Cispr 16-1-3-2016

®
CISPR 1 6-1 -3
Edition 2.1 201 6-03
CONSOLIDATED
VERSION
VERSION
CONSOLIDÉE colour
i n si de
INTERNATIONAL SPECIAL COMMITTEE ON RADIO INTERFERENCE

COMITÉ INTERNATIONAL SPÉCIAL DES PERTURBATIONS RADIOÉLECTRIQUES
Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and

methods –
Part 1 -3: Radio disturbance and immunity measuring apparatus – Ancillary
equipment – Disturbance power
Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques –
Partie 1 -3: Appareils de mesure des perturbations radioélectriques et de
l'immunité aux perturbations radioélectriques – Matériels auxiliaires – Puissance
perturbatrice
CISPR 1 6-1 -3:2004-06+AMD1 :201 6-03 CSV(en-fr)
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CISPR 1 6-1 -3
®
Edition 2.1 201 6-03
CONSOLIDATED
VERSION
VERSION
CONSOLIDÉE colour
i n si de


methods –
l'immunité aux perturbations radioélectriques – Matériels auxiliaires –
Puissance perturbatrice
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
INTERNATIONALE
ICS 33.1 00.1 0, 33.1 00.20 ISBN 978-2-8322-3276-7
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CISPR 1 6-1 -3
Edition 2.1 201 6-03
REDLINE VERSION
VERSION REDLINE
colour
i n si de


methods –
perturbatrice
–2– CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
CONTENTS
FOREWORD. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
1 Scope . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
2 N ormative references . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
3 Terms, defini ti ons and abbreviations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
4 Absorbing clamp instru men tation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
An nex A (i n formative) Constru ction of the absorbin g clam p (Su bclau se 4. 2) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 8
An nex B (n ormative) Cali bration and val idation methods for the absorbing clamp and
th e secondary absorbi ng device (Clau se 4) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
An nex C (normati ve) Val idation of th e absorbing clamp test si te (Clau se 4) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
Bi bl iog raphy . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 37
Fi g ure 1 – Overvi ew of the absorbing clamp m easu rem en t meth od and th e associated
cal ibrati on an d vali dation procedu res . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 4
Fi g ure 2 – Sch em atic overvi ew of the absorbing clamp test meth od . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 6
Fi g ure 3 – Sch em atic overvi ew of the clamp cal ibration methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 7
Fi g ure A. 1 – The absorbin g clam p assembl y and its parts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 8
Fi g ure A. 2 – Example of th e constructi on of an absorbing clam p . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 9
Fi g ure B. 1 – The orig i nal cal ibrati on site. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
Fi g ure B. 2 – Positi on of g ui de for cen tri ng th e lead un der test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
Fi g ure B. 3 – Si de view of the cali bration jig . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
Fi g ure B. 4 – Top view of th e jig . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
Fi g ure B. 5 – Vi ew of th e jig s vertical flan ge . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
Fi g ure B. 6 – Test set-up for the reference device calibration m ethod . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fi g ure B. 7 – Specification of the reference device . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fi g ure B. 8 – Measuremen t set-up of th e decou pl in g factor DF . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
Fi g ure B. 9 – Measuremen t set-up of th e decou pl in g factor DR . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
Fi g ure C. 1 – Test set-u ps for the site attenu ati on m easu remen t for clam p site
val idation usi ng the reference device . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
Table 1 – Overvi ew of the characteristics of th e th ree- two clamp cal ibrati on methods
and th ei r relation. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 5
CI SPR 1 6- 1 - 3: 2004+ AM D1 : 201 6 CS V –3 –
© I E C 201 6
I N TERN ATI ON AL ELECTROTECH N I CAL COM M I SSI ON
I N TE RN ATI ON AL SPE CI AL COM M I TTEE ON RADI O I N TERFE REN CE
___________
SPECIFICATION FOR RADIO DISTURBANCE AND IMMUNITY

MEASURING APPARATUS AND METHODS –
Part 1 -3: Radio disturbance and immunity measuring apparatus –
Ancillary equipment – Disturbance power
FOREWORD
1 ) Th e I n te rn ati on al E l ectrotech n i cal Com m i s si on (I E C) i s a wo rl d wi d e org an i z ati o n for stan d ard i zati on com pri si n g
al l n ati on al el ectrotech n i cal com m i ttees (I E C N ati on al C om m i ttees ) . Th e obj ect of I E C i s to prom ote
i n tern ati on al co -operati o n o n al l q u es ti on s con ce rn i n g s tan d ard i zati on i n th e el ectri cal an d el ectro n i c fi e l d s . To
th i s en d an d i n ad d i ti o n to oth er acti vi ti es, I E C pu bl i sh es I n tern ati o n al S tan d ard s, Tech n i cal Speci fi cati on s,
Tech n i cal Re po rts , P u bl i cl y Avai l abl e Speci fi cati on s (P AS) an d G u i d es (h e re after referre d to as “I E C
P u bl i cati o n (s ) ”) . Th ei r pre parati on i s en tru ste d to tech n i cal co m m i ttees ; an y I E C N ati on al Co m m i ttee i n teres ted
i n th e su bj ect d e al t wi th m ay parti ci pate i n th i s preparatory work. I n te rn ati o n al , g o ve rn m en tal an d n o n -
g overn m en tal org an i zati on s l i ai si n g wi th th e I E C al so parti ci pate i n th i s preparati on . I E C col l aborates cl osel y
wi th th e I n te rn ati o n al Org an i z ati on fo r S tan d ard i z ati o n (I S O) i n accord an ce wi th con d i ti on s d ete rm i n ed by
ag reem en t betwe en th e two o rg an i zati on s.
2) Th e fo rm al d eci si o n s or ag ree m en ts of I E C on tech n i cal m atters expres s, as n e arl y as possi bl e, an i n tern ati o n al
con sen su s of o pi n i on on th e rel evan t su bj ects s i n ce each tech n i cal com m i ttee h as re presen tati on from al l
i n terested I E C N ati o n al Com m i ttees.
3) I E C P u bl i cati on s h ave th e form of recom m en d ati on s fo r i n tern ati o n al u se an d are accepted by I E C N ati o n al
Com m i ttees i n th at sen se. W hi l e al l reaso n abl e effo rts are m ad e to en s u re th at th e tech n i cal con te n t of I E C
P u bl i cati o n s i s accu rate, I E C can n ot be h e l d res pon s i bl e for th e way i n wh i ch th e y are u se d o r fo r an y
m i si n terpretati o n by an y en d u ser.
4) I n ord er to prom ote i n tern ati o n al u n i fo rm i ty, I E C N ati on al Com m i ttees u n d e rtake to appl y I E C P u bl i cati on s
tran sparen tl y to th e m axi m u m exte n t possi bl e i n th ei r n ati on al an d reg i on al pu bl i cati o n s. An y d i verg en ce
between an y I E C P u bl i cati on an d th e co rrespo n d i n g n ati o n al or reg i on al pu bl i cati on s h al l be cl earl y i n d i cate d i n
th e l atte r.
5) I E C i ts el f d oes n ot pro vi d e an y attestati on of con form i ty. I n d epen d en t ce rti fi cati on bod i es provi d e con fo rm i ty
as ses sm en t servi ces an d , i n som e areas , acces s to I E C m arks of con form i ty. I E C i s n ot res pon si bl e fo r an y
servi ces carri ed o u t by i n d epe n d en t certi fi cati o n bod i es.
6) Al l u s ers sh ou l d e n s u re th at th ey h ave th e l atest ed i ti on of th i s pu bl i cati on .
7) N o l i abi l i ty sh al l attach to I E C or i ts d i recto rs , em pl oye es , s ervan ts o r ag en ts i n cl u d i n g i n d i vi d u al e xpe rts an d
m em bers of i ts tech n i cal com m i ttees an d I E C N ati on al C om m i ttees for an y pe rson al i n j u ry, pro pe rty d am ag e o r
oth e r d am ag e of an y n atu re wh ats o ever, wh eth er d i rect or i n d i rect, or for cos ts (i n cl u d i n g l eg al fees) an d
e xpen ses ari si n g o u t of th e pu bl i cati on , u se of, or rel i an ce u po n , th i s I E C P u bl i cati o n or an y oth e r I E C
P u bl i cati o n s.
8) Atten ti on i s d rawn to th e N o rm ati ve referen ces ci ted i n th i s pu bl i cati on . U s e of th e refe re n ced pu bl i cati on s i s
i n d i spen sabl e fo r th e co rrect appl i cati on of th i s pu bl i cati on .
9) Atten ti on i s d rawn to th e possi bi l i ty th at som e of th e el em en ts of th i s I E C P u bl i cati on m ay be th e su bj ect of
pate n t ri g h ts . I E C sh al l n ot be h el d res pon si bl e fo r i d e n ti fyi n g an y or al l s u ch paten t ri g h ts .
DISCLAIMER
This Consolidated version is not an official IEC Standard and has been prepared for
user convenience. Only the current versions of the standard and its amendment(s)
are to be considered the official documents.
This Consolidated version of CISPR 1 6-1 -3 bears the edition number 2.1 . It consists of
the second edition (2004-06) [documents CISPR/A/51 7/FDIS and CISPR/A/532/RVD] and
its corrigendum 1 (February 2006) and its amendment 1 (201 6-03) [documents
,
CIS/A/1 1 1 1 /CDV and CIS/A/1 1 38/RVC]. The technical content is identical to the base
edition and its amendment.
–4 – CI S PR 1 6- 1 - 3: 2004+AM D1 : 201 6 CSV
© I E C 20 1 6
In this Redline version, a vertical line in the margin shows where the technical content
is modified by amendment 1 . Additions are in green text, deletions are in strikethrough
red text. A separate Final version with all chang es accepted is available in this
publication.
I n tern ati on al S tan dard CI SP R 1 6-1 - 3 h as been prepared by CI SPR su bcom m i ttee A: Rad i o
i n terferen ce m easu rem en ts an d stati sti cal m eth o ds.
Th i s edi ti on co n sti tu tes a tech n i cal revi s i on . I n th i s ed i ti on a m ore d etai l ed cal i brati o n m eth od
for th e abso rbi n g cl am p i s s peci fi ed . Fu rth erm ore, n ew al tern ati ve cal i brati on m eth ods are
i n trod u ced wh i ch are m ore practi cabl e th an th e on e wh i ch was speci fi ed previ o u s l y. Add i ti on al
param eters to d escri be th e absorbi n g cl am p are defi n ed, l i ke th e d ecou pl i n g factor for th e
bro adban d absorber (DF) an d th e d eco u pl i n g factor for th e cu rren t tran sform er (D R) , al on g
wi th th ei r val i d ati on m eth od s . A proced u re for th e val i dati o n of th e abs orbi n g cl am p test s i te
(ACTS) i s al s o i n cl u d ed i n th e d ocu m en t.
Th i s pu bl i cati on h as been drafted i n accordan ce wi th th e I SO/I EC D i recti ves, Part 2.
Th e com m i ttee h as d eci d ed th at th e co n ten ts of th e bas e pu bl i cati on an d i ts am en d m en t wi l l

rem ai n u n ch an g ed u n ti l th e stabi l i ty date i n d i cated on th e I EC web s i te u n d er
"h ttp: //webstore. i ec. ch " i n th e d ata rel ated to th e speci fi c pu bl i cati on . At th i s d ate, th e
pu bl i cati on wi l l be
• recon fi rm ed,
• wi th drawn ,
• repl aced by a revi sed ed i ti on , or
• am en d ed.
IMPORTANT – The 'colour inside' logo on the cover page of this publication indicates
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understanding of its contents. Users should therefore print this document using a
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CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV –5–
 I EC 201 6
1 Scope
Th is part of CI SPR 1 6 is desig nated a basic standard, wh ich specifies the characteristics and
cal ibration of th e absorbin g clam p for the measu rem en t of radio disturbance power i n the
frequ ency ran ge 30 MH z to 1 GH z.
2 Normative references
The following referenced docu men ts are indispensable for the application of this docum ent.
For dated references, only the edition ci ted applies. For undated references, the latest edi tion
of the referenced docu men t (inclu ding an y amendmen ts) appli es.
CI SPR 1 6-1 -2:2003, Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus
and methods – Part 1-2: Radio disturbance and immunity measuring apparatus – Ancillary
equipment – Conducted disturbances
CI SPR 1 6-2-2:2003,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus
and methods – Part 2-2: Methods of measurement of disturbances and immunity –
Measurement of disturbance power
CI SPR 1 6-4-2,
methods – Part 4-2: Uncertainties, statistics and limit modelling – Uncertainty in EMC
measurements
I EC 60050-1 61 :1 990, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 161: Electro-
magnetic compatibility
Am endmen t 1 (1 997)
3 Terms, definitions and abbreviations

3.1 Terms and definitions
See I EC 60050-1 61 , wh ere appl icable.
3.2 Abbreviations
ACA Absorbing clamp assem bl y
ACM M Absorbing clamp measu remen t method
ACRS Absorbing clamp reference si te
ACTS Absorbing clamp test si te
CF Clamp factor
CRP Clamp reference poi n t
DF Decoupl in g factor
–6– CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
DR Decou pl ing factor that speci fies the decou pling of the cu rren t transformer from the
comm on mode impedance of the measurement receiver
JTF J ig transfer factor
LU T Lead under test
RTF Reference transfer factor
SAD Secondary absorbin g device
SAR Semi -an echoic room
SRP Sl ide reference poin t
4 Ab s o rbi n g c l am p i n st ru m en tat i o n
4.1 I n trod u cti on
The m easu remen t of disturbance power using an absorbin g clamp is a m ethod for the
determi nation of the radi ated distu rbance in th e frequ ency range above 30 MH z. Th is
m easu remen t m ethod represen ts an al tern ative approach to th e m easu remen t of th e
distu rbance field streng th on an OATS. The absorbing clamp m easu remen t method (ACM M) is
described i n Clau se 7 of CI SPR 1 6-2-2.
The ACMM u ses the fol lowin g m easu rem en t instru men tation :
– th e absorbing clamp assembl y;
– th e secondary absorbi ng device;
– th e absorbing clamp test site.
Fig u re 1 g ives an overvi ew of th e absorbin g clamp m easu remen t method includin g the
i nstru men tati on requ ired for this m eth od an d the cal ibration an d val idation m ethods for the
i nstru men tati on . The requ i rem en ts for the i nstru men tation necessary for th e ACMM are
speci fied in th is cl au se. Detai ls of the absorbin g clamp calibration method, and val idation of
other properti es of the clamp an d the secondary absorbi ng device, are descri bed in An nex B.
Detai ls of th e absorbing clam p test si te val idation are described in An nex C. Absorbing
clamps are su i tabl e for th e measurement of di stu rbances from som e types of equ ipment,
dependin g on constru ction and size. Th e precise m easurin g procedure an d i ts applicabil i ty is
to be specified for each categ ory of equ ipmen t. I f th e EU T i tsel f (wi thou t con necting l eads)
h as a di mension th at approaches 1 /4 of the waveleng th , direct cabi net radiation m ay occu r.
The distu rbance capabil ity of an appliance h avi ng a mains lead as the on ly external lead may
be taken as the power the appliance cou ld su pply to its mains lead, which acts as a
transm itting an tenn a. Th is power is nearly equ al to that su ppli ed by th e appl iance to a
su itabl e absorbing device placed arou nd the lead at the posi tion where the absorbed power is
at a m aximu m . Direct radiation from the appl iance is not taken into accou n t. Equ ipm en t
h avi ng external leads oth er th an a m ains lead can radiate disturbance energ y from such
l eads, wheth er shielded or u nsh ielded, i n the sam e manner as radiation from the mains lead.
M easu remen ts u si ng the absorbing clamp can be made on these types of lead as well .
The applicati on of the ACMM is speci fi ed in more detai l i n 7. 9 of CI SPR 1 6-2-2.
4.2 Th e ab s o rb i n g cl am p assem bl y
4.2.1 D escri pti on o f th e absorb i n g cl am p assem bl y
An nex A describes th e construction of the clam p and g i ves a typical example of su ch a

constru ction.
The absorbin g clam p assembl y consists of the fol l owi ng fi ve parts:

– a broadband RF cu rren t transformer;
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV –7–
 I EC 201 6
– a broadband RF power absorber an d i mpedance stabi lizer for th e lead under test;
– an absorbing sleeve and assem bly of ferri te rings to reduce RF cu rren t on the su rface of
th e coaxial cable from the curren t transform er to the m easu ring receiver;
– a 6 dB atten uator between the ou tpu t of th e absorbing cl amp and th e coaxial cable
connectin g to the m easurin g recei ver;
– a coaxial cable as receiver cable.
The clamp reference point (CRP) indi cates the l on g itudinal position of the fron t of the current
transformer with in the clamp. This reference poin t is u sed to defin e the position of th e clamp
during the measurement procedure. The CRP shal l be indicated on the ou tside hou sin g of th e
absorbing clamp.
4.2.2 The clamp factor and the clamp site attenuation

An actu al measu remen t of an EU T u sing the ACM M is depicted schematicall y in Fi gu re 2.
Details on the ACMM are g iven in Clau se 7 of CI SPR 1 6-2-2.
The distu rbance power m easu remen t is based on m easu remen t of the asymmetrical cu rrent
g enerated by th e EU T, wh ich is measu red at the in pu t of the absorbing clamp u sin g a current
probe. The absorbing ferrites of the clamp arou nd the lead u nder test i solate th e current
transformer from disturbances on the mains. The maximu m cu rrent is determ in ed by moving
th e absorbin g clamp alon g th e stretched l ead, which acts as a transm ission l in e. The
transm ission li ne transforms the inpu t impedance of the absorbi ng clam p to the ou tput of the
EU T. At the poin t of opti m al adjustm en t, the maximu m disturbance cu rren t at the current
probe or the m aximu m distu rbance vol tag e at the receiver inpu t can be measured.
For this si tuation the actu al cl amp factor CFact of an absorbi ng cl amp relates the ou tpu t sig nal
of the cl amp Vrec to the m easuran d of in terest, i. e. the distu rbance power Peu t of an EU T as
fol lows:
Peu t = CFact + Vrec (1 )
wh ere
Peu t = th e disturbance power of the EU T in dBpW;
Vrec = th e measu red vol tag e in dB µ V;
CFact = th e actu al clamp factor in dBpW/ µ V.
I deall y, th e recei ved power level Prec in dBpW at th e receiver in pu t can be calcu lated usi ng
the foll owi ng formu la:
Prec = V rec − 1 0 ⋅ log (Zi ) = Vrec − 1 7 (2)
wh ere
Zi = 50 Ω , in put i mpedance of the m easu ri ng receiver, an d
Vrec = m easu red vol tage level i n dB µ V.
U sing Equ ations (1 ) and (2) on e can deri ve a relation between the distu rbance power Peu t
emi tted by the EU T and th e power Prec recei ved by the receiver as follows:
Peut − Prec = CFact + 1 7 (3)
This i deal relation between th e distu rbance power of th e EU T an d the power recei ved by the
m easu ring recei ver is defi ned as the actu al cl am p si te attenu ation A act (in dB) .
–8– CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Aact ≡ Peut − Prec = CFact + 1 7 (4)
Th is actu al cl amp si te attenu ation depends on th ree properties:

– th e clam p response properties,
– th e site properti es an d
– th e EU T properties.
4.2.3 Decoupling functions of the absorbing clamp

Whereas the current transformer of th e absorbi ng cl am p measu res the di sturbance power, the
decou pl in g attenu ation of the ferrites arou nd the l ead u nder test establishes an asym metrical
i m pedance and separates the cu rren t transformer from the far end of the l ead u nder test. This
separati on redu ces th e distu rbing infl u ence of the connected mains and of th e im pedance of
the far en d and its in flu ence on the m easu red cu rren t. Th is decou pling attenuation is called
the decou pling factor ( DF) .
A second decou pl ing fu nction is n eeded for the absorbing cl am p. The second decou pling
fu ncti on is th e decou plin g of the cu rren t transformer from th e asymmetrical (or common
m ode) impedance of the receiver cable. Th is decoupli ng is achi eved by the absorbin g section
of ferri te ri ng s on the cabl e from the cu rrent transformer to th e measu rem ent recei ver. This
decou pl in g attenu ation is cal led the decou pl in g factor to the measu remen t recei ver ( DR) .
4.2.4 Requirements for the absorbing clamp assembly (ACA)

Absorbing clamps u sed for distu rbance power measuremen ts sh al l meet th e fol lowing
requ iremen ts:
a) The actu al clamp factor ( CFact ) of th e absorbing clamp assembl y, as defined in 4. 2. 1 sh all
be determined in accordance wi th th e n ormative methods described in Annex B. The
u ncertai n ty of th e cl amp factor shall be determi ned i n accordance wi th th e requi remen ts
g i ven i n Annex B.
b) The decoupli ng factor ( DF) of the broadband RF absorber and the impedance stabil izer for
the lead u nder test shal l be veri fi ed in accordance wi th the measurement procedure as
described in Ann ex B. The decou pling factor shall be at least 21 dB for the whole
frequ ency ran ge.
c) The decou pli ng fu ncti on from the curren t transform er to the m easu ring ou tpu t ( DR) of the
absorbing clamp shall be determ ined in accordance wi th the measuremen t procedure as
described in Ann ex B. Th e decou pling factor to the measurem en t recei ver shall be at least
30 dB for the whole frequ ency ran ge. Th e 30 dB con tains 20, 5 dB atten u ation from the
absorbi ng clamp and 9, 5 dB from th e coupli ng /decoupli ng network (CDN ) .
d) The leng th of th e cl amp h ou sing shall be 600 mm ± 40 mm .
e) A 50 Ω RF attenuator of at least 6 dB shall be used directly at the clamp output.
4.3 The absorbing clamp assembly calibration methods and their relations
The purpose of the clam p cali bration is to determine the clamp factor CF in a situ ati on th at
resem bles an actu al measu rement wi th an EU T as mu ch as possible. H owever, in 4. 2. 2 i t is
stated th at th e clam p factor is a fu nction of the EU T, the clamp properties and the si te
performance. For standardizati on (reproduci bi l ity) reasons, the cal ibration m ethod shal l u se a
test site with a speci fied an d reprodu cible performance, and a si gnal generator and recei ver
wi th reproducible performance. U nder th ese con di tions, the on ly variable left is the absorbi ng
clamp u nder consi deration .
Three Two absorbi ng clamp calibrati on methods are developed below, each with their own
advan tag es, disadvan tag es an d appl ications (see Table 1 ) . Fi gu re 3 g i ves a sch em atic
overview of th e three two possibl e meth ods.
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV –9–
 I EC 201 6
I n gen eral , each of th e calibration methods com pri ses th e followin g two steps.
First, as a reference, the ou tpu t power Pg en of th e RF g enerator (with 50 Ω output impedance)

i s m easu red directly throu gh a 1 0 dB attenu ator usin g a recei ver (Fig ure 3a) . Secondl y, the
distu rbance power of th e sam e gen erator and 1 0 dB attenu ator is measu red throu g h the
clamp usin g one of the foll owi ng th ree two possible meth ods.
a) The orig inal meth od
The orig inal absorbing clamp set-u p calibration m eth od uses a reference si te i ncl udi ng a
l arge vertical reference plane (Fig ure 3b) . By defi n ition this m eth od g ives the CF directly,
becau se th is is the orig in al calibration method, wh ich is used for the determ ination of the
l im i ts and therefore consi dered as the reference. The lead u nder test is connected to the
cen tre condu ctor of the feed-throu g h connector i n the vertical reference plane. At the back
of th is vertical plan e, the feed-th rou g h conn ector is connected to th e g en erator. For this
calibration con fi g uration , Pori g is measu red wh il e th e clamp is m oved al ong the l ead u n der
test, in accordance wi th th e procedu re described i n An nex B su ch th at for each frequency
the maxi mu m val u e is obtained. Th e min im um site attenu ation A ori g an d the absorbi ng
clamp factor CFori g can be determ ined u si ng th e fol lowin g equ ations:
Aorig = Pgen − Porig (5)
and
CForig = Aorig − 1 7 (6)
The minimu m site attenu ati on A ori g is in the rang e of abou t 1 3 dB to 22 dB.
b) The jig cal ibrati on m ethod
The jig calibration method uses a jig that can be adapted to the len g th of the absorbing
clamp u nder cal ibrati on and th e secondary absorbing device (SAD) . Th is ji g serves as a
reference stru ctu re for the absorbin g clamp (see Fi gu re 3c) . For th is cal ibration
config uration Pj i g is measu red as a fu ncti on of frequ ency whi le th e clamp is in a fi xed
posi tion withi n the jig . Th e site atten uation A ji g and the absorbing cl amp factor CFj i g can
be determ ined u sing the fol lowing equ ati ons:
A j i g = Pg en – Pj i g (7)
and
CF = A j i g – 1 7 (8)
c) The reference device method
The reference device method uses a reference si te (withou t vertical reference plane) and
a reference device that is fed throu g h the lead un der test, wh ich is a coaxial stru ctu re for
th is purpose (see Fig u re 3d) .
For th is cal ibration con fig u ration , Pref is measu red whi le the absorbi ng cl am p is moved
along the lead un der test in accordance with th e procedure described in Annex A such that
for each frequency the m aximu m valu e is obtained. The minim u m site attenu ation A ref and
th e absorbing clamp factor CFref can be determ ined u sing the following equ ations:
A ref = Pg en – Pref (9)
and
CFref = A ref – 1 7 (1 0)
– 10 –
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
An nex B describes th e three two possible absorbing clamp calibration methods in more detail .
A su rvey of th e three two clam p calibration methods is also g iven in Fi gu re 1 . Fig ure 1 also
g i ves the relation of the clamp m easu rem en t m ethod and th e clamp cali bration m ethods and
th e role of the reference si te.
N OTE Cal i brati on takes pl ace on cl am p, atten u ator an d cabl e. Th ey h ave to be h el d tog eth er.
The absorbin g clam p factors obtain ed th rou gh th e jig meth od and the reference device
m ethod ( CFj i g , CFref ) di ffer systematicall y from the orig i nal absorbing clam p factor CFori g . I t is
n ecessary to establ ish this systematic rel ation between th ese differen t clamp factors as
fol lows.
The jig transfer factor JTF is calcu lated by

JTF = CFj i g – CFori g (1 1 )
The JTF in dB is to be determ ined for each type of absorbi ng clamp by the clamp
m anu factu rer. The manu facturer or an accredited cali bration l aboratory in ch arg e shall
determine the JTF by averagi ng th e resu lts of at least fi ve reproduced cal ibrations for fi ve
devices of a produ cti on seri es. Similarly, the reference transfer factor RTF is determ in ed by
RTF = CFref – CFori g (1 2)
Ag ain , th e RTF in dB is to be determined for each type of absorbing clam p by th e clamp

m an u factu rer. The manu factu rer or an accredited calibration laboratory in charg e shall
determi ne th e RTF by averagi ng the resu l ts of at least fi ve reproduced cal ibrations for fi ve
devices of a produ cti on seri es.
I n su m mary, th e orig in al calibration meth od directl y g i ves the val u e of CFori g . The jig and the
reference device method g i ves the CFji g and the CFref respectively, from wh ich the ori gi nal
absorbi ng clamp factor can be calcu lated u sin g Equ ations (1 1 ) and (1 2) .
Absorbing cl amps with di fferen t g eometries, differen t arran gemen t and materi al of ferri tes,
di fferen t cu rren t probes as wel l as di fferen t h ousing m aterial do requ ire a separate
determi nation of the JTF. A new determi nation is also requ ired if a di fferent type of jig is u sed,
e. g . l arg er geometry.
4.4 The secondary absorbing device

I n addi tion to the absorbing part of th e clamp, a secondary absorbing device (SAD) directly
beh ind the absorbing clamp sh all be applied to redu ce th e u ncertai n ty of th e measu rem en t.
The fu nction of th is SAD is to provide an attenu ation in additi on to th at provided by th e
decou plin g attenu ati on of the absorbin g clam p. The SAD shal l be m oved i n the same way as
th e absorbin g cl am p du ring th e cal ibrati on an d measu rem en t. Therefore the SAD needs
wheels to accomm odate th e scan ni ng . The SAD di mensions shal l be su ch that th e l ead u nder
test is at the same h eight as in the absorbing cl amp.
The decou pli ng factor of the SAD shall be veri fied in accordance with the measu remen t
procedu re as described i n An nex B. The decoupli ng factor for the SAD is m easu red tog ether
with th e absorbing clamp.
N OTE N ew tech n ol og i es m ay m ake i t possi bl e for th e addi ti on al fu n cti on al i ty of th e SAD to be i n teg rated i n th e
absorbi n g cl am p. Con seq u en tl y, i f th e absorbi n g cl am p i tsel f m eets th e d ecou pl i n g factor speci fi cati on , th en th e
SAD does n ot n eed to be appl i ed .
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 I EC 201 6
4.5 The absorbing clamp test site (ACTS)
4.5.1 Description of the ACTS
The absorbin g cl am p test site (ACTS) is a si te u sed for appl ication of th e ACM M . The ACTS
can be either an ou tdoor or an indoor facil ity and i nclu des the following elements (see
An nex C, Fig u re C. 1 ) :
– the EU T table, which is a su pport for th e EU T u ni t;
– th e cl am p sli de, which is a support for the conn ected l ead of th e EU T (or lead u n der test,
LU T) and for th e absorbin g cl amp ;
– a g lidin g su pport for the recei ver cable of the absorbing clamp;
– au xi liary means l ike a rope to m ove the absorbing clamp
Al l th e above-men ti oned ACTS elemen ts (withou t EU T tabl e) sh al l be measured in the ACTS
val idation procedu re.
The near end of th e cl amp sli de (at th e side of th e EU T) is den oted as the sli de reference
poi nt (SRP, see Fi g ure C. 1 ) . This SRP is used to defin e th e h orizontal distance to the CRP of
th e clam p.
4.5.2 The functions of the ACTS

The ACTS has the fol lowi ng functions.
a) Ph ysical fu nction: to provide speci fic su pporting m eans for the EU T and th e LU T.
b) El ectrical fu nction : to provide an ideal (for RF) site for th e EU T and th e clamp assem bly
and to provide a wel l-defi ned measu remen t en vironm ent for applicati on of the absorbing
clamp (n o di stortion of em issions by walls or by th e supporting el em en ts l ike the EU T
table, the clamp sl ide, g li ding support and rope) .
4.5.3 Requirements for the ACTS

The following requ irem en ts appl y for th e ACTS:
a) The leng th of the clam p slide sh all ensu re that th e absorbing clamp can be m oved over a
distance of 5 m . This means that the clamp slide shall have a leng th of 6 m .
N OTE For reprod u ci bi l i ty reason s, th e l en g th of th e cl am p sl i d e an d th e scan n i n g d i stan ce of th e cl am p are
fi xed to at l east 6 m an d 5 m respecti vel y. Th e l en g th of th e cl am p sl i de i s d eterm i n ed by th e su m of th e
scan n i n g l en g th (5 m ) , th e m arg i n between th e SRP an d th e CRP (0, 1 5 m ) an d th e l en g th of th e absorbi n g
cl am p (0, 64 m ) pl u s a m arg i n to accom m od ate l ead fi xtu res at th e en d (0, 1 m ) . Th i s total s a l en g th of 6 m for
th e cl am p sl i d e.
b) The heig h t of the clamp slide shall be 0, 8 m ± 0, 05 m. Th is implies that within the
absorbi ng clamp and within the SAD, th e heig h t of the LU T above th e reference plane wi ll
be a few cen ti metres larg er.
c) The m aterial of the EU T tabl e and of the cl amp sl ide shal l be n on-reflecti ng , n on-
conductin g and the dielectric properti es may be close to th e dielectric properties of ai r. I n
th is way, the EU T table is transparent from an electromag netic poin t of view.
d) The material of th e rope used to m ove the clamp alon g the clamp slide shal l also be
transparen t from an electromag netic poin t of view.
N OTE Th e i n fl u en ce of th e m ateri al of th e EU T tabl e an d th e cl am p sl i d e m ay be si g n i fi can t for freq u en ci es
above 300 M H z.
e) The adequ acy of the si te (see the el ectrical ACTS fu ncti on) is val idated by com paring the
i n-si tu measu red clamp factor of the ACTS ( CFi n -si tu ) with th e clam p factor measured on
th e absorbing cl amp reference si te (ACRS) ( CFori g ) u sing the orig in al cal ibrati on method
(see Annex C) . I t is also permissible to u se clamp factors provided on a cal ibrati on
certi ficate by a calibration laboratory. H owever, such clamp factors that are u sed as a
reference for an ACTS val idation shal l be determi ned onl y usin g the orig in al calibration
– 12 – CI SPR 1 6- 1 - 3: 2004+AM D1 : 201 6 CSV
© I E C 20 1 6
m eth od. Th e abs ol u te d i fferen ce between both cl am p factors sh al l com pl y wi th th e
fol l o wi n g req u i rem en t:
Δ ACTS = CForig – CFin- situ (1 3)
sh al l be
<2, 5 d B between 30 M H z an d 1 50 M H z,
2, 5 d B to 2 d B between 1 50 M H z an d 300 M H z, decreas i n g an d
<2 d B between 3 00 M H z an d 1 0 00 M H z
Th i s s i te val i d ati on procedu re i s speci fi ed i n m ore detai l i n th e n ext s u bcl au se.
4. 5. 4 Val id ati on m eth od s for th e ACTS
Th e ch aracteri s ti cs for th e ACTS are val i d ated as fol l ows.
– Th e ph ys i cal req u i rem en ts 4. 5. 3a) an d 4. 5. 3b) can be val i d ated by i n specti on .
– Th e el ectri cal fu n cti on of th e ACTS (req u i rem en t 4. 5. 3e) sh al l be val i dated by com pari n g
th e cl am p factor CF of th e cal i brated cl am p wi th th e cl am p factor CFi n -si tu m easu red i n -
si tu , i n accord an ce wi th th e ”ori g i n al cal i brati on m eth od ” (see An n ex C) .
I n vesti g ati on s h ave s h o wn th at a 1 0 m OATS or SAR val i d ated for rad i ated em i ssi on
m easu rem en ts can be con s i d ered as an i d eal s i te for perform i n g th e ACM M . Th erefore, a
val i d ated 1 0 m OATS or SAR i s ad opted as a referen ce si te for el ectri cal val i d ati on of th e
ACTS. Con s eq u en tl y, i f a val i d ated 1 0 m OATS or SAR i s u s ed as a cl am p test s i te, th en th e
el ectri cal fu n cti on of th i s si te d o es n ot n eed to be val i d ated fu rth er.
Th e val i d ati o n proced u re of th e el ectri cal fu n cti on of a cl am p tes t si te i s d escri bed i n d etai l i n
An n ex C.
4. 6 Qu al ity assu ran ce proced u res for th e absorbi n g cl amp in stru men tation.
4. 6. 1 Overvi ew
Th e perform an ce of an absorbi n g cl am p an d secon d ary abs orbi n g d evi ce m ay ch an g e o ver

ti m e d u e to u s e, ag i n g or d efects . Si m i l arl y, th e ACTS perform an ce m ay ch an g e d u e to
m od i fi cati on s i n th e con stru cti on or by ag i n g .
Th e j i g cal i brati on m eth od an d th e referen ce d evi ce cal i brati on m eth od can be u sed
con ven i en tl y for q u al i ty assu ran ce proced u res, provi d ed th at th e j i g cl am p factor an d th e
referen ce d evi ce cl am p factor are i s i n i ti al l y kn own .
4. 6. 2 Qu ality assu ran ce ch eck for th e ACTS
Th e d ata of th e si te atten u ati on Aref of th e ACTS d eterm i n ed at th e ti m e th e si te was val i d ated

can be u sed as a referen ce.
After a certai n ti m e i n terval an d after m od i fi cati on of th e s i te, th i s s i te atten u ati on

m easu rem en t can be repeated , an d th e res u l ts com pared wi th th e referen ce d ata.
Th e ad van tag e of th i s m eth od i s th at al l el em en ts of th e ACM M are eval u ated at on ce.

CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 13 –
 I EC 201 6
4. 6.3 Qual ity assu rance ch eck for th e absorbi ng cl am p
The decou pli ng fu nctions and the clamp factor perform ance determined at the tim e th e clamp
has been vali dated can be u sed as reference performance data.
After certain tim e in terval s or after a ch ang e m ade to th e si te, th ese performance param eters
can be veri fied ag ain by measuri ng th e decou pl in g factors and by measu ring th e clam p factor
using the jig method (Ann ex B) .
4.6.4 Qual ity assu rance pass/fai l criteria
The pass/fail criteria for th e qu ali ty assurance tests are related to the m easu rem ent
u ncertai nty of th e measu rem en t parameter in qu esti on . This means that a change of th e
parameter in qu esti on is acceptable i f th is chan ge is less th an one tim es the measu remen t
u ncertai nty.
– 14 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
ABSORBING CLAMP MEASUREMENT
METHOD (ACMM)
(CI SPR 1 6-2-2 Cl au se 7)
Requ i res:
• EU T
• a calibrated clamp
• a validated abs. clamp test site (ACTS)
• a cal i brated recei ver
• speci fi ed test set-u p VALIDATION OF THE ABS CLAMP TEST
• speci fi ed test procedu re SITE (ACTS)
G i ves: di stu rban ce power of an EU T (specifi ed i n An n ex C)
Requ i res:
• th e ACTS (absorbi n g cl am p test si te) u n der
val i dati on
• a calibrated clamp wi th th e SAD cal i brated wi th
th e ori g i n al meth od
CLAMP CALIBRATION METHODS • a cal i brated recei ver
(specifi ed i n An n ex B) • a specifi c test set-u p
a. Validation of the clamp • a specifi c test procedu re
Requires: Gives: a validated test absorbing clamp test site
The validation of the decoupling functions of the
clamp with the secondary absorbing device
b. The original method
Requ i res:
• th e cl am p u nder cal i brati on wi th th e SAD VALIDATION OF DECOUPLING
• m easu rem ent equ i pm en t FUNCTIONS OF THE
• a validated site: ACRS (absorbing clamp
ABSORBING CLAMP WITH THE
reference site)
• a speci fi ed sou rce (g enerator + l arg e verti cal SECONDARY DEVICE (An nex B)
referen ce pl an e)
• a specifi ed test set-u p Requ i res:
• a specifi ed test procedu re • th e cl am p wi th th e SAD
G i ves: th e orig i n al cl am p factor ( CFo ri g ) • a jig
• a specifi ed sou rce
c. The jig method • m easu rem ent equ i pm en t
Requ i res: • speci fi ed test setu p
• th e cl am p u nder cal i brati on wi th the SAD • speci fi ed test procedu re
• m easu rem ent equ i pm en t
• a cal i brati on ji g
• a specifi ed test set-u p
• a specifi ed test procedu re
G i ves: th e cl am p factor CFj i g and CFo ri g can be
cal cu l ated u sin g th e j i g transfer factor J TF.
ABS CLAMP REFERENCE SITE (ACRS)
d. The reference device method
Requ i res: A 1 0 m OATS or SAR, val i dated for radi ated
em i ssi on m easu rem en ts between 30 M H z an d
• th e cl am p u nder cal i brati on wi th th e SAD 1 000 M H z i s con si dered al so val i d as a si te for
• m easu rem ent equ i pm en t cl am p cal i brati on .
reference site)
• th e cl am p referen ce device
G i ves: th e cl am p factor CFref an d CFo ri g can be
cal cu l ated u sin g th e referen ce tran sfer factor RTF.
IEC 830/04
Figure 1 – Overview of the absorbing clamp measurement method and the associated
calibration and validation procedures
 I EC 201 6
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
Table 1 – Overview of the characteristics of the three- two clamp calibration methods and their relation
Name of the Test Site used EUT used Ad vantages (+), di sadvantag es (-) and remarks ( • ) Appli cations
cal ibration method
Th e ori g i n al m eth od An absorbi n g Larg e verti cal referen ce pl an e • Cal i brati on set-u p resem bl es an actu al m easu rem en t Di rect cal i brati on of th e
cl am p referen ce an d fed beh i n d th i s referen ce wi th a l arg e EU T absorbi n g cl am p
si te pl an e by a g en erator
– H an dl i n g of th e l arg e verti cal referen ce pl an e i s
l abori ou s
– A referen ce si te (ACRS) requ i red
+ By d efi n i ti on th i s m eth od g i ves th e CF d i rectl y
becau se th i s m eth od i s th e ori g i n al cal i brati on m eth od
an d th erefore con si d ered as th e referen ce
Th e ji g m eth od An absorbi n g On e of th e verti cal fl an g es of th e – Cal i brati on set-u p d oes n ot resem bl e an actu al test I n d i rect cal i brati on of th e
cl am p cal i brati on j i g an d fed beh i n d th i s j i g fl an g e absorbi n g cl am p
jig by a g en erator + Con ven i en t h an d l i n g
Qu al i ty assu ran ce ch eck
– 15 –
+ N o referen ce si te (ACRS) req u i red of th e cl am p
+ G ood reprodu ci bi l i ty
– Does n ot g i ve th e CF di rectl y; CF i s cal cu l ated u si n g
th e J TF
Th e referen ce d evi ce An absorbi n g Sm al l referen ce d evi ce fed from • Cal i brati on set-u p resem bl es an actu al m easu rem en t I n d i rect cal i brati on of th e
m eth od cl am p referen ce th e far en d by a g en erator wi th a l arg e EU T absorbi n g cl am p
si te
+ Referen ce d evi ce easy to h an d l e Val i d ati on of th e ACTS
– A referen ce si te (ACRS) requ i red Qu al i ty assu ran ce ch eck
of th e overal l cl am p
– Does n ot g i ve th e CF di rectl y; CF i s cal cu l ated u si n g m easu rem en t set-u p
th e RTF
N OTE An ACRS i s a val i dated 1 0 m OATS or SAR faci l i ty.
– 16 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
EUT
Peut
Absorbing
clamp Lead under test
CFact
Vrec (Prec)
Horizontal floor of the clamp test site IEC 831/04
Key
Peu t th e di stu rbance power of th e EUT i n dBpW;
Vrec th e m easu red voltag e i n dB µ V;
CFact th e actu al cl am p factor i n dBpW/ µ V;
Prec th e recei ved power l evel i n dBpW.
Figure 2 – Schematic overview of the absorbing clamp test method

CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 17 –
 I EC 201 6
Pgen Receiver
Generator
1 0 dB (50 Ω )
attenuator
IEC 832/04
Figure 3a
Large vertical reference plane
Generator Absorbing Secondary

clamp absorbing device
1 0 dB
attenuator CForig
Porig
Horizontal reference plane of the reference site IEC 833/04

Figure 3b
jig
CFjig
1 0 dB 50 Ω
attenuator
Pjig
IEC 834/04
Figure 3c
Reference device
Absorbing Secondary
clamp absorbing device Generator
1 0 dB
attenuator
CFref
Pref

Figure 3d
Key
CFori g , CFj i g , CFref Absorbi n g cl am p factors
Pori g , Pref , Pj i g M easu rem en t of P depen di n g on val i d ati on m eth od u sed
Pg en Ou tpu t power of th e g en erator an d 1 0 d B atten u ator
N OTE Fi g u res 3b. , 3c. , an d 3d correspon d respecti vel y to th e th ree two m eth ods of Tabl e 1 .
Figure 3 – Schematic overview of the clamp calibration methods
– 18 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Annex A
(informative)
Construction of the absorbing clamp

(Subclause 4. 2)
A.1 Examples of absorbing clamp construction

Fi g ures A. 1 and A. 2 describe the basic assembly of the clamp. The three m ain parts of the
absorbing clamp descri bed in 4. 2 are the cu rren t transformer C, the power absorber and
im pedance stabi lizer D, and the absorbing sl eeve E. D consists of a nu mber of ferrite rings
and E consists of ferri te ring s or tu bes. The core of the transformer C has two or three ring s of
th e type used in D. The secondary windin g of th e curren t transformer consists of a turn of a
mi niatu re coaxial cabl e encircl in g the rin gs an d connected as shown. The cabl e is passed
throu gh the sleeve E to a coaxial termi nal on the clamp (possibl y vi a the 6 dB attenuator) . C
and D are m ou nted close tog eth er and ali g ned on the same axis to permi t m ovement al ong
th e l ead under test B. Sleeve E i s u su al ly m ou n ted alongside absorber D for practical
reasons. Both D and E serve to attenu ate asymmetric cu rrents on the leads throug h th em .
The exam ple in Fi gu re A. 2 shows al so some features of improvemen ts to the absorbin g cl amp
performance. A m etal cyli nder (1 ) is mou n ted insi de the core of the transformer C to act as a
capaci ti ve sh ield. This cylinder is spl it into two h alves. An insu latin g tube (2) is used to
cen tral ize th e lead wi th in the transformer. Th is tu be exten ds from the in pu t end of the
transformer to the first rin g of the absorber D, and is for u se du ring clamp calibration an d for
sm all di ameter l eads.
The absorbin g clamp may be constru cted to cover the frequency rang e 30 MH z to 1 000 M H z
usin g su itable ferri te rin gs.
To measurement
Absorber 6 dB receiver
(Ferrite rings) attenuator
Clamp reference
point (CRP)
Coaxial measurement
cable
Lead under Current Absorber

test transformer (Ferrite rings)
IEC 836/04
N OTE Th e 6 d B atten u ator an d m easu rem en t cabl e are i n teg ral part of th e cl am p assem bl y.
Figure A.1 – The absorbing clamp assembly and its parts

 I EC 201 6
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
640 mm ± 40 mm
E E ∼1 5
1
B
35 ∼23
B
– 19 –
2
C
D D
2 rings ∼560
34 rings
IEC 837/04
Clamp reference
point (CRP)
Key
B l ead u n d er test
C cu rren t tran sform er
D absorbi n g secti on
E absorbi n g secti on on cabl e from tran sform er
1 m etal cyl i n d er - two h al ves
2 cen tral i zi n g tu be for l ead B
3 coaxi al con n ector (for th e 6 d B atten u ator)
Figure A.2 – Example of the construction of an absorbing clamp

– 20 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Annex B
(normative)
Calibration and validation methods for the absorbing clamp

and the secondary absorbing device
(Clause 4)
B.1 Introduction
Th is an nex g i ves details on the various cal ibration and validation m ethods for th e absorbing
clamp assem bl y and for th e secondary absorbing device.
The methods for th e cal ibration of the cl am p factor of the absorbing cl amp (see also 4. 3) are
g iven in B. 2.
The meth ods for val i dation of th e decou pling fu nctions DF and DR are gi ven i n Article B. 3.
B.2 Calibration methods of the absorbing clamp assembly

For al l three Both meth ods, the cl amp factor ( CF) of the absorbing cl amp assembly i nclu din g
th e attenu ator of at least 6 dB and th e receiver cable is determined. Since the decou pli ng of
th e clamp is n ot perfect, th e cl am p interacts with th e cabl e. Th e type an d leng th of th e cable
m ay thus in fl u ence th e resu ltan t u ncertain ty. Th erefore th e calibration shal l be done inclu ding
th e receiver cabl e.
B.2.1 The original calibration method

B.2.1 .1 Calibration set-up and equipment
Fig ure B. 1 sh ows th e cal ibration set-u p. The calibration set-u p mu st be l ocated on an ACRS
to avoid in flu encing i ts im mediate su rrou ndings. I f th e ACRS does not h ave a metall ic g rou nd
plane, a horizon tal grou nd pl ane of typicall y 6 m × 2 m is requ ired.
An ACRS th at is valid for this cal i bration procedu re is an OATS or a SAR for a 1 0 m
m easu remen t distance that com pli es with th e CI SPR N SA requ irem ents.
The cal ibration set-up is comprised of th e foll owing com pon ents:
– a clamp sli de constructed of non -refl ecti ve m aterial abou t 6 m long , to ensure that the
lead u nder test is at a heig h t of 0, 8 m ± 0, 05 m above the g round. Th is im plies that within
th e absorbing clam p and wi thi n th e SAD, the heigh t of the LU T above the reference plane
wil l be a few cen ti metres larg er;
– a vertical g round plane l arger than of 2, 0 m × 2, 0 m , connected to the metallic g rou nd
plane and with a type N jack mou n ted in i ts vertical sym metrical axis at a h ei g ht of 0, 87 m.
Th is vertical g rou nd pl ane is posi tioned cl ose to the fron t of the cl amp sli de, wh ich is
cal led the absorbin g clam p test si te reference poin t (SRP) ;
– an insu lated lead for test pu rposes, wi th a leng th of 7, 0 m ± 0, 05 m and made of lead with
4 mm diameter n ot cou n ti ng the insu lation , wi th one en d of the l ead connected
(e. g . soldered) to th e m ou n ti ng jack. The other en d of the lead is conn ected to the line and
n eu tral of a type M CDN (see CI SPR 1 6-1 -2 Fig ure C. 2) , which is connected to the
m etallic (horizontal ) g roun d plane; the measu remen t ou tpu t of th e CDN is term inated wi th
50 Ω ( for safety reasons the CDN is not connected to the mains! ) . For practical
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 21 –
 I EC 201 6
reasons i t is recommended to u se a flexibl e lead u nder test. Th is CDN provides in the
frequ ency range up to 40 MH z to 50 MH z a requ i red stable asym metrical im pedance at
the far end of th e l ead u nder test;
– an appropriate non -metallic clampin g device at the other en d of the clamp sli de, to slig h tl y
stretch the lead u nder test;
– a secondary absorbing device (SAD) posi ti oned on the clamp slide 50 mm from th e clamp
u nder cal ibration . The secondary absorbing device may be a (gl iding ) ferri te clamp wi th a
decou pl in g fu ncti on DF larger than or equ al to that defined i n Clause 4;
– a bu ffer of el ectromag netical l y-transparen t material n ear th e vertical g rou nd plane to
ensu re that th e CRP is never less than 1 50 m m from th e vertical g rou nd pl an e.
N OTE A g ood m atch wi th th e req u i rem en t of 4 m m di am eter can be ach i eved by u si n g th e ou ter screen of a
coaxi al cabl e (for exam pl e RG -58) .
A receiver or a network anal yzer is u sed to measu re th e gen erator ou tpu t and clamp ou tpu t.
The m easu red si gnal levels sh al l be 40 dB h ig h er than the ambient sign als measu red at the
ou tpu t of the absorbing clamp when the generator is switch ed off. The non-l in earity of the
measurement system shall be less than 0, 1 dB.
As reference measurement, the tracking g enerator ou tpu t of th e receiver or n etwork an al yser

(N A) is con nected via the coaxial cable throug h a 1 0 dB atten uator to the i npu t of th e N A.
B.2.1 .2 Calibration procedure

A non -metalli c gu ide for th e lead un der test is mou nted on the ou tside of th e absorbing clam p
u nder test so that th e lead passes th rou g h th e centre of the cu rren t transformer (Figu re B. 2) .
Both clamps – th e clamp u n der test and the second absorbin g clamp (SAD) – are posi tion ed
on the clamp sl ide as sh own in Fig u re B. 1 . The cu rrent transformer of the cl amp under test is
placed wi th i ts side towards the vertical g rou nd pl an e. The fron t edge of the cu rren t
transformer i s the clamp reference point (CRP) an d shall be m arked by the m anu factu rer. The
clamp is positioned wi th a distance of 1 50 mm between th e CRP and the vertical grou n d
plane. Th e lead under test is passed throug h both clamps and shou l d be stretched sligh tl y
usin g an appropriate non-metall ic clampin g device at th e en d of the clamp slide. The lead
u nder test mu st not tou ch the metal lic grou ndplan e before i t is connected to the CDN .
The ou tpu t of th e N A is con nected to the mou n ting jack via a coaxi al cabl e and a 1 0 dB
attenu ator. The recei ver cable of the absorbin g clamp is connected to the i npu t of the N A. Th e
recei ver cabl e sh al l be suspended such that i t is always spaced at a m ini m um of 200 mm from
th e horizon tal g rou nd plane th rou ghou t the en tire cal ibration process.
The site attenuation is m easu red at l east u p to 60 MH z in 1 MH z steps, u p to 1 20 MH z in

2 MH z steps, u p to 300 M H z in 5 MH z steps, and above 300 MH z in 1 0 M H z steps.
The m ini mum si te attenu ation is measured while th e two clamps (absorbin g clamp plus SAD)
are moved togeth er at a su i table speed alon g the clamp slide. The clamps m ay be pu lled by
means of a n on-metal lic rope. The speed at wh ich the clamps are moved mu st al low th e site
attenu ati on to be m easu red at each frequency at intervals of less than 1 0 m m.
The clamp factor CFori g of th e absorbi ng cl am p assembl y is calcu lated from the clamp site
attenu ati on u sin g Equ ation (5) of 4. 3.
B.2.2 The jig calibration method

B.2.2.1 Specification of the absorbing clamp calibration jig
As described in Clause 4, th e absorbin g clamp cal ibrati on jig can be u sed for the calibration
of th e absorbi ng clam p. The ji g is u sed for th e measu remen t of th e i nsertion l oss of the
– 22 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
absorbi ng clamp together wi th the SAD in a 50 Ω m easuring system . N ote that the empty jig
ch aracteristic i mpedance is not 50 Ω . Th e measuremen t in a jig al lows this insertion loss to be
m easu red in isolation from environm en t. The dimensional speci fications of the jig and th e
arran gemen t of the clamps are shown in Fi gu res B. 3 to B. 5.
B.2.2.2 Calibration procedure

A n on-metall ic g u ide for th e lead u n der test is m ou n ted on the front side of the absorbi ng
clamp u nder test so that th e lead passes throu gh the cen tre of th e cu rren t probe (Fig ure B. 2) .
The absorbin g cl amp is th en positi on ed in the jig wi th the clamp reference point (CRP) of the
absorbing clamp 30 m m from the vertical flan g e as shown in Figu re B. 3 an d B. 4. The same
distance of 30 m m is u sed for the en d of the SAD to the other vertical flange. The lead u nder
test is connected to the sockets in the vertical flang es by banan a plug s.
The insertion loss is measured using a N A. The measured si g nal l evel sh all be 40 dB h ig her
th an th e ambien t si gn als m easu red at th e ou tpu t of the absorbin g cl am p. The non-l in eari ty of
th e i nsertion loss m easuremen t shal l be less than 0, 1 dB.
The ou tpu t of the N A is connected vi a a coaxial cabl e an d a 1 0 dB attenu ator to the i npu t of
th e N A to cali brate the measuremen t set-u p.
After the measu remen t set-u p has been calibrated, the ou tpu t of th e N A is connected via the
coaxial cable and a 1 0 dB attenu ator to the mou n ting jack on the si de of th e jig wh ere the
CRP of the clamp is posi ti oned. Th e m ou nting jack opposite th e CRP is term inated wi th 50 Ω .
The ou tpu t of the absorbing clamp is conn ected vi a a 6 dB attenu ator an d th e receiver cabl e
to th e in pu t of the N A. Th e recei ver cabl e shall be treated with a SAD. Th e SAD shal l be
positioned as sh own in Fi g ures B. 3 an d B. 4.
The insertion loss is then measu red at l east u p to 60 MH z in 1 MH z steps, up to 1 20 MH z in

2 MH z steps, u p to 300 MH z i n 5 MH z steps, and above 300 MH z in 1 0 M H z steps.
The clamp factor CFj i g is calcu lated from th e i nsertion loss u sing Equ ation (7) . The
m an u factu rer shal l determi ne at least the jig transfer factor JTF defined in 4. 3, Equ ati on (1 1 ) ,
wh ich al lows th e CFori g for this type of absorbing clamp to be calcu lated.
B.2.3 The reference device calibration method

B.2.2.3 Specification and use of the reference device and test site
The reference device sh al l be able to exci te by capaci ti ve cou pling a defined curren t on the
lead u nder test, independen t of any en vironm en t, supply vol tage and measuremen t
equ ipment. This is ensu red wh en the reference device is fed with an RF voltag e throug h a
coaxial cable via a 1 0 dB atten u ator. Th e reference device is constru cted wi th same m aterial
as sing le-si ded circu it boards. I n the m i ddle of the board th ere is a coaxi al conn ector m ou nted
in su ch a way that the m iddle-pin on l y is connected to the copper-foil . The coaxial connector
is con nected to the 1 0 dB atten uator (see Fig ure B. 7) . A double sh iel ded cable shall be used
to connect th is reference device to ensu re that th e asym metrical cu rren ts i ndu ced on th e lead
u nder test are cau sed by th e reference device and not from direct leakage wi th in th e cable.
The reference device repl aces the l arge vertical g round plane in the orig inal cal ibration
procedure on an ACRS. Th e calibration set-up is shown in Fig u re B. 6. The si te su itabl e for
th is cal ibration meth od is the ACRS. An ACRS th at is val id for th is cal ibration procedu re is an
OATS or a SAR for a 1 0 m m easu rem en t distance th at complies with the CI SPR N SA
requ iremen ts.
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 23 –
 I EC 201 6
A non -metalli c g u ide for the lead u n der test is mou n ted on the ou tside of th e absorbing clam p
Both clam ps – the cl am p u nder test and the second (ferrite) clamp (SAD) – are posi ti on ed on
th e cl amp sli de as sh own in Fig ure B. 7. The current transformer of the clamp u nder test is
placed wi th its side towards the reference device, wh ich is posi ti oned at the SRP of th e cl amp
sli de. The fron t edg e of th e current transformer is the clamp reference poin t (CRP) an d shall
be marked on th e clamp case by the m an u facturer. The cl am p is positi oned with a distance of
1 50 mm between the CRP and the reference device. The lead u nder test (th e coaxi al cable
from the network analyzer) is passed throug h both clamps and shoul d be stretched sl ig htl y
usin g an appropriate non -metal l ic clampin g device at both en ds of th e clamp sl ide.
The coaxial cable (lead u nder test) wi th the 1 0 dB atten u ator is con nected to the outpu t of the
N A. The receiver cable of the absorbin g clam p is connected to the inpu t of the N A.
The site attenuation is m easu red at l east u p to 60 MH z in 1 MH z steps, u p to 1 20 MH z in

2 MH z steps, u p to 300 M H z i n 5 MH z steps, and above 300 MH z in 1 0 M H z steps.
The mi ni mu m si te attenu ati on is measu red wh il e th e two clamps are m oved at a su i tabl e
speed from 1 50 mm to approxi matel y 4, 5 m from th e reference device. Th e clamps may be
pul led by means of a n on -metall ic rope. The speed at which the clamps are moved mu st allow
th e i nsertion loss to be m easu red at each frequ ency at i ntervals of less than 1 0 mm.
The clamp factor CF of th e absorbing clamp assembl y is calcu lated from the lowest m easu red
site attenu ati on usi ng Equ ati on (9) of 4. 3.
The manu facturer shall determine at l east the reference device transfer factor RTF u sing 4. 3,
Equ ation (1 2) , wh ich allows the CFori g for this type of absorbi ng clamp to be calcu lated.
B.2.4 Measurement uncertainty of the absorbing clamp calibration

The calibrati on u ncertain ty is to be men ti oned in every calibration report. The calibration
report shall consi der the following uncertain ty factors.
– The ori g inal cal ibrati on m eth od:
• th e uncertain ty of the measu remen t equ ipmen t,
• th e mismatch between th e ou tpu t of th e absorbin g clamp (wi th a 6 dB attenu ator and
recei ver cable) and the m easu remen t equ ipment, and
• th e repeatabi li ty of the calibrations, which inclu des factors su ch as centrin g th e lead
u nder test in the current transformer and gu idance of the receiver cabl e to th e n etwork
analyzer.
The absorbin g clamp is to fu l fi ll the m in im u m requ iremen t of th e decou pl in g factors DF
and DR.
– The jig cal ibrati on m ethod:
• the u ncertain ty of the clamp factor CF,
• the u ncertain ty of the measuremen t equ ipmen t,
• the m ism atch between the ou tpu t of th e absorbin g clamp (with a 6 dB attenu ator and
receiver cabl e) and the m easurement equ ipment, and
• repeatabi li ty of the cal ibrations, wh ich inclu des factors such as cen trin g the l ead un der
test in the cu rren t transformer.
– 24 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
N OTE I t i s assu m ed th at th e m easu rem en t i n stru m en tati on u n certai n ty of th e req u i red correl ati on process
wi th th e ori g i n al cal i brati on m eth od i s su ffi ci en tl y sm al l su ch th at th ere i s n o appreci abl e con tri bu ti on to th e
u n certai n ty of th e j i g cal i brati on m eth od .
The absorbin g cl amp is to ful fi l the m inimu m requ irem en t of th e decou pling factors DF and
DR.
– The reference device cali bration method:
• th e u ncertain ty of the clamp factor CF,
• th e u ncertain ty of the measurement equ ipment,
• th e m ism atch between th e ou tpu t of th e absorbin g cl amp (with a 6 dB attenuator and
• th e repeatabi li ty of the cal ibrati ons, wh ich i ncl u des factors su ch as centeri ng th e lead
u nder test in the curren t transformer and gu idance of the recei ver cabl e to th e network
anal yzer.
DR.
Detailed gu idance on the determ in ati on of the u ncertai n ty bu dg et of th e clamp calibration
m ethod treatm en t of the measurem en t instru m en tation uncertain ty for distu rbance power
m easu rem en ts is g iven in CI SPR 1 6-4-2.
B.3 Validation methods of the decoupling functions
B.3.1 The decoupling factor DF of the absorbing clamp with the secondary
absorbing device
The m easu remen t method of the decoupling factor appl ies for th e absorbin g clamp with the
secondary absorbin g device as a requ irem en t for th e clamp manu facturer and an opti on for
quali ty managemen t proposes.
The decou pli ng factor DF is measured usi ng the clamp calibration ji g (see Fi gu res B. 3, B. 4
and B. 5) . The decoupl ing factor DF m easurement u ses a 50 Ω measu ri ng system for both th e
reference measurement and for the m easurement with th e device u n der test. A reference to
an empty jig wou l d g i ve u nreal istic m easu remen t val ues, since th e im pedance of the ji g
chang es when the clamp is in serted i n th e j ig . N ote th at th e empty j ig is n ot a 50 Ω system !
The procedu re for the measuremen t of th e decou pling factor DF is as foll ows. Fig u re B. 8
sh ows the two m easu rem ents steps that are n ecessary when u sin g a spectru m analyzer. First
a reference m easu remen t is perform ed. The ou tpu t of the g enerator is m easured th rou gh two
1 0 dB attenu ators. Th en, th e ou tpu t Pref is measu red. After th is the absorbing clamp with SAD
i s posi tioned as described in B. 2. 2. 2. At both con nections of the jig , a 1 0 dB attenuator is
appli ed. The distance between th e vertical fl ang e of th e jig and the reference poi n t of the
device u n der test ( CRP i n case of th e cl amp) an d of the end of the clamp shall be 30 m m .
Then the ou tpu t Pfi l is the measured. The decoupl ing factor DF is determin ed as follows:
DF = Pref − Pfi l (B. 1 )
The decou pli ng factor for th e absorbi ng clamp with th e SAD sh al l be at least 21 dB over the
frequ ency band in qu estion .
N OTE For i n form ati on , th e DF of th e separated m easu red SAD sh ou l d be abou t 1 5 dB.
Th is measurement may be performed also wi th a N A. I n th is case the application of the
attenu ators m ay be omitted i f the N A calibration is perform ed at the i n terfaces th at are
connected to the jig .
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 25 –
 I EC 201 6
B.3.2 The decoupling factor DR of the absorbing clamp
The decou pli ng factor DR is measured u sin g the cl amp calibration jig (see Fi gu res B. 3, B. 4
and B. 5) as a requ irem ent for the clamp manu facturer and an option for quali ty managemen t
purposes.
The procedu re for the m easu remen t of the decoupling factor DR is as follows (see Fi gu res
B. 8 and B. 9) . For the measuremen t of the asym metrical voltag e on th e coaxial cable from th e
cu rrent transformer, the absorbing cl amp withou t SAD is posi ti oned in th e jig as described in
B. 2. 2. 2. The m easu remen t ou tpu t is connected wi th a CDN type A (see CI SPR 1 6-1 -2, Fig u re
C. 1 ) vi a a sh ort coaxi al cabl e. The CDN is position ed on the metall ic g round plan e. A 50 Ω
load shal l be used to termi nate the connection of the jig at th e opposite side of the clamps
CRP.
Fig ure B. 8, step 1 shows the reference measu rem en t that is n ecessary when using a
spectru m anal yzer. The ou tpu t of the generator i s m easu red th rou gh two 1 0 dB attenuators.
Then, the ou tpu t Pref is m easu red.
After th is, th e absorbing clamp is set u p as in dicated in Fig u re B. 9. Th e g enerator is

connected to th e jig (at the side that is closest to the CRP of th e cl amp) throu gh a 1 0 dB
attenu ator. The oth er jig con nection i s term in ated wi th a 50 Ω load. Th e ou tpu t of the clamp is
connected to a CDN . The m easu ri ng ou tpu t of the CDN is con nected to th e recei ver th rou gh a
1 0 dB attenu ator. The ou tpu t of the CDN is terminated wi th 50 Ω . Then the ou tpu t Pfi l is
m easu red. The decou pling factor DR i s determ ined as fol lows:
DR = Pref – Pfi l (B. 2)
The decou pli ng factor for th e absorbin g clam p shal l be at least 30 dB over the frequ ency band
i n question. The 30 dB con tains 20, 5 dB attenu ati on from th e absorbin g clam p and 9, 5 dB
from the CDN .
Th is measu remen t may be performed also wi th a N A. I n th is case the application of the

attenu ators may be omitted i f the N A cal ibration is performed at the i n terfaces th at are
connected to the ji g and CDN .
– 26 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
6m
Lead 4 mm diameter* 1 0 dB
CRP 0,1 5 m
50 Ω 0,05 m 6 dB
0,8 m SRP
>2m
CDN
>6m
* Without insulation Network-

analyser
In Out
IEC 838/04
Figure B.1 – The original calibration site
6
Front side of the absorbing clamp
Guide for centring the lead under test
IEC 839/04
Dimensions in mm
Wh en u si n g coaxi al cabl e for th e referen ce devi ce, th e sl ot sh al l be corrected to coaxi al cabl es di am eter.
Figure B.2 – Position of guide for centring the lead under test
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 27 –
 I EC 201 6
Dimensions in mm
30
Absorbing clamp Lead 4 mm diameter*

SAD
Electromagnetically-neutral spacer to adjust the Electrically bonded to the groundplane

height of the clamp above the metallic groundplane
*Without insulation
IEC 840/04
Dimensions in millimetres
30 (From j i g fl an g e to CRP)
30
Lead 4 m m d i am eter*
Absorbi n g cl am p
SAD on LU T
Recei ver cabl e
SAD on recei ver cabl e

J i g fl an ge type B J i g fl an g e type A
el ectri cal l y bon d ed E l ectrom ag n eti cal l y n eu tral spacer el ectri cal l y bon d ed
to th e g rou n d pl an e to adj u st th e h ei g h t of th e cl am p to th e g rou n d pl an e
above th e m etal l i c g rou n d pl an e
*Wi th ou t i n su l ati on
IEC
Figure B.3 – Side view of the calibration jig

– 28 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Dimensions in mm
>1 700
30 50 30
Absorbing clamp SAD

> 300
Lead 4 mm diameter
Electrically bonded to the groundplane Metallic groundplane

IEC 841/04
≥1 700
≤ 400
30
50 30
≥ 500
Absorbi n g cl am p SAD on LU T
J i g fl an g e type B J i g fl an g e type A
el ectri cal l y bon d ed M etal l i c g rou n dpl an e el ectri cal l y bon d ed
to th e g rou n d pl an e to th e g rou n d pl an e
IEC
Figure B.4 – Top view of the jig

CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 29 –
 I EC 201 6
Dimensions in mm
1 00
Teflon N-connector
1 9,5 6 4
1 20
90
40 55
(For the receiver Metallic, about 3 mm
cable) thick
>1 00
IEC 842/04
Th e bottom si des h ave to be el ectri cal l y bon d ed to th e m etal l i c g rou n d pl an e.
1 00 Tefl on
N -con n ector
1 9, 5
4
6
1 20
90
40
55
(For th e recei ver M etal l i c, abou t 3 m m th i ck

cabl e)
> 1 00
IEC

Fig ure B.5a – Vertical flang e type A (SAD side)
– 30 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
1 00
200
N -con n ector
(sam e as for fl an g e A)
200
90
M etal l i c, abou t
3 m m th i ck
20
20
IEC

Fig ure B.5b – Vertical flang e type B (clamp EUT side)
Figure B.5 – View of the jigs vertical flange
Receiver
cable
6m 1 0 dB
attenuator
Coaxial cable 0,05 m 0,1 5 m
Reference
device
SRP
0,8 m
Network
analyser
out IEC 843/04
Figure B.6 – Test set-up for the reference device calibration method
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 31 –
 I EC 201 6
1 20
M ou n ti n g j ack
1 0 d B atten u ator
1 20
Sol dered to th e Dou bl e sh i el d ed coaxi al cabl e

pri n ted board wi th N -con n ectors
m etal l i c l ayer
IEC 844/04
Dimensions in mm
Figure B.7 – Specification of the reference device

– 32 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
1 0 dB 1 0 dB
attenuator attenuator
Generator Receiver
IEC 201/06
Fi gure B.8a – Reference measurement
1 0 dB 1 0 dB
attenuator Clamp SAD attenuator Pfil
Generator CRP Receiver
Receiver cable IEC 202/06

50 Ω
1 0 dB 1 0 dB
atten u ator CRP atten u ator
Absorbi n g cl am p SAD
G en erator Recei ver
50 Ω Recei ver cabl e

IEC
Fi gure B.8b – Measurement with the absorbing clamp and SAD placed in the jig
Figure B.8 – Measurement set-up of the decoupling factor DF

CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 33 –
 I EC 201 6
Pfil
Receiver
1 0 dB
attenuator Clamp 50 Ω 1 0 dB
attenuator
Generator
CRP
CDN
50 Ω IEC 847/04
Pfi l = M easu red P atten u ated by th e absorbi n g fi l ter
1 0 dB
1 0 dB atten u ator Recei ver
atten u ator CRP
Absorbi n g cl am p 50 Ω 50 Ω
G en erator
CDN
J i g fl an g e type B J i g fl an g e type A Recei ver cabl e

IEC
Figure B.9 – Measurement set-up of the decoupling factor DR

– 34 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Annex C
(normative)
Validation of the absorbing clamp test site

(Clause 4)
C.1 Introduction
Th is annex g ives the detai ls on the m eth od for the vali dation of the absorbing cl am p test site.
An absorbing clam p test site (ACTS) shall be verified by comparing the clamp factor CF of a
cal ibrated clamp wi th the in -si tu at th e ACTS m easu red cl amp factor CFi n -si tu u sing the
orig i nal calibrati on method (see 4. 3 an d Ann ex B) .
C.2 Equipment requirements for validation

The orig inal meth od (see An nex B. 2. 1 ) wi th vertical g rou nd plan e and the speci fic l ead u nder
test is u sed to g en erate a defined com mon mode curren t on the lead u nder test. This common
m ode current m ay be i nflu enced by th e en vironmen t of th e ACTS, which m ay deviate from th e
ACRS.
C.3 Validation measurement procedure

The fol lowing calibration procedure is carri ed ou t on the ACTS to be vali dated.
 The site attenuation measurement procedure

 Step 1 – Reference measu rem en t of g enerator power
First, as a reference, the ou tpu t power Pg en of th e g enerator is measu red directl y throu g h the
u sed cables and a 1 0 dB attenu ator u sing a receiver (Fig u re C. 1 a) .
 Step 2 – Measu remen t of th e i n-si tu clamp factor on the ACTS
Secondly, th e maximu m distu rbance power Pref on th e LU T is m easu red u sing th e same
g enerator setti ng and 1 0 dB attenu ator an d u sing th e set-u p g iven in Figu re C. 1 b.
The two clam ps – the absorbi ng clamp and the secondary absorbin g device (SAD) – are
posi tioned on the clamp slide as shown in Fi gure C. 1 b. The clam p reference point of the
clamp un der test is pl aced in the direction of the vertical g rou nd pl ane. The vertical grou nd
plane is position ed at the SRP of the clamp sl ide. A non-metalli c g u ide for th e LU T is moun ted
on th e ou tside of the absorbing clam p u nder test so that the lead passes throu gh th e centre of
th e cu rren t transformer (Fi g ure B. 2) . The clamp is posi tion ed with a distance of 1 50 mm
between the CRP and the vertical grou nd plane. Th e lead u nder test is passed throu g h both
clamps and sh ou ld be stretched sli g htly u sing an appropriate non-metalli c clam ping device at
both ends of th e clam p slide. The lead u nder test is connected to the m ou n ti ng jack on the
vertical g rou n d plane.
I f a CDN is u sed for m easuring the EU T, i t shou ld also be u sed for the ACTS val idation (for
CDN set-u p see B. 2. 1 . 1 and Fi g ure B. 1 ) .
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 35 –
 I EC 201 6
The ou tpu t of th e N A is connected to th e mou n ting jack at th e vertical grou n d pl ane vi a the
1 0 dB attenu ator. Th e receiver cable of the absorbing cl amp is con nected to the i npu t of the
N A.
The si gnal is measu red at least u p to 60 MH z in 1 MH z steps, u p to 1 20 M H z in 2 MH z steps,

u p to 300 MH z in 5 MH z steps, and above 300 M Hz in 1 0 MH z steps.
The maxi mu m disturbance power is measu red whi le the clamps are m oved at a su itable
speed from 1 50 mm to approxi mately 4, 5 m from the vertical g round plane. Th e clamps m ay
be pu lled by m eans of a n on-metal lic rope. The speed at whi ch th e clamps are m oved must
al low th e i nsertion loss to be m easu red at each frequ ency at in tervals of less than 1 0 m m .
 Step 3 – Calcu lation of the i n-si tu clamp factor
The in si tu clamp factor (in dB) of th e site u nder consideration (ACTS) can be determ ined
u sin g the foll owing equ ati on :
CFi n -si tu = ( Pg en – Pref ) – 1 7 (C. 1 )

CFin− situ = Pgen − Pref −
( ) 17
Th is determin ati on of CFori g and CF i n - s i tu

can be don e by th e test hou se or by a th ird party
(calibration test house) .
C.4 Validation of the ACTS

The orig inal clamp factor CFori g sh all be compared wi th th e in-situ clamp factor CFi n -si tu . Th e
acceptance cri terion for th e validation of the ACTS is g i ven by Equ ati on (1 3) (see 4. 5. 3) if the
val idation measu remen t and the calibration procedu res (Clau se C. 3 and B. 2. 1 ) are done by
th e test h ouse itsel f and provided that the u ncertain ty requ iremen ts g iven in Clau se C. 5 are
m et.
I f the clamp factor is determ ined by a th ird party the acceptance cri teri on for th e val idation is
chang ed to:
<3 dB between 30 M H z and 1 50 MH z
3 to 2, 5 dB between 1 50 MH z and 300 MH z decreasing
<2 dB between 300 MH z and 1 000 M H z
C.5 Uncertainties of the ACTS validation method

The measu remen t uncertain ty of the ACTS val idation depends on :
– th e measu remen t u ncertain ty of the m easurement equ ipment,
– th e m ism atch between th e ou tpu t of th e absorbing cl am p (wi th a 6 dB attenuator) and the
m easu remen t equ ipment, and
– th e repeatabi li ty of th e measu remen t, which inclu des the u ncertainty centrin g the lead
u nder test in the current transformer, and gu idance of the recei ver cable to th e n etwork
anal yzer.
For the clam p site val idation procedure, th e above men ti oned u ncertainty requ iremen ts sh al l
be taken in to accou n t.
– 36 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Pgen Receiver
Generator
1 0 dB (50 Ω)
attenuator
IEC 848/04
Fig ure C.1 a – Reference measurement of generator power
Receiver
cable
6m
1 0 dB
Lead 4 mm diameter* 0,1 5 m attenuator
SAD
0,8 m
SRP
Network
analyser
*Length: 7,0 m, diameter without isolation In Out
IEC 849/04
Fig ure C.1 b – Set-up for power measurements on the ACTS or on the ACRS
Figure C.1 – Test set-ups for the site attenuation measurement

for clamp site validation using the reference device
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 37 –
 I EC 201 6
Bibliography
[1 ] Ryser, H einrich, U ncertainty Con tribu tions to th e Clamp Factor CF of the Absorbing
Clamp, Proceedings of 18th International Zurich Symposium on EMC, M un ich 2007.
___________
– 38 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
SOMMAI RE
SOMM AI RE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 38
AVAN T-PROPOS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
1 Domain e d'application. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
2 Références n orm ati ves . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
3 Term es, défin i tions et abréviati ons . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
4 I nstru m en tati on de mesure par pi nce absorbante . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
An nexe A (in form ati ve) Construction de la pince absorban te (Parag raph e 4. 2) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
An nexe B (normati ve) Méthodes d'étalonnage et de vali dation de la pince absorban te
et du dispositi f absorban t secondai re (Articl e 4) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
An nexe C (normati ve) Validation du si te d'essai à la pince absorban te (Articl e 4) . . . . . . . . . . . . . . . . 70
Bi bli og raphie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73
Fi g ure 1 – Vu e d'ensembl e de l a m éth ode de mesu re par pince absorbante et

procédures d'étal onn ag e et de validation associées . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
Fig ure 2 – Aperçu schématiqu e de la méth ode d'essai par pince absorban te . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
Fig u re 3 – Aperçu schém atiqu e des m éthodes d'étalonnag e de pince . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
Fi gu re A. 1 – Ensemble pi nce absorban te et ses éléments. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
Fi gu re A. 2 − Exemple de conception d'u ne pince absorbante . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
Fi gu re B. 1 – Site d'étalon nag e orig inal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
Fi g ure B. 2 – Positi on du g u ide pou r le cen trage du condu cteur en essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
Fig ure B. 3 – Vu e l atérale du g abari t d'étalonnag e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63
Fig u re B. 4 – Vu e de dessus du g abari t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
Fi gu re B. 5 – Vu e de la flasque verticale de g abari t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
Fi g ure B. 6 – Mon tage d'essai pou r la méth ode d'étalonnage avec m odu le de référence . . . . . . . . . .
Fi g ure B. 7 – Spéci fication du m odul e de référence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fi g ure B. 8 – Mon tage de m esu re du facteu r de décou plag e DF. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68
Fi g ure B. 9 – Mon tage de m esu re du facteu r de décou plag e DR . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
Fig ure C. 1 – Mon tages d'essai pou r la mesu re de l'atténu ation de si te pou r l a
validation du si te de l a pince en u til isan t l e m odu le de référence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
Tableau 1 – Vu e d'ensem ble des caractéristiques des trois deu x m éthodes

d'étal onn ag e de pince et leu r relation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 39 –
 I EC 201 6
COMMI SSI ON ÉLECTROTECHNI QUE I NTERNATI ONALE
COM I TÉ I N TERN ATI ON AL SPÉCI AL DES PERTU RBATI ON S RADI OÉLECTRI QU ES
___________
SPÉCIFICATIONS DES MÉTHODES ET DES APPAREILS

DE MESURE DES PERTURBATIONS RADIOÉLECTRIQUES ET
DE L'IMMUNITÉ AUX PERTURBATIONS RADIOÉLECTRIQUES –
Partie 1 -3: Appareils de mesure des perturbations radioélectriques
et de l'immunité aux perturbations radioélectriques –
Matériels auxiliaires – Puissance perturbatrice
AVANT-PROPOS
1 ) La Com m i ssi on El ectrotech n i q u e I n tern ati on al e (I EC) est u n e org an i sati on m on d i al e d e n orm al i sati on
com posée d e l 'en sem bl e d es com i tés él ectrotech n i qu es n ati on au x (Com i tés n ati on au x d e l ’ I EC) . L’ I EC a pou r
obj et d e favori ser l a coopérati on i n tern ati on al e pou r tou tes l es q u esti on s d e n orm al i sati on d an s l es d om ai n es
d e l 'él ectri ci té et d e l 'él ectron i q u e. A cet effet, l ’ I EC – en tre au tres acti vi tés – pu bl i e d es N orm es
i n tern ati on al es, d es Spéci fi cati on s tech n i q u es, d es Rapports tech n i q u es, d es Spéci fi cati on s accessi bl es au
pu bl i c (PAS) et d es G u i d es (ci -après dén om m és "Pu bl i cati on (s) d e l ’ I EC") . Leu r él aborati on est con fi ée à des
com i tés d 'étu des, au x travau x d esq u el s tou t Com i té n ati on al i n téressé par l e su j et trai té peu t parti ci per. Les
org an i sati on s i n tern ati on al es, g ou vern em en tal es et n on g ou vern em en tal es, en l i ai son avec l ’ I EC, parti ci pen t
ég al em en t au x travau x. L’ I EC col l abore étroi tem en t avec l 'Org an i sati on I n tern ati on al e d e N orm al i sati on (I SO) ,
sel on des con di ti on s fi xées par accord en tre l es d eu x org an i sati on s.
2) Les d éci si on s ou accord s offi ci el s de l ’ I EC con cern an t l es q u esti on s tech n i q u es représen ten t, d an s l a m esu re
d u possi bl e, u n accord i n tern ati on al su r l es su j ets étu d i és, étan t d on n é q u e l es Com i tés n ati on au x de l ’ I EC
i n téressés son t représen tés dan s ch aq u e com i té d’ étu des.
3) Les Pu bl i cati on s d e l ’ I EC se présen ten t sou s l a form e d e recom m an d ati on s i n tern ati on al es et son t ag réées
com m e tel l es par l es Com i tés n ati on au x d e l ’ I EC. Tou s l es efforts rai son n abl es son t en trepri s afi n q u e l ’ I EC
s'assu re d e l 'exacti tu d e d u con ten u tech n i qu e d e ses pu bl i cati on s; l ’ I EC n e peu t pas être ten u e respon sabl e de
l 'éven tu el l e m au vai se u ti l i sati on ou i n terprétati on q u i en est fai te par u n q u el con q u e u ti l i sateu r fi n al .
4) Dan s l e bu t d 'en cou rag er l 'u n i form i té i n tern ati on al e, l es Com i tés n ati on au x d e l ’ I E C s'en g ag en t, d an s tou te l a
m esu re possi bl e, à appl i q u er d e façon tran sparen te l es Pu bl i cati on s d e l ’ I EC d an s l eu rs pu bl i cati on s n ati on al es
et rég i on al es. Tou tes di verg en ces en tre tou tes Pu bl i cati on s d e l ’ I EC et tou tes pu bl i cati on s n ati on al es ou
rég i on al es correspon d an tes doi ven t être i n d i q u ées en term es cl ai rs dan s ces dern i ères.
5) L’ I EC el l e-m êm e n e fou rn i t au cu n e attestati on d e con form i té. Des org an i sm es d e certi fi cati on i n dépen d an ts
fou rn i ssen t d es servi ces d 'éval u ati on d e con form i té et, d an s certai n s secteu rs, accèden t au x m arq u es d e
con form i té d e l ’ I EC. L’ I EC n 'est respon sabl e d'au cu n des servi ces effectu és par l es org an i sm es d e certi fi cati on
i n d épen d an ts.
6) Tou s l es u ti l i sateu rs d oi ven t s'assu rer q u 'i l s son t en possessi on d e l a dern i ère éd i ti on de cette pu bl i cati on .
7) Au cu n e respon sabi l i té n e doi t être i m pu tée à l ’ I EC, à ses ad m i n i strateu rs, em pl oyés, au xi l i ai res ou
m an d atai res, y com pri s ses experts parti cu l i ers et l es m em bres d e ses com i tés d 'étu d es et d es Com i tés
n ati on au x de l ’ I EC, pou r tou t préj u di ce cau sé en cas d e dom m ag es corporel s et m atéri el s, ou de tou t au tre
d om m ag e d e q u el q u e n atu re q u e ce soi t, di recte ou i n d i recte, ou pou r su pporter l es coû ts (y com pri s l es frai s
d e j u sti ce) et l es d épen ses d écou l an t d e l a pu bl i cati on ou d e l 'u ti l i sati on d e cette Pu bl i cati on d e l ’ I EC ou d e
tou te au tre Pu bl i cati on d e l ’ I EC, ou au crédi t q u i l u i est accord é.
8) L'atten ti on est atti rée su r l es référen ces n orm ati ves ci tées d an s cette pu bl i cati on . L'u ti l i sati on d e pu bl i cati on s
référen cées est obl i g atoi re pou r u n e appl i cati on correcte d e l a présen te pu bl i cati on .
9) L’ atten ti on est atti rée su r l e fai t q u e certai n s d es él ém en ts d e l a présen te Pu bl i cati on d e l ’ I EC peu ven t fai re
l ’ obj et d e d roi ts d e brevet. L’ I EC n e sau rai t être ten u e pou r respon sabl e d e n e pas avoi r i den ti fi é d e tel s d roi ts
d e brevets et de n e pas avoi r si g n al é l eu r exi sten ce.
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– 40 – CI SPR 1 6- 1 - 3: 2004+AM D1 : 201 6 CSV
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Dan s cette versi on Red l i ne, u ne l i g ne verti cal e d ans l a m arg e i nd i q u e où l e contenu
tech ni q u e est mod i fi é par l’ amen d ement 1 . Les aj ou ts son t en vert, les su ppression s
sont en rou g e, barrées. U ne versi on Fi nal e avec tou tes l es m od i fi cati ons acceptées est
d i spon i bl e d ans cette pu bl i cati on.
La N orm e i n tern ati on al e CI SPR 1 6-1 - 3 a été établ i e par l e so u s-com i té A d u CI SPR: M es u res
des pertu rbati o n s radi oél ectri qu es et m éth od es stati s ti q u es.
Cette éd i ti o n con s ti tu e u n e révi si on tech n i q u e. Cette éd i ti on spéci fi e u n e m éth ode

d ’ étal on n ag e pl u s d étai l l ée po u r l a pi n ce absorban te. De pl u s, d e n ou vel l es m éth o d es
d ’ étal on n ag e possi bl es son t i n trod u i tes, q u i son t pl u s prati cabl es q u e cel l e q u i étai t s péci fi ée
au paravan t. D es param ètres ad di ti on n el s pou r d écri re l a pi n ce absorban te son t d éfi n i s, tel s l e
facteu r d e d écou pl ag e pou r l ’ abs orbeu r l arg e ban de « DF» et l e facteu r de déco u pl ag e pou r l e
tran sform ateu r d e cou ran t « DR» , avec l eu rs m éth o d es d e val i d ati o n . U n e procéd u re pou r l a
val i d ati on d u s i te d ’ essai à l a pi n ce absorban te (ACTS) est au ss i i n cl u se d an s l e docu m en t.
Cette pu bl i cati on a été réd i g ée s el on l es D i recti ves I SO/I EC, Parti e 2.
Le com i té a d éci dé q u e l e con ten u d e l a pu bl i cati on d e bas e et d e son am en d em en t n e sera

pas m od i fi é avan t l a d ate d e stabi l i té i n d i q u ée s u r l e s i te web d e l ’ I E C s ou s
"h ttp: //webstore. i ec. ch " d an s l es d on n ées rel ati ves à l a pu bl i cati o n rech erch ée. A cette date,
l a pu bl i cati o n sera
• recon d u i te,
• su ppri m ée,
• rem pl acée par u n e éd i ti on révi sée, ou
• am en d ée.
IM PORTANT – Le l og o "colour inside" q u i se trou ve su r l a pag e d e cou vertu re d e cette

pu bl i cati on i nd i q u e q u 'el l e conti en t d es cou leu rs q u i sont con si d érées com m e u ti l es à
u n e bonn e compréh ensi on d e son contenu . Les u ti li sateu rs d evrai ent, par con séq u ent,
i mpri m er cette pu bli cati on en u ti li sant u n e i mprim ante cou leu r.
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 41 –
 I EC 201 6
1 Domaine d'application
La présen te partie de l a CI SPR 1 6 est u ne norme fondamen tale qu i spéci fie les
caractéristiqu es et l 'étal on nag e de la pince absorban te pour la mesu re de la pu issance
perturbatrice radioélectrique dans la g am me de fréquences de 30 MH z à 1 GH z.
2 Références normatives
Les docu ments de référence su ivants son t indispensables pou r l 'appl ication du présent
docu men t. Pour les références datées, seu le l 'édition ci tée s'appl ique. Pou r les références
non datées, l a dernière édition du docum ent de référence s'appli qu e (y compris l es éven tu els
amendements) .
CI SPR 1 6-1 -2:2003, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des pertur-
bations radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques – Partie 1-2:
Appareils de mesure des perturbations radioélectriques et de l'immunité aux perturbations
radioélectriques – Matériels auxiliaires – Perturbations conduites
CI SPR 1 6-2-2:2003, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des pertur-
Méthodes de mesure des perturbations et de l'immunité – Mesure de la puissance
perturbatrice
CI SPR 1 6-4-2, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques – Partie 4-2: Incertitudes,
statistiques et modélisation des limites – Incertitudes de mesure CEM
I EC 60050-1 61 :1 990, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 161:
Compatibilité électromagnétique
Am endem ent 1 (1 997)
Am endem ent 2 (1 998)
3 Termes, définitions et abréviations

3.1 Termes et définitions
Voir l’I EC 60050-1 61 lorsque cela s’appliqu e.
3.2 Abréviations
ACA Absorbing clamp assembl y (ensem ble pi nce absorban te)
ACM M Absorbing clamp measurement method (m éthode de mesu re par pince absorban te)
ACRS Absorbing clamp reference si te (si te de référence de l a pince absorbante)
ACTS Absorbing clamp test si te (si te d'essai à la pince absorban te)
CF Clamp factor (facteu r de pince)
– 42 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
CRP Clamp reference poin t (poi n t de référence de la pince)
DF Decou pling factor (facteu r de décou plag e)
DR Facteu r de décou pl ag e qui spécifi e le décou plage en tre le transformateur de
couran t et l 'impédance de mode commu n du récepteu r de m esu re
JTF J ig transfer factor (facteur de transfert du g abari t)
LU T Lead u nder test (con du cteur en essai)
RTF Reference transfer factor (facteur de transfert de référence)
SAD Secondary absorbing devi ce (dispositi f absorban t secondai re)
SAR Semi -an echoic room (chambre semi-anéch oïqu e)
SRP Sli de reference point (poin t de référence de la g lissière)
4 Instrumentation de mesure par pince absorbante

4.1 Introduction
La mesu re de la pu issance perturbatrice par pince absorban te est u n e méthode destinée
à déterminer les perturbations rayon nées dans l a g amm e des fréquences supérieu res à
30 MH z. Cette m éthode de mesu re constitu e un e alternati ve à la m esure du champ
perturbateu r su r u n OATS. La méthode de mesu re par pi nce absorban te (ACM M) est décri te à
l'Article 7 de l a CI SPR 1 6-2-2.
L'ACM M u tilise l'instru men tation de mesure sui van te:

– l'ensemble pi nce absorban te;
– le dispositif absorban t secondaire;
– le site d’essai à la pi nce absorban te.
La Fig ure 1 donn e u n e vu e g énérale de la méthode de m esu re par pince absorban te, y
compris l'instru men tation n écessaire pou r cette méthode ainsi qu e les m éthodes d'étalonnag e
et de validati on de cette instru men tati on. Le présent articl e détai lle les exi gences concern an t
l'instrum en tation n écessaire pour l'ACMM . L’An nexe B décri t en détail la méthode
d'étal onn ag e de la pince absorban te et la validation des au tres propriétés de la pi nce et du
disposi ti f absorban t secondaire. Les détails concernan t la validation du site d'essai à la pi nce
absorban te son t décri ts à l 'Ann exe C. Les pinces absorban tes son t adaptées au x mesures de
perturbations de certai ns types d'appareils en fonction de l eu r conception et de l eu r tai ll e. La
procédure de mesu re précise et son appl icabi li té doi ven t être spécifiées pou r chaque
catég ori e d'appareil. Si l es dimensions de l'appareil en essai seu l (sans câbles de
raccordem en t) approchen t 1 /4 de l a long u eu r d'onde, un rayon nemen t peu t être produ it
directem en t depu is le boîtier. La pu issance pertu rbatrice d'u n appareil don t le cordon
d'alimen tation est le seu l câble externe peu t être considérée com me la pu issance qu e
l'appareil peu t fournir à ce cordon , qu i se comporte comm e u ne an tenne rayonnan te. Cette
puissance est à peu près équ ivalen te à celle fou rn ie par l'appareil à u n disposi tif absorbant
adapté placé au tour du cordon à l 'endroi t où la pu issance absorbée est maxim ale. Le
rayon nem ent direct provenan t de l'appareil n'est pas pris en compte. Les appareils équ ipés
de câbles extern es au tres qu'un cordon d'al im entation peu ven t rayon ner de l'én erg ie
perturbatrice par ces câbles, qu 'i ls soien t bli ndés ou non , de l a même m anière qu e par le
cordon d'alim en tati on. On peu t ég alemen t effectu er des mesures par pince absorban te sur
ces câbles.
L'applicati on de l 'ACMM est spécifiée de man ière plu s détaillée en 7. 9 de la CI SPR 1 6-2-2.
4.2 Ensemble pince absorbante

4.2.1 Description de l'ensemble pince absorbante
L'Ann exe A décrit l a concepti on de la pi nce et donne un exemple type d'u ne tel le conception .
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 43 –
 I EC 201 6
L'ensem ble pince absorbante se com pose des ci nq parties su i van tes:
– u n transformateu r de couran t RF larg e ban de;
– u n absorbeu r de pu issance RF larg e bande et u n stabilisateur d'i mpédance pou r le câble
en essai;
– u n m anchon absorban t et u n ensemble d'ann eau x de ferrite desti nés à rédu ire le cou ran t
RF circu lan t à la su rface du câble coaxial en tre le transformateu r de cou rant et le
récepteu r de m esu re;
– u n attén u ateu r de 6 dB en tre l a sortie de l a pince absorban te et le câbl e coaxi al assu rant
le raccordem en t au récepteu r de mesu re;
– u n câble coaxial en tan t que câbl e récepteu r.
Le poin t de référence de la pince (CRP) indiqu e l a positi on lon gi tu din al e de l'avan t du
transformateu r de couran t dans la pince. Ce poin t de référence est u ti l isé pour définir la
posi tion de la pi nce pendan t la procédure de mesure. Le CRP doi t être i ndiqué su r l e boîtier
extérieur de la pince absorbante.
4.2.2 Facteur de pince et atténuation de site

La Fig u re 2 donn e u ne représen tation schématiqu e d'u ne mesu re réelle d'un apparei l en essai
effectu ée en u til isant l'ACMM . Des in form ati ons détail lées sur l'ACM M sont données à
l'Article 7 de la CI SPR 1 6-2-2.
La mesu re de la pu issance pertu rbatrice est basée su r la m esu re du courant asym étriqu e
g énéré par l'apparei l en essai , mesu ré à l 'en trée de la pince absorban te avec u ne sonde de
cou ran t. Les ferri tes absorban tes de l a pince au tour du câble en essai isolen t le
transformateu r de cou rant des pertu rbations provenant du réseau d'alim en tati on. Le cou ran t
maximal est déterm in é en déplaçan t la pince absorban te le l on g du câble ten du , qu i se
comporte comme u ne lign e de transm ission . La li g ne de transm ission réal ise la transformation
d'impédance en tre l'en trée de la pince absorbante et la sortie de l'appareil en essai . Au poi nt
de rég lag e opti mal , on peu t mesurer l e cou ran t perturbateu r maximal en sortie de la sonde de
cou ran t ou la tension pertu rbatrice maxi male à l'entrée du récepteu r.
Dans le cas présen t, l e facteur de pince réel CFact d'u ne pince absorbante donn e la rel ation
en tre le si g nal de sortie de la pince Vrec et la g randeu r à mesu rer considérée, c'est-à-dire la
pu issance pertu rbatrice Peu t d'u n apparei l en essai comm e su it:

où
Peu t est la pu issance perturbatrice de l'appareil en essai EU T en dBpW;
Vrec est la tension mesu rée en dB µ V;
CFact est le facteur de pince réel en dBpW/µ V.
I déalement, l e niveau de pu issance reçu Prec en dBpW au n iveau de l'en trée du récepteu r
peu t être calcu lé en u ti lisan t la formu le sui van te:
où
Zi = 50 Ω , im pédance d'entrée du récepteur de m esu re, et
Vrec = ni veau de tensi on mesu ré en dB µ V.
En u tilisan t les équ ations (1 ) et (2) , il est possible de dédu ire u ne relation en tre la pu issance
pertu rbatrice Peu t ém ise par l'appareil en essai et la pu issance Prec reçue par le récepteu r
comm e su it:
– 44 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Peut − Prec = CFact +17 (3)
Cette relation idéale en tre la pu issance perturbatrice de l'appareil en essai et la pu issance

reçue par le récepteu r de mesure est défin ie com me l 'atténu ation de site réel le de l a pince
A act (en dB) .
Cette atténu ation de site réelle de la pince dépend de trois propriétés:

– les propriétés de réponse de la pince,
– l es propriétés du si te, et
– l es propriétés de l 'appareil en essai .
4.2.3 Fonctions de découplage de la pince absorbante

Al ors qu e le transformateu r de cou ran t de la pince absorban te mesure la pu issance
pertu rbatrice, l 'attén u ation de décou plag e apportée par les ferrites au tou r du câbl e en essai
établi t u ne dissymétrie d'impédance et isole l e transformateu r de couran t de l'extrém i té
éloig née du câble en essai. Cette isolation rédu i t l'influence pertu rbatrice du réseau
d'al imentation et de l'im pédance de l 'extrém ité éloig née du câble ai nsi qu e son in fluence su r
l e cou ran t mesu ré. Cette atténu ation de découplag e est appelée facteu r de décou plag e ( DF) .
U n e deu xièm e fonction de découplag e est nécessaire pou r la pince absorban te. La deu xième
foncti on de décou plag e est le décou plag e entre le transformateu r de cou ran t et l 'impédance
asymétrique (ou de mode commu n) du câble récepteur. Ce décou plage est obtenu par la
section absorbante consti tu ée d'ann eau x de ferri te su r le câble en tre l e transformateur de
couran t et le récepteu r de mesu re. Cette atténu ation de décou plag e est appelée facteur de
décou pl ag e pou r le récepteu r de m esu re ( DR) .
4.2.4 Exigences pour l'ensemble pince absorbante (ACA)

Les pinces absorban tes u ti lisées pou r les mesu res de la pu issance perturbatrice doi vent
satisfaire aux exig ences su ivan tes:
a) Le facteu r de pince réel ( CFact ) de l'ensemble pince absorban te, tel qu 'il est défini
en 4. 2. 1 , doit être déterm iné con form ém ent au x méthodes normati ves décrites à
l 'An nexe B. L'incerti tu de sur le facteu r de pi nce doi t être déterminée conformémen t au x
exig ences én oncées à l'An nexe B.
b) Le facteur de décou plage ( DF) de l 'absorbeu r RF larg e bande et du stabi lisateu r
d'impédance pou r le câble en essai doit être véri fié con form ém ent à la procédu re de
m esu re tel le qu 'el le est décri te à l'An nexe B. Le facteu r de décou plag e doi t être d'au
m oins 21 dB pour l'ensemble de l a g amm e de fréquences.
c) La fonction de découplag e entre le transformateu r de couran t et la sortie mesure ( DR) de
la pince absorban te doi t être déterm i née con formément à la procédure de mesu re telle
qu'el le est décrite à l 'Ann exe B. Le facteur de découplag e du récepteu r de mesure doit
être d'au moins 30 dB pour l 'ensem ble de la g am me de fréqu ences. La valeu r de 30 dB
inclu t l 'atténu ation de 20, 5 dB provenan t de la pince absorban te pl u s 9, 5 dB proven an t du
réseau de cou plag e/décou plag e (CDN ) .
d) La l ong u eu r du boîtier de l a pince doit être de 600 m m ± 40 mm .
e) U n attén u ateu r RF 50 Ω d 'u ne val eu r m in im ale d e 6 dB doit être inséré directemen t en
sortie de la pince.
4.3 Méthodes d'étalonnage de l'ensemble pince absorbante et leurs relations

L'étalonnag e de la pince est destiné à déterm iner le facteu r de pince CF dans u ne
con fi g uration qu i s’apparen te au tan t qu e possible à cell e d'u n e mesu re réel le effectu ée sur u n
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 I EC 201 6
appareil en essai. Cepen dan t, en 4. 2. 2, il a été observé qu e le facteu r de pince vari e en
foncti on de l'appareil en essai , des propriétés de l a pince et des performances du site. Pour
des raisons de n orm al isation (reproducti bi li té) , la m éthode d'étalonnag e doit m ettre en œu vre
u n si te d'essai présentan t des perform ances spéci fi ées et reprodu ctibles ainsi qu’u n
g énérateu r et u n récepteur de sig n au x dont l es performances sont égalem ent reprodu ctibles.
Dans ces con di tions, la seu le variable restant vien t de la pince absorban te en consi dération.
Trois Deu x m éth odes d'étal onn age de la pince absorban te son t développées ci-dessou s, et
pou r chacu n e sont présentés leurs avan tag es, leurs incon vén ien ts et l eurs appl ications
propres (voir Tableau 1 ) . La Fig u re 3 donne u ne vu e d'ensemble schématiqu e de ces trois
deu x méth odes.
En gén éral , ch acu n e des m éthodes d'étalonnag e comprend les deu x étapes su ivantes.
Prem ièremen t, pou r établ ir un e référence, on mesu re directemen t la puissance de sortie Pg en

d u g énérateu r RF (i mpéd an ce d e sorti e d e 50 Ω) vi a u n attén u ateu r d e 1 0 dB en u tilisan t u n
récepteu r (Fi gu re 3a) . Ensu i te, la pu issance pertu rbatri ce du mêm e générateu r et de
l 'attén u ateur de 1 0 dB est mesu rée par l'in term édiaire de la pince en u ti li san t l’u ne des trois
deu x méth odes su i van tes.
a) M éth ode orig inal e
La m éthode d'étalonn age orig inale du m on tag e de pince absorban te util ise un site de
référence qu i comporte u n pl an de référence vertical de g rande tail le (Fi gu re 3b) . Par
défini tion , cette méth ode donn e l e CF directemen t car il s'ag it de la m éth ode d'étal on nag e
orig i nale qu i est u tilisée pour la déterm inati on des l im i tes et qu i est donc considérée
comm e la référence. Le conducteu r en essai est raccordé à l'âme central e du con necteu r
de traversée du plan de référence vertical . De l 'au tre côté de ce pl an vertical , le
connecteu r de traversée est relié au g énérateu r. Pour cette con figu rati on d'étal onn age,
Pori g est m esu ré au cours du dépl acemen t de la pince le long du conducteu r en essai,
con formémen t à la procédure décrite à l'Annexe B de tel le manière qu ’on obti enn e la
valeu r maxim ale pou r ch aqu e fréqu ence. L'atténu ation de si te m in imal e A ori g et l e facteu r
de pince absorban te CFori g peu ven t être déterm in és en u til isan t l es équ ations sui van tes:
et
L'atténu ation de site min imale A ori g se si tu e approxim ativemen t dans la plage 1 3 dB à
22 dB.
b) M éthode d'étal onn ag e avec g abari t
Cette méthode d'étalonnage u ti lise u n g abari t qu i peu t être adapté à la long u eu r de la
pince absorban te en étalonnag e et du disposi tif absorban t secondai re (SAD) . Ce gabarit
sert de stru ctu re de référence pour la pince absorban te (voir Fig u re 3c) . Pou r cette
con fig u rati on d'étalonn ag e, Pj i g est m esu rée en fonction de la fréquence alors qu e la pince
est à u ne position fi xe à l'in téri eur du g abari t. L'atténu ation de si te A j i g et l e facteu r de
pince absorban te CFj i g peu ven t être détermi nés en u til isan t les équ ati ons su ivantes:
et
CF = A j i g – 1 7 (8)
c) M éth ode avec modu le de référence
– 46 –
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 I EC 201 6
La méthode avec m odu le de référence u til ise un si te de référence (sans plan de référence
vertical) et u n modu le de référence alimen té par l 'i n termédi ai re du conducteu r en essai
qui , dans ce bu t, est de structure coaxiale (voir Fi gu re 3d) .
Pou r cette con fi gu rati on d'étalonn ag e, Pref est mesu ré au cou rs du dépl acemen t de la
pince absorbante l e long du con ducteu r en essai , con formémen t à la procédu re décri te à
l 'An nexe A de man ière à obten ir la valeu r maxim ale pou r ch aqu e fréqu ence. L'attén u ation
de site m in imale A ref et le facteu r de pince absorban te CFref peu ven t être déterm inés en
u tilisant les équations su i van tes:
A ref = Pg en – Pref (9)
et
CFref = A ref – 1 7 (1 0)
L'Ann exe B décrit de manière pl u s détail lée les trois deu x m éth odes d'étalonn age possi bl es
pou r la pi nce absorban te. U n aperçu de ces trois deu x méthodes d'étalon nag e de l a pince est
ég alemen t donné à la Fig ure 1 . La Fi gu re 1 décri t ég alem en t la relation en tre la méth ode de
mesure à l a pince et les m éthodes d'étalonnag e de l a pince ai nsi qu e le rôle du si te de
référence.
N OTE L'étal on n ag e s'appl i qu e à l a pi n ce, l 'attén u ateu r et l e câbl e. I l n e fau t pas l es di ssoci er.
Les facteu rs de pi nce absorban te obtenu s par la méthode du g abari t et la méthode avec
m odu le de référence ( CFj i g , CFref ) di ffèren t par principe du facteur ori gi nal de l a pince
absorban te CFori g . I l est n écessaire d'in trodu ire cette relation de principe en tre ces di fféren ts
facteu rs de pince comme sui t.
Le facteu r de transfert de gabari t JTF est calcu lé en u tilisan t la rel ation

Le JTF en dB doi t être détermi né pou r chaqu e type de pince absorban te par le fabrican t de
pince. Le fabrican t ou u n laboratoire d'étalonnag e accrédi té doit déterm iner le JTF en faisan t
l a moyenn e des résu ltats d'au moins cinq étalonnages reproductibles pou r ci nq disposi tifs
d'u ne série en produ cti on . De même, le facteur de transfert de référence RTF est déterm iné
par
RTF = CFref – CFori g (1 2)
De la même façon, le RTF en dB doit être déterm i né pour chaqu e type de pince absorban te
par le fabrican t de la pince. Le fabrican t ou u n laboratoire d'étal onnag e accrédi té doit
déterminer l e RTF en faisant la moyenne des résu l tats d'au m oins cinq étal onnag es
reprodu ctibles pou r ci nq dispositifs d'u ne série en production.
En résu mé, la m éthode d'étalon nag e orig in ale fou rn i t directement la valeu r du CFori g . La
m éth ode avec g abari t et cel le avec m odul e de référence don nen t respectivem en t le CFj i g et le
CFref , à parti r desqu els on peu t calcu ler le facteu r de pince absorban te ori g inal en u ti lisan t les
équ ations (1 1 ) et (1 2) donne le CFj i g , à partir du qu el l e facteur de pince absorbante orig inal
peu t être calcu lé en u ti lisan t l'Équ ati on (1 1 ) .
I l est exig é de déterminer le J TF séparément pou r les pinces absorban tes avec des
g éométries, u ne disposition , u n matériau de ferrites, des sondes de cou ran t, ainsi qu 'u n
m atériau de boîti er di fféren ts. U ne n ou velle déterm in ation est ég al em en t exi gée en cas
d'u tilisati on d'u n type de g abari t différen t, par exemple, u ne g éom étrie de plu s grandes
di mensions.
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 47 –
 I EC 201 6
4.4 Dispositif absorbant secondaire
En plus de l a partie absorban te de l a pince, il est nécessaire de recourir à u n disposi ti f
absorban t secondai re (SAD) placé directem ent à l a su ite de l a pince absorban te pou r rédu ire
l'incerti tu de su r la mesu re. La fonction de ce SAD consiste à fou rnir u ne atténu ation
su pplémen taire à celle procu rée par l'atténu ation de découplag e de la pince absorban te. Le
SAD doi t être déplacé de l a mêm e m anière que la pince absorban te au cou rs de l'étalonnag e
et de la mesu re. C'est pourqu oi le SAD doi t être équ ipé de rou es pou r perm ettre la m ise en
pratiqu e du processu s de scru tation . Les dim ensi ons du SAD doiven t être tel l es qu e le câble
en essai soit à la même h au teu r qu 'à l'intérieur de la pi nce absorbante.
Le facteu r de décou plage du SAD doit être véri fié con formém ent à l a procédu re de m esu re
telle qu e décri te à l'Annexe B. Du rant la m esu re du facteu r de décou plag e du SAD, cel ui-ci
est sol idaire de l a pince absorban te.
N OTE De n ou vel l es tech n ol og i es peu ven t ren d re possi bl e l 'i n tég rati on d an s l a pi n ce absorban te d e l a
fon cti on n al i té com pl ém en tai re d u SAD. Par con séq u en t, si l a pi n ce absorban te el l e-m êm e sati sfai t à l a
spéci fi cati on du facteu r d e décou pl ag e, i l n 'est pas n écessai re d 'adj oi n d re u n SAD.
4.5 Site d'essai à la pince absorbante (ACTS)

4.5.1 Description de l'ACTS
Le site d'essai à la pi nce absorbante (ACTS) est u n emplacemen t u tilisé pou r l a m ise en
œu vre de l 'ACM M. L'ACTS peu t être u ne i nstal lation in térieu re ou extéri eu re et i ncl u t les
élémen ts su ivan ts (voir An nexe C, Fig u re C. 1 ) :
– la tabl e d'essai qu i sert de su pport à l'appareil en essai ;
– la g lissi ère de pi nce, qu i sert de su pport au conducteu r raccordé à l 'apparei l en essai (ou
au con du cteu r en essai, LU T) , et à la pince absorban te;
– u n su pport coul issant pou r le câble récepteu r de l a pince absorban te;
– des m oyens au xi liaires tel s qu 'u ne corde pou r déplacer la pince absorbante.
Tous l es él ém en ts ACTS ci tés ci-dessu s (sau f la tabl e de l'apparei l en essai) doi ven t être des
g ran deu rs spéci fiées dans la procédu re de vali dation ACTS.
L'extrém ité de l a g lissière de pince (du côté de l 'appareil en essai) est dési g née comme le
poi nt de référence de la gl issière (SRP, voir Fig ure C. 1 ) . Ce SRP est u ti lisé pou r défini r la
distance h orizon tale jusqu 'au CRP de l a pince.
4.5.2 Fonctions de l'ACTS

L'ACTS a les fonctions su i van tes.
a) Fonction physiqu e: fou rn ir des moyens de su pport spéci fi qu es pou r l'appareil et le câbl e
en essai.
b) Fonction électrique: fou rnir un emplacemen t idéal (du poin t de vu e RF) pou r l'appareil en
essai et l'ensemble pince absorban te et fourn ir u n en vironnement de mesu re bien défini
pou r l’u ti l isation de la pince absorban te (pas de distorsion des ém issions par les parois ou
l es élém ents su pports qu e consti tu ent l a tabl e de l 'appareil en essai, la g lissière de pince,
l e su pport cou lissan t et la corde) .
4.5.3 Exigences relatives à l'ACTS

Les exigences sui van tes s'appliqu ent à l'ACTS.
a) La long u eu r de la g lissière de pince doi t permettre u n déplacem en t de la pince absorban te
su r un e distance de 5 m. Cela sig ni fie qu e la g lissière de pince doi t avoir u ne long u eu r de
6 m.
– 48 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
N OTE Pou r d es rai son s d e reprod u cti bi l i té, l es l on g u eu rs m i n i m al es d e l a g l i ssi ère d e pi n ce et d e l a di stan ce
d e scru tati on avec l a pi n ce son t fi xées respecti vem en t à 6 m et 5 m . La l on g u eu r d e l a g l i ssi ère de pi n ce est
d éterm i n ée par l a som m e d e l a l on g u eu r d e scru tati on (5 m ) , l a di stan ce en tre l e SRP et l e CRP (0, 1 5 m ) et l a
l on g u eu r de l a pi n ce absorban te (0, 64 m ) pl u s u n espace pou r recevoi r l es fi xati on s d es câbl es au x extrém i tés
(0, 1 m ) . Cel a représen te u n e l on g u eu r total e d e 6 m pou r l a g l i ssi ère de pi n ce.
b) La hau teur de l a gl issière de pince doit être de 0, 8 m ± 0, 05 m . Cela impl iqu e qu e dans la
pince absorban te et dans l e SAD, la hau teu r du câble en essai au-dessus du plan de
référence sera su péri eu re de quelqu es cen tim ètres.
c) Le matéri au qu i constitu e l a table de l 'appareil en essai et l a g lissi ère de pince doit être
n on réfléchissan t, n on condu cteur et ses propriétés diélectriqu es peu ven t être proches de
cel les de l'air. De cette man ière, l a table de l'apparei l en essai est transparen te d'un poin t
de vu e électromagnétiqu e.
d) Le matériau de la corde u ti lisée pou r déplacer la pince le long de la g lissière doi t
égalemen t être transparen t d'u n point de vu e électrom agn éti qu e.
N OTE L'i n fl u en ce d u m atéri au d e l a tabl e d 'essai et d e l a g l i ssi ère d e pi n ce peu t s’ avérer si g n i fi cati ve pou r
l es fréqu en ces su péri eu res à 300 M H z.
e) L'adéqu ation du si te (voir la fonction él ectriqu e de l 'ACTS) est val idée en com paran t le
facteu r de pince de l 'ACTS mesuré in si tu ( CFi n -si tu ) avec le facteu r de pince mesuré su r
le site de référence de la pince (ACRS) ( CFori g ) , en appliqu an t la méthode d'étalonn ag e
ori gi nale (voir Annexe C) . I l est également adm is d'u ti l iser les facteurs de pince
m entionnés dans u n certificat d'étalon nag e fou rni par u n l aboratoire compéten t. Tou tefois,
ces facteu rs de pince util isés comm e référence pour u ne val idation ACTS doi ven t être
déterminés u ni quemen t à l'aide de la méth ode d'étalonnag e orig inale. La différence
absolue en tre les deu x facteu rs de pi nce doi t être con forme à l'exigence su i van te.
∆ ACTS = CForig – CFin- situ (1 3)
doi t être
<2, 5 dB en tre 30 M H z et 1 50 M H z;
2, 5 dB à 2 dB entre 1 50 MH z et 300 MH z en décroissan t;
<2 dB en tre 300 MH z et 1 000 MHz.
La procédu re de val idati on de l'emplacem ent est spéci fiée de m an ière plu s détai ll ée au
paragraphe su i van t.
4.5.4 Méthodes de validation pour l'ACTS

Les caractéri stiqu es de l'ACTS sont validées comm e su i t.
– Les exigences ph ysiqu es 4. 5. 3a) et 4. 5. 3b) peu vent être validées par inspection .
– La foncti on électri qu e de l'ACTS (exi gence de 4. 5. 3e) doi t être val idée en comparant le
facteu r de pince CF de la pince étalonnée avec l e facteur de pince mesu ré in si tu CFi n si tu
con formémen t à la « m éthode d'étalon nag e orig inale» (voir Annexe C) .
Des étu des on t mon tré qu'u n OATS ou un SAR validé pou r l es m esu res des ém issi ons
rayon nées à 1 0 m peu t être considéré com me un si te idéal pou r la m ise en appl ication de
l 'ACMM . C'est pou rquoi u n OATS ou u n SAR pou r les mesu res à 1 0 m sera adopté comme
si te de référence pou r l a vali dation électrique de l'ACTS. En conséquence, si u n OATS ou u n
SAR vali dé pour les mesu res à 1 0 m est u tilisé comm e si te d'essai à l a pince, alors l a fonction
électri que de cet em pl acement n'a plu s à être val idée.
La procédu re de val idation de la fonction électrique de l 'emplacem en t d'essai à la pince est

décrite en détail à l 'Annexe C.
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 49 –
 I EC 201 6
4.6 Procédures d'assurance qualité pour l'instrumentation de mesure par pince
absorbante
4.6.1 Vue d'ensemble
Les perform ances de la pi nce absorban te tou t comm e celles du disposi tif absorban t
secondai re peu vent varier avec la du rée d'u tilisation , le vieil l issement ou l'appari tion de
défau ts. De m êm e, les performances de l'ACTS peu ven t varier à cau se de modificati ons
apportées à l a conception ou du vi ei llissemen t.
La méthode d'étal onn age avec gabarit et l a méth ode d'étal onnag e avec modul e de référence
peu ven t peut être aisément u tilisées pou r les procédu res d'assu rance qu ali té, sou s réserve
que le facteu r de pince du g abarit et le facteur de pince du m odu le de référence soien t soi t
connus au départ.
4.6.2 Vérification de l'assurance qualité pour l'ACTS

I l est possi ble d’u til iser comm e référence l es donn ées su r l 'atténu ation de si te A ref de l 'ACTS,
détermi nées au momen t de l a vali dation du si te.
Au-delà d’un certain temps et après modification du si te, i l est possi ble de répéter cette
m esure d'atténuation de si te et de com parer les résul tats avec les donn ées de référence.
L'avan tage de cette méth ode est qu e tous l es élémen ts de l 'ACMM son t évalu és en m êm e
temps.
4.6.3 Vérification de l'assurance qualité pour la pince absorbante

Les performances des foncti ons de décou pl ag e et du facteur de pi nce déterminées au
m om en t de la validation de la pince, peu vent être u til isées comm e données de performance
de référence.
Au -delà d’un certain tem ps ou après une modi fication apportée au si te, i l est possible de
véri fier à n ou veau ces param ètres de performance en mesu ran t les facteu rs de décou plage et
le facteur de pince en appl iqu an t la m éth ode avec gabarit (An nexe B) .
4.6.4 Critères d'acceptation/de refus en assurance qualité

Les critères d'acceptation/de refus des essais en assu rance qualité son t li és à l'i ncerti tu de su r
la mesu re du param ètre de mesure en qu estion . Cel a sig n ifie qu 'u ne vari ation du paramètre
en qu estion sera acceptabl e si cel le-ci est in férieu re à u ne fois l'incertitude su r l a m esu re.
– 50 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
METHODE DE MESURE PAR PINCE
ABSORBANTE (ACMM)
(Arti cl e 7 de la CI SPR 1 6-2-2)
N écessite:
• Apparei l en essai
• une pince étalonnée
• un site d'essai à la pince absorbante validé
(ACTS)
• u n récepteu r étal on n é VALIDATION DU SITE D'ESSAI A LA PINCE
• u n m on tag e d'essai spécifié ABSORBANTE (ACTS)
• u n e procédu re d'essai spéci fi ée (spécifi é à l ’An n exe C)
Fou rn it: l a pu i ssan ce pertu rbatri ce d'u n apparei l
en essai N écessite:
• L'ACTS (site d'essai à l a pi n ce absorban te) en
val i dati on
• une pince étalonnée avec l e SAD étalon n é en
appl i qu an t l a m éth ode ori g in al e
METHODES D'ETALONNAGE DE PINCE
• u n récepteu r étal on n é
(spécifi ées à l’ An n exe B) • u n m on tag e d'essai spécifiqu e
a. Validation de la pince • u n e procédu re d'essai spéci fi qu e
Nécessite: Fournit: un site d'essai à la pince absorbante validé
La validation des fonctions de découplage de la
pince avec le dispositif absorbant secondaire
b. La méthode orig inale
N écessite:
• l a pi n ce en étal on n ag e avec l e SAD
• l 'équ i pem en t de m esu re VALIDATION DES FONCTIONS
• un site validé: ACRS (site de référence pour DE DECOUPLAGE ENTRE LA
pince absorbante) PINCE ABSORBANTE ET LE
• u n e sou rce spéci fi ée (g én érateu r + pl an de DISPOSITIF SECONDAIRE
référen ce verti cal de g ran de tai l l e) (An n exe B)
• u n m on tag e d'essai spécifié
• u n e procédu re d'essai spéci fi ée N écessite:
Fou rn it: Le facteu r de pi nce ori g i n al ( CFo ri g ) • l a pi n ce avec l e SAD
c. La méthode avec g abarit • u n g abari t
N écessite: • u n e sou rce spéci fi ée
• l a pi n ce en étal on n ag e avec l e SAD • l 'équ i pem en t de m esu re
• l 'équ i pem en t de m esu re • u n m on tag e d'essai spécifié
• u n g abari t d'étal on n ag e • u n e procédu re d'essai spéci fi ée
• u n e sou rce spéci fi ée
• u n e procédu re d'essai spéci fi ée
Fou rn it: l es facteu rs de pi n ce CFj i g et CFo ri g qu i
peu ven t être cal cu l és à l ’ai de du facteu r de transfert
de g abari t JTF.
SITE DE REFERENCE POUR PINCE
d. La méthode avec module de référence ABSORBANTE (ACRS)
N écessite:
• l a pi n ce en étal on n ag e avec l e SAD U n OATS ou SAR, val idé pou r l es m esu res
• l 'équ i pem en t de m esu re d'ém i ssi on s rayon n ées à 1 0 m en tre 30 M H z et
• un site validé: ACRS (site de référence pour 1 000 M H z, est con si déré ég al em en t com m e u n
pince absorbante.) si te val i de d'étal on n ag e de pi n ce.
• l e m odu l e de référen ce de pi n ce
Fou rn it: Les facteu rs de pin ce CFref et CFo ri g peu vent
être cal cu l és avec l e facteur de tran sfert de réf RTF.
IEC 830/04
Figure 1 – Vue d'ensemble de la méthode de mesure par pince absorbante et

procédures d'étalonnage et de validation associées
 I EC 201 6
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
Tableau 1 – Vue d'ensemble des caractéristiques des trois deux méthodes d'étalonnage de pince et leur relation
Nom de la méthode Emplacement d'essai APPAREIL EN ESSAI util isé Avantages (+), inconvéni ents (–) et remarques ( • ) Appl ications
d'étal onnag e util isé
M éth od e ori g i n al e U n si te d e référen ce Pl an d e référen ce verti cal d e • Le m on tag e d'étal on n ag e ressem bl e à u n e m esu re Etal on n ag e di rect d e l a
pou r pi n ce absorban te g ran d e tai l l e et al i m en té depu i s réel l e su r u n apparei l en essai d e g ran de tai l l e pi n ce absorban te
l 'arri ère d e ce pl an d e référen ce
par u n g én érateu r – La m an i pu l ati on d u pl an d e référen ce d e g ran d e
tai l l e est l abori eu se
– U n em pl acem en t d e référen ce (ACRS) est
n écessai re
+ Par d éfi n i ti on , cette m éth od e d on n e l e CF
d i rectem en t car i l s'ag i t de l a m éth od e d 'étal on n ag e
ori g i n al e et el l e est d on c con si d érée com m e l a
référen ce
M éth od e avec U n g abari t d 'étal on n ag e U n e d es fl asq u es verti cal es du – Le m on tag e d'étal on n ag e n e ressem bl e pas à u n Etal on n ag e i n d i rect d e l a
g abari t d e pi n ce absorban te g abari t et al i m en té d epu i s l ’ arri ère essai réel pi n ce absorban te
d e cette fl asq u e d e g abari t par u n
– 51 –
g én érateu r + M an i pu l ati on ai sée Con trôl e assu ran ce
q u al i té d e l a pi n ce
+ Pas d e si te de référen ce (ACRS) n écessai re
+ Bon n e reprodu cti bi l i té
– N e d on n e pas di rectem en t l e CF ; l e CF est cal cu l é
en u ti l i san t l e J TF
M éth od e avec U n si te d e référen ce Peti t m od u l e de référen ce al i m en té • Le m on tag e d'étal on n ag e ressem bl e à u n e m esu re Etal on n ag e i n d i rect d e l a
m od u l e d e référen ce pou r pi n ce absorban te d epu i s son extrém i té l a pl u s réel l e su r u n apparei l en essai d e g ran de tai l l e pi n ce absorban te
él oi g n ée par u n g én érateu r
+ Di sposi ti f d e référen ce faci l e à m an i pu l er Val i d ati on d e l ’ ACTS
– U n em pl acem en t d e référen ce (ACRS) est Con trôl e assu ran ce
n écessai re q u al i té d u m on tag e
com pl et d e m esu re par
– N e d on n e pas di rectem en t l e CF ; l e CF est cal cu l é pi n ce
en u ti l i san t l e RTF
N OTE U n ACRS est u n OATS ou u n SAR val i d é d e 1 0 m .
– 52 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
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Appareil
en essai Peut
Pince
absorbante Câble en essai
CFact
Vrec (Prec)
Plancher horizontal du site d’essai à la pince IEC 831/04
Légende
Peu t Pu i ssan ce pertu rbatrice de l 'apparei l en essai EUT en dBpW
Vrec Ten si on m esurée en dB µ V
CFact Facteu r de pin ce réel en dBpW/ µ V
Prec N i veau de pu issan ce reçu en dBpW
Figure 2 – Aperçu schématique de la méthode d'essai par pince absorbante

CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 53 –
 I EC 201 6
Pgen Récepteur
Générateur
Atténuateur (50 Ω )
1 0 dB
IEC 832/04
Figure 3a
Plan de référence vertical

de grande taille
Pince Dispositif abso-

Générateur Absorbante rbant secondaire
CForig
Atténuateur
1 0 dB
Porig
Plan horizontal de référence du site de référence IEC 833/04

Figure 3b
Gabarit
CFjig
50 Ω
Atténuateur
1 0 dB
Pjig
IEC 834/04
Figure 3c
Module de référence

Absorbante rbant secondaire Générateur
Atténuateur
1 0 dB CFref
Pref
Plan de référence horizontal du site de référence IEC 835/04

Figure 3d
Lég en d e
CFori g , CFj i g , CFref Facteu rs de pi n ce absorban te
Pori g , Pref , Pj i g M esu re d e P, sel on l a m éth ode d e val i d ati on u ti l i sée

Pg en Pu i ssan ce de sorti e d u g én érateu r et attén u ateu r 1 0 dB
N OTE Les Fi g u res 3b) , 3c) et 3d ) correspon d en t respecti vem en t au x troi s d eu x m éth od es d u Tabl eau 1 .
Figure 3 – Aperçu schématique des méthodes d'étalonnage de pince

– 54 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Annexe A
(informative)
Construction de la pince absorbante

(Paragraphe 4. 2)
A.1 Exemples de construction de pince absorbante

Les Fi g ures A. 1 et A. 2 donnen t l’ensemble de base de l a pince absorbante. Les trois parties
principales de la pince absorban te décrite en 4. 2 son t le transformateu r de cou rant C,
l'absorbeu r de pu issance et stabilisateu r d'i mpédance D et l e manchon absorban t E. D est
composé de plusieurs an neau x de ferri te et E est composé d'anneau x ou de tu bes de ferrite.
Le noyau du transformateu r C com porte deu x ou trois anneau x du type u ti l isé pou r D.
L'enrou lemen t secondaire du transformateu r de couran t est com posé d'u n tou r de câble
coaxial m iniatu re encercl an t les anneau x et raccordé comm e i ndiqu é. Le câbl e passe par le
manchon E et est con necté à l a borne coaxiale su r la pince (possible par l’attén uateu r 6 dB) .
C et D son t m ontés l 'un près de l 'au tre et ali g nés sur le même axe, de mani ère à perm ettre le
mou vemen t l e long du câbl e B à mesu rer. Le m anchon E est en g énéral mon té le l ong de
l'absorbeu r D pour des raisons pratiqu es. D et E serven t tou s les deu x à atténu er les couran ts
asymétriqu es sur les câbl es les traversan t.
L'exemple de la Fig u re A. 2 donn e ég alemen t qu elqu es élém en ts d'améliorations apportées

au x performances de la pince absorbante. U n cyli ndre de métal (1 ) est m on té à l'intérieur du
noyau du transform ateu r C com me blindag e capaciti f. Ce cylin dre est séparé en deu x m oitiés.
U n tu be isolan t (2) est u ti lisé pour cen trer le câble à l 'in térieu r du transformateu r. Ce tu be va
de l'extrém ité d'en trée du transformateur au prem i er anneau de l'absorbeur D et il est u til isé
pendan t l'étalonnage de l a pince et pou r les câbl es de peti t diamètre.
La pince absorban te peu t être réalisée pou r cou vrir la g am me de fréqu ences de 30 MH z
à 1 000 MH z; i l su ffi t pour cela d'u til iser des ann eau x de ferrite appropriés.
Vers récepteur de
Absorbeur mesure
Point de référence (anneaux ferrites) Atténuateur
de 6 dB
de la pince (CRP)
Câble de mesure
coaxial
Câble en
Transformateur Absorbeur
essai
de courant (anneaux ferrites) IEC 836/04
N OTE L'attén u ateu r d e 6 d B et l e câbl e de m esu re fon t parti e i n tég ran te d e l 'en sem bl e pi n ce absorban te.
Figure A.1 – Ensemble pince absorbante et ses éléments

 I EC 201 6
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
640 mm ± 40 mm
E E ∼1 5
1
B
35 ∼23
B
– 55 –
2
C
D D
2 anneaux ∼560
34 anneaux
IEC 837/04
Point de référence
de pince (CRP)
Légende
B Câbl e en essai
C Tran sform ateu r d e cou ran t
D Secti on absorban te
E Secti on absorban te su r l e câbl e d epu i s l e tran sform ateu r
1 Cyl i n d re m étal l i q u e en d eu x parti es
2 Tu be d e cen trag e pou r l e câbl e B
3 Con n ecteu r coaxi al (pou r l 'attén u ateu r d e 6 d B)
Figure A.2 − Exemple de conception d'une pince absorbante

– 56 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
An n exe B
(normative)
M éth o d es d ' étal o n n ag e et d e val i d ati o n d e l a pi n ce abso rban te
et d u d i s po s i ti f abso rban t s eco n d ai re
(Article 4)
B.1 I n trod u cti o n
La présente an nexe don ne des in formations détai llées concernan t l es di fféren tes m éth odes
d'étal onn ag e et de vali dation pou r l'ensemble pince absorban te et pour le disposi ti f absorbant
secondai re.
Les m éthodes pou r réal iser l'étalonnag e du facteu r de pince de l a pince absorban te (voir
aussi 4. 3) son t décrites à l ’Article B. 2.
Les m éthodes pou r valider les fonctions de découplag e DF et DR sont décri tes à l’Arti cle B. 3.
B.2 M é th o d es d ' ét al o n n ag e d e l ' en sem b l e p i n c e ab so rba n te
Les trois deu x méth odes perm ettent de déterm iner le facteu r de pince ( CF) de l'ensem bl e
pince absorbante, inclu an t l 'atténu ateur d'au m oins 6 dB et le câble récepteu r. Dans l a
mesu re où le décou plag e de la pi nce n 'est pas parfai t, l a pince in terag it avec le câble. Le type
et la lon g ueu r du câble peu vent ainsi in fl u encer l'incerti tu de résu l tan te. Pou r cette raison ,
l'étalon nag e doi t être réal isé en y in tég rant l e câble récepteur.
B.2.1 M éth od e d ' étal o n n ag e o ri g i n al e
B.2.1 .1 M o n tag e et i n stru m en tati on d ' étal on n ag e
La Fi g ure B. 1 décrit l e m on tag e d'étalonnage. I l fau t qu e l e m on tag e d'étalonnag e soit si tu é

su r u n ACRS pou r évi ter d'in fluencer son en viron nement imm édiat. Si l'ACRS n'a pas de plan
de sol m étalliqu e, u n pl an de sol h orizontal , typiqu em en t de 6 m × 2 m , est n écessaire.
U n OATS ou un SAR conçu pour réaliser des m esu res à un e distance de 1 0 m et con forme
au x exig ences CI SPR N SA, consti tu e u n ACRS val ide pou r cette procédu re d'étalonn age.
Le m on tage d'étal onn age com pren d les composan ts su i van ts:
– u ne gl issière de pince constru ite dans u n m atériau non réfléchissan t d'environ 6 m de l ong
pou r assu rer le mai ntien du con du cteu r en essai à u ne hau teu r de 0, 8 m ± 0, 05 m au -
dessu s du sol. Cela impli qu e qu e dans l a pince absorbante et dans le SAD, la hau teu r du
câbl e en essai au -dessus du plan de référence sera su périeure de qu elques centim ètres;
– u n pl an de masse vertical d'une taille supérieu re à de 2, 0 m × 2, 0 m, raccordé au plan de
sol m étal li qu e et pourvu d'u ne traversée de pan neau de type N i mplanté su r son axe de
sym étrie vertical à u ne hau teu r de 0, 87 m . Ce plan de m asse vertical est position né près
de l 'extrém i té de la g lissière de pince qui est appelé poin t de référence du si te d'essai à la
pince absorban te (SRP) ;
– u n con du cteu r isolé pour l es essais de mise au point, d'u ne longu eur de 7, 0 m ± 0, 05 m et
d'u n diamètre de 4 mm sans compter l'isolan t, don t l'un e des extrém i tés est raccordée
(par exemple sou dée) à l a traversée de pann eau . L'au tre extrém ité du con du cteu r est
raccordée à la ph ase et au neu tre d'un CDN de type M (voi r Fi gu re C. 2 de la
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 57 –
 I EC 201 6
CI SPR 1 6-1 -2) , qui est lu i -m êm e raccordé au plan de sol métal l ique (h orizon tal) ; la sortie
m esu re du CDN est term inée par 50 Ω ( pour des raisons de sécurité, le CDN n'est pas
raccordé au réseau d’alimentation! ) . I l est recommandé, pour des raisons pratiqu es,
d'u ti liser u n condu cteur en essai sou ple. Ce CDN permet de satisfaire au x condi ti ons de
m ain tien d'un e impédance asymétriqu e stable à l'extrém ité l a plu s él oig née du câble en
essai sur u ne pl ag e de fréquences al lan t jusqu 'à 40 MH z à 50 MH z
– u n systèm e à pi nce non m étall iqu e approprié à l 'au tre extrém ité de la g l issière de pi nce
pou r tendre légèremen t le condu cteu r en essai ;
– u n disposi ti f absorban t secondaire (SAD) positionné su r la g lissière de pince à 50 mm de
la pince en étal onn age. Le disposi ti f absorban t secondai re peu t être u ne pince en ferrite
(cou lissan te) avec un e foncti on de décou pl ag e DF supérieu re ou égale à cel le défi nie
à l ’Article 4;
– u n disposi ti f amortisseur en matériau électromag nétiquement n eu tre près du plan de
m asse vertical , pour s'assu rer qu e l'espacemen t en tre le plan de masse vertical et le CRP
n ’est jamais in féri eur à 1 50 m m.
N OTE L'u ti l i sati on d e l 'écran extéri eu r d 'u n câbl e coaxi al (par exem pl e, RG -58) peu t être parfai tem en t ad aptée à
l 'exi g en ce d 'u n d i am ètre de 4 m m .
On u ti lise un récepteur ou u n analyseur de réseau x pour m esu rer le n i veau de sortie du

g énérateur et le n iveau de sortie de l a pince. Les n i veau x de sig nal mesurés doivent être
su périeu rs de 40 dB au x sig n au x am bi ants m esurés à l a sortie de la pince absorban te lorsque
le g énérateu r est hors tension . La non-li néari té du systèm e de mesure doi t être in féri eure à
0, 1 dB.
Pou r la mesu re de référence, la sortie du g énérateu r de pou rsu i te du récepteu r ou de

l'anal yseur de réseau x (N A) est reliée à l'en trée du N A via le câble coaxi al et u n atténu ateu r
de 1 0 dB.
B.2.1 .2 Procédure d'étalonnage

U n g u ide non métall ique pou r le conducteu r en essai est mon té su r l 'extérieu r de l a pince
absorban te en essai de m an ière à ce qu e le câble passe par le cen tre du transformateu r de
cou ran t (Figu re B. 2) .
Les deu x pinces – l a pince en essai et la pince absorban te secon daire (SAD) – sont
posi tionnées sur la g lissière de pince comm e représenté à la Fig u re B. 1 . La pi nce en essai
est installée en plaçan t le côté transform ateu r de cou ran t en direction du plan de masse
vertical . Le bord avan t du transform ateu r de cou rant consti tu e le point de référence de la
pince (CRP) et doit être indiqué par le fabrican t. La pi nce est positionnée en respectan t un e
distance de 1 50 mm entre le CRP et l e plan de m asse vertical. On fai t passer l e con du cteur
en essai à travers l es deu x pinces et il con vien t de le ten dre l égèremen t en u ti li san t u n
disposi ti f de serrag e non m étallique approprié à l'extrémi té de la g lissière de pince. I l n e fau t
pas qu e le condu cteur en essai tou che le plan de sol m étallique avan t son poin t de
raccordem en t au CDN .
La sortie du NA est reliée au connecteur de traversée de panneau via un câble coaxial et un

atténuateur de 1 0 dB. Le câble récepteur de la pince absorbante est raccordé à l'entrée du NA.
Le câble récepteu r doi t être su spendu de sorte qu 'i l se si tu e tou jou rs à 200 mm au mi n imum
du plan de sol h orizon tal tou t au long du processu s d'étalon nag e.
L'atténu ation de si te est mesu rée ju squ'à 60 MH z au moins par pas de 1 MH z, ju squ'à
1 20 MH z par pas de 2 M H z, jusqu'à 300 MH z par pas de 5 MH z et au -delà de 300 MH z par
pas de 1 0 MH z.
L'atténu ati on de si te min imale est m esurée tandis qu e les deu x pinces (pince absorbante plu s
SAD) son t dépl acées simu l tanément à une vitesse adaptée l e long de la g lissière de pi nce.
Les pinces peu vent être tirées au moyen d'u ne corde non m étal li que. I l fau t que la vi tesse à
– 58 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
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laquell e l es pinces son t déplacées perm ette de mesu rer l 'atténu ati on de si te à chaque
fréqu ence et à des in tervalles in féri eu rs à 1 0 mm.
Le facteu r de pince CFori g de l'ensem ble pince absorban te est calcu lé à partir de l 'atténu ation
de si te de mesu re à la pince en u ti lisan t l'équ ation (5) de 4. 3.
B.2.2 Méthode d'étalonnage avec gabarit

B.2.2.1 Spécification du gabarit d'étalonnage de la pince absorbante
Comm e cela est décrit à l’Article 4, le g abarit d'étalonnag e de l a pi nce absorban te peu t être
u ti lisé pou r l'étalon nag e de la pince absorbante. Le g abari t est u tilisé pour l a m esu re de la
perte d'insertion de l a pince absorban te associ ée au SAD dans u n système de mesu re en
50 Ω . N oter que l'im pédance caractéristiqu e du g abari t à vide n'est pas de 50 Ω . La m esure
dans u n g abari t perm et de m esu rer cette perte d'insertion en s'isol ant de l'environnemen t. Les
spécifications de dim ensions du gabarit et la disposition des pinces son t donn ées aux Fi g ures
B. 3 à B. 5.
B.2.2.2 Procédure d'étalonnage

U n g ui de non métall iqu e pou r le con du cteu r en essai est mon té à l'avan t de la pince
absorban te en essai de manière à ce qu e le condu cteu r passe par le cen tre de l a sonde de
couran t (Fig u re B. 2) . La pince absorbante est ensu ite posi tion née dans le g abari t, le poin t de
référence (CRP) de l a pince absorban te étan t si tu é à 30 m m de la flasque verticale com me
représen té au x Fig u res B. 3 et B. 4. La m êm e distance de 30 mm est u tilisée en tre l 'extrém ité
du SAD et l'au tre flasqu e verticale. Le condu cteu r en essai est raccordé au x dou il les dans les
fl asqu es verti cales par des fiches ban anes.
La perte d'insertion est mesurée en u ti lisan t u n N A. Le niveau de si gn al mesuré doi t être

su périeu r de 40 dB au x sign au x ambian ts mesu rés à l a sortie de la pince absorbante. La non -
l inéari té su r l a mesu re de la perte d'insertion doi t être in férieure à 0, 1 dB.
La sortie du N A est reliée via u n câbl e coaxial et u n atténu ateu r de 1 0 dB à l'entrée du N A

pour étalon ner le mon tag e de m esu re.
Après étal onn ag e du m on tag e de mesu re, la sortie du N A est raccordée via l e câbl e coaxi al et
u n atténu ateu r de 1 0 dB au conn ecteu r de traversée du côté du g abari t où se trou ve l e CRP
de l a pi nce. Le con necteu r de traversée qu i fai t face au CRP est fermé par u ne résistance de
50 Ω . La sortie de la pince absorbante est raccordée à l'entrée du N A via le câbl e récepteu r
et un attén uateu r de 6 dB. Le câble récepteur doit être trai té avec u n SAD. Le SAD doit être
posi tionné tel qu e représenté au x Fig u res B. 3 et B. 4.
La perte d'inserti on est ensu ite mesurée ju squ 'à 60 MH z au m oins par pas de 1 MH z, ju squ 'à
1 20 MH z par pas de 2 M Hz, jusqu'à 300 MH z par pas de 5 MH z et au -delà de 300 MH z par
pas de 1 0 MH z.
Le facteur de pi nce CFji g est calcul é à partir de la perte d'i nsertion en u tilisant l 'équati on (7) .
Le fabrican t doit détermi ner au m in imu m l e facteu r de transfert de g abari t JTF défi ni en 4. 3,
équation (1 1 ) , qu i permet l e calcu l du CFori g pou r ce type de pince absorban te.
B.2.3 Méthode d'étalonnage avec module de référence

B.2.3.1 Spécification et utilisation du module de référence et du site d'essai
Le modu le de référence doit être capable d'exci ter par couplag e capaci ti f u n cou ran t défin i sur
le condu cteu r en essai, indépendammen t de tou t en vironn em en t, tension d'al im en tation et
équ ipemen t de mesu re. Ces condi tions son t réal isées lorsqu e le m odu le de référence est
alimen té par u ne tension RF su r un câbl e coaxial via u n attén uateu r de 1 0 dB. Le modu le de
référence est réalisé avec le même matéri au qu e celu i u ti lisé pou r les cartes de circu it
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 I EC 201 6
im pri mé si mple face. U n connecteur coaxi al est m on té au cen tre de l a carte de telle m anière
que seu le la broche central e est raccordée à la feui l le de cu i vre. Le conn ecteu r coaxi al est
raccordé à l'atténu ateu r de 1 0 dB (voir Fig ure B. 7) . Le modu le de référence doi t être raccordé
par u n câbl e dou bl emen t écran té afin de s’assu rer qu e les couran ts asym étriqu es indui ts su r
le conducteu r en essai sont causés par l e modul e de référence et non par fu ite directe à
l'in téri eur du câbl e.
Le modu le de référence remplace le plan de masse vertical de grande taille dans la procédu re
d'étal onn ag e orig inale su r u n ACRS. Le mon tag e d’étalon nag e est i ll u stré à la Fig ure B. 6. Le
site adapté pour cette m éthode d'étalonnage est l 'ACRS. U n OATS ou u n SAR conçu pou r
réaliser des m esu res à u ne distance de 1 0 m , et con forme au x exig ences N SA du CI SPR,
consti tu e u n ACRS vali de pou r cette procédu re d'étalonnag e.

U n g u ide non métall ique pou r le conducteu r en essai est mon té su r l 'extérieu r de l a pince
absorban te en essai de m an ière à ce qu e le câble passe par le cen tre du transformateu r de
cou ran t (Figu re B. 2) .
Les deu x pinces – la pince en essai et la pince secondai re (ferrite) (SAD) – sont position nées
su r la g lissière de pince comme représen té à l a Fi gu re B. 7. La pince en essai est i nstal lée en
plaçan t le côté transform ateu r de cou ran t en directi on du m odu le de référence, qui est
posi tionné au SRP de la g l issière de pince. Le bord avan t du transformateu r de cou ran t
consti tu e l e poin t de référence de la pince (CRP) et doit être i ndiqu é sur le boîtier de l a pince
par l e fabrican t. La pince est posi tion née en respectan t u ne distance de 1 50 mm en tre le CRP
et le modu le de référence. On fai t passer le condu cteu r en essai (l e câble coaxial venant de
l'anal yseu r de réseau x) à travers les deu x pinces et il con vien t de l e tendre lég èremen t en
u ti lisan t u n dispositif de serrage n on métall iqu e approprié au x deu x extrém i tés de la g lissière
de pince.
Le câble coaxial (con ducteu r en essai) avec l'atténu ateur de 1 0 dB est raccordé à l a sortie du
N A. Le câble récepteur de la pince absorban te est raccordé à l'en trée du N A.
L'atténu ation de si te est mesu rée ju squ'à 60 MH z au moins par pas de 1 MH z, ju squ'à
1 20 MH z par pas de 2 M H z, jusqu 'à 300 MH z par pas de 5 MH z et au -delà de 300 MH z par
pas de 1 0 MH z.
L'atténu ati on de si te m ini male est m esurée tandis que les deu x pinces son t dépl acées à u ne
vitesse adaptée su r u ne distance allan t de 1 50 mm à approxim ativemen t 4, 5 m du m odu l e de
référence. Les pinces peu ven t être ti rées au moyen d'u ne corde non métallique. I l fau t qu e la
vitesse à laquelle les pi nces son t déplacées permette de m esu rer la perte d'insertion à
chaqu e fréqu ence et à des in tervalles in féri eu rs à 1 0 m m .
Le facteu r de pince CF de l'ensemble pi nce absorban te est calcu lé à partir de la plu s fai ble
valeur d'attén u ation de si te m esurée, en u til isant l 'équ ati on (9) de 4. 3.
Le fabrican t doi t détermin er au m in im u m le facteu r de transfert du dispositi f de référence RTF

en u ti lisan t l 'équ ation (1 2) de 4. 3 qui permet l e calcul du CFori g pour ce type de pince
absorbante.
B.2.4 Incertitude de mesure sur l'étalonnage de la pince absorbante

L'incertitu de sur l 'étalonn ag e doi t être men tionn ée dans ch aqu e rapport d'étal onn ag e. Le
rapport d'étal on nag e doi t pren dre en compte l es facteu rs d'incertitu de su ivants.
– La m éthode d'étal onn ag e orig inale:
• l 'incertitude de l'in stru men t de mesure,
– 60 –
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
• l a désadaptation en tre l a sortie de l a pince absorban te (m unie d'un atténu ateu r de
6 dB et du câble récepteu r) et l'instru m en t de mesu re,
• l a répétabi lité des étalonnag es, qu i inclu t des facteurs com me le centrage du
conducteu r en essai dans le transformateu r de couran t et le g u idag e du câbl e récep-
teu r vers l'an alyseu r de réseau x.
La pince absorban te doit satisfaire à l'exi g ence m i ni male des facteurs de découplag e DF
et DR.
– La m éthode d'étal onn ag e avec g abari t:
• l 'incertitude du facteu r de pi nce CF,
• l'incerti tu de de l 'instru men t de mesu re,
• la désadaptation en tre la sortie de la pince absorban te (m un ie d'un atténu ateu r de
6 dB et du câble récepteu r) et l'instru m en t de m esu re,
• la répétabi lité des étalonnag es, qu i inclu t des facteu rs tels qu e l e cen trag e du
conducteu r en essai dans le transformateu r de couran t.
N OTE I l est con si d éré par h ypoth èse q u e l 'i n certi tu d e de l 'i n stru m en tati on de m esu re d u processu s d e
corrél ati on exi g é avec l a m éth od e d 'étal on n ag e ori g i n al e est su ffi sam m en t fai bl e pou r n e pas i n fl u er d e
m an i ère si g n i fi cati ve su r l 'i n certi tu d e d e l a m éth od e d 'étal on n ag e avec g abari t.
et DR.
– La m éthode d'étalonnag e avec m odu le de référence:

• l 'incerti tu de du facteu r de pi nce CF,
• l 'incerti tu de de l 'instru men t de mesure,
• l a désadaptation en tre l a sortie de l a pince absorban te (m u nie d'u n atténu ateu r de
6 dB et du câble récepteu r) et l'instru m en t de mesu re,
• l a répétabi lité des étalonnag es, qu i inclu t des facteurs com me le centrage du
conducteu r en essai dans le transformateur de cou rant et le gu idage du câble
récepteu r vers l'analyseu r de réseau x.
et DR.
Des i nstructions détail lées concernan t la détermin ati on du bu dget d'incertitude de la m éth ode
d'étal onn ag e de la pince Des lig nes directri ces détaillées concern an t le traitement de
l'incerti tu de de l'instru mentation de mesure pou r les mesu rag es de la pu i ssance pertu rbatrice
son t données dans la CI SPR 1 6-4-2.
B.3 Méthodes de validation des fonctions de découplage
B.3.1 Facteur de découplag e DF de la pince absorbante associée au dispositif

absorbant secondaire
La méth ode de m esu re du facteur de décou plag e pour la pince absorban te associée au
disposi ti f absorban t secondaire est considérée com me u ne exig ence pou r le fabri can t de
pince et comme u ne opti on pou r l a g esti on de la qual ité.
Le facteu r de décou plage DF est mesu ré en u tilisan t le g abarit d'étal onn age de pince (voi r
Fi g ures B. 3, B. 4 et B. 5) . La mesu re du facteu r de décou plag e DF u ti l ise u n système de
m esu re en 50 Ω a l a foi s pou r la mesu re d e référence et pou r l a mesu re su r l e m atéri el en
essai. U ne référence à u n g abari t vi de don nerait des val eu rs de mesu re irréalistes compte
tenu du fai t qu e l'impédance du g abari t varie lorsqu e l 'on introdu i t la pince dans l e g abari t.
N oter qu e le g abari t vide n e consti tue pas lu i - m êm e u n systèm e en 50 Ω.
La procédu re pour la mesure du facteu r de découplag e DF est la su ivan te. La Fig u re B. 8

représen te les deu x étapes de m esu re n écessaires lorsqu 'on u tilise u n anal yseu r de spectre.
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 61 –
 I EC 201 6
On réal ise en premi er lieu un e m esu re de référence. La valeu r de sortie du gén érateu r est
mesu rée à travers deu x attén u ateu rs de 1 0 dB. En su ite, on m esure la valeur de sortie Pref .
Après cela, la pi nce absorbante et le SAD son t posi tionnés com me in diqué en B. 2. 2. 2. U n
atténu ateu r de 1 0 dB est raccordé au x deu x connecteurs du g abarit. La distance en tre la
fl asqu e verticale du g abarit et le point de référence du matériel en essai ( CRP dans l e cas de
la pi nce) et l'extrémi té de la pince doit être de 30 mm . Ensu ite, l a valeu r de sortie Pfi l est
m esu rée. Le facteu r de décou plage DF est déterminé com me su i t:
DF = Pref − Pfil (B.1 )
Le facteu r de décou plage pou r la pince absorban te avec le SAD doi t être d'au moi ns 21 dB
su r tou te la bande de fréquences concernée.
N OTE Pou r i n form ati on , i l con vi en t q u e l e DF d u SAD m esu ré séparém en t soi t d 'en vi ron 1 5 d B.
Cette mesu re peu t également être réalisée avec un N A. Dans ce cas, on peu t se dispenser
des attén u ateu rs si l'étalonnag e du N A est réalisé au x interfaces qui son t raccordées au
g abarit.
B.3.2 Le facteur de découplage DR de la pince absorbante

L'u ti lisation du g abari t d'étalonnag e de la pince pou r m esurer le facteur de décou plage DR
(voir Fig u res B. 3, B. 4 et B. 5) est considérée comm e u n e exig ence pour le fabrican t de pinces,
et com me u n e option pou r l a g estion de la qu al ité.
La procédure pou r l a mesu re du facteu r de décou pl ag e DR est l a su i van te (voir Fig ures B. 8 et
B. 9) . Pour la mesure de l a tension asym étriqu e su r le câble coaxial ven an t du transformateur
de cou ran t, la pince absorban te sans le SAD est positionnée dans l e g abari t comme in diqu é
en B. 2. 2. 2. La sortie mesu re est raccordée à u n CDN de type A (voir Fig u re C. 1 de la
CI SPR 1 6-1 -2) , via un câble coaxial court. Le CDN est i nstal lé su r le plan de m asse
métal li que. Le conn ecteu r du g abari t situ é du côté opposé au x CRP des pi nces doit être
term iné par u ne ch arg e 50 Ω .
La Fi g ure B. 8, étape 1 représen te la mesu re de référence qui est n écessaire lorsqu 'on u tilise
u n anal yseur de spectre. La valeu r de sortie du g énérateu r est mesu rée à travers deu x
atténu ateu rs de 1 0 dB. On mesu re ensu i te la val eu r de sortie Pref .
Ensu i te, la pince absorban te est instal lée comm e in diqu é à l a Fig ure B. 9. Le générateur est
raccordé au g abarit (du côté le pl u s proch e du CRP de la pi nce) par l'in term édiaire d'un
atténu ateu r de 1 0 dB. L'au tre poi nt de raccordem ent du g abarit est term iné par u ne ch arge
50 Ω . La sorti e de la pince est raccordée à u n CDN . La sortie mesure du CDN est raccordée
au récepteu r par l 'in termédiaire d'un atténu ateu r à 1 0 dB. La sorti e du CDN est charg ée par
50 Ω . On mesu re ensu i te la val eu r de sortie Pfi l . Le facteu r de décou plag e DR est déterm in é
comm e su it:

Le facteu r de décou pl ag e pou r la pince absorban te doit être d'au m oins 30 dB su r tou te l a
bande de fréqu ences concern ée. La valeu r de 30 dB inclu t l'atténu ation de 20, 5 dB provenant
de l a pince absorbante plu s 9, 5 dB provenan t du CDN .
Cette mesu re peu t égalemen t être réal isée avec u n N A. Dans ce cas, on peu t se dispenser
des attén u ateurs si l'étalonnage du N A est réalisé au x interfaces qu i son t raccordées au
g abari t et au CDN .
– 62 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
6m
Câble 4 mm de diamètre* 1 0 dB
CRP 0,1 5 m
50 Ω 0,8 m 0,05 m 6 dB
SRP
>2m
CDN
>6m
* Sans isolation Analyseur

de réseaux
Entrée Sortie
IEC 838/04
Figure B.1 – Site d'étalonnage original
6
Face avant de la pince absorbante
Guide pour le centrage du câble en essai
IEC 839/04
Dimensions en mm
Lorsq u 'on u ti l i se u n câbl e coaxi al com m e d i sposi ti f d e référen ce, l a fen te d oi t être ad aptée au d i am ètre d es câbl es
coaxi au x.
Figure B.2 – Position du guide pour le centrage du conducteur en essai

CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 63 –
 I EC 201 6
Dimensions en mm
30
Câble de 4 mm de diamètre*
Pince absorbante SAD
Elément de séparation neutre sur le plan électromagnétique Liaison équipotentielle avec le plan de sol
pour régler la hauteur des pinces au-dessus du plan de sol
métallique *Sans isolation
IEC 840/04
Dimensions en millimètres
30 De l a fl asq u e d e g abari t au CRP

(poi n t d e référen ce d e l a pi n ce)
30
Con d u cteu r d e 4 m m de di am ètre*
Pi n ce absorban te
SAD (di sposi ti f absorban t
secon d ai re) su r l e LU T
Câbl e récepteu r
SAD su r l e câbl e récepteu r

Flasque de gabarit Flasque de gabarit
É l ém en t d e séparati on n eu tre su r l e pl an de type A avec liaison
de type B avec liaison él ectrom ag n éti q u e pou r rég l er l a h au teu r d e
équipotentielle au plan équipotentielle au plan
l a pi n ce au -d essu s d u pl an d e sol m étal l i q u e de sol
de sol
* San s i sol ati on
IEC
Figure B.3 – Vue latérale du gabarit d'étalonnag e

– 64 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Dimensions en mm
>1 700
30 50 30
Pince absorbante SAD

> 300
Câble de 4 mm de diamètre
Liaison équipotentielle au plan de sol Plan de sol métallique

IEC 841/04
≥1 700
≤ 400 SAD (di sposi ti f absorban t secon d ai re)

su r l e câbl e récepteu r
30
50 30
≥ 500
SAD sur le LUT

Pi n ce absorban te (conducteur en essai)
Fl asq u e de g abari t d e type B Fl asq u e de g abari t d e type A

avec l i ai son éq u i poten ti el l e Pl an d e sol m étal l i q u e avec l i ai son éq u i poten ti el l e
au pl an de sol au pl an de sol
IEC
Figure B.4 – Vue de dessus du gabarit

CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 65 –
 I EC 201 6
1 00
Teflon Connecteur N
6 4
1 9,5
1 20
90
40 55
(Pour le câble Métallique, environ 3 mm
récepteur) d’épaisseur
>1 00
IEC 842/04
Dimensions en mm
Les faces i n féri eu res d oi ven t avoi r u n e l i ai son éq u i poten ti el l e avec l e pl an d e sol m étal l i q u e.
1 00 Téfl on
Con n ecteu r N
1 9, 5
4
6
1 20
90
40
55
(Pou r l e câbl e M étal l i q u e, en vi ron 3 m m d’ épai sseu r

récepteu r)
> 1 00
IEC
Fig ure B.5a – Flasque verticale de type A (côté SAD)
– 66 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
1 00
200
Con n ecteu r N (i d en ti q u e
au con n ecteu r u ti l i sé pou r
l a fl asq u e A)
200
90
M étal l i q u e, en vi ron 3
m m d’ épai sseu r
20
20
IEC
Fig ure B.5b – Flasque verticale de type B (côté appareil en essai EUT de la pince)
Figure B.5 – Vue de la flasque verticale de gabarit
Câble
récepteur
Atténuateur
6m 1 0 dB
Câble coaxial 0,05 m 0,1 5 m

Module de
référence
SRP
0,8 m
Analyseur
de réseaux
Sortie IEC 843/04
Figure B.6 – Montage d'essai pour la méthode d'étalonnage avec module de référence
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 67 –
 I EC 201 6
1 20
Attén u ateu r 1 0 dB
1 20
Sou dé su r l e
cu i vre de l a Câbl e coaxi al à dou bl e écran
carte i m pri m ée avec conn ecteu rs N
IEC 844/04
Dimensions en mm
Figure B.7 – Spécification du module de référence

– 68 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Atténuateur Atténuateur
1 0 dB 1 0 dB
Générateur Récepteur
IEC 201/06
Fi gure B.8a – Mesure de référence
1 0 dB Pince SAD 1 0 dB P
fil
Générateur CRP Récepteur
Câble récepteur IEC 202/06

50 Ω
Attén u ateu r CRP (point de Attén u ateu r

1 0 dB référence de la pince) 1 0 dB
SAD (di sposi ti ve
Pi n ce absorban te absorban t secon d ai re)
G én érateu r Récepteu r
50 Ω Câbl e récepteu r
IEC
Fig ure B.8b – Mesure avec la pi nce absorbante et l e SAD placés dans l e g abarit
Figure B.8 – Montage de mesure du facteur de découplage DF

CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 69 –
 I EC 201 6
Pfil
Récepteur
Atténuateur
1 0 dB Pince 50 Ω Atténuateur
1 0 dB
Générateur
CRP
CDN
50 Ω IEC 847/04
Lég end e
Pfi l = P m esu ré attén u é par l e fi l tre absorban t
Attén u ateu r
Attén u ateu r CRP (point de 1 0 dB Récepteu r
1 0 dB référence de la pince)
Pi n ce absorban te 50 Ω 50 Ω
G én érateu r
CDN (réseau de
Fl asq u e de g abari t d e cou pl ag e/d écou pl ag e)
Fl asq u e de g abari t
type B d e type A Câbl e récepteu r
IEC
Figure B.9 – Montage de mesure du facteur de découplage DR

– 70 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Annexe C
(n ormati ve)
Validation du site d'essai à la pince absorbante

(Article 4)
C.1 Introduction
Cette ann exe fou rn i t des in formations détai llées su r la m éthode de vali dati on du si te d'essai à
la pince absorban te.
U n si te d'essai à la pince absorbante (ACTS) doi t être vérifi é en comparant le facteu r de

pince CF d'u ne pince étalonnée avec le facteu r de pince m esu ré in si tu à l'ACTS CFi n si tu en
u ti lisan t la méthode d'étal on nag e origi nale (voir 4. 3 et Annexe B) .
C.2 Exigences pour l'équipement de validation

La méthode orig in ale (voir B. 2. 1 ) avec plan de masse verti cal et condu cteur spécifi qu e en
essai est u ti li sée pour g én érer u n couran t de m ode commu n défini su r l e conducteu r en essai.
Ce couran t de mode com mu n peu t être in flu encé par l'en vi ronnemen t de l'ACTS, qui peut
différer de celu i de l 'ACRS.
C.3 Procédure de mesure de validation

La procédure d'étalonnag e su i van te est réal isée su r l'ACTS à valider.
 La procédure de mesure de l'atténuation de site

 Etape 1 – Mesure de référence de la puissance du g énérateu r
Tou t d'abord, pour obtenir u ne référence, la pu issance de sortie Pg en du générateu r est

m esu rée directem en t par u n récepteur, en u tili san t les câbles de l'expérimentation et u n
atténu ateu r de 1 0 dB (Fig ure C. 1 a) .
 Etape 2 – Mesu re du facteur de pince in situ sur l 'ACTS
Ensui te, la pu issance pertu rbatrice m aximale Pref sur l e LU T est m esu rée en repren ant l e
mêm e rég lag e du g énérateur et l 'atténu ateu r de 1 0 dB, et en u ti lisan t l e mon tag e don né à la
Fi gu re C. 1 b.
Les deu x pinces – la pince absorbante et le disposi ti f absorban t secon daire (SAD) – son t
positionnés su r la g l issière de pince com me indiqué à la Fig u re C. 1 b. Le poi n t de référence
de l a pi nce en essai est dirig é vers l e plan de m asse vertical . Le pl an de masse vertical est
positionné au SRP de la g l issi ère de pince. U n gu ide n on m étallique pou r le LU T est mon té
su r l'extérieu r de la pi nce absorbante en essai de man ière à ce qu e l e condu cteu r passe par
le centre du transformateur de couran t (Figu re B. 2) . La pince est posi tionnée en respectan t
u ne distance de 1 50 mm en tre le CRP et le plan de masse vertical. On fai t passer le
condu cteu r en essai à travers les deu x pinces et i l con vien t de le ten dre légèrem en t en
u tilisan t u n disposi ti f de serrag e non métal liqu e approprié au x deu x extrém ités de la g l issière
de l a pince. Le câble en essai est raccordé au connecteur de traversée su r le pl an de masse
vertical.
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 71 –
 I EC 201 6
Si u n réseau de cou plag e/décou plag e (CDN ou coupling/decoupling network en an gl ais) est
u ti lisé pou r m esu rer l'EU T, i l con vien t également de l 'u til iser pou r la validation ACTS (pou r le
m on tag e du CDN , voir B. 2. 1 . 1 et Fig u re B. 1 ) .
La sortie du N A est raccordée au connecteu r de traversée au n i veau du pl an de m asse

vertical via l'attén u ateu r de 1 0 dB. Le câble récepteu r de la pince absorbante est raccordé à
l 'en trée du N A.
Le sig n al est m esu ré ju squ 'à 60 MH z au moi ns par pas de 1 MH z, jusqu 'à 1 20 MH z par pas
de 2 MH z, ju squ'à 300 MH z par pas de 5 M H z et au-del à de 300 MH z par pas de 1 0 M H z.
La pu issance pertu rbatrice maxim al e est mesurée tandis qu e les pinces son t dépl acées à u ne
vi tesse adaptée entre 1 50 mm et approxi mativemen t 4, 5 m du plan de masse vertical . Les
pinces peu ven t être tirées au m oyen d'u ne corde non métal li que. I l fau t que la vitesse à
laquell e l es pinces son t déplacées permette de mesurer la perte d'insertion à chaque
fréqu ence et à des in tervalles in féri eu rs à 1 0 mm.
 Etape 3 – Calcu l du facteu r de pince i n si tu
Le facteur de pince in situ (en dB) du site étu dié (ACTS ) peu t être déterm in é en u til isant
l'équ ation sui van te:

CFin− situ = (P − P
gen ref
) − 17
Cette détermi nation de CFori g et CFi n si tu peu t être réalisée par le laboratoi re ou par un tiers
(laboratoire d'étal onn age) .
C.4 Validation de l'ACTS

Le facteu r de pince orig in al CFori g doit être comparé avec l e facteur de pince in si tu CFi n si tu .
Le cri tère d'acceptation pour la validation de l'ACTS est donn é par l'équ ation (1 3) (voir 4. 5. 3)
si la mesure de validation et l es procédures d'étalon nag e (l’Arti cl e C. 3 et B. 2. 1 ) son t réalisées
par le laboratoi re lu i-même et si les exig ences d'incerti tu de don nées à l ’Article C. 5 sont
satisfai tes.
Si l e facteu r de pince est détermin é par u n tiers, l e critère d'acceptation de validation est
m odi fié comme su i t:
<3 dB entre 30 MH z et 1 50 MH z
3 dB à 2, 5 dB en tre 1 50 MH z et 300 MH z en décroissan t
<2 dB en tre 300 MH z et 1 000 M H z
C.5 Incertitudes de la méthode de validation d'ACTS
L'incertitu de de mesure de l a vali dation d'ACTS dépen d :

– de l'incerti tu de de mesu re de l'instru m en tati on de mesure,
– de la désadaptation en tre l a sortie de la pince absorban te (mu nie d'u n atténu ateu r de
6 dB) et l'instru men tation de mesu re,
– de l a répétabi li té des mesu res, qu i inclu t l’incerti tu de sur l e cen trag e du condu cteur en
essai dans le transformateur de cou ran t et l e g u idage du câble récepteu r vers l'anal yseu r
de réseau x.
Pou r la procédu re de vali dation du site de la pince, les exig ences d'i ncertitude mentionnées
ci-dessu s doi ven t être prises en compte.
– 72 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Pgen Récepteur
Générateur
Atténuateur (50 Ω)
1 0 dB
IEC 848/04
Fi gure C.1 a – Mesure de référence de l a puissance du générateur
Câble
récepteur
6m
Atténuateur
Câble de 4 mm de diamètre* 0,1 5 m 1 0 dB
SAD
0,8 m
SRP
Analyseur
de réseaux
*Longueur: 7,0 m, diamètre sans isolation Entrée Sortie
IEC 849/04
Fi gure C.1 b – Montag e pour les mesures de puissance sur l'ACTS ou l 'ACRS
Figure C.1 – Montages d'essai pour la mesure de l'atténuation de site

pour la validation du site de la pince en utilisant le module de référence
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 73 –
 I EC 201 6
Bibliographie
[1 ] Ryser, H einrich , U ncertain ty Con tribu ti ons to th e Clamp Factor CF of the Absorbing
Clamp, Proceedings of 18th International Zurich Symposium on EMC, M u n ich 2007.
(disponible en ang l ais seu l em ent)
___________
®
CISPR 1 6-1 -3
Edition 2.1 201 6-03
FINAL VERSION
VERSION FINALE
colour
i n si de


methods –
perturbatrice
–2– CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
CONTENTS
FOREWORD. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
1 Scope . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
2 N ormative references . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
3 Terms, defini ti ons and abbreviations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
4 Absorbing clamp instru men tation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
An nex A (i n formative) Constru ction of the absorbin g clam p (Su bclau se 4. 2) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 7
An nex B (n ormative) Cali bration and val idation methods for the absorbing clamp and
th e secondary absorbi ng device (Clau se 4) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 9
An nex C (normati ve) Val idation of th e absorbing clamp test si te (Clau se 4) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
Bi bl iog raphy . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
Fi g ure 1 – Overvi ew of the absorbing clamp m easu rem en t meth od and th e associated
cal ibrati on an d vali dation procedu res . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 3
Fi g ure 2 – Sch em atic overvi ew of the absorbing clamp test meth od . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 5
Fi g ure 3 – Sch em atic overvi ew of the clamp cal ibration methods . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 6
Fi g ure A. 1 – The absorbin g clam p assembl y and its parts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 7
Fi g ure A. 2 – Example of th e constructi on of an absorbing clam p . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 8
Fi g ure B. 1 – The orig i nal cal ibrati on site. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
Fi g ure B. 2 – Positi on of g ui de for cen tri ng th e lead un der test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
Fi g ure B. 3 – Si de view of the cali bration jig . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
Fi g ure B. 4 – Top view of th e jig . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
Fi g ure B. 5 – Vi ew of th e jig s vertical flan ge . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
Fi g ure B. 8 – Measuremen t set-up of th e decou pl in g factor DF . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
Fi g ure B. 9 – Measuremen t set-up of th e decou pl in g factor DR . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
Fi g ure C. 1 – Test set-u ps for the site attenu ati on m easu remen t for cl amp si te
val idation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
Table 1 – Overvi ew of the characteristics of th e two clamp cali bration meth ods and
th eir relation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 4
CI SPR 1 6- 1 - 3: 2004+ AM D1 : 201 6 CS V –3 –
© I E C 201 6
I N TERN ATI ON AL ELECTROTECH N I CAL COM M I SSI ON
I N TE RN ATI ON AL SPE CI AL COM M I TTEE ON RADI O I N TERFE REN CE
___________
SPECIFI CATION FOR RADI O DISTU RB ANCE AND IMMU NITY

Part 1 -3: Radi o di stu rbance and immu nity measu ring apparatus –
Anci llary equ i pment – Di stu rbance power
FOREWORD
1 ) Th e I n te rn ati on al E l ectrotech n i cal Com m i s si on (I E C) i s a wo rl d wi d e org an i z ati o n for stan d ard i zati on com pri si n g
al l n ati on al el ectrotech n i cal com m i ttees (I E C N ati on al C om m i ttees ) . Th e obj ect of I E C i s to prom ote
i n tern ati on al co -operati o n o n al l q u es ti on s con ce rn i n g s tan d ard i zati on i n th e el ectri cal an d el ectro n i c fi e l d s . To
th i s en d an d i n ad d i ti o n to oth er acti vi ti es, I E C pu bl i sh es I n tern ati o n al S tan d ard s, Tech n i cal Speci fi cati on s,
Tech n i cal Re po rts , P u bl i cl y Avai l abl e Speci fi cati on s (P AS) an d G u i d es (h e re after referre d to as “I E C
P u bl i cati o n (s ) ”) . Th ei r pre parati on i s en tru ste d to tech n i cal co m m i ttees ; an y I E C N ati on al Co m m i ttee i n teres ted
i n th e su bj ect d e al t wi th m ay parti ci pate i n th i s preparatory work. I n te rn ati o n al , g o ve rn m en tal an d n o n -
g overn m en tal org an i zati on s l i ai si n g wi th th e I E C al so parti ci pate i n th i s preparati on . I E C col l aborates cl osel y
wi th th e I n te rn ati o n al Org an i z ati on fo r S tan d ard i z ati o n (I S O) i n accord an ce wi th con d i ti on s d ete rm i n ed by
ag reem en t betwe en th e two o rg an i zati on s.
2) Th e fo rm al d eci si o n s or ag ree m en ts of I E C on tech n i cal m atters expres s, as n e arl y as possi bl e, an i n tern ati o n al
con sen su s of o pi n i on on th e rel evan t su bj ects s i n ce each tech n i cal com m i ttee h as re presen tati on from al l
i n terested I E C N ati o n al Com m i ttees.
3) I E C P u bl i cati on s h ave th e form of recom m en d ati on s fo r i n tern ati o n al u se an d are accepted by I E C N ati o n al
Com m i ttees i n th at sen se. W hi l e al l reaso n abl e effo rts are m ad e to en s u re th at th e tech n i cal con te n t of I E C
P u bl i cati o n s i s accu rate, I E C can n ot be h e l d res pon s i bl e for th e way i n wh i ch th e y are u se d o r fo r an y
m i si n terpretati o n by an y en d u ser.
4) I n ord er to prom ote i n tern ati o n al u n i fo rm i ty, I E C N ati on al Com m i ttees u n d e rtake to appl y I E C P u bl i cati on s
tran sparen tl y to th e m axi m u m exte n t possi bl e i n th ei r n ati on al an d reg i on al pu bl i cati o n s. An y d i verg en ce
between an y I E C P u bl i cati on an d th e co rrespo n d i n g n ati o n al or reg i on al pu bl i cati on s h al l be cl earl y i n d i cate d i n
th e l atte r.
5) I E C i ts el f d oes n ot pro vi d e an y attestati on of con form i ty. I n d epen d en t ce rti fi cati on bod i es provi d e con fo rm i ty
as ses sm en t servi ces an d , i n som e areas , access to I E C m arks of con form i ty. I E C i s n ot respon si bl e fo r an y
servi ces carri ed o u t by i n d epe n d en t certi fi cati o n bod i es.
6) Al l u s ers sh ou l d e n s u re th at th ey h ave th e l atest ed i ti on of th i s pu bl i cati on .
7) N o l i abi l i ty sh al l attach to I E C or i ts d i recto rs , em pl oye es , s ervan ts o r ag en ts i n cl u d i n g i n d i vi d u al e xpe rts an d
m em bers of i ts tech n i cal com m i ttees an d I E C N ati on al C om m i ttees for an y pe rson al i n j u ry, pro pe rty d am ag e o r
oth e r d am ag e of an y n atu re wh ats o ever, wh eth er d i rect or i n d i rect, or for cos ts (i n cl u d i n g l eg al fees) an d
e xpen ses ari si n g o u t of th e pu bl i cati on , u se of, or rel i an ce u po n , th i s I E C P u bl i cati o n or an y oth e r I E C
P u bl i cati o n s.
8) Atten ti on i s d rawn to th e N o rm ati ve referen ces ci ted i n th i s pu bl i cati on . U s e of th e refe re n ced pu bl i cati on s i s
i n d i spen sabl e fo r th e co rrect appl i cati on of th i s pu bl i cati on .
9) Atten ti on i s d rawn to th e possi bi l i ty th at som e of th e el em en ts of th i s I E C P u bl i cati on m ay be th e su bj ect of
pate n t ri g h ts . I E C sh al l n ot be h el d res pon si bl e fo r i d e n ti fyi n g an y or al l s u ch paten t ri g h ts .
DI SCLAIM ER
Th i s Consol i d ated versi on i s n ot an offi cial I EC Stan d ard and h as been prepared for
u ser con ven i ence. On l y th e cu rren t versi ons of th e stan d ard and i ts am end m ent(s)
are to be con sid ered th e offi ci al d ocu ments.
Th is Con sol id ated version of CI SPR 1 6-1 -3 bears th e ed ition n u mber 2.1 . It con si sts of
the second ed ition (2004-06) [d ocu m ents CISPR/A/51 7/FDI S and CI SPR/A/532/RVD] and
its corrig end u m 1 (Febru ary 2006), an d i ts am en d m ent 1 (201 6-03) [d ocu ments
CI S/A/1 1 1 1 /CDV an d CI S/A/1 1 38/RVC] . Th e tech n i cal content i s id enti cal to th e base
ed i tion and i ts am en d m ent.
–4 – CI S PR 1 6- 1 - 3: 2004+AM D1 : 201 6 CSV
© I E C 20 1 6
Th i s Fi n al versi o n d oes not sh ow wh ere th e t ech n i cal con ten t is m o d i fi ed by
am en d m en t 1 . A sep arate Red l i n e v ers i o n wi th al l ch an g es h i g h l i g h t ed is avai l abl e in
th i s pu bl i cati on .
I n tern ati on al S tan dard CI SP R 1 6-1 - 3 h as been prepared by CI SPR su bcom m i ttee A: Rad i o
i n terferen ce m easu rem en ts an d stati sti cal m eth o ds.
Th i s edi ti on co n sti tu tes a tech n i cal revi s i on . I n th i s ed i ti on a m ore d etai l ed cal i brati o n m eth od
for th e abso rbi n g cl am p i s s peci fi ed . Fu rth erm ore, n ew al tern ati ve cal i brati on m eth ods are
i n trod u ced wh i ch are m ore practi cabl e th an th e on e wh i ch was speci fi ed previ o u s l y. Add i ti on al
param eters to d escri be th e absorbi n g cl am p are defi n ed, l i ke th e d ecou pl i n g factor for th e
bro adban d absorber (DF) an d th e d eco u pl i n g factor for th e cu rren t tran sform er (D R) , al on g
wi th th ei r val i d ati on m eth od s . A proced u re for th e val i dati o n of th e abs orbi n g cl am p test s i te
(ACTS) i s al s o i n cl u d ed i n th e d ocu m en t.
Th i s pu bl i cati on h as been drafted i n accordan ce wi th th e I SO/I EC D i recti ves, Part 2.
Th e com m i ttee h as d eci d ed th at th e co n ten ts of th e bas e pu bl i cati on an d i ts am en d m en t wi l l

rem ai n u n ch an g ed u n ti l th e stabi l i ty date i n d i cated on th e I EC web s i te u n d er
"h ttp: //webstore. i ec. ch " i n th e d ata rel ated to th e speci fi c pu bl i cati on . At th i s d ate, th e
pu bl i cati on wi l l be
• recon fi rm ed,
• wi th drawn ,
• repl aced by a revi sed ed i ti on , or
• am en d ed.
I M P O R T AN T – Th e ' col ou r i n si d e' l og o on th e cover p ag e of th i s p u bl i cati on i n d i cates
th at it co n tai n s col o u rs wh i ch a re c o n s i d e re d to be u s efu l fo r th e c o rre c t
u n d erstan d i n g of i ts c on ten ts . U sers sh ou l d th e refo re p ri n t th i s d ocu m en t u si n g a
co l o u r p ri n t er.
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV –5–
 I EC 201 6
1 Scope
Th is part of CI SPR 1 6 is desig nated a basic standard, wh ich specifies the characteristics and
cal ibration of th e absorbin g clam p for the measu rem en t of radio disturbance power i n the
frequ ency ran ge 30 MH z to 1 GH z.
2 Normative references
The following referenced docu men ts are indispensable for the application of this docum ent.
For dated references, only the edition ci ted applies. For undated references, the latest edi tion
of the referenced docu men t (inclu ding an y amendmen ts) appli es.
CI SPR 1 6-1 -2:2003, Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus
and methods – Part 1-2: Radio disturbance and immunity measuring apparatus – Ancillary
equipment – Conducted disturbances
CI SPR 1 6-2-2:2003,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus
and methods – Part 2-2: Methods of measurement of disturbances and immunity –
Measurement of disturbance power
CI SPR 1 6-4-2,
methods – Part 4-2: Uncertainties, statistics and limit modelling – Uncertainty in EMC
measurements
I EC 60050-1 61 :1 990, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 161: Electro-
magnetic compatibility
3 Terms, definitions and abbreviations

3.1 Terms and definitions
See I EC 60050-1 61 , wh ere appl icable.
3.2 Abbreviations
ACA Absorbing clamp assem bl y
ACM M Absorbing clamp measu remen t method
ACRS Absorbing clamp reference si te
ACTS Absorbing clamp test si te
CF Clamp factor
CRP Clamp reference poi n t
DF Decoupl in g factor
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 I EC 201 6
DR Decou pl ing factor that speci fies the decou pling of the cu rren t transformer from the
comm on mode impedance of the measuremen t receiver
JTF J ig transfer factor
LU T Lead u nder test
SAD Secondary absorbin g devi ce
SAR Semi-an echoic room
SRP Sl ide reference poin t
4 Ab s o rbi n g c l am p i n st ru m en tat i o n
4.1 I n trod u cti on
The m easu remen t of disturbance power using an absorbin g clamp is a m eth od for the
determi nation of the radi ated distu rbance in th e frequ ency range above 30 MH z. Th is
m easu remen t m ethod represen ts an al tern ative approach to th e m easu remen t of th e
distu rbance field streng th on an OATS. The absorbing clamp m easurement method (ACM M) is
described i n Clau se 7 of CI SPR 1 6-2-2.
The ACMM u ses the fol lowin g m easu rem en t instru men tation :
– th e absorbing clamp assembl y;
– th e secondary absorbi ng device;
– th e absorbing clamp test site.
Fig u re 1 g ives an overvi ew of th e absorbin g clamp m easu rem ent method inclu din g the
i nstru men tati on requ ired for this m eth od an d the cal ibration an d val idation m ethods for the
i nstru men tati on . The requ i rem en ts for the i nstru men tation necessary for th e ACMM are
speci fied in th is clau se. Detai ls of the absorbin g clamp calibration method, and val idation of
other properti es of the clamp an d the secondary absorbi ng device, are descri bed in An nex B.
Detai ls of th e absorbing clam p test si te val idation are described in An nex C. Absorbing
clamps are su i tabl e for th e measurement of di stu rbances from som e types of equ ipment,
dependin g on constru ction and size. Th e precise m easurin g procedure an d i ts applicabil i ty is
to be specified for each categ ory of equ ipmen t. I f th e EU T i tsel f (wi thou t con necting l eads)
h as a di mension th at approaches 1 /4 of the waveleng th , direct cabi net radiation m ay occu r.
The distu rbance capabil ity of an appliance h avi ng a mains lead as the on ly external lead may
be taken as the power the appliance cou ld su pply to its mains l ead, which acts as a
transm itting an tenn a. Th is power is nearly equ al to that su ppli ed by th e appl iance to a
su itabl e absorbing device placed arou nd the lead at the posi tion where the absorbed power is
at a m aximu m . Direct radiation from the appl iance is n ot taken in to accou n t. Equ i pm ent
h avi ng external leads oth er th an a m ains lead can radiate disturbance energ y from such
l eads, wheth er shielded or u nsh ielded, i n the sam e manner as radiation from the mains lead.
M easu remen ts u si ng the absorbing clamp can be made on these types of lead as well .
The applicati on of the ACMM is speci fi ed in more detai l i n 7. 9 of CI SPR 1 6-2-2.
4.2 Th e ab s o rb i n g cl am p assem bl y
4.2.1 D escri pti on o f th e absorb i n g cl am p assem bl y
An nex A describes th e construction of the clam p and g i ves a typical example of su ch a

constru ction.
The absorbin g clam p assembl y consists of the fol l owi ng fi ve parts:

– a broadband RF cu rren t transformer;
– a broadband RF power absorber and i m pedance stabi l izer for th e l ead u nder test;
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV –7–
 I EC 201 6
– an absorbing sleeve and assem bl y of ferrite ri ngs to reduce RF cu rren t on the su rface of
th e coaxial cabl e from the cu rren t transformer to th e m easu ring receiver;
– a 6 dB atten uator between the ou tpu t of th e absorbi ng cl amp and th e coaxial cable
connectin g to the measurin g recei ver;
– a coaxial cable as recei ver cable.
The clamp reference poin t (CRP) indi cates the l on g itudinal position of the front of the current
transformer wi th in the clamp. This reference point is u sed to defin e the position of th e clamp
during the measu remen t procedu re. The CRP shal l be in dicated on the ou tside housing of th e
absorbing clamp.
4.2.2 The clamp factor and the clamp site attenuation

An actu al measu remen t of an EU T u sing the ACM M is depicted schematicall y in Fi gu re 2.
Details on the ACMM are g iven in Clau se 7 of CI SPR 1 6-2-2.
The distu rbance power m easu remen t is based on m easu remen t of the asymmetrical cu rrent
g enerated by th e EU T, wh ich is measu red at the in pu t of the absorbing clamp u sin g a current
probe. The absorbing ferrites of the clamp arou nd the lead u nder test i solate th e current
transformer from disturbances on the mains. The maximu m cu rrent is determ in ed by moving
th e absorbin g clamp alon g th e stretched l ead, which acts as a transm ission l in e. The
transm ission li ne transforms the inpu t impedance of the absorbi ng clam p to the ou tput of the
EU T. At the poin t of opti m al adjustm en t, the maximu m disturbance cu rren t at the current
probe or the m aximu m distu rbance vol tag e at the receiver inpu t can be measured.
For this si tuation the actu al cl amp factor CFact of an absorbi ng cl amp relates the ou tpu t sig nal
of the cl amp Vrec to the m easuran d of in terest, i. e. the distu rbance power Peu t of an EU T as
fol lows:
wh ere
Peu t = th e disturbance power of the EU T in dBpW;
Vrec = th e measu red vol tag e in dB µ V;
CFact = th e actu al clamp factor in dBpW/ µ V.
I deall y, th e recei ved power level Prec in dBpW at th e receiver in pu t can be calcu lated usi ng
the foll owi ng formu la:
wh ere
Zi = 50 Ω , in pu t impedance of the measu ri ng recei ver, and
Vrec = m easu red vol tage level i n dB µ V.
U sing Equ ations (1 ) and (2) on e can deri ve a relation between the distu rbance power Peu t
emi tted by the EU T and th e power Prec recei ved by the receiver as follows:
Peut − Prec = CFact + 1 7 (3)
This i deal relation between th e distu rbance power of th e EU T an d the power recei ved by the
m easu ring recei ver is defi ned as the actu al cl amp site attenu ati on A act (in dB) .

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 I EC 201 6
Th is actu al cl amp si te attenuation depends on th ree properties:
– the cl am p response properti es,
– th e si te properti es an d
– th e EU T properties.
4.2.3 Decoupling functions of the absorbing clamp

Wh ereas th e cu rren t transformer of th e absorbi ng clam p measu res the di stu rbance power, the
decou pl in g attenu ati on of the ferri tes arou nd the lead u nder test establ ish es an asym metrical
im pedance and separates the curren t transformer from the far end of the l ead u nder test. This
separati on reduces th e distu rbing i nfl uence of the connected mains and of the impedance of
th e far end and i ts in flu ence on the measured cu rren t. Th is decou pli ng attenu ation is call ed
th e decoupl in g factor ( DF) .
A second decoupl ing function is n eeded for the absorbi ng cl amp. The second decoupling
fu nction is th e decou pling of the cu rren t transformer from the asym metrical (or common
mode) i mpedance of the recei ver cable. Th is decou pli ng is achieved by th e absorbin g section
of ferrite ring s on the cable from the cu rren t transformer to th e measu remen t receiver. This
decou plin g attenu ati on is called the decou plin g factor to th e measurement receiver ( DR) .
4.2.4 Requirements for the absorbing clamp assembly (ACA)

Absorbing clamps used for distu rbance power measu remen ts sh all m eet the following
requ irements:
a) The actu al cl amp factor ( CFact ) of th e absorbing clamp assembl y, as defined in 4. 2. 1 sh all
be determined in accordance wi th th e n ormative methods described in Annex B. The
u ncertai n ty of th e cl amp factor shal l be determi ned i n accordance wi th th e requi rem en ts
g i ven i n Annex B.
b) The decoupli ng factor ( DF) of the broadband RF absorber and the impedance stabil izer for
the lead u nder test shal l be veri fi ed in accordance with the measu remen t procedu re as
described in Ann ex B. The decou pling factor shall be at least 21 dB for the whole
frequ ency ran ge.
c) The decou pli ng fu ncti on from the curren t transform er to the m easu ring ou tpu t ( DR) of the
absorbing clamp shall be determ ined in accordance wi th the measuremen t procedure as
described in Annex B. Th e decou pl in g factor to th e measurem ent recei ver shall be at least
30 dB for the whole frequ ency ran ge. Th e 30 dB con tains 20, 5 dB atten u ation from the
absorbing clamp and 9, 5 dB from th e cou pli ng /decou pli ng network (CDN ) .
d) The leng th of th e clamp hou sing shall be 600 mm ± 40 m m .
e) A 50 Ω RF attenuator of at least 6 dB shall be used directly at the clamp output.
4.3 The absorbing clamp assembly calibration methods and their relations
The purpose of the clamp cali bration is to determ ine the clamp factor CF in a situ ati on that
resem bles an actual measurement wi th an EU T as mu ch as possible. H owever, i n 4. 2. 2 i t is
stated that the clam p factor is a fu nction of th e EU T, the clamp properties and the si te
performance. For standardizati on (reproduci bi li ty) reasons, th e cal ibration m ethod shal l u se a
test si te with a specified and reprodu ci ble performance, and a si gnal generator and receiver
wi th reproducible perform ance. U nder th ese condi tions, th e onl y variable l eft is the absorbing
clamp u nder consideration .
Two absorbi ng clamp cal ibrati on m ethods are developed below, each with th ei r own
advantag es, disadvan tag es an d applications (see Tabl e 1 ) . Fig ure 3 g i ves a sch em atic
overview of th e two possible methods.
I n gen eral , each of th e calibration methods com pri ses th e followin g two steps.
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First, as a reference, the ou tpu t power Pg en of th e RF g enerator (with 50 Ω output impedance)
i s m easu red directly throu gh a 1 0 dB attenu ator usin g a recei ver (Fig ure 3a) . Secondl y, the
distu rbance power of th e sam e gen erator and 1 0 dB attenu ator is measu red throu g h the
clamp usin g one of the foll owi ng two possible meth ods.
a) The ori g inal m eth od
The orig inal absorbi ng clamp set-u p calibration m eth od uses a reference si te i ncl udi ng a
l arge vertical reference plane (Fig ure 3b) . By defi n iti on th is m eth od g ives the CF directly,
because th is is th e orig in al cal ibration method, wh ich is u sed for the determ ination of the
l im i ts and therefore considered as the reference. The lead u nder test is connected to the
centre condu ctor of the feed-throu g h connector i n the vertical reference plane. At the back
of th is vertical plan e, the feed-throu g h conn ector is connected to th e g en erator. For this
calibration con fi g uration , Pori g is measu red wh il e th e clamp is m oved al ong the l ead u n der
test, in accordance wi th th e procedu re described i n An nex B su ch th at for each frequency
the maxi mu m val u e is obtained. Th e min im um site attenu ation A ori g an d the absorbi ng
clamp factor CFori g can be determ ined u si ng th e fol lowin g equ ations:
and
The minimu m site attenu ati on A ori g is in the rang e of abou t 1 3 dB to 22 dB.
b) The jig cal ibrati on m ethod
The jig calibration method uses a jig that can be adapted to the len g th of the absorbing
clamp u nder cal ibrati on and th e secondary absorbing device (SAD) . Th is ji g serves as a
reference stru ctu re for the absorbin g clamp (see Fi gu re 3c) . For th is cal ibration
config uration Pj i g is measu red as a fu ncti on of frequ ency whi le th e clamp is in a fi xed
position wi thin the jig . The site atten uation A ji g and the absorbing cl amp factor CFj i g can
be determ ined u sing the fol lowing equ ati ons:
and
CF = A j i g – 1 7 (8)
An nex B describes th e two possible absorbing clamp calibration meth ods i n m ore detail. A
su rvey of the two clamp cal ibrati on m eth ods is also g i ven in Fig u re 1 . Fi gu re 1 also g i ves th e
relati on of th e clamp measu remen t m eth od an d the clamp cal ibrati on methods and th e role of
th e reference si te.
N OTE Cal i brati on takes pl ace on cl am p, atten u ator an d cabl e. Th ey h ave to be h el d tog eth er.
The absorbin g clam p factors obtain ed th rou gh th e jig meth od and the reference device
m ethod ( CFj i g , CFref ) di ffer systematicall y from the orig i nal absorbing clam p factor CFori g . I t is
n ecessary to establ ish this systematic rel ation between th ese differen t clamp factors as
fol lows.
The jig transfer factor JTF is calcu lated by

The JTF in dB is to be determined for each type of absorbing cl amp by the clamp
m anu factu rer. The manu facturer or an accredited cali bration l aboratory in ch arg e shall
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determi ne th e JTF by averag ing th e resu l ts of at least five reproduced calibrations for five
devices of a production series.
I n su mmary, th e orig in al cal ibrati on m eth od directl y g i ves the val ue of CFori g . Th e jig method
g ives the CFj i g , from which the orig in al absorbin g clamp factor can be calcu lated u sing
Equ ation (1 1 ) .
Absorbing clamps wi th di fferen t g eometries, differen t arran gemen t and materi al of ferrites,
differen t cu rrent probes as wel l as different hou sing m aterial do requ ire a separate
determi nation of th e J TF. A new determination is also requ ired if a di fferen t type of jig is u sed,
e. g . l arg er geometry.
4.4 The secondary absorbing device

I n addi tion to the absorbin g part of the cl amp, a secondary absorbing device (SAD) directly
beh ind the absorbi ng clamp sh al l be appl ied to redu ce th e u ncertain ty of th e measu rem en t.
The fu nction of th is SAD is to provide an attenuation in addition to th at provided by th e
decou pl in g attenu ation of the absorbin g clamp. The SAD shall be m oved in the same way as
th e absorbin g cl am p du ri ng th e cal ibrati on an d measu remen t. Therefore the SAD n eeds
wh eels to accomm odate th e scan ning . The SAD dimensions sh al l be su ch that the l ead u nder
test is at the same h eig ht as in the absorbin g clam p.
The decoupli ng factor of the SAD shall be verified i n accordance wi th the measuremen t
procedure as described i n Annex B. The decoupling factor for the SAD is m easu red tog ether
wi th th e absorbing clamp.
N OTE N ew tech n ol og i es m ay m ake i t possi bl e for th e addi ti on al fu n cti on al i ty of th e SAD to be i n teg rated i n th e
absorbi n g cl am p. Con seq u en tl y, i f th e absorbi n g cl am p i tsel f m eets th e d ecou pl i n g factor speci fi cati on , th en th e
SAD does n ot n eed to be appl i ed .
4.5 The absorbing clamp test site (ACTS)

4.5.1 Description of the ACTS
The absorbin g clam p test si te (ACTS) is a site used for application of th e ACM M . The ACTS
can be ei ther an ou tdoor or an indoor facili ty and i ncludes the fol lowing elemen ts (see
An nex C, Fig ure C. 1 ) :
– th e EU T table, which is a su pport for th e EU T u ni t;
– the clam p slide, which is a support for the conn ected l ead of th e EU T (or l ead u n der test,
LU T) and for th e absorbing cl am p ;
– a gl iding su pport for the recei ver cable of the absorbing clamp;
– au xi liary means like a rope to move th e absorbing clamp
All the above-men ti oned ACTS elemen ts (withou t EU T tabl e) sh al l be measured in the ACTS
validation procedu re.
The near end of th e cl am p sli de (at th e side of th e EU T) is den oted as th e sli de reference
poin t (SRP, see Fi gu re C. 1 ) . This SRP is used to defin e th e h orizon tal distance to the CRP of
the cl am p.
4.5.2 The functions of the ACTS

The ACTS has the fol lowing fu nctions.
a) Ph ysical fu nction : to provide speci fic su pporting m eans for the EU T an d the LU T.
b) Electrical function : to provide an ideal (for RF) si te for th e EU T and th e clamp assembl y
and to provide a wel l-defi ned measuremen t environm en t for application of the absorbing
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 I EC 201 6
clamp (n o di stortion of em issi ons by wal ls or by th e su pportin g el emen ts like the EU T
tabl e, the clamp sl ide, g li ding support and rope) .
4.5.3 Requirements for the ACTS

The fol lowing requiremen ts appl y for th e ACTS:
a) The leng th of th e cl am p sli de shal l ensu re that th e absorbing clamp can be m oved over a
distance of 5 m . This means th at the clamp slide shall have a leng th of 6 m .
N OTE For reprod u ci bi l i ty reason s, th e l en g th of th e cl am p sl i d e an d th e scan n i n g d i stan ce of th e cl am p are
fi xed to at l east 6 m an d 5 m respecti vel y. Th e l en g th of th e cl am p sl i de i s d eterm i n ed by th e su m of th e
scan n i n g l en g th (5 m ) , th e m arg i n between th e SRP an d th e CRP (0, 1 5 m ) an d th e l en g th of th e absorbi n g
cl am p (0, 64 m ) pl u s a m arg i n to accom m od ate l ead fi xtu res at th e en d (0, 1 m ) . Th i s total s a l en g th of 6 m for
th e cl am p sl i d e.
b) The heig h t of the clamp slide shall be 0, 8 m ± 0, 05 m . This implies th at within the
absorbi ng clamp and within the SAD, th e heig h t of the LU T above th e reference plane wi ll
be a few cen ti metres larg er.
c) The m aterial of the EU T tabl e and of the cl amp sl ide shal l be n on-reflecti ng , n on-
conductin g and the dielectric properties may be close to the dielectric properties of air. I n
th is way, the EU T table is transparent from an electromagnetic poi n t of view.
d) The material of th e rope u sed to m ove the clamp alon g th e clamp sli de sh al l also be
transparen t from an electromag netic poin t of view.
N OTE Th e i n fl u en ce of th e m ateri al of th e EU T tabl e an d th e cl am p sl i d e m ay be si g n i fi can t for freq u en ci es
above 300 M H z.
e) The adequ acy of the si te (see the el ectrical ACTS fu ncti on) is val idated by com paring the
i n-si tu measu red clamp factor of the ACTS ( CFi n -si tu ) with th e clam p factor measured on
th e absorbing cl amp reference si te (ACRS) ( CFori g ) u sing the orig in al cal ibrati on method
(see Annex C) . I t is also permissible to u se clamp factors provided on a cal ibrati on
certi ficate by a calibration laboratory. H owever, such clamp factors that are u sed as a
reference for an ACTS val idation shal l be determi ned on ly u sin g the orig in al calibration
m ethod. The absolu te di fference between both clam p factors sh all compl y wi th the
fol lowing requ iremen t:
sh all be
<2, 5 dB between 30 MH z and 1 50 MHz,
2, 5 dB to 2 dB between 1 50 MH z and 300 MH z, decreasing and
<2 dB between 300 MH z and 1 000 MHz
Th is site val idation procedure is specifi ed in more detail in the next su bclause.
4.5.4 Validation methods for the ACTS

The characteristics for th e ACTS are val idated as follows.
– The ph ysical requ iremen ts 4. 5. 3a) and 4. 5. 3b) can be val idated by inspecti on .
– The electrical fu nction of th e ACTS (requ irement 4. 5. 3e) shal l be val idated by com paring
th e clamp factor CF of th e cal ibrated clamp with th e clamp factor CFi n -si tu m easu red in-
si tu , in accordance with th e ”orig in al calibration m ethod” (see Annex C) .
I nvesti gations h ave shown that a 1 0 m OATS or SAR validated for radiated em issi on
m easu remen ts can be consi dered as an ideal si te for perform ing the ACM M . Therefore, a
validated 1 0 m OATS or SAR is adopted as a reference site for electrical vali dation of th e
– 12 – CI SPR 1 6- 1 - 3: 2004+AM D1 : 201 6 CSV
© I E C 20 1 6
ACTS. Con s eq u en tl y, i f a val i d ated 1 0 m OATS or SAR i s u sed as a cl am p test s i te, th en th e
el ectri cal fu n cti on of th i s si te d o es n ot n eed to be val i d ated fu rth er.
Th e val i d ati o n proced u re of th e el ectri cal fu n cti on of a cl am p tes t si te i s d escri bed i n d etai l i n
An n ex C.
4. 6 Qu al ity assu ran ce proced u res for th e absorbi n g cl amp in stru mentation.
4. 6. 1 Overvi ew
Th e perform an ce of an absorbi n g cl am p an d secon d ary abs orbi n g d evi ce m ay ch an g e o ver

ti m e d u e to u s e, ag i n g or d efects . Si m i l arl y, th e ACTS perform an ce m ay ch an g e d u e to
m odi fi cati on s i n th e con stru cti on or by ag i n g .
Th e j i g cal i brati on m eth od can be u s ed con ven i en tl y for q u al i ty assu ran ce proced u res,
pro vi d ed th at th e j i g cl am p factor i s i n i ti al l y kn o wn .
4. 6. 2 Qu ality assu ran ce ch eck for th e ACTS
Th e d ata of th e s i te atten u ati o n A ref of th e ACTS d eterm i n ed at th e ti m e th e si te was val i d ated

can be u sed as a referen ce.
After a certai n ti m e i n terval an d after m od i fi cati on of th e s i te, th i s s i te atten u ati on

m easu rem en t can be repeated , an d th e res u l ts com pared wi th th e referen ce d ata.
Th e ad van tag e of th i s m eth od i s th at al l el em en ts of th e ACM M are eval u ated at on ce.
4. 6. 3 Qu ality assu ran ce ch eck for th e absorbi ng clamp
Th e d ecou pl i n g fu n cti o n s an d th e cl am p factor perform an ce d eterm i n ed at th e ti m e th e cl am p

h as been val i d ated can be u sed as referen ce perform an ce d ata.
After certai n ti m e i n terval s or after a ch an g e m ad e to th e s i te, th ese perfo rm an ce param eters

can be veri fi ed ag ai n by m easu ri n g th e d eco u pl i n g factors an d by m eas u ri n g th e cl am p factor
u s i n g th e j i g m eth o d ( An n ex B) .
4. 6. 4 Qu al ity assu ran ce pass/fai l criteria
Th e pass/fai l cri teri a for th e qu al i ty assu ran ce tests are rel ated to th e m easu rem en t
u n certai n ty of th e m eas u rem en t param eter i n q u es ti on . Th i s m ean s th at a ch an g e of th e
param eter i n q u esti on i s acceptabl e i f th i s ch an g e i s l ess th an o n e ti m es th e m easu rem en t
u n certai n ty.
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 13 –
 I EC 201 6
ABSORBING CLAMP MEASUREMENT
METHOD (ACMM)
(CI SPR 1 6-2-2 Cl au se 7)
Requ i res:
• EU T
• a calibrated clamp
• a validated abs. clamp test site (ACTS)
• a cal i brated recei ver
• speci fi ed test set-u p VALIDATION OF THE ABS CLAMP TEST
• speci fi ed test procedu re SITE (ACTS)
G i ves: di stu rban ce power of an EU T (specifi ed i n An n ex C)
Requ i res:
• th e ACTS (absorbi n g cl am p test si te) u n der
val i dati on
• a calibrated clamp wi th th e SAD cal i brated wi th
th e ori g i n al meth od
CLAMP CALIBRATION METHODS • a cal i brated recei ver
(specifi ed i n An n ex B) • a specifi c test set-u p
a. Validation of the clamp • a specifi c test procedu re
Requires: Gives: a validated test absorbing clamp test site
The validation of the decoupling functions of the
clamp with the secondary absorbing device
b. The original method
Requ i res:
• th e cl am p u nder cal i brati on wi th th e SAD VALIDATION OF DECOUPLING
• m easu rem ent equ i pm en t FUNCTIONS OF THE
ABSORBING CLAMP WITH THE
reference site)
• a speci fi ed sou rce (g enerator + l arg e verti cal SECONDARY DEVICE (An nex B)
referen ce pl an e)
• a specifi ed test set-u p Requ i res:
• a specifi ed test procedu re • th e cl am p wi th th e SAD
G i ves: th e orig i n al cl am p factor ( CFo ri g ) • a jig
c. The jig method • m easu rem ent equ i pm en t
Requ i res: • speci fi ed test setu p
• th e cl am p u nder cal i brati on wi th the SAD • speci fi ed test procedu re
• m easu rem ent equ i pm en t
• a cal i brati on ji g
G i ves: th e cl am p factor CFj i g and CFo ri g can be
cal cu l ated u sin g th e j i g transfer factor J TF.
ABS CLAMP REFERENCE SITE (ACRS)
A 1 0 m OATS or SAR, val i dated for radi ated
em i ssi on m easu rem en ts between 30 M H z an d
1 000 M H z i s con si dered al so val i d as a si te for
cl am p cal i brati on .
IEC 830/04
Figure 1 – Overview of the absorbing clamp measurement method and the associated
calibration and validation procedures
Table 1 – Overview of the characteristics of the two clamp calibration methods and their relation
Name of the Test Site used EUT used Ad vantages (+), di sadvantag es (-) and remarks ( • ) Appli cations
cal ibration method
Th e ori g i n al m eth od An absorbi n g Larg e verti cal referen ce pl an e • Cal i brati on set-u p resem bl es an actu al m easu rem en t Di rect cal i brati on of th e
cl am p referen ce an d fed beh i n d th i s referen ce wi th a l arg e EU T absorbi n g cl am p
si te pl an e by a g en erator
– H an dl i n g of th e l arg e verti cal referen ce pl an e i s
l abori ou s
– A referen ce si te (ACRS) requ i red
+ By d efi n i ti on th i s m eth od g i ves th e CF d i rectl y
becau se th i s m eth od i s th e ori g i n al cal i brati on m eth od
an d th erefore con si d ered as th e referen ce
Th e ji g m eth od An absorbi n g On e of th e verti cal fl an g es of th e – Cal i brati on set-u p d oes n ot resem bl e an actu al test I n d i rect cal i brati on of th e
cl am p cal i brati on j i g an d fed beh i n d th i s j i g fl an g e absorbi n g cl am p
jig by a g en erator + Con ven i en t h an d l i n g
Qu al i ty assu ran ce ch eck
+ N o referen ce si te (ACRS) req u i red of th e cl am p
– 14 –
+ G ood reprodu ci bi l i ty
– Does n ot g i ve th e CF di rectl y; CF i s cal cu l ated u si n g
th e J TF
N OTE An ACRS i s a val i dated 1 0 m OATS or SAR faci l i ty.
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV

 I EC 201 6
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 15 –
 I EC 201 6
EUT
Peut
Absorbing
clamp Lead under test
CFact
Vrec (Prec)
Horizontal floor of the clamp test site IEC 831/04
Key
Peu t th e di stu rbance power of th e EUT i n dBpW;
Vrec th e m easu red voltag e i n dB µ V;
CFact th e actu al cl am p factor i n dBpW/ µ V;
Prec th e recei ved power l evel i n dBpW.
Figure 2 – Schematic overview of the absorbing clamp test method

– 16 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Pgen Receiver
Generator
1 0 dB (50 Ω )
attenuator
IEC 832/04
Figure 3a
Large vertical reference plane

1 0 dB
attenuator CForig
Porig

Figure 3b
jig
CFjig
1 0 dB 50 Ω
attenuator
Pjig
IEC 834/04
Figure 3c
Key
CFori g , CFj i g Absorbi n g cl am p factors
Pori g , Pref , Pj i g M easu rem en t of P depen di n g on val i d ati on m eth od u sed
Pg en Ou tpu t power of th e g en erator an d 1 0 d B atten u ator
N OTE Fi g u res 3b. , 3c. correspon d respecti vel y to th e two m eth od s of Tabl e 1 .
Figure 3 – Schematic overview of the clamp calibration methods
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 17 –
 I EC 201 6
Annex A
(informative)
Construction of the absorbing clamp

(Subclause 4. 2)
A.1 Examples of absorbing clamp construction

Fi g ures A. 1 and A. 2 describe the basic assembly of the clamp. The three m ain parts of the
absorbing clamp descri bed in 4. 2 are the cu rren t transformer C, the power absorber and
im pedance stabi lizer D, and the absorbing sl eeve E. D consists of a nu mber of ferrite rings
and E consists of ferri te rin gs or tu bes. The core of the transformer C has two or three rin gs of
th e type used in D. The secondary windin g of th e current transformer consists of a tu rn of a
m iniatu re coaxial cabl e enci rcling the rin gs an d connected as shown . The cable is passed
throu gh the sleeve E to a coaxial term inal on th e clam p (possibl y vi a the 6 dB attenu ator) . C
and D are mou n ted cl ose tog ether and alig ned on the same axis to permi t m ovemen t along
th e l ead under test B. Sl eeve E i s usu al ly mou n ted alongside absorber D for practical
reasons. Both D and E serve to attenu ate asymmetric cu rrents on the leads throu gh them .
The example in Fi g ure A. 2 sh ows al so some featu res of improvemen ts to the absorbing clam p
performance. A m etal cyli nder (1 ) is mou n ted insi de the core of the transformer C to act as a
capaciti ve shield. This cylinder is spl i t in to two hal ves. An insu lating tu be (2) is u sed to
cen tralize th e l ead wi th in the transformer. Th is tu be exten ds from the in pu t end of the
transformer to th e first rin g of the absorber D, and is for use du ring clamp cal ibrati on an d for
small di ameter leads.
The absorbin g clamp may be constru cted to cover the frequency rang e 30 MH z to 1 000 M H z
using su i table ferri te rin gs.
To measurement
Absorber 6 dB receiver
(Ferrite rings) attenuator
Clamp reference
point (CRP)
Coaxial measurement
cable
Lead under Current Absorber

test transformer (Ferrite rings)
IEC 836/04
N OTE Th e 6 d B atten u ator an d m easu rem en t cabl e are i n teg ral part of th e cl am p assem bl y.
Figure A.1 – The absorbing clamp assembly and its parts

640 mm ± 40 mm
E E ∼1 5
1
B
35 ∼23
B
– 18 –
2
C
D D
2 rings ∼560
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV

34 rings
IEC 837/04
Clamp reference
point (CRP)
Key
B l ead u n d er test
C cu rren t tran sform er
D absorbi n g secti on
 I EC 201 6
E absorbi n g secti on on cabl e from tran sform er
1 m etal cyl i n d er - two h al ves
2 cen tral i zi n g tu be for l ead B
3 coaxi al con n ector (for th e 6 d B atten u ator)
Figure A.2 – Example of the construction of an absorbing clamp

CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 19 –
 I EC 201 6
Annex B
(normative)
Calibration and validation methods for the absorbing clamp

and the secondary absorbing device
(Clause 4)
B.1 Introduction
Th is an nex g i ves details on the various cal ibration and validation m ethods for th e absorbing
clamp assem bl y and for th e secondary absorbing device.
The methods for th e cal ibration of the clam p factor of the absorbing clam p (see also 4. 3) are
g iven in B. 2.
The meth ods for val i dation of th e decou pling fu nctions DF and DR are gi ven i n Article B. 3.
B.2 Calibration methods of the absorbing clamp assembly

Both m ethods, the clam p factor ( CF) of the absorbing clamp assembl y including th e
attenu ator of at l east 6 dB and the recei ver cabl e is determin ed. Since th e decou pl in g of the
clamp is not perfect, the cl amp interacts wi th the cabl e. The type and l eng th of the cable may
th u s in flu ence the resu l tan t u ncertainty. Therefore the cali bration shall be done inclu din g the
receiver cabl e.
B.2.1 The original calibration method

B.2.1 .1 Calibration set-up and equipment
Fig u re B. 1 sh ows the cal i bration set-u p. The calibration set-u p mu st be located on an ACRS
to avoid in flu encing i ts im medi ate su rrou ndings. I f th e ACRS does n ot h ave a metal lic g rou nd
plane, a horizon tal grou nd pl ane of typicall y 6 m × 2 m is required.
An ACRS th at is valid for th is cali bration procedure is an OATS or a SAR for a 1 0 m

measuremen t distance th at com pli es wi th th e CI SPR N SA requ i rem en ts.
The cal ibration set-u p is comprised of th e following components:

– a clamp sli de constru cted of non -refl ecti ve m aterial abou t 6 m long , to ensu re that th e
lead u nder test is at a heig h t of 0, 8 m ± 0, 05 m above the g round. Th is im plies that within
th e absorbing clam p and wi thi n th e SAD, the heigh t of the LU T above the reference plane
wil l be a few cen ti metres larg er;
– a vertical grou nd plan e of 2, 0 m × 2, 0 m , connected to the m etal lic g rou nd pl ane an d with
a type N jack m ou n ted in i ts vertical sym metrical axis at a heig h t of 0, 87 m . Th is vertical
g rou nd pl ane is posi tion ed close to the front of the clamp slide, wh ich is called th e
absorbi ng clamp test site reference poi n t (SRP) ;
– an i nsu lated l ead for test pu rposes, wi th a leng th of 7, 0 m ± 0, 05 m and m ade of l ead with
4 mm di ameter n ot cou nting the i nsu lation, wi th one en d of the lead connected
(e. g . soldered) to the m ou nting jack. The other end of the lead is conn ected to the l ine and
n eu tral of a type M CDN (see CI SPR 1 6-1 -2 Fig u re C. 2) , which is connected to the
m etallic (horizon tal) g rou nd plan e; the measu remen t ou tpu t of th e CDN is term inated wi th
50 Ω ( for safety reasons the CDN is not connected to the mains! ) . For practical
– 20 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
reasons i t is recommended to u se a fl exi bl e lead u nder test. Th is CDN provides in the
frequ ency rang e up to 40 MH z to 50 MH z a requi red stable asym metrical im pedance at
th e far end of th e l ead u nder test;
– an appropriate non -metall ic clampin g device at the other en d of the clamp slide, to sl ig h tl y
stretch the lead u nder test;
– a secondary absorbing device (SAD) positi oned on th e clamp sl ide 50 mm from th e clamp
u nder cal ibration . The secondary absorbing device may be a (g lidin g) ferrite clamp wi th a
decou pl in g fu ncti on DF larg er than or equ al to that defined in Clause 4;
– a bu ffer of el ectromag netical l y-transparen t material n ear th e vertical g rou nd plane to
ensu re that th e CRP is never less than 1 50 m m from the vertical g rou nd pl an e.
N OTE A g ood m atch wi th th e req u i rem en t of 4 m m di am eter can be ach i eved by u si n g th e ou ter screen of a
coaxi al cabl e (for exam pl e RG -58) .
A receiver or a network anal yzer is u sed to measu re th e gen erator ou tpu t and clamp ou tpu t.
The m easu red si gnal levels sh al l be 40 dB h ig h er than the ambient sign als measu red at the
ou tpu t of the absorbing clamp when the generator is switch ed off. The non-l in earity of the
measurement system shall be less than 0, 1 dB.
As reference measurement, the tracking g enerator ou tpu t of th e receiver or n etwork an al yser

(N A) is con nected via the coaxial cable throug h a 1 0 dB atten uator to the i npu t of th e N A.
B.2.1 .2 Calibration procedure

A non -metalli c gu ide for th e lead un der test is mou nted on the ou tside of th e absorbing clam p
Both clamps – th e clamp u n der test and the second absorbin g clamp (SAD) – are posi tion ed
on the clamp sl ide as sh own in Fig u re B. 1 . The cu rrent transformer of the cl amp under test is
placed wi th i ts side towards the vertical g rou nd pl an e. The fron t edge of the cu rren t
transformer i s the clamp reference point (CRP) an d shall be m arked by the m anu factu rer. The
clamp is positioned wi th a distance of 1 50 mm between th e CRP and the vertical grou n d
plane. Th e lead under test is passed throug h both clamps and shou l d be stretched sligh tl y
usin g an appropriate non-metall ic clampin g device at th e en d of the clamp slide. The lead
u nder test mu st not tou ch the metal lic grou ndplan e before i t is connected to the CDN .
The ou tpu t of th e N A is con nected to th e mou n tin g jack via a coaxial cable and a 1 0 dB
attenu ator. The recei ver cable of the absorbin g cl amp is connected to the inpu t of the N A. Th e
recei ver cabl e sh al l be suspen ded su ch that i t is always spaced at a m ini mu m of 200 m m from
th e horizon tal g rou nd plane th rou g hou t the entire cal ibration process.
The si te attenu ation is m easu red at least u p to 60 MH z in 1 MH z steps, up to 1 20 MH z in

2 MH z steps, u p to 300 M H z i n 5 MH z steps, and above 300 MH z in 1 0 M H z steps.
The m in i mu m si te attenu ati on is measu red whi le th e two clamps (absorbin g cl amp plu s SAD)
are moved tog eth er at a su itable speed alon g the clamp sl ide. The cl amps may be pu l led by
means of a n on-metallic rope. The speed at wh ich the clamps are moved must al low the si te
attenu ation to be m easu red at each frequ ency at in tervals of less than 1 0 m m .
The clamp factor CFori g of th e absorbi ng cl am p assembl y is calcu lated from the clamp site
attenu ati on u sin g Equ ation (5) of 4. 3.
B.2.2 The jig calibration method

B.2.2.1 Specification of the absorbing clamp calibration jig
As described in Clause 4, th e absorbin g clamp cal ibrati on jig can be u sed for the calibration
of th e absorbi ng clam p. The ji g is u sed for th e measu remen t of th e i nsertion l oss of the
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 21 –
 I EC 201 6
absorbi ng clamp tog ether with the SAD in a 50 Ω m easu ring system . N ote that the empty jig
ch aracteristic impedance i s not 50 Ω . The measu remen t in a jig allows this i nsertion l oss to be
m easured in isolation from en vironmen t. The di mensional speci fications of the jig and the
arrang emen t of the clamps are shown in Fig u res B. 3 to B. 5.

A n on-metallic gu ide for th e lead un der test is m ou n ted on the fron t side of the absorbi ng
clamp u nder test so that th e lead passes throug h th e cen tre of the cu rren t probe (Fig u re B. 2) .
The absorbin g cl am p is th en position ed in the jig with the clamp reference poin t (CRP) of the
absorbi ng clamp 30 m m from the vertical flan ge as shown in Fig u re B. 3 an d B. 4. The same
distance of 30 mm is u sed for the en d of the SAD to the other vertical flang e. Th e lead u nder
test is connected to th e sockets i n the vertical flang es by banan a plu g s.
The i nsertion l oss is measu red u sing a N A. The m easu red si gn al l evel sh al l be 40 dB hi g her
th an the ambient sig n als measured at th e ou tpu t of the absorbin g clam p. The non-lineari ty of
th e insertion l oss m easuremen t shal l be l ess than 0, 1 dB.
The ou tpu t of the N A is conn ected via a coaxial cable an d a 1 0 dB atten u ator to the inpu t of
th e N A to cal ibrate the measu remen t set-up.
After the measu remen t set-up has been calibrated, the ou tpu t of th e N A i s connected via the
coaxi al cable and a 1 0 dB attenu ator to the mou n ting jack on the side of th e jig where the
CRP of the clamp is posi ti oned. The m ou n ti ng jack opposi te the CRP is term inated with 50 Ω .
The ou tpu t of the absorbin g clamp is connected via a 6 dB attenu ator an d th e receiver cable
to th e inpu t of the N A. Th e receiver cabl e shal l be treated wi th a SAD. Th e SAD shal l be
positioned as sh own in Fi gu res B. 3 and B. 4.
The inserti on loss is then measured at least u p to 60 MH z in 1 MH z steps, u p to 1 20 MH z in

2 MH z steps, u p to 300 MH z i n 5 MH z steps, and above 300 MH z in 1 0 M H z steps.
The clamp factor CFj i g is calcu lated from th e i nsertion loss u sing Equ ation (7) . The
m an u factu rer shal l determi ne at least the jig transfer factor JTF defined in 4. 3, Equ ati on (1 1 ) ,
wh ich al lows th e CFori g for this type of absorbing clamp to be calcu lated.
B.2.4 Measurement uncertainty of the absorbing clamp calibration

The cali bration u ncertain ty is to be m en ti oned in every calibration report. The calibration
report shall consider the following uncertain ty factors.
– The ori gi nal calibration m eth od:
• the m ism atch between the ou tpu t of th e absorbin g clamp (with a 6 dB attenu ator and
• the repeatabi li ty of the calibrations, which includes factors su ch as centrin g th e lead
u nder test in the curren t transformer and gu idance of the recei ver cabl e to th e network
anal yzer.
The absorbin g clamp is to fu l fi ll the m in im u m requ iremen t of th e decou pl in g factors DF
and DR.
– The jig cal ibrati on m ethod:
• the u ncertain ty of the clamp factor CF,
• the m ism atch between the ou tpu t of th e absorbin g clamp (with a 6 dB attenuator and
receiver cabl e) and the measuremen t equ ipment, and
– 22 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
• repeatability of the calibrations, wh ich inclu des factors such as cen tring th e lead u n der
test in the cu rren t transformer.
N OTE I t i s assu m ed th at th e m easu rem en t i n stru m en tati on u n certai n ty of th e req u i red correl ati on process
wi th th e ori g i n al cal i brati on m eth od i s su ffi ci en tl y sm al l su ch th at th ere i s n o appreci abl e con tri bu ti on to th e
u n certai n ty of th e j i g cal i brati on m eth od .
DR.
Detailed g u idance on th e treatment of the measu remen t i nstrumen tation uncertain ty for
distu rbance power measurem ents is g iven in CI SPR 1 6-4-2.
B.3 Validation methods of the decoupling functions
B.3.1 The decoupling factor DF of the absorbing clamp with the secondary
absorbing device
The m easu remen t method of the decoupling factor appl ies for th e absorbin g clamp with the
secondary absorbin g device as a requ irem en t for th e clamp manu facturer and an opti on for
quali ty managemen t proposes.
The decou pli ng factor DF is measured usi ng the clamp calibration ji g (see Fi gu res B. 3, B. 4
and B. 5) . The decoupl ing factor DF m easurement u ses a 50 Ω measu ri ng system for both th e
reference measurement and for the m easurement with th e device u n der test. A reference to
an empty jig wou l d g i ve u nreal istic m easu remen t val ues, since th e im pedance of the ji g
ch an g es wh en th e clamp is in serted i n th e j ig . N ote th at the empty j ig i s n ot a 50 Ω system!
The procedu re for the m easurement of th e decou pli ng factor DF is as foll ows. Fig u re B. 8
shows the two m easu rem en ts steps that are n ecessary when u sin g a spectru m analyzer. First
a reference measuremen t is performed. The ou tpu t of the g enerator is m easured th rou g h two
1 0 dB attenu ators. Then, th e ou tpu t Pref is measu red. After th is the absorbing clamp with SAD
i s posi tioned as described in B. 2. 2. 2. At both con nections of the jig , a 1 0 dB attenuator is
appli ed. The distance between th e vertical fl ang e of th e jig and the reference poi n t of the
device u n der test ( CRP i n case of th e cl amp) an d of the end of the clamp shall be 30 m m .
Then the ou tpu t Pfi l is the measured. The decoupl ing factor DF is determin ed as follows:
DF = Pref − Pfi l (B. 1 )
The decou pli ng factor for th e absorbi ng clamp with th e SAD sh al l be at least 21 dB over the
frequ ency band in qu estion .
N OTE For i n form ati on , th e DF of th e separated m easu red SAD sh ou l d be abou t 1 5 dB.
Th is measurement may be performed also wi th a N A. I n th is case the application of the
attenu ators m ay be omitted i f the N A calibration is perform ed at the i n terfaces th at are
connected to the jig .
B.3.2 The decoupling factor DR of the absorbing clamp

The decou pling factor DR is measu red usin g the cl am p calibration jig (see Fi gu res B. 3, B. 4
and B. 5) as a requ irem en t for th e clamp manu factu rer and an option for qu ali ty manag emen t
purposes.
The procedu re for the m easu remen t of the decoupli ng factor DR is as fol lows (see Fig ures
B. 8 and B. 9) . For the measu remen t of the asym metrical vol tag e on th e coaxial cabl e from th e
cu rren t transformer, the absorbing cl amp wi th out SAD is posi tioned in th e jig as described in
B. 2. 2. 2. The m easurement ou tpu t is connected wi th a CDN type A (see CI SPR 1 6-1 -2, Fig ure
C. 1 ) vi a a short coaxial cable. The CDN is positi oned on the metal lic grou nd plan e. A 50 Ω
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 23 –
 I EC 201 6
load shall be u sed to terminate the connection of the ji g at the opposi te side of the clamps
CRP.
Fi gu re B. 8, step 1 shows the reference measu rem ent that is necessary when u sin g a
spectru m anal yzer. The ou tpu t of the g enerator is measured throu g h two 1 0 dB attenu ators.
Then, the outpu t Pref is m easu red.
After th is, th e absorbing clamp is set u p as in dicated in Fig u re B. 9. Th e g enerator is

connected to th e jig (at the side that is closest to th e CRP of th e cl amp) throu gh a 1 0 dB
attenu ator. The oth er jig con nection i s term in ated wi th a 50 Ω load. Th e ou tpu t of the cl amp is
connected to a CDN . The m easu ri ng ou tpu t of the CDN is con nected to th e receiver th rou gh a
1 0 dB attenu ator. The ou tpu t of the CDN is terminated wi th 50 Ω . Then the ou tpu t Pfi l is
m easu red. The decou pling factor DR is determ ined as follows:
The decou pli ng factor for th e absorbin g clam p shal l be at least 30 dB over the frequ ency band
i n question. The 30 dB con tains 20, 5 dB attenu ati on from th e absorbin g clam p and 9, 5 dB
from the CDN .
Th is measu remen t may be performed also wi th a N A. I n th is case the application of the

attenu ators may be omitted i f the N A cal ibration is performed at the i n terfaces that are
connected to the ji g and CDN .
6m
Lead 4 mm diameter* 1 0 dB
CRP 0,1 5 m
50 Ω 0,05 m 6 dB
0,8 m SRP
>2m
CDN
>6m
* Without insulation Network-

analyser
In Out
IEC 838/04
Figure B.1 – The orig inal calibration site

– 24 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
6
Front side of the absorbing clamp
Guide for centring the lead under test
IEC 839/04
Dimensions in mm
Wh en u si n g coaxi al cabl e for th e referen ce devi ce, th e sl ot sh al l be corrected to coaxi al cabl es di am eter.
Figure B.2 – Position of guide for centring the lead under test
30 (From j i g fl an g e to CRP)
30
Lead 4 m m d i am eter*
Absorbi n g cl am p
SAD on LU T
Recei ver cabl e

J i g fl an ge type B J i g fl an g e type A
el ectri cal l y bon d ed E l ectrom ag n eti cal l y n eu tral spacer el ectri cal l y bon d ed
to th e g rou n d pl an e to adj u st th e h ei g h t of th e cl am p to th e g rou n d pl an e
above th e m etal l i c g rou n d pl an e
*Wi th ou t i n su l ati on
IEC
Figure B.3 – Side view of the calibration jig

CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 25 –
 I EC 201 6
≥1 700
≤ 400
30
50 30
≥ 500
Absorbi n g cl am p SAD on LU T
el ectri cal l y bon d ed M etal l i c g rou n dpl an e el ectri cal l y bon d ed
to th e g rou n d pl an e to th e g rou n d pl an e
IEC
Figure B.4 – Top view of the jig

– 26 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
1 00 Tefl on
N -con n ector
1 9, 5
4
6
1 20
90
40
(For th e recei ver 55 M etal l i c, abou t 3 m m th i ck
cabl e)
> 1 00
IEC

Fig ure B.5a – Vertical flang e type A (SAD side)
1 00
200
N -con n ector
(sam e as for fl an g e A)
200
90
M etal l i c, abou t
3 m m th i ck
20
20
IEC

Fig ure B.5b – Vertical flange type B (clamp EUT side)
Figure B.5 – View of the jigs vertical flange
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 27 –
 I EC 201 6
1 0 dB 1 0 dB
attenuator attenuator
Generator Receiver
IEC 201/06
Fi gure B.8a – Reference measurement
1 0 dB 1 0 dB
atten u ator CRP atten u ator
Absorbi n g cl am p SAD
G en erator Recei ver
50 Ω Recei ver cabl e

IEC
Fi gure B.8b – Measurement with the absorbing clamp and SAD placed in the ji g
Figure B.8 – Measurement set-up of the decoupling factor DF
1 0 dB
1 0 dB atten u ator Recei ver
atten u ator CRP
Absorbi n g cl am p 50 Ω 50 Ω
G en erator
CDN
J i g fl an g e type B J i g fl an g e type A Recei ver cabl e

IEC
Figure B.9 – Measurement set-up of the decoupling factor DR

– 28 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Annex C
(normative)
Validation of the absorbing clamp test site

(Clause 4)
C.1 Introduction
Th is annex g ives the detai ls on the m eth od for the vali dation of the absorbing cl am p test site.
An absorbing clam p test site (ACTS) shall be veri fi ed by comparing the clamp factor CF of a
cal ibrated clamp wi th the in -si tu at th e ACTS m easu red cl amp factor CFi n -si tu u sing the
orig i nal calibrati on method (see 4. 3 an d Ann ex B) .
C.2 Equipment requirements for validation

The orig inal meth od (see An nex B. 2. 1 ) wi th vertical g round pl ane and the speci fic l ead un der
test is u sed to g en erate a defined com mon mode curren t on the lead u nder test. This common
m ode current m ay be i nflu enced by th e en vironmen t of th e ACTS, which m ay deviate from th e
ACRS.
C.3 Validation measurement procedure

The fol lowing calibration procedure is carri ed ou t on the ACTS to be vali dated.
 The site attenuation measurement procedure

 Step 1 – Reference measu rem en t of g enerator power
First, as a reference, the ou tpu t power Pg en of th e g enerator is measu red directl y throu g h the
u sed cables and a 1 0 dB attenu ator u sing a receiver (Fig u re C. 1 a) .
 Step 2 – Measu remen t of th e i n-si tu clamp factor on the ACTS
Secondly, th e maximu m distu rbance power Pref on th e LU T is measu red u sing th e same
g enerator setti ng and 1 0 dB attenu ator an d u sing th e set-u p g iven in Figu re C. 1 b.
The two clam ps – the absorbi ng clamp and the secondary absorbin g device (SAD) – are
posi tioned on the clamp slide as shown in Fi gure C. 1 b. The clam p reference point of the
clamp u nder test is pl aced in the direction of the vertical g round plane. The vertical g round
plane is positi on ed at the SRP of th e clamp slide. A non-m etalli c g u ide for th e LU T is mou nted
on th e ou tside of the absorbing clam p u nder test so that the lead passes throu gh th e centre of
th e cu rren t transformer (Fig ure B. 2) . The clamp is posi tion ed wi th a distance of 1 50 mm
between the CRP an d the vertical g round plane. Th e lead u n der test is passed throu g h both
clamps and sh ou ld be stretched sli g h tly u sing an appropri ate non-metalli c clam ping device at
both ends of th e clam p slide. The lead u nder test is connected to the m ou n ti ng jack on the
vertical g rou n d plane.
I f a CDN is used for m easu ring the EU T, it shou ld also be used for the ACTS val idation (for
CDN set-u p see B. 2. 1 . 1 and Fi gu re B. 1 ) .
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 29 –
 I EC 201 6
The outpu t of the N A is con nected to the mou n ting jack at th e vertical g roun d pl ane vi a the
1 0 dB attenu ator. Th e recei ver cable of the absorbing cl amp is connected to the i npu t of the
N A.
The si gnal is measu red at least u p to 60 MH z i n 1 MH z steps, u p to 1 20 MH z in 2 MH z steps,

u p to 300 MH z in 5 MH z steps, an d above 300 M Hz i n 1 0 MH z steps.
The maxi mu m distu rbance power is measured whi le the clamps are m oved at a su itable
speed from 1 50 mm to approxi matel y 4, 5 m from th e vertical g round plane. Th e clamps m ay
be pu lled by means of a non-metal lic rope. The speed at whi ch th e clamps are m oved must
al low the i nsertion loss to be m easu red at each frequency at intervals of less than 1 0 m m .
 Step 3 – Calcu lation of the i n-si tu clamp factor
The in situ clamp factor (i n dB) of th e si te u n der consideration (ACTS) can be determ ined
u sin g the following equ ati on :

gen ref
) − 17
Th is determin ati on of CFori g and CFin- s itu can be don e by th e test hou se or by a th ird party
(calibration test house) .
C.4 Validation of the ACTS

The orig inal clamp factor CFori g sh all be compared wi th th e in-situ clamp factor CFi n -si tu . Th e
acceptance cri terion for th e val idati on of the ACTS is g iven by Equ ati on (1 3) (see 4. 5. 3) if the
val idation measu remen t and the calibration procedu res (Clau se C. 3 and B. 2. 1 ) are done by
th e test h ouse itsel f and provided that the u ncertain ty requ iremen ts g iven in Clau se C. 5 are
m et.
I f the clamp factor is determ ined by a th ird party the acceptance cri teri on for th e val idation is
chang ed to:
<3 dB between 30 M H z and 1 50 MH z
3 to 2, 5 dB between 1 50 MH z and 300 MH z decreasing
<2 dB between 300 MH z and 1 000 M H z
C.5 Uncertainties of the ACTS validation method

The measu remen t uncertain ty of the ACTS val idation depends on :
– th e measu remen t u ncertain ty of the m easurement equ ipment,
– th e m ism atch between th e ou tpu t of th e absorbing cl am p (wi th a 6 dB attenuator) and the
m easu remen t equ ipment, and
– th e repeatabi li ty of th e measu remen t, which inclu des the u ncertainty centrin g the lead
u nder test in the current transformer, and gu idance of the recei ver cable to th e n etwork
anal yzer.
For the clam p site val idation procedure, th e above men tioned u ncertainty requ iremen ts sh all
be taken in to accou n t.
– 30 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Pgen Receiver
Generator
1 0 dB (50 Ω)
attenuator
IEC 848/04
Fig ure C.1 a – Reference measurement of generator power
Receiver
cable
6m
1 0 dB
Lead 4 mm diameter* 0,1 5 m attenuator
SAD
0,8 m
SRP
Network
analyser
*Length: 7,0 m, diameter without isolation In Out
IEC 849/04
Fig ure C.1 b – Set-up for power measurements on the ACTS or on the ACRS
Figure C.1 – Test set-ups for the site attenuation measurement

for clamp site validation
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 31 –
 I EC 201 6
Bibliography
[1 ] Ryser, H einrich, U ncertainty Con tribu tions to th e Clamp Factor CF of the Absorbi ng
Clamp, Proceedings of 18th International Zurich Symposium on EMC, M u nich 2007.
___________
– 32 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
SOMMAI RE
SOMM AI RE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
AVAN T-PROPOS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
1 Domain e d'application. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
2 Références n orm ati ves . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
3 Term es, défin i tions et abréviati ons . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
4 I nstru m en tati on de mesure par pi nce absorbante . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
An nexe A (in form ati ve) Construction de la pince absorban te (Parag raph e 4. 2) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
An nexe B (normati ve) Méthodes d'étalonnage et de vali dation de la pince absorban te
et du dispositi f absorban t secondai re (Articl e 4) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
An nexe C (normati ve) Validation du si te d'essai à la pince absorban te (Articl e 4) . . . . . . . . . . . . . . . . 59
Bi bli og raphie . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
Fi g ure 1 – Vu e d'ensembl e de l a m éth ode de mesu re par pince absorbante et

procédures d'étal onn ag e et de validation associées . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
Fig ure 2 – Aperçu schématiqu e de la méth ode d'essai par pince absorban te . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
Fig u re 3 – Aperçu schém atiqu e des m éthodes d'étalonnag e de pince . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
Fi gu re A. 1 – Ensemble pi nce absorban te et ses éléments. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
Fi gu re A. 2 − Exemple de conception d'u ne pince absorbante . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
Fi gu re B. 1 – Site d'étalon nag e orig inal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
Fi g ure B. 2 – Positi on du g u ide pou r le cen trage du condu cteur en essai . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
Fig ure B. 3 – Vu e l atérale du g abari t d'étalonnag e . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
Fig u re B. 4 – Vu e de dessus du g abari t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
Fi gu re B. 5 – Vu e de la flasque verticale de g abari t . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
Fi gu re B. 8 – M on tage de m esu re du facteur de découplag e DF. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
Fi gu re B. 9 – M on tage de m esu re du facteur de découplag e DR . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
Fig ure C. 1 – M on tages d'essai pour la mesu re de l'atténu ation de si te pou r l a
validation du si te de la pince . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
Tableau 1 – Vu e d'ensem ble des caractéristiques des deu x m éth odes d'étalonnag e de
pince et leu r rel ati on . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 33 –
 I EC 201 6
COMMI SSI ON ÉLECTROTECHNI QUE I NTERNATI ONALE
COM I TÉ I N TERN ATI ON AL SPÉCI AL DES PERTU RBATI ON S RADI OÉLECTRI QU ES
___________

AVANT-PROPOS
1 ) La Com m i ssi on El ectrotech n i q u e I n tern ati on al e (I EC) est u n e org an i sati on m on di al e d e n orm al i sati on
com posée d e l 'en sem bl e d es com i tés él ectrotech n i qu es n ati on au x (Com i tés n ati on au x d e l ’ I EC) . L’ I EC a pou r
obj et d e favori ser l a coopérati on i n tern ati on al e pou r tou tes l es q u esti on s d e n orm al i sati on d an s l es d om ai n es
d e l 'él ectri ci té et d e l 'él ectron i q u e. A cet effet, l ’ I EC – en tre au tres acti vi tés – pu bl i e d es N orm es
i n tern ati on al es, d es Spéci fi cati on s tech n i q u es, d es Rapports tech n i q u es, d es Spéci fi cati on s accessi bl es au
pu bl i c (PAS) et d es G u i d es (ci -après dén om m és "Pu bl i cati on (s) d e l ’ I EC") . Leu r él aborati on est con fi ée à des
com i tés d 'étu des, au x travau x d esq u el s tou t Com i té n ati on al i n téressé par l e su j et trai té peu t parti ci per. Les
org an i sati on s i n tern ati on al es, g ou vern em en tal es et n on g ou vern em en tal es, en l i ai son avec l ’ I EC, parti ci pen t
ég al em en t au x travau x. L’ I EC col l abore étroi tem en t avec l 'Org an i sati on I n tern ati on al e d e N orm al i sati on (I SO) ,
sel on des con di ti on s fi xées par accord en tre l es d eu x org an i sati on s.
2) Les d éci si on s ou accord s offi ci el s de l ’ I EC con cern an t l es q u esti on s tech n i q u es représen ten t, d an s l a m esu re
d u possi bl e, u n accord i n tern ati on al su r l es su j ets étu d i és, étan t d on n é q u e l es Com i tés n ati on au x de l ’ I EC
i n téressés son t représen tés dan s ch aq u e com i té d’ étu des.
3) Les Pu bl i cati on s d e l ’ I EC se présen ten t sou s l a form e d e recom m an d ati on s i n tern ati on al es et son t ag réées
com m e tel l es par l es Com i tés n ati on au x d e l ’ I EC. Tou s l es efforts rai son n abl es son t en trepri s afi n q u e l ’ I EC
s'assu re d e l 'exacti tu d e d u con ten u tech n i qu e d e ses pu bl i cati on s; l ’ I EC n e peu t pas être ten u e respon sabl e de
l 'éven tu el l e m au vai se u ti l i sati on ou i n terprétati on q u i en est fai te par u n q u el con q u e u ti l i sateu r fi n al .
4) Dan s l e bu t d 'en cou rag er l 'u n i form i té i n tern ati on al e, l es Com i tés n ati on au x d e l ’ I EC s'en g ag en t, d an s tou te l a
m esu re possi bl e, à appl i q u er d e façon tran sparen te l es Pu bl i cati on s d e l ’ I EC d an s l eu rs pu bl i cati on s n ati on al es
et rég i on al es. Tou tes di verg en ces en tre tou tes Pu bl i cati on s d e l ’ I EC et tou tes pu bl i cati on s n ati on al es ou
rég i on al es correspon d an tes doi ven t être i n di q u ées en term es cl ai rs dan s ces dern i ères.
5) L’ I EC el l e-m êm e n e fou rn i t au cu n e attestati on d e con form i té. Des org an i sm es d e certi fi cati on i n dépen d an ts
fou rn i ssen t d es servi ces d 'éval u ati on d e con form i té et, d an s certai n s secteu rs, accèd en t au x m arq u es d e
con form i té d e l ’ I EC. L’ I EC n 'est respon sabl e d 'au cu n des servi ces effectu és par l es org an i sm es d e certi fi cati on
i n d épen d an ts.
6) Tou s l es u ti l i sateu rs d oi ven t s'assu rer q u 'i l s son t en possessi on d e l a dern i ère éd i ti on de cette pu bl i cati on .
7) Au cu n e respon sabi l i té n e doi t être i m pu tée à l ’ I EC, à ses ad m i n i strateu rs, em pl oyés, au xi l i ai res ou
m an d atai res, y com pri s ses experts parti cu l i ers et l es m em bres de ses com i tés d 'étu d es et d es Com i tés
n ati on au x de l ’ I EC, pou r tou t préj u di ce cau sé en cas d e dom m ag es corporel s et m atéri el s, ou de tou t au tre
d om m ag e d e qu el q u e n atu re q u e ce soi t, di recte ou i n d i recte, ou pou r su pporter l es coû ts (y com pri s l es frai s
d e j u sti ce) et l es d épen ses décou l an t d e l a pu bl i cati on ou d e l 'u ti l i sati on d e cette Pu bl i cati on d e l ’ I EC ou d e
tou te au tre Pu bl i cati on d e l ’ I EC, ou au crédi t q u i l u i est accord é.
8) L'atten ti on est atti rée su r l es référen ces n orm ati ves ci tées d an s cette pu bl i cati on . L'u ti l i sati on d e pu bl i cati on s
référen cées est obl i g atoi re pou r u n e appl i cati on correcte d e l a présen te pu bl i cati on .
9) L’ atten ti on est atti rée su r l e fai t q u e certai n s d es él ém en ts d e l a présen te Pu bl i cati on d e l ’ I EC peu ven t fai re
l ’ obj et d e d roi ts d e brevet. L’ I EC n e sau rai t être ten u e pou r respon sabl e d e n e pas avoi r i den ti fi é d e tel s d roi ts
d e brevets et d e n e pas avoi r si g n al é l eu r exi sten ce.
DÉGAGEMENT DE RESPONSABILITÉ
Cette version consolidée n’est pas une Norme IEC officielle, elle a été préparée par
commodité pour l’utilisateur. Seules les versions courantes de cette norme et de
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d i spon i bl e d ans cette pu bl i cati on.
La N orm e i n tern ati on al e CI SPR 1 6-1 - 3 a été établ i e par l e so u s-com i té A d u CI SPR: M es u res
des pertu rbati o n s radi oél ectri qu es et m éth od es stati s ti q u es.
Cette éd i ti o n con s ti tu e u n e révi si on tech n i q u e. Cette éd i ti on spéci fi e u n e m éth ode

d ’ étal on n ag e pl u s d étai l l ée po u r l a pi n ce absorban te. De pl u s, d e n ou vel l es m éth o d es
d ’ étal on n ag e possi bl es son t i n trod u i tes, q u i son t pl u s prati cabl es q u e cel l e q u i étai t s péci fi ée
au paravan t. D es param ètres ad di ti on n el s pou r d écri re l a pi n ce absorban te son t d éfi n i s, tel s l e
facteu r d e d écou pl ag e pou r l ’ abs orbeu r l arg e ban de « DF» et l e facteu r de déco u pl ag e pou r l e
tran sform ateu r d e cou ran t « DR» , avec l eu rs m éth o d es d e val i d ati o n . U n e procéd u re pou r l a
val i d ati on d u s i te d ’ essai à l a pi n ce absorban te (ACTS) est au ss i i n cl u se d an s l e docu m en t.
Cette pu bl i cati on a été réd i g ée s el on l es D i recti ves I SO/I EC, Parti e 2.
Le com i té a d éci dé q u e l e con ten u d e l a pu bl i cati on d e bas e et d e son am en d em en t n e sera

pas m od i fi é avan t l a d ate d e stabi l i té i n d i q u ée s u r l e s i te web d e l ’ I E C s ou s
"h ttp: //webstore. i ec. ch " d an s l es d on n ées rel ati ves à l a pu bl i cati o n rech erch ée. A cette date,
l a pu bl i cati o n sera
• recon d u i te,
• su ppri m ée,
• rem pl acée par u n e éd i ti on révi sée, ou
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IM PORTANT – Le l og o "colour inside" q u i se trou ve su r l a pag e d e cou vertu re d e cette

pu bl i cati on i nd i q u e q u 'el l e conti en t d es cou leu rs q u i sont con si d érées com m e u ti l es à
u n e bonn e compréh ensi on d e son contenu . Les u ti li sateu rs d evrai ent, par con séq u ent,
i mpri m er cette pu bli cati on en u ti li sant u n e i mprim ante cou leu r.
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1 Domaine d'application
La présen te partie de l a CI SPR 1 6 est u ne norme fondamen tale qu i spéci fie les
caractéristiqu es et l 'étal on nag e de la pince absorban te pour la mesu re de la pu issance
perturbatrice radioélectrique dans la g am me de fréqu ences de 30 M H z à 1 GH z.
2 Références normatives
Les docu ments de référence su ivants son t indispensables pou r l 'appl ication du présent
docu men t. Pour les références datées, seu le l 'édition ci tée s'appl ique. Pou r les références
non datées, l a dernière édition du docum ent de référence s'appli qu e (y compris l es éven tu els
amendements) .
CI SPR 1 6-1 -2:2003, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des pertur-
Appareils de mesure des perturbations radioélectriques et de l'immunité aux perturbations
radioélectriques – Matériels auxiliaires – Perturbations conduites
CI SPR 1 6-2-2:2003, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des pertur-
Méthodes de mesure des perturbations et de l'immunité – Mesure de la puissance
perturbatrice
CI SPR 1 6-4-2, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques – Partie 4-2: Incertitudes,
statistiques et modélisation des limites – Incertitudes de mesure CEM
I EC 60050-1 61 :1 990, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 161:
Compatibilité électromagnétique
Amendem ent 1 (1 997)
Amendem ent 2 (1 998)
3 Termes, définitions et abréviations

3.1 Termes et définitions
Voir l’I EC 60050-1 61 lorsque cela s’appliqu e.
3.2 Abréviations
ACA Absorbing clamp assembl y (ensem ble pi nce absorban te)
ACM M Absorbing clamp measurement method (m éthode de mesu re par pince absorban te)
ACRS Absorbing clamp reference si te (si te de référence de l a pince absorbante)
ACTS Absorbing clamp test si te (si te d'essai à la pince absorban te)
CF Clamp factor (facteu r de pince)
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CRP Clamp reference poin t (poi n t de référence de la pince)
DF Decou pling factor (facteu r de décou plag e)
DR Facteu r de décou pl ag e qui spécifi e le décou plage en tre le transformateur de
couran t et l 'impédance de mode commu n du récepteu r de m esu re
JTF J ig transfer factor (facteur de transfert du g abari t)
LU T Lead u nder test (con du cteur en essai)
SAD Secondary absorbin g device (dispositif absorban t secondaire)
SAR Semi-an echoic room (chambre semi-anéchoïqu e)
SRP Sl ide reference poin t (point de référence de l a g lissière)
4 Instrumentation de mesure par pince absorbante

4.1 Introduction
La mesu re de la pu issance perturbatrice par pince absorban te est u n e méthode destinée
à déterminer les pertu rbations rayonnées dans l a gamme des fréquences supérieu res à
30 MH z. Cette m éthode de mesu re constitu e un e alternati ve à la m esure du champ
perturbateu r su r u n OATS. La méthode de mesu re par pi nce absorban te (ACM M) est décri te à
L'ACM M u til ise l'i nstru mentation de mesu re sui van te:
– l'ensemble pi nce absorban te;
– l e disposi ti f absorbant secondai re;
– l e site d’essai à la pi nce absorban te.
La Fig ure 1 donne u n e vu e g énérale de la méthode de m esure par pince absorban te, y
compris l'instru men tation n écessaire pou r cette méthode ainsi que l es m éth odes d'étalonnage
et de vali dati on de cette instrumentation . Le présen t article détai l le les exi g ences concern ant
l 'instrum en tation n écessaire pour l 'ACMM . L’An nexe B décrit en détai l la m éthode
d'étal onn age de la pince absorban te et l a vali dation des au tres propriétés de la pince et du
disposi ti f absorban t secondaire. Les détails concernan t la val idation du si te d'essai à la pi nce
absorban te son t décri ts à l'Annexe C. Les pinces absorban tes sont adaptées au x mesures de
pertu rbations de certains types d'appareils en fonction de l eu r conception et de l eur taille. La
procédure de mesure précise et son appl icabi l ité doi ven t être spécifiées pou r chaque
catégori e d'appareil. Si l es dimensions de l'appareil en essai seu l (sans câbles de
raccordem en t) approchen t 1 /4 de l a long u eu r d'onde, u n rayon nemen t peu t être produ it
directem en t depu is le boîti er. La pu issance pertu rbatrice d'u n apparei l don t le cordon
d'al imen tation est le seu l câble externe peu t être considérée com me la pu issance qu e
l 'appareil peu t fou rnir à ce cordon , qui se comporte comme u ne an tenne rayonnan te. Cette
puissance est à peu près équ ivalen te à cel le fou rnie par l'appareil à un disposi ti f absorbant
adapté placé au tou r du cordon à l'endroit où la pu issance absorbée est maxi m al e. Le
rayon nem ent direct provenant de l 'appareil n'est pas pris en compte. Les appareils équ ipés
de câbles extern es autres qu'u n cordon d'al im en tati on peu ven t rayon ner de l'én ergie
pertu rbatrice par ces câbles, qu 'ils soien t bli ndés ou n on , de la m ême man ière qu e par le
cordon d'al im en tation . On peu t ég alemen t effectu er des m esu res par pince absorbante su r
ces câbles.
L'applicati on de l 'ACM M est spéci fiée de man ière plu s détaillée en 7. 9 de la CI SPR 1 6-2-2.
4.2 Ensemble pince absorbante

4.2.1 Description de l'ensemble pince absorbante
L'Ann exe A décri t l a concepti on de la pince et donne u n exem ple type d'u ne telle conception .
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L'ensembl e pince absorban te se com pose des ci nq parties su ivantes:
– u n transformateu r de couran t RF larg e ban de;
– u n absorbeur de pu issance RF larg e bande et un stabilisateur d'impédance pour le câbl e
en essai ;
– u n m anch on absorbant et un ensemble d'anneau x de ferrite desti nés à rédu ire le couran t
RF circu lan t à la surface du câble coaxial en tre l e transformateur de cou ran t et le
récepteu r de m esure;
– u n atténu ateu r de 6 dB en tre l a sortie de l a pi nce absorban te et le câbl e coaxi al assu ran t
l e raccordemen t au récepteu r de mesure;
– u n câble coaxial en tant que câble récepteu r.
Le point de référence de la pince (CRP) indique l a position l on g itudin ale de l 'avan t du
transformateu r de couran t dans l a pince. Ce poin t de référence est util isé pou r défin ir la
posi tion de la pince pendan t la procédu re de mesure. Le CRP doi t être indiqué sur l e boîtier
extérieu r de l a pince absorban te.
4.2.2 Facteur de pince et atténuation de site

La Fig ure 2 donne u ne représen tation schématiqu e d'u ne mesu re réell e d'u n apparei l en essai
effectu ée en u til isan t l'ACMM . Des in form ati ons détail lées sur l'ACM M son t données à
La mesu re de la puissance perturbatrice est basée su r la m esu re du cou rant asym étriqu e
g énéré par l'apparei l en essai , mesuré à l 'en trée de la pince absorban te avec u ne sonde de
cou ran t. Les ferrites absorban tes de la pince au tour du câble en essai isolen t le
transformateu r de cou ran t des pertu rbations provenan t du réseau d'al im en tation . Le couran t
m aximal est déterm in é en dépl açant la pince absorban te l e l on g du câble ten du , qu i se
comporte com me u ne l ig ne de transm ission . La li gn e de transmission réal ise la transformation
d'impédance entre l'en trée de la pince absorbante et la sortie de l'apparei l en essai . Au poi n t
de rég lag e opti mal , on peu t mesurer l e cou rant perturbateu r m aximal en sortie de la sonde de
cou ran t ou la tension pertu rbatrice maxi male à l'en trée du récepteu r.
Dans le cas présen t, le facteu r de pi nce réel CFact d'u ne pince absorbante donn e la rel ation
en tre le si g nal de sortie de la pince Vrec et la g randeu r à mesu rer considérée, c'est-à-dire la
pu issance pertu rbatrice Peu t d'u n apparei l en essai comm e su it:

où
Peu t est la pu issance perturbatrice de l'appareil en essai EU T en dBpW;
Vrec est la tension mesu rée en dB µ V;
CFact est le facteur de pince réel en dBpW/µ V.
I déalement, l e niveau de pu issance reçu Prec en dBpW au n iveau de l'en trée du récepteu r
peu t être calcu lé en u ti lisan t la formu le sui van te:
où
Zi = 50 Ω , im pédance d'entrée du récepteur de m esu re, et
Vrec = ni veau de tensi on mesu ré en dB µ V.
En u tilisant les équ ations (1 ) et (2) , il est possi ble de dédu ire u ne relation entre l a pu issance
pertu rbatrice Peu t ém ise par l'appareil en essai et la pu issance Prec reçue par le récepteu r
comm e su it:
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Peut − Prec = CFact +17 (3)
Cette relation idéale en tre la pu issance pertu rbatrice de l'appareil en essai et la pu issance
reçue par le récepteu r de mesure est défin ie com me l 'atténu ation de site réel le de l a pince
A act (en dB) .
Cette atténu ation de site réelle de la pince dépend de trois propriétés:

– les propriétés de réponse de la pince,
– l es propriétés du si te, et
– l es propriétés de l 'appareil en essai .
4.2.3 Fonctions de découplage de la pince absorbante

Al ors qu e le transformateu r de cou ran t de la pince absorban te mesure la pu issance
pertu rbatrice, l 'attén u ation de découplag e apportée par les ferrites au tou r du câbl e en essai
établi t u ne dissymétrie d'impédance et isole l e transformateu r de couran t de l'extrém i té
éloig née du câble en essai. Cette isolation rédu i t l'influence pertu rbatrice du réseau
d'al imentation et de l'im pédance de l 'extrém ité éloig née du câbl e ai nsi qu e son in flu ence sur
l e cou ran t mesu ré. Cette atténu ation de découplag e est appelée facteu r de décou plag e ( DF) .
U n e deu xièm e fonction de découplag e est nécessaire pou r la pince absorban te. La deu xième
foncti on de décou plag e est le décou plag e entre l e transformateur de cou rant et l 'impédance
asymétrique (ou de mode commu n) du câble récepteur. Ce décou plage est obtenu par la
section absorbante consti tu ée d'ann eau x de ferrite sur le câbl e entre l e transformateu r de
couran t et le récepteu r de mesu re. Cette atténu ation de décou plag e est appelée facteu r de
décou pl ag e pou r le récepteu r de m esu re ( DR) .
4.2.4 Exigences pour l'ensemble pince absorbante (ACA)

Les pinces absorban tes u til isées pour les mesu res de la pu issance pertu rbatrice doi vent
satisfaire aux exig ences su ivan tes:
a) Le facteu r de pince réel ( CFact ) de l'ensemble pince absorban te, tel qu 'il est défini
en 4. 2. 1 , doit être déterm iné con form ém ent au x méthodes normati ves décrites à
l 'An nexe B. L'incerti tu de sur le facteu r de pi nce doi t être déterminée conformément au x
exig ences én oncées à l'An nexe B.
b) Le facteur de décou plage ( DF) de l 'absorbeu r RF larg e bande et du stabi lisateu r
d'impédance pou r le câble en essai doit être véri fié con form ém en t à la procédure de
m esu re tel le qu 'el le est décri te à l'An nexe B. Le facteu r de découplag e doit être d'au
m oins 21 dB pour l'ensemble de l a g amm e de fréquences.
c) La fonction de découplag e entre le transformateu r de couran t et la sortie m esu re ( DR) de
l a pince absorbante doi t être déterm i née con formémen t à la procédu re de mesure tel le
qu'elle est décrite à l 'Ann exe B. Le facteur de décou plage du récepteur de mesu re doi t
être d'au moins 30 dB pou r l 'ensem ble de la g am me de fréqu ences. La valeu r de 30 dB
i nclu t l 'atténu ati on de 20, 5 dB provenan t de la pince absorban te plu s 9, 5 dB proven ant du
réseau de cou plag e/décou plag e (CDN ) .
d) La long u eu r du boîtier de l a pince doit être de 600 m m ± 40 mm .
e) U n attén u ateu r RF 50 Ω d 'u n e valeu r m in i male d e 6 dB doi t être inséré directement en
sorti e de la pince.
4.3 Méthodes d'étalonnage de l'ensemble pince absorbante et leurs relations

L'étal onn ag e de la pince est destiné à déterm iner le facteur de pince CF dans u ne
config uration qu i s’apparen te au tan t que possible à cell e d'un e mesure réel le effectu ée sur u n
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appareil en essai . Cependant, en 4. 2. 2, i l a été observé qu e le facteur de pi nce vari e en
fonction de l'appareil en essai , des propriétés de l a pince et des performances du site. Pour
des raisons de n orm al isation (reproducti bi l ité) , la m éthode d'étalonnage doit m ettre en œu vre
u n site d'essai présentan t des perform ances spécifi ées et reproductibles ainsi qu ’u n
g énérateu r et u n récepteu r de sig n au x don t l es performances son t ég alem en t reprodu ctibles.
Dans ces con ditions, l a seu le variable restant vient de la pince absorbante en consi dération .
Deu x méthodes d'étalonn ag e de la pince absorban te son t développées ci-dessou s, et pour

chacun e son t présen tés leurs avan tag es, l eurs incon vénien ts et leurs appl ications propres
(voir Tableau 1 ) . La Fig ure 3 donne u ne vue d'ensemble schém atiqu e de ces deu x méth odes.
En g én éral, ch acu ne des m éthodes d'étalonnage comprend les deu x étapes sui van tes.
Prem ièremen t, pou r établ ir u n e référence, on mesure directemen t la pu issance de sorti e Pg en

d u g énérateu r RF (i mpéd an ce d e sorti e d e 50 Ω) vi a u n atté n uateu r de 1 0 dB en u tilisan t u n
récepteu r (Fi gu re 3a) . Ensu i te, la pu issance pertu rbatri ce du mêm e générateu r et de
l 'attén u ateu r de 1 0 dB est mesu rée par l'interm édiaire de la pince en u tilisan t l’une des deux
m éth odes su i van tes.
a) M éth ode orig inal e
La m éthode d'étalonn age orig inale du m on tag e de pince absorban te util ise un site de
référence qu i comporte u n pl an de référence vertical de g ran de taille (Fi g ure 3b) . Par
défini tion , cette méth ode donn e l e CF directement car i l s'ag i t de la m éth ode d'étal on nag e
orig i nale qu i est u tilisée pour la déterm inati on des l im i tes et qu i est donc considérée
comm e la référence. Le conducteu r en essai est raccordé à l 'âme central e du con necteu r
de traversée du plan de référence vertical . De l 'au tre côté de ce pl an vertical , le
connecteu r de traversée est relié au g énérateu r. Pour cette con fig uration d'étalonn age,
Pori g est m esu ré au cours du dépl acemen t de la pince le long du conducteu r en essai,
con formémen t à la procédure décrite à l'Annexe B de tel le manière qu ’on obti enn e la
valeu r maxim ale pou r ch aqu e fréqu ence. L'atténu ation de si te m in imal e A ori g et l e facteu r
de pince absorban te CFori g peu ven t être déterm in és en u til isan t l es équ ations sui van tes:
et
L'atténu ation de site min imale A ori g se si tu e approxim ativemen t dans la plage 1 3 dB à
22 dB.
b) M éthode d'étal onn ag e avec g abari t
Cette méthode d'étalonnage u ti lise u n g abari t qu i peu t être adapté à la long u eu r de la
pince absorban te en étalonnag e et du disposi tif absorban t secondai re (SAD) . Ce gabarit
sert de stru ctu re de référence pour la pince absorban te (voir Fig u re 3c) . Pou r cette
con fig u rati on d'étalonn ag e, Pj i g est m esu rée en fonction de la fréquence alors qu e la pince
est à u ne position fi xe à l'in téri eur du g abari t. L'atténu ati on de site A j i g et l e facteu r de
pince absorban te CFj i g peu ven t être détermi nés en u til isan t les équ ati ons su ivantes:
et
CF = A j i g – 1 7 (8)
L'Ann exe B décri t de man ière pl u s détai l lée les deu x méth odes d'étalonnag e possibles pou r la
pince absorbante. U n aperçu de ces deu x m éthodes d'étalon nag e de la pi nce est ég alem en t
donné à la Fi gu re 1 . La Fi g ure 1 décrit égalem ent la rel ation entre la méth ode de mesu re à la
pince et les m éth odes d'étal onn ag e de la pince ainsi qu e le rôle du site de référence.
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N OTE L'étal on n ag e s'appl i qu e à l a pi n ce, l 'attén u ateu r et l e câbl e. I l n e fau t pas l es di ssoci er.
Les facteu rs de pi nce absorban te obtenu s par la méthode du g abari t et la méthode avec
m odu le de référence ( CFj i g , CFref ) di ffèren t par principe du facteur ori gi nal de l a pince
absorban te CFori g . I l est n écessaire d'in trodu ire cette relation de principe en tre ces différents
facteu rs de pince comme sui t.
Le facteu r de transfert de gabarit JTF est calcu lé en u til isan t l a rel ation
Le JTF en dB doi t être déterminé pou r ch aqu e type de pince absorban te par le fabrican t de
pince. Le fabrican t ou un laboratoire d'étalonnag e accrédi té doit déterm iner le JTF en faisant
l a moyenn e des résu ltats d'au moins cinq étalonnages reprodu ctibl es pou r cinq dispositifs
d'u ne série en produ ction .
En résu mé, la m éthode d'étalon nag e orig in ale fourn i t directement l a valeu r du CFori g . La
m éth ode avec gabarit donne le CFj i g , à partir du qu el le facteur de pince absorbante orig inal
peu t être calcu lé en u ti lisan t l'Équ ati on (1 1 ) .
I l est exi g é de détermi ner le J TF séparément pou r les pinces absorbantes avec des
g éométries, u ne disposi ti on, un matériau de ferrites, des sondes de cou ran t, ainsi qu 'u n
m atériau de boîtier différents. U ne n ou vel le détermin ation est ég al em ent exi gée en cas
d'u ti lisation d'u n type de gabarit différent, par exemple, u ne g éom étrie de plus grandes
dimensions.
4.4 Dispositif absorbant secondaire

En plu s de la partie absorban te de l a pi nce, i l est nécessaire de recou rir à u n dispositif
absorban t secondai re (SAD) pl acé directemen t à l a su i te de la pince absorbante pou r rédu ire
l'incerti tu de su r la mesu re. La fonction de ce SAD consiste à fournir u n e atténu ation
su pplémen taire à celle procu rée par l 'atténu ation de découplag e de la pince absorban te. Le
SAD doit être déplacé de l a mêm e m an ière qu e l a pince absorbante au cou rs de l'étalonnage
et de la mesu re. C'est pou rquoi le SAD doit être équ ipé de rou es pour permettre l a m i se en
pratiqu e du processu s de scru tation . Les dimensi ons du SAD doi ven t être tell es qu e l e câble
en essai soi t à la même h au teu r qu 'à l 'in téri eu r de la pince absorban te.
Le facteur de décou plage du SAD doi t être véri fi é con formémen t à la procédu re de mesure
tel le qu e décri te à l'An nexe B. Du rant l a mesure du facteur de décou plage du SAD, cel ui-ci
est solidai re de la pince absorban te.
N OTE De n ou vel l es tech n ol og i es peu ven t ren d re possi bl e l 'i n tég rati on d an s l a pi n ce absorban te d e l a
fon cti on n al i té com pl ém en tai re d u SAD. Par con séq u en t, si l a pi n ce absorban te el l e-m êm e sati sfai t à l a
spéci fi cati on du facteu r d e décou pl ag e, i l n 'est pas n écessai re d 'adj oi n d re u n SAD.
4.5 Site d'essai à la pince absorbante (ACTS)

4.5.1 Description de l'ACTS
Le site d'essai à la pi nce absorbante (ACTS) est u n emplacemen t u tilisé pou r l a m ise en
œu vre de l 'ACMM . L'ACTS peu t être u ne instal lation in térieu re ou extérieu re et inclu t les
élémen ts su ivan ts (voir Annexe C, Fig u re C. 1 ) :
– l a table d'essai qu i sert de support à l'appareil en essai;
– l a g lissière de pi nce, qui sert de su pport au condu cteu r raccordé à l 'apparei l en essai (ou
au con du cteu r en essai, LU T) , et à l a pince absorban te;
– u n su pport cou l issan t pou r l e câble récepteur de la pince absorbante;
– des m oyens au xi liaires tel s qu 'u ne corde pou r déplacer la pince absorbante.
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Tous l es él ém en ts ACTS ci tés ci-dessu s (sau f la tabl e de l'apparei l en essai) doi ven t être des
g ran deu rs spéci fiées dans la procédu re de vali dation ACTS.
L'extrém ité de l a g lissière de pince (du côté de l 'appareil en essai) est dési g née comme le
poi nt de référence de la gl issière (SRP, voir Fig ure C. 1 ) . Ce SRP est u ti lisé pour défi ni r la
distance h orizon tale jusqu 'au CRP de l a pince.
4.5.2 Fonctions de l'ACTS

L'ACTS a les fonctions su i van tes.
a) Fonction physiqu e: fou rn ir des moyens de su pport spéci fiqu es pou r l'appareil et le câbl e
en essai .
b) Fonction électriqu e: fou rn ir u n emplacemen t idéal (du poin t de vue RF) pou r l'appareil en
essai et l'ensemble pince absorban te et fou rn ir u n en vironnemen t de mesu re bien défi ni
pou r l’u ti lisation de la pince absorbante (pas de distorsi on des émissi ons par les parois ou
les élém en ts su pports qu e constituent l a tabl e de l 'appareil en essai, la g lissière de pince,
le su pport coul issan t et la corde) .
4.5.3 Exigences relatives à l'ACTS

Les exigences su i van tes s'appl iqu en t à l'ACTS.
a) La lon g ueu r de la g lissière de pince doit permettre u n déplacemen t de la pince absorban te
su r u n e distance de 5 m. Cela sig nifie que la gl issière de pince doi t avoir u ne lon g u eu r de
6 m.
N OTE Pou r d es rai son s d e reprod u cti bi l i té, l es l on g u eu rs m i n i m al es d e l a g l i ssi ère d e pi n ce et d e l a di stan ce
d e scru tati on avec l a pi n ce son t fi xées respecti vem en t à 6 m et 5 m . La l on g u eu r d e l a g l i ssi ère de pi n ce est
d éterm i n ée par l a som m e d e l a l on g u eu r d e scru tati on (5 m ) , l a di stan ce en tre l e SRP et l e CRP (0, 1 5 m ) et l a
l on g u eu r de l a pi n ce absorban te (0, 64 m ) pl u s u n espace pou r recevoi r l es fi xati on s d es câbl es au x extrém i tés
(0, 1 m ) . Cel a représen te u n e l on g u eu r total e d e 6 m pou r l a g l i ssi ère de pi n ce.
b) La hau teur de l a gl issière de pince doit être de 0, 8 m ± 0, 05 m . Cela impl iqu e qu e dans la
pince absorban te et dans l e SAD, la hau teu r du câble en essai au-dessus du plan de
référence sera su péri eu re de quelqu es cen tim ètres.
c) Le matéri au qu i constitu e l a table de l 'appareil en essai et l a g lissi ère de pince doit être
n on réfléchissan t, n on condu cteur et ses propriétés diélectriqu es peu ven t être proches de
cel les de l'air. De cette man ière, l a table de l'apparei l en essai est transparen te d'un poin t
de vu e électromagnétiqu e.
d) Le matériau de la corde u ti lisée pou r déplacer la pince le long de la g lissière doi t
égalemen t être transparen t d'u n point de vu e électrom agn éti qu e.
N OTE L'i n fl u en ce d u m atéri au d e l a tabl e d 'essai et d e l a g l i ssi ère d e pi n ce peu t s’ avérer si g n i fi cati ve pou r
l es fréqu en ces su péri eu res à 300 M H z.
e) L'adéqu ation du si te (voir la fonction él ectriqu e de l 'ACTS) est val idée en com paran t le
facteu r de pince de l 'ACTS mesuré in si tu ( CFi n -si tu ) avec le facteu r de pince mesuré su r
le site de référence de la pince (ACRS) ( CFori g ) , en appliqu an t la méthode d'étalonn ag e
ori gi nale (voir Annexe C) . I l est également adm is d'u ti l iser les facteurs de pince
m en tionnés dans u n certificat d'étalon nag e fou rni par u n l aboratoire compéten t. Tou tefois,
ces facteu rs de pince u ti l isés comm e référence pour u ne val idation ACTS doi ven t être
détermi nés u ni qu emen t à l'ai de de la méth ode d'étalonnag e orig inale. La différence
absolue en tre les deu x facteu rs de pi nce doi t être con forme à l'exig ence su i van te.
doi t être
<2, 5 dB en tre 30 M H z et 1 50 M H z;
2, 5 dB à 2 dB entre 1 50 MH z et 300 MH z en décroissan t;
<2 dB en tre 300 MH z et 1 000 MHz.
– 42 –
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
La procédure de validati on de l'emplacem en t est spéci fiée de m anière plu s détai ll ée au
parag raphe su i van t.
4.5.4 Méthodes de validation pour l'ACTS

Les caractéri sti qu es de l'ACTS son t val idées comm e su i t.
– Les exig ences ph ysiqu es 4. 5. 3a) et 4. 5. 3b) peu ven t être val idées par inspection .
– La fonction électrique de l 'ACTS (exi gence de 4. 5. 3e) doi t être val idée en comparan t le
facteu r de pince CF de la pince étalonnée avec l e facteur de pince mesu ré in si tu CFi n si tu
con formémen t à la « m éthode d'étalon nag e orig inale» (voir Annexe C) .
Des étu des on t mon tré qu'u n OATS ou un SAR validé pou r l es m esu res des ém issi ons
rayon nées à 1 0 m peu t être considéré com me un si te idéal pou r la m ise en appl ication de
l 'ACMM . C'est pou rquoi u n OATS ou u n SAR pou r les mesu res à 1 0 m sera adopté comme
si te de référence pou r l a vali dation électrique de l'ACTS. En conséquence, si u n OATS ou u n
SAR vali dé pour les mesu res à 1 0 m est u tilisé comm e si te d'essai à l a pince, alors l a fonction
électri que de cet em pl acement n'a plu s à être val idée.
La procédu re de val idation de la fonction électrique de l 'emplacem en t d'essai à la pince est

décrite en détail à l 'Annexe C.
4.6 Procédures d'assurance qualité pour l'instrumentation de mesure par pince

absorbante
4.6.1 Vue d'ensemble
Les perform ances de l a pince absorban te tou t comm e celles du dispositif absorbant
secondaire peu ven t vari er avec la durée d'u til isati on, le vi eil lissemen t ou l'appari tion de
défau ts. De m êm e, l es performances de l'ACTS peu ven t vari er à cau se de modificati ons
apportées à la conception ou du vieil li ssement.
La méthode d'étalonnag e avec g abari t peu t être aisémen t u tilisée pou r les procédu res
d'assurance qu ali té, sou s réserve qu e le facteu r de pince du gabarit soi t connu au départ.
4.6.2 Vérification de l'assurance qualité pour l'ACTS

I l est possible d’u til iser comm e référence l es donn ées su r l 'atténu ation de si te A ref de l 'ACTS,
détermi nées au momen t de l a vali dation du si te.
Au-delà d’un certain temps et après modification du si te, il est possi ble de répéter cette
m esure d'atténuation de si te et de com parer les résul tats avec les donn ées de référence.
L'avan tage de cette méthode est qu e tou s les élémen ts de l'ACMM son t évalu és en m êm e
temps.
4.6.3 Vérification de l'assurance qualité pour la pince absorbante

Les performances des foncti ons de décou pl ag e et du facteur de pi nce déterminées au
m om en t de la validation de la pince, peu vent être u til isées comm e données de performance
de référence.
Au -delà d’un certain tem ps ou après une modi fication apportée au si te, i l est possible de
vérifier à n ou veau ces param ètres de perform ance en mesuran t les facteu rs de décou plag e et
le facteur de pince en appl iqu an t la m éth ode avec gabarit (An nexe B) .
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 43 –
 I EC 201 6
4.6.4 Critères d'acceptation/de refus en assurance qualité
Les cri tères d'acceptation /de refu s des essais en assurance qu ali té son t l iés à l'incertitude su r
la mesu re du param ètre de mesu re en qu estion. Cela si gn i fie qu 'un e variation du paramètre
en qu esti on sera acceptable si celle-ci est in féri eu re à une fois l'incerti tu de su r l a m esu re.
– 44 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
METHODE DE MESURE PAR PINCE
ABSORBANTE (ACMM)
(Arti cl e 7 de la CI SPR 1 6-2-2)
N écessite:
• Apparei l en essai
• une pince étalonnée
• un site d'essai à la pince absorbante validé
(ACTS)
• u n récepteu r étal on n é VALIDATION DU SITE D'ESSAI A LA PINCE
• u n m on tag e d'essai spécifié ABSORBANTE (ACTS)
• u n e procédu re d'essai spéci fi ée (spécifi é à l ’An n exe C)
Fou rn it: l a pu i ssan ce pertu rbatri ce d'u n apparei l
en essai N écessite:
• L'ACTS (site d'essai à l a pi n ce absorban te) en
val i dati on
• une pince étalonnée avec l e SAD étalon n é en
appl i qu an t l a m éth ode ori g in al e
METHODES D'ETALONNAGE DE PINCE
• u n récepteu r étal on n é
(spécifi ées à l’ An n exe B) • u n m on tag e d'essai spécifiqu e
a. Validation de la pince • u n e procédu re d'essai spéci fi qu e
Nécessite: Fournit: un site d'essai à la pince absorbante validé
La validation des fonctions de découplage de la
pince avec le dispositif absorbant secondaire
b. La méthode orig inale
N écessite:
• l a pi n ce en étal on n ag e avec l e SAD
• l 'équ i pem en t de m esu re VALIDATION DES FONCTIONS
• un site validé: ACRS (site de référence pour DE DECOUPLAGE ENTRE LA
pince absorbante) PINCE ABSORBANTE ET LE
• u n e sou rce spéci fi ée (g én érateu r + pl an de DISPOSITIF SECONDAIRE
référen ce verti cal de g ran de tai l l e) (An n exe B)
• u n e procédu re d'essai spéci fi ée N écessite:
Fou rn it: Le facteu r de pi nce ori g i n al ( CFo ri g ) • l a pi n ce avec l e SAD
c. La méthode avec g abarit • u n g abari t
N écessite: • u n e sou rce spéci fi ée
• l a pi n ce en étal on n ag e avec l e SAD • l 'équ i pem en t de m esu re
• l 'équ i pem en t de m esu re • u n m on tag e d'essai spécifié
• u n g abari t d'étal on n ag e • u n e procédu re d'essai spéci fi ée
• u n e sou rce spéci fi ée
Fou rn it: l es facteu rs de pi n ce CFj i g et CFo ri g qu i
peu ven t être cal cu l és à l ’ai de du facteu r de transfert
de g abari t JTF.
SITE DE REFERENCE POUR PINCE
ABSORBANTE (ACRS)
U n OATS ou SAR, val idé pou r l es m esu res
d'ém i ssi on s rayon n ées à 1 0 m en tre 30 M H z et
1 000 M H z, est con si déré ég al em en t com m e u n
si te val i de d'étal on n ag e de pi n ce.
IEC 830/04
Figure 1 – Vue d'ensemble de la méthode de mesure par pince absorbante et

procédures d'étalonnage et de validation associées
 I EC 201 6
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
Tableau 1 – Vue d'ensemble des caractéristiques des deux méthodes d'étalonnage de pince et leur relation
Nom de la méthode Emplacement d'essai APPAREIL EN ESSAI util isé Avantages (+), inconvéni ents (–) et remarques ( • ) Appl ications
d'étal onnag e util isé
M éth od e ori g i n al e U n si te d e référen ce Pl an d e référen ce verti cal d e • Le m on tag e d'étal on n ag e ressem bl e à u n e m esu re Etal on n ag e di rect d e l a
pou r pi n ce absorban te g ran d e tai l l e et al i m en té depu i s réel l e su r u n apparei l en essai d e g ran de tai l l e pi n ce absorban te
l 'arri ère d e ce pl an d e référen ce
par u n g én érateu r – La m an i pu l ati on d u pl an d e référen ce d e g ran d e
tai l l e est l abori eu se
– U n em pl acem en t d e référen ce (ACRS) est
n écessai re
+ Par d éfi n i ti on , cette m éth od e d on n e l e CF
d i rectem en t car i l s'ag i t de l a m éth od e d 'étal on n ag e
ori g i n al e et el l e est d on c con si d érée com m e l a
référen ce
M éth od e avec U n g abari t d 'étal on n ag e U n e d es fl asq u es verti cal es du – Le m on tag e d'étal on n ag e n e ressem bl e pas à u n Etal on n ag e i n d i rect d e l a
g abari t d e pi n ce absorban te g abari t et al i m en té d epu i s l ’ arri ère essai réel pi n ce absorban te
d e cette fl asq u e d e g abari t par u n
– 45 –
g én érateu r + M an i pu l ati on ai sée Con trôl e assu ran ce
q u al i té d e l a pi n ce
+ Pas d e si te de référen ce (ACRS) n écessai re
+ Bon n e reprodu cti bi l i té
– N e d on n e pas di rectem en t l e CF ; l e CF est cal cu l é
en u ti l i san t l e J TF
N OTE U n ACRS est u n OATS ou u n SAR val i d é d e 1 0 m .
– 46 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Appareil
en essai Peut
Pince
absorbante Câble en essai
CFact
Vrec (Prec)
Plancher horizontal du site d’essai à la pince IEC 831/04
Légende
Peu t Pu i ssan ce pertu rbatrice de l 'apparei l en essai EUT en dBpW
Vrec Ten si on m esurée en dB µ V
CFact Facteu r de pin ce réel en dBpW/ µ V
Prec N i veau de pu issan ce reçu en dBpW
Figure 2 – Aperçu schématique de la méthode d'essai par pince absorbante

CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 47 –
 I EC 201 6
Pgen Récepteur
Générateur
Atténuateur (50 Ω )
1 0 dB
IEC 832/04
Figure 3a
Plan de référence vertical

de grande taille

CForig
Atténuateur
1 0 dB
Porig
Plan horizontal de référence du site de référence IEC 833/04

Figure 3b
Gabarit
CFjig
50 Ω
Atténuateur
1 0 dB
Pjig
IEC 834/04
Figure 3c
Lég en d e
CFori g , CFj i g Facteu rs de pi n ce absorban te
Pori g , Pref , Pj i g M esu re d e P, sel on l a m éth od e d e val i d ati on u ti l i sée

Pg en Pu i ssan ce de sorti e d u g én érateu r et attén u ateu r 1 0 d B
N OTE Les Fi g u res 3b) , 3c) correspon d en t respecti vem en t au x d eu x m éth od es d u Tabl eau 1 .
Figure 3 – Aperçu schématique des méthodes d'étalonnage de pince

– 48 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Annexe A
(informative)
Construction de la pince absorbante

(Paragraphe 4. 2)
A.1 Exemples de construction de pince absorbante

Les Fi g ures A. 1 et A. 2 donnen t l’ensemble de base de l a pince absorbante. Les trois parties
principales de la pince absorban te décrite en 4. 2 son t le transformateu r de cou rant C,
l'absorbeu r de pu issance et stabilisateu r d'i mpédance D et l e manchon absorban t E. D est
composé de plusieurs an neau x de ferri te et E est composé d'anneau x ou de tu bes de ferrite.
Le noyau du transformateu r C com porte deu x ou trois anneau x du type u ti l isé pou r D.
L'enrou lemen t secondaire du transformateu r de couran t est com posé d'u n tou r de câble
coaxial m iniatu re encercl an t les anneau x et raccordé comm e i ndiqu é. Le câbl e passe par le
manchon E et est con necté à l a borne coaxiale su r la pince (possible par l’attén uateu r 6 dB) .
C et D son t m ontés l 'un près de l 'au tre et ali gnés su r le même axe, de mani ère à perm ettre le
mou vemen t l e long du câbl e B à mesu rer. Le m anchon E est en g énéral mon té le l ong de
l'absorbeu r D pour des raisons pratiqu es. D et E servent tou s les deu x à atténu er les couran ts
asymétriqu es sur les câbl es les traversan t.
L'exemple de la Fig u re A. 2 donn e ég alemen t qu elqu es élém en ts d'améliorations apportées

au x performances de la pince absorbante. U n cyli ndre de métal (1 ) est m on té à l'intérieur du
noyau du transform ateu r C com me blindag e capaciti f. Ce cylindre est séparé en deu x m oiti és.
U n tu be isolan t (2) est u ti lisé pour cen trer le câble à l 'in térieu r du transformateu r. Ce tu be va
de l'extrém ité d'en trée du transformateur au prem i er anneau de l'absorbeur D et il est u til isé
pendan t l'étalonnage de l a pince et pour les câbl es de peti t diamètre.
La pince absorban te peu t être réalisée pou r cou vrir la g am me de fréqu ences de 30 MH z
à 1 000 MH z; i l su ffi t pour cela d'u til iser des ann eau x de ferrite appropriés.
Vers récepteur de
Absorbeur mesure
Point de référence (anneaux ferrites) Atténuateur
de 6 dB
de la pince (CRP)
Câble de mesure
coaxial
Câble en
Transformateur Absorbeur
essai
de courant (anneaux ferrites) IEC 836/04
N OTE L'attén u ateu r d e 6 d B et l e câbl e de m esu re fon t parti e i n tég ran te d e l 'en sem bl e pi n ce absorban te.
Figure A.1 – Ensemble pince absorbante et ses éléments

 I EC 201 6
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
640 mm ± 40 mm
E E ∼1 5
1
B
35 ∼23
B
– 49 –
2
C
D D
2 anneaux ∼560
34 anneaux
IEC 837/04
Point de référence
de pince (CRP)
Légende
B Câbl e en essai
C Tran sform ateu r d e cou ran t
D Secti on absorban te
E Secti on absorban te su r l e câbl e d epu i s l e tran sform ateu r
1 Cyl i n d re m étal l i q u e en d eu x parti es
2 Tu be d e cen trag e pou r l e câbl e B
3 Con n ecteu r coaxi al (pou r l 'attén u ateu r d e 6 d B)
Figure A.2 − Exemple de conception d'une pince absorbante

– 50 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
An n exe B
(normative)
M éth o d es d ' étal o n n ag e et d e val i d ati o n d e l a pi n ce abso rban te
et d u d i s po s i ti f abso rban t s eco n d ai re
(Article 4)
B.1 I n trod u cti o n
La présente an nexe don ne des in formations détai llées concernan t l es di fféren tes m éth odes
d'étal onn ag e et de val idation pou r l'ensemble pince absorban te et pour le disposi ti f absorbant
secondai re.
Les m éthodes pou r réal iser l'étalonnag e du facteu r de pince de l a pince absorban te (voir
aussi 4. 3) son t décrites à l ’Article B. 2.
Les m éthodes pou r valider les fonctions de décou plag e DF et DR son t décri tes à l’Arti cl e B. 3.
B.2 M é th o d es d ' étal o n n ag e d e l ' en sem b l e p i n c e ab so rban t e
Les deu x méthodes permetten t de détermi ner le facteur de pi nce ( CF) de l'ensemble pince
absorban te, i ncluan t l'atténu ateur d'au moins 6 dB et le câble récepteu r. Dans la mesu re où le
décou pl ag e de la pince n'est pas parfai t, la pince in terag it avec le câbl e. Le type et la
lon gu eu r du câble peu ven t ainsi in flu encer l'i ncerti tu de résu ltan te. Pour cette raison,
l'étalon nag e doi t être réalisé en y i n tégran t le câble récepteu r.
B.2.1 M éth od e d ' étal o n n ag e o ri g i n al e
B.2.1 .1 M o n tag e et i n stru m en tati on d ' étal on n ag e
La Fi g ure B. 1 décrit l e m on tag e d'étalonnage. I l fau t qu e l e m on tag e d'étalonnag e soit si tu é

su r u n ACRS pou r évi ter d'in fluencer son en viron nemen t imm édiat. Si l'ACRS n'a pas de plan
de sol m étalliqu e, u n pl an de sol h orizon tal , typiqu emen t de 6 m × 2 m , est n écessaire.
U n OATS ou un SAR conçu pour réaliser des m esu res à un e distance de 1 0 m et con forme
au x exig ences CI SPR N SA, consti tu e u n ACRS val ide pou r cette procédu re d'étalonnag e.
Le m on tage d'étal onn age com pren d les composan ts su ivan ts:
– u ne g l issière de pince constru ite dans u n m atériau non réfléch issan t d'environ 6 m de l ong
pou r assurer le m ain ti en du con du cteur en essai à u ne hau teu r de 0, 8 m ± 0, 05 m au -
dessus du sol . Cela impliqu e que dans l a pince absorban te et dans le SAD, la hau teu r du
câbl e en essai au -dessus du plan de référence sera su périeu re de quelqu es cen tim ètres;
– u n plan de m asse verti cal d'u ne tai ll e de 2, 0 m × 2, 0 m , raccordé au plan de sol
m étal li que et pou rvu d'un e traversée de pann eau de type N i mplan té su r son axe de
sym étrie verti cal à une hau teu r de 0, 87 m. Ce plan de m asse vertical est posi tion né près
de l'extrémi té de la g l issière de pince qu i est appelé point de référence du site d'essai à la
pince absorban te (SRP) ;
– u n con ducteu r isolé pou r les essais de mise au poin t, d'u ne long u eu r de 7, 0 m ± 0, 05 m et
d'u n diamètre de 4 mm sans compter l'isolan t, don t l'u ne des extrém i tés est raccordée
(par exemple sou dée) à l a traversée de pann eau . L'au tre extrém i té du condu cteur est
raccordée à la ph ase et au neu tre d'un CDN de type M (voi r Fi gu re C. 2 de la
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 51 –
 I EC 201 6
CI SPR 1 6-1 -2) , qu i est lui -m ême raccordé au plan de sol métall iqu e (h orizon tal) ; la sortie
m esu re du CDN est term i née par 50 Ω ( pour des raisons de sécurité, le CDN n'est pas
raccordé au réseau d’alimentation! ) . I l est recom man dé, pou r des raisons prati qu es,
d'u ti liser u n condu cteur en essai sou ple. Ce CDN permet de satisfaire au x conditi ons de
m ain tien d'u n e i mpédance asymétriqu e stabl e à l'extrém ité l a plus éloig née du câble en
essai su r u ne pl age de fréqu ences al lan t ju squ 'à 40 MH z à 50 MH z
– u n systèm e à pi nce non m étall iqu e approprié à l'au tre extrém i té de la gl issière de pi nce
pou r tendre légèremen t le condu cteur en essai;
– u n disposi ti f absorban t secondaire (SAD) position né su r la g l issière de pi nce à 50 mm de
l a pince en étalonn age. Le disposi ti f absorban t secondaire peu t être u ne pince en ferri te
(cou lissan te) avec un e foncti on de décou pl ag e DF supérieu re ou égale à cel le défi n ie
à l ’Article 4;
– u n disposi ti f amortisseu r en matériau électromagnétiqu emen t n eu tre près du plan de
m asse vertical , pour s'assu rer qu e l 'espacement entre le plan de masse vertical et le CRP
n ’est jamais i nférieur à 1 50 m m .
N OTE L'u ti l i sati on d e l 'écran extéri eu r d 'u n câbl e coaxi al (par exem pl e, RG -58) peu t être parfai tem en t ad aptée à
l 'exi g en ce d 'u n d i am ètre de 4 m m .
On u ti lise un récepteur ou u n analyseur de réseau x pour m esu rer le n i veau de sortie du

g énérateur et le n iveau de sortie de l a pince. Les n i veau x de sig nal mesurés doivent être
su périeu rs de 40 dB au x sig n au x am bian ts m esurés à l a sortie de la pince absorban te lorsque
le g énérateu r est hors tension . La non-li néari té du systèm e de mesure doi t être in féri eure à
0, 1 dB.
Pou r la mesu re de référence, la sortie du générateu r de pou rsu ite du récepteu r ou de

l'anal yseu r de réseau x (N A) est reliée à l'entrée du N A via le câbl e coaxial et un atténu ateur
de 1 0 dB.
B.2.1 .2 Procédure d'étalonnage

U n g u ide non métall iqu e pou r le conducteu r en essai est m on té sur l 'extérieu r de l a pince
absorban te en essai de m an ière à ce que le câble passe par le cen tre du transform ateu r de
couran t (Fig u re B. 2) .
Les deu x pinces – l a pince en essai et la pince absorban te secondaire (SAD) – sont
posi tionnées su r l a gl issière de pince comm e représen té à la Fig u re B. 1 . La pi nce en essai
est instal lée en plaçan t l e côté transform ateu r de cou ran t en direction du pl an de masse
vertical . Le bord avan t du transformateu r de cou ran t constitue le point de référence de la
pince (CRP) et doi t être indiqu é par le fabrican t. La pi nce est posi tionnée en respectan t u ne
distance de 1 50 mm en tre le CRP et le plan de m asse vertical . On fait passer le con ducteu r
en essai à travers l es deu x pinces et il con vien t de le ten dre légèrem en t en u tilisan t un
disposi ti f de serrage non m étall ique appropri é à l'extrém ité de la g lissière de pince. I l n e fau t
pas qu e le condu cteu r en essai touche le plan de sol m étalliqu e avan t son poin t de
raccordem en t au CDN .
La sortie du NA est reliée au connecteur de traversée de panneau via un câble coaxial et un

atténuateur de 1 0 dB. Le câble récepteur de la pince absorbante est raccordé à l'entrée du NA.
Le câble récepteu r doit être su spendu de sorte qu'i l se situe toujours à 200 m m au m i nimu m
du plan de sol h orizon tal tou t au long du processu s d'étalon nage.
L'atténu ati on de site est mesu rée jusqu'à 60 MH z au moins par pas de 1 MH z, jusqu 'à
1 20 MH z par pas de 2 MH z, ju squ 'à 300 MH z par pas de 5 MH z et au -delà de 300 MH z par
pas de 1 0 MH z.
L'atténu ati on de si te m in imale est mesurée tandis que les deu x pinces (pince absorban te plus
SAD) son t dépl acées sim u l tan ément à u ne vi tesse adaptée l e lon g de la gl issière de pi nce.
Les pinces peu ven t être ti rées au moyen d'u ne corde non m étalliqu e. I l fau t qu e la vitesse à
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 I EC 201 6
laqu ell e les pinces son t déplacées perm ette de mesu rer l 'atténu ation de site à ch aque
fréqu ence et à des in terval les in férieu rs à 1 0 mm.
Le facteu r de pince CFori g de l'ensem ble pince absorban te est calcu lé à partir de l 'atténu ation
de si te de mesu re à l a pince en u til isan t l 'équation (5) de 4. 3.
B.2.2 Méthode d'étalonnage avec gabarit

B.2.2.1 Spécification du gabarit d'étalonnage de la pince absorbante
Comm e cela est décrit à l’Article 4, le g abarit d'étalonnag e de l a pi nce absorban te peu t être
u ti lisé pou r l'étalon nag e de la pince absorbante. Le g abari t est u ti lisé pou r la mesu re de la
perte d'insertion de l a pince absorban te associ ée au SAD dans u n système de mesu re en
50 Ω . N oter que l'im pédance caractéristiqu e du g abari t à vide n'est pas de 50 Ω . La m esure
dans u n g abari t perm et de m esu rer cette perte d'insertion en s'isol ant de l'environnemen t. Les
spécifications de dim ensions du gabarit et la disposition des pinces son t donn ées aux Fi g ures
B. 3 à B. 5.

U n g ui de non métall iqu e pou r le con du cteu r en essai est mon té à l'avan t de la pince
absorban te en essai de manière à ce qu e le condu cteur passe par le cen tre de l a sonde de
couran t (Fig u re B. 2) . La pince absorbante est ensu ite posi tion née dans le g abari t, le poin t de
référence (CRP) de l a pince absorban te étan t si tué à 30 m m de la flasque verticale com me
représen té au x Fig u res B. 3 et B. 4. La m ême distance de 30 mm est u til isée en tre l'extrémité
du SAD et l'au tre fl asqu e verticale. Le conducteu r en essai est raccordé au x dou il les dans les
fl asqu es verticales par des fich es ban anes.
La perte d'insertion est mesurée en u ti lisan t un N A. Le niveau de sig n al m esuré doi t être
su périeu r de 40 dB au x sign au x ambian ts mesu rés à la sortie de la pince absorban te. La non -
li néari té su r l a mesu re de la perte d'insertion doit être i n férieu re à 0, 1 dB.
La sortie du N A est rel iée vi a un câbl e coaxial et u n atténu ateu r de 1 0 dB à l 'en trée du N A
pou r étalon ner l e mon tage de m esure.
Après étalonnag e du mon tag e de mesu re, la sortie du N A est raccordée via l e câbl e coaxial et
u n atténu ateu r de 1 0 dB au conn ecteu r de traversée du côté du g abari t où se trou ve l e CRP
de la pi nce. Le con necteu r de traversée qu i fai t face au CRP est fermé par u ne résistance de
50 Ω . La sortie de la pince absorbante est raccordée à l'entrée du N A via l e câble récepteur
et un atténu ateur de 6 dB. Le câble récepteur doit être trai té avec u n SAD. Le SAD doi t être
posi tionné tel qu e représenté au x Fig u res B. 3 et B. 4.
La perte d'insertion est ensu i te mesurée jusqu 'à 60 MH z au m oins par pas de 1 MH z, ju squ 'à
1 20 MH z par pas de 2 M Hz, jusqu 'à 300 MH z par pas de 5 MH z et au -delà de 300 MH z par
pas de 1 0 MH z.
Le facteu r de pince CFji g est calcul é à partir de la perte d'i nsertion en u tilisant l 'équati on (7) .
Le fabrican t doit détermi ner au m in imu m l e facteu r de transfert de g abari t JTF défi ni en 4. 3,
équation (1 1 ) , qu i permet l e calcu l du CFori g pou r ce type de pince absorban te.
B.2.4 Incertitude de mesure sur l'étalonnage de la pince absorbante

L'incertitu de sur l'étalonnag e doi t être men tionn ée dans ch aqu e rapport d'étalonnag e. Le
rapport d'étalon nag e doi t pren dre en compte les facteu rs d'incerti tu de su i van ts.
– La méthode d'étalonn age orig inale:
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 53 –
 I EC 201 6
• la désadaptation en tre la sortie de la pince absorban te (m un ie d'u n atténu ateu r de
6 dB et du câbl e récepteu r) et l'instru men t de m esu re,
• la répétabi lité des étalonnag es, qu i inclu t des facteurs com me le cen trage du
condu cteu r en essai dans le transformateur de couran t et le g ui dag e du câbl e récep-
teur vers l'an al yseu r de réseau x.
La pince absorban te doit satisfaire à l 'exi gence m ini male des facteu rs de décou plag e DF
et DR.
– La méthode d'étalonn age avec g abarit:
• l 'incerti tu de du facteu r de pi nce CF,
• l a désadaptation en tre l a sortie de l a pince absorban te (m u n ie d'u n atténu ateu r de
6 dB et du câble récepteu r) et l'instru m en t de m esu re,
• l a répétabilité des étalonnag es, qu i inclu t des facteurs tels qu e le centrage du
condu cteur en essai dans le transformateur de cou ran t.
N OTE I l est con si d éré par h ypoth èse q u e l 'i n certi tu d e de l 'i n stru m en tati on de m esu re d u processu s d e
corrél ati on exi g é avec l a m éth od e d 'étal on n ag e ori g i n al e est su ffi sam m en t fai bl e pou r n e pas i n fl u er d e
m an i ère si g n i fi cati ve su r l 'i n certi tu d e d e l a m éth od e d 'étal on n ag e avec g abari t.
et DR.
Des li g nes directrices détai l lées concern an t l e trai temen t de l'incerti tu de de l 'i nstru men tati on
de mesu re pou r les m esurag es de la pu issance pertu rbatrice son t don nées dans la
CI SPR 1 6-4-2.
B.3 Méthodes de validation des fonctions de découplage
B.3.1 Facteur de découplag e DF de la pince absorbante associée au dispositif

absorbant secondaire
La méth ode de m esu re du facteur de décou plag e pour la pince absorban te associée au
disposi ti f absorban t secondaire est considérée com me u ne exig ence pour le fabrican t de
pince et comme u ne opti on pou r l a g esti on de la qual ité.
Le facteu r de décou plage DF est mesu ré en u tilisan t le g abarit d'étal onn age de pince (voir
Fi g ures B. 3, B. 4 et B. 5) . La mesu re du facteu r de décou plag e DF u ti l ise u n système de
m esu re en 50 Ω a l a foi s pou r la mesu re d e référence et pou r l a mesu re su r l e m atéri el en
essai. U ne référence à u n g abari t vi de don nerait des val eu rs de mesu re irréalistes compte
tenu du fai t qu e l'impédance du g abari t varie lorsqu e l 'on introdu i t la pince dans l e g abari t.
N oter qu e le g abari t vide n e consti tue pas lu i - m êm e u n systèm e en 50 Ω.
La procédu re pour la mesure du facteu r de découplag e DF est la su ivan te. La Fig u re B. 8

représen te les deu x étapes de m esu re n écessaires lorsqu 'on u tilise u n anal yseu r de spectre.
On réal ise en premier lieu u n e m esu re de référence. La valeu r de sortie du g én érateur est
m esu rée à travers deu x attén uateu rs de 1 0 dB. En su i te, on m esu re la valeu r de sorti e Pref .
Après cela, la pi nce absorbante et le SAD son t posi tionnés com me in diqué en B. 2. 2. 2. U n
atténu ateu r de 1 0 dB est raccordé au x deu x connecteurs du g abarit. La distance en tre la
fl asqu e verticale du g abarit et le point de référence du matériel en essai ( CRP dans l e cas de
la pi nce) et l'extrémi té de la pince doit être de 30 mm . Ensu ite, l a valeu r de sortie Pfi l est
m esu rée. Le facteu r de décou plage DF est déterminé com me su i t:
DF = Pref − Pfil (B.1 )
Le facteu r de décou plage pou r la pince absorban te avec le SAD doi t être d'au moi ns 21 dB
su r tou te la bande de fréquences concernée.
N OTE Pou r i n form ati on , i l con vi en t q u e l e DF d u SAD m esu ré séparém en t soi t d 'en vi ron 1 5 d B.
– 54 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Cette mesu re peu t ég alemen t être réal isée avec u n N A. Dans ce cas, on peu t se dispenser
des attén u ateurs si l'étalonnage du N A est réal isé au x interfaces qu i son t raccordées au
g abari t.
B.3.2 Le facteur de découplage DR de la pince absorbante

L'u tilisati on du gabarit d'étalonnage de la pince pour m esu rer le facteu r de décou plag e DR
(voir Fi gu res B. 3, B. 4 et B. 5) est considérée comme un e exigence pou r le fabrican t de pinces,
et com me un e option pou r la g estion de l a qu ali té.
La procédu re pour l a mesu re du facteur de décou plage DR est l a su ivan te (voir Fig u res B. 8 et
B. 9) . Pou r la mesu re de la tensi on asym étriqu e su r l e câble coaxi al ven ant du transformateu r
de cou ran t, l a pince absorban te sans le SAD est posi tionnée dans le gabarit comme indi qu é
en B. 2. 2. 2. La sortie mesure est raccordée à u n CDN de type A (voir Figu re C. 1 de la
CI SPR 1 6-1 -2) , via u n câble coaxi al cou rt. Le CDN est i nstallé su r le pl an de m asse
métalliqu e. Le conn ecteu r du gabarit si tu é du côté opposé au x CRP des pinces doi t être
term iné par u ne charg e 50 Ω .
La Fig u re B. 8, étape 1 représen te la mesure de référence qu i est n écessaire lorsqu 'on u ti lise
u n an al yseu r de spectre. La valeur de sortie du générateu r est mesu rée à travers deu x
atténu ateu rs de 1 0 dB. On mesure ensu ite la valeu r de sorti e Pref .
Ensu i te, la pince absorban te est instal lée comm e in diqu é à l a Fig ure B. 9. Le générateur est
raccordé au g abarit (du côté le pl u s proch e du CRP de la pi nce) par l'in term édiaire d'un
atténu ateu r de 1 0 dB. L'au tre poi nt de raccordem ent du g abarit est term iné par u ne ch arge
50 Ω . La sorti e de la pince est raccordée à u n CDN . La sortie mesure du CDN est raccordée
au récepteu r par l 'in termédiaire d'un atténu ateu r à 1 0 dB. La sorti e du CDN est charg ée par
50 Ω . On mesu re ensu i te la val eu r de sortie Pfi l . Le facteu r de décou plag e DR est déterm in é
comm e su it:

Le facteu r de décou pl ag e pou r la pince absorban te doit être d'au m oins 30 dB su r tou te l a
bande de fréqu ences concern ée. La valeu r de 30 dB inclu t l'atténu ation de 20, 5 dB provenant
de l a pince absorbante plu s 9, 5 dB provenan t du CDN .
Cette mesu re peu t égalemen t être réal isée avec u n N A. Dans ce cas, on peu t se dispenser
des attén u ateurs si l'étalonnage du N A est réalisé au x interfaces qu i son t raccordées au
g abari t et au CDN .
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 55 –
 I EC 201 6
6m
Câble 4 mm de diamètre* 1 0 dB
CRP 0,1 5 m
50 Ω 0,8 m 0,05 m 6 dB
SRP
>2m
CDN
>6m
* Sans isolation Analyseur

de réseaux
Entrée Sortie
IEC 838/04
Figure B.1 – Site d'étalonnage original
6
Face avant de la pince absorbante
Guide pour le centrage du câble en essai
IEC 839/04
Dimensions en mm
Lorsq u 'on u ti l i se u n câbl e coaxi al com m e d i sposi ti f d e référen ce, l a fen te d oi t être ad aptée au d i am ètre d es câbl es
coaxi au x.
Figure B.2 – Position du guide pour le centrage du conducteur en essai

– 56 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
30 De l a fl asq u e d e g abari t au CRP

(poi n t d e référen ce d e l a pi n ce)
30
Con d u cteu r d e 4 m m de di am ètre*
Pi n ce absorban te
SAD (di sposi ti f absorban t
secon d ai re) su r l e LU T
Câbl e récepteu r
SAD su r l e câbl e récepteu r

Flasque de gabarit Flasque de gabarit
É l ém en t d e séparati on n eu tre su r l e pl an de type A avec liaison
de type B avec liaison él ectrom ag n éti q u e pou r rég l er l a h au teu r d e
équipotentielle au plan équipotentielle au plan
l a pi n ce au -d essu s d u pl an d e sol m étal l i q u e de sol
de sol
* San s i sol ati on
IEC
Figure B.3 – Vue latérale du gabarit d'étalonnag e
≥1 700
≤ 400 SAD (di sposi ti f absorban t secon d ai re)

su r l e câbl e récepteu r
30
50 30
≥ 500
SAD sur le LUT

Pi n ce absorban te (conducteur en essai)

avec l i ai son éq u i poten ti el l e Pl an d e sol m étal l i q u e avec l i ai son éq u i poten ti el l e
au pl an de sol au pl an de sol
IEC
Figure B.4 – Vue de dessus du gabarit

CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 57 –
 I EC 201 6
1 00 Téfl on
Con n ecteu r N
1 9, 5
4
6
1 20
40 90
55
(Pou r l e câbl e M étal l i q u e, en vi ron 3 m m d’ épai sseu r

récepteu r)
> 1 00
IEC
Les faces i n féri eu res d oi ven t avoi r u n e l i ai son éq u i poten ti el l e avec l e pl an de sol m étal l i q u e.
Fig ure B.5a – Flasque verticale de type A (côté SAD)
1 00
200
Con n ecteu r N (i d en ti q u e
au con n ecteu r u ti l i sé pou r
l a fl asq u e A)
200
90
M étal l i q u e, en vi ron 3
m m d’ épai sseu r
20
20
IEC
Les faces i n féri eu res d oi ven t avoi r u n e l i ai son éq u i poten ti el l e avec l e pl an de sol m étal l i q u e.
Fig ure B.5b – Flasque verticale de type B (côté appareil en essai EUT de l a pince)
Figure B.5 – Vue de la flasque verticale de gabarit
– 58 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
1 0 dB 1 0 dB
Générateur Récepteur
IEC 201/06
Fi gure B.8a – Mesure de référence
Attén u ateu r CRP (point de Attén u ateu r

1 0 dB référence de la pince) 1 0 dB
SAD (di sposi ti ve
Pi n ce absorban te absorban t secon d ai re)
G én érateu r Récepteu r
50 Ω Câbl e récepteu r
IEC
Fig ure B.8b – Mesure avec la pi nce absorbante et l e SAD placés dans le gabari t
Figure B.8 – Montage de mesure du facteur de découplage DF
Attén u ateu r
Attén u ateu r CRP (point de 1 0 dB Récepteu r
1 0 dB référence de la pince)
Pi n ce absorban te 50 Ω 50 Ω
G én érateu r
CDN (réseau de
Fl asq u e de g abari t d e cou pl ag e/d écou pl ag e)
Fl asq u e de g abari t
type B d e type A Câbl e récepteu r
IEC
Figure B.9 – Montage de mesure du facteur de découplage DR

CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 59 –
 I EC 201 6
Annexe C
(n ormati ve)
Validation du site d'essai à la pince absorbante

(Article 4)
C.1 Introduction
Cette ann exe fou rn i t des in formations détai llées su r la m éthode de vali dati on du si te d'essai à
la pince absorban te.
U n si te d'essai à la pince absorbante (ACTS) doi t être vérifi é en comparan t le facteu r de

pince CF d'u ne pince étalonnée avec le facteu r de pince m esu ré in si tu à l'ACTS CFi n si tu en
u ti lisan t la méthode d'étal on nag e origi nale (voir 4. 3 et Annexe B) .
C.2 Exigences pour l'équipement de validation

La méthode orig in ale (voir B. 2. 1 ) avec plan de masse verti cal et condu cteur spécifi qu e en
essai est u ti li sée pour g én érer u n couran t de m ode commu n défini su r l e conducteu r en essai.
Ce couran t de mode com mu n peu t être influ encé par l'en vi ronnemen t de l'ACTS, qui peut
différer de celu i de l 'ACRS.
C.3 Procédure de mesure de validation

La procédure d'étalonnag e su i van te est réal isée su r l'ACTS à valider.
 La procédure de mesure de l'atténuation de site

 Etape 1 – Mesure de référence de la puissance du g énérateu r
Tou t d'abord, pour obtenir u ne référence, la pu issance de sortie Pg en du générateu r est

m esu rée directem en t par u n récepteur, en u tili san t les câbles de l'expérimentation et u n
atténu ateu r de 1 0 dB (Fig ure C. 1 a) .
 Etape 2 – Mesure du facteu r de pince in situ sur l'ACTS
Ensui te, la pu issance pertu rbatrice m aximale Pref sur l e LU T est m esu rée en repren ant l e
mêm e rég lag e du g énérateur et l 'atténu ateu r de 1 0 dB, et en u ti lisan t l e mon tag e don né à la
Fi gu re C. 1 b.
Les deu x pinces – la pince absorban te et le dispositif absorbant secon daire (SAD) – son t
positionnés su r la g l issière de pince com me indiqué à la Fig u re C. 1 b. Le poi n t de référence
de l a pi nce en essai est dirig é vers l e plan de m asse vertical . Le pl an de masse vertical est
positionné au SRP de la g l issière de pince. U n g u ide n on m étal li que pou r le LU T est m on té
su r l'extérieu r de la pi nce absorbante en essai de man ière à ce que le condu cteur passe par
l e centre du transformateu r de cou ran t (Fig u re B. 2) . La pince est posi tionnée en respectant
u ne distance de 1 50 mm en tre l e CRP et le plan de masse vertical . On fait passer le
condu cteur en essai à travers les deu x pinces et i l convien t de le tendre lég èremen t en
u ti lisan t un disposi ti f de serrag e n on métall iqu e approprié au x deu x extrémi tés de la g l issière
de la pi nce. Le câble en essai est raccordé au connecteu r de traversée su r le pl an de masse
vertical .
– 60 –
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Si u n réseau de couplag e/découplag e (CDN ou coupling/decoupling network en an g lais) est
u tilisé pou r m esu rer l'EU T, i l con vien t ég alement de l'u til iser pou r la val idation ACTS (pou r le
m on tage du CDN , voir B. 2. 1 . 1 et Fi g ure B. 1 ) .
La sorti e du N A est raccordée au connecteu r de traversée au n iveau du plan de m asse

vertical via l'attén uateu r de 1 0 dB. Le câble récepteur de la pince absorban te est raccordé à
l 'en trée du N A.
Le sign al est m esuré ju squ'à 60 MH z au m oi ns par pas de 1 M H z, ju squ 'à 1 20 MH z par pas
de 2 M H z, jusqu 'à 300 MH z par pas de 5 M H z et au-delà de 300 MH z par pas de 1 0 M H z.
La pu issance pertu rbatrice maxim ale est mesurée tandis que les pinces son t dépl acées à u ne
vitesse adaptée en tre 1 50 mm et approximativemen t 4, 5 m du pl an de masse vertical . Les
pinces peu ven t être tirées au m oyen d'u ne corde non métalliqu e. I l fau t qu e la vitesse à
l aqu elle les pinces son t déplacées permette de mesu rer la perte d'i nsertion à chaqu e
fréqu ence et à des interval les in féri eu rs à 1 0 mm.
 Etape 3 – Calcu l du facteur de pince i n situ
Le facteu r de pince in si tu (en dB) du si te étu di é (ACTS ) peu t être déterm iné en u ti lisant
l 'équ ati on su ivan te:

gen ref
) − 17
Cette détermi nation de CFori g et CFi n si tu peu t être réalisée par le laboratoi re ou par un tiers
(laboratoire d'étal onn age) .
C.4 Validation de l'ACTS

Le facteu r de pince orig in al CFori g doit être comparé avec l e facteur de pince in si tu CFi n si tu .
Le cri tère d'acceptation pour la validation de l'ACTS est donn é par l'équ ation (1 3) (voir 4. 5. 3)
si la mesure de validation et l es procédures d'étalon nag e (l’Arti cl e C. 3 et B. 2. 1 ) sont réal isées
par le laboratoi re lu i-même et si les exig ences d'incerti tu de don nées à l ’Article C. 5 sont
satisfai tes.
Si le facteu r de pince est déterm iné par u n tiers, l e critère d'acceptation de vali dation est
modifié comm e su it:
<3 dB entre 30 MH z et 1 50 MH z
3 dB à 2, 5 dB en tre 1 50 MH z et 300 MH z en décroissan t
<2 dB en tre 300 MH z et 1 000 M H z
C.5 Incertitudes de la méthode de validation d'ACTS
L'incertitu de de mesure de l a vali dation d'ACTS dépen d :

– de l'incerti tu de de mesure de l'instru men tati on de mesu re,
– de la désadaptation en tre l a sortie de la pince absorban te (mu nie d'u n atténu ateu r de
6 dB) et l'instru men tation de mesu re,
– de l a répétabi li té des mesu res, qu i inclu t l’incerti tu de sur l e cen trag e du condu cteur en
essai dans le transformateur de cou ran t et l e g u idage du câble récepteu r vers l'anal yseu r
de réseau x.
Pou r la procédu re de vali dation du site de la pince, les exig ences d'i ncertitude mentionnées
ci-dessu s doi ven t être prises en compte.
CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV – 61 –
 I EC 201 6
Pgen Récepteur
Générateur
Atténuateur (50 Ω)
1 0 dB
IEC 848/04
Fi gure C.1 a – Mesure de référence de l a puissance du générateur
Câble
récepteur
6m
Atténuateur
Câble de 4 mm de diamètre* 0,1 5 m 1 0 dB
SAD
0,8 m
SRP
Analyseur
de réseaux
*Longueur: 7,0 m, diamètre sans isolation Entrée Sortie
IEC 849/04
Fi gure C.1 b – Montag e pour les mesures de puissance sur l'ACTS ou l 'ACRS
Figure C.1 – Montages d'essai pour la mesure de l'atténuation de site

pour la validation du site de la pince
– 62 – CI SPR 1 6-1 -3:2004+AMD1 :201 6 CSV
 I EC 201 6
Bibliographie
[1 ] Ryser, H einrich , U ncertain ty Con tribu ti ons to th e Clamp Factor CF of the Absorbing
Clamp, Proceedings of 18th International Zurich Symposium on EMC, Mu n ich 2007.
(dispon ible en ang l ais seu l em ent)
___________
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Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and

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Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and

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INTERNATIONAL SPECIAL COMMITTEE ON RADIO INTERFERENCE

Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and

SPECIFICATION FOR RADIO DISTURBANCE AND IMMUNITY

Th i s pu bl i cati on h as been drafted i n accordan ce wi th th e I SO/I EC D i recti ves, Part 2.

Th e com m i ttee h as d eci d ed th at th e co n ten ts of th e bas e pu bl i cati on an d i ts am en d m en t wi l l

3 Terms, definitions and abbreviations

4.1 I n trod u cti on

The applicati on of the ACMM is speci fi ed in more detai l i n 7. 9 of CI SPR 1 6-2-2.

4.2.1 D escri pti on o f th e absorb i n g cl am p assem bl y

An nex A describes th e construction of the clam p and g i ves a typical example of su ch a

The absorbin g clam p assembl y consists of the fol l owi ng fi ve parts:

4.2.2 The clamp factor and the clamp site attenuation

Peu t = CFact + Vrec (1 )

Prec = V rec − 1 0 ⋅ log (Zi ) = Vrec − 1 7 (2)

Peut − Prec = CFact + 1 7 (3)

Th is actu al cl amp si te attenu ation depends on th ree properties:

4.2.3 Decoupling functions of the absorbing clamp

4.2.4 Requirements for the absorbing clamp assembly (ACA)

First, as a reference, the ou tpu t power Pg en of th e RF g enerator (with 50 Ω output impedance)

CForig = Aorig − 1 7 (6)

The jig transfer factor JTF is calcu lated by

RTF = CFref – CFori g (1 2)

Ag ain , th e RTF in dB is to be determined for each type of absorbing clam p by th e clamp

4.4 The secondary absorbing device

4.5.2 The functions of the ACTS

4.5.3 Requirements for the ACTS

Δ ACTS = CForig – CFin- situ (1 3)

Th i s s i te val i d ati on procedu re i s speci fi ed i n m ore detai l i n th e n ext s u bcl au se.

4. 5. 4 Val id ati on m eth od s for th e ACTS

Th e ch aracteri s ti cs for th e ACTS are val i d ated as fol l ows.

– Th e ph ys i cal req u i rem en ts 4. 5. 3a) an d 4. 5. 3b) can be val i d ated by i n specti on .

Th e perform an ce of an absorbi n g cl am p an d secon d ary abs orbi n g d evi ce m ay ch an g e o ver

4. 6. 2 Qu ality assu ran ce ch eck for th e ACTS

Th e d ata of th e si te atten u ati on Aref of th e ACTS d eterm i n ed at th e ti m e th e si te was val i d ated

After a certai n ti m e i n terval an d after m od i fi cati on of th e s i te, th i s s i te atten u ati on

Th e ad van tag e of th i s m eth od i s th at al l el em en ts of th e ACM M are eval u ated at on ce.

4.6.4 Qual ity assu rance pass/fai l criteria

Horizontal floor of the clamp test site IEC 831/04

Figure 2 – Schematic overview of the absorbing clamp test method

Large vertical reference plane

Generator Absorbing Secondary

Horizontal reference plane of the reference site IEC 833/04

Horizontal reference plane of the reference site IEC 835/04

Construction of the absorbing clamp

A.1 Examples of absorbing clamp construction

Lead under Current Absorber

Figure A.1 – The absorbing clamp assembly and its parts

Figure A.2 – Example of the construction of an absorbing clamp

Calibration and validation methods for the absorbing clamp

B.2 Calibration methods of the absorbing clamp assembly

B.2.1 The original calibration method

As reference measurement, the tracking g enerator ou tpu t of th e receiver or n etwork an al yser

B.2.1 .2 Calibration procedure

The site attenuation is m easu red at l east u p to 60 MH z in 1 MH z steps, u p to 1 20 MH z in

B.2.2 The jig calibration method

B.2.2.2 Calibration procedure