni analytiquement, ni mme E
numriquement. Champ
lectromagntique
Cependant lun de ces couplages, simple et des
plus frquents, peut sexprimer de manire H
analytique, il sagit du couplage entre la
composante magntique dun champ
lectromagntique et une boucle de surface S Surface soumise
forme par des conducteurs (cf. fig. 11 ). au champ
La composante magntique H du champ induit lectromagntique
en srie dans la boucle une tension gale :
e = 0 S dH/dt,
avec 0 = la permabilit du vide (4 10-7 H/m). e
Ainsi, par exemple, dans un poste moyenne
tension, la boucle (dun fil ou dun cble) de e = tension induite par le champ
100 cm2 place 1 m dune cellule (cf. fig. 12 ), lectromagntique
qui serait soumise un champ impulsionnel de Fig. 11 : un exemple de couplage champ cble de
5,5 kVeff/m (valeur mesure en laboratoire) , mode diffrentiel.

;;;
;;;
;;; ;;;
;;; 0 volt

;;;
;;; ;;;
;;; ;;;
0 volt

;;;
Masse de la cellule
;;;
Fig. 12 : exemple de boucle de masse dans un caisson d'appareillage basse tension d'une cellule moyenne
tension.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.11

3.3 Le couplage par impdance commune
+
- + I mesure
0 volt
entre
Fig. 13 : les mesures effectues par l'amplificateur oprationnel seront errones car un courant perturbateur dans
le circuit A (d'alimentation) suffit pour crer dans le circuit B (de mesure) des tensions perturbatrices.
Comme son nom lindique, le couplage par imp-
dance commune rsulte de la prsence dune
impdance commune deux ou plusieurs circuits.
Cette impdance commune peut tre la liaison de
masse, le rseau de terre, le rseau de distribution
dnergie, le conducteur de retour de plusieurs
signaux dans une mme liaison courant faible, etc.
Voici un exemple (cf. fig. 13 ) permettant de
comprendre toute limportance de ce mode de
couplage : un courant perturbateur dans un circuit
A de lordre de la dizaine de mA suffit pour crer
dans un circuit B des tensions perturbatrices de
plusieurs volts. Le circuit de mesure devrait avoir
pour rfrence le point M et non le point A. Ceci
peut assurment tre gnant avec des
lectroniques circuits intgrs travaillant sous
des tensions du mme ordre de grandeur.
Dans cet exemple, limpdance commune peut
tre les quelques mtres dun cble commun
aux deux circuits A et B.
La perturbation a alors une valeur Uc, telle que
Uc = Ia Zc, avec :
c Ia : courant perturbateur,
c Zc : impdance commune (cf. fig. 14 ).
La valeur de limpdance commune est
gnralement extrmement faible en basse
frquence. Pour un rseau de terre par exemple,
3.4 Le couplage cble cble en mode diffrentiel ou diaphonie
La diaphonie est un mode de couplage qui se
rapproche du couplage champ cble. Et, selon
quelle a pour origine une variation de tension ou
une variation de courant, elle est nomme
diaphonie capacitive ou diaphonie inductive.
Une variation brusque de tension entre un fil et
un plan de masse ou entre deux fils (cf. fig. 15 )
gnre un champ qui peut tre faible distance,
moyennant certaines approximations, considr
Cahier Technique Schneider n 149 / p.12
Circuit A d'alimentation
A
Z commune
I alimentation
M
Circuit B de mesure
i1 i2
Z1 Zc Z2
Uc
Ia = i1 + i2
E1 E2
Circuit Circuit
alimentation mesure
Fig. 14 : schma d'impdance commune.
la scurit impose des valeurs minimales de
section des conducteurs de protection en fonction
du rgime du neutre. La valeur de limpdance
50 Hz entre deux points du rseau de masse est
donc toujours trs infrieure 1 .
Mais il importe ici de considrer la valeur de
cette mme impdance aux frquences caract-
ristiques des phnomnes perturbateurs dcrits
prcdemment. Et la valeur de cette impdance
prend alors des valeurs beaucoup plus impor-
tantes, plusieurs k voire plus (cf. annexe 1).
comme principalement lectrique. Ce champ peut
se coupler dans une autre structure filaire qui lui
est parallle. Cest la diaphonie capacitive.
De la mme manire, une variation de courant
dans un fil ou cble gnre un champ lectroma-
gntique qui, moyennant les mmes approxima-
tions, peut tre considr comme purement
magntique. Ce champ peut alors se coupler
dans une paire et induit une tension
perturbatrice. Cest la diaphonie inductive
(cf. fig. 16 ). C12
En fait, diaphonie capacitive et diaphonie
inductive interviennent ds que des conducteurs
ont un cheminement parallle et proche. Elles
sont donc susceptibles de sappliquer dans tout
chemin de cbles ou goulotte, et tout particuli- h
rement entre les cbles de puissance vhiculant
en mode diffrentiel des perturbations HF et les
paires de fils dun rseau vhiculant des R
signaux numriques. De plus, elles sont dautant
plus efficaces que la longueur des fils circulant h
paralllement est grande, que lcartement des V1
fils ou paires est faible, et que la frquence des
phnomnes est leve. Par exemple pour la
diaphonie capacitive et avec les notations de C20
la figure 15 , le coefficient de couplage, en e VN
tension, sexprime de la manire suivante :
C12
j 2f
VN C
12 + C 20 Fig. 15 : une variation brusque de tension V1 entre
= deux fils gnre un champ qui, faible distance, peut
V1 1
j 2f + tre considr comme principalement lectrique, et
( 12
R C + C 20 ) induire une tension VN dans une autre structure filaire
avec : qui lui est parallle ; ce mode de couplage est appel
c V1, tension source, diaphonie capacitive.
c VN, tension perturbatrice induite par le
couplage,
c C12, capacit de transfert entre les deux fils,
proportionnelle la longueur des fils et un
coefficient approch gal Log[1+(h/e)2] o h
est lcartement entre les deux fils de la paire, et
Cble
e lcartement entre les paires,
(puissance)
c C20, capacit de fuite entre les deux fils de la H
e
paire perturbe,
c R, impdance de charge de la paire perturbe. I
Dans cette formule le premier terme du
dnominateur est gnralement ngligeable par
rapport au deuxime terme. On peut donc crire
en premire approximation que :
Paire de fils
C12
(bas niveau)
VN C12 + C20
2f
V1 1 Fig. 16 : une variation de courant dans un cble
R (C12 + C20 ) gnre un champ lectromagntique qui, faible
= 2f R C12 distance, peut tre considr comme purement
magntique et induit alors une tension perturbatrice
= R C12 dans des fils formant une boucle ; ce mode de
Pour fixer les ides, considrons deux paires de couplage est appel diaphonie inductive.
fils cheminant paralllement sur 10 m, avec
h = 1 cm, e = 2 cm et R = 1 k. Le calcul donne
pour un signal 1 MHz, un coefficient de Dans la ralit, les couplages capacitifs et
couplage de -22 dB soit : inductifs de ce type sont considrablement
VN 1 rduits par lutilisation de paires torsades, voire
=
V1 12 blindes.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.13

4 La victime
La victime, dans la trilogie source/couplage/
victime, reprsente tout matriel susceptible
dtre perturb.
Il sagit gnralement dun quipement
comprenant une partie lectronique, qui
4.1 Les dfauts de fonctionnement
Ils sont classs en quatre types :
c permanent et mesurable,
c alatoire non rptitif survenant lors de
lapparition des perturbations,
c alatoire non rptitif persistant aprs
lapparition des perturbations,
c dfaut permanent subi par lquipement
(destruction de composant(s)).
Ces quatre types sont caractristiques de la
durabilit dun dfaut, mais ils ne caractrisent
pas sa gravit.
4.2 Des solutions
De nombreuses dispositions constructives
permettent davoir cots rduits des matriels
prsentant une bonne tenue aux perturbations
lectromagntiques. Ces prcautions
concernent :
c la conception des circuits imprims (leur
dcoupage fonctionnel, leur trac, leur
connectique),
c le choix des composants lectroniques,
c la ralisation des enveloppes,
c linterconnexion des masses,
c le cblage.
Ces choix concernent de nombreux
intervenants, ils doivent donc tre faits au stade
de ltude pour viter des surcots toujours
importants en cas de modifications en fin de
conception, voire aprs la mise sur le march.
La mise en uvre de toutes ces prcautions
demande un savoir-faire qui dpasse les actions
de filtrage et de blindage, souvent prconises
pour durcir un matriel aprs coup mme si leur
efficacit nest nullement remise en cause.
La conception des circuits imprims
Lors du dessin des cartes, un certain nombre de
rgles sont respecter. Ces rgles concernent
le dcoupage fonctionnel des cartes et le trac
des pistes.
Tout dabord limplantation, il est dj possible
de rduire les couplages entre composants dus
Cahier Technique Schneider n 149 / p.14
prsente un dysfonctionnement d la prsence
de perturbations lectromagntiques
gnralement d'origine extrieure
l'quipement.
La gravit dun dfaut est un critre dpendant
de la fonctionnalit, de la criticit de chaque
quipement.
Certains dfauts peuvent tre temporairement
accepts, telle une perte momentane
daffichage ; dautres sont inacceptables :
appareillage de scurit ne remplissant plus sa
fonction.
leur proximit ; par exemple le regroupement
des circuits par type : numrique - analogique -
puissance, en fonction de leur susceptibilit
rduit leurs interfrences.
D'autre part le trac des pistes (routage) sur un
circuit imprim a une incidence importante sur la
susceptibilit dune carte : le mme schma
lectrique, implant de diffrentes manires aura
une immunit aux perturbations pouvant varier
dun facteur un plusieurs dizaines. Par
exemple un trac des circuits langlaise
(cf. fig. 17 ) en retirant le minimum de cuivre
rduit leur rayonnement et leur sensibilit.
Le choix des composants lectroniques
De nombreux composants permettent dassurer
une protection efficace contre les perturbations
conduites. Le choix de ces composants est
guid par la puissance des circuits protger
(alimentation, contrle-commande,), et en
fonction du type de perturbations. Ainsi, contre
les perturbations de mode commun sur un circuit
de puissance, un transformateur sera utilis si
elles sont de basses frquences (< 1 kHz), et un
filtre sera prfr pour les hautes frquences.
Le tableau de la figure 18 donne une liste non
exhaustive de composants de protection. Tous
ne sont pas quivalents : un filtre ne protge pas
des surtensions, et un parasurtenseur nlimine
pas les perturbations HF.
La ralisation des enveloppes
La ralisation dune enveloppe conductrice
(blindage) autour des quipements sensibles est
un moyen de les protger contre les champs
lectro-magntiques.
Pour une bonne efficacit, l'paisseur du matriau
conducteur utilis doit dpasser la valeur de son
paisseur de peau aux frquences perturbatrices
considres (cf. fig. 19 ). Face une perturbation,
trs haute frquence ou un champ lectrique, un
vernis conducteur peut tre utilis avec efficacit.
Mais seule une enveloppe en matriaux forte
permabilit permet d'arrter les champs
magntiques en BF.

0 volt

Trac circuits fins Trac l'anglaise Trac avec plan de masse

Fig. 17 : le trac des circuits peut rduire la susceptibilit d'une carte : soit par minimisation des impdances (trac
l'anglaise), soit par rduction des couplages dus au champ lectromagntique (trac avec plan de masse).

Types Exemples Applications

Parasurtenseur Eclateur, parafoudre, limiteur
Varistance, diode Zener
Composants Transformateur, inductance,
pour filtrage condensateur, filtre
Composants Grillage, plan de masse,cble
pour blindage blind, joint hyperfrquence,
doigt de contact
Installation, alimentation, contrle-commande
Circuits lectroniques
Alimentation, contrle-commande
(installations et circuits lectroniques)
Transmission d'information
(armoire en site perturb)

Fig. 18 : liste de composants de protection.

Onde
incidente
Absorption Conductivit
( -1. m -1)

Rflexion

Transmission

1
Epaisseur
2 2
Epaisseur de l'enveloppe Epaisseur de peau : = de tle

Fig. 19 : phnomne cran d'une enveloppe mtallique.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.15

 L'interconnexion des masses
Dans ce domaine, la continuit lectrique entre
les diffrentes parties du botier est extrmement
importante. Leur connexion doit tre ralise
avec soin, par exemple en protgeant leurs
zones de contact de tout dpt de peinture, mais
aussi en utilisant des tresses larges et courtes
(recherche dune rduction maximale de leur
impdance).
Le cblage
De mme, le blindage des cbles, parfois appel
cran (cf. vocabulaire des cbliers), est une
extension de lenveloppe conductrice ralise
autour de lquipement sensible. Il est donc reli
celle-ci au plus court, et si possible sur toute
sa circonfrence pour une protection contre des
perturbations de frquences leves.
Tout comme les couplages entre un champ
lectromagntique et une structure filaire
(cf. paragraphe 3), la thorie sur le blindage des
cbles, trs complexe, est difficilement
abordable dans le cadre de ce document. Des
ouvrages de rfrence sont cits dans la
bibliographie.
Cahier Technique Schneider n 149 / p.16
La prise en compte de toutes ces rgles de
conception et de ralisation permet au produit ou
au systme davoir une immunit aux
perturbations lectromagntiques suffisante
compte tenu du milieu dans lequel il est plac.
Cependant, cette immunit ne peut tre valide
quexprimentalement par des mesures qui
permettent alors de quantifier lefficacit des
diffrentes solutions. Ainsi par exemple, chez
Merlin Gerin, les diffrentes maquettes des
projets de dclencheurs lectroniques des
disjoncteurs sont soumises un ensemble
dessais svres, reprsentatifs des
perturbations maximales auxquelles pourront
tre soumis ces dclencheurs.
Lobjectif final de ces essais tant de vrifier que
le dclencheur nengendre pas de
dclenchement intempestif et que le disjoncteur
ouvre bien, lorsquil le doit, dans le temps requis.
Les normes produits intgrent maintenant ces
contraintes, c'est le cas, par exemple des normes :
c CEI 60947-2, concernant les disjoncteurs
industriels,
c CEI 61131-2, relative aux automates
programmables.
5 Linstallation
5.1 Linstallation est un paramtre important dans la
CEM globale dun systme
Pour preuve, la norme NF C 15-100, norme
gnrale dinstallation en BT, consacre la
compatibilit lectromagntique un chapitre
complet, le chapitre 33.
5.2 A sa conception
Lors des tudes et des implantations deux
facteurs peuvent tout particulirement influencer
la CEM : le choix des matriels et leurs
dispositions relatives (cf. fig. 20 ).
Car le premier facteur concerne tout la fois la
slection des sources et des victimes : un
appareil choisi pour une fonction donne peut
tre plus ou moins gnrateur de perturbations
et/ou susceptible.
Par exemple, si deux appareils doivent fonc-
tionner proximit lun de lautre, ils devront :
c soit associer une source faiblement
perturbatrice et une victime ordinaire
(moyennement sensible),
Basse tension machines
tableau avec transformateur
de s paration
Machines
souder
Poste de livraison MT/BT,
tableau g n ral basse tension
Basse tension bureaux
tableau de distribution et
alimentation statique sans interruption
Fig. 20 : exemple d'une implantation d'quipements lectriques tenant compte de la CEM.
Les deux chapitres prcdents dmontrent bien
limportance que peut avoir linstallation dans les
phnomnes de CEM, et cela de par sa
conception comme de sa ralisation.
c soit au contraire associer une source
ordinaire (moyennement perturbatrice) et
une victime peu sensible,
c ou du moins satisfaire un compromis entre
ces deux extrmes.
Et le second facteur directement dpendant du
premier consiste positionner les matriels, dj
dfinis et selon leurs caractristiques relatives,
pour satisfaire aux besoins de CEM.
Il est ais de comprendre que cette slection
doit alors prendre en compte les cots des
matriels, mais aussi ceux de leur mise en
uvre.
Basse tension ateliers
tableau de distribution
Laboratoire
Fabrication
Service commercial
Service informatique
Cahier Technique Schneider n 149 / p.17
5.3 A sa ralisation
La mise en uvre des diffrents lments, dune
installation lectrique comme dun quipement
lectronique, obit aux principes dj noncs
dans les chapitres prcdents. Dans la pratique,
ce sont les diffrents modes de couplage
coexistant simultanment qui seront tudier et
rduire pour satisfaire aux objectifs de CEM.
5.4 Des exemples pratiques
Le maillage des circuits et des rseaux de
masses et de terre
Aujourdhui, les quipements sont sensibles
des nergies trs faibles, ils contiennent des
lectroniques sensibles aux hautes frquences
et ils sont interconnects. Les couplages par
impdance commune peuvent donc tre
frquents. Pour les viter, un rseau de terre
aussi quipotentiel que possible, pour tre plus
prcis maill, est indispensable.
Cette solution est lune des premires
protections prendre contre les perturbations.
Ainsi dans le rseau dune usine, tous les cbles
de protection (PE) sont interconnecter, relier
aux structures mtalliques existantes, comme le
prescrit la NF C 15-100 (cf. fig. 21 ).
De mme, dans un quipement, toutes les
masses et carcasses dappareillages sont
relier au plus court avec des raccords (fils ou
tresses) peu impdants en HF, larges et courts,
un rseau de masse maill.
Le cblage dune armoire lectrique en est un
exemple type : toutes les masses sont
interconnecter.
A ce sujet il faut noter un changement : le
principe des masses relies en toile, parfois
utilis avec les quipements lectroniques
analogiques sensibles la ronflette 50 Hz ,
est maintenant abandonn au profit des rseaux
PE
Fig. 21 : les maillages des circuits et des rseaux de masses et de terre sont trs souvent confondus dans les
armoires lectriques.
Cahier Technique Schneider n 149 / p.18
Et pour cela diffrentes solutions ou techniques
devront tre utilises :
c le maillage des circuits et des rseaux de
masses et de terre,
c la sparation lectrique des circuits,
c un cblage bien pens.
maills beaucoup plus efficaces contre les
perturbations pouvant affecter les dispositifs
numriques actuels, relais de protection et
systmes de contrle-commande.
La sparation lectrique des circuits
Cette technique consiste sparer les sources
dnergie (habituellement 50 ou 60 Hz). Son but
est dviter la perturbation dun quipement
sensible par les perturbations conduites
gnres par dautres quipements connects
la mme source dalimentation. Son principe : un
quipement sensible et un quipement
perturbateur ont deux alimentations spares
par des impdances importantes aux frquences
perturbatrices.
Les transformateurs (et non pas
autotransformateurs) sont des sparateurs
efficaces, particulirement pour les basses
frquences : transformateurs MT/BT,
transformateurs disolement, et tous les
transformateurs dentre sur les lectroniques
sont des limiteurs de propagation des
perturbations conduites.
Il est parfois ncessaire dimplanter un filtre
sparateur pour liminer les perturbations HF.
Si, de plus, lquipement sensible ncessite une
alimentation secourue en cas de dfaillance
M
PE
secteur, il pourra tre aliment par une
Alimentation Sans Interruption (ASI), dans la
mesure o cette ASI comporte le ou les
transformateurs disolement ncessaires.
Un cblage bien pens
Enfin, les trois mcanismes de couplage dcrits
prcdemment seront limits si les chemins de
cblage sont raliss selon les rgles suivantes :
c Tous les circuits ne pouvant pas tre spars
les uns des autres pour des raisons
conomiques videntes, les cbles doivent tre
regroups par catgorie. Le cheminement des
diverses catgories sera physiquement spar :
en particulier seront rassembls les cbles de
puissance dun ct, les cbles bas niveau
(tlphonie, contrle-commande, ) de lautre.
Si le nombre de tranches, de chemins de
cbles ou de goulottes le permet, les cbles de
puissance, dintensit dpassant quelques
ampres sous 230 V, et les cbles bas niveau
cheminent dans deux passages diffrents.
Sinon, une distance minimale est respecter
entre les deux catgories, de lordre dune
vingtaine de centimtres (cf. fig. 22 ). Entre ces
deux catgories sera soigneusement vit tout
lment commun.
Les circuits ncessitant des informations bas
niveau auront galement, autant que faire se
peut, leur propre fil de retour (0 volt) pour viter
les couplages par impdance commune. En
particulier, la plupart des systmes de
communication par bus ncessitent une paire de
fils strictement et exclusivement rserve
lchange des informations.
c Dans tous les cas, la surface globale dune
boucle, donc la distance entre un conducteur et
Cbles de puissance
d = quelques centimtres
Fig. 22 : un exemple de cheminement de cbles.
son retour, doit tre minimise. Pour la
transmission dinformations, le torsadage des
lignes permet encore de diminuer la
susceptibilit aux couplages de mode
diffrentiel. Lemploi de paires torsades est
donc privilgier devant celui de la simple paire.
c Les cbles de mesures, et de transmissions
dinformations faible niveau, doivent tre si
possible cran et, sauf prcision particulire du
fournisseur, leur cran est reli la masse en un
maximum de points.
c Les goulottes support du cheminement des
cbles doivent tre, dans la mesure du possible,
des goulottes mtalliques. Ces goulottes sont
interconnectes entre elles avec un contact
lectrique correct, par vis par exemple et
interconnectes avec le rseau maill de masse.
c Les cbles les plus sensibles, ceux de mesure
par exemple, sont placs dans un angle. Ils
bnficient ainsi dune protection accrue contre
les rayonnements lectromagntiques. Leur
cran, sil existe, est reli rgulirement la
goulotte.
Lutilisation des canalisations prfabriques dans
lesquels les cbles sont positionns et
connects correctement, comme les Canalis de
marque Tlmcanique avec cble de
tlcommande incorpor, est donc tout fait
prconise.
Toutes ces prcautions de cblage, trs
efficaces dans la prvention des problmes de
CEM, sont dun surcot faible au stade de la
conception de linstallation. Des modifications
aprs coup, sur une installation dj existante
avec des couplages lectromagntiques trop
forts, sont par contre dun cot nettement plus
important.
Fils de Conducteurs
contrle-commande de mesure
avec cran
d d
Cahier Technique Schneider n 149 / p.19
6 Normes, moyens dessais et essais
6.1 Les normes
Depuis longtemps, des textes normatifs rgissent
la compatibilit lectromagntique des matriels.
Les premires rglementations ont t dictes
par le Comit International Spcial des
Perturbations Radiolectriques (C.I.S.P.R.).
Elles limitaient essentiellement le pouvoir missif
des diffrents appareils, principalement pour
protger la transmission et la rception des
ondes radios.
Les comits nationaux, la Commission Electro-
technique Internationale (CEI) ont dict des
textes normatifs couvrant lensemble de la CEM,
mission et immunit, dans le domaine civil.
Les textes normatifs militaires sur la CEM sont
rassembls dans la GAM EG 13 en ce qui
concerne la France, et dans les normes
MIL-STD pour les Etats Unis.
Le fort dveloppement de la compatibilit
lectromagntique et lavnement de lEurope
ont modifi le paysage normatif civil.
Sur ce sujet le Conseil des Communauts
Europennes a publi en mai 1989 une Directive
Europenne, rfrence 89/336/CEE. Elle
concerne le rapprochement des lgislations des
tats membres relatives la compatibilit
lectromagntique.
En France, son application est rendue obligatoire
par le dcret n 92.587.
La Directive Europenne se proccupe non seu-
lement des limitations des perturbations lmis-
sion, mais galement de la tenue minimale aux
perturbations lectromagntiques ou immunit.
Ainsi cette Directive se rfre des normes qui
dfinissent des niveaux perturbateurs maximaux.
Des comits techniques, ont t crs par le
Comit Europen de Normalisation Electrotech-
nique (CENELEC). Ils ont rassembl les normes
existantes qui correspondent l'application de la
directive et rdig celles qui faisaient dfaut.
Les travaux du TC 210 se sont appuys sur les
pratiques du milieu industriel.
6.2 Les moyens d'essais
Comme expliqu prcdemment, le respect des
rglementations impose des mesures et des
essais, eux-mmes dfinis par des normes.
De par son mtier, la compatibilit
lectromagntique est depuis longtemps une
proccupation majeure de Schneider Electric.
Des moyens importants, comme une cage de
Faraday, taient utiliss ds les annes 1970.
Le centre d'essais Schneider dispose depuis de
nombreuses annes de deux laboratoires CEM.
Cahier Technique Schneider n 149 / p.20
Pour les mesures dmission, les normes
allemandes VDE 871 et VDE 875 ont pendant un
temps fait rfrence sur le sujet. Les textes nor-
matifs europens rcents EN 55011, EN 55022,
simposent maintenant. La norme CEI 61000
(anciennement CEI 1000) est la rfrence con-
cernant la CEM, elle comporte plusieurs parties :
c 61000-1 : Application - dfinitions,
c 61000-2 : Environnement - niveaux de
compatibilit,
c 61000-3 : Limite des perturbations,
c 61000-4 : Techniques dessai et de mesure.
c 61000-5 : Guides dinstallation et dattnuation
c 61000-6 : Normes gnriques
La partie 4 comporte de nombreuses sections
concernant les essais dimmunit, en particulier :
v 1 - gnralits,
v 2 - dcharges lectrostatiques,
v 3 - champs radio-frquence,
v 4 - transitoires lectriques en salves,
v 5 - ondes de choc de foudre,
v 6 - perturbations conduites > 9 kHz,
v 7 - harmoniques,
v 8 - champs magntiques 50 kHz,
v 9 - champs magntiques impulsionnels,
v 10 - champs magntiques oscillatoires amortis,
v 11 - creux de tension, coupures brves et
variation de tension,
v 12 - ondes oscillatoires,
v 13 - harmoniques et interharmoniques,
v etc...
Elles correspondent bien aux perturbations
typiques du monde lectrotechnique moderne.
Largement reconnues dans la communaut
internationale, ce sont celles que Schneider
applique pour ses produits. Le paragraphe
suivant prsente plus en dtail les essais
correspondant ces textes normatifs.
Ils sont les outils indispensables la
capitalisation et la diffusion de la comptence.
Ils sont prestataires de service pour des clients
extrieurs l'entreprise.
Ainsi, ils ralisent des essais dans tous les
domaines de la CEM :
c dcharges lectrostatiques,
c immunit conduite et rayonne,
c mission conduite et rayonne.
 Comme toute mesure, les mesures de
compatibilit lectromagntique doivent tre
reproductibles la fois dans le temps et dans
l'espace, c'est--dire que deux mesures
effectues dans deux laboratoires diffrents
doivent avoir les mmes rsultats.
Dans cette discipline, cela implique des moyens
trs importants, donc des investissements sub-
stantiels, et une dmarche Qualit rigoureuse.
La dmarche Qualit des laboratoires CEM de
Schneider, sappuie sur des manuels Qualit et
un ensemble de procdures. Ces procdures
concernent aussi bien les suivis dtalonnage, le
raccordement aux talons, que chaque type de
mesure lui-mme. La liste des essais normatifs
que peuvent raliser les laboratoires est en
annexe 3.
Concrtisant cette dmarche Qualit :
c le laboratoire Grenoblois est accrdit par le
COFRAC (COmit FRanais d'ACcrditation),
c le laboratoire de Nanterre est accrdit par
l'ASEFA (Association des Stations d'Essais
Franaises d'Appareils lectriques).

6.3 Les essais

Dcharges lectrostatiques
Ces essais sont destins tester limmunit des Tension
cartes, quipements et systmes aux dcharges (kV)
lectrostatiques. 16
Les dcharges lectrostatiques rsultent des 15
charges accumules par un individu, par 14
exemple en marchant sur un sol isolant. Quand 13 Synthtique
cet individu touche un matriel conducteur reli 12
par une impdance la masse, il se dcharge 11
brusquement travers celui-ci. Plusieurs tudes 10
ont montr que la forme donde dpend des 9
caractristiques de la source et des circuits de 8
dcharge, mais aussi dautres paramtres, humi- 7
dit relative de lair (cf. fig. 23 ), vitesse dappro- 6
che du corps charg, ici la main de lhomme, etc. 5 Laine
4
Ces tudes ont dbouch sur des essais de
3
dcharges types. Ils sont raliss laide dun
gnrateur (pistolet) qui simule lhomme, dans 2
1 Antistatique
des configurations dtermines (cf. fig. 24 ).
Les dcharges sont appliques sur toutes les 0
5 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
parties accessibles de lappareil contrler, sur Humidit relative (%)
son environnement immdiat, et sont rptes
un nombre de fois suffisant pour garantir une Fig. 23 : influence de l'humidit relative de l'air sur la
tenue statistique. Ces mesures ncessitent donc tension de dcharge lectrostatique en fonction du
un stand appropri. revtement de sol.

;;;;;;;;;;;;;;;;;;
Plans conducteurs Equipement sous test

;;;;;;;;;;;;;;
;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;
Pistolet

;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;
Rseau

;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;
Table isolante

Rsistances 470 k
Isolant

;;;;
Alimentation

Plan de masse de rfrence

;
Fig. 24 : site d'essais de dcharge lectrostatique dfini par la norme CEI 61000-4-2.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.21

 Tous ces essais sont parfaitement dfinis par la
norme CEI 1000-4-2 avec les niveaux de
svrit du tableau de la figure 25 .
Niveaux de Tension d'essai en kV
Immunit conduite svrit selon 10 %
Ces essais permettent de qualifier la tenue dun la norme Dcharge Dcharge
appareil aux perturbations amenes par le dans l'air au contact
cblage extrieur de cet appareil (entres, 1 2 2
sorties, et alimentation). Comme il a t expliqu 2 4 4
prcdemment ces perturbations sont diffrentes 3 8 6
suivant la nature, et linstallation des cbles. 4 15 8
Les signaux lectromagntiques ou transitoires
retenus dans ces essais ont pour
caractristiques (amplitude, forme donde, Fig. 25 : tensions de dcharge lectrostatique devant
frquence, ) des valeurs typiques. tre supportes par des matriels selon la
Des mesures de perturbations effectues sur de CEI 61000-4-2.
nombreux sites ont permis de dgager
principalement trois essais types :
c Le premier essai, CEI 61000-4-4, est
caractristique des perturbations induites par les a)
manuvres dappareillage de commande.
u
Il considre des transitoires lectriques rapides
en salves. Ces salves se rptent une
frquence de 3 Hz. Chaque salve est constitue
dune centaine de transitoires espacs denviron
100 s. Chaque transitoire a un front de monte
trs raide, 5 ns, avec une amplitude de 15 ms t
plusieurs kV, variable suivant les svrits
300 ms
demandes (cf. fig. 26 et 27 ).
Tous les cbles peuvent tre soumis des
b)
transitoires rapides. Ce type de perturbations se
couple en effet trs facilement, par exemple par u
diaphonie (cf. chapitre Le couplage ), et il
suffit donc quun cble gnre cette perturbation
pour que tous ceux circulant dans le mme
chemin de cbles y soient soumis.
Lessai est donc fait sur tous les cbles : en 5 ns t
mode commun sur ceux o la perturbation est a
100 s
priori induite (en loccurence les cbles autres
que lalimentation), en mode commun et en
mode diffrentiel sur les cbles relis au secteur.
Les perturbations sont injectes sur les cbles Fig. 26 : allure des salves (a) et des transitoires
tests soit par couplage capacitif direct dans le cas rapides qui les composent (b).

Niveaux de Tension d'essai applique ( 10 %) en kV sans altration du fonctionnement

svrit selon (sortie en circuit ouvert)
la norme Sur le circuit d'alimentation Sur les lignes d'entre et de sortie
(de signal, donnes, et commande)
1 0,5 0,25
2 1 0,5
3 2 1
4 4 2
x spcial spcial
Le niveau x est un niveau dfini contractuellement entre un fabricant et son client.

Fig. 27 : tableau des niveaux de svrit dfinis par la CEI 61000-4-4.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.22

Fig. 28 : mesure de l'immunit aux transitoires rapides d'une centrale Isis (test 61000-4-4) dans une cage de
Faraday. Sur cette photo sont visibles : le gnrateur de perturbation manipul par l'oprateur, la valise en bois
contenant la pince de couplage et la centrale Isis ( gauche) raccorde au rseau Batibus.
des alimentations, soit laide dune pince de
couplage, deux plaques mtalliques enserrant
les cbles secondaires (cf. fig. 28 ). Lappareil
test ne doit pas prsenter de
dysfonctionnement pendant une dure
dtermine (1 mn).
Cet essai est le plus significatif de limmunit
dun quipement car les transitoires rapides sont
les plus frquents.
c Le deuxime essai ralis est caractristique
des effets secondaires de la foudre. Il est
reprsentatif des perturbations conduites
circulant sur le rseau BT aprs un coup de
foudre sur une ligne (norme CEI 61000-4-5).
Ces perturbations sont caractrises par une
nergie, aussi se traduisent-elles par :
v des ondes de tension 1,2 s - 50 s si
limpdance prsente par lappareil test est
leve, lamplitude pouvant atteindre plusieurs
kV, voir figure 29 pour les tensions dessai
prconises par la norme.
v des ondes de courant 8 s - 20 s si cette
mme impdance est faible, lamplitude
atteignant alors plusieurs kA.
Le front de monte de ces perturbations est mille
fois plus long, de lordre de la microseconde, que
celui des transitoires rapides en salves
(cf. fig. 26). Le couplage dessai est ralis
capacitivement, en mode commun et en mode
diffrentiel avec des niveaux appropris. Sa
procdure est semblable celle de lessai aux
transitoires rapides : lappareil ne doit pas
prsenter de dysfonctionnement.
Niveaux de svrit Tension d'essai de sortie
selon la norme en circuit ouvert (kV)
1 0,5
2 1
3 2
4 4
x spcial
x est un niveau dfini contractuellement entre
un fabriquant et son client.
Fig. 29 : niveaux en fonction des svrits dfinies par
la norme CEI 61000-4-5
(impdance du gnrateur = 2 ).
c Le troisime essai ralis selon la norme
CEI 61000-4-6, se rapporte aux prescriptions
relatives l'immunit des matriels aux
perturbations HF sur les cbles, dans la plage de
150 kHz 80 MHz (voire 230 MHz).
Les sources de perturbations sont des
champs lectromagntiques qui peuvent
affecter la longueur totale des cbles raccords
ces matriels et y induire des tensions et
courants.
Au cours de l'essai, les perturbations sont
couples aux cbles par l'intermdiaire de
Rseaux de Couplage-Dcouplage (RCD) dont
l'impdance en mode commun, gale 150
reprsente l'impdance caractristique de la
majorit des cbles. Toutefois, il faut noter qu'au
cours de l'essai, les perturbations ne sont
Cahier Technique Schneider n 149 / p.23
 appliques qu' un cble la fois, alors qu'en
ralit le champ lectromagntique illumine tous
les cbles connects. Cela constitue une
diffrence notable laquelle on ne peut pas
chapper. En effet, cela rendrait l'essai trs
complexe et excessivement onreux que de
coupler des signaux HF sur tous les cbles
simultanment.
Lorsque les RCD ne sont pas adapts, par
exemple quand l'intensit du courant est trop
leve, on utilise des pinces de couplage.
Les perturbations HF, prconises par la norme
CEI 61000-4-6 ont des niveaux de 1, 3 ou
10 volts. Elles sont modules en amplitude
80 % par une onde sinusodale 1 kHz.
Avant l'essai, le signal injecter pour obtenir le
bon niveau de perturbation est calibr et
mmoris, puis appliqu sur les cbles
normalement connects au matriel en essais.
c Le quatrime essai consiste effectuer des
interruptions brves et/ou des creux de tension
sur les cbles dalimentation des quipements
en essais. La norme CEI 61000-4-11 est la
publication fondamentale de rfrence.
Ces perturbations sont provoques par des
dfauts du rseau dalimentation, de linstallation
ou par des changements brusques et importants
de la charge. Ces phnomnes, de nature
alatoires, sont caractriss en terme de
dviation partir de la tension assigne et en
terme de dure.
Les niveaux des creux sont gaux 30, 60 ou
100 % (coupure) de la tension assigne. Leurs
dures peuvent tre comprises entre 0,5 et 50
priodes.
c Le cinquime essai est ralis en conformit
avec la norme CEI 61000-4-12 qui dfinit deux
types dondes :
v les ondes sinusodales amorties (connues
galement sous le nom de ring waves ) qui
apparaissent de manire isole sur les cbles
basse tension des rseaux publics ou privs
suite des manuvres,
v les ondes oscillatoires amorties qui se
prsentent sous la forme de salves. Ces
dernires se manifestent gnralement dans des
postes, des centrales, ou encore de grandes
installations industrielles, notamment suite des
manuvres de sectionneurs accompagnes de
ramorages darc.
Les tensions et courants transitoires rsultant de
ces manuvres se caractrisent par une
frquence doscillation qui dpend des temps de
propagation et de la longueur des jeux de barres
sur lesquels apparaissent ces ondes. Cette
frquence varie entre 100 kHz et quelques MHz
pour des postes haute tension ouverts, et peut
Cahier Technique Schneider n 149 / p.24
atteindre la dizaine de MHz, voire davantage,
pour des postes haute tension blinds.
Au cours des essais, les ondes sont couples
aux cbles par lintermdiaire de rseaux de
couplage-dcouplage. Selon le mode dinjection,
lamplitude des perturbations peut varier entre
0,25 et 4 kV. Les matriels dits de table sont
disposs sur un support isolant, alors que les
matriels de sol ou en armoires sont isols
du plan de masse dune distance de 0,1 m.
Immunit rayonne
Les essais d'immunit rayonne permettent de
garantir le bon fonctionnement des appareils
lorsquils sont soumis des champs
lectromagntiques.
Ces essais tant particulirement sensibles
lenvironnement, les moyens et les comptences
mettre en uvre pour raliser des mesures
fiables et reproductibles d'immunit rayonne
sont importants.
Le milieu ambiant doit tre suffisamment propre
pour ne pas tre gn par les ondes de toutes
faons existantes, car (comme voqu au
chapitre La source ) des champs
lectromagntiques entretenus de plusieurs V/m
sont frquents, tels ceux gnrs par des
talkies-walkies, et des champs impulsionnels
damplitude plus leve encore existent en
milieu industriel. Ces essais sont donc raliss
dans des cages de Faraday dont les parois sont
recouvertes dabsorbants hyperfrquence. Ces
cages sont qualifies danchoques lorsque
toutes les parois y compris le plancher sont
recouvertes, et de semi-anchoques lorsque le
plancher ne lest pas.
Dans ces cages, les champs sont gnrs par
diffrentes antennes suivant les types de champ,
les gammes de frquence et les polarisations
(cf. fig. 30 ci-contre). Ces antennes sont
alimentes partir dun gnrateur vobul dont
le signal passe par un amplificateur de
puissance large bande.
Les champs gnrs sont calibrs laide de
capteurs isotropiques large bande : le schma
de la figure 31 ci-contre prsente une
disposition typique de test.
Des normes prcisent les limites de perturbations
acceptables, ainsi la norme CEI 61000-4-3
prconise des essais sur la bande de frquences
80 MHz 2000 MHz avec trois niveaux de
svrit (1, 3, 10 V/m), et sur les bandes
800 MHz 960 MHz et 1,4 GHz 2 GHz avec
quatre niveaux de svrit 1, 3, 10 et 30 V/m.
Des essais dimmunit au champ magntique
la frquence du rseau sont galement effectus
conformment la norme CEI 61000-4-8. Ce
champ magntique est engendr par le courant
circulant dans les cbles, ou plus rarement par
dautres appareils situs proximit, tel le flux
de fuites de transformateurs.
Les niveaux dessais de champ permanent ont
des intensits comprises entre 1 et 100 A/m,
alors que ceux de champ de courte dure de 1
3 s ont des intensits de 300 ou 1000 A/m.
Le champ magntique est obtenu par la
circulation dun courant dans une bobine
dinduction. Il est appliqu au matriel en essai
selon la mthode par immersion, cest dire quil
est plac au centre de la bobine. Cet essai ne
doit tre effectu que pour des matriels qui
contiennent des dispositifs sensibles au champ
magntique (crans cathodiques, capteurs
effet Hall, ).
En ce qui concerne l'immunit en champ
lectrique impulsionnel, tel que celui qui est
observ proximit des ouvrages HT, il nexiste
pas de mesures normalises.
Dans ce domaine, les matriels Schneider sont
donc tests suivant des procdures internes.

Fig. 30 : la cage de Faraday semi-anchoque et quelques antennes d'un laboratoire CEM de Schneider Electric.

Cage de Faraday
semi-anchoque

Rseau
Antenne
Equipement Amplificateur
sous test 1 kW
large bande
Filtre (victime)

10 kHz Gnrateur
RF
2 GHz

Fig. 31 : disposition typique de test dans une cage de Faraday. Les mesures se font en deux tapes :
1 - calibrage du champ pour une gamme de frquences donne, en l'absence d'quipement,
2 - vrification de l'immunit de l'quipement.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.25

 Emission conduite
Les mesures dmission conduite quantifient le
niveau des perturbations rinjectes par lappa-
reil test sur tous les cbles qui lui sont relis. Le
niveau de ces perturbations dpend troitement
de la charge haute frquence qui est connecte
aux cbles, lappareil en essai tant alors
considr comme le gnrateur (cf fig. 32 ).
Pour effectuer des mesures reproductibles et en
particulier viter les problmes lis limpdance
caractristique du rseau, les mesures
dmission conduite sont ralises laide dun
Rseau Stabilisateur dImpdance de Ligne
(RSIL). Un appareil de mesure, en fait un
rcepteur Haute Frquence, est connect ce
RSIL, il permet de quantifier le niveau pour
chaque frquence. Le niveau de perturbations
rinjectes ne doit pas excder les limites fixes
par les normes, limites qui dpendent du type de
cbles et de lenvironnement. Le relev suivant
(cf. fig. 33 ) prsente un rsultat obtenu sur un

Cage de Faraday
semi-anchoque

Rseau stabilisateur
d'impdance de ligne
Equipement Rseau
sous test
(source) Filtre

Appareil
de mesure

Fig. 32 : configuration de mesure d'mission conduite. L'EST - Equipement Sous Test - est considr comme un
gnrateur, le RSIL comme une charge.

Capteur : RSIL
Tension mesur e (dB V)

Pas de pr ampli
100 R cepteur : ESH3
D tecteur : cr te
Bande passante : 10 kHz
Pas lin aire : .0050 MHz
Temps de mesure : .1000 s.
X : NFEN55022 A QC Limiteur dimpulsion
80

Y : NFEN55022 A AV

60

40

20

0,34 0,73 1,1 1,5 5,4 9,2 13 30

Laboratoire CEM Schneider Fr quence (MHz)

Fig. 33 : mesures des missions radiolectriques d'une centrale de traitement de l'information d'un Tableau
Gnral Basse Tension - TGBT -.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.26

 TGBT (Tableau Gnral Basse Tension) et sa
comparaison la norme EN 55 022.
Emission rayonne
Les mesures dmission rayonne quantifient le
niveau des perturbations mises par un appareil
sous forme dondes lectromagntiques.
Tout comme pour les essais d'immunit
rayonne, les mesures dmission rayonne ne
doivent pas tre altres par les ondes dj
existantes, CB, radio, etc. De mme, ces
mesures ne doivent pas tre modifies par les
rflexions des ondes sur des obstacles
environnants. Ces deux contraintes sont
antinomiques et de ce fait coexistent deux
mthodes de mesure.
La premire mthode consiste se placer en
champ libre, plus prcisment sans aucun
obstacle dans un primtre donn : le milieu
ambiant est alors ce quil est.
La deuxime mthode consiste se placer dans
une cage de Faraday ; les rflexions sur les
parois de la cage sont volontairement diminues
par la prsence dabsorbants hyperfrquence
(cf. fig. 30) : le milieu est alors parfaitement
matris.
Les laboratoires Schneider exploitent la
deuxime mthode. Elle a comme important
avantage de permettre lautomatisation de la
mesure, et de limiter le nombre de dplacements
dun appareil, car les mesures dmission et
d'immunit peuvent tre ralises sur le mme
site moyennant quelques amnagements. Tout
7 Conclusion
Lintroduction de llectronique dans un grand
nombre dapplications, et notamment dans les
appareillages lectrotechniques, oblige
prendre en compte une contrainte nouvelle : la
compatibilit lectromagntique -CEM- . Assurer
un bon fonctionnement en milieu perturb et ne
pas tre euxmmes des perturbateurs sont des
impratifs de qualit de ces produits.
Ces deux impratifs ncessitent une
comprhension de phnomnes complexes, au
niveau de la source, des couplages, et au niveau
de la victime. Ils obligent respecter un certain
nombre de rgles dans la conception,
lindustrialisation et la ralisation des produits.
comme pour lmission conduite, les niveaux
dmission rayonne doivent tre infrieurs
des limites fixes par un cahier des charges ou
une norme.
Mesure de champ impulsionnel
Les essais normatifs permettent de mesurer
lmis-sion et de tester l'immunit des appareils
ou systmes aux principales perturbations
lectroma-gntiques rencontres dans les
milieux industriels.
Cependant, lenvironnement des matriels
dvelopps par le Groupe Schneider prsente
quelques caractristiques encore mal prises en
compte par les textes normatifs.
Il nexiste pas encore, par exemple, de
procdures de test CEM spcifiques aux
matriels placs dans les postes moyenne
tension. Cest pourquoi Schneider a men des
campagnes de mesure pour mieux connatre les
perturbations typiques dans lenvironnement de
ses matriels, principalement la proximit
dappareillage basse tension, moyenne tension
et trs haute tension.
Dans une deuxime phase, des essais internes,
avec des moyens dessais spcifiques, ont t
mis au point. Ils permettent de tester la
compatibilit lectromagntique des matriels
sans avoir procder des essais en vrai
grandeur. Les essais sont ainsi mieux reproduc-
tibles et moins coteux. Ils sont alors raliss au
plus tt dans la conception, ce qui permet dopti-
miser les protections CEM au moindre cot.
Le site et linstallation jouent galement un grand
rle dans la CEM. Do la ncessit de penser
ds les premires tudes la disposition
architecturale des lments de puissance, aux
passages de cbles, aux blindages Et, avec
des matriels ayant une bonne CEM, une
installation bien ralise apporte des marges
importantes de compatibilit.
Seules des mesures ncessitant des comp-
tences et des matriels sophistiqus permettent
de quantifier la CEM de diffrents matriels.
Le respect des normes permet ainsi lassurance
du bon fonctionnement dun appareil dans son
environnement lectromagntique.
Cahier Technique Schneider n 149 / p.27
Annexe 1 : impdance dun conducteur
en haute frquence
Le niveau de CEM dans un quipement est
fonction des couplages entre les circuits, ces
couplages tant eux-mmes directement
fonction des impdances entre ces circuits,
particulirement en hautes frquences. Pour
amliorer la CEM, il convient donc de connatre
puis rduire ces impdances.
Il existe un certain nombre de formules appro-
ches permettant de dterminer limpdance en
haute frquence des principaux conducteurs
utiliss. Ces formules sont lourdes et leur prci-
sion nest quillusoire si la position prcise de
chaque lment nest pas parfaitement dfinie.
Or qui connait la position exacte dun fil par
rapport un autre dans un chemin de cbles ?
En fait la rponse est donne par lexprience de
ces phnomnes jointe la connaissances des
rgles thoriques lmentaires de llectricit.
Tout dabord il est important davoir lesprit que
limpdance dun conducteur est principalement
fonction de sa partie selfique, prpondrante
partir du kHz pour un cble standard. Ainsi, pour
un cble fictif infini dans lair, sa valeur de self
inductance linique varie de manire
logarithmique avec le diamtre, donc trs
faiblement : pour des cbles dont la longueur
nexcde pas le quart de la longueur donde de
a)
Z1
c)
Z3
Fig. 34 : suivant les diffrents cas :
a : cble dans l'air (L 1 H/m),
b : cble plaqu sur une surface mtallique,
c : treillis mtallique avec contact chaque croisement (par exemple fer bton soud),
d : plan mtallique,
et pour une mme longueur, les impdances liniques sont dans l'ordre Z1 > Z2 > Z3 > Z4.
Cahier Technique Schneider n 149 / p.28
la perturbation prise en compte, une valeur de
lordre du H par mtre quel que soit le diamtre
peut tre retenue (cf. fig. 34 ).
Si le cble est correctement plaqu sur un plan
conducteur, cette valeur est fortement diminue.
Elle dpend alors de la distance entre le cble et
le plan. Des gains de 10 dB sur la valeur de la
self inductance sont ainsi facilement obtenus.
Aux plus hautes frquences, ce cble doit tre
considr comme une ligne de transmission, et la
grandeur importante est alors son impdance
caractristique (de lordre de la centaine dohms).
Avec ces considrations, une self inductance
commune de plusieurs H est facilement atteinte,
avec quelques mtres de fil vert-jaune par
exemple. Ceci reprsente donc plusieurs ohms
1 MHz, et plusieurs centaines dohms 100 MHz.
En conclusion, le plan mtallique conducteur
est le moyen de relier lectriquement deux
points avec limpdance la plus faible. Et ce,
quelle que soit son paisseur ds lors quelle est
suprieure lpaisseur de peau (415 m pour
le cuivre 10 kHz).
Ainsi, une plaque de cuivre prsente une self de
0,6 nH 10 kHz, soit une impdance par carr
de 37 , (l'impdance reste la mme quelle
que soit la surface du carr considr).
b)
Z2
d)
Z4
Annexe 2 : les diffrentes parties dun cble

Les termes employs pour distinguer les c prvenir les effets des champs lectriques
diffrentes parties dun cble changent quelque externes et internes,
peu de signification selon la destination du cble c assurer lcoulement du courant capacitif ainsi
(cble de transport dnergie, cble de transport que du courant de dfaut terre (court-circuit
dinformations tlphoniques ou de homopolaire),
contrle-commande), (cf fig. 35 ). c assurer la protection des personnes et du
Les dfinitions notes en italique sont celles de matriel en cas de perforation. Pour cela il est
la CEI. gnralement mtallique et continu (tube de
Armure : protection mcanique du cble, plomb, nappe ou tresse de fils, ou rubans poss
gnralement constitue de deux feuillards en en hlice).
acier doux enrouls en hlice. Pour les cbles vhicules dinformations, lcran,
Pour les cbles destins au transport plus souvent appel blindage, est constitu de
dinformations, elle peut galement avoir un rle rubans ou nappes de fils, en cuivre ou en
lectrique, tenir lieu de blindage lectrostatique aluminium, enrouls pour raliser un blindage
et plus souvent de blindage lectromagntique. contre les influences lectriques et magntiques.
Blindage : synonyme dcran, matriau labor Il peut tre collectif, pour lensemble des
et destin rduire lintensit de rayonnement conducteurs composant le cble, lorsque les
pntrant dans une rgion. influences perturbatrices sont extrieures.
Larmure ou lcran dun cble, quil soit destin Il peut tre individuel, pour un certain nombre de
au transport dnergie ou dinformations, peuvent conducteurs du cble, afin de les protger des
constituer des blindages. influences des autres conducteurs de ce mme
Ecran : dispositif utilis pour rduire la cble.
pntration dun champ dans une rgion Gaine : enveloppe ayant pour rle dassurer
dtermine. ltanchit du cble.
Plusieurs fonctions sont remplies par cet
lment :
c crer une surface quipotentielle autour de
lisolant,

Exemple dun cble tlphonique Exemple dun cble de transport dnergie

moyenne tension
Gaine (PVC) Gaine (PVC)

Armure
Armure (2 feuillards acier)
(2 feuillards acier)
Matelas (papier)
Gaine intrieure
(PVC) Ecran mtallis
(cuivre)
Ecran mtallis
(aluminium) Ruban conducteur

Ame (fil de cuivre)

Isolation (PVC)
Gaine de bourrage
Ame
(fil de cuivre) Isolation (PVC)
Fig. 35

Cahier Technique Schneider n 149 / p.29

Annexe 3 : essais raliss par les laboratoires CEM
de Schneider Electric
Les laboratoires CEM de Schneider Electric ont
les comptences et le matriel ncessaires pour
raliser des essais conformment de
nombreuses normes ou des spcifications
particulires.
Le client, interne ou externe l'entreprise, est
assist s'il le souhaite par les spcialistes des
laboratoires dans la recherche des normes et
Essais normatifs
Il serait fastidieux de tous les citer, d'autant plus
que lvolution du paysage normatif est trs
rapide notamment concernant les normes de
produits. Nous indiquons ci-aprs les principaux
textes de rfrence pour la conduite des essais.
Immunit
c CEI 61000-4-2 [= EN 61000-4-2
= NF EN 61000-4-2 (NF C 91-004-2)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 4-2 : techniques dessai et de mesure -
essai dimmunit aux dcharges lectrostatiques
c CEI 61000-4-3 [= EN 61000-4-3
= NF EN 61000-4-3 (NF C 91-004-3)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 4-3 : Techniques dessai et de mesure -
essai dimmunit aux champs
lectromagntiques rayonns aux frquences
radiolectriques
c CEI 61000-4-4 [= EN 61000-4-4
= NF EN 61000-4-4 (NF C 91-004-4)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 4-4 : techniques dessai et de mesure -
essais dimmunit aux transitoires lectriques
rapides en salves
c CEI 61000-4-5 [= EN 61000-4-5
= NF EN 61000-4-5 (NF C 91-004-5)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 4-5 : techniques dessai et de mesure -
essai dimmunit aux ondes de choc
c CEI 61000-4-6 [= EN 61000-4-6
= NF EN 61000-4-6 (NF C 91-004-6)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 4-6 : techniques dessai et de mesure -
immunit aux perturbations condui-tes, induites
par les champs radiolectriques
c CEI 61000-4-8 [= EN 61000-4-8
= NF EN 61000-4-8 (NF C 91-004-8)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 4-8 : techniques dessai et de mesure -
essai dimmunit au champ magntique la
frquence du rseau
Cahier Technique Schneider n 149 / p.30
svrits applicables son matriel. Il lui
incombe aussi de dfinir quels sont les critres
fonctionnels d'acceptabilit, soit en rfrence
aux normes rgissant son produit, soit dfaut
de normes selon les impratifs d'utilisation du
produit (scurit, continuit de service,
confort ).
c CEI 61000-4-11 [= EN 61000-4-11
= NF EN 61000-4-11 (NF C 91-004-11)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 4-11 : techniques dessai et de mesure -
essais dimmunit aux creux de tension, coupures
brves et variations de tension
c CEI 61000-4-12 [=EN 61000-4-12
= NF EN 61000-4-12 (NF C 91-004-12)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 4-12 : Techniques dessai et de mesure
Essai dimmunit aux ondes oscillatoires
c CEI 61000-6-1 [=EN 61000-6-1
= NF EN 61000-6-1 (NF C 91-006-1)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 6-1 : Normes gnriques
Immunit pour les environnements rsidentiels,
commerciaux et de lindustrie lgre
c CEI 61000-6-2 [=EN 61000-6-2
= NF EN 61000-6-2 (NF C 91-006-2)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 6-2 : Normes gnriques
Immunit pour les environnements industriels
Emission
c CISPR 11
[= EN 55011 = NF EN 55011 (NF C 91-011)]
Limites et mthodes de mesure des carac-
tristiques de perturbations radiolectriques des
appareils industriels, scientifiques et mdicaux
(ISM) frquence radiolectrique
c CISPR 14
[= EN 55014 = NF EN 55014 (NF C 91-014)]
Limites et mthodes de mesure des
perturbations radiolectriques produites par les
appareils lectrodomestiques ou analogues
comportant des moteurs ou des dispositifs
thermiques, par les outils lectriques et par les
appareils lectriques analogues (partie mission
conduite)
c CISPR 22
[= EN 55022 = NF EN 55022 (NF C 91-022)]
 Limites et mthodes de mesure des
caractristiques de perturbations
radiolectriques produites par les appareils de
traitement de linformation
c CEI 61000-6-3
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 6 : Normes gnriques
Section 3 : sur l'mission pour les
environnements rsidentiels, commerciaux et de
l'industrie lgre
c CEI 61000-6-4
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Partie 6 : Normes gnriques
Section 4 : sur l'mission pour les
environnements industriels
c EN 50081-1
[= NF EN 50081-1 (NF C 91-081-1)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Norme gnrique mission
Partie 1 : rsidentiel, commercial et industrie
lgre
c EN 50081-2
[= NF EN 50081-2 (NF C 91-081-2)]
Compatibilit lectromagntique (CEM)
Norme gnrique mission
Partie 2 : environnement industriel
Essais hors normes
Dans le cadre de leurs possibilits et de leurs
comptences, les laboratoires peuvent effectuer
des essais conformment dautres textes.
Normes spcifiques
c Centres de tlcommunications
I 12-10, 1993
dite par le Comit des Spcifications des
Equipements (CSE) France Tlcom.
Environnement lectromagntique des
quipements des centres.
(partie immunit aux perturbations rayonnes et
partie perturbations rayonnes et conduites)
c Militaires
GAM - EG -13
essais gnraux en environnement des
matriels
fascicules 62 et 63
c MIL STD 461/462
Electromagnetic emission and susceptibility
requirements for the control of electromagnetic
interference
Cahier Technique Schneider n 149 / p.31
Annexe 4 : bibliographie

Normes Publications diverses

c CEI 60364, NF C 15-100 : Installations
lectriques basse tension.
c CEI 61000-2 :
Compatibilit lectromagntique (CEM).
Partie 2 : Environnement.
Section 1 : Description de lenvironnement -
Environnement lectromagntique pour les
perturbations conduites
Section 2 : niveaux de compatibilit pour les
perturbations conduites basse frquence et la
transmission de signaux sur les rseaux publics
dalimentation a basse tension
Partie 4 : Techniques dessai et de mesure.
Partie 6 : Normes gnriques.
c NF EN 55011, CISPR 11 (Comit International
Spcial des Perturbations Radiolectriques) :
Appareils industriels, scientifiques et mdicaux
(ISM) frquence radiolectrique.
Caractristiques de perturbations
radiolectriques. Limites et mthodes de
mesure.
c NF EN 55022, CISPR 22
Limites et mthodes de mesure des
caractristiques de perturbations
radiolectriques produites par les appareils de
traitement de linformation.
c Compatibilit lectromagntique - bruits et
perturbations radiolectriques -
P. DEGAUQUE et J. HAMELIN
Dunod diteur
c Compatibilit lectromagntique
M. IANOVICI et J.-J. MORF
Presses Polytechniques Romandes
c La compatibilit lectromagntique
A. KOUYOUMDJIAN, avec R. CALVAS et
J. DELABALLE
Institut Schneider Formation
Fvrier 1996, rf. MD1CEM1F
c Les harmoniques et les installations
lectriques
A. KOUYOUMDJIAN
Institut Schneider Formation
Avril 1998, rf. MD1HRM1F
c RGE n 10 consacr la compatibilit
lectromagntique
Novembre 1986.

Cahiers Techniques Schneider Electric

c Les perturbations lectriques en BT
Cahier Technique n 141
R. CALVAS
c Disjoncteurs au SF6 Fluarc et protection des
moteurs MT
Cahier Technique n 143
J. HENNEBERT et D. GIBBS
c Coexistence courants forts - courants faibles
Cahier Technique n 187
R. CALVAS et J. DELABALLE

Cahier Technique Schneider n 149 / p.32

 2001 Schneider Electric

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F-38050 Grenoble cedex 9
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XXXXX 12-01