These ECL1997-40 BenHadjSlama

ANNEE 1997
No D'ORDRE : E.C.L. 97-40
THESE
Prsente devant
L'ECOLE CENTRALE DE LYON

Pour obtenir le grade de
DOCTEUR
(Arrt du 30/03/1992)
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
Spcialit: Gnie Electrique

Prpare au sein de
L'ECOLE DOCTORALE
ELECTRONIQUE, ELECTROTECHNIQUE, AUTOMATIQUE
DE LYON
Par
Jaleleddine BEN HADJ SLAMA

MODELISATION DU RAYONNEMENT
ELECTROMAGNETIQUE DES CIRCUITS
D'ELECTRONIQUE DE PUISSANCE.
APPLICATION A UN HACHEUR.
Soutenue le 09 Dcembre 1997 devant la commission d'examen:
JURY : MM. B. JECKO
Professeur - IRCOM - Universit de Limoges
B. DEMOULIN Professeur - LRPE - Universit de Lille
Prsident
Rapporteur
Rapporteur
F. FOREST
Professeur - LESIR - ENS Cachan
Ph. AURIOL
Professeur - CEGELY - Ecole Centrale de Lyon Examinateur
G. ROJAT
Matre de Confrences - CEGELY - ECL
Examinateur
J. ROUDET
Professeur - LEG - ENSIEG
Examinateur
F. COSTA
Matre de Confrences - LESIR - ENS Cachan
Invit
L. NICOLAS
Charg de recherches CNRS - CEGELY - ECL
Invit
ma mre, mon pre
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
Llf
tous les membres de ma famille
Pour atteindre les sommets il faut allonger ses veilles >>
JWl2+#LLL1.'+
RESUME
L'tude de la compatibilit lectromagntique (CEM) est devenue un passage oblig

pour les concepteurs de circuits d'lectronique de puissance. La complexit des phnomnes qui
entrent en jeu lors de cette tude fait de plus en plus sentir le besoin d'un outil CAO de
prdiction des perturbations lectromagntiques conduites et rayonnes.
Le prsent travail est consacr la modlisation du rayonnement lectromagntique des circuits
d'lectronique de puissance.
La premire mthode propose est base sur une approche analytique du problme, o
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
les couplages dans le circuit sont quantifis de manire approximative. Dans le cas de circuits
complexes, ces approximations ne sont plus suffisantes et il devient indispensable d'utiliser une
mthode numrique afin de tenir compte de tous les couplages.
L'tat de l'art en matire de mthodes numriques nous montre qu'en l'tat actuel des choses,
aucune mthode n'est compltement adapte notre application. Nanmoins, notre choix s'est
fix sur la mthode des moments qui rpond le plus notre cahier des charges. Etant donne
que celle-ci ne rsout pas les systmes non linaires, et sachant que notre rsolution doit tenir
compte de la prsence de composants non linaires, nous proposons un couplage avec un
simulateur de circuits afin de linariser notre problme. La mthode est mise en oeuvre pour
permettre la rsolution de problmes avec structures filaires en trois dimensions. Ensuite, elle
est applique pour calculer le rayonnement d'un circuit de type hacheur. Les rsultats de calcul
sont complts par une valuation exprimentale du rayonnement.
Afin d'amliorer les rsultats numriques, nous examinons la validit de l'hypothse "fil
fin" adopte pour modliser les pistes de circuits imprims. Finalement, nous proposons une
hypothse plus prcise qui permet de tenir compte de l'effet de peau et de l'effet de proximit
dans les pistes.
Mots cls : Compatibilit lectromagntique (CEM), rayonnement lectromagntique,

lectronique de puissance, mthode des moments, mthodes numriques.
ABSTRACT
The study of electromagnetic compatibility becomes an obligated passage for designers

of power electronics circuits. The complexity of phenomena that come into action in that study
makes more and more necessary the use of a CAD tool for prediction of radiated and conducted
electromagnetic perturbations.
The present work is devoted to modelling electromagnetic interference from power electronic
circuits.
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The first proposed method is based on an analytic approach of the problem where the
coupling in the circuit are approximately quantified. In the case of complicated circuit, these
approximations are not sufficient, so the use of a numerical method becomes indispensable to
take into account al1 the coupling in the circuit.
The study of numerical methods shows that in the actual state of things, no-method is well
adapted to Our application. Nevertheless, Our choice was fixed on the moments method which is
the best when responding to specifications. While this method don't solve non-linear problems,
it can not take into account non-linear components. So we propose its coupling with a temporal
resolution to make linear the resolution. The method is implemented to solve problems with
wire structures in three dimensions. After, it is applied to calculate i~terferencefrom a circuit of
a chopper. Numerical results are completed with an experimentai evaluation of the radiated
field.
To improve numerical results, we investigate the << thin wire approximation
>>
used when
modelling printed circuit board (PCB). Finally, we propose a more accurate mode1 which take
into account skin and nearby effects in the PCB.
Kevwords : Electromagnetic compatibility (EMC), electromagnetic radiation, power

electronic, moments method, numerical methods.
AVANT PROPOS
Ce travail a t ralis au Centre de Gnie Electrique de Lyon (CEGELY) sous la direction de

Monsieur G. Rojat. Qu'il trouve ici l'expression de ma sincre reconnaissance pour sa
disponibilit et pour le soin apport la direction scientifique de ces recherches.
J'adresse mes sincres remerciements :
Monsieur B. JECKO, professeur l'universit de Limoges, responsable de l'quipe
Electromagntisme de l'IRCOM, pour l'honneur qu'il m'a fait en acceptant la prsidence de ce
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jury.
Monsieur B. DEMOULIN, professeur l'universit de Lille et Monsieur F. FOREST,
professeur 1'Ecole Normale de Cachan, qui ont accept d'tre les rapporteurs de ce travail.
Monsieur J. Roudet, professeur I'ENSIEG, d'avoir accept d'examiner mon travail et
de faire partie du jury.
Monsieur Ph. Auriol, professeur 1'Ecole Centrale de Lyon, responsable de la formation
doctorale, de m'avoir accueilli dans son quipe et accept de faire partie de mon jury de thse.
Monsieur F. Costa, Matre de Confrences 1'Ecole Normale de Cachan et Monsieur L.
Nicolas, charg de recherches CNRS 1'Ecole Centrale de Lyon pour l'intrt manifest
l'gard de ce travail et de faire partie du jury.
Tout le personnel du laboratoire d'lectrotechnique de 1'Ecole Centrale de Lyon qui de
loin ou de prs ont contribu la ralisation de ce travail. Je n'oublierai pas de mentionner tous
mes collgues chercheurs, avec lesquels ce fut toujours trs agrable de travailler et surtout
pour la bonne ambiance durant ces trois annes de thse et les discussions scientifiques souvent
intressantes concernant des domaines de recherches varis.
Enfin, j'adresse toute ma gratitude et mes sincres remerciements ma famille en Tunisie et

mes amis en France pour leur soutien moral.
Table des matires
Table des matires
PRESENTATION GENERALE
I .Gnralits sur la compatibilit lectromagntique ..............................................................
7
II .La CEM en lectronique de puissance ..................................................................................
8
10
III .Originalit de 1 etude .........................................................................................................
1 ,
Chapitre 1: CALCUL ANALYTIQUE DU CHAMP ELECTROMAGNETIQUE

RAYONNE PAR LES CIRCUITS DE L'ELECTRONIQUE DE PUISSANCE
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
Introduction ..............................................................................................................................
13
14
I .Rappels sur le calcul du champ lectromagntique .............................................................
.................................................................................................
14
15
1.2 .Dtermination du potentiel vecteur magntique ............................................................
1.1 .Les quations de Maxwell
II .Calcul du champ lectromagntique rayonn ....................................................................

16
..................................................................................................17
11.2 .Calcul du champ magntique rayonn H .......................................................................18
11.3 .Calcul du champ lectrique rayonn E .......................................................................... 19
11.4 .Calcul de K(l) l'aide du logiciel PHI3D .......................................................................21
11.1 .Les hypothses de calcul
III .Mise en oeuvre de la mthode analytique .........................................................................23
.............................................................................................. 23
111.2 .Le logiciel PACTE ..........................................................................................................24
III3 .Le circuit tudi: Hacheur commutation force .......................................................
24
111.1 .La mthodologie de calcul
IV .Rsultats .............................................................................................................................
27
........................................................................
27
28
IV.2 .Les rsultats de calcul du champ magntique ..............................................................
IV.3 .Les rsultats de calcul du champ lectrique .................................................................
30
IV.4 .Discussion des rsultats .................................................................................................. 32
IV.l .Les rsultats de simulation sur PACTE
Conclusion .........................................................................................................................
3
2
Chapitre II :METHODES NUMERIQUES ET COMPATIBILITE

ELECTROMAGNETIQUE EN ELECTRONIQUE DE PUISSANCE
Introduction ............................................................................................................................
3 4
1 .La mthode des lments finis .............................................................................................
1.1 .Descriptif de la mthode
35
...................................................................................................35
Table des matires
1.2 .Avantages et inconvnients de la mthode des EF dans le cas de circuits de

l'lectronique de puissance
........................................................................................................37
2 .La mthode des diflrencesfinies dans le domaine temporel ........................................37
...................................................................................................
38
2.2 .Avantages et inconvnients de l'application de cette mthode ......................................40
3 .La mthode des lignes de transmission ...............................................................................

41
...................................................................................................41
42
3.2 .Avantages et inconvnients de l'application de cette mthode ......................................
4 .La Mthode des quations Intgrales aux Frontires ........................................................

43
................................................................................................... 43
4.2 .Avantages et inconvnients de l'application de cette mthode ......................................44
5 .La Mthode des Moments ....................................................................................................

45
...................................................................................................45
5.2 .Avantages et inconvnients de l'application de cette mthode......................................46
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Conclusion ................................................................................................................................47
Chapitre III : LA METHODE DES MOMENTS ET SA MISE EN OEUVRE

Introduction ..............................................................................................................................
50
I .L'quation intgrale pour l'espace libre ..............................................................................
51
.........................................................................
1.1 .Equation Intgrale du champ lectrique

51
Cas d'un fil fin ..................................................................................................................................53
....................................................................
1.2 .L'quation intgrale du champ magntique

54
Cas d'une structure surfacique .........................................................................................................55
1.3 .L'quation hybride lectrique .magntique
...................................................................56
II .Rsolution par la mthode des moments.............................................................................

57
..........................................................................
58
59
11.2 .Application de la mthode des moments ........................................................................
11.3 .Choix des fonctions bases et des fonctions tests .............................................................60
61
11.4 .Rpartition du courant dans la structure filaire ...........................................................
62
11.5 .Conditions aux limites du courant ..................................................................................
11.6 .Calcul du champ rayonn ................................................................................................63
11.1 .Technique de la mthode des moments
III .Mise en oeuvre de l'application aux circuits linaires ......................................................

64
....................................................................................................64
III.2 .Les composants linaires ...............................................................................................66
III3 .Le plan de masse et/ou le sol ..........................................................................................67
111.1 .La topologie du circuit
67
a . Mthode de la thorie des images .....................................................................................................
b . Mthode des coefficients de rflexion ....................................................................................... 67
c . La mthode de Sommerfeld-Norton..................................................................................................
68
Table des matires
..................................................................................................69
111.5 .Limites de la mthode des moments .............................................................................70
111.4 .Les sources d'excitation
I V .Extension de l'application aux circuits non linaires ........................................................ 71
...........................................................................................
72
74
IV.2 .Rsolution du problme global ......................................................................................
IV.l .Dcomposition du problme
Conclusion ................................................................................................................................ 75
Chapitre IV : TECHNIQUES EXPERPMENTALES

Introduction ..............................................................................................................................
77
I .METROLOGIE EN MATIERE DE CEM .............................................................................78
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....................................................................................
1.1 .Mesure des grandeurs lectriques

78
1.1 .La sonde de tension ......................................................................................................................79
1.2 .La sonde de courant......................................................................................................................
80
...................................................
1.2 .Mesure des grandeurs lectromagntiques rayonnes

80
80
2.1 .Les antennes de mesure ................................................................................................................
2.2 - L'analyseur de spectre ..................................................................................................................
81
2.3 - Configuration de la mesure du champ rayonn ............................................................................83
1.3 .Prcautions prendre lors des mesures
..........................................................................
85
II .LE PROTOTYPE DE L'ETUDE .........................................................................................

86
..................................................................................86
11.2 .Dimensionnement du hacheur .........................................................................................87
11.3 .Analyse fine de la commutation du hacheur ..................................................................88
11.1.Le hacheur commutation force
3.1 .Le mcanisme de Blocage B .....................................................................................................90

3.2 .Le mcanisme de l'Amorage A ...............................................................................................94
Conclusion ................................................................................................................................
98
Chapitre V :RESULTATS ET VALIDATIONS

Introduction ............................................................................................................................
100
I .Rsultats et discussions ...................................................................................................... 100
........................................................................... 100
102
1.2 .Calcul du champ lectrique rayonn .............................................................................
1.3 .Discussion des rsultats ...................................................................................................103
1.1.Mesure du champ lectrique rayonn
II .Exploitation du module de calcul ....................................................................................1 0 5
.....................................................................105
1.Influence de l'amplitude de la tension d'alimentation E................................................106
2 .Influence de l'amplitude du courant de charge IO..........................................................108
110
3 .Influence de la frquence de dcoupagefd .......................................................................
Etude de l'influence des grandeurs lectriques
Conclusion ..............................................................................................................................112
Table des matires
Chapitre VI :PISTES DE CIRCUITS IMPRIMES ET APPROXIMATION FILS FINS

Introduction ........................................................................................................................... 1 1 4
Z .L'approximationfil fin .......................................................................................................114
...............................................................................
115
1.2 .Diamtre de fil calcul en fonction de e et de w (N=I)..................................................116
1.3 .Diamtre de fil calcul en fonction de e. de w et de M ...................................................117
1.1.Diamtre du fil gale l'paisseur e
II .Influence du nombre de conducteurs ................................................................................I I 8
...........119
11.2 .Variation du champ magntique H en fonction du nombre de conducteurs N ........122
11.3 .Etude de la distribution du courant .............................................................................. 123
11.1.Variation du champ lectrique E en fonction du nombre de conducteurs N
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III .Influence d'un coude entre deux pistes ............................................................................125
Conclusion ..............................................................................................................................
131
CONCLUSION GENERALE .............................................................................................

133
Rfrences Bibliographiques ..............................................................................................
137
ANNEXES .............................................................................................................................
145
...................................................................................................................................145
Terminologies ...........................................................................................................................
146
Notations
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
PRESENTATION GENERALE
I .Gnralits sur la compatibilit lectromagntique .........................................................7

II .La CEM en lectronique de puissance .................................................................................8
10
III .Originalit de 1 etude .........................................................................................................
1 ,
Prsentation gnrale
I - Gnralits sur la compatibilit lectromaqntique
La miniaturisation de plus en plus pousse des composants lectriques et lectroniques, la

complexit des systmes de contrles et de commande ainsi que la concentration dans un
mme milieu d'appareils dont les niveaux de puissance et de sensibilit sont trs diffrents, a
fait de la compatibilit lectromagntique une discipline scientifique obligatoire pour le bon
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
fonctionnement des systmes lectriques.

La compatibilit lectromagntique (CEM) est l'aptitude d'un dispositif, d'un appareil ou d'un
systme fonctionner dans son environnement lectromagntique de faon satisfaisante et
sans produire des perturbations lectromagntiques intolrables pour tout ce qui se trouve
dans cet environnement.
Les sources de perturbations lectromagntiques peuvent avoir une origine naturelle ou
artificielle. La foudre, les dcharges lectrostatiques et les rayonnements cosmiques
constituent les principales sources naturelles. Les perturbations d'origines artificielles peuvent
tre volontaires ou fortuites. Parmi les sources volontaires, nous pouvons citer les metteurs
radio ou T.V., les signaux de tlcommunication, les radars ... Les perturbations involontaires
proviennent essentiellement des rseaux de distribution d'lectricit, des installations
industrielles, des dispositifs de l'lectronique de puissance tels les convertisseurs statiques, les
alimentations dcoupage et de tous les appareils lectriques grand public.
La propagation des perturbations lectromagntiques se fait selon deux modes qui sont le
rayonn et le conduit.
Les perturbations conduites sont caractrises par les courants induits dans les conducteurs
et cbles. Dans ce cas on parle de mode diffrentiel (ou symtrique), ou par les tensions
induites et dans ce cas on parle de mode commun (ou asymtrique).
Prsentation gnrale
Les perturbations rayonnes en un point quelconque sont caractrises par un champ

lectromagntique possdant une composante lectrique E et une composante magntique
H.
II La CEM en lectronique de puissance
L'volution des technologies dans l'lectronique de puissance a permis un accroissement
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important du nombre de convertisseurs statiques dans tous les domaines industriels et grand
public. L'augmentation de la puissance et de la rapidit de ces convertisseurs a fait que ces
derniers crent des perturbations lectromagntiques de plus en plus importantes. L'tude de la
compatibilit lectromagntique est devenue donc un passage obligatoire pour les concepteurs
de circuits en lectronique de puissance.
Com~osantsnon linaires
Plan de masse
Composants linaires
A'
~ i l e c t r i ~/
ue
Figure 1: Le circuit de convertisseur statique.
Dans un circuit de convertisseur statique, on retrouve les lments suivants (Figure 1):
Pistes de circuits imprims (CI).
Cbles de connexion.
Plans de masses.
Prsentation gnrale
Composants discrets : linaires (rsistances, condensateurs, inductances...) ou non linaires

(transistors, diodes ...).
Dilectriques et chssis.
La configuration du circuit de convertisseur statique et la disposition de ses diffrents

lments dfinit les diffrents couplages qui existent. Ces couplages crent et amplifient les
perturbations lectromagntiques.
Tous les couplages possibles en CEM existent dans un circuit de convertisseur statique. Ces
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couplages peuvent tre entre lments du circuit ou entre le circuit et son environnement
r11[21.
Les couplages entre les lments du circuit sont les suivants:
Le couplage par impdance de masse: tout conducteur possde une impdance non nulle.
Ainsi, tout courant circulant dans le conducteur gnre une diffrence de potentiel (d.d.p.)
ses bornes. Cette d.d.p. est d'autant plus leve que les fronts de courant et les inductances
parasites sont importants.
Le couplage circuit-chssis: ce couplage est d aux condensateus existants entre les
diffrents conducteurs et le plan de masse. La variation du potentiel dans les conducteurs
cre donc un courant de dplacement des conducteurs vers le plan de masse.
Le couplage par diaphonie inductive: le courant circulant dans un fil cre autour de ce fil
un champ magntique. La variation de ce champ magntique cre une d.d.p. dans les
boucles voisines.
Le couplage par diaphonie capacitive: la diffrence de potentiel entre un conducteur et son
environnement gnre autour de ce conducteur un champ lectrique. La variation de ce
champ cre un courant inject dans les conducteurs proches.
Les couplages entre le circuit et son environnement sont les suivants:
Prsentation gnrale
Le couplage champ fil: la variation d'un champ lectrique incident sur un fil cre un
courant dans le conducteur.
Le couplage champ boucle: la variation d'un champ magntique embrassant une boucle
cre une d.d.p. aux bornes de celle-ci.
La connaissance de ces couplages est ncessaire pour pouvoir dterminer et contrler les
perturbations dans le circuit. Cependant, il est trs difficile de quantifier ou de prvoir ces
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
couplages sans l'aide d'outils numriques trs performants.
III Oriqinalit de l'tude
Plus un produit se rapproche de sa phase finale, plus le cot de la CEM est important. Il est
donc ncessaire de "penser CEM" lors de la conception des circuits de l'lectronique de
puissance. La complexit des phnomnes qui entrent en jeu lors de l'tude de la CEM des
circuits de l'lectronique de puissance fait de plus en plus sentir le besoin d'un outil CAO de
prdiction des perturbations lectromagntiques rayonnes par ces circuits. Cet outil
permettrait la prise en compte de la compatibilit lectromagntique au stade de la conception
des circuits. C'est dans cet axe que se situent nos recherches menes au Centre de gnie
lectrique de Lyon (CEGELY).
Nos travaux se prsentent sous forme de six chapitres:
Le chapitre 1prsente une mthode de calcul analytique du champ lectromagntique
rayonn par les circuits de l'lectronique de puissance. Cette mthode reprsente la suite de
travaux de recherche mens, dans notre laboratoire, par Bei Lu et A. Puzo. Les rsultats
obtenus par cette mthode sont prsents et compars aux rsultats de mesures.
Prsentation gnrale
Le chapitre II prsente les diffrentes mthodes numriques
utilises en
lectromagntisme tout en tudiant leur application la CEM des circuits de l'lectronique de

puissance, en vue de choisir la mthode la plus adapte notre tude.
Le chapitre III prsente, avec plus de dtail, la mthode des moments qui sera utilise
et explique sa mise en oeuvre pour le cas de circuits de l'lectronique de puissance.

Le chapitre IV,intitul techniques exprimentales, est constitu de deux parties. La
premire partie prsente la mtrologie en matire de CEM et les prcautions prendre lors des
mesures CEM. La deuxime partie s'intresse au prototype utilis lors nos mesures pour la
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
validation des rsultats numriques.

Le chapitre V prsente les rsultats numriques obtenus par la mthode des moments
expose en chapitre III et les confronte aux rsultats exprimentaux.
Le chapitre VI, intitul pistes de circuits imprims et approximation fil fin, s'intresse
l'approximation dj utilise dans le chapitre III et essaye de l'affiner dans le but d'amliorer
les rsultats exposs en chapitre V.
Enfin, en dernire partie, nous prsentons une synthse gnrale sur ce travail ainsi que
ses diffrentes perspectives.
Chapitre 1
CALCUL ANALYTIQUE DU CHAMP
ELECTROMAGNETIQUE RAYONNE PAR LES
CIRCUITS DE L'ELECTRONIQUE DE
PUISSANCE
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
Introduction ............................................................................................................................1 3
I .Rappels sur le calcul du champ lectromagntique ..........................................................14
.................................................................................................14
1.2 .Dtermination du potentiel vecteur magntique ...........................................................15
II .Calcul du champ lectromagntique rayonn.................................................................16
11.1 .Les hypothses de calcul ..................................................................................................17
11.2 .Calcul du champ magntique rayonn H.......................................................................18
11.3 .Calcul du champ lectrique rayonn E .......................................................................... 19
11.4 .Calcul de K(l) l'aide du logiciel PHI3D .......................................................................21
III .Mise en oeuvre de la mthode analytique .......................................................................23
111.1 .La mthodologie de calcul ..............................................................................................
23
111.2 .Le logiciel PACTE ..........................................................................................................24
111.3 .Le circuit tudi: Hacheur commutation force .......................................................24
IV .Rsultats ............................................................................................................................27
1.1 .Les quations de Maxwell
........................................................................27
IV.2 .Les rsultats de calcul du champ magntique ..............................................................
28
IV.3 .Les rsultats de calcul du champ lectrique .................................................................30
IV.4 .Discussion des rsultats ..................................................................................................
32
Conclusion ...............................................................................................................................32
IV.l .Les rsultats de simulation sur PACTE
Chapitre 1
Calcul analytique du champ EM rayonn par les circuits
Introduction
Dans un circuit de l'lectronique de puissance, les principales sources de rayonnement

lectromagntique sont les fils de connexion et les pistes de circuits imprims (C.I.). En effet,
la variation de la tension et du courant dans le circuit fait que les fils de connexion et les pistes
de C.I. se comportent comme des antennes rayonnantes en champ lectrique et magntique.
Dans ce chapitre, nous prsentons une mthode de calcul analytique du champ
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
lectromagntique rayonn par les circuits de l'lectronique de puissance. Le circuit en

question est dcompos en branches lmentaires et nous calculons les champs lectrique et
magntique rayonns par chaque branche.
Aprs un rappel thorique sur l'valuation du champ produit par une distribution de courant
volumique, nous exprimons les champs lectrique et magntique produits par toutes les
branches lmentaires du circuit. Ce champ total dpend des grandeurs lectriques dans
chaque branche. Lors de la mise en oeuvre de cette mthode analytique, nous utilisons un
logiciel de type circuit pour le calcul des grandeurs lectriques. Le modle de circuit simul
sur le logiciel tient compte des composants parasites dus aux diffrents couplages. Ces
composants parasites dpendent de la topologie du circuit.
1 - Rappels sur le calcul du champ lectromaqntique
1.1 Les quations de Maxwell
Considrons un milieu isotrope et homogne, de permittivit
E,
et de permabilit p,. La
propagation du champ lectromagntique s'effectue dans l'espace libre selon les quations de
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
Maxwell qui s'expriment sous la forme suivante:
divD = p,
divB = O
Avec :
E : vecteur champ lectrique.

B : vecteur induction magntique.
H : vecteur champ magntique.
J : vecteur densit de courant.
D : vecteur induction lectrique.
et
p, : densit volumique de charge.
A partir de l'quation (Eq 1.4), on peut dduire qu'il existe un potentiel vecteur magntique A
tel que:
B = rotA
Le champ magntique H s'crit alors:
Chapitre 1
H = -rotA
Po
(Eq 1.6)
De mme, le champ lectrique E s'exprime en fonction du potentiel vecteur magntique A et

du potentiel scalaire lectrique @.
Ainsi, connaissant A et @, on peut calculer le champ lectrique et magntique en tout point de
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
l'espace.
1.2 - Dtermination du potentiel vecteur magntique
En utilisant la jauge de Lorentz
et les quations de Maxwell, l'ensemble projet dans le plan frquentiel, on obtient l'quation
diffrentielle rgissant le potentiel vecteur magntique A:
2 -po
~ J
AA + p 0 & , o =
M(r)
point d'observation
Figure 1.1 - Disposition du calcul.
Chapitre 1
La solution, en un point M(r), de cette quation est de la forme:

(Eq 1.10)
O R est le volume o circule le courant J, R =Ir - n
est la distance entre le point
2n
d'observation M(r) et le point M(rl) o circule le courant (figure 1.l), = - est le nombre
d'onde, 1= - est la longueur d'onde, c est la vitesse de la lumire et f la frquence
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d'excitation. Le terme e-lPR traduit l'effet de propagation. Lors du calcul en champ proche
[I.1][1.2], ce terme est souvent pris gale 1.En effet, en champ proche, la distance R entre le
point d'observation et le point o circule le courant est ngligeable compare la longueur

d'onde (R<<a).
Le potentiel scalaire lectrique dS est alors gale :
(Eq 1.11)
A. Puzo [I.2] s'est intress, lors de ses recherches, au calcul du champ lectromagntique
proche, ainsi il a considr que le terme e
- est~gal~ 1.~Ceci a permis une simplification
des calculs. Cependant, dans notre tude nous n'allons pas adopter cette approximation.
II Calcul du champ lectromagntique rayonn
Pour calculer le champ lectromagntique rayonn par un circuit de l'lectronique de

puissance, nous allons calculer le champ rayonn par les fils de connexion des composants et
ies pistes du circuit imprim.
Calcul analytique du champ EM ravonn par les circuits
Chapitre 1
11.1 Les hypothses de calcul
Nous supposons que les composants du circuit sont parfaits et de faibles dimensions, ainsi le
rayonnement du circuit est d uniquement celui de la topologie. Un circuit de convertisseur
de puissance peut tre dcompos en mailles et branches (Figure L2). Pour calculer le champ
lectromagntique rayonn par le convertisseur, nous allons calculer le champ rayonn par
toutes les mailles et les branches lmentaires. Une branche est modlise par une portion de
conducteur droit soumis une diffrence de potentiel. Une maille est modlise par une
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boucle rectangulaire parcourue par un courant.

z A
branches du circuit
Y
-3.
Figure 1.2 - Dcomposition du circuit en branches et mailles.

Pour simplifier les calculs nous adoptons les hypothses suivantes:
Les conducteurs sont filiformes.
Le circuit du convertisseur est plan (par exemple dans le plan XY).La composante selon
l'axe Z du potentiel vecteur magntique A est donc nulle.

Pour une branche lmentaire AB, nous adoptons la convention d'orientation suivante: le
courant entre en A et sort en B.
e
Pour une branche lmentaire AB, nous supposons que le courant est constant tout le long
de la branche.
Chapitre 1
* Sachant que les mailles sont rectangulaires, nous orientons le repre de manire ce que
AB soit parallle l'axe X ou l'axe Y.
La propagation du champ lectromagntique s'effectue dans l'espace libre.

Pour tenir compte de la prsence du plan de masse, nous supposons que la conductivit de
ce dernier est infinie et que ses dimensions sont importantes par rapport celles du circuit.
Nous utilisons de ce fait la thorie des images [I.5].
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11.2 Calcul du champ magntique rayonn H
Soit I le courant qui circule dans une branche lmentaire AB du circuit (Figure 1.3).
Figure 1.3 - Une branche lmentaire AB du circuit.

A partir de l'quation (Eq 1. IO), nous avons:
(Eq 1.12)
Le terme
e - j p R est
dcompos en une partie relle et une partie imaginaii-e. En utilisant (Eq
I.6), nous calculons le vecteur champ magntique H. Le produit du courant I par jw (dans le
Chapitre 1
domaine frquentiel) correspond sa drive par rapport au temps
aI
at
(dans le domaine
temporel). Nous remplaons donc dans l'expression des composantes de H le terme juZ par
ar
at
-.
Nous obtenons en un point M~xo,Yo,zo),

les composantes du champ magntique H rayonn
par toutes les branches AB:

(Eq 1.13)
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(Eq 1.14)
(Eq 1.15)
avec :
(Eq 1.16)
Le champ rayonn H est alors exprim en fonction du courant circulant dans la branche du
circuit, de sa drive et de la topologie du circuit (coordonns des diffrents points).
11.3 Calcul du champ lectrique rayonn E
Une branche AB est une antenne rayonnante en champ lectrique si elle est porte un
potentiel variable. Chaque antenne est caractrise par sa longrieur 1, sa hauteur par rapport au
plan de masse h et son diamtre a. Pour simplifier les calculs, le conducteur antenne est
suppos parallle au plan de masse.
Chapitre 1
Le champ lectrique rayonn est fonction des paramtres gomtriques de l'antenne et de la

distribution totale de la charge du conducteur. Cette charge totale Q se dcompose en deux
types de charges [I.3] (Figure 1.4):
Une distribution linique de charges pl constante et uniformment rpartie le long du
conducteur.
Une distribution de charges ponctuelles q situes aux deux extrmits du conducteur et
traduisant la non-linarit des bords.
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conducteur rayonnant
Figure 1.4 - Modle de distribution des charges sur un conducteur.

Nous introduisons un rapport K(1) reprsentant la valeur relative de la charge rpartie par
rapport la charge isole:
(Eq 1.17)
Ce rapport K(1) dpend de la longueur du conducteur 1, de son diamtre et de sa hauteur h par
rapport au plan de masse. Pour l'valuation de ce rapport en fonction de la longueur 1 nous
utilisons le logiciel de calcul lectromagntique en trois dimensions PHI3D [I.6] dvelopp au
CEGELY.
A partir de l'quation (Eq I.7), en un point M(r), nous exprimons le champ lectrique E
rayonn par tous les segments AB:
r -rl
r - r,
aA
(Eq 1.18)
D'aprs l'quation (Eq I.12), le troisime terme du second membre de (Eq 1.18) peut tre
calcul en fonction de
aI
at
pl et q s'expriment en fonction de la charge totale Q et du rapport K(1). Or:

Q=C.V
(Eq 1.19)
O C est la capacit du condensateur entre le fil et le plan de masse. C peut tre exprime en
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fonction de K(1) [I.l], donc d'aprs (Eq I.18), E peut tre calcul en fonction de K(l), de V et
11.4 Calcul de K(I) l'aide du logiciel PH13D
PHI3D est un logiciel de CAO qui permet le calcul des champs lectriques et magntiques
dans les dispositifs tridimensionnels. Bas sur la mthode des quations intgrales de
frontire, ce logiciel rsout des problmes d'lectrostatique, de conduction lectrique
volumique, de magntostatique linaire et de magntodynamique trs faible paisseur de
peau [I.6].
Pour calculer le rapport K(l), nous allons modliser sur PHI3D un conducteur de longueur 1
reprsentant une piste de circuit imprim situe une hauteur h du plan de masse (Figure 1.5).
antenne conductrice
Figure 1.5 - Modlisation d'une piste C.I. sur PHZ3D.

La Figure 1.6 reprsente la rpartition des quipotentielles entre le conducteur (ou la piste du
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circuit imprim) et le plan de masse.

En calculant la distribution du flux l'aide de PHZ3D, on dduit la valeur de la capacit du
condensateur entre la piste C.I. et le plan de masse. Ensuite, l'aide de l'quation (Eq 1.20)
[I.11 nous calculons le coefficient K(1):
(Eq 1.20)
maximal
lasse
Figure 1.6 - Equipotentielles entre piste C.I. et plan de masse.
Chapitre 1
111 Mise en oeuvre de la mthode analvtique
111.1 - La mthodologie de calcul
Nous avons montr dans le paragraphe prcdent que le champ lectromagntique rayonn
dpend des grandeurs lectriques du circuit. En effet, il dpend du courant dans chaque
branche, de la drive du courant par rapport au temps, et du potentiel des diffrentes
branches. Il faut donc calculer ces grandeurs de manire exacte. Le calcul de ces grandeurs
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ncessite la connaissance des composants du circuit, y compris les composants parasites dus
au couplage du circuit avec son milieu extrieur.
Les composants d'un circuit de l'lectronique de puissance sont soumis des contraintes
lectriques importantes. En effet, nous avons des variations importantes de courants et de
tensions dans le circuit. Dans ces conditions, le fonctionqement des composants est diffrent
de celui des lments idaux. Nous sommes donc amens dfinir des modles quivalents
associant les lments parasites au fonctionnement principal [1.2]. La simulation fine du
comportement lectrique des convertisseurs statiques ncessite d'affiner et de quantifier ces
modles. Le circuit quivalent tenant compte des diffrents composants parasites est simul
sur un logiciel de type circuit. Dans notre tude, nous utilisons le logiciel PACTE [I.7]. Les
rsultats de simulation du circuit par PACTE nous permettent de connatre les diffrentes
valeurs du courant, de sa drive et de la tension dans les diffrentes branches du circuit. Ces
grandeurs sont ensuite utilises pour le calcul du champ lectromagntique rayonn.
Chapitre 1
111.2 Le logiciel PACTE
Le logiciel de simulation de circuits que nous avons utiiis est PACTE [I.7]. Ce logiciel a t
conu et dvelopp au CEGELY-INSA. II possde une vaste bibliothque de modles de
semi-conducteurs. Ces modles sont bass sur la rsolution des quations en partitionnant le
composant en rgions o un phnomne physique unique est considr comme prpondrant.
La mise en oeuvre de ces modles a conduit une mthode d'analyse de circuits du type
"bondgraph" (graphes de liens). Cette mthode est couple un rseau de Ptri pour
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reprsenter les transitions.
111.3 - Le circuit tudi: Hacheur commutation force
Afin de pouvoir valider les rsultats de simulation, nous avons utilis une structure de
commutation lmentaire qui a t dj tudie exprimentalement au sein de notre
laboratoire [1.1][1.2]. C'est un hacheur commutation force (Figure 1.7). La cellule de
commutation est constitue d'un transistor Mosfet et d'une diode de roue libre DRL. Nous
avons dans le circuit, un circuit d'aide la commutation (Dl, RI et C l ) et un circuit crteur
(02,R2, C2). Le circuit est dimensionn pour fonctionner E=lOOV, ZO=8A et une
frquence de dcoupagef=lOOkHz. L'entre du circuit est filtre par un condensateur de 1OpF.
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Chapitre 1
expressions analytiques du couplage des conducteurs (ou pistes de C.I.) entre eux ou avec le
botier (ou le radiateur). Les formules donnant les expressions des composants parasites sont
prsentes dans le tableau 1.1.
Po ln(-)4h
Lp = 27~ d
cp=
2nr,
4h
ln(-)
d
Po
Lp = -ln(-)
TL
Cp =
20
d
~ E o
20
ln(?)
Po
Lp = -ln(2n
cp=
8h + -1L
L 4h
2m0
8h L
ln(- + -)
L 4h
Po
Lp = -ln(-)
cp=
Tableau 1.1 - Expressions analytiques des composants parasites [1.3].
nd
L
*&O
nd
ln(--)
L
Chapitre 1
Ces Formules supposent que le courant soit rparti de manire uniforme dans les conducteurs
ce qui n'est plus vrai pour des frquences suprieures une valeur limite fo calcule en prenant
une paisseur de peau gale la moiti de la largeur du conducteur.
La Figure 1.8 reprsente le modle du hacheur tenant compte des composants parasites. Les
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composants parasites rajouts sont reprsents en gras.
Radiateur connect la masse
Figure 1.8 - Schma du hacheur commutation force avec les composants parasites.
Les valeurs des diffrents composants parasites de notre prototype d'tude (voire chapitre V)
sont prsentes dans le tableau 1.2.
sa valeur
lyH
5nH
80nH
50nH
30nH
composant parasite
11
12
10
13
le
"-
7pF
1OvF
CP
Cd
1
Tableau 1.2 - Valeurs des composants parasites [I.3].
Chapitre 1
IV Rsultats
- Les rsultats de simulation sur PACTE
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IV.l
Figure I.9.b - Rsultats de mesures [I.2].

Figure 1.9 - Comparaison des rsultats de simulation sur PACTE aux rsultats de mesures.
Calcul analvtique du champ EM rayonn par les circuits
Chapitre 1
Le circuit du hacheur avec les composants parasites de la figure 1.8 a 6t simul sur le logiciel
PACTE. La figure I.9.a prsente quelques rsultats obtenus lors du blocage du hacheur. Ces
rsultats sont compars aux rsultats de mesures obtenues par A. Puzo (Figure I.9.b). Pour ces
deux courbes, nous prsentons le courant et la tension aux bornes du Mosfet lors de son
blocage, ainsi que le courant du condensateur C2.
Nous constatons une assez bonne correspondance entre mesures et simulations, d'o la
validit des modles proposs en figure 1.8. Les rsultats de cette simulation peuvent donc tre
utiliss pour le calcul du champ lectromagntique rayonn comme nous l'avons dvelopp
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pians les paragraphes prcdents.
IV.2 Les rsultats de calcul du champ magntique
Champ Hz rayonne au dessus du circuit [avant et apres Fltragt)

5(
Figure 1.10 - Composante Hz du Champ magntique rayonn lors de l'ouverture du Mosfet

(rsultats de simulation).
Chapitre 1
Les calculs ont t effectus en un point situ 50mm au-dessus de la boucle compose par le
Mosfet, la diode de roue libre, l'inductance L et le condensateur Ce. Le champ magntique
calcul lors de l'ouverture du Mosfet est prsent en Figure 1.10.
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Repariitiontequenlielle de tb (apres Iiimge)
Composante Hz myonnee lors de iouvehie du Mos (apres Mmge)

3,
b. mesure [I.2].
a. calcule ensuite filtre.
Figure 1.11 - Composante Hz du Champ magntique rayonn lors de l'ouverture du Mosfet.
Les mesures ont t effectues l'aide d'une antenne boucle de diamtre 6cm qui permet de
mesurer la composante Hz du champ [I.2]. L'allure du champ mesur est donne dans la
Figure 1.11.b. La bande passante de l'antenne de mesure utilise est limite entre IOOkHz et
Chapitre 1
IOOMHz. Ces antennes filtrent le signal mesur, ce qui explique la prsence de basses
frquences dans le signal calcul qui n'existent pas dans le signal mesur. Afin de pouvoir
comparer les rsultats de simulation avec ceux des mesures, nous avons filtr le signal calcul
(figure 1.10). Nous avons utilis un filtre passe haut de Butter d'ordre 1. Le signal filtr est
ensuite, compar au signal mesur (figure 1.11).
Les rsultats prsents en figure 1.11 ont t obtenus lors de l'ouverture du Mosfet car c'est le
moment de la priode o les champs rayonns sont les plus in~portants.
Globalement, nous remarquons que les signaux calculs ressemblent bien aux signaux
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mesurs (du point de vue forme et amplitude).
IV.3 Les rsultats de calcul du champ lectrique
Les sources de rayonnement en champ lectrique sont reprsentes par tous les conducteurs
lis au drain du Mosfet. Les autres conducteurs tant au mme potentiel que celui de la masse
du circuit (en rgime dynamique), ils produisent un champ lectrique ngligeable. Le point de
calcul est le mme que celui de la mesure; il est 5mm au-dessus du circuit. Le champ
lectrique calcul est donn en figure 1.12.
Les mesures du champ lectrique ont t effectues l'aide d'une antenne active compose
d'un monopole, d'un circuit d'amplification et d'un cble coaxial 50Q [I.2]. La bande passante
de cette antenne est de 100kHz-50MHz. Les rsultats de mesure sont prsents en figure 1..13.
Ces rsultats montrent une concordance entre le champ lectrique mesur et le champ
lectrique calcul. En effet, dans les deux cas, le champ lectrique est une image de la tension
Drain-Source du Mosfet (le terme
[ 2)
--
de l'quation (Eq 1.7) est ngligeable). Ainsi, les
Calcul analytiaue du champ EM rayonn par les circuits
Chapitre 1
deux champs ont la mme allure. De mme, les valeurs des amplitudes sont trs proches (de
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l'ordre de 2.000V/m).
Figure 1.12 - Composante Ex du Champ lectrique rayonn (rsultats de simulation ).
temps: 150nsldiv
maured
(Imvfdjv)
Figure 1.13 - Composante Ex du Champ lectrique rayonn (rsultats de mesure) [I.2].
Calcul analyticiue du champ EM rayonn par les circuits
Chapitre 1
IV.4 Discussion des rsultats
Les rsultats de calcul concordent avec ceux des mesures. Cependant, lors des simulations,
nous avons remarqu que les amplitudes des champs rayonns varient de manire
considrable en fonction de la position du point de calcul. Les dimensions et les formes
encombrantes des antennes de mesure ne permettent pas la connaissance de manire exacte du
point de mesure. De mme, lors des mesures en champ proche un couplage supplmentaire
entre le circuit et l'antenne de mesure se cre. Ce couplage introduit des erreurs au niveau de
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la mesure du champ rayonn [I.1l][I. 121. Il dpend des dimensions de l'antenne ainsi que des
dispositions de mesures, sa modlisation est donc trs difficile mettre en oeuvre.
Conclusion
Le calcul du champ lectromagntique rayonn par la mthodt. analytique dpend de

grandeurs gomtriques et lectriques du circuit. Le calcul des grandeurs lectriques se fait en
utilisant un simulateur de circuits. Lors de cette simulation, la modlisation des couplages
dans le circuit se fait de manire grossire en injectant des composants parasites calculs
partir de formules analytiques. Cette mthode a t applique un circuit de type hacheur. Les
rsultats numriques obtenus en champ proche sont en accord avec les rsultats
exprimentaux. Dans le cas de circuits complexes, l'utilisation des formules analytiques pour
le calcul des couplages n'est plus suffisante et il devient indispensable d'utiliser une mthode
numrique afin de calculer les diffrents couplages du circuit de manire exacte.
Chapitre II
METHODES NUMERIQUES ET
COMPATIBILITE ELECTROMAGNETIQUE EN
ELECTRONIQUE DE PUISSANCE
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Introduction .............................................................................................................................34
..........................................................................................3 5
1.1 .Descriptif de la mthode ...................................................................................................
35
1 .La mthode des lments finis
1.2 .Avantages et inconvnients de la mthode des EF dans le cas de circuits de
........................................................................................................
37
2 .La mthode des diffrences finies dans le domaine temporel...........................................37
2.1 .Descriptif de la mthode ...................................................................................................38
l'lectronique de puissance
2.2 .Avantages et inconvnients de l'application de cette mthode
......................................40
3 .La mthode des lignes de transmission ..............................................................................

41
...................................................................................................41
3.2 .Avantages et inconvnients de l'application de cette mthode ......................................
42
4 .La Mthode des quations Intgrales aux Frontires......................................................43

4.1 .Descriptif de la mthode ...................................................................................................
43
......................................44
5 .La Mthode des Moments ..................................................................................................45
5.1 .Descriptif de la mthode ...................................................................................................45
46
5.2 .Avantages et inconvnients de l'application de cette mthode......................................
Conclusion ...............................................................................................................................47
4.2 .Avantages et inconvnients de l'application de cette mthode
Introduction
Nous avons vu dans le chapitre prcdent que pour dterminer le rayonnement du circuit de
manire prcise, en tenant compte de tous les couplages entre les lments du circuit ainsi que
du couplage circuit milieu extrieur, il faut utiliser une mthode numrique permettant le
calcul exact du champ. En lectromagntisme, il existe plusieurs mthodes numriques. Nous
pouvons citer l a mthode des lments finis, la mthode des diffrences finies, la mthode des
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lignes de transmission, la mthode des quations intgrales aux frontires et la mthode des
moments.
Le choix de la mthode numrique utiliser dpend de la nature du problme rsoudre.
Dans notre cas, nous cherchons calculer le rayonnement lectromagntique des circuits de
l'lectronique de puissance. Ainsi, la mthode numrique que nous allons choisir doit tenir
compte de la prsence de conducteurs de formes gomtriques complexes forms par des
pistes de circuits imprims de faibles paisseurs et des fils fins. En gnral, la topologie du
circuit est en trois dimensions (3D) et ne prsente pas de symtries. De mme, il faut tenir
compte de la prsence de dilectriques, de plans de masse, de composants linaires, de
composants non linaires, de blindages et d'ouvertures dans les blindages lII.21. Cette
mthode doit permettre le calcul du champ rayonn des distances assez importantes par
rapport aux dimensions des circuits (10 mtres par exemple) ainsi que le calcul de
perturbations conduites. En mme temps, cette mthode doit traiter le problme du type circuit
d la prsence de composants discrets dans le circuit.
Afin de choisir la mthode numrique qui rpond notre cahier des charges, nous prsentons,
dans ce chapitre, les diffrentes mthodes numriques les plus utilises en lectromagntisme
tout en mettant en vidence les avantages et les inconvnients de leur application la
compatibilit lectromagntique en lectronique de puissance [II.11.
Chapitre II
Mthodes numriques et CEM en lectronique de puissance
1 La mthode des lments finis
La mthode des lments finis (MEF) a t largement dveloppe dans le domaine de la

mcanique pour analyser des problmes de matriaux et de structures. Elle a ensuite t
utilise en lectricit pour rsoudre des problmes non homognes et de gomtrie complexe.
1.1 - Descriptif de la mthode
[IL51[II.6][II.7]
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La premire tape de la mthode des EF consiste diviser l'espace modliser en petits

lments ou pices de formes arbitraires et qui peuvent tre plus petits l o les dtails de la
gomtrie le ncessitent. La taille de ces lments est choisie en fonction des problmes
physiques locaux. Dans chaque lment, on suppose que la variation de la quantit de champ
est simple (en gnral linaire). Le champ est donc dcrit par un ensemble de fonctions
linaires.
Structure gomtrique
Modle Elments Finis
Figure II. 1 - Exemple de modlisation lments Finis
La figure 11.1 prsente un exemple de subdivision en lments finis. Le modle contient les
informations concernant la gomtrie, les constantes des matriaux, les excitations et les
Chapitre II
conditions aux limites. Chaque coin d'lment est appel noeud. Le but de la mthode des
lments finis est de dterminer la quantit de champ chaque noeud.
La plupart des mthodes des EF sont bases sur des techniques variationnelles c. . d. en
cherchant minimiser ou maximiser une expression considre comme stationnaire quand on
a la bonne solution. Gnralement, la solution est obtenue en minimisant une nergie
fonctionnelle associe au problme et qui peut tre reprsente par exemple sous la forme:
(Eq 11.1)
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Les deux premiers termes de l'intgrale reprsentent l'nergie obtenue en champ magntique et
lectrique et le troisime terme est l'nergie dissipe par les courants conduits. On exprime
ensuite H en fonction de E , on drive la fonctionnelle par rapport E et en prenant la drive
gale zro, on obtient une quation de la forme f(J,E)=O. La fonction f est approxime
l'ordre k en chacun des N noeuds et les conditions aux limites sont exprimes, afin d'obtenir
un systme d'quations de la forme:
[JI = [YI [El
(Eq 11.2)
Les valeurs de J dans le membre de gauche de l'galit sont relatives aux termes de la source.
Ils reprsentent l'excitation connue. Les lments de la matrice Y dpendent de la gomtrie
du problme et des conditions aux limites. Sachant que chaque lment est en liaison avec
seulement les lments qui lui sont voisins, la matrice Y est gnralennent creuse. Les termes
du vecteur du membre de droite de l'galit reprsentent les inconnues qui sont les champs
lectriques en chaque noeud. Ces valeurs sont obtenues en rsolvant le systme d'quations.
Les autres paramtres tels que le champ magntique, le courant induit et la puissance dissipe
peuvent tre dduits de la connaissance des valeurs du champ lectrique. Afin d'obtenir une
solution unique au problme, il est ncessaire d'imposer toutes les conditions aux limites du
champ (les valeurs aux noeuds limites).
Chapitre II
1.2 - Avantages et inconvnients de la mthode des EF dans le cas de
circuits de l'lectroniquede puissance
L'avantage majeur de la mthode des EF par rapport aux autres mthodes provient du fait que,
dans cette mthode, chaque lment peut avoir des caractristiques lectriques et
gomtriques particulires et indpendantes des autres lments. Ceci nous permet de
rsoudre des problmes avec un grand nombre de petits lments dans des rgions de
gomtrie complexe et en mme temps des grands lments dans des rgions relativement
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ouvertes. Ainsi, il est possible de rsoudre de manire relativement efficace des cas de
gomtrie complexe prsentant des proprits diffrentes.
Cependant, l'inconvnient majeur de cette mthode est la difficult de modliser des systmes
ouverts (dans le cas o le champ est inconnu en tout point de la limite du domaine d'tude).
Plusieurs techniques sont appliques pour rsoudre ce problme (conditions limites
absorbantes...). Ces techniques prsentent des rsultats raisonnables en deux dimensions, mais
ne prsentent pas encore des rsultats efficaces dans le cas de rayonnement lectromagntique
en trois dimensions.
2 La mthode des diffrences finies dans le domaine temporel
La mthode des diffrences finies dans le domaine temporel (DFDT) est devenue l'une des
mthodes numriques les plus connues en modlisation lectromagntique. Cette mthode est
simple, facile implanter sur calculateur, et comme c'est une mthode temporelle, elle peut
couvrir une large bande frquentielle en une seule simulation.
Chapitre II
La DFDT consiste modifier les quations de Maxwell en quations diffrentielles "centres",

les discrtiser et les implanter sur calculateur. Ensuite, les quations sont rsolues pas pas
dans le temps. Le champ lectrique est rsolu un instant donn, ensuite le champ magntique
est rsolu l'instant suivant (dans le temps) et la procdure est rpte plusieurs fois...
2.1
- Descriptif de la mthode
[II.4][II.8]
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En crivant les quations de Maxwell:
(Eq 11.3)
(Eq 11.4)
On remarque que la drive du champ lectrique par rapport au temps dpend du rotationnel
du vecteur champ H . Ceci veut dire que la variation temporelle du champ E dpend de la
variation spatiale du champ H, de ce fait, on dduit le principe de cette mthode: la nouvelle
valeur de E dpend de l'ancienne valeur de E et de la diffrence entre les anciennes valeurs du
champ H situes gomtriquement des deux cts du point de calcul de E . Le champ H est
calcul de la mme manire.
De manire plus prcise, la procdure de calcul est la suivante:
On reprsente la rgion modliser en deux grilles de points discrets; la premire reprsente
les points o le champ lectrique sera calcul et la deuxime reprsente les points o le champ
magntique sera calcul. Ensuite, on dfinit la source qui peixt tre selon le problme soit une
onde plane, soit un courant sur un conducteur, soit un champ lectrique entre deux plaques
mtalliques (une d. d. p. entre deux plaques).
Chapitre II
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<
Figure 11.2 - Un lment de base utilis par la mthode DFDT
Un lment de base d'un treillis spcial est illustr en Figure II.2. On remarque que chaque
composante du vecteur champ magntique est entoure par quatre composantes de vecteur
lectrique. On peut donc exprimer la diffrence centre en approximation du premier ordre
comme suit:
1
-[~,i(t)
A
+ Eyi(t)- Ezi(t)- ~ , 4 ( t ) =] -
k [ ~ z ~ +( At)
t - Hd(t - ~ t ) ] (Eq 11.5)
2At
avec: A = aire de la face considre pour le calcul de Hxo.

Dans l'quation prcdente la seule inconnue est Hxo(t+At),car les autres valeurs sont connues
dans l'tape prcdente. De la mme manire, on crit l'quation de diffrence centre
correspondante l'quation (Eq II.4) pour trouver le champ lectrique E l'instant t+2At. La
procdure est rpte jusqu' ce qu'on arrive la solution recherche. Pour simuler l'effet de
l'espace libre, on introduit des conditions aux limites absorbantes.
Chapitre II
Mthodesnurnriques et CEM en lectronique de puissance
2.2 Avantages et inconvnients de l'application de cette mthode
L'avantage majeur de cette mthode est qu'elle permet une rsolution temporelle du problme
et donc elle permet en une seule rsolution de trouver la rponse d'une large bande de
frquences. Ceci est extrmement utile dans notre application, o les frquences de rsonance
ne sont pas connues de manire exacte et o on veut reprsenter les rsultats sous forme de
spectre frquentiel. Le second avantage de cette mthode est sa grande flexibilit permettant
de modliser des problmes d'lectromagntisme avec des signaux arbitraires se propageant
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dans des configurations complexes de conducteurs, de dilectriques et de matriaux avec

pertes, non linaires et non isotropes. De mme, cette mthode permet la rsolution de
problmes internes et externes. Elle permet aussi d'obtenir directemert les champs E et H.
Cependant, l'inconvnient majeur de cette mthode est l'importance de l'espace mmoire et du
temps de calcul demands. En effet, tout le domaine modliser doit tre subdivis en cubes
et ces cubes doivent tre petits, relativement la plus petite longueur d'onde. De mme, ces
cubes sont d'autant plus petits que la gomtrie est complexe ou "aigu" (cas de conducteurs
fins et longs). Cependant, si on veut utiliser cette mthode pour dterminer le champ des
distances assez importantes ( 10 mtres du circuit par exemple) il faut choisir un domaine
d'tude excessivement large. De mme, si on veut viter les problmes de dispersion et obtenir
un large spectre frquentiel de rayonnement, il faut un pas de temps trs faible et un temps
d'observation assez important.
Un autre inconvnient de cette mthode est qu'elle permet de calculer seulement le champ
propag; les autres paramtres telle que la distribution de courant sont plus difficiles calculer
(cas de perturbations conduites).
C h a ~ i t r eII
3 - La mthode des liqnes de transmission
La mthode des lignes de transmission est similaire la mthode des diffrences finies du
point de vue capacits. Cependant, elle possde une approche unique et propre elle. Comme
la DFDT, l'analyse du problme est ralise dans le domaine temporel. La totalit de la rgion
tudier est maille ou subdivise. Cependant, au lieu de subdiviser l'espace en intercalant
champ E et champ H, une seule subdivision est effectue. La discrtisation est physique
contrairement aux mthodes des EF et DFDT o la discrtisation est mathmatique. Les
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noeuds de cette subdivision sont virtuellement connects par des lignes de transmission. A
chaque pas de temps, l'excitation un noeud se propage aux noeuds voisins travers ces
lignes de transmission.
3.1 Descriptif de la mthode

[11.9][11.10][11.11]
Vxny
Vxnz
Figure 11.3 - Le Noeud Symtrique Condens.
Chapitre II
La figure II.3 reprsente un exemple de structure de lignes de transmission. Cette structure

appele Noeud Symtrique Condens est souvent utilise. Elle est choisie de manire ce que
les tensions et les courants travers les lignes de transmission reprsentent les champs
lectrique et magntique en ces parties de l'espace.
Le pas de propagation temporel et les dimensions des lignes de transmission sont choisies en
fonction de la vitesse de propagations de l'onde dans le milieu modlis. Les frontires
extrieures et les corps conducteurs sont reprsents en dfinissant des coefficients de
rflexion appropris au niveau des bords des lignes ou en utilisant des noeuds spciaux.
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Du point de vue rsolution, une onde lectrique ou magntique incidente est transforme en
une impulsion de tension ou de courant. Cette excitation reprsente ;'tat initial et se propage
pas pas dans le temps travers les lignes conformment la thorie des lignes de
transmission et reprsente ainsi la diffraction de l'onde dans la structure. La propagation se
fait de la manire suivante: chaque pas de temps, la valeur calcule au noeud considr
reprsente, l'instant suivant de la rsolution, la valeur incidente pour le noeud voisin.
3.2 - Avantages et inconvnients de l'application de cette mthode
L'avantage principal de cette mthode est de permettre la modlisation de problmes

gomtrie complexe, non linaires, intrieurs ou extrieurs et avec des matriaux non
homognes. Elle permet d'obtenir une rsolution temporelle des deux champs au mme point.
La mthode des lignes de transmission prsente un avantage important pour notre application:
la possibilit de la prise en compte, lors de la rsolution, de la prsence de composants dans le
domaine d'tude. Elle permet donc une rsolution du type circuit.
Chapitre II
Cependant, l'inconvnient majeur de cette mthode rside dans l'importance des calculs qu'elle
ncessite surtout dans le cas de problmes ouverts, o la subdivision C'un espace assez large
autour du circuit est ncessaire. De plus, la bande de frquence que permet de couvrir cette
mthode est limite par les problmes de dispersion. Comme la mthode des DFDT, la
mthode des lignes de transmission permet de calculer seulement le champ propag; ainsi, la
connaissance d'autres grandeurs est plus difficile.
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4 La Mthode des quations Intgrales aux Frontires
La Mthode des quations Intgrales aux Frontires (MEIF) consiste transformer les
quations de Maxwell en une quation intgrale qui exprime la valeur de l'inconnue
l'intrieur du domaine R en fonction de ses valeurs sur la frontire dR et de ses drives
normales sur l'ensemble de cette frontire. Ceci est possible grce la seconde Identit de
Green. La rsolution du problme se fait en discrtisant numriquement la frontire afin de
transformer l'ensemble des quations rsoudre en un systme linaire plein.
4.1
- Descriptif de la mthode
[II.3][II.131[II.141
Pour U et V dfinis sur R et dR. la seconde Identit de Green est la suivante:
(Eq II.6)
Avec n: la normale extrieure dR au point M (Figure 11.4).
Chapitre II
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Figure 11.4 - La mthode des intgrales aux frontires.
La frontire des domaines tudis est subdivise en lments (noeuds). La fonction rsoudre
s'crit alors sous la forme d'une combinaison linaire des valeurs aux noeuds et des fonctions
d'interpolation.
En gnral, la rsolution des quations intgrales donne une meillese prcision que celle des
quations diffrentielles. La transformation du problme pour le ramener au niveau des
frontires a permis de "gagner une dimension" et de rduire de manire importante le nombre
d'inconnues. La MEIF est trs bien adapte pour la rsolution de problmes ouverts. Enfin,
elle permet la prise en compte de la prsence de dilectriques en rajoutant des conditions aux
interfaces.
Cependant, l'inconvnient majeur de cette mthode est le problme des singularits. En effet,
deux type de singularits sont rencontrs: les singularits gomtriques au niveau des points
anguleux o la drive normale est non dfinie et les singularits au niveau de la fonction de
Chapitre II
Green. Pour remdier ce problme, il faut augmenter le nombre de points d'intgrations et

donc le temps de calcul. Le second inconvnient de cette mthode est l'impossibilit de
modliser les matriaux non homognes et non linaires.
5 - La Mthode des Moments
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La Mthode des Moments (MoM) a t utilise pour l'tude des antennes et de leurs
applications. C'est une mthode frquentielle base sur la rsolution des quations intgrales
en courant. Elle permet de dterminer directement, et de manire prcise, la distribution du
courant dans les structures tudies et de remonter ensuite au champ rayonn en tout point de
l'espace.
5.1 Descriptif de la mthode
[II.151[II.161[II.171[II.181[II.191[II.201
Figure 11.5 - La mthode des moments.
Chapitre II
L'quation intgrale rsolue par la mthode des moments est obtenue en crivant l'quation
de continuit du champ lectrique tangentiel la surface du conducteur S (Figure II.5). Ce
champ tangentiel est constitu d'une composante incidente Ei et d'une composante diffracte
Ed.
L'quation de continuit en Ml(rl) est alors:
nxEd=-nxEi
(Eq 11.7)
En utilisant les quations de Maxwell projetes dans la plan frquentiel, on exprime la

composante diffracte en fonction de la distribution du courant. Aprs discrtisation du
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circuit, on exprime le courant sous la forme de fonctions test pondres par les valeurs du
courant aux diffrents noeuds de la subdivision. On se ramne alors une quation matricielle
de la forme:
[Zl[II = [VI
(Eq 11.8)
Avec 2: matrice impdance qui dpend de la topologie et de la frquence
V: matrice tension d'excitation

et
1:vecteur courant calculer
Aprs avoir dtermin la distribution du courant dans le circuit, on calcule le champ lectrique
rayonn en tout point de l'espace.
La mthode des moments prsente l'avantage de ne modliser que le circuit (les structures
mtalliques) et non pas tout l'espace environnant. Ainsi, elle est la mieux adapte pour la
modlisation de fils minces (fins et longs). Cette mthode permet l'insertion facile de
composants discrets dans la structure en dfinissant simplement l'impdance quivalente au
niveau du segment correspondant.
Chapitre II
Cependant, cette mthode est plus dlicate lors de la rsolution de problmes avec
dilectriques ou matriaux magntiques. La MoM est une mthode frquentielle, ainsi, le
traitement de problmes non linaires est impossible. De mme, si on cherche dterminer le
spectre sur une large bande de frquence, il faut refaire le calcul pour chaque frquence. Si le
pas de frquence n'est pas assez fin, des frquences de rsonance du circuit peuvent tre
masques. Finalement, la MoM ne permet pas la rsolution de problmes intrieurs et traite
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difficilement les milieux avec ouvertures.
Conclusion
L'tude prcdente nous permet de dresser le tableau rcapitulatif II. 1.
Tableau II. 1: Rcapitulatif sur les mthodes numriques.

avec:
++
: trs efficace.
: ralisable.
et
--
: pose des problmes.
Chapitre II
Mthodes numriaues et CEM en lectronique de puissance
Nous remarquons qu'aucune mthode numrique n'est compltement adapte pour modliser
les problmes de compatibilit lectromagntique dans un circuit de l'lectronique de
puissance.
Il faut donc prockder un couplage de deux mthodes appel mthode hybride.

La mthode des moments prsente le plus d'atouts pour notre applicatjon. Cependant, elle ne
permet pas la modlisation des problmes non linaires. Cette mthode sera donc couple un
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logiciel du type circuit qui permettra le traitement des non-linarits.
Chapitre III
LA METHODE DES MOMENTS ET
SA MISE EN OEUVRE
Introduction .............................................................................................................................50
Z .L'quation intgrale pour l'espace libre ............................................................................51
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.........................................................................
1.1.quation Intgrale du champ lectrique

51
Cas d'un fil fin.......................................................................................................................................53
....................................................................
1.2 .L'quation intgrale du champ magntique

54
Cas d'une structure surfacique ...........................................................................................................55
1.3 .L'quation hybride lectrique .magntique
................................................................... 56
ZZ .Rsolution par la mthode des moments ..........................................................................57
..........................................................................58
11.2 .Application de la mthode des moments ........................................................................59
11.3 .Choix des fonctions bases et des fonctions tests ........................................................... 60
61
11.4 .Rpartition du courant dans la structure filaire ...........................................................
62
11.5 .Conditions aux limites du courant ..................................................................................
11.6 .Calcul du champ rayonn ................................................................................................
63
11.1.Technique de la mthode des moments
ZZZ .Mise en oeuvre de l'application aux circuits linaires ...................................................64
....................................................................................................64
II1.2 .Les composants linaires ...............................................................................................
66
I I I 3 .Le plan de masse etlou le sol ..........................................................................................
67
111.1.La topologie du circuit
a . Mthode de la thorie des images .................................................................................................67

b . Mthode des coefficients de rflexion ..............................................................................................
67
c . La mthode de Sommerfeld-Norton............................................................................................. 68
..................................................................................................69
111.5 .Limites de la mthode des moments ............................................................................ 70
111.4 .Les sources d'excitation
IV .Extension de l'application aux circuits non linaires .................................................... 71
...........................................................................................72
IV.2 .Rsolution du problme global ......................................................................................74
Conclusion ............................................................................................................................... 75
IV.l .Dcomposition du problme
Introduction
La mthode des moments a t utilise pour l'tude des antennes et de leurs applications. C'est
une mthode frquentielle base sur la rsolution des quations intgt-ales linaires en courant.
Elle permet de dterminer directement et de manire prcise la distribution du courant dans
les structures linaires tudies et de remonter ensuite au champ rayonn en tout point de
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l'espace.
Dans ce chapitre, nous expliquons comment on obtient l'quztion intgrale rsoudre par la
mthode des moments. Nous notons que cette quation est du type lectrique si la structure est
filaire et elle est du type magntique si la structure est surfacique. Ensuite, nous proposons la
rsolution de cette quation linaire par la mthode des moments. Pour cela, et dans un
premier temps, nous expliquons la technique de la mthode des moments. Ensuite, nous
dcrivons les fonctions bases choisies pour notre rsolution. Pour pouvoir dterminer la
rpartition du courant dans la structure, nous dfinissons les conditions aux limites vrifier
par le courant.
En application de cette mthode nous dcrivons sa mise en oeuvre pour les circuits linaires.
En effet, nous devons tenir compte de la prsence du plan de masse, de composants linaires
et de la topologie du circuit. Cette topologie est gnralement constitue de fils fins, de fils de
connexion des composants et de pistes de circuits imprims. Finalement, nous proposons
l'extension de la rsolution par cette mthode des circuits de l'lectronique de puissance qui
ne sont pas linaires.
Chapitre III
La mthode des Moments et sa mise en oeuvre
I - L'quation intqrale pour l'espace libre
L'quation intgrale du champ lectrique (EFIE) est utilise pour rsoudre les problmes avec
structure constitue de conducteurs fins. Par contre, L'quation intgrale du champ
magntique (MFIE) est utilise pour des structures volumineuses et spcialement avec des
surfaces larges. Pour des structures utilisants les deux types de gomtrie, les deux quations
peuvent tre couples.
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1.1 - quation Intgrale du champ lectrique

[III.11[III.3][III.4]
Considrons une surface S d'un conducteur parfait dans un espace libre. La condition aux
limites, due la continuit du champ lectrique tangent E la surface du conducteur en le
point Ml(rl), s'crit:
~xET=O
(Eq III. 1)
O n est le vecteur normal la surface du conducteur en MI et ET est le champ lectrique
total.
Chapitre III
Le champ total ET se dcompose en une composante incidente Ei et une composante

diffracte ED (figure III. 1):
ET=ED+E~
(Eq 111.2)
La composante ED est dfinie comme le champ produit par tous les courants et charges
prsents dans le conducteur. La condition exprime par (Eq III. 1) et (Eq 111.2) s'crit alors:
nxE~=-nxEi
(Eq 111.3)
ED = - j o A - V < P
(Eq 111.4)
Or, d'aprs la jauge de Lorentz :
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Avec A le potentiel vecteur magntique dfinit par:

(Eq 111.5)
Et CD le potentiel scalaire lectrique dfinit par:

(Eq 111.6)
J(r1) est la distribution de courant sur le conducteur, R est la distance entre le point source et
2n
le point d'observation o le champ est valu, S est la surface du conducteur, k = - est le
facteur d'onde et p est la densit de charge dfinie par:
1
p = - ,-div, (J(r1))
.lu
(Eq 111.7)
En substituant les (Eq 111.3) (Eq III.7), on obtient:
-.ikR
e-jkR
1
n(r) x Ei(r) = j o , u n x j ~ ( - 1 ) - d ~ + - n x v J p - - d ~
E
s
4nR
s 4nR
(Eq 111.8)
Chapitre III
o V est l'oprateur divergence par rapport la variable r. Cette quation est exploite le plus
souvent dans le cas de structures filaires.
Cas d'un fil fin

Dans le cas o le conducteur S est un fil fin de rayon al, nous adoptons les hypothses
suivantes:
Le courant transversal est ngligeable vis vis du courant axial dans le fil.
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La variation circonfrencielle du courant axial est ngligeable.

Le courant dans le conducteur peut tre reprsent par un filament de courant situ sur
l'axe du fil.
La condition limite du champ lectrique est vrifie seulement dans la direction axiale.
Figure 111.2 - Condition limite, fil fin.

Ainsi, en un point Ml situ sur la structure et de coordonne curviligne II, le courant
surfacique peut tre remplac par un courant filamentaire I tel que:
I(11)=2na J(r1)
(Eq III.9)
L'quation (Eq 111.8) devient alors:

(Eq 111.10)
O g est la fonction de Green dfinie dans l'espace comme suit:

(Eq III. 11)
t(1) est le vecteur tangentiel, 1 est la variable le long de l'axe du conducteur (figure III.2), C est
la circonfrence du conducteur et L est un oprateur intgro-diffrentiel lindaire.

La prcision de cette approximation, appele "noyau des fils minces", pour un conducteur de
rayon al et de longueur A ( A doit tre infrieur au dixime de la longueur d'onde) dpend de
(k.aI) et du rapport (Ahl).
Poggio et Adams [III.2] ont montr que cette approximation
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prsente des erreurs infrieures 1% pour N a l suprieur 8, soit (k.al) infrieur 0.08.
Cependant, ils proposent une approximation de fil fin plus pousse appele "noyau exact"
[EL21 qui peut tre utilise pour des fils plus pais et ils ont montr qu'en utilisant cette
approximation plus pousse on obtient des erreurs infrieures B 1% pour B a l suprieur 2.

Le principe de cette approximation "noyau exact" est bas sur l'hypothse suivante: en un
point Ml de la structure, le courant est situ sur la surface du fil de rayon al ( soit le cylindre
l En un point
de rayon al). Le calcul de la fonction de Green g dpend donc du rayon du f ~al.
d'abscisse curviligne 11, la fonction de Green g est donc gale la moyenne pour tous les
points situs sur la circonfrence. Un second avantage de cette mthode consiste viter les
singularits de l'intgrale de la fonction de Green lorsque le point d'observation M est gal au
point d'intgration Ml.
1.2 L'quation intgrale du champ magntique
Soit un conducteur surfacique S. A l'intrieur du conducteur, le champ magntique total est

nul. Comme prcdemment, ce champ se dcompose en un champ incident Hi et un champ
diffract HDd'o l'quation:
Chapitre III
(Eq III. 12)
Ho+Hi=O
4.
En gardant les mmes notations que prcdemment, nous exprimons le champ HD diffract en
un point d'observation M(r), en fonction de la distribution de courant sur la surface du
conducteur J(rl). Soit :
(Eq III. 13)
avec: R=r-rl, Ml(rl) est un point variable l'intrieur de la surface SI et V' reprsente
l'oprateur gradient par rapport la variable rl.
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En faisant tendre le point M vers un point Mo de la surface selon la normale sortante en ro (r

tend vers ro dans les quations suivantes), et en projetant sur la surface, on obtient l'quation:
(Eq III. 14)
soit:
(Eq III. 15)
Cette quation est exploite dans le cas de structures surfaciques.
Cas d'une structure surfacique
Considrons une portion de surface et deux vecteurs tangentiels t~ et
t2
cette surface, en un
point Mo. Soit n le vecteur normal la surface en Mo tel que:
t~(ro)
x t2(ro)= n(ro)
(Eq III. 16)
Chapitre III
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Figure 111.3 - Structure surfacique.
A partie de Eq III.15, on obtient les deux quations suivantes:

1
b(r0).Hi(ro) = --ti(ro). J(ro) 2
J(ri) x V1(-)
1
1
-ti(ro). Hi(ro) = --b(ro) - J(ro) + -jb(ro)
- J(ri)x V1(-)
e-jm
dSi
(Eq III. 17)
(Eq III. 18)
et:
47T s
e- jkR
R
dS1
1.3 L'quation hybride lectrique magntique
Elle est utilise dans le cas de structures constitues des deux sortes de conducteurs: les fils
fins et les surfaces.
Dans l'quation (Eq III. 10) le calcul intgral de EDest effectu seulement sur les conducteurs
fins, alors que l'quation de dpart (Eq III.8) est valable pour tous les conducteurs y compris
les surfaciques. De mme, dans (Eq III. 17) et (Eq III.18), le calcul intgral de HD est effectu
seulement sur des conducteurs surfaciques, alors que dans l'quation globale (Eq III. 16), HD
est celui de tous les conducteurs y compris les conducteurs fins. Ainsi, on doit utiliser une
quation plus gnrale valable pour les deux types de conducteurs.
Pour r la surface d'un fil:
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Pour r situ sur une surface contenant des fils:
e -jkR
( 11) x V ( R
2 )-H i ) =-
(Eq 111.20)
et:
-t(r)Hi(r) t
1
4z
-jkR
)1 1 ) t()xV1(-)
R
fil
(Eq 111.21)
II - Rsolution par la mthode des moments
Les quations intgrales prcdentes sont rsolues par la mthode des moments. Le principe
de cette mthode est dcrit dans le sous paragraphe suivant.
Chapitre III
11.1 Technique de la mthode des moments
La mthode des moments permet la rsolution d'une quation intgro-diffrentielle de la

forme:
Lf=e
(Eq 111.22)
o f est la rponse inconnue, e est l'excitation connue et L est un oprateur intgro-diffrentiel

linaire.
On crit la fonction rsoudrefsous la forme d'une combinaison linaire de fonctions bases fi
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comme suit:
ajfj
(Eq 111.23)
j =1
O Qj sont des coefficients rsoudre.

On considre N fonctions de pondration coi. On effectue le produit scalaire de l'quation (Eq
111.22) par des fonctions poids a i et on obtient:
pour tout i= 1....N,
< C L ) Lf
i'
>=<CL) e >
i'
(Eq 111.24)
Sachant que L est linaire, on obtient en utilisant (Eq 111.23):

pour tout i = l ....N,
(Eq 111.25)
Ces N quations peuvent s'crire sous la forme matricielle suivante:

(Eq III.26)
Avec:
(Eq 111.27)
Chapitre III
Vi= < m i , e >
(Eq 111.28)
La solution est alors sous la forme:

(Eq 111.29)
11.2 Application de la mthode des moments
Nous appliquons cette technique de rsolution aux quations intgrales (Eq III. 19) (Eq III.20)
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et (Eq III.21). Toute la structure tudie est subdivise en petits segments et portions de
surfaces. Les dimensions des subdivisions sont trs ngligeables devant la longueur d'onde.
Le produit scalaire est dfini comme suit:
(Eq 111.30)
La structure est constitue de Nfil segments et de Nsu6surfaces. L'intgrale se fait sur toutes les
surfaces et fils de la structure. La fonction inconnue est l'amplitude des courants dans les
conducteurs filaires Ifilet dans les conducteurs surfaciques IsueOn obtient une quation
matricielle de la forme:
(Eq 111.31)
Gil est
un vecteur colonne de dimension Nfil. IsUg

est un vecteur de dimension 2N.yufil
reprsente les courants Jliet Jzi,avec i=l Nsu+

Efil correspond l'excitation en champ lectrique connue au niveau des conducteurs filaires;
c'est le terme de gauche de l'quation (Eq III. 19).

HSuf correspond l'excitation en champ magntique connue au niveau des conducteurs
surfaciques, c'est le terme de gauche des quations (Eq 111.20) et (Eq 111.21).
A,: est relatif au champ lectrique tangentiel au segment i et cr par le courant du segment j.
La mthode des Momems et sa mise en oeuvre
Chapitre III
D, est relatif au champ magntique tangentiel dans la portion de surface k et cr par le

courant de la surface 1 avec k=(i-1)/2+1 et l=(j-1)/2+1.
B est relatif au champ lectrique cr par le courant surfacique.

C est relatif au champ magntique cr par le courant filaire.
11.3 Choix des fonctions bases et des fonctions tests
Les fonctions bases permettent de dcrire la distribution du courant dans les conducteurs.
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Choisir une fonction base revient dfinir un modle de distribution du courant; ce modle
peut dans certains cas donner une distribution discontinue di1 courant etlou des charges. On
obtient dans ce cas une distribution du courant non physique qui vrifie les conditions aux
limites du champ tangentiel. Dans la plupart des cas, Cette distribution du courant permet un
calcul exact du champ rayonn. De nombreux travaux [III.161[III.171 traitent de la rapidit de
la convergence et de la prcision de la rsolution en fonction du choix des fonctions bases. Le
choix des fonctions bases est donc trs important pour l'efficacit et la prcision de la
rsolution.
Pour simplifier le calcul des produits scalaires, les fonctions bases f j seront choisies nulles
partout sauf au voisinage du noeud j (point situ en rj). Ainsi, la matrice Z est bien
conditionne et facile inverser.
Plusieurs choix sont possibles pour les fonctions pondrations et les fonctions bases. Si les
fonctions bases f j sont gales aux fonctions pondrations ai la mthode est appele mthode
de Galerkin.
Dans notre cas, les fonctions pondrations sont des fonctions Dirac 6 (delta). Nous utilisons
des fonctions bases particulires qui permettent d'assurer la continuit du courant et des
charges dans les conducteurs. En effet, le courant sur chaque segment est reprsent par trois
Chapitre III
termes: une constante, une sinusode et une cosinusode (quation Eq III.32). Cette
reprsentation du courant a t utilise par Yeh et Mei [III.63. Des travaux ont dj dmontr
que cette distribution de courant a l'avantage d'avoir une convergence rapide de la solution
[IIIS]. De plus, le champ produit par un courant sinusodal est facile valuer.
11.4 Rpartition du courant dans la structure filaire
Les amplitudes des diffrents termes de la fonction test (constante, sinus, cosinus) sont
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dtermines de manire ce que leur somme satisfasse les conditions physiques aux limites
du segment. Ces conditions sont lies au comportement physique du courant (loi de Kirchoff)
et des charges (continuit de la charge). Ceci augmente la prcision de la solution surtout dans
le cas de jonctions plusieurs segments de dimensions diffrents.
Le courant total dans un segment numro j est donc de la forme:
(Eq 111.32)
O s est l'abscisse curviligne le long du conducteur, ~jest la valeur de s au centre du segment
2n
j, Aj est la longueur du segment j et k = - est le facteur d'onde.
Pour chaque segment nous avons trois inconnues: Aj, Bj et Cj. Deux de ces inconnues sont
limines en utilisant les conditions locales voques prcdemment (loi de Kirchoff et
continuit de la charge). Il ne reste qu'une inconnue relative au courant. Cette inconnue est
calcule en rsolvant l'quation matricielle obtenue en crivant la condition limite du champ
tangentiel (Eq 111.31).
Chapitre III
11.5 - Conditions aux limites du courant
Les conditions locales sont appliques au courant et la densit de charge linaire q qui sont
relis par l'quation de continuit suivante:
(Eq 111.33)
Dans le cas d'une jonction entre deux segments de mme rayon, l'quation (Eq III.33) exprime
la continuit du courant et de la charge. Dans le cas de jonction de plusieurs conducteurs de
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rayons diffrents, elle exprime la loi de Kirchoff (la somme des courants dans la jonction est
nulle). La charge totale au voisinage de la jonction est distribue sur les diffrents fils en
fonction des rayons de ces derniers, en ngligeant l'effet du couplage local.
T.T. Wu et R.W.P. King rIII.71 ont tabli une condition liant la densit de charge linaire sur
un fil au niveau de la jonction et la drive du courant par rapport l'abscisse curviligne:
(Eq 111.34)
2n
o a est le rayon du fil, k = - et 7 = 0.5772 : constante d'Euler. Q est lie la charge totale
il
au voisinage de la jonction et elle est constante pour tous les conducteurs en la mme jonction.
A une extrmit libre d'un conducteur, le courant peut tre suppose tendre vers O, mais pour
un rayon fini le courant peut circuler jusqu' l'extrmit et ne pas tre nul l'extrmit du
conducteur. En tudiant cet effet, on peut dduire une condition liant le courant l'extrmit
du conducteur la drive du courant. Pour un conducteur de rayon a, cette condition est
[III.20] :
I(s)l,
1' extrmit
-(s
. nc) Ji(ka) dI(s)

k
T
l txtrdmiti
(Eq 111.35)
Chapitre III
JOet JI sont des fonctions de Bessel d'ordre O et 1. Le vecteur unitaire nc est normal la
surface de l'extrmit.
On obtient alors, pour tout segmentj, deux quations relatives aux deux extrmits:
b(s; k A;
Ji(ka;) c?~(s)
= I+l
L--
k Jo(ka;)
as
S=SJ*$
si l'extrmit est libre
(Eq 111.36)
s'il y a jonction l'extrmit (Eq III.37)
Nous remarquons que dans le cas de deux jonctions, nous avons deux inconnues
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supplmentaires Q+ et Q-. Ces deux inconnues supplmentaires peuvent tre limines par
l'quation de Kirchoff du courant chaque jonction.
Les quations de conditions limites donnent donc deux quations supplmentaires par
segment pour permettre de rsoudre l'quation de la fonction du courant (Eq 111.32).
Si un segment est connect un plan de masse, la condition d'extrmit du courant total et de
la dernire fonction base est:

(Eq 111.38)
Cette quation remplace la condition : courant nul l'extrmit libre. Cette condition ne
ncessite pas un traitement spcial. En effet, elle est obtenue en calculant la dernire fonction
base comme si on connectait l'extrmit du segment, un segment image de l'autre cot de la
surface. Nous appliquons donc l'quation (Eq 111.37) avec une charge Q nulle.
11.6 - Calcul du champ rayonn
Aprs avoir calcul la distribution du courant dans la structure, nous calculons le champ
lectromagntique rayonn (d cette rpartition de courant) en n'importe quel point de
Chapitre III
l'espace en utilisant les quations (Eq III.4), (Eq III.5) et (Eq III.6). Dans le cas de champ
lointain, (cas o la distance, entre le point d'observation et le conducteur o le courant circule,
est importante par rapport la longueur d'onde et aux dimensions du circuit) on peut procder
un calcul approch du champ rayonn.
111 Mise en oeuvre de l'application aux circuits linaires
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Comme nous l'avons vu dans les paragraphes prcdents, la mthode des moments ne peut
rsoudre que des problmes linaires. Considrons donc un circuit linaire. Ce circuit est en
gnral constitu de pistes de circuits imprims, de fils de connexions, de composants
linaires tels que les rsistances, les condensateurs et les inductances, de sources de courants
ou de tensions et de plan de masse.
111.1 - La topologie du circuit
La topologie du circuit est constitue de fils cylindriques, de fils de connexions aux

composants et de pistes de circuits imprims. Lors de notre rsolution nous allons choisir la
mthode des moments avec l'approximation fil fin.
Figure 111.4 - Fil fin quivalent une piste de circuit imprim.
La mthode des Moments et sa niise en oeuvre
Chapitre III
Pour une piste de circuit imprim de largeur wl et d'paisseur el, nous calculons le diamtre
2a du conducteur cylindrique quivalent (Figure III.4). Lors de cette transformatioil de la piste
du circuit imprim en un conducteur cylindrique, nous pouvons proposer deux hypothses
diffrentes:
-
Conservation du volume total donc de la surface de la section du conducteur; soit:

w~*e,=n*a*a. Cette hypothse permet la conservation de la rsistance du fil.
Conservation de la surface extrieure du conducteur dcnc cie la circonfrence de la section

du conducteur. Soit: wl+el=n*a. Cette hypothse est trs intressante surtout dans le cas
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de l'approximation "noyau exact" o nous supposons que ie courant passe au niveau de la

circonfrence du fil (rejoint le principe de l'effet de peau).
Afin de ne pas privilgier une hypothse par rapport une autre, nous allons utiliser un rayon
quivalent gale la moyenne des deux rayons calculs par les deux hypothses prcdentes.
Le rayon quivalent est donc calcul en utilisant la formule suivante:
(Ey 111.39)
Le nouveau conducteur cylindrique sera utilis pour l'approximation fil fin. Lors de l'tude de
la topologie, nous supposons que la structure est constituv: de conducteurs lectriquement
parfaits. Notre modle peut tre tendu la modlisation de conduct~ursimparfaits. En effet,
si notre structure est constitue de conducteurs de conductivit finie o et d'giiisser d , la
surface, la composante tangentielle du champ lectrique total est gale ZsJ. L'quation de
continuit (Ey III. 1) est donc remplace par :
n x ET = Zs[n x Js]
(Eq 111.40)
1
o Zs = - est l'impdance linaique la surface du conducteur o l'quation de continuit
od
est applique. La rsolution est identique celle des conducteurs parfaits. Le terime de droite
Chapitre III
de cette nouvelle quation (Eq III.40) est exprim en fonction des valeurs des courants aux
noeuds et rintgr dans le terme de gauche. LR seul changement intervient alors au niveau de
la matrice d'impdance.
Nous pouvons tenir compte de la conductivit du matriau par une autre mthode; il suffit de
rajouter, entre deux noeuds conscutifs d'une mme piste, une rsistance de valeur gale au
produit de la rsistivit par la distance entre les deux noeuds.
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111.2 Les composants linaires
Dans le circuit, si nous avons un composant linaire Zositu au noeud d'indice k, La procdure
est la mme que prcdemment (quation (Eq III.40)). Au noeud d'indice k, la composante
tangentielle du champ lectrique total est gale au produit de l'impdance Zo par la valeur du
courant au noeud.
Du point de vue pratique, nous rajoutons simplemerit la valeur de l'impdance Zo du
composant au terme Z,, de la matrice d'impdance. Soit:
(Eq 111.41)
Nous obtenons, ainsi, une nouvelle matrice impdance constitue d'une partie due aux
diffrents couplages dans la structure et d'une partie constitue des composants discrets dans
le circuit.
k a mthode des Moments et sa mise en oeuvre
Chapitre III
111.3 Le plan de masse etlou le sol
L'existence d'un plan de masse dans notre structure modifie la rsolution de trois manires. En
effet, elle modifie la distribution du courant dans le cas d'interaction en champ proche, ensuite
elle modifie le champ qui illumine la structure et ainsi le champ rayonn [III.1O].
La prise en compte de la prsence du plan de masse peut se faire par trois mthodes
diffrentes:
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a. Mthode de la thorie des images
C'est la mthode que nous allons utiliser car c'est la plus simple mettre en oeuvre. Elle est
utilise pour modliser l'existence d'un sol parfait. Nous supposons donc que le plan de masse
est parfaitement conducteur et que ses dimensions sont trs importantes compares celles de
la structure (dimensions infinies). La ralisation de cette mthode peut se faire de deux
manires. La premire mthode consiste rajouter une topologie et des sources symtriques
par rapport au plan de masse. La seconde mthode est utilise dans le cas de dimensions
importantes, afin de remdier des problmes de mmoire et de temps de calcul. Elle consiste
modifier seulement la fonction de Green projet (Dyade) en respectant la position de la
structure par rapport au plan de masse. Cette mthode ne fait que doubler le temps de calcul
du champ.
b. Mthode des coefficients de rflexion
Dans le cas d'un plan de masse de dimensions finies, la rsolution est la mme que
prcdemment, sauf que cette fois ci, l'image du champ rayonn est modifie par les
Chapitre III
coefficients de rflexion de l'onde plane de Fresnel. Ces coefficients dpendent de la

polarisation de l'onde et de l'angle d'incidence. Cette mthode est deux fois plus rapide que
celle de Sommerfeld-Norton dcrite dans la suite.
Cette mthode est valable si la hauteur au-dessus du plan de masse est suprieure des
valeurs limites qui sont calcules en fonction de la longueur d'onde et des caractristiques du
milieu [III.8].
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c. La mthode de Sommerfeld-Norton
Cette rsolution est utilise dans le cas de formalisme exact en la prsence d'un sol homogne,
imparfaitement conducteur, caractris par une permittivit dilectrique
E,
une permabilit
magntique p, et une conductivit o.

Le principe de cette mthode est de ramener le problme avec sol homogne un problme
avec dilectrique dont la permittivit est un nombre complexe qui tient compte des
caractristiques du sol [III.151. Ensuite, le formalisme d'une interface avec dilectrique est
appliqu. Ainsi, la rsolution dpend de nouvelles valeurs qui sont en gnral rajoutes au
niveau de la fonction de Green. Ces valeurs sont appeles Intgrales de Sommerfeld et elles
sont lourdes calculer. Ces intgrales sont values numriquement, si la distance
d'interaction est faible. Cependant, pour des distances plus importantes on utilise la mthode
des approximations de Norton.
Chapitre III
111.4 Les sources d'excitation
En fonction du cas tudi, nous pouvons introduire deux types de sources d'excitation:
Champ incident: c'est le cas d'tude de la susceptibilit lectromagntique. La structure est
soumise un champ lectromagntique incident. Le but de l'tude est de dterminer la
distribution du courant induit dans la structure.
Source d'excitation interne au
circuit: c'est le cas
d'tude du
rayonnement
lectromagntique. Dans le circuit, nous disposons d'une source de courant ou de tension
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hautes frquences. Le but de l'tude est de dterminer le champ diffract (champ rayonn
par la structure).
Dans l'quation matricielle rsoudre (Eq III.31), le terme source est quivalent un champ
lectrique ou magntique incident. 11 faut donc exprimer l'excitation sous forme de champ
lectrique ou magntique.
Pour une source de tension d'amplitude V au segment numro k, de longueur Al, correspond
l'lment Ek du vecteur excitation. Ek est le champ lectrique calcul partir de V en utilisant
l'quation suivante:
(Eq 111.42)
Le champ lectrique Ek est orient vers la borne positive de V (Ek entrane les charges dans la
mme direction que la source). S'il n'y a pas d'autres sources de courant, les autres termes du
vecteur excitation sont nuls.
Le modle de champ prcdent dpend de la longueur du segment Al, et ncessite l'galit des
segments dans la structure. Afin d'viter cette contrainte nous allons utiliser un modle de
source dvelopp par Andreasen et Harris [ID.181 et identifi par la discontinuit de la drive
du courant aux bornes de la source. Dans ce modle, la rgion de la source de courant apparat
Chapitre III
comme une ligne de transmission biconique avec un point d'alimentation au point de

localisation de la source (figure 111.5).
Figure 111.5 - Modle de la source d'excitation.

La diffrence de potentiel entre un point la surface S et son symtrique de l'autre cot de la
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ligne est lie la drive du courant par l'quation de la ligne de transmission

(Eq 111.43)
o Z, est l'impdance caractristique de la ligne de transmission. Z, est lie la moiti de
l'angle O par l'quation suivante:
Ze = 120ln(cot g($ ))
(Eq 111.44)
La source d'excitation est ainsi ramene un modle de source de courant par l'intermidiaire
de 2,.
Pour une source de courant d'amplitude I au segment numro k, la procdure est la suivante:
en chaque noeud de la structure, nous calculons le champ lectrique rayonn par ce courant.
Le champ lectrique obtenu reprsente le vecteur source d'excitation qui sera utilis pour la
rsolution matricielle.
111.5 - Limites de la mthode des moments
L'valuation des diffrentes expressions intgrales et diffzrentielles dveloppes dans les

quations rsoudre ne peut pas se faire directement sur calculateur. Une mise en forme de
Chapitre III
ces quations est ncessaire. Cette mise en forme consiste gnralement faire un
dveloppement limit en srie de Taylor des fonctions complexes et de procder ensuite
l'intgrale ou la drive de ces fonctions. Ceci est possible en adoptant des hypothses sur
les diffrentes grandeurs caractristiques telles les dimensions des fils conducteurs par rapport
la longueur d'onde. De plus le modle fil fin ne peut tre appliqu que dans certaines
conditions. D'autre part, le choix des fonctions bases et tests conditionne la convergence et la
prcision de nos rsultats.
Ainsi, l'exactitude des rsultats ne peut tre assure que dans les cas suivant:
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La longueur des segments de la subdivision A est infrieure au dixime de la longueur

d'onde h (approximation fil fin).
La longueur des segments de la subdivision A est au moins deux fois plus leve que le
rayon du fil a1 (approximation noyau exact).
Si un fil est parallle au plan de masse, la distance entre son axe et le plan de masse est
(hypothse de calcul).
suprieure 10.~1
Les dimensions du circuit sont suprieures 1 0 " ~(notre choix des fonctions bases). En
l'absence de cette condition et dans le cas de circuits sans composant linaires le modle de
la distribution du courant prsente des erreurs.
IV - Extension de l'application aux circuits non linaires
[DI. 191
Considrons un circuit quelconque de convertisseur statique. Comme le montre la figure III.6,
ce circuit est constitu de composants linaires et de composants non linaires.
Plan de masse/
~ i l e c t r i ~/
ue
Figure 111.6 - Circuit type de convertisseur statique.
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On appelle partie linaire du circuit tout le circuit sauf les composants non linaires. Le circuit
peut tre dcompos en un systme linaire et un systme non linaire (voir figure 111.7).
Figure 111.7 - Dcomposition du Circuit en systme linaire et systme non linaire.
La mthode des moments est une mthode frquentielle; elle ne permet pas la modlisation
des composants actifs qui ont un comportement non linaire. Ainsi, son application aux
circuits de l'lectronique de puissance ncessite une phase de linarisation du problme.
IV.l
- Dcomposition du problme
Dans le circuit de convertisseur statique, les composants actifs, cause de leurs

commutations, sont les sources de perturbations lectromagntiques. Ils gnrent des
Chapitre III
perturbations Hautes Frquences dans les boucles de commutations. Ils reprsentent, ainsi, les
seules sources d'excitation du circuit; ces sources couvrent toutes les frquences. La
linarisation du problme doit, par consquent, se faire au niveau de ces composants.
La diffrence de potentiel aux bornes des composants non linaires dans le domaine temporel
peut tre dcompose en une somme, sur toutes les frquences, de signaux sinusodaux
chacun ayant une pulsation propre (principe de la dcomposition en srie de Fourrier) (voir
figure III.8). Chaque signal sinusodal reprsente une source d'excitation du circuit la
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frquencef considre.
Composant
non linaire
Figure 111.8 - Linarisation de la source de perturbation.
A une frquencefo, le circuit est quivalent la partie linaire du circuit excite au niveau des
composants non linaires par le gnrateur de perturbation frquentiel (de frquence fo)
dtermin comme dcrit prcdemment (voir figure III.9). Chaque partie linaire est
constitue de la topologie du circuit, du plan de masse et des composants passifs.
gnrateurs
de
perturbation
quivalents (fo)
Figure 111.9 - Circuit quivalent la frquencefo.
Chapitre III
Chaque gnrateur est quivalent une partie source d'excitation modlise par une onde
lectrique quivalente et une impdance situe au niveau du composant actif. Cette impdance
peut tre gale au condensateur de transition du composant.
Le circuit quivalent de la figure III.9 est linaire et sa rsolution peut se faire par la mthode
des moments.
Le rayonnement du circuit de convertisseur statique de la figure III.6 est gal la somme sur
toutes les frquences fodes rayonnements de tous les circuits quivalents de la figure 111.9.
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IV.2 Rsolution du problme global
La rsolution du problme global se fait donc selon les tapes dcrites dans la figure 111.9.
Circuit de
convertisseur statique
t
Rsolution temporelle
avec un
simulateur de circuits
' -i- - -
Prototype I
I exprimental,
k
- ,,
.............
,
,
La mthode des
moments
i
Diffrence de potentiel aux bornes
des composants non linaires
(domaine temporel)
Vecteur tension d'excitation

pour chaque frquence
Figure 111.9: Les tapes de la rsolution. Couplage Moment - Simulateur de circuits.
A l'aide d'un simulateur de circuits, et connaissant les composants parasites du circuit on
dtermine la diffrence de potentiel aux bornes des composants non linaires. Chacun de ces
Chapitre III
signaux temporels est dcompos en une somme de gnrateurs de perturbations frquentiels

l'aide d'une transformation temporelle-frquentielle. A chaque frquence fo, l'aide du circuit
linaire quivalent nous effectuons la rsolution du problme linaire en utilisant la mthode
des moments comme nous l'avons dcrit dans le paragraphe prcdent. Pour cette dernire
rsolution, le vecteur tension excitation utilis est dtermin partir des valeurs des
gnrateurs de perturbations frquentiels. Si nous disposons d'un prototype exprimental nous
pouvons l'utiliser pour prlever directement la diffrence de potentiel aux bornes des
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composants non linaires.
Conclusion
La mthode des moments permet la rsolution de problmes de rayonnement et de

susceptibilit de structures surfaciques. Elle permet d'aboid de calculer la distribution de
courant dans la structure et ensuite, de calculer le rayonnement d ce courant.
l'application de cette mthode aux problmes de circuits linaires tient compte de la prsence
de pistes de circuits imprims, de conducteurs fins et de composants linaires. La prsence du
plan de masse ou du sol peut tre modlise par trois mthodes diffrentes, dont le choix
dpend du cas tudi et de la prcision souhaite.
La mthode des moments ne permet pas la modlisation de composants actifs dont le
comportement est non linaire. Ainsi, son application aux circuits de l'lectronique de
puissance ncessite une phase de linarisation du problme. Cette linarisation peut se faire en
utilisant une rsolution temporelle.
Chapitre IV
TECHNIQUES EXPERIMENTALES
introduction .............................................................................................................................77
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78
I .METROLOGZE EN MATZERE DE CEM ........................................................................
1.1 .Mesure des grandeurs lectriques
.............................................................................................. 78
1.1 .La sonde de tension ..................................................................................................................................79

1.2 .La sonde de courant..................................................................................................................................80
.............................................................80
1.2 .Mesure des grandeurs lectromagntiques rayonnes
2.1 .Les antennes de mesure ...........................................................................................................................

80
2.2 .L'analyseur de spectre...............................................................................................................................
81
2.3 - Configuration de la mesure du champ rayonn.........................................................................................
83
.....................................................................................85
ZZ .LE PROTOTYPE DE L'ETUDE ......................................................................................86
1.3 .Prcautions prendre lors des mesures
.............................................................................................86
11.2 .Dimensionnement du hacheur ................................................................................................... 87
11.3 .Analyse fine de la commutation du hacheur ............................................................................ 88
11.1 .Le hacheur commutation force
3.1 .Le mcanisme de Blocage B ..................................................................................................................90

94
3.2 .Le mcanisme de l'Amorage A ...............................................................................................................
Conclusion ...............................................................................................................................98
Introduction
Les mesures en CEM sont trs dlicates et posent beaucoup de problmes. En effet, Il est
assez facile d'obtenir des rsultats de mesures. Cependant, il est trs difficile de savoir
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exactement ce que l'on a mesur et donc difficile d'affirmer que les rsultats obtenus
correspondent ce qu'il fallait mesurer. Ces problmes de mesures sont lis au site(bruit
ambiant), la disposition des appareils, au choix des bandes, au circuit sous test, etc..
En premire partie, dans ce chapitre nous introduisons la mtrologie en matire de CEM en
prsentant les diffrents moyens de mesure des grandeurs lectriques et lectromagntiques.
Ensuite, nous donnons quelques prcautions prendre lors des expriences afin de minimiser
les risques de tomber dans les piges de la mesure en CEM.
Le choix du circuit utiliser pour les validations exprimentales est trs important. En effet,
ce dispositif dcoupage doit tre simple afin de faciliter la modlisation numrique.
Cependant, il doit tre complet afin de reprsenter la majorit les circuits de l'lectronique de
puissance. Dans le but de s'assurer de l'exactitude des mesures des grandeurs lectriques, de
bien comprendre la gnration des signaux parasites et de localiser les sources de
perturbations nous allons nous intresser au fonctionnement du circuit et plus prcisment
nous allons procder l'analyse fine de ses commutations.
Chapitre IV
Techniques experimentales
I - METROLOGIE EN MATIERE DE CEM
Dans notre tude, nous avons mesurer deux types de signaux: Les signaux temporels qui
sont dans notre tude relatifs des grandeurs lectriques et les signaux frquentiels qui sont
relatifs des grandeurs lectromagntiques. La mesure des signaux temporels se fait l'aide
d'un oscilloscope numrique. Celle des signaux frquentiels se fait l'aide d'un analyseur de
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spectre.
1.1 Mesure des grandeurs lectriques
Il est important de pouvoir mesurer les diffrentes grandeurs lectriques du circuit afin de
comprendre le fonctionnement du circuit et de pouvoir mieux localiser les sources de
perturbations. D'autre part, les rsultats de mesure des grandeurs lectriques pourront tre
compares aux rsultats de simulation du circuit sur des logiciels type circuit.
Pour les circuits de l'lectronique de puissances, les grandeurs lectriques mesurer varient de
quelques ampres des centaines d'ampres pour le courant, et des dizaines de volts des
centaines de volts pour la tension. Ces grandeurs prsentent des oscillatims hautes frquences
qui interviennent lors de notre tude.
L'insertion de capteurs de mesure peut perturber le fonctionnement interne du circuit. En effet,
un couplage parasite entre le circuit et le capteur de mesure est cr. Ce couplage dpend des
positions relatives de ces derniers. Il faut donc s'intresser la disposition des appareils de
mesures et la connexion entre la sonde de mesure et le circuit.
'
Chapitre IV
1.1 La sonde de tension
Le capteur de tension est constitu d'un diviseur de tension type RC (figure IV.l).
L'impdance de connexion de l'oscilloscope dpend de la longueur du fil de connexion de la
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sonde et de sa position.
Figure IV. 1 - Schma quivalent de la sonde de tension.

L'inductance parasite L due a l'introduction de la sonde de tension va crer un rgime
oscillatoire dans le circuit de mesure. La valeur de cette inductance est de l'ordre de 10 15nH
pour une longueur de fil de lcm. Il faut minimiser cette inductance en minimisant la longueur
de la connexion. D'autre part, la boucle cre par les deux fils de connexion de la sonde et le
circuit, reprsente une antenne en champ magntique H. De mme, il faut minimiser les
dimensions de cette boucle (figure IV.2).
Sonde de tension
\
Boucle en champ H
Figure IV.2 - Le couplage circuit-sonde de tension.
Chapitre IV
1.2 - La sonde de courant
Le capteur de courant est constitu d'une sonde active dont la bande passante est du continue
jusqu' 5OMHz. Son principe de fonctionnement est celui d'un transformateur de courant dont
le primaire entoure le conducteur o circule le courant mesurer. La prsence de la sonde
effet hall provoque un couplage par diaphonie inductive et capacitive, ainsi qu'un filtrage des
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basses frquences.
1.2 - Mesure des grandeurs lectromagntiques rayonnes.
2.1 - Les antennes de mesure
La mesure des grandeurs rayonnes se fait par le biais d'antennes. Ces antennes transforment
l'nergie rayonne en une diffrence de potentiel que l'on peut mesurer aux bornes d'unr
rsistance de 50
R, soit avec un oscilloscope soit avec un analyseur de spectre CrV.81. La
d.d.p. mesure est lie l'nergie rayonne par un facteur d'antenne qui dpend en gnral de
la frquence.
Pour la mesure du champ lectrique nous disposons des antennes suivantes:
Antenne fouet: bande de frquence lOkHz - 30MHz.
Antenne bionique: bande de frquence 30MHz - 200MHz.
antenne log-pridique: bande de frquence 200MHz - 1 GHz.
Pour une grande partie de nos mesures, nous avons utilis l'antenne fouet. Pour s'assurer de
l'exactitude de nos mesures, nous avons procd nous mme l'talonnage de cette antenne
l'aide d'une antenne active.
Chapitre IV
2.2 L'analyseur de spectre
L'analyseur de spectre permet la dcomposition d'un signal temporel en composantes

frquentielles. C'est un rcepteur htrodyne: Le signal d'entre est attnu, mlang un
oscillateur local vobul en frquences. Le signal rsultant de !a multiplication est ensuite filtr
l'aide d'un filtre passe bande. La bande du filtre est centre sur une frquence fixe FI. Le
signal filtr est appliqu un dtecteur d'enveloppe afin d'tre ensuite visualis en vertical sur
un cran (figure IV.3). L'axe des frquences de l'cran est synchronis avec l'oscillateur
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command par le gnrateur de balayage.
Mlangeur
Filtre F.I.
Dtection
Attnuateur
Filtre Vido
Affichage
Figure IV.3 - Structure de l'analyseur de spectre.

Notre banc de mesure comporte :
Un rcepteur ESH3 9kHz-30MHz.
Un rcepteur ESVP 30MHz-1.2GHz.
Un moniteur et contrleur de process pour le dpouillement et la reprsentation graphique.
Un logiciel d'application pour le contrle des mesures partir d'un ordinateur.
L'analyseur de spectre permet la prise en compte, lors des mesures, du facteur d'antenne. Ce
dernier est rentr en fonction de la fiquence, lors de la dfinition des conditions de mesures.
Chapitre IV
Le choix des paramtres de mesure:
Les rglementations internationales en matire de CEM dfinissent les rglages effectuer sur
l'analyseur de spectre afin de fixer les conditions de mesures pour tous les utilisateurs. Ces
conditions sont les suivantes:
La bande passante du filtre
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Les bandes passantes choisies lors de nos mesures sont les suivantes (norme GAM-EG-13):
Frquence de mesure
Bande passante du filtre
10 kHz - 25OkHz
1kHz
25OkHz - 30MHz
1OkHz
3OMHz - 1GHz
1OOkHz
Tableau IV. 1 - Les bandes passantes des filtres.

On remarque que pour ces mesures la bande passante est infrieure ou gale la frquence de
dcoupage du circuit sous mesure (100kHz). Nos mesures sont effectues en bande troite (le
spectre frquentiel est entirement contenu dans la bande passante de mvsure).
Le mode de dtection
Il existe plusieurs type de dtection. Nous pouvons citer:
- La dtection en valeur moyenne: elle permet la dtection de la valeur moyenne du signal
d'ente. Elle est en gnral utilise pour les signaux sinusodaux sans suppression de la
porteuse. Elle prsente l'inconvnient d'attnuer les impulsions.
-
La dtection en valeur crte: elle permet l'obtention de la valeur crte du signal d'entre. Elle
est plus prcise que les autres modes de dtection, car la tension due au bruit de la sortie du
dtecteur d'enveloppe n'est pas prise en compte.
-
La dtection C.I.S.P.R.: c'est une dtection quasi-crte, elle est surtout utilise pour les
normes radiolectriques.
Chapitre IV
La dtection en valeur M.I.L.: c'est la valeur crte du signal d'entre sous forme de densit
spectrale d'impulsion pour chaque fentre.

La vitesse de balayage du spectre
Elle est dfinie par deux paramtres qui sont le pas frquentiel et le temps de mesure pour
chaque acquisition. Le pas frquentiel doit tre infrieur ou gal la bande passante du filtre
afin d'avoir une bonne rsolution. De mme, il faut que la vitesse de balayage soit infrieure
au carr de la bande passante [IV.3]. Soit:
-
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Vite~~eguluyuge
-
pas freq.
<
temps aquis.
a an de passante)2
(IV. 1)
Il est important de signaler que lors des mesures, il faut minimiser l'attnuation afin
d'augmenter la prcision des mesures. Il faut donc avoir un rapport signallbruit le plus lev
possible. Cependant, il ne faut pas saturer l'entre de .l'analyseur, sinon on procde la
distorsion du signal.
2.3 - Configuration de la mesure du champ rayonn
L'quipement sous test est un convertisseur de puissance. Afin de protger le convertisseur des
perturbations extrieures, nous utilisons une commande isole et alimente par des batteries.
Le signal de commande est transmis par le biais de la fibre optique. Pour mesurer les
perturbations conduites nous utilisons un Rseau de Stabilisation de l'Impdance de Ligne
(figure IV.4) CIV.61. Le circuit du convertisseur est isol en le plaant sur une large plaque de
cuivre lie la terre.
Les mesures sont effectues dans une cage de Faraday dont les dimensions sont 7x4x3m. Le
gnrateur continu ainsi que la chane de mesure sont placs l'extrieur de la cage pour que
Chapitre IV
leur fonctionnement ne perturbe pas les mesures (figure IV.5). Les appareils de mesure sont
aliments travers un transformateur d'isolement avec un cran li la masse.
50nH
220nF ==
=-
8CiF
50 R
Alimentahon
CIICUI~
SOUS test
50 R
220nF==
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
50nH
Figure IV.4 - Le schma du RSIL.

CAGE DE FARADAY
CONVERTISSEUR
DE PUISSANCE
ernent sous test
1 Signal fibre optique
r-z-l
GENERATEUR
Figure IV.5 - Configuration de la mesure du champ rayonn.

Les dispositions de l'antenne de mesure et de l'quipement sous test sont spcifies par les
normes de mesure CEM. Pour nos mesures nous avons choisi la norme GAM-EG13 (figure
IV.6). L'antenne de mesure en champ lectrique est situe 1m du circuit sous test.
Chapitre IV
Gnrateur DC
Analyseur
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
0.5m<L<l rn
Figure IV.6 - Disposition de mesure en champ lectrique selon la norme GAM-EG13.
1.3 Prcautions prendre lors des mesures
Afin de s'assurer de l'exactitude de nos mesures, nous nous sommes attards vrifier les
points suivants:
-
Les amplitudes des champs magntique et lectrique de la salle sont ngligeables avant et
pendant les essais.

- Les rflexions sur les parois de la cage, et les perturbations gnres par les appareils de
mesures sont faibles.

- Les enregistrements doivent tres rptitifs et raliss des instants distincts durant la
journe.
- La distance entre le circuit et l'appareil de mesure ou l'antenne est assez importante pour que
le couplage ne modifie pas les mesures.
Chapitre IV
Lors de l'utilisation des sondes de tension, il faut minimiser la longueur du fil de masse et la
surface de la boucle cre par la sonde (torsader le fil de masse autour du corps de la sonde
par exemple).
- Les sondes de mesure ne doivent pas tre perturbes par le rayonnement extrieur.
-
La frquence d'chantillonnage de l'appareil de mesure doit tre assez importante pour ne pas
masquer les frquences leves.
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II - LE PROTOTYPE DE L'ETUDE
Pour valider nos rsultats numriques, nous allons utiliser la maquette d'un convertisseur dj
tudi dans notre laboratoire [IV.2][IV.3].Ce convertisseur reprsente une cellule de
commutation simple et complte la fois (CALC et crteur).
11.1 Le hacheur commutation force
Le prototype utilis lors des mesures est un hacheur commutation force. La cellule de base
de ce montage est constitue d'un transistor MOSFET T et d'une diode de roue libre DRL
(figure IV.7). La charge fortement inductive en sortie est quivalente une source de courant
IO.
Figure IV.7 - Cellule de base du montage tudi.
86
Chapitre IV
Les phases d'amorage et de blocage de ce hacheur sont forces par la commande applique
au niveau de la gchette du MOSFET. Afin de minimiser les pertes et de protger le MOSFET
lors des commutations, nous utilisons un circuit d'aide la commutation (C.L.A.C.). Ce
circuit est constitu de la diode D l , du condensateur C l et de la rsistance RI. De mme, pour
protger le MOSFET des surtensions, nous utilisons un crteur de tension. Ce circuit est
constitu de la diode 0 2 , du condensateur C2 et de la rsistance R2. L'entre du circuit est
dcouple par un condensateur en propylne Ce de 10,uF. Le schma du montage tudi est
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donn en figure IV.8.
Figure IV.8 - Schma du montage tudi.
11.2 Dimensionnement du hacheur
Le montage doit pouvoir commuter lOOV sous 10A. Cette commutation se fera une
frquence fixe de lOOkHz et avec un rapport cyclique de 0.5. Le transistor doit donc supporter
120V (surtension de 20%) et faire passer IOA. Nous choisissons donc le IRFP250 (200V-33A).
Pour la diode nous choisissons la BYW77 (200V-20k). Le rle de l'inductance L est de limiter
la variation temporelle du courant de drain du transistor. Cette variation est limite 5OMps.
Or, LdIds/dt<lOOV, nous choisissons donc une inductance de 2pH. Le rle du CALC est de
limiter le gradient temporel de la tension Vds du transistor, lors du blocage, lkV/ps. Pour un
courant nominal de IOA, nous choisissons un condensateur C l de valeur gale 1OnF.
L'crteur doit limiter les surtensions aux bornes du transistor 20%. Cela est ralis pour une
valeur de R2 gale 4 0 0 et un condensateur C2 de 140nF. Le circuit est imprim sur un
dilectrique et est support par un radiateur connect la masse qui permet le refroidissement
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du transistor et de la diode.
11.3 Analyse fine de la commutation du hacheur
Cette analyse est ncessaire pour la bonne comprhension du fonctionnement du circuit et la

dtermination les diffrents couplages dans le circuit. Elle nous permettra la localisation des
sources de perturbations lectromagntiques.
I
Radiateur connect la masse
Figure IV.9 - Schma du hacheur commutation force avec les composants parasites.
Chapitre IV
Pour pouvoir analyser le fonctionnement du circuit nous nous intressons tous les
composants du circuit, y compris les inductances et les condensateurs parasites. Le schma
tenant compte des composants parasites est prsent en figure IV.9. Lors du fonctionnement,
La commutation se fait selon deux mcanismes diffrents: le blocage et l'amorage du
transistor.
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Phase
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B1
B2
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B3
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......
0.8
1.2
B4
Figure IV. 10.a - Blocage du hacheur. Rsultats exprimentaux.
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Chapitre IV
5
10
a
V
5.2
5.4
5.6
5.8
6.2
6.4
6.6
1
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6.4
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-60
5.2
Phase B:
...............
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5.4
5.6
5.8
B2
6.6
t (e-6s)
B3
j..............
6.2
6.4
6.6
B4
Figure IV. 1O.b - Blocage du hacheur. Rsultats numriques.
3.1 Le mcanisme de Blocage B
Les courbes concernant ce mcanisme sont prsentes en figures IV.10.a et 1V.lO.b. La figure
IV. 1O.a reprsente les rsultats exprimentaux mesurs sur la maquette. La figure IV. 1O.b
Chapitre IV
reprsente les rsultats de simulation du montage l'aide du logiciel PACTE prsent en

Chapitre 1 [IV.7]. Outre la concordance des rsultats numriques avec les rsultats
exprimentaux, l'observation de ces courbes nous permet de remarquer que cette commutation
se dcompose en quatre phases. Dans ce qui suit, nous essayons de retrouver de manire
thorique ces diffrentes phases de commutation.
Cette phase commence lorsque la tension de gchette Vgs devient ngative. La diode DRL
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tant bloque, la diode Dl commence conduire. Nous obtenons le circuit oscillant de la

Figure IV.ll. Ce circuit excit par un courant constant IO de la charge est compos des
inductances lk et lc et les condensateurs C l et Cds (condensateur drain-source du transistor).
Figure IV. 11 - Schma lectrique de l'tape B 1 (boucle du CALC).

La capacit Cds est plus importante que la capacit C l . La pulsation d'oscillation de cette
phase est donc:
2
O ,=
1
(lc + 1 k ) ~ d s
Cette phase a lieu jusqu' ce que la tension Vds atteigne la valeur de la tension d'alimentation
Chapitre IV
Phase B2:
Cette tape commence au moment o la tension Vds dpasse la tension d'alimentation et donc
on observe une surtension aux bornes du transistor.
Vds=E+AE
(IV.3)
Cette surtension est due la variation du courant dans l'inductance L. La diode DRL est
soumise une tension Anode-Cathode positive et commence donc conduire. De mme, 0 2
conduit et le courant dans C2 augmente pour atteindre IO. En mme temps, dans la boucle du
CALC, Le courant dcrot. La tension Vds est constante. Nous obtenons le circuit oscillant
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suivant:
C2
Figure IV. 12 - Schma lectrique de l'tape B2 (boucle CALC + crteur).

La pulsation d'oscillation de cette phase est de l'ordre de 30MHz et est calcule par l'quation
suivante(C2< <Cds et C l <<Cds):
Phase B3:
C'est la suite de la phase B2, et on a toujours la mme valeur de Vds. Cette phase commence
avec le blocage de la diode D l . Le courant circule dzns la boucle de l'crteur. Le courant de
la diode 0 2 continue diminuer pour augmenter dans la diode de rouc libre DRL. Le circuit
oscillant est donc le suivant:
Chapitre IV
Figure IV. 13 - Schma lectrique de l'tape B3 (boucle de l'crteur).

La pulsation d'oscillation de cette phase est donc(C2ccCds):
2
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W2 =
1
(le +t1k)cds
Cette phase se termine ds que le courant du drain du transistor s'arrte s'osciller.
Phase B4:
Cette phase est caractrise par un rgime transitoire entre la boucle de la phase prcdente et
la source E. Elle termine la dcharge du condensateur C2 et donc elle termine l'tape
d'crtage. Cette phase se termine au moment o Vds=VC2=E. La figure IV.14 reprsente
cette tape.
Figure IV. 14 - Schma lectrique de l'tape B4 (fin de l'crtage).

Contrairement aux tapes prcdentes, lors de cette tape nous n'observons pas d'oscillations.
Chapitre IV
3.2 - Le mcanisme de l'Amorage A
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6.2
6.4
A3
Figure IV. 15.a - Amorage du hacheur. Rsultats exprimentaux.

Les courbes concernant ce mcanisme sont prsentes en figures IV. 15.a et IV. 15.b. La figure
IV.15.a reprsente les rsultats exprimentaux mesurs sur la maquette. La figure IV.15.b
reprsente les rsultats de simulation du montage l'aide du logiciel PACTE. De mme que
dans le paragraphe prcdent, l'observation de ces courbes nous permet de remarquer que cette
Chapitre IV
commutation se dcompose en trois phases. Dans ce qui suit nous essayons de retrouver de
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
manire thorique ces diffrentes phases de commutation.
Chapitre IV
Techniques exverimentales
seuil de commutation. Le courant commence augmenter dans le transistor. Sa croissance est

contrle par l'inductance L. Le courant de roue libre commence dcrotre. Les
condensateurs de structure des diodes CtDl et CtD2 vont crer un rgime oscillatoire avec les
inductances lk, lc et le. En effet, la variation rapide de Vds modifie l'tat de charge de ces
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diodes. La frquence d'oscillation est de l'ordre de 5OMHz. La figure IV. 16 illustre cette tape.
Figure IV. 16 - Schma lectrique de l'tape A l .

Ce rgime oscillant est d'autant plus important que la vitesse de commande de la fermeture du
transistor est importante. Cette phase se termine lorsque la tension Vds devient nulle. Dans ce
cas, le transistor est remplac par sa rsistance de conduction Rdsorz.
Phase A2:
Figure IV. 17 - Schma lectrique de l'tape A2.
Cette tape concerne la priode de recouvrement de la diode de roue libre. Elle est caractrise
par l'apparition d'un rgime oscillatoire hautes frquences (de l'ordre de 25MHz) au niveau de
cette diode. Ceci est d au courant inverse dans celle-ci (de l'ordre de 2A). La figure IV.17
reprsente cette tape.
Le rgime oscillant observ est d l'apparition de l'inductance de connexion de la diode DRL
et de la charge lcd. La pulsation d'oscillation de cette phase est donc:
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
(IV.6)
Phase A3:
Cette tape concerne la priode de dcharge du condensateur C l travers RI et L. Cette
dcharge se fait une constante de temps assez importante et ne cause donc pas d'oscillations
hautes frquences. Le courant travers le transistor est gal :
Ids = IO+ AIcalc

La figure IV. 18 illustre cette tape.
Figure 18 - Schma lectrique de l'tape A3.

Cette tape s'achve lorsque le courant conduit par le transistor Ids revient la valeur IO.
Chapitre IV
Conclusion
Les mesures en CEM sont trs dlicates. Il est ncessaire de disposer de matriel spcifique
pour ces mesures et d'entreprendre des prcautions particulires afin d'assurer l'exactitude des
rsultats.
Pour les validations exprimentales nous avons choisi le circuit d'un hacheur commutation
force. Nous avons tudi la commutation fine de ce convertisseur en analysant chaque tape
de l'amorage et du blocage. Cette analyse thorique ou analytique est valide par des relevs
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
exprimentaux des diffrentes grandeurs lectriques dans le circuit et par des rsultats
numriques obtenus l'aide du simulateur de circuit PACTE. Cette tude nous permet de
dterminer les paramtres qui interviennent lors de la cration des oscillations dans le circuit
et ainsi de localiser les sources de rayonnement lectromagntique.
Chapitre V
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
RESULTATS ET VALIDATIONS
Introduction ..........................................................................................................................1 0 0
I .Rsultats et discussions .....................................................................................................100
............................................................................100
1.2 .Calcul du champ lectrique rayonn .............................................................................102
1.3 .Discussion des rsultats ................................................................................................... 103
1.1.Mesure du champ lectrique rayonn
II .Exploitation du module de calcul ...................................................................................105
...................................................105
1.Influence de l'amplitude de la tension d'alimentation E................................................106
2 .Influence de l'amplitude du courant de charge IO ..........................................................
108
110
3 .Influence de la frquence de dcoupage fd .......................................................................
Conchsion .............................................................................................................................112
Etude de l'influence des grandeurs lectriques du circuit
Introduction
La modlisation du champ lectromagntique rayonn par les circuits de convertisseurs

statiques prsente en chapitre IiI, se fait en posant plusieurs hypothses simplificatrices. Ces
hypothses vont apporter des erreurs sur les rsultats numriques. Il est donc ncessaire de se
proccuper de la validit des hypothses poses et des rsultats obtenus. Les seuls rsultats
auxquels nous pouvons nous rfrer lors de nos validations sont les rsultats exprimentaux.
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
Le but de ce chapitre est de comparer les rsultats numriques aux rsultats de mesures et de
discuter la validit de ces rsultats.
Le calcul du champ lectromagntique rayonn se fait selon l'algorithme de calcul prsent
dans la figure III.9 du chapitre III. Afin d'viter les erreurs du simulateur de circuit, nous
utilisons le prototype exprimental lors de la dtermination de la tension aux bornes des
composants non linaires. Les mesures seront faites comme nous l'avons expliqu dans le
chapitre IV.
Aprs discussion des rsultats, le module de calcul sera utilis pour la dtermination de
l'influence des paramtres lectriques sur le champ lectrique rayonn par le circuit. Cette
dernire partie sera de mme valide par des rsultats exprimentaux.
I Rsultats et discussions
1.1 Mesure du champ lectrique rayonn
Les mesures ont t effectues avec la maquette du hacheur commutation force dcrit dans
le chapitre prcdent. Le circuit est pos sur un radiateur afin d'assurer le refroidissement des
Chapitre V
Rsultats et validations
composants de puissance (le transistor MOSFET et la diode de roue libre). Le radiateur est
port au potentiel de la masse de la cage. La frquence de dcoupage est de 100kHz, le courant
de charge est de 8A, la tension d'alimentation est de lOOV et le rapport cyclique est de 0.5. Le
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champ lectrique rayonn un mtre du circuit est mesur et est prsent en figure V. 1
Figure V. 1 - Champ lectrique mesur un mtre du circuit.

Calculated Electric Field 1 0 0 V B M OOkHz
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1o0
WH=)
10'
Figure V.2 - Champ lectrique calcul un mtre du circuit.
Chapitre V
L'analyse du spectre du champ lectrique rayonn montre distinctement plusieurs pics dans
diffrentes gammes de frquences. Les harmoniques obtenus pour les frquences infrieures
5OkHz ont des amplitudes ngligeables et ne seront pas considres lors des interprtations.
Dans la bande de 1OOkHz quelques MHz nous trouvons les harmoniques li6s au dcoupage et
donc l'volution des grandeurs lectriques du circuit. Ces harmoniques dpendent des
conditions de charge [V. 11. L'amplitude maximale est de 105dBp V/m ( soit 0.17 V/m ). Elle
est obtenue pour la frquence de 100kHz. Pour des frquences suprieures 5MHz
apparaissent des harmoniques lis aux transitoires de commutation. Ces dernires dpendent
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essentiellement de la nature intrinsque des intempteurs, de leur commande et des

composants parasites associes aux composants passifs et de cblage comme nous l'avons
dcrit lors de l'analyse fine du fonctionnement du circuit dans le chapitre prcdent.
1.2 - Calcul du champ lectrique rayonn
Le code de calcul bas sur la mthode des moments et dont la description et les principales
tapes de rsolution sont dcrites en chapitre III a t utilis pour le calcul du champ
lectrique rayonn par le circuit du hacheur commutation force. Afin d'viter les erreurs
dues l'utilisation du simulateur de circuits, nous prlevons la diffrence de potentiel aux
bornes des composants non linaires en utilisant le prototype exprimental. La topologie du
circuit (constitue par des pistes de circuits imprims) est prsente en figure V.3. Une piste
de circuit imprim est modlise par un seul fil fin quivalent. Lors du calcul nous nous
sommes intresss aux frquences suprieures lOOkHz (frquence de dcoupage).
L'existence de composants discrets dans le circuit permet d'avoir des courants importants ces
frquences et de minimiser donc les erreurs obtenues lors du calcul de la distribution du
Cha~itreV
courant. (erreurs dues au choix des fonctions bases, voir chapitre I). Ceci nous autorise
utiliser le module de calcul pour des frquences aussi faibles (100kHz).
L'observation du spectre calcul (figure V . 2 ) nous permet de retrouver les diffrentes gammes
de frquences obtenues sur le spectre mesur. Plus prcisment, nous observons une
concordance au niveau des raies relatives au dcoupage (frquences de lOOkHz quelques
MHz). Cette concordance est obtenue autant au niveau des frquences qu'au niveau des
amplitudes des raies. Pour des frquences plus leves, nous retrouvons la mme allure du
spectre avec des raies reprsentant les mmes frquences de rsonance mais des amplitudes
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lgrement diffrentes.
Figure V . 3 - Topologie du hacheur commutation force (Echelle: 1/2).

1.3 - Discussion des rsultats
Les rsultats numriques sont globalement satisfaisants. Cependant, un lger dsaccord est
notable au niveau des frquences suprieures quelques MHz. Ce dsaccord peut tre
expliqu par plusieurs phnomnes:
Chapitre V
Les erreurs de mesure du champ lectrique rayonn: En effet, les mesures ont t effectues
dans une cage de faraday non anchoique et la modlisation suppose que le circuit se trouve
dans un espace libre. De mme, des erreurs peuvent s'introduire au niveau du facteur
d'antenne.
-
Les erreurs de mesure de la diffrence de potentiel aux bornes des composants non linaires:
comme nous l'avons signal dans le chapitre prcdent, l'introduction d'une sonde de mesure
des grandeurs lectriques, introduit un couplage parasite entre le circuit et l'appareil de
mesure. Le comportement du circuit est alors lgrement modifi. La diffrence de potentiel
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aux bornes des composants non linaires et le vecteur tension d'excitation sont donc errons.
-
Les erreurs commises lors du choix des hypothses simplificatrices pour la modlisation. Il
est donc ncessaire de revenir sur ces hypothses afin de les affiner.
Les hypothses simplificatrices adoptes sont les suivantes:
Approximation fil fin: pour modliser des conducteurs constitus de pistes de circuits
imprims de sections rectangulaires nous avons utilis un seul fil fin quivalent. Les limites
de cette approximation ainsi que des propositions d'amlioration de ce modle sont traites
dans le chapitre suivant.
Circuit dans le vide et sans dilectriques. Des travaux de recherches ont t mens par
Fessler et Whites [V.2] afin de mettre en vidence l'effet de la prsence du dilectrique lors
de la modlisation par la mthode des moments. Ces travaux ont montr que le fait de ne
pas tenir compte de la prsence du dilectrique peut introduire une Erreur qui peut atteindre
pour certaines frquences (et pour certaines dimensions des pistes) les IOdB. Cependant,
ces travaux montrent que pour d'autres frquences, le fait d'introduire une constante
dilectrique peut faire diverger les rsultats numriques des rsultats exprimentaux.
Utilisation de la thorie des images pour modliser les plans de masse qui sont en gnral
imparfaits et de dimensions finies. Des travaux identiques ceux cits prcdemment ont
Chapitre V
t mens par ces mmes chercheurs [V.2] pour tudier l'influence de l'utilisation de la
thorie des images (plan de masse infini) pour le cas d'un plan de masse fini. Ces travaux
ont montr que l'erreur introduite par l'hypothse "plan de masse infini" dpend des
dimensions du plan de masse par rapport la longueur d'onde. En particulier, dans notre
cas, o les dimensions du plan de masse sont infrieures au dixime de la longueur d'onde,
les valeurs relles (mesures) sont plus importantes que celle calcules avec plan de masse
infini. Ces erreurs sont d'autant plus importantes que les pistes du circuit imprim sont plus
proches du plan de masse.
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Utilisation de modles parfaits pour les composants discrets du circuit. En effet, Ces
composants ont des dimensions encombrantes donc une participation au rayonnement non
ngligeable. De mme, lors du fonctionnement du circuit, ces composants sont soumis
des contraintes lectriques importantes, leur comportement est donc loin d'tre parfait.
II Exploitation du module de calcul
Le module de calcul peut tre utilis pour des tudes qualitatives. Ainsi, il peut tre utilis par
exemple, pour tudier l'influence des paramtres lectriques sur le champ rayonn.
Etude de l'influence des grandeurs lectriques du circuit
Les paramtres lectriques auxquels nous allons nous intresser sont: l'amplitude de la tension
d'alimentation E, le courant de charge IO et la frquence de dcoupage fd. Pour raliser cette
tude, nous modifions un paramtre et nous fixons tous les autres [V.3].
Chailitre V
1 Influence de l'amplitude de la tension d'alimentation E.
Le champ lectrique rayonn dpend de l'amplitude de la tension Drain-Source du transistor.

Il dpend donc de la tension d'alimentation E. Le champ lectrique rayonn un mtre du
circuit pour des tensions d'alimentation de 50V et de 1OOV sont prsents respectivement en
Calculated Electric Field 100VrM 00kHz
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Figure V.4 - Champ lectrique calcul E=l OOV/IO=8A/fd=IOOkHz.
Figure V.6 - Champ lectrique mesur E=l OOV/I0=8A/fd=IOOkHz.
Chapitre V
figures V.4 et V.5. En observant ces courbes nous notons une variation de l'amplitude du
champ entre 5 et 10 dBp V/m. Cette variation est plus marque au niveau des raies de 20MHz.
Ces rsultats sont retrouvs sur les spectres mesurs pour 50V et lOOV( cf Figure V.6 et V.7).
Calculated Electric Field 50VrM 0OkHz
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1o0
WH@
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Figure V.5 - Champ lectrique calcul E=50V/IO=8A/fd=lOOkHz.

measured Electnc Field SOV~Ar100kHz
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1O-'
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1o0
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1O'
VH)I
Figure V.7 - Champ lectrique mesur E=50V/IO=8A/fd=lOOkHz.
2 Influence de l'amplitude du courant de charge 10.

Si le courant de charge IO diminue, le courant conduit par le transistor fait de m:me. La
variation de tension aux bornes du transistor va donc baisser. Ainsi, si le courant de charge
dinninue, le champ lectrique rayonn pour les hautes frquences baisse.
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Calculated Electric Field 1OOVrAnOOkHz

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1O-'
1o0
flFIHz)
1O'
Figure V.8 - Champ lectrique calcul E=lOOV/I0=8A/fd=lOOkHz.

measured Electric Field 100VrM OOkHz
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Figure V. 10 - Champ lectrique mesur E=l OOV/IO=8A/fd=lOOkHz.
Chapitre V
Les rsultats numriques de la figure V.8 et V.9 ainsi que les rsultats exprimentaux de la
figure V. 10 et V. 11 montrent une diminution du champ rayonn de quelques dBp V/m pour les
frquences entre 4 et 20MHz. Ceci pour une diminution du courant de charge de 8A 4A.
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Calculated Electric Field 1OOVAM OOkHz
Figure V.9 - Champ lectrique calcul E=l OOV/I0=4A/fd=lOOkHz.

measured Electnc Field 1OOVr'4Mi00kHz
Figure V. 11 - Champ lectrique mesur E=lOOV/IO=4A/fd=lOOkHz.
Chapitre V
3 - Influence de la frquence de dcoupage fd.
La puissance lectromagntique rayonne est proportionnelle la frquence de dcoupage. Le

niveau de bruit augmente donc en fonction de la frquence de dcoupage. Si la frquence de
dcoupage diminue, la puissance rayonne diminue, les amplitudes des raies sont donc
Calculated Electric Field 100V~Ar100kHz
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Figure V. 12 - Champ lectrique calcul E=lOOV/ZO=8A/fd=1OOkHz.
Figure V. 14 - Champ lectrique mesur E=IOOV/ZO=8A/fd=IOOkHz.
Chapitre V
rduites. Plus prcisment, le spectre de rayonnement est dplac vers les basses frquences.
Ceci est montr dans les rsultats numriques des courbes V.12 et V.13 et retrouv dans les
rsultats exprimentaux des courbes V.14 et V.15. A 2OkHz, des erreurs de calcul
apparaissent. Ces erreurs sont dues aux limites de la mthode des moments.
Calculated Electric Field 1OOVr'aAr50kHz
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Figure V. 13 - Champ lectrique calcul E=lOOV/IO=8A(fd=5OkHz.
Figure V. 15 - Champ lectrique mesur E=l OOV/IO=8A/fd=5OkHz.
Chapitre V
Conclusion
Dans ce chapitre, nous confrontons les rsultats numriques aux rsultats exprimentaux.
Cette confrontation permet de conclure que les rsultats numriques sont globalement
satisfaisants. Cependant, quelques disparits entre simulation et exprience persistent dans les
hautes frquences. Ce dsaccord peut tre expliqu par les erreurs commises lors du choix des
hypothses simplificatrices et par les erreurs de mesures. Il devient alors ncessaire de
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modifier les hypothses faites sur la gomtrie des connexions.

Afin d'examiner les rsultats de calcul et dfaut de pouvoir les comparer directement aux
rsultats de mesures, nous avons propos une nouvelle mthode de validation. Celle-ci repose
sur la comparaison de la variation des rsultats de modlisations pour diffrentes conditions
de fonctionnement avec celle des rsultats obtenus exprimentalement dans les mmes
conditions. Ces examens montrent que les rsultats de simulations sont en harmonie avec
ceux des mesures. Ainsi, le code de calcul actuel peut tre utilis pour des tudes qualitatives
telles que l'influence des paramtres lectriques sur le champ rayonn par le circuit. Parmi les
paramtres lectriques nous nous sommes intresss l'amplitude de la tension d'alimentation,
l'amplitude de courant de charge et la frquence de dcoupage. D'autres tudes comme
l'influence de la topologie, l'influence du circuit d'aide la commutation ... peuvent tre

labores l'aide de ce module de calcul. Ces tudes qualitatives peuvent tre ralises par les
concepteurs de circuits afin de trouver les conditions optimales de fonctionnement du circuit
pour lesquelles le rayonnement est minimis.
Chapitre VI
PISTES DE CIRCUITS IMPRIMES ET
APPROXIMATION FILS FINS
...........................................................................................................................114
I .L'approximation fil fin ................................................................................................ 1 1 4
1.1 .Diamtre du fil gale l'paisseur e ...............................................................................115
1.2 .Diamtre de fil calcul en fonction de e et de w ( N = l )..................................................116
1.3 .Diamtre de fil calcul en fonction de e. de w et de N ..................................................117
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Introduction
II .Influence du nombre de conducteurs ............................................................................. 118

11.1 .Variation du champ lectrique E en fonction d o nombre de conducteurs N ...........119
11.2 .Variation d u champ magntique H en fonction du nombre de conducteurs N ........122
11.3 .Etude de la distribution du courant
.lII .Influence d'un coude entre deux pistes

.1"'
3n
.............................................................................123
........................................................................
cas: : = .............................................................................................................................................
125
1-6
Conclusion ...........................................................................................................................
131
Chapitre VI
Pistes de circuits imprims et approximation fils fins
Introduction
La topologie des circuits de l'lectronique de puissance est constitue de fils cylindriques, de

fils de connexions aux composants et de pistes de circuits imprims de sections rectangulaires.
La modlisation des pistes de sections rectangulaires est impossible lors de la rsolution avec
la mthode des moments dans le cas filaire. Il faut donc trouver une quivalence entre ligne de
circuit imprim et fils fins.
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Dans ce chapitre, nous introduisons l'approximation "fils fins". Ensuite, nous prsentons
l'hypothse que nous avons adopte pour la rsolution dans le cadre de cette approximation.
Elle consiste modliser la piste de circuit imprime par un seul fil fin quivalent. Pour
amliorer les rsultats obtenus par la mthode des moments, nous proposons d'affiner cette
hypothse en augmentant le nombre de fils fins quivalents. Ainsi, nous comparons les
rsultats de simulations ralises par la mthode des moments et obtenus en modlisant
plusieurs faisceaux de fils fins (nombre de conducteurs vcuiable) dans le but de trouver la
meilleure configuration qui permet de reproduire le rayonnement d'une piste de circuit
imprim.
I L'approximationfil fin
L'approximation fil fin consiste remplacer la piste de circuit imprim par un faisceau de N
conducteurs cylindriques de rayon a et de longueur 1, de manire ce que le rayonnement de
ces conducteurs soit identique celui de la ligne microruban de mme longueur 1, de largeur w
et d'paisseur e. Dans les deux cas, les conducteurs sont situs une distance h du plan de
masse (Figure VI.1). Cette approximation a t utilise gour reprksenter le couplage dans les
Chapitre VI
pistes de circuits imprims dans des applications de calcul des perturbations conduites
[VI.2][VI.3].
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Figure VI. 1 - Faisceau fils fins.
L'application de cette approximation est valable dans le cas o le diamtre des fils, la distance
entre fils, ainsi que la hauteur par rapport au plan de masse sont petits par rapport la
longueur d'onde.
Dans ce qui suit, nous allons dterminer les diffrents paramtres des conducteurs
cylindriques quivalents: le diamtre des fils et le nombre N de conducteurs ncessaires pour
reproduire le rayonnement obtenu avec la ligne rnicroruban.
1.1 - Diamtre du fil gale l'paisseur e
Figure VI.2 - Le diamtre des fils quivalents est gal l'paisseur e.

La piste de circuit imprim est remplace par N conductueirs dont le diamtre est gal
l'paisseur e de la ligne microruban (Figure VI.2). Soit:
2a = e
Eq VI. 1
Chapitre VI
Cette hypothse a t adopte par Ph. Petit lors de ses travaux de recherche pour dfinir les
couplages existants dans la piste et entre celle-ci et le plan de masse. La connaissance de ce
couplage a ensuite, t utilise pour calculer la distribution de courant dans les diffrents fils
en utilisant la thorie des lignes [VI. 11.
Le choix du faisceau de fils fins a t dtermin de mani&re conserver l'intensit de la
tension et du courant l'entre et la sortie de la ligne ri~icroruban.Les fils sont relis entre
eux leurs extrmits et ils sont supposs tre immergs dans le mme milieu dilectrique
que celui de la ligne microruban.
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Ph. Petit a montr lors de ses travaux que cette hypothse prsente des rsultats satisfaisants
pour un nombre de conducteurs N minimal gal 4 pour une largeur de piste w de lmm et que
ces rsultats sont d'autant plus prcis que le nombre de conducteurs N est lev et la distance
par rapport au plan de masse est importante. Cependant, les conducteurs doivent tre rpartis
de manire linaire. L'observation de la distribution du cocrant aprs rsolution permet de
mettre en vidence l'effet de peau.
1.2 Diamtre de fil calcul en fonction de e et de w (N=l)
Figure VI.3 - Fil fin quivalent une piste de circuit imprim ( N = l ) .
C'est l'hypothse que nous avons jusqu' prsent utilise lors de notre tude. Nous supposons
que nous pouvons remplacer la piste de circuit imprim par un seul conducteur cylindrique
quivalent de rayon a.
Pour une piste de circuit imprim de largeur w et d'paisseur e, nous calculons le diamtre 2a
du conducteur cylindrique quivalent (Figure V1.3). Lors de cette transformation de la piste du
circuit imprim en un conductenr cylindrique, nous pouvons proposer deux hypothses
diffrentes:
- Conservation du volume total donc de la surface de la section du conducteur. Soit:
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w*e=n*a*a. Cette hypothse permet la conservation de la rsistance du fil.

- Conservation de la surface extrieure du conducteur donc de la circonfrence de la section
.
hypothse est trs intressante surtout dans le cas de
du conducteur. Soit: w + e = ~ * aCette
l'approximation "noyau exact" o nous supposons que le courant passe au niveau de la

circonfrence du fil (rejoint le principe de l'effet de peau).
Afin de ne pas privilgier une hypothse par rapport une riixtre, nous avons utilis un rayon
quivalent gale la moyenne des deux rayons calculs par les deux hypothses prcdentes.
Le rayon quivalent est donc calcul en utilisant la formule suivante:
(Eq VI.2)
1.3 Diamtre de fil calcul en fonction de e, de wet de N
C'est une amlioration de l'hypothse prcdente. Elle consiste remplacer la piste de circuit
imprim par plusieurs fils fins. Le calcul du diamtre de ces fils fins se fait en respectant les
conditions prsentes dans le paragraphe prcdent (conservation de la section et du primtre
Chapitre VI
des conducteurs). Pour un nombre N de conducteurs quivalents, la section de chaque

conducteur est obtenue en calculant le rayon moyen UN , en utilisant l'quation VI.3.
(Eq VI.3)
Dans ce qui suit, nous allons essayer de dterminer le nombre N de fils choisir pour avoir
des rsultats cohrents.
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II Influence du nombre de conducteurs
Pour minimiser les temps de calculs et afin de mettre en vidence l'influence du nombre de
conducteurs, nous considrons un circuit trs simple constitu d'une seule piste de circuit
imprim de longueur 1= 100 mm, de largeur w=5mm, d'paisseur e et situe une distance h
du plan de masse. Cette piste est excite l'une de ses extrmits par une tension de 1V une
frquencef L'autre extrmit est connecte au plan de masse.
\Piste
Figure VI.4 - La structure tudie.
de circuit imprim
Chapitre VI
La mthodologie qui a t conduite pour calculer le nombre N de conducteurs ncessaires la

modlisation de cette piste de circuit imprim est la suivante; l'aide de la mthode des
moments, il est calcul pour plusieurs faisceaux de fils fins le rayonnement une distance
donne. L'observation de la variation des champs lectrique et magntique rayonns en
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
fonction du nombre de conducteurs, permet alors la determination de celui-ci.
Figure VI.5 - Faisceau de fils fins quivalents.
11.1 Variation du champ lectrique E en fonction du nombre de conducteurs N
Les rsultats de calcul du champ E, pour plusieurs frquences et pour deux hauteurs par
rapport au plan de masse, sont prsents dans les tableaux VI. 1 et VI.2.
Nombre de
rayon a~
E (dBpv/m) E (dBpv/m) E (dBpv/m)
quivalent (mm)
f=lMHz
f=lOMHz f=lOOMHz
fils N
13,OO
3,OO
1
-19,13
O,92
40,07
49,80
18,78
2
O,49
64,81
55,19
3
O, 34
33,08
58,20
68,63
42,52
5
0,21
64,02
55,04
0,16
28,56
7
63,28
53,39
32,84
11
0,ll
66,28
60,63
40,22
21
O,065
Tableau VI. 1 - Champ lectrique calcul l m du faisceau de fils fins, h= 1,5 mm.
Chapitre VI
Dans les figures VI.6 et VI.7, nous reprsentons l'volution du champ lectrique rayonn en
fonction du nombre de fils fins modliss.
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Influence du nombre de fils fins sur le champ lectrique

h=1,5 mm
1i
Nombre de fils fins quivalents
Figure VI.6 - Variation du champ lectrique rayonn en fonction du nombre de conducteurs,
L'analyse de ces rsultats montre que pour un nombre de fils modliss infrieur 5 , le champ
E rayonn augmente en fonction du nombre de fils N pour converger vers une valeur fixe
obtenue partir de 7 fils. Ainsi, les valeurs calcules du champ rayonn pour N=ll fils et
N=21 conducteurs sont presque gales. Nous dduisons que pour une piste de largeur gale
Smm, il faut au moins 7 fils fins quivalents pour obtenir des valeurs de champ lectrique
rayonn ( 1 mtre des fils) qui ne varient plus en fonction de N.
Nombre de 1
rayon a~
1 E (dBpv/m) 1 E (dBpv/m) 1 E (dBpv/m)
fils N
quivalent (mm)
f=lMHz
f=l OMHz f=l OOMHz
60.37
1
O.92
55.69
50.57
82,39
2
67,56
72,62
O,49
73,52
42,26
63,79
3
O,34
71,18
60,77
5
0,21
43,39
70,49
40,36
60,68
0,16
7
70,82
46,87
60,74
11
O, 11
71,60
61,55
O,065
52,98
21
Tableau VI.2 - Champ lectrique calcul l m du faisceau de fils fins, h= 15 mm.
Chapitre VI
En observant les courbes obtenues pour plusieurs frquences d'excitation nous remarquons
que si la frquence d'excitation augmente, la valeur laquelle converge le champ lectrique
augmente et que la convergence est obtenue pour un nombre de fils quivalents plus faible
(l'erreur obtenue sur la valeur du champ lectrique est plus faible).
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Influence du nombre de fils fins sur le champ lectrique

h=15 mm
T
Nombre de fils fins quivalents
Figure VI.7 - Variation du champ lectrique rayonn en fonction du nombre de conducteurs,
En comparant les courbes obtenues pour deux hauteurs h par rapport au plan de masse, nous
remarquons que le champ lectrique rayonn est plus lev pour une hauteur par rapport au
plan de masse plus leve et que la convergence du champ lectrique en fonction du nombre
de conducteur N est plus rapide pour une hauteur h plus leve. Donc pour un mme nombre
de conducteurs les rsultats sont plus prcis si h est plus lev. Ceci pourrait s'expliquer par le
fait que plus on s'loigne du plan de masse, plus le couplage avec ce dernier est faible et donc
les erreurs lors du calcul de ce couplage par l'approximation fils fins sont plus faibles.
Chapitre VI
11.2 Variation du champ magntique H en fonction du nombre de conducteurs N
Dans ce paragraphe, nous nous intressons au champ magntique rayonn un mtre du

faisceau de fils. De la mme manire que dans le paragraphe prcdent, nous avons effectu
les calculs pour plusieurs frquences d'excitations f. Les rsultats de calcul pour une hauteur
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h=15mm sont prsents dans les tableaux VI.3.
Tableau VI.3 - Champ magntique calcul l m du faisceau de fils fins, h= 15 mm.
Influence du nombre de filsfins sur le champ magntique

h=15 mm
Nombre de fils fins quinlents
*f=lOMHz
- ~ t
f=1
-O O M ~
Figure VI.8 - Variation du champ magntique rayonn en fonction du nombre de conducteurs,
Chapitre VI
Dans la figure VI.8, nous reprsentons l'volution du champ magntique rayonn en fonction
du nombre de fils fins modliss. L'observation de ces courbes nous permet de retrouver
globalement les tendances obtenues dans le cas du champ lectrique (point de dispersion pour
f=lMHz et N=21).
11.3 - Etude de la distribution du courant
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Dans ce paragraphe, nous tudions la distribution du courant selon la largeur de la piste du

circuit imprim.
Distribution du courant dans les fils

fins, f=lOMHz, h=15mm
0,06
,
- -
Largeur de piste (mm)
Distribution du courant dans les fils

fins, f=100MHz, h=15mm
0,006 r----
--
Largeur de piste (mn)
Figure VI.9 - Distribution du courant selon la largeur de la piste.
Dans la figure VI.9 nous reprsentons l'amplitude du courant calcul dans les diffrents fils
fins en des points situs dans une mme section de la piste. Pour cette rsolution nous avons
utilis 6 conducteurs filiformes rpartis de manire linaire selon l'paisseur de la piste
(e=5mm).L'observation, pour deux frquences d'excitation, de la distribution du courant nous

permet de mettre en vidence l'effet de peau dans la section de la piste. En effet, si la
Chapitre VI
frquence d'excitation augmente, nous remarquons que le courant dans les fils se trouvant sur
les extrmits devient plus important que celui dans les fils se trouvant au centre de la piste.
La structure modlise ne comporte pas de charges. Les erreurs dues au choix des fonctions
bases sont donc mises en vidence, basses frquences o
- i= 10-~ (voir
il
limites de la
mthode des moments chapitre III). Le courant calcul pour des basses frquences prsente
des anomalies et une distribution non symtrique. L'exactitude du champ rayonn est de
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mme, mise en question (mais les erreurs sur le champ rayonn sont moins importantes).
Dans les figures VI.10 et VI.11 nous observons, pour une mme frquence d'excitation
f=lOMHz, la distribution du courant dans la section de la piste et ceci pour diffrentes valeurs
de N. Nous remarquons que plus le nombre de fils utiliss est important, plus la discrtisation
selon la largeur de la piste est fine et de ce fait le phnomne de peau est plus marquant.
Distribution du courant dans les fils tiris

N=7, f=1OMHz et h=15mm
0,4
1,l
1,8
2,5
3,2
3,9
Largeur de la piste (mm)
Figure VI.10 - Distribution du courant dans la section, N=7 fils.
Chapitre VI
Distribution du courant dans les fils fins

N = l l , f=lOMHz et h=15mm
1,1
28
3,O
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Largeur de la piste (mm)
3,9
Figure VI.11 - Distribution du courant dans la section, N = l l fils.
111 - Influence d'un coude entre deux pistes
Dans ce paragraphe, nous proposons d'tudier le couplage entre deux pistes formant un angle
a et connectes par l'intermdiaire d'un coude de circuit imprim. Ces deux pistes sont situes
dans un mme plan horizontal ( une hauteur h=15mm du plan de masse). La piste N o l est
excite son extrmit par un gnrateur de I V une frquence de 1OMHz. La piste NO2 est
connecte son extrmit au plan de masse. Nous modlisons chaque piste par 11 fils fins et
nous dterminons la distribution du courant dans les fils pour deux angles
a diffrents:
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Chapitre VI
3?T
Figure VI. 12 - Deux pistes relies par un coude a = -.
4
Dans les figures VI.13, V1.14, VI.15 et VI.16 nous reprsentons la distribution du courant
dans les fils embrassants respectivement les sections S I , S2, S3 et S4 dfinies dans la figure
VI.12. En observant ces courbes, nous remarquons que la distribution du courant dans le
circuit imprim est modifie par rapport celle d'une piste droite. Bien que le courant passe en
majorit au niveau des extrmits de la piste, le couplage entre les deux pistes fait que le
courant tendance passer du ct de l'intrieur du coude. De mme, nous notons que dans le
coude, l'amplitude des courants est trs leve par rapport celle dans la partie rectiligne des
pistes.
Pistes de circuits imprims et amroximation fils fins
Chapitre VI
Distribution du courant dans la piste 1
5
6
Numro du fil
--
....,.. -
1O
I
Figure VI. 13 - Distribution du courant dans les fils de la section S S.

--
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Distribution du courant dans la premire partie du coude
1O
11
Numro du fil
Figure VI. 14 - Distribution du courant dans les fils de la section S2.
2.0
Distribution du courant dans la deuxime partie du coude

,--,
"-.-",,,,~-..~.~~.-~-~-~~----~"-,.."--""-n~.~~-~...~~-~~--~.
"-,
1O
numro du fil

Distribution du courant dans la piste 2
6
7
Numro du fil
1O
11
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Chapitre VI
7G
Figure VI. 17 - Deux pistes relies par un coude a = - .
Dans les figures V1.18, V1.19 et V1.20 nous reprsentons la distribution du courant dans les
fils embrassants respectivement les sections SI, S2 et S3 dfinies dans la figure VI.17. Ces
courbes nous montrent que plus l'angle a est petit (les pistes sont rapproches), plus le courant
se resserre vers l'intrieur du coude.
Dans la premire piste, nous remarquons un effet de proximit qui fait que le courant dans
cette piste est plus important du ct de la piste 2 (ct droit). Ceci est d au fait que le
courant qui circule dans la deuxime piste est de sens oppos celui de la premire piste. De
mme que prcdemment, nous notons un courant important dans le coude. C'est un courant
tournant dans les boucles au niveau du coude (existence de courants de sens inverse).
Chapitre VI
Pistes de circuits imprims et avproximation fils fins
Courant dans la piste 2.
Courant dans la piste 1
Ordonne Y
Ordonne Y (mm)
(mm)
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Figure VI. 18 - Distributio~du courant dans les fils de la section S 1.

Distribution du courant dans la premire partie du coude
Numro du fil

Distribution du courant dans la deuxime partie du coude
numro du fil
Figure VI.20 - Distribution du courant dans les fils de la section S3.
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Chapitre VI
Figure VI.21- Distribution du courant dans la structure tudie.

L'existence de courants importants et de sens opposs, dans les coudes peut s'expliquer par
l'existence de boucles dans notre modle de fils fins. Un couplage par diaphonie inductive est
donc cr (figure VI.22).
Figure VI.22 - Couplage par diaphonie inductive.

Considrons un cas simple d'un fil et une boucle voisine. Le courant Il circulant dans le fil 1
cre autour de ce fil un champ magntique. Ce champ dpend du courant Il et de la distance
par rapport au fil. La variation du flux magntique , travers la boucle voisine cre son tour
une d.d.p. dans cette boucle. Le courant induit il est gal au rapport de la variation du flux par
l'impdance de la boucle. Ce courant il s'oppose au courant Z2 qui est infrieur au courant II (
Chapitre VI
Pistes de ciicuits imprims et approximation fils fins
cause de l'effet de peau). Le courant circulant dans le fil 2 est gale la diffrence entre le
courant I2 et les courants induits par les fils voisins dans les diffrentes boucles. Ce courant
rsultant peut tre ngatif dans certaines conditions. Les boucles dans le coude sont de
dimensions plus faibles, ainsi elles ont des impdances plus faibles. Le courant il induit dans
ces boucles est plus important que dans les boucles au niveau des pistes. Ceci explique
l'existence de courants ngatifs dans les fils du coude.
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Conclusion
L'utilisation de la mthode des moments dans le cas filaire ne permet pas la modlisation
prcise de structures larges dont les sections ne sont pas circulaires telles que les pistes de
circuits imprims. L'quivalence circuit imprim-faisceau de fils fins permet de surmonter
cette limite. Le nombre de fils utiliss pour chaque piste doit tre optimis afin de limiter le
nombre de noeuds de la structure ainsi que le temps de rsolution. L'tude de l'influence du
nombre de fils fins quivalents pour une piste de circuit irflprirn montre qu'il faut au moins
sept fils fins pour une piste d'une largeur de 5mm pour avoir des rsultats convergents au
niveau des champs rayonns un mtre.
L'tude de la distribution du courant dans les fils montre que dsormais avec un faisceau de
fils fins nous tenons compte de l'effet de peau et de l'effet de proximit, de mme elle nous
permet d'observer de plus prs ce qui se passe dans les pistes du circuit. La modlisation par
fils fins montre la prsence de courants de boucles. Il serait intressant de modliser la piste
par un logiciel 2D pour vrifier cet effet. L'tude de l'influence de l'angle entre deux pistes sur
le couplage entre celles-ci peut tre utilis pour ressortir des rgles de conception de pistes
afin d'optimiser les couplages.
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CONCLUSION GENERALE
CONCLUSION
La complexit des phnomnes qui entrent en jeux lors de l'tude de la CEM d'un circuit de
l'lectronique de puissance fait de plus en plus sentir le besoin d'un outil CAO de prdiction
des perturbations lectromagntiques rayonnes et conduites par ces circuits. Cet outil
permettrait la prise en compte de la compatibilit lectromagntique au stade de la conception
des circuits.
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Des logiciels de prdiction des perturbations conduites existent. Ces logiciels sont en gnral
de type circuit et ne tiennent compte que des couplages internes dans la topologie. Ils sont
bass sur la modlisation fine des circuits en tenant compte des composants parasites dus aux
connexions. Nous pouvons citer comme exemple le logiciel Inca dvelopp au LEG.
Le but de notre travail tait de modliser les perturbations iectromagntiques rayonnes des
distances plus ou moins importantes des circuits de l'lectronique de puissance. Cette
modlisation doit tenir compte du couplage interne dans le circuit ainsi que du couplage du
circuit avec son milieu extrieur.
Notre premire approche du problme a t analytique. Ainsi, aprs avoir pos les quations
rgissant les champs lectrique et magntique, nous avons propos des hypothses
simplificatrices et exprim ces champs rayonns en fonction des grandeurs lectriques du
circuit. Cette mthode prsente de bons rsultats dans le cas de circuits simples o les
diffrents couplages peuvent tre quantifis par des formules analytiques. Cependant, pour des
circuits plus complexes, il est trs difficile de prvoir tous les couplages existants. Le modle
de simulation devient donc moins prcis. Ainsi, notre proccupation s'est, ensuite, oriente
vers une rsolution plus exacte en utilisant une mthode numrique.
Afin de choisir la mthode numrique qui rpond le plus notre besoin, nous avons tudi
brivement les diffrentes mthodes numriques les plus utilises en lectromagntisme tout
en montrant les avantages et les inconvnients de l'application de chacune de ces mthodes
notre problme. Cette analyse nous a permis de dduire qu' l'tat actuel des choses, aucune
mthode n'est compltement adapte notre application. Cependant, la mthode des moments
nous a paru la plus adapte la rsolution de problmes lis aux circuits.
Le dtail de la mthode des moments a t prsent dans le cas de structures filaires et
surfaciques. Nous avons dvelopp sa mise en oeuvre pour la rsolution de problmes
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constitus de structures filaires en trois dimensions. Pour la rsolution de problmes de

circuits linaires, nous modlisons chaque piste de circuit imprim par un seul fil fin
quivalent. La mthode des moments ne permet pas la s:)lution directe de problmes non
linaires. Par consquent, nous proposons la linarisation de notre problme(circuit avec
composants non linaires) en utilisant un logiciel de type circuit. Ce couplage simulateur de
circuits
mthode des moments a t utilis pour calculer le rayonnement d'un circuit de
convertisseur simple et complet. Les rsultats numriques ont t complts par une
valuation exprimentale de ce rayonnement.
Lors de nos validations exprimentales nous nous sommes heurts la subtilit des mesures
en CEM. Ceci nous a pouss prendre des prcautions lors de ces mesures afin de s'assurer de
la prcision de nos rsultats.
Les rsultats numriques ont t interprts et sont en bon accord avec les rsultats
exprimentaux. Ces rsultats peuvent tre amliors en reconsidrant les hypothses
simplificatrices poses lors de la modlisation par la mthode des moments.
Pour ce faire et pour mieux comprendre les couplages dans les pistes de circuit imprim nous
avons mis en cause la premire hypothse qui consiste remplacer la piste de CI par un seul
fil fin. Nous nous sommes intresss une modlisation plus fine de ces pistes, en remplaant
Conclusion Gnrale
la piste par un faisceau de fils fins. Cette modlisation tient compte de l'effet de peau et de
l'effet de proximit. Ce genre de modlisations peut tre utilis pour optimiser les couplages
entre les pistes.
Afin de pouvoir revenir sur les autres hypothses il faudra tenir compte de la prsence du
dilectrique, des imperfections du plan de masse (conductivit et dimensions finis) et du
comportement imparfait des composants discret.
Afin de pouvoir tudier les effets des blindages des circuits sur le rayonnement et sur le
comportement des circuits, il est indispensable de pouvoir modliser des surfaces et des
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ouvertures dans les surfaces. Avec le code actuel, l'extension de la rsolution aux structures
surfaciques peut se faire d'une manire simple en modlisafit la surface par un grillage de fils
fins. Il faut donc tudier les limites de ce modle et le cas chant dvelopper la rsolution par
la mthode des moments pour les structures surfaciques.
Le code ralis peut tre utilis pour des calculs de susceptibilit en CEM et pour d'autres
applications en calcul de champ.
Ds que le code de calcul par la mthode des moments sera affin et valid, il faudra
l'implanter dans un simulateur de circuits et raliser un couplage interactif afin que la
simulation temporelle du circuit tienne compte des composants parasites dus aux diffrents
couplages et qui seront calculs par la mthode des moments.
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Rfrences Bibliographiques
Prsentation Gnrale
[ 11
R. Perez, Handbook of Electromagnetic Compatibility, Academic Press 1995.
[21
L. B. Gravelle, and P. F. Wilson, "EMI/EMC in Printed Circuit Boards A

Literature Review," IEEE Trans. Electromagn. Compat., vol. 34, NO. 2, pp. 109116, May 1992.
Chapitre I : Calcul analytique du champ lectromagntique rayonn par les
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
circuits de l'lectronique de puissance

Lu Bei, "Contribution l'tude du rayonnement en champ lectromagntique
proche des circuits en lectronique de puissance," Thse de doctorat de 1'Ecole
Centrale de Lyon, Mai 1990.
A. Puzo, "Contribution l'tude des perturbations rayonnes par les convertisseurs
statiques H.F.," Thse de doctorat de l'bcole Cenitrale de Lyon, Juin 1992.
F. Costa, F. Forest, A. Puzo et G. Rojat, "Etude des perturbations conduites et
rayonnes dans une cellule de commutation," Journal de Physique III France, vol.
12, pp. 2221-2248, Dcembre 1993.
F. Costa, "Contribution l'tude des perturbations conduites dans les

convertisseurs statiques Haute Frquence," Thse de doctorat de l'universit de
Paris-Sud Orsay, Avril 92.
J. T. Fessler, K. W. Whites and C. R. Paul, "The Effectiveness of an Image Plane
in Reducing Radiated Emissions," E E E Trans. Electromagn. Compat., vol. 38,
NO 1, pp. 51-61, Feb. 1996.
"Manuel d'utilisation de PHI3D," Cedrat.
B. Allard et W. Morel, "An introduction to PACTE," Pacte software CEGELY,
Janvier 1994.
R. Petit, " Ondes lectromagntiques en radiolectricitd et en optique," Editions
Masson, 1989.
J.
Ben
Hadj
Slama
et
G.
Rojat,
"Modlisation des
perturbations
lectromagntiques rayonnes dans les convertisseurs statiques," 2me congrs
Maghrbin de Gnie Electrique JMGE'95, Tunisie, vol. 1, pp. EPC18-23, Sep.

1995.
[1.10]
L. B. Gravelle, and P. F. Wilson, "EMI/EMC in Printed Circuit Boards A

Literature Review," IEEE Trans. Electromagn. Compat., vol. 34, NO. 2, pp. 109116, May 1992.
[1.11]
S. Iskra and 1. P. Macfarlane , "H-Field Sensor Measurement Errors in the NearField of a Magnetic Diploe," IEEE Trans. Electromagn. Compat., vol. 3 1, NO. 3,
pp. 306-3 11, Aug. 1989.
[1.12]
H. Nakane, S. Omori, 1. Yokoshima, and F. Uchiyama, "Effect of Conductive

Objects on the Magnetic Field Radiated by Loop Antennae," IEEE Trans. Instru.
and Measurement, vol. IM-36, NO. 2, pp. 540-542, June 1987.
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
[1.13]
K. K. Mei, "On the integral Equations of Thin Wire Antennas," IEEE Trans.
Antennas Propagat., vol. 36, NO. 12, pp. 374-378, 1965.
Chapitre II :Mthodes numriques et compatibilit lectromagntique en

lectronique de puissance
[II.l]
J. Ben Hadj Slama et G. Rojat, "Mthodes Numriques et Compatibilit

Electromagntique en Electronique de puissance" Lnde Confrence Europenne
sur les Mthodes Numriques en Electromagntisme NUMELEC'97, pp. 68-69,
Mars 1997.
[II.2]
L. B. Gravelle, and P. F. Wilson, "EMI/EMC in Printed Circuit Boards. A

Literature Rview," IEEE Trans. Electromagn. Compat., vol. 34, NO. 2, pp. 109116, May 1992.
[IL31
A. Nicolas et N. burais, "Electromagntisme et CAO," Cours de 3me anne,

Ecole Centrale de Lyon.
[II.4]
Reinoldo Perez, "Handbook of electromagnetic compatibility," Academic Press,

pp. 203-300, 1995.
[II.5]
R. L. Khan, and G. 1. Costache, "Finite Elemcnt Method Applied to Modeling

Crosstalk Problems on Printed Circuit Boards," IEEE Trans. Electromagn.
Compat., vol. 3 1, NO. 1, pp. 5-15, Feb. 1989.
H. Nakane, S. Omori, and 1. Yokoshima, "Studies of Magnetic Field for

Transmitting and Receiving Loop Antenna Placed in a Coplane," IEEE Trans.
Instum. and Mesur., vol. TM-30, NO. 3, pp. 206-209, Sep. 1981.
P. P. Silvester and R. L. Ferrari, "Finite Elements For Electrical Engineers,"
Cambridge university press, 1990.
P. A. Tirkas, C. A. Balanis and M. P. Purchine, "Finite-Difference Time-Domain
Method for Electromagnetic Radiation, Interference, and Interaction with
Complex Structures" IEEE Trans. Electromagn. Cornpd., vol. 35, NO 2, pp. 192203, May 1993.
C. Christopoulos, and J. L. Herring, "The Application of Transmission-Line
Modeling (TLM) to Electromagnetic Compatibility Problems," IEEE Trans.
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
Electromagn. Compat., vol. 35, NO. 2, pp. 185-191, May 1993.

[II.1O] F. Olyslager, and D. De Zutter, "High-Frequency Transmission Line Models for a
Thin Wire Above a Conducting Ground," IEEE Trans. Electromagn. Compat., vol.
37, NO. 2, pp. 234-240, May 1995.
Ph. Besnier, and P. Degauque, "Electromagnetic Topology: Investigations of
Nonuniform Transmission Line Netwsrks," IEEE Trans. Electromagn. Compat.,
vol. 37, NO. 2, pp. 227-233, May 1995.
[II.121 T. H. Hubing, and J. F. Kaufman, "Modeling the Electrmagnetic Radiation from
Electrically Small Table-Top Products," IEEE Trans. Electromagn. Compat., vol.
31, NO. 1, pp. 74-84, Feb. 1989.
[II.131 C. A. Brebbia, "The Boundary Element Method for Engineers," Pentch Press
London, 1980.
[II.141 C. A. Brebbia and S. Walker, "Boundary Element Techniques in Engineering,"
Butterworth & Co, 1980.
[II. 151 P. Degauque and J. Hamelin, "Couplage d'une onde plane des antennes filaires"
Chapt. 8, Compatibilit lectromagnetique, Bordas et C.N.E.T. -E.N.S.T., Paris,
pp. 377-453, 1990.
[II.161 H. Nakano, S. R. Kerner and N. G. AlexopouIos, "The Moment Method Solution
for Printed Wire Antennas of Arbitrary Configuration," IEEE Trans. Antennas
Propagat., vol. 36, NO. 12, pp. 1667-1674, Dec. 1988.
[II.171 R. F. Harrington, "field Computation by Moment Method" Kriger, 1968.
Ln. 181
P. Bernardi, R. Cicchetti, and D. S. Moreolo, "A Full-Wave Mode1 for EMI

Prediction in Planar Microstrip Circuits Excited in the Near-Field of a Short
Electric Dipole," IEEE Trans. Electromagn. Compat., vol. 37, NO. 2, pp. 175-182,
May 1995.
[II.19] G. Cerri, R. De Leo, and V. Mariani Primiani, "A Rigourous Mode1 for Radiated
Emission Prediction in PCB Circuits," IEEE T~ans.Electromagn. Compat., vol.
35, NO. 1, pp. 102-109, Feb. 1993.
[II.20] M. 1. Aksun and R. Mittra, "Spurious Radiation from Microstrip Interconnects,"
IEEE Trans. Electromagn. Compat., vol. 35, NOa 2, pp. 148-158, May 1993.
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
CHAPITRE III: La Mthode des moments et sa mise en oeuvre
[III.11
R. F. Harrington, "field Computation by Moment Method" Kriger, 1968.
w.21
A. J. Poggio, and R. W. Adams, "Approximation for Terms Related to the Kernel

in Thin-Wire Integral Equations," UCRL-5 1985, Lawrence Livermore Laboratory,
CA, Decembre 1975.
P. Degauque and J. Hamelin, "Couplage d'une onde plane des antennes filaires"
Chapt. 8, Compatibilit lectromagnetique, Bordas et G.N.E.T. -E.N.S.T., Paris,
pp. 377-453, 1990.
G. J. Burke and A. J. Poggio, "Numerical Electromagnetics code (NEC) - Method
of Moments" NOSC TD 116 Part 1, January 1981.

Miller, E. K. et al., "An evaluation of computer Programs Using Integral
Equations for the Electromagnetic Analysis of Thin wire Structures," UCRL75566, Lawrence Livermore Laboratory, CA, March 1974.
Yeh, Y. S. and Mei, K. K., "Theory of Conical Equianangular Spiral Antennas,"
IEEE Trans. Antennas and Propagat., vol. AP-15, pp. 634, 1967.
T. T. Wu and R. W. P. King, "The tapered Aritenna and Its Application to the
Junction Problem for Thin Wires," IEEE Trans. Antennas and Propagat., vol. 34,
NO 1, pp. 42-45, Januaray 1976.
Sarkar T. K. and Strait B. J., "Analysis of arbltrarily oriented thin wire antenna
arrays over imperfect ground planes," Syracuse University, Syracuse N. Y.,
Scientific Report no 9, contrat F 19628-73-C-0047 AFCRL-TR-75-0641, Dec.
1975.
[III.9]
Imbrial W. A., "Application of the Method of Moments to Thin-Wire Elements

and
Arrays,"
Chapt.
2,
Numerical
and
Asymptotic
Techniques
in
Electromagnetics, Springer-Verlag, 5-50, 1975.

[III.10] J. T. Fessler, K. W. Whites and C. R. Paul, "The Effectiveness of an Image Plane
in Reducing Radiated Emissions" IEEE Trans. Electromagn. Compat., vol. 38, NO
1, pp. 51-61, Feb. 1996.
[III.ll] H. Nakano, S. R. Kerner and N. G. Alexopo~alos,"The Moment Method Solution
for Printed Wire Antennas of Arbitrary Configuration," E E E Trans. Antennas and
Propagat., vol. 36, NO. 12, pp. 1667-1674, Dec, 1988.
[m.12] P. Bernardi, R. Cicchetti, and D. S. Moreolo, "A Full-Wave Model for EMI
Prediction in Planar Microstrip Circuits Excited in the Near-Field of a Short
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
Electric Dipole," IEEE Trans. Electromagn. Compat., vol. 37, NO. 2, pp. 175-182,
May 1995.
[III.l3] G. Cerri, R. De Leo, and V. Mariani Primiani, "A Rigourous Model for Radiated
Emission Prediction in PCB Circuits," IEEE Trans. Electromagn. Compat., vol.
35, NO. 1, pp. 102-109, Feb. 1993.
[I.14] M. 1. Aksun and R. Mittra, "Spurious Radiation from Microstrip Interconnects,"
IEEE Trans. Electromagn. Compat., vol. 35, NO. 2, pp. 148-158, May 1993.
[III.15] A. Deri, G. Tevan, A. Semlyen, and A. Castanheira, "The complex ground return
plane. A simplified mode1 for homogeneous and n~~lti-layer
earth return," IEEE
Trans. Power app. and Sys., vol. PAS-100, No. 8, pp. 3686-3693, Aug. 1981.
[III.161 Mittra R. and Klein C. A. "Stability and Convergence of Moment Method
Solutions," IEEE Trans. Antennas Propagation AP-2 1,902, 1973.
[III.171 Mittra R. (editor), "Computer techniques for Electromagnetics," Pergamon Press,
19973.
[III.l8] M. G. Andreasen, F.G. Harris, J. R., "Analysis of Wire Antennas of Arbitrary
Configuration by Theoretical Numerical Technique," Tech. Report ECOM063 1-F.
Contract DAAB07-67-C-063 1 Granger Associates, Pa10 Alto, Calif., 1968.
[III.19] J. Ben Hadj Slama, G. Rojat and Ph. Auriol, "Using the Moment method for
modeling electromagnetic field radiated by static converters," EMC'97, Zurich,
vol. 1, pp. 37-42, Feb. 1997.
[III.20] Poggio, A. J., "Integral Representation for Fields Due to Sources on Open
Surfaces with Applications to End Laps," UCRL-51723, Lawrence Livermore
Laboratory , CA, December 16, 1974.
Chapitre IV: Techniques experimentales

[IV.1] Lu Bei, " Contribution l'tude du rayonnement en champ lectromagntique
proche des circuits en lectronique de puissance," Thse de doctorat de 1'Ecole
Centrale de Lyon, Mai 1990.
[IV.2] A. Puzo, " Contribution l'tude des perturbations rayonnes par les
convertisseurs statiques H.F.," Thse de doctorat de 1'Ecole Centrale de Lyon, Juin
1992.
[IV.3] F. Costa, "Contribution l'tude des perturbations conduites dans les
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
convertisseurs statiques Haute Frquence," Thse de doctorat de l'Universit de

Paris- Sud Orsay, Avril 92.
[IV.4] P. Degauque and J. Hamelin, "Compatibilit lectromagntique," Bordas et
C.N.E.T. -E.N.S.T., Paris, 1990.
IIV.51 Tektronix, "Notices techniques et notes d'application des sondes de courant et de
tension,".
IIV.61 Rohde et Schwarz, "Rcepteur de mesure ESVP, ESH3, Moniteur de spectre
EZM," Division appareils et systmes de mesures, Rohde et Schwarz.
[IV.7] GAM-EG- 13, "Perturbations lectromagntiques,"Fasicule 62, juin 1986.
[IV.8] B. Allard and H. Morel, "An introduction to P,?CTE," Pacte software, CEGELY,
january 1994.
[IV.9] L. V. Blake, "Antennas, " Artech house, INC., 1984.
[IV. IO] J. David Gavenda, "Near-Fiel Corrections to Site Attenuation," IEEE trans.
Electromagn. Compat., vol. 36, NO 3, pp. 213-220, August 1994.
[IV.11] N. S. Nahman, M. Kanda, E. B. Larsen and M. L. Crawford, "Methodology for
Standard Electromagnetic Field Measurements," IEEE trans. Inst. and Measur.,
vol. IM-34, NO 4, pp. 490-503, December1985.
[IV.12] J. T. Fessler, K. W. Whites and C. R. Paul, "The Effectiveness of an Image Plane
1, pp. 51-61, Feb. 1996.
[IV.13] A. C. Marvin, "The Use of Screened (Shielded) Rooms for the Identification of
Radiation Mechanisms and the Measurement of Free-Space Eniissions from
Electrically Small Sources," IEEE Trans. Electromagn. Compat., vol. EMC-26,

NO 4, pp. 149-153, November 1984.
CHAPITRE V: Rsultats et validations

[V.l]
A. Puzo, " Contribution l'tude des perturbations rayonnes par les

convertisseurs statiques H.F.," Thse de doctorat de 1'Ecole Centrale de Lyon, Juin
1992.
[V.2]
J. T. Fessler, K. W. Whites and C. R. Paul, "The Effectiveness of an Image Plane

tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
1, pp. 51-61, Feb. 1996.

[V.3]
J. Ben Hadj Slama and G. Rojat , "Influence of electric parameters on

electromagnetic field radiated from circuits of static converters by Moments
method," EPE'97, Trondheim, vol. 2, pp.2.829-2.833 , Sept. 1997.
Chapitre VI: Pistes de circuits imprims et approximation fils fins

[VI.l]
Ph. Petit, "Contribution la modlisation du cblage utilis en lectronique de

puissance par la mthode des fils fins" Thse de doctorat du Conservatoire des
Arts et Mtiers, Dcembre 1996.
[VI.2] J.L. Schanen, "Intgration de la Compatibilit Electromagntiyue dans la

conception de convertisseurs en Electronique de puissance," Thse de doctorat de
L'Institue national Polytechnique de Grenoble, Janvier 1994.
[VI.3] J.L. Schanen, J. Roudet, " Prdtermination des inductances de cblage pour la
simulation fine des convertisseurs," 7""" colloque International et exposition sur la
CEM, CEM'94, pp. 439-443, Toulouse, France, Mars 1994.
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
ANNEXES
Notations
: vecteur champ lectrique
: vecteur champ magntique
: vecteur induction lectrique
: vecteur induction magntique
: vecteur densit de courant
: potentiel vecteur magntique
p,
:densit volumique de charges
o : conductivit lectrique
po : permabilit magntique du vide
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
p, : permabilit relative
: potentiel scalaire lectrique
M(r): point d'observation

M(r1): point de la structure, R=lr-rIl
EO
: permittivit lectrique du vide
E,
: permittivit relative
: frquence (Hz)
: pulsation (rad) =2@
: vecteur normal la surface
: vitesse de la lumire
: vecteur tangent la surface
il
: longueur d'onde (m) = -
: champ lectrique incident
: nombre d'onde = -
ED : champ lectrique diffract
: temps
ET : champ lectrique total

Ei
HT : champ magntique total

Hi : champ magntique incident
HD : champ magntique diffract
: oprateur nabla
2x
: drive par rapport au temps
: rayon du fil
at
1 ou s : variable curviligne
: longueur de subdivision
V .g : div g : oprateur divergence
: largeur de la piste de C.I.
Vxg : rot g : oprateur rotationnel
: paisseur de la piste de C.I.
: hauteur par rapport au plan de masse
V(g): grad g : oprateur gradient
Terminologies
Bruit lectromagntique:
Phnomne variable dans le temps, ne portant apparemment pas d'informations et susceptible
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
de se superposer ou de se combiner un signal utile.
Champ lointain:
Rgion dans laquelle la densit du flux d'nergie
mise par une antenne est
approximativement proportionnelle l'inverse du carr de la distance.

Pour une antenne diple, cela correspond des distances suprieures i1/271- o il dsigne la
longueur d'onde du rayonnement.
Champ proche:
Champ lectrique etlou magntique prdominant existant une distance infrieure i1/271- o il
dsigne la longueur d'onde.
Compatibilit lectromagntique(CERS):
Aptitude d'un
appareil ou d'un
systme fonctionner dans son environnement
lectromagntique, de faon satisfaisante et sans produire lui mme des perturbations

lectromagntiques intolrables pour tout ce qui se trouve dans cet environnement.
Annexes
Couplage:
Phnomne physique caractrisant la relation entre le pouvoir perturbateur et le niveau
perturbateur appliqu.
On dit qu'il y a couplage entre un lment et un autre lorsque le fonctionnement de l'un
perturbe ou ragit sur le fonctionnement de l'autre.
Perturbations lectromagntiques:
Phnomne lectromagntique susceptible de crer des troubles de fonctionnement d'un
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
dispositif, d'un appareil ou d'un systme, ou d'affecter dfavorablement la matire vivante ou

inerte (cas des dispositifs pyrotechniques par exemple).
Une perturbation lectromagntique peut tre un bruit, un signal non dsir ou une
modification du milieu de propagation lui mme.
Rayonnement:
Propagation d'un signal ou d'une perturbation partir d'une source autrement que par
conduction.
Susceptibilit lectromagntique:
Inaptitude d'un dispositif, d'un appareil ou d'un systme fonctionner sans dgradation de
qualit en prsence d'une perturbation lectromagntique.
La susceptibilit est un manque d'immunit.
BEN HADJ SLAMA J. - 09 Dcembre 1997 - Thse ECL 97-40
Spcialit : Gnie Electrique
Titre : " Modlisation du rayonnement lectromagritique des circuits d'lectronique de

puissance. Application un hacheur."
Mots cls : Compatibilit lectromagntique (CEM), rayonnement lectromagntique,
lectronique de puissance, mthode des moments, mthodes numriques.
tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008
Rsum :
L'tude de la compatibilit lectromagntique (CEM) est devenue un passage oblig
pour les concepteurs de circuits d'lectronique de puissance. La complexit des phnomnes qui
entrent en jeu lors de cette tude fait de plus en plus sentir le besoin d'un outil CAO de
prdiction des perturbations lectromagntiques conduites et rayonnes.
Le prsent travail est consacr la modlisation du rayonnement lectromagntique des circuits
d'lectronique de puissance.
La premire mthode propose est base sur une approche analytique du problme, o
les couplages dans le circuit sont quantifis de manire approximative. Dans le cas de circuits
complexes, ces approximations ne sont plus suffisantes et il devient indispensable d'utiliser une
mthode numrique afin de tenir compte de tous les couplages.
L'tat de l'art en matire de mthodes numriques nous montre qu'en l'tat actuel des choses,
aucune mthode n'est compltement adapte notre application. Nanmoins, notre choix s'est
fix sur la mthode des moments qui rpond le plus notre cahier des charges. Etant donne
que celle-ci ne rsout pas les systmes non linaires, et sachant que notre rsolution doit tenir
compte de la prsence de composants non linaires, nous proposons un couplage avec un
simulateur de circuits afin de linariser notre problme.
La mthode est mise en oeuvre pour permettre la rsolution de problmes avec structures
filaires en trois dimensions. Ensuite, elle est applique pour calculer le rayonnement d'un circuit
de type hacheur. Les rsultats de calcul sont complts par une valuation exprimentale du
rayonnement.
Afin d'amliorer les rsultats numriques, nous examinons la validit de l'hypothse "fil
fln" adopte pour modliser les pistes de circuits imprims. Finalement, nous proposons une
hypothse plus prcise qui permet de tenir compte de l'effet de peau et de l'effet de proximit
dans les pistes.
Title : "Modelling of electromagnetic radiation from power electronic circuits. Application to a

chopper."
Keywords : Electromagnetic compatibility (EMC), electromagnetic radiation, power
electronic, moments method, numerical methods.
Direction de recherche:
Monsieur Grard ROJAT, Matre de Confrences
CEntre de Gnie Electrique de Lyon (CEGELY)
UPRESA - CNRS 5005
Ecole Centrale de Lyon B.P. 163
69 131 Ecully Cedex - FRANCE

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ANNEE 1997

No D'ORDRE : E.C.L. 97-40

L'ECOLE CENTRALE DE LYON

tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008

Spcialit: Gnie Electrique

Jaleleddine BEN HADJ SLAMA

JURY : MM. B. JECKO

Professeur - IRCOM - Universit de Limoges

B. DEMOULIN Professeur - LRPE - Universit de Lille

Professeur - LESIR - ENS Cachan

Professeur - CEGELY - Ecole Centrale de Lyon Examinateur

Matre de Confrences - CEGELY - ECL

Professeur - LEG - ENSIEG

Matre de Confrences - LESIR - ENS Cachan

Charg de recherches CNRS - CEGELY - ECL

ma mre, mon pre

tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008

Pour atteindre les sommets il faut allonger ses veilles >>

L'tude de la compatibilit lectromagntique (CEM) est devenue un passage oblig

tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008

Mots cls : Compatibilit lectromagntique (CEM), rayonnement lectromagntique,

The study of electromagnetic compatibility becomes an obligated passage for designers

tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008

Kevwords : Electromagnetic compatibility (EMC), electromagnetic radiation, power

Ce travail a t ralis au Centre de Gnie Electrique de Lyon (CEGELY) sous la direction de

tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008

Enfin, j'adresse toute ma gratitude et mes sincres remerciements ma famille en Tunisie et

Table des matires

Table des matires

Chapitre 1: CALCUL ANALYTIQUE DU CHAMP ELECTROMAGNETIQUE

tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008

II .Calcul du champ lectromagntique rayonn ....................................................................

III .Mise en oeuvre de la mthode analytique .........................................................................23

Chapitre II :METHODES NUMERIQUES ET COMPATIBILITE

Table des matires

1.2 .Avantages et inconvnients de la mthode des EF dans le cas de circuits de

2 .La mthode des diflrencesfinies dans le domaine temporel ........................................37

3 .La mthode des lignes de transmission ...............................................................................

4 .La Mthode des quations Intgrales aux Frontires ........................................................

4.1 .Descriptif de la mthode

5 .La Mthode des Moments ....................................................................................................

tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008

5.1 .Descriptif de la mthode

Chapitre III : LA METHODE DES MOMENTS ET SA MISE EN OEUVRE

1.1 .Equation Intgrale du champ lectrique

1.2 .L'quation intgrale du champ magntique

II .Rsolution par la mthode des moments.............................................................................

III .Mise en oeuvre de l'application aux circuits linaires ......................................................

Table des matires

111.4 .Les sources d'excitation

I V .Extension de l'application aux circuits non linaires ........................................................ 71

IV.l .Dcomposition du problme

Chapitre IV : TECHNIQUES EXPERPMENTALES

tel-00260191, version 1 - 3 Mar 2008

1.1 .Mesure des grandeurs lectriques

1.2 .Mesure des grandeurs lectromagntiques rayonnes

II .LE PROTOTYPE DE L'ETUDE .........................................................................................

3.1 .Le mcanisme de Blocage B .....................................................................................................90

Chapitre V :RESULTATS ET VALIDATIONS

I .Rsultats et discussions ...................................................................................................... 100

II .Exploitation du module de calcul ....................................................................................1 0 5

Table des matires

Chapitre VI :PISTES DE CIRCUITS IMPRIMES ET APPROXIMATION FILS FINS

Z .L'approximationfil fin .......................................................................................................114