Date : Sciences de l’Ingénieur/Production Nom :

Classe : 2STM SPC : Statistical Process Control Doc élève

Le S.P.C.
Statistical Process Control,
Surveillance des Procédés en Continu
ou Maîtrise Statistique des Procédés
Quand ? - Lorsque nous voulons suivre graphiquement et chronologiquement la
qualité d'un caractère mesurable ou non sur un individu déterminé.

Pourquoi ? - Pour permettre au contrôle en cours de fabrication d'assurer la stabilité

de la qualité tout le long du processus d'élaboration du produit.

Comment? - Par l'utilisation judicieuse et raisonnée des cartes de contrôle ; suivant

le cas : carte de contrôle à la mesure ; ou carte de contrôle par attribut

Mesurer la qualité

50
45
40
35
30
Obj
25
20
15
10
5
0

Schéma de gestion

90

80

70

60

Identification du problème 50

40

30

20

10

Diagramme Pareto

Examiner la situation et son historique

1 2 3 4 5 TOTAL 60 90 45

A 50
80 40
70 35

B 40 60 30
50 25
30
C 40
20
30
20 15
D 20
10
10 10
5
E 0
0 0

Feuille de relevés
.
Carte de contrôle
. Histogramme Nuages de points
.

Machine Milieu Matière

Main Méthodes Mesure

d'oeuvre
Diagramme causes-effet

Rechercher les causes les plus

importantes agissant sur le problème

Identifier une solution

La mettre en oeuvre

Contrôler le résultat

Lycée technique Doc : Page 252 / 270

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Le S.P.C est une méthode d'auto-contrôle qui permet à un opérateur de vérifier le niveau de
qualité atteint par son poste, et de le stimuler pour accroître sans cesse le niveau de qualité.

• Les deux principales phases du S.P.C.

Mise en place : Rendre le processus prévisible et capable
Surveillance du processus : Les cartes de contrôle

1èrephase : LA MISE SOUS CONTROLE STATISTIQUE DU PROCEDE

Elle a pour objectif de supprimer les effets assignables (connus, que l'on peut supprimer)
pour ne soumettre le procédé qu'a ces propres variations (ex: jeux dans les glissières)

Exemples de causes assignables:

Dégradation du moyen, matière non conforme, ébauche non conforme,outillage mal conçu, bris
d'outil ...

1. LES ETAPES D'UNE MISE SOUS CONTROLE STATISTIQUE:

Etape 3 TEMPS
Amélioration de la capabilité
Pas de pièces hors tolérance.
Le procédé est sous contrôle.
Le procédé est capable.
On "maîtrise" le procédé.

Sous contrôle
Procédé
(variation imputable aux
prévisible
causes aléatoires réduites)

Etape 2 Tolérance : Ti
Inférieure
Suppressions des principales
causes assignables. Ts : Tolérance
Le procédé est prévisible. Supérieure
La répartition suit une courbe de
gauss.
Présence de pièces hors tolérance.
Le procédé n'est pas capable. Sous contrôle (causes
assignables éliminées)

Etape 1
Le procédé n'est pas sous contrôle.
Procédé
Présence de causes assignables. non
La répartition ne suit pas une prévisible
courbe de gauss.
Présence de pièces hors tolérance.
Hors contrôle
Le procédé n'est pas capable.
(causes assignables présentes)

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BILAN:
ETAPE 1 : éliminer les causes assignables et rendre le processus prévisible.
ETAPE 2 : effectuer un test de normalité puis recherché à réduire les dispersions aléatoires.
ETAPE 3 : étude de la capabilité.

2. ETUDES DE LA CAPABILITÉ :
Définition :
La capabilité est le rapport entre la performance demandée et la performance réelle.

IT Performance demandé
C= =
D Dispersion réelle

Il existe deux types d'indice de capabilité.

Capabilité machine (Cm) Capabilité du procédé (Cp)

Capabilité du procédé (Cp) et indice de déréglage du procédé (Cpk)

Capabilité machine (Cm) et indice de déréglage machine (Cmk)

Comparaison entre Cm et Cp

Cm : représente l'aptitude de la machine à produire l'usinage considéré.

Cp : est l'image de la qualité des pièces livrées chez le client

IT à réaliser
Image de la
capabilité machine

IT de production machine

Image de la
capabilité procédé

IT de production du procédé

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2ème phase: SURVEILLANCE DU PROCESSUS PAR L'INTERMEDIAIRE

DES CARTES DE CONTROLE.
1- OBJECTIFS :

Le suivi et la maîtrise des dispersions disposent d'un outil : les cartes de contrôle. Elles
permettent d'avoir une image du déroulement du processus de fabrication et d'intervenir
rapidement et à bon escient sur celui-ci.

2- PRINCIPE DE FONCTIONNEMENT :

Nous supposons que la distribution de la spécification à contrôler suit une loi normale (ou
sensiblement normale).
Pour suivre l'évolution du procédé, des prélèvements d'échantillons sont effectués
régulièrement (par exemple : 5 pièces toutes les heures).
Pour chaque échantillon la moyenne et l'étendue (ou d'autres paramètres) sont calculées sur la
caractéristique à surveiller. Ces valeurs sont portées sur un graphique.
Au fur et à mesure qu'elle se remplit, la carte de contrôle permet la visualisation de l'évolution du
processus.

A partir de la ligne moyenne, sont définis les différentes limites :

~ les limites supérieures et inférieures de contrôles Lsc , Lic,
~ les limites supérieures et inférieures de surveillances Lss , Lis.

Une intervention sur le processus de fabrication pourra être décidée suivant la position
des points reportés (exemple : un point entre les lignes Ls et Lc entraîne un prélèvement plus
rapproché).
3- PRINCIPE D'ELABORATION DES CARTES DE CONTROLE:

Pendant l'usinage de l’'axe de VTT, l'opérateur

mesure par échantillonnage (5 pièces toutes les 60 min.),
la dimension réalisée 6.1 H12
( 6.1 +0.15/0 ), afin d'établir les limites provisoires de la
carte de contrôle de la moyenne et de l'étendue.

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A chaque heure, il est important de noter les événements qui sont intervenus :C'EST LA
CONSTRUCTION DU JOURNAL DE BORD DE LA FABRICATION.

Sans ce journal de bord, aucune analyse de la production ne sera possible.

Il faut y signaler : l'heure de prélèvement,
. L’heure des pauses et arrêts,
. Les réglages,
. Les pannes et incidents,
. Les changements d'outils,
. Les changements de lots de matière première,
. Les changements d'opérateurs
La production du support d'axe étant stabilisée, à 8h30 on effectue le premier prélèvement:

numéro (i)
échantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
pièce n°1 6.15 6.21 6.14 6.15 6.18 6.18 6.19 6.12 6.18 6.18
pièce n°2 6.14 6.15 6.16 6.13 6.13 6.17 6.19 6.15 6.17 6.14
pièce n°3 6.21 6.13 6.18 6.10 6.14 6.14 6.17 6.15 6.2 6.15
pièce n°4 6.20 6.14 6.10 6.19 6.18 6.18 6.17 6.14 6.2 6.12
pièce n°5 6.13 6.10 6.18 6.17 6.20 6.17 6.13 6.15 6.1 6.14
moyenne (Xi)
6.166 6.146 6.152 6.148 6.166 6.178 6.17 6.142 6.17 6.146
d'échantillon
Etendue (Wi)
0.08 0.11 0.08 0.09 0.07 0.02 0.06 0.03 0.1 0.06
d'échantillon
heure du 8h30 9h30 10h30 11h30 12h00 13h00 14h00 15h00 16h00 17h00
prélèvement
Jour Lundi lundi lundi lundi lundi lundi lundi lundi lundi lundi
événement pause
de
midi

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A partir du premier échantillon, il est possible de commencer la construction des cartes de

contrôle

Carte de contrôle des moyennes : X

6.2

6.16

6.12 N° d'échantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23

Chaque point est la représentation graphique de la valeur moyenne de l'échantillon.

C'est l'indicateur de la tendance centrale de la dimension.
 Cette carte détecte toutDEREGLAGE DU MOYEN par la variation de la moyenne.

Carte de contrôle des étendues : W

0,12

0,1

0,08

0,06

0,04

0,02

0 N° d'échantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23

Chaque point est la représentation graphique de la valeur l'étendue de l'échantillon.

C'est l'indicateur de la variabilité de la dimension.
 Cette carte surveille la PRECISION DU MOYEN.

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4- CALCUL DES LIMITES DE CONTROLE :

4-1 pour tracer ces limites, on à besoin :
- de la valeur moyenne de la production représentée dans la carte par la moyenne des
moyennes des Xi.
1 n
X =  Xi avec n = nombre d'échantillons.
n i =1

- de l'écart type du processus seul. (sans déréglage ni cause assignable).

Dans la carte de contrôle , c'est la moyenne des étendues qui est le reflet de cette dispersion.
1 n
W =  Wi avec n = nombre d'échantillons.
n i =1

4-2 Calcul des limites pour la carte de contrôle de la moyenne :

 Limites de contrôle.
supérieure LSC X = X + KW
inférieure LIC X = X − KW

 Limites de surveillance.
2
supérieure LSS X = X + KW
3
2
inférieure LIS X = X − KW
3

4-3 Calcul des limites pour la carte de contrôle de l'étendue :

 Limite de contrôle.
supérieure LSCW = AW
inférieure LICW = BW
 Limites de surveillance.
supérieure LSSW = W +
2
3
(
AW − W )
inférieure
2
LISW = W + BW − W
3
( )
Les coefficients A, B et K sont fonction de la taille de l'échantillon.

Effectif
de chaque 3 4 5 6 7 8
échantillon
A 2,574 2,282 2,114 2,004 1,924 1,864
B 0 0 0 0 0,076 0,136
K 1,023 0,729 0,577 0,483 0,419 0,373

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Application à notre exemple :

 Choix des coefficients A, B et K : A= 2,114 B= 0 K=0,577

1 n
 Calcul de X et W : X =  Xi =6.1584 mm
n i =1
1 n
W =  Wi =0.07mm
n i =1
 Calculs des limites de contrôle et de surveillance :
LSC X = X + KW = 6.1584+0.577.0.07=6.199mm

LIC X = X − KW = 6.1584 - 0,577.0,07=6.118 mm

2 2
LSS X = X + + (0 ,577 .0 ,005) = 31,95=mm
KW = 31,948026.1584+2/3(0.577*0.07) 6.185 mm
3 3
2 2
− (0 ,577 .0 ,005) = 31,946
LIS X = X − KW = 31,948026.1584-2/3(0.577*0.07) = 6.131
mm mm
3 3
LSCW = AW = 2,114.0,07 = 0,148 mm
LICW = BW = 0.0,005 = 0 mm
2
LSSW = W +
3
2
( )
AW − W = 0 ,005 + ( 2,114.0 ,005 − 0 ,005) = 0 ,0087 mm
3
2
(
20.07+(2/3)(0*0.07-0.07)
LISW = W + BW − W = 0 ,005 + (0 − 0 ,005) = 0 ,0016 mm
3 3
) =
0.023mm
 Tracer ces valeurs sur les deux cartes de contrôle.
 Carte de contrôle des moyennes : X

LSC
6.2
LSS

6.16

LIS
6.12 LIC N° d'échantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23

 Carte de contrôle des étendues : W

LSC
0,14

0,12 LSS

0,1
0,08
0,06
0,04
LIS
0,02
0 LIC N° d'échantillon
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23

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5- ANALYSE DES CARTES DE CONTROLES :

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6.Capabilite et Carte de Contrôle :

6.1La Capabilite :
Définition :
La capabilite est le rapport entre la performance demandée et la performance réelle
d’une machine (moyen) ou d’un procédé.

6.1.1Capabilité machine :
Elle représente la mesure de la performance de la machine seule, indépendamment des
autres facteurs (fonction de la dispersion instantanée).

Elle est définie par :

Avec :
Ts : tolérance supérieure.
Ti : tolérance inférieure.
σi : écart type instantané.
 Calcul de σi : oncalcule σi à partir de la moyenne des étendues R : σi= R / d2
Ou :

à partir de la moyenne des écarts types σ : σi= X / c4

Avec : d2 et c4 sont des coefficients qui dépendent du nombre de produits prélevés dans
l’échantillon (n) :

n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13
d2 1.128 1.693 2.059 2.326 2.534 2.704 2.847 2.970 3.078 3.173 3.258 3.336
c4 0.791 0.886 0.921 0.940 0.951 0.959 0.965 0.969 0.972 0.975 0.977 0.979

Alors on dira que la machine estapte si :

&

3.1.2Capabilité du procédé :

 Définition d’un procédé : C'est un système qui combine plusieurs éléments agissant en
même temps pour l'obtention d'une production de biens ou de services en particulier les 5 M
définis par Ishikawa (Main d'Oeuvre ,Matière, Milieu, Méthodes et Machines).
Définition de la capabilité du procédé :
ElleReflète le fonctionnement de l’ensemble des facteurs de production (fonction de la
dispersion globale).
On dira que le procédé est capable si :

ET :

Avec : σg = c.σ

C est défini selon le nombre de pièce.

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n 10 12 16 20 24 28 30 35 40 50 75 100
c 1.64 1.55 1.43 1.37 1.32 1.30 1.28 1.26 1.24 1.21 1.16 1.13

3.1.3 Application :
Soit les trois situations de capabilité de procède, on donne :
➢ Tolérances = [4,80 - 5,20].
➢ Moyenne = 5,15 Écart-type = 0,10.

Conclure sur la capabilité de procédé pour chaque situation ci dessous

Cp = 0,67 Cpk = 0,17 Cp = 1,33 Cpk = 0,33 Cp = 1,33 Cpk = 1,20

Le processus …………….. Le processus est Le processus est ……..
potentiellement,aptemais la
production est ……..

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Exercice bac 2017 N :

1 Donner deux objectifs de la méthode SPC (MSP : Maîtrise Statistique des Procédés):
……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………
2 Déterminer la capabilité du procédé si la cote supervisée est Ø82 H7 (écart supérieur
es = + 0,035, écart inférieur ei = 0).
a. Calculer l’indice de capabilitéCp(prendre quatre chiffres après la virgule) et conclure :
……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………
b. Conclure sur la capabilité du procédé (procédé réglé ou déréglé), sachant que Cpk = min {2,3 ;
3} :
……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………
3 On souhaite tracer les cartes de contrôle de la moyenne /X et de l’étendue R,
a. Tracer l’allure de la carte de contrôle de la moyenne /X des dix prélèvements ;
b. Tracer l’allure de la carte de contrôle de l’étendue R des dix prélèvements ;
c. Calculer, en tenant compte des valeursde //Xet /R données sur les graphes ci-dessous, les
limites de contrôle supérieures LCS/X pour la moyenne et LCSR pour l’étendue R (prendre quatre
chiffres après la virgule) et tracer les sur les graphes :

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……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………

4 Interpréter les cartes de contrôle de la moyenne et de l’étendue (description et interventions),

……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………

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Exercice Bac 2013 R:

TACHE N° 3.4 : (Pour les résultats des calculs, se limiter à 3 chiffres après la virgule)

a- Calculer la moyenne des moyennes //X, et la moyenne de l’étendue /R:

……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………
b- Calculer les limites de contrôle de la carte de la moyenne /X(LSCx;LICx) :
……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………
c- Calculer les limites de contrôle de la carte de l’étendue R(LSCR;LICR) :
……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………

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d- Tracer les courbes de la moyenne /X et de l’étendue R et préciser la moyenne des moyennes

//X , la moyenne de l’étendue /R, (LSCx;LICx) et (LSCR;LICR) :
Carte de contrôle de la moyenne /X

Carte de contrôle de l’étendue R

e- Interpréter la carte de contrôle de la moyenne /X :

……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………
f- Interpréter la carte de contrôle de l’étendue R:
……………………………………………………………………………………………………
……………………………………………………………………………………………………

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Exercice bac 2012 R:

Donne

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a. Calculer la moyenne des moyennes /X et la moyenne de l’étendue R ;

……………….…………………….…………………….…………………….…………………
……………….…………………….…………………….…………………….…………………
……………….…………………….…………………….…………………….…………………
b. Calculer les limites de contrôle supérieure LSC et inférieure LIC pour la moyenne /X
etl’étendue R, sachant que : LSC X = /X + A2 x /R ; LIC X = /X - A2 x /R ;
LSCR = D4 x /R ; LICR = D3 x /R ;

……………….…………………….…………………….…………………….…………………
……………….…………………….…………………….…………………….…………………
……………….…………………….…………………….…………………….…………………
c. Tracer les cartes de contrôle de la moyenne /X et de l’étendue R et leurs limites ;

d. Interpréter les cartes de contrôle ;

……………….…………………….…………………….…………………….…………………
……………….…………………….…………………….…………………….…………………

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