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THESE
présentée par
Lahoussine BOUHOUCH
en vue de l’obtention du
DOCTORAT D’ETAT
(Spécialité : ELECTRONIQUE)
Travail effectué dans le cadre d’une coopération entre le LATTIS de l’INSA de Toulouse et
l’Université Ibn Zohr
Remerciements
Le présent travail a été effectué en premier lieu dans le Laboratoire d’Electronique,
d’Automatique et de Traitement du Signal (LEATS) de la Faculté des Sciences d’Agadir, sous la
direction du Professeur Mohamed Fadel. En second lieu, en collaboration avec le Laboratoire
Toulousain de Technologie et d’Ingénierie des Systèmes (LATTS ex LESIA) de l'Institut National
des Sciences Appliquées de Toulouse (INSAT), sous la direction du Professeur Etienne Sicard.
En tant que Directeur de cette thèse, Etienne Sicard, Professeur à l’Institut National des
Sciences Appliquées de Toulouse, se doit d’être remercié pour son support technique et scientifique
constant – ses conseils, ses idées, son soutien – mais je veux aussi lui témoigner ma gratitude pour
m’avoir offert un espace de travail exceptionnel, par son énergie, sa motivation, sa bonne humeur,
son ouverture et sa confiance : merci vraiment Etienne ! Je le remercie également pour avoir accepté
de faire un long voyage pour participer au Jury de cette thèse.
Mes sincères remerciements et tous mes hommages vont aussi à mon co-Directeur de thèse,
Mohamed Fadel, Professeur à la Faculté des Sciences d’Agadir, qui n’a cessé de me conseiller et de
me soutenir durant un certain nombre d’années malgré plusieurs ruptures de ma part dues à ma
fonction.
Mes remerciements vont aussi à Monsieur le Directeur de l’ESTA Ali Moudden, pour son
soutien, ses conseils et pour ces qualités humaines.
Je tiens aussi à remercier ceux qui m’ont fait l’honneur de juger ce travail : Monsieur le
Professeur Ali Moudden, Président du Jury, Messieurs les Professeurs Mustapha Azizan et
Laamari Hlou qui ont assumé la tâche de rapporteur de cette thèse, ainsi que Messieurs les
Professeurs Etienne Sicard, Directeur de thèse et Mohamed Fadel Co-Directeur de thèse, et
également Messieurs les Professeurs Mustapha Banouni, El mostapha Skouri et Ahmed Taoufik,
pour avoir voulu examiner ce travail et participer au Jury.
Un grand merci à Jaâfar Ghambaja, collègue d’enfance et Professeur à la Faculté des Sciences
de Nancy I : merci pour ton aide précieuse, pour avoir insisté à la réalisation d’un certain nombre de
mesures au Laboratoire de Chimie Minérale Appliquée de l’Université de Nancy I – et merci pour
ton amitié.
Je veux aussi remercier les membres du LATTIS (ex LESIA) et en particulier ceux de la
plateforme « CEM des composants », qui m’ont énormément aidé en me transmettant leur savoir
faire, en mettant à ma disposition le nécessaire afin d’effectuer toute sorte de mesure, tout
particulièrement dire merci à Stéphane Baffreau, Sonia Ben Dhia, Alexandre Boyer, Bertrand
Vrignon, Cécile Labussière et Samuel Akue-Boulingui.
Des remerciements tous spéciaux aux ingénieurs de Motorola d’avoir suggéré des solutions et
interprétations ainsi que qu’à ceux d’Infenion pour avoir effectué quelques mesures.
Enfin, je veux dire merci à ma famille – tous – mais surtout à ma femme, mes enfants et mes
parents, sans qui … – bien sûr, mais comme on ne le leur dit jamais …
Cette thèse s’est déroulée dans un contexte ayant deux aspects. Le premier étant une suite
logique de mes travaux antérieurs portant sur l’étude de matériaux ferromagnétiques, dont le
matériau ferromagnétique cible est l’alliage Ni-Fe. Cet alliage est élaboré dans nos locaux
avec la réalisation des mesures nécessaires possibles. D’autres caractérisations sont effectuées
au laboratoire de Chimie Minérale de Nancy I. Le second aspect de cette étude vise à
exploiter cet alliage au service de la CEM des composants. Dans ce cas, une action de
coopération est mise en place depuis plusieurs années avec le LESIA de l’INSA de Toulouse.
Ce laboratoire possède une plateforme spécialisée en CEM des composants.
Le but alors de mes travaux consiste en l’étude de l’alliage Ni-Fe en envisageant son
application pour des fins de CEM.
Le présent mémoire est scindé en deux grandes parties. La première est dédiée aux
matériaux ferromagnétiques et en particulier aux alliages Ni100-xFex. La seconde partie est
réservée à la CEM des composants.
Bouhouch Lahoussine i
La première partie s’articule de la manière suivante :
La deuxième partie est subdivisée en deux volets. Le premier volet est consacré à l’étude
bibliographique de la CEM des composants, alors que le second expose les résultats de
mesure et la simulation des émissions parasites dans des cas pratiques.
Afin d’entamer cette nouvelle science, en l’occurrence la CEM des composants, nous
évoquons dans le premier volet un premier chapitre exposant l’évolution des technologies et
les problèmes liés à la CEM. S’enchaîne ensuite un second chapitre traitant des différentes
techniques de mesures en CEM des composants. Enfin, le troisième chapitre expose les
techniques de modélisations normalisées, en commençant par la description du modèle IBIS
(Input/output Buffer Information Specification), ensuite le modèle d’émission ICEM
(Integrated Circuit Electromagnetic Model) et enfin le modèle de rayonnement direct.
Bouhouch Lahoussine ii
Le deuxième volet correspondant aux résultats pratiques de cette étude est composé lui
aussi de trois chapitres. Le premier chapitre présente les mesures de l’émission en mode
conduit dans le cas d’un microcontrôleur 16-bits. En se basant sur les techniques de
modélisation normalisées, nous avons proposé un modèle qui est validé par la simulation.
Ensuite, un second chapitre traite des mesures de l’émission en mode rayonné, dans le cas
d’un microcontrôleur 32-bits de dernière génération. De même, dans ce chapitre, nous avons
tenté de valider un modèle global par des simulations. Le dernier chapitre est consacré à
l’impact de matériaux ferromagnétiques sur les performances CEM des composants. Ce
chapitre montre avec plusieurs séries de mesures en champ proche, aussi bien électrique que
magnétique, le rôle que peut jouer un blindage en alliage ferromagnétique tel que le
Permalloy (Ni80Fe20), dans la réduction des émissions parasites en mode rayonné des
microcontrôleurs. Nous avons aussi mis en évidence, l’augmentation de leur immunité en
associant à la surface de leur boîtier un film de Permalloy.