TP Meca

Discipline Mécanique des Solides
UEF Mécanique des Solides - Intermédiaire
Mécanique des Structures (1)
Mécanique expérimentale des solides
René ROTINAT
Arts et Métiers est un Grand Établissement dépendant du Ministère de l’Éducation Nationale, composé de huit centres :
AIX-EN-PROVENCE ANGERS BORDEAUX CHÂLONS-EN-CHAMPAGNE CLUNY LILLE METZ PARIS
c 2019 (v 2.11) René ROTINAT. Tous droits réservés.
Copyright
Table des matières
Partie I Éléments sur les techniques expérimentales 1
Chapitre 1 Extensométrie à fil résistif 3

1.1 Principe de la mesure de déformation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
1.2 Procédure de collage des jauges . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
1.3 Mesure de la variation de résistance : Pont de Wheatstone . . . . . . . . . . . 8
Chapitre 2 Photoélasticimétrie 9
2.1 Principe de la Photoélasticité . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
2.1.1 Rappel sur la nature de la lumière . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.1.2 Phénomène de biréfringence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
2.1.3 Lois de la photoélasticité . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
2.2 Les différentes configurations de polariscope . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
2.2.1 Le polariscope rectiligne . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
2.2.2 Le polariscope circulaire . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
2.3 Photoélasticimétrie bidimensionnelle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
2.3.1 Les données de l’étude photoélastique . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
2.3.2 Extinction de la lumière : isoclines et isochromes . . . . . . . . . . . . 22
2.3.3 Exploitation des isochromes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
2.3.4 Avantages d’un montage en lumière blanche ou monochromatique . . 24
2.3.5 Les isoclines . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
2.3.6 Exploitation des isoclines : les isostatiques . . . . . . . . . . . . . . . 25
2.3.7 Séparation des contraintes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
2.3.8 Passage du modèle au prototype . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
2.3.9 Méthodes d’analyse automatique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
i
Table des matières
Partie II Sujets de Travaux Pratiques 37
Chapitre 1 Etude d’une poutre circulaire en flexion pure 39

1.1 Description du polariscope utilisé . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
1.2 Cas d’une poutre courbe en flexion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
1.2.1 Étude expérimentale . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
1.2.2 Étude analytique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
Chapitre 2 Cas de la flexion simple 43

2.1 Etude analytique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
2.2 Détermination du module de Young par mesure de déplacement . . . . . . . 44
2.3 Détermination du module de Young par mesure de déformations . . . . . . . 44
2.4 Détermination du coefficient de Poisson par mesure de déformations . . . . . 45
2.5 Détermination du coefficient de Poisson par mesure de déformations . . . . . 45
Chapitre 3 Étude de la déformée d’une structure par les méthodes énergé-

tiques 47
3.1 Description de l’étude . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
3.1.1 Configuration de l’étude . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
3.1.2 Objectifs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
3.2 Travail à effectuer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
Chapitre 4 Étude du flambement 49

4.1 Description de l’étude . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
4.1.1 Configuration de l’étude . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
4.1.2 Objectifs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
4.2 Travail à effectuer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
Annexe A
Structure d’un compte rendu 51
A.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
A.2 Approche analytique / numérique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
A.3 Expérimentation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
A.4 Conclusion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
ii
Première partie
Éléments sur les techniques

expérimentales
1
Chapitre 1
Extensométrie à fil résistif
Sommaire
1.1 Principe de la mesure de déformation . . . . . . . . . . . . . . . . 4
1.2 Procédure de collage des jauges . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
1.3 Mesure de la variation de résistance : Pont de Wheatstone . . . 8
3
Chapitre 1. Extensométrie à fil résistif
1.1 Principe de la mesure de déformation

Une jauge d’extensométrie permet de mesurer les déformations planes à la surface d’une pièce
en exploitant la variation de résistance électrique d’un fil conducteur due à son allongement.
Ainsi, une jauge simple est constituée d’un fil de faible section formant plusieurs convolutions
conduisant à une disposition de celui-ci en lignes parallèles orientées dans la direction de mesure.
Il existe également des " rosettes " constituées de plusieurs jauges simples qui permettent de
mesurer les déformations dans plusieurs directions.
En pratique, le fil conducteur est disposé sur un support en résine isolante (cf. fig. 1.1) qui est
collée sur la pièce à l’aide d’une fine couche colle. La déformation mesurée par une jauge est la
déformation longitudinale moyenne sur la surface couverte par le fil conducteur qui la constitue.
Pattes de Repères de
sortie positionnement
Support
isolant Fil
conducteur
Figure 1.1 – Schéma de principe d’une jauge de déformation
Si la jauge est convenablement collée, les déformations de la pièce sont transmises à celle-ci
et font varier sa résistance. Ainsi, un brin de longueur L, de section S et de résistivité ? présente
une résistance R telle que :
L
R=ρ (1.1)
S
La variation relative de résistance est donc égale à :
dR dρ dL dS
= + − (1.2)
R ρ L S
Si ν est le coefficient de poisson du matériau constituant le fil :
dS dL
= −2ν (1.3)
S L
On montre par ailleurs que la variation relative de résistivité est proportionnelle à celle du
volume (loi de Bridgman) :
dρ dV dL
=C = C(1 − 2ν) (1.4)
ρ V L
Finalement :
dρ dL
= [(1 + 2ν) + C(1 − 2ν)] = K (1.5)
ρ L
K est une constante dépendant du matériau constituant le fil conducteur appelé " facteur de
jauge ". Pour les jauges en Constantan (alliage de cuivre et de nickel), ce facteur est très proche
de 2, 1. La valeur exacte varie cependant d’un lot de jauges à l’autre.
4
1.2. Procédure de collage des jauges
1.2 Procédure de collage des jauges
Pré-polir la zone sur laquelle va être collée la jauge à l’aide du papier abrasif de plus gros
grain (340) pour éliminer les oxydations et défauts de surface. Appliquer quelques gouttes de
conditionneur et polir à l’aide du papier abrasif de grain plus fin (400) cette même zone (le
conditionneur permet de maintenir les particules enlevées par abrasion en suspension et de les
éliminer ensuite à l’aide d’une lingette).
Tracer à l’aide d’une pointe de stylo bille dure les repères de positionnement de la jauge (dans
les sens de la longueur et de la largeur). Appliquer à nouveau quelques gouttes de conditionneur
et nettoyer en passant lentement et fortement une lingette sur la zone (attention : toujours passer
dans le même sens et n’utiliser une surface de lingette qu’une seule fois !)
Figure 1.2 - Collage de jauges (étape 1)
Déposer du neutralisateur sur la zone à étudier (une à deux gouttes) afin de la rendre chi-
miquement neutre et nettoyer à l’aide d’un coton-tige (attention : une seule passe avec un coté
propre du coton-tige, pratiquer un quart de tour entre chaque passe !)
Déposer la jauge à l’aide d’une précelle sur une surface précédemment neutralisée (plaque de
verre), face à coller dessous (face présentant les fils visible). Placer une quinzaine de centimètre
de ruban adhésif sur la jauge (jauge plus ou moins centrée) puis décoller le tout avec un faible
angle.
5
Positionner la jauge sur la pièce à l’aide du ruban adhésif en faisant coïncider les repères de
positionnement de la jauge (Fig. 1) et de la pièce.
Soulever le ruban adhésif (coté opposé aux fils) de manière à dégager la jauge (mais pas ses
fils).
Déposer une goutte de colle cyanoacrylate à la limite du contact entre le ruban et la pièce.
6
1.2. Procédure de collage des jauges
A l’aide de votre pouce ou d’une lingette, plaquer la jauge sur la pièce en refoulant la colle
et les éventuelles bulles en une seule fois puis presser fermement la jauge avec le pouce pendant
1 minute et 30 secondes.
Retirer le ruban adhésif doucement avec un angle proche de 180˚ (de la jauge vers les fils).
Une fois la jauge collée, souder des fils sur les " pattes " de la jauge (l’extrémité des fils à
souder est celle qui ne présente pas de pont. L’extrémité présentant le pont sera relié au boitier
de mesure.
Remarques :
- bien isoler les fils conducteurs de la pièce (à l’aide d’un morceau de ruban adhésif) :
- maintenir les fils sur la pièce à l’aide de ruban adhésif afin d’éviter leur arrachement en cours
de manipulation.
7
1.3 Mesure de la variation de résistance : Pont de Wheatstone

Les variations relatives de résistance de la jauge étant proportionnelles à la déformation
longitudinale dans le sens du fil conducteur, celles-ci sont très faibles, de l’ordre de quelques
10-6. Il faut donc utiliser une méthode très sensible pour mesurer de telles variations. Pour cela,
un pont de Wheatstone est utilisé. Le montage le plus courant est celui dit en quart de pont (cf.
fig. ??).
Alimentation Pont Jauge
R1
R + ∆R
U
U1 U2
R1 R
∆U
Figure 1.10 - Schéma d’un montage en quart de pont
Celui-ci utilise trois résistances d’équilibrage. On peut écrire :
U1 R1 1
= = (1.6)
U 2R1 2
et
U2 R
= (1.7)
U 2R + ∆R
On en déduit :
∆U U1 U2 1 ∆R 1
= − = (1.8)
U U U 4 R 1 + ∆R
2R
Le terme R/R étant très petit devant 1 :
∆U 1 ∆R
= (1.9)
U 4 R
Soit finalement :
∆U
ε=4 (1.10)
KU
Les boitiers Vishay mis à disposition des étudiants pour le TP intègrent directement cette loi
de proportionnalité du déséquilibre du pont et de la déformation (en lui indiquant la valeur du
facteur de jauge K). Ils donnent directement des valeurs de déformations en " microdéformations
" (10-6).
Les jauges utilisées sont des jauges de résistance 120 Ω.
8
Chapitre 2
Photoélasticimétrie
Sommaire
2.1 Principe de la Photoélasticité . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
2.1.1 Rappel sur la nature de la lumière . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.1.2 Phénomène de biréfringence . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
2.1.3 Lois de la photoélasticité . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
2.2 Les différentes configurations de polariscope . . . . . . . . . . . . 20
2.2.1 Le polariscope rectiligne . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
2.2.2 Le polariscope circulaire . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
2.3 Photoélasticimétrie bidimensionnelle . . . . . . . . . . . . . . . . 21
2.3.1 Les données de l’étude photoélastique . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
2.3.2 Extinction de la lumière : isoclines et isochromes . . . . . . . . . . 22
2.3.3 Exploitation des isochromes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
2.3.4 Avantages d’un montage en lumière blanche ou monochromatique . 24
2.3.5 Les isoclines . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
2.3.6 Exploitation des isoclines : les isostatiques . . . . . . . . . . . . . . 25
2.3.7 Séparation des contraintes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
2.3.8 Passage du modèle au prototype . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
2.3.9 Méthodes d’analyse automatique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
9
Chapitre 2. Photoélasticimétrie
La photoélasticimétrie est une technique d’évaluation des déformations (des contraintes) lar-
gement répandue dans l’industrie, notamment l’automobile et l’aéronautique, qui est complé-
mentaire aux méthodes de calcul numérique telles que la méthode des éléments finis (MEF). Sa
capacité à étudier des structures très complexes a amené l’élaboration de démarches hybrides
calcul-photoélasticimétrie. D’ailleurs, les bureaux d’études de taille conséquente (PSA, BMW,
Mercedes, SNECMA, Aérospatiale...) qui disposent de très gros moyens de calcul ont tout de
même systématiquement recours à la photoélasticimétrie afin par exemple, d’élaborer des hypo-
thèses crédibles sur les conditions aux limites.
Précisons que la photoélasticimétrie est la technique expérimentale qui sert à évaluer les
déformations (les contraintes) grâce à la photoélasticité. La photoélasticité est quant à elle l’en-
semble des lois physiques qui étudie les effets sur la lumière des déformations ou des contraintes
appliquées à des corps élastiques. Il existe deux grandes familles de techniques en photoélastici-
métrie :
– la photoélasticimétrie par transmission. Pour cela, un modèle photoélastique analogue à la
structure réelle est réalisé en grandeur réelle ou à une autre échelle. Il subit des sollicitations
équivalentes qui révèlent les déformations ou les contraintes (du seul domaine élastique car
au delà, les relations entre le comportement du modèle et de la structure ne sont plus
valides). Il s’agit ici d’un calcul prévisionnel par similitude.
– La photoélasticimétrie par réflexion utilisant des revêtements sur structures réelles. Cette
méthode consiste à déposer sur les structures réelles une couche mince régulière de matière
plastique. La structure impose au revêtement ses déformations superficielles. Ce sont donc
les déformations de la structure réelle qui sont ici évaluées.
La photoélasticimétrie est basée sur le phénomène de biréfringence accidentelle ou effet pho-
toélastique : tout matériau solide transparent acquiert une birefringence lorsqu’il est soumis à
des solicitations mécaniques extérieures. On précisera donc dans un premier temps, cette notion
et toutes les autres qui sont à la base de cette théorie. L’étude de solides pouvant quelques fois
se réduire aux cas plans, la photoélasticimétrie simplifiée à ce cas sera ensuite présentée. Pour
terminer, sera exposée la technique par réflexion.
2.1 Principe de la Photoélasticité

En 1816, Sir David Brewster montre que le verre et d’autres corps transparents natu-
rellement isotropes peuvent acquérir la propriété de biréfringence lorsqu’ils sont soumis à des
contraintes mécaniques. Il énonçait ainsi la première loi expérimentale sur la biréfringence acci-
dentelle dans les matériaux translucides isotropes.
Dans ses expériences, Brewster montre que lorsque de la lumière traverse une plaque de
verre comprimée suivant une direction transversale à celle de propagation, elle se comporte
comme un cristal uniaxe tel que le spath d’Islande tandis que si elle est en traction, elle se
comporte comme une lame de quartz. Il en conclut que le verre réagit comme un cristal négatif
quand il est comprimé et positif quand il est en traction, les axes de polarisation étant parallèles
aux directions des contraintes maximales et minimales. Pour un état de contrainte donné, la
biréfringence étant proportionnelle à l’épaisseur du matériau, il fait l’hypothèse que ce sont les
contraintes qui convertissent le verre naturellement isotrope en un biréfringent temporaire. De
plus le changement de signe des contraintes produisant un changement de signe de la différence des
indices suggère, qu’en première approximation, la différence des indices doit être proportionnelle
aux contraintes.
Cette découverte sera suivie des travaux de Franz Ernst Neumann en 1841 puis de ceux de
10
2.1. Principe de la Photoélasticité
James Clerk Maxwell en 1852 allait conduire E.G. Coker dans les années 1910 à développer
une méthode optique d’analyse expérimentale des contraintes.
2.1.1 Rappel sur la nature de la lumière

La théorie de la Photoélasticité, pour mettre en évidence la biréfringence, fait appel à des
propriétés de la lumière. Rappelons que la lumière est une onde vibrante provenant d’un rayon-
nement électromagnétique. Le plus souvent, c’est l’énergie émise par un corps chauffé.
D’un point de vue corpusculaire, le transport d’énergie est assuré par des photons (quan-
tas du champ électromagnétique). Bien que nous n’aborderons pas plus en détail ici cet aspect,
il faut noter que la notion de photon et la relation entre la lumière et la matière a conduit à la
naissance des lasers en 1960.
D’un point de vue ondulatoire, on peut représenter un rayon lumineux par la propagation
d’un champ électrique et d’un champ magnétique orthogonaux et en phase en chaque point. Sché-
matiquement, on peut dire qu’un atome, passant d’un état excité (V1 ) à un état plus stable (V0 )
émet un photon qui vibrera selon une fréquence propre à ce passage (V1 − V0 ). Un rayonnement
lumineux quelconque sera donc considéré comme la superposition d’ondes monochromatiques
(longueur d’onde λ donné) indépendantes.
Le caractère vibratoire de la lumière est donc non seulement certain mais il est de plus suffi-
sant pour décrire les phénomènes optiques mis en jeu en Photoélasticité. Regardons maintenant
comment représenter mathématiquement la propagation d’une onde lumineuse et quelles sont ses
propriétés.
2.1.1.1 Équations de Maxwell

La lumière ayant pour origine un rayonnement électromagnétique, elle est ainsi représentée
→
− −
→
par la coexistence de deux champs, le champ électrique E et le champ magnétique H (ou
excitation magnétique) qui se superposent.
La matière, en un point d’observation soumis à un tel rayonnement, réagit en émettant deux
→
−
champs d’induction : le champ d’induction électrique D (ou déplacement électrique) et le champ
→
−
d’induction magnétique B . Les champs d’inductions sont liés aux champs initiaux et interagissent
sur ces champs qui leur ont donné naissance.
→
−
Les forces qui s’exercent sur une charge électrique immobile sont liées à E et celles qui
→
−
s’exercent sur un élément de courant sont liées à B .
2.1.1.1.1 Équations fondamentales

Les équations locales dites de Maxwell (cf équations 2.1 à 2.4), traduisent ainsi mathéma-
tiquement ces phénomènes physiques et forment les lois générales qui unissent les grandeurs
électromagnétiques tel que :
→
−
−→→− ∂B →
−
rot E + = 0 (2.1)
∂t
→
−
−→→− ∂D →
−
rot H − = J (2.2)
∂t
→
−
div D = q (2.3)
→
−
div B = 0 (2.4)
→
−
où J est le courant de conduction dû aux charges et q est la densité volumique de charge.
11
2.1.1.1.2 Équations complémentaires

Ce deuxième groupe d’équations, contient les équations constitutives du milieu considéré qui
traduisent l’influence de la nature de celui-ci sur la propagation des ondes électromagnétiques ;
ainsi, on pose dans le cas général (c’est-à-dire pour un milieu anisotrope du point de vue diélec-
trique et magnétique) les relations suivantes :
→
− →
−
D =K E (2.5)
→
− →
−
B =L H (2.6)
→
− →
−
J =γ E (2.7)
où K est le tenseur permittivité diélectrique (symétrique défini positif) qui traduit les propriétés
électrique de la matière, L est le tenseur perméabilité magnétique qui traduit les propriétés
magnétiques de la matière et γ la conductivité du milieu. On reconnaîtra aisément en l’équation
2.7 la loi d’Ohm.
Pour un milieu diélectrique isotrope, c’est-à-dire homogène (chaque point a les mêmes pro-
priétés), isotrope (les propriétés ne dépendent pas de la direction de propagation), parfait du
point de vue diélectrique (non conducteur) et magnétique (non magnétisable), ses propriétés
physiques ne dépendent ni du point d’observation, ni de la direction d’observation. Il y a propor-
→ −
− → →
− →
−
tionnalité entre D et E qui sont donc parallèles ; de même entre B et H . Alors, la permittivité
et la perméabilité s’expriment scalairement, quelle que soit la direction, par :
(
K = ǫ = C ste
(2.8)
L = µ = C ste
où ǫ est la constante diélectrique ou permittivité et µ est la perméabilité du milieu.
2.1.1.2 Propagation d’une onde lumineuse dans un milieu

Dans le cas où il n’y a ni charge spatiale ou superficielle, ni courant, les équations de Max-
well deviennent, dans un milieu transparent (toute onde incidente est au moins partiellement
transmise), homogène et isotrope, noté par la suite milieu T.H.I. :
→
−
−→→− ∂H →
−
rot E + µ = 0 (2.9)
∂t
→
−
−→→− ∂E →
−
rot H − ǫ = 0 (2.10)
∂t
→
−
div E = 0 (2.11)
→
−
div H = 0 (2.12)
−→
Les opérateurs qui définissent le rot sont de plus linéaires. La dérivation par rapport au temps
des équations ci-dessus peut alors être facilement réalisée. De l’équation 2.10, il vient :
→
−!
−→ −→→ − −→ ∂ H
rot rot E = −µ rot (2.13)
∂t
et on déduit de l’équation 2.9, l’expression :

→
−! →
−
−→ ∂H ∂2 E
rot =ǫ (2.14)
∂t ∂t2
12
Or :
→ −−→ →
− − −→ −→→ −
∆ A = grad div A − rot rot A (2.15)
En posant la relation entre la vitesse de l’onde lumineuse υ, la permittivité et la perméabilité
tel que :
1
υ2 = (2.16)
µǫ
Il vient finalement à partir des équations 2.13, 2.14, 2.15 et 2.11, l’expression :
→
−
→
− 1 ∂2 E
∆E = 2 (2.17)
υ ∂t2
C’est l’équation de propagation à la vitesse υ du vecteur champ électrique dans une propa-
gation d’onde électromagnétique. On obtient par un calcul analogue le résultat pour le vecteur
champ magnétique :
→
−
→
− 1 ∂2 H
∆H = 2 (2.18)
υ ∂t2
Dans le vide, la relation 2.16 s’écrit :
µ0 ǫ0 c2 = 1 (2.19)
1
avec µ0 = 4π.10−7 H.m−1 , ce qui entraine que ǫ0 = 36π 10−9 F.m−1 Pour un milieu diélectrique,
on pose :
µ = µ0 µr
(2.20)
ǫ = ǫ0 ǫr
où µr et ǫr sont des valeurs relatives par rapport au vide ; en optique, on a presque toujours
µr =1. C’est-à-dire que :
c
υ≃√ (2.21)
ǫr
Or l’indice de réfraction du milieu est défini par le rapport de la célérité de la lumière sur sa
vitesse de propagation dans le milieu considéré (n = c/υ). D’où le résultat :
ǫr = n 2 (2.22)
L’indice de réfraction du milieu est donc la racine carrée de la permittivité. C’est une relation bien
vérifiée pour les grandes longueurs d’ondes au contraire des grandes fréquences où la permittivité
subit une dispersion.
→
−
De plus, les équations de Maxwell montrent que E est dans un plan tangent à la surface
d’onde (une surface sur laquelle tous les vecteurs sont par définition en phase) : c’est donc un
→
−
vecteur transversal. Le vecteur H est également tangent à la surface d’onde et reste constamment
→
−
perpendiculaire au vecteur E .
Si l’on considère un milieu T.H.I., la solution aux équations de Maxwell est dans ce cas :
( →− −
→
E = E0 e−jφ e2πjνt
→
− −
→ (2.23)
H = H0 e−jψ e2πjνt
−→ −→
où E0 et H0 désignent les amplitudes vectorielles, ψ et φ représentent quant à eux, les retards
−
→
de phase. Dans le cas général, rien ne peut être affirmé concernant le déphasage entre entre E
→
−
et H . Cependant, on considère que pour les ondes lumineuses progressives, les termes pouvant
13
Figure 2.1 – Représentation vectorielle d’une onde électromagnétique progressive
introduire un déphasage sont négligeables et de plus, correspondent aux approximations faites

dans le cadre de l’optique géométrique, d’où ψ = φ (cf fig. 2.1).
Tout ceci est évidemment valable pour toutes les longueurs d’onde du rayonnement lumineux.
Pour une onde lumineuse, les longueurs d’onde qui vont de 0,39 µm à 0,76 µm représente le
spectre visible (cf fig. 2.2). Dans le domaine du visible, à chaque longueur d’onde correspond une
couleur.
Figure 2.2 – Spectre de la lumière
Cependant, on se limitera maintenant au cas des ondes monochromatiques en raison de leur

simplicité d’expression, d’analyse et de leur capacité à représenter, par combinaison linéaire, une
vibration quelconque.
La plupart des phénomènes relatifs à l’optique physique ont été interprété par Fresnel à
l’aide d’un seul vecteur vibrant transversal. On vient de voir que la théorie de Maxwell intro-
duit deux vecteurs (orthogonaux, en phase et transversaux à la direction de propagation) pour
caractériser une onde lumineuse. La question qui se pose est alors de savoir lequel choisir ? En
fait, les expériences réalisées par Hertz sur la réflexion et la diffraction ont identifié le vecteur
amplitude champ électrique au vecteur de Fresnel. En effet, s’il est possible de mettre en évidence
→
− →
−
les effets optiques liés à H , les récepteurs sont plus généralement sensibles à E . Par définition,
14
on représente donc l’onde lumineuse par son champ électrique dont la solution électromagnétique
aux équations de Maxwell appliquée à une onde lumineuse est donnée par l’équation 2.23 où la
phase φ de l’onde lumineuse est définie par la relation suivante :
2π
φ= δ (2.24)
λ
avec δ la différence de marche (retard de chemin optique) et λ la longueur d’onde (c’est-à-dire
la période spatiale de la vibration lumineuse).
Soit une lumière émise par une source quelconque. Elle se propage, par ondes sinusoïdales,
dans une direction z donnée et vibre dans toutes les directions perpendiculaires à z. Considérons
maintenant une onde plane, obtenue soit en plaçant une source ponctuelle au foyer d’une lentille,
soit en utilisant un diffuseur uniformément éclairé de dimension supérieure à l’objet observé.
Figure 2.3 – Schématisation d’une onde plane
Une onde lumineuse monochromatique plane peut être schématisée par une onde progressive
sinusoïdale de la forme :
−
→ z −
E0 = A sin[ω(t − )]→ ı (2.25)
υ
où A, ω et υ représente respectivement l’amplitude (également appelée vecteur d’onde), la pul-
sation ( 3, 6.1015 rad.s−1 ) et la vitesse dans le milieu T.H.I. considéré de l’onde lumineuse. −
→ı est
quant à lui un vecteur unitaire du plan d’onde perpendiculaire à la direction z de propagation
(cf fig. 2.3).
Dans le vide c=υ = 3.108 m.s−1 , dans un milieu isotrope d’indice de réfraction n (toujours
supérieur à 1) : v = c/n. Les capteurs utilisés pour observer une onde lumineuse (oeil, photomul-
tiplicateur, film photosensible, caméra CCD...) sont sensibles à l’intensité lumineuse c’est-à-dire
le carré de l’amplitude qui dépend à ce titre de l’orientation de → −ı .
Le caractère vectoriel de l’onde lumineuse telle qu’elle vient d’être décrite fait donc apparaître
l’importance de l’orientation de l’onde lumineuse lorsqu’elle se propage. Là où les orientations
de l’onde lumineuse définissent le phénomène de polarisation de la lumière.
2.1.1.3 Polarisation de la lumière

Suivant le module des amplitudes, on peut avoir des lumières quelconques ou polarisées :
elliptique, circulaire ou rectiligne.
Pour la lumière naturelle ou quelconque, le vecteur → −ı est un vecteur quelconque du plan
d’onde dont la variation est aléatoire au cours de la propagation. C’est le cas pour la plupart des
sources et notamment le soleil.
Pour la lumière polarisée elliptique, → −ı est tel que l’amplitude s’écrit (cf fig. 2.3) sous la
forme suivante :
−→ z − z
E0 = a sin[ω(t − )]→ x + b sin[ω(t − + ϕ)]→ −y (2.26)
v v
15
avec ϕ constant. Si au cours de la propagation, l’extrémité de ce vecteur est projetée sur un plan
parallèle au plan d’onde, ce point décrit une ellipse. De plus, l’extrémité du vecteur d’onde a pour
trajectoire, au cours de sa propagation, une hélice elliptique centrée sur l’axe de propagation z.
La lumière polarisée circulaire est schématisé par un vecteur d’onde défini par l’équation
2.26 tel que : a=b.
Pour la lumière polarisée rectiligne, →
−ı conserve une direction fixe au cours de la propa-
gation de l’onde lumineuse.
Figure 2.4 – Polarisation de la lumière
Land en 1938, a étiré fortement une feuille de plastique formée de longues chaînes d’hydro-
carbures d’iode qui créént des électrons de conduction qui peuvent se déplacer le long de ces
chaînes d’hydrocarbures. La composante de l’onde lumineuse parallèle aux chaînes est absorbée,
seule la composante perpendiculaire passe avec une faible atténuation de l’intensité lumineuse.
C’est la solution la moins chère et la plus utilisée pour obtenir de la lumière rectiligne.
Un filtre polarisant rectiligne (souvent appelé polaroïd, du nom d’un manufacturier) ne laisse
donc passer qu’une seule composante de la lumière dans un plan parallèle à une direction fixe
appelée axe de polarisation (cf fig. 2.4).
Deux polaroïds successifs dont les axes de polarisation sont parallèles laissent passer la lumière
(cf fig. 2.5 (a)). Lorsque les axes de ces polaroïds sont perpendiculaires, il y a extinction complète
de la lumière (cf fig. 2.5 (b)).
Figure 2.5 – polaroïds à axes parallèles (a) et axes perpendiculaires (b)
Un milieu est dit isotrope lorsqu’il possède les mêmes propriétés quelle que soit la direction
d’observation. C’est le cas de l’air, de l’eau, du verre et des matières plastiques au repos. Ce
n’est par contre pas le cas des cristaux et de leurs solutions. La pulsation ω n’est pas affectée
par le milieu, ni la période T = 2π/ω qui en résulte ; par contre, la longueur d’onde est modifiée,
puisque λ0 = cT dans le vide et devient λ = vT dans un milieu d’indice n tel que v = c/n et
λ = λ0 /n. La couleur est donc modifiée par le milieu mais ce phénomène n’est pas observé car
notre œil est toujours dans l’air.
16
2.1.2 Phénomène de biréfringence

C’est le Français Erasme Bartholin qui, en 1669, met en évidence pour la première fois le
phénomène de double réfraction (ou de biréfringence). Une lame à faces parallèles taillée dans la
calcite ou spath d’Islande et éclairée sous incidence normale par de la lumière naturelle transmet
deux rayons, l’un non réfracté appelé rayon ordinaire, l’autre réfracté appelé extraordinaire. Les
deux rayons transmis sont polarisés rectilignes suivant deux directions perpendiculaires.
Le phénomène de biréfringence peut ainsi se caractériser de la façon suivante : si une lumière
plane se présente suivant une direction de polarisation quelconque par rapport aux axes du corps
biréfringent, à l’intérieur du corps tout se passe comme si elle était décomposée en deux ondes
perpendiculaires qui progressent avec des vitesses de propagation différentes. À la sortie du corps,
deux ondes PX et PY se trouvent en présence avec des directions de polarisation perpendiculaires
et dont l’une est en retard par rapport à l’autre (cf fig. 2.6) mais qui progressent de nouveau à
la même vitesse.
Figure 2.6 – Décomposition de l’onde polarisée incidente en deux ondes perpendiculaires
Ce retard optique δ, exprimé en longueur, est une caractéristique du phénomène de biréfrin-

gence. Il est le même pour toutes les couleurs du spectre, du moins à l’échelle de précision qui
intéresse les phénomènes photoélastiques. Par contre pour un même retard de chemin optique,
le retard en phase est d’autant plus important que la longueur d’onde λ est plus courte. Le
déphasage introduit est inversement proportionnel à la longueur d’onde :
δ
ϕ = 2π (2.27)
λ
2.1.2.1 Biréfringence naturelle

Certains corps naturels transparents, anisotropes (par exemple les cristaux) présentent le
phénomène de biréfringence. Un corps transparent, naturellement biréfringent, placé entre deux
polaroïds à axes perpendiculaires, l’un quelconque de ses axes étant parallèle à la direction
de polarisation, ne modifie pas la zone d’extinction (cf fig. 2.7). Ce même corps biréfringent,
placé obliquement laisse passer la lumière avec une couleur qui dépend de la biréfringence (cf
fig. 2.7). Le maximum d’intensité est obtenu pour une inclinaisons de 45˚. C’est le phénomène
de biréfringence naturelle.
2.1.2.2 Biréfringence accidentelle

La plupart des corps, transparents, isotropes, normalement non biréfringents, le deviennent
quand ils sont soumis à des déformations ou des contraintes (cf fig. 2.8). Ce phénomène qui est
17
Figure 2.7 – Biréfringence naturelle
instantané et cesse avec les contraintes est appelé biréfringence accidentelle (ou mécanique), qui
est telle que les axes de biréfringence coïncident alors avec les axes principaux des contraintes.
C’est ce phénomène qui est utilisé en photoélasticimétrie. Les corps choisis sont ceux qui sont le
plus sensible à cet effet, à condition que ce phénomène soit stable et reproductible.
Figure 2.8 – Biréfringence accidentelle
2.1.3 Lois de la photoélasticité

Les matériaux photoélastiques sont supposés transparents, non-conducteurs, non-magnétisables
et en négligeant l’absorption ils peuvent donc être considérés comme des diélectriques parfaits.
→
− →
−
À ce titre, le champ électrique E et l’induction D sont donc liés par l’équation 2.5.
Toutefois, ces matériaux sont cette fois-ci considérés comme des milieux (potentiellement)
linéaires anisotropes. Dans ce cas, et par une démonstration analogue au § 2.1.1.2, il vient la
relation :
1/2
K=N (2.28)
où N = [nij ], tenseur des indices optiques, est la racine carrée définie positive du tenseur per-
mittivité diélectrique K = [ǫij ].
Au contraire d’un milieu diélectrique isotrope, le milieu photoélastique relie donc par une
→ −
− →
application linéaire symétrique D et E , définie par six coefficients définissant la permittivité du
milieu, ou l’indice si ce dernier est transparent et non magnétique. Une telle application présente
trois directions propres deux à deux orthogonales, appelées directions principales. La résolution
des équations de Maxwell dans ces axes, pour une onde harmonique monochromatique traversant
un tel milieu, permet de montrer que, à une direction de propagation, correspondent deux vitesses
de phase et deux champs polarisés, perpendiculaires entre eux.
Dans le cas particulier des cristaux uniaxes, la matrice des permittivités est à symétrie cylin-
drique, deux valeurs principales sont égales et le champ électromagnétique présente une symétrie
de révolution autour de cette direction privilégié appelé axe optique. En taillant le cristal par
deux plans parallèles contenant l’axe optique, on obtient une lame biréfringente naturelle d’indice
18
no suivant l’axe optique (indice naturel) et ne dans la direction perpendiculaire appelé indice
extraordinaire.
Soit un milieu transparent, isotrope au repos, ayant la propriété de devenir biréfringent lors-
qu’il est soumis à des contraintes. Au repos, le milieu se caractérise donc par un indice n0 valable
dans toutes les directions. Ce même milieu soumis à des contraintes est maintenant caracté-
risé par un ellipsoïde des indices. L’ellipsoïde des indices est tel que ses directions principales
coïncident avec les directions principales des déformations ou des contraintes. Regardons alors
comment peuvent être reliés les contraintes aux indices optiques du milieu.
Maxwell a établit l’expression liant les indices principaux aux contraintes principales σ1 ,
σ2 et σ3 . Ainsi, pour un milieu élastique, le tenseur diélectrique K et le tenseur des contraintes
σ sont liés linéairement tel que :
K = ǫI + Λ1 σ + Λ2 (trσ)I (2.29)
où ǫ est la constante diélectrique du matériau en l’absence de contraintes (matériau isotrope),

Λ1 et Λ2 sont deux constantes.
Il en résulte bien que les directions principales du tenseur permittivité diélectrique et donc
aussi celui des indices optiques, coïncident avec celles du tenseur des contraintes (des déforma-
tions). Les indices optiques principaux (ni peuvent alors être exprimés en fonction des contraintes
principales σj :
 r
√
 n = ǫ 1 + Λ1 σ + Λ2 (σ + σ + σ )

 1 1 1 2 3


 r ǫ ǫ
√

Λ1 Λ2 (2.30)
n 2 = ǫ 1+ σ2 + (σ1 + σ2 + σ3 )


 r ǫ ǫ
 n3 = √ǫ 1 + Λ1 σ3 + Λ2 (σ1 + σ2 + σ3 )



ǫ ǫ
En tenant compte de la faible anisotropie des milieux photoélastiques et avec (l’indice du
√
milieu au repos étant n0 = ǫ) :

Λ + Λ2
 C1 = 1


2n0 (2.31)
 C2 = Λ2


2n0
où C1 et C2 sont deux constantes dépendant des propriétés optiques du matériau et appelées les
constantes photoélastiques absolues du matériau. Il vient finalement :

 n1 = n0 + C1 σ1 + C2 (σ2 + σ3 )


n2 = n0 + C1 σ2 + C2 (σ3 + σ1 ) (2.32)


n3 = n0 + C1 σ3 + C2 (σ1 + σ2 )

Les variation d’indice observées avec les matériaux photoélastiques (n1 −n0 )/n0 , (n2 −n0 )/n0
et (n3 − n0 )/n0 restent de l’ordre de 10−3 . On respecte bien l’hypothèse de faible anisotropie.
Filon proposa ensuite d’introduire un seul coefficient optique C = C2 − C1 , appelée constante
photoélastique. De nombreuses expériences ont permis la détermination de la constante photoé-
lastique pour des matériaux transparents (cf Tab. 2.1) aussi divers que la gelée de charcuterie,
la gélatine, le celluloïd et les polymères.
19
Matériau Désignation Constante photoélastique E ν

commerciale (Bw) (MPa)
Polyuréthane Hysol 3500 3 0,48
PSM-4 3200 4 0,48
Polyester 82 2400 0,39
Polycarbonate Makrolon 78 2600 0,38
PSM-1 71 2400 0,38
Époxyde Bakelite 57 3350 0,36
Araldite 56 3200 0,36
PADC (Verre organique) CR39 34 2000
PMMA Plexiglas 4,5 3100 0,4
Verre 2 70000 0,26
Table 2.1 – Propriétés optico-mécaniques de matériaux
2.2 Les différentes configurations de polariscope
Quelque soit le type de technique de photoélasticimétrie (par transmission ou par réflexion)

nous pouvons utiliser des polariscopes dont le principe est donné maintenant. Nous pouvons
distinguer deux types de montages expérimentaux permettant d’obtenir des réseaux de franges
photoélastiques, il s’agit du polariscope à lumière dirigée et du polariscope à lumière diffuse.
Leur différence réside simplement dans les caractéristiques des éléments optiques.
Figure 2.9 – Schéma d’un polariscope à lumière dirigée
Le principal avantage du polariscope à lumière dirigée (cf fig. 2.9) est de concentrer la lumière
en deux points où il est possible de placer les polariseurs et analyseurs. Ceci permet entre autre de
pouvoir utiliser des éléments polarisants de petites dimensions et de meilleure qualité ponctuelle
sans avoir recours à une bonne qualité sur l’ensemble de la surface comme c’est le cas avec les
polariscopes à lumière diffuse (cf fig. 2.10).
20
2.3. Photoélasticimétrie bidimensionnelle
Figure 2.10 – Schéma d’un polariscope à lumière diffuse
2.2.1 Le polariscope rectiligne

Le Polariscope à lumière rectiligne (cf fig. 2.11) ou polariscope rectiligne est un ensemble
composé d’une source lumineuse donnant une onde plane, de deux polaroïds (appelé polariseur
pour le plus proche de la source lumineuse et analyseur pour le plus proche de l’oeil), d’un
appareil de mesure (photomultiplicateur, film photographique, oeil, caméra CCD) et enfin du
modèle que l’on souhaite étudier.
Figure 2.11 – Schéma d’un polariscope rectiligne
Les deux polaroïds sont croisés (axes de polarisation perpendiculaires) et orientés perpendi-
culairement au chemin optique mais peuvent tourner dans leur plan.
2.2.2 Le polariscope circulaire

Afin de perfectionner cette technique nous pouvons utiliser un polariscope circulaire, c’est-à-
dire un polariscope rectiligne sur lequel est muni en plus de deux lames quart d’onde.
Figure 2.12 – Schéma d’un polariscope circulaire
2.3 Photoélasticimétrie bidimensionnelle

Historiquement, du fait de la simplicité de mise en oeuvre, les premières études expérimentales
par photoélasticimétrie ont été appliquées à des problèmes bidimensionnels pour lesquels il suffit
21
de réaliser un modèle translucide plan de la pièce que l’on désire étudier. De plus, dans le domaine
du génie mécanique tout comme en génie civil, de nombreux problèmes entrent dans le cadre de
l’élasticité plane.
La photoélasticimétrie bidimensionnelle permet donc à l’aide d’un modèle plan de fournir des
données expérimentales permettant la détermination de l’état de déformation ou de contrainte
dans le modèle (supposé uniforme dans l’épaisseur).
2.3.1 Les données de l’étude photoélastique

On a vu qu’un modèle photoélastique se présente comme un biréfringent dont le tenseur des
indices varie en général avec le point comme le tenseur des déformations (ou des contraintes), ce
qui implique : la coïncidence des directions principales optiques dans le plan du modèle avec les
directions principales des déformations (ou des contraintes).
La photoélasticimétrie nécessite l’utilisation d’un appareillage : un polariscope parmi ceux
présentés ci-dessus (cf § 2.2). Il se compose d’une source de lumière blanche ou monochromatique,
d’une première lame polarisante appelé polariseur, délivrant une lumière polarisée rectiligne ou
circulaire et d’une seconde lame appelée analyseur croisé (ou non) avec la première. Les modèles
photoélastiques utilisés sont généralement des polymères, araldites de moulage (cf tableau 2.1)
qui doivent être placés entre le polariseur et l’analyseur sous chargement (dans un dispositif
permettant de leur appliquer différents cas de charges avec des sollicitations d’intensité variable).
Ce modèle (d’épaisseur e) est alors observé par transparence.
L’observateur peut alors voir, par transmission à travers l’analyseur, deux réseaux, l’un com-
posé de franges colorées en lumière blanche, noires en monochromatique, indépendantes de l’orien-
tation des polariseur, appelées isochromes, l’autre composé de franges noires quelle que soit la
longueur d’onde et dont la position dépend de l’orientation des polariseurs, appelée isoclines.
2.3.2 Extinction de la lumière : isoclines et isochromes

Plaçons-nous dans le cas d’un polariscope rectiligne (cf fig 2.11). À l’entrée du modèle consi-
déré comme origine de z, nous sommes en présence d’une onde plane polarisée rectilignement
suivant la direction OX. Nous pouvons donc écrire l’amplitude de l’onde lumineuse. Nous la pro-
jetons ensuite suivant les directions principales des contraintes. À la sortie du modèle d’épaisseur
e, il est apparu une différence de marche δ appelée biréfringence.
Nous devons ensuite effectuer la projection dans le repère XY pour ne conserver à la sortie de
l’analyseur que la composante suivant Y. Nous obtenons alors l’expression de l’intensité lumineuse
(cf fig. 2.13).
Écrivons la formule de l’intensité lumineuse en sortie d’un polariscope à champ sombre :
ϕ
I = a2 sin2 (2α)sin2 (2.33)
2
– sin(2α) = 0 La condition citée ci-dessus en un point du modèle signifie qu’en ce point les
directions des contraintes principales sont parallèle aux deux directions perpendiculaires de
polarisation du polariseur et de l’analyseur. Cette propriété est indépendante de la longueur
d’onde, de l’épaisseur et du caractère biréfringent du modèle photoélastique.
Les lieux de ces points, appelés isocline, apparaissent sous forme de lignes noires et dé-
pendent de l’orientation des polariseurs. Si la lumière sortant du polariseur tombe un point
du modèle o un direction principale d’indice est confondue avec la direction de la vibration,
cette dernière traverse le modèle sans être modifié et l’analyseur croisé arrête la lumière,
produisant une extinction. Les isoclines sont donc les points où les direction principales de
22
Figure 2.13 – Schéma de principe d’un polariscope rectiligne
contrainte sont parallèles aux axes des polariseurs. Elles sont donc utiles à la détermination
des directions principales de contrainte et tout point du modèle.
– sin(ϕ/2) = 0 Cette condition se traduit par ϕ = 2πn avec n=1, 2, ... Le lieu des points
pour lequel n=1 constitue la frange isochrome de premier ordre. Ceux pour lesquels n=2
sont situées sur la frange de second ordre et ainsi de suite.
En lumière monochromatique, les isochromes correspondent aux points du modèle où la
différence de chemin optique des deux ondes transmises est égale à un nombre entier de
longueur d’onde δ = nλ.
2.3.3 Exploitation des isochromes

D’après la relation de Maxwell 2.32, la frange d’ordre n ou isochrome d’ordre n, qui dépend
de la longueur d’onde de la lumière, est un lieu d’extinction des points vérifiant :
n·λ
σ1 − σ2 = (2.34)
C·e
Les isochromes sont donc les points du corps où la différence des contraintes principales est
constante. Pour une valeur donnée de λ, l’isochrome d’ordre n correspond à une ligne d’égale
valeur de σ1 − σ2 , c’est-à-dire à un facteur 1/2 près, à une ligne d’égale valeur du cisaillement
maximal, puisque τ = (σ1 − σ2 )/2.
L’observation des isochromes est différente suivant que l’on opère en lumière blanche ou en
lumière monochromatique. En lumière blanche, le phénomène est plus complexe. En un point du
modèle il existe toujours une longueur d’onde λ telle que le déphasage soit un multiple de 2π,
cette radiation disparaît donc du spectre et l’observateur voit la couleur complémentaire selon
l’échelle des teintes de Newton.
En lumière blanche, toutes les couleurs du spectre de la lumière naturelle sont représentées
et le phénomène de biréfringence accidentelle produit sur l’écran des franges colorées. Les lignes
23
isochromes correspondent non plus à une extinction totale mais à une extinction d’une couleur
particulière du spectre. L’extinction de la longueur d’onde particulière λ se fera si et seulement
si la relation n entier est vérifiée.
La différence de contraintes principales et la longueur d’onde varient dans le même sens, donc
les contraintes augmentent dans le sens :
jaune –> orange –> rouge –> violet –> bleu –> vert
ce qui correspond aux variations suivantes du spectre complémentaire observé :
violet –> bleu –> vert –> jaune –> orange –> rouge
En lumière blanche, les points non contraints restent noirs.
Donc dans ce cas, les franges (correspondant à un ordre entier) sont les lignes de séparation
entre la couleur rouge et la couleur bleue. Elles sont violettes et correspondent à l’extinction du
jaune.
En lumière monochromatique de longueur d’onde λ, les isochromes d’ordre entier sont
soit brillantes, soit noires selon la position des lames quart d’onde (cf fig. 2.12 et paragraphe
suivant).
Dans le cas d’une lumière monochromatique obtenue par une lampe à vapeur de sodium,
c’est à dire jaune, nous avons extinction de la lumière (apparition de frange noire) pour un
même retard que les franges d’ordre entier obtenues en lumière blanche.
2.3.4 Avantages d’un montage en lumière blanche ou monochromatique

Les deux types de lumière sont utilisés en photoélasticimétrie.
La lumière blanche a pour avantage :
– de permettre de mieux distinguer les isoclines noires des isochromes colorées (sauf la frange
zéro),
– de savoir dans quel sens croit les contraintes lorsque l’on franchit une une frange. Ces
valeurs croissent lorsque l’on passe du rouge au bleu (ou vert),
– de reconnaître avec un peu d’habitude, l’ordre des franges d’après les différentes teintes
Par contre, la lumière blanche a pour inconvénient de ne pouvoir permettre l’observation des
franges d’ordre supérieur à 4 ou 5. Plus l’ordre est élevé, plus les franges sont pâles. En lumière
monochromatique on peut observer nettement un nombre indéfini de franges.
2.3.5 Les isoclines

En faisant varier les orientations du polariseur et de l’analyseur (ceux-ci devant rester croisés),
nous obtenons le réseau d’isoclines. Cette carte des isoclines n’a pas grand intérêt mais elle sert en
réalité d’étape intermédiaire pour obtenir (par construction graphique) les lignes isostatiques
(cf § 2.3.6) qui sont les lieux d’égale valeur de contrainte principale. La carte des isostatiques
s’avère entre autre utile pour les problèmes d’optimisation de forme d’une pièce ou pour le
placement de jauges de déformations.
2.3.5.1 Propriétés des isoclines

Les isoclines Iα et Iα+π/2 étant identiques, on ne fera l’exploration des isoclines que pour
0 < α < π/2.
– Si deux isoclines se coupent en un point, elles se coupent toutes en ce point (point isotrope).
– Au point du contour libre, les directions principales sont données par la normale et la
tangente. Le paramètre α d’une isocline qui coupe une frontière libre est donc déterminé
par le point d’intersection.
24
– Si un solide comporte un axe de symétrie et si les charges sont symétriquement distribuées

par rapport à cet axe, alors l’axe de symétrie est l’isocline d’un paramètre.
– La présence d’un point isotrope sur la frontière libre peut être reconnue par le paramètre
de l’isocline qui passe par ce point. Si ce paramètre est différent de celui défini ci-dessus,
alors le point considéré est isotrope.
2.3.5.2 Élimination des isoclines

La présence visible des isoclines gêne souvent l’observation des isochromes puisqu’elles se
superposent. Toutefois, il est possible de les distinguer puisque pour une charge donnée, les
lignes isoclines contrairement aux lignes isochromes, se déplacent lors de la rotation des polaroïds
croisés.
Il existe néanmoins un dispositif optique permettant d’élimer les isoclines pour observer les
isochromes seules : c’est la configuration du polariscope circulaire qui nécessite l’adjonction de
deux lames quart d’onde, une de chaque côté du modèle (cf fig. 2.12).
Une lame quart d’onde est un biréfringent naturel qui, comme son nom l’indique, introduit un
retard optique (différence de marche) d’un quart de la longueur d’onde d’une source monochro-
matique donnée entre les deux ondes transmises. Si les axes de cette lame sont orientés à 45˚ de
la direction de polarisation de la lumière incidente, la lumière émergente est polarisée circulaire.
La direction de polarisation traversant le modèle est tournante, elle ne peut plus coïncider avec
un direction principale d’indice et les isoclines ne sont plus visibles. Cependant la lame quart
d’onde introduit un déphasage parasite qui se superpose aux déphasages que l’on mesure, il est
éliminé par une deuxième lame identique, mais croisée avec la première. L’intensité transmise
par l’analyseur est indépendante de l’angle α. En effet, il vient :

2 2 πδ
I = a sin (2.35)
λ
Les lieux d’extinction de cette intensité sont donc uniquement les isochromes.
2.3.6 Exploitation des isoclines : les isostatiques

Les lignes isostatiques sont les trajectoires orthogonales des contraintes principales. Ce sont
donc les lignes de champ (ou enveloppes) des contraintes principales. C’est-à-dire qu’en cha-
cun de ses points, une isostatique est tangente à l’une des directions principales en ce point et
normale à l’autre direction. Elles constituent donc deux réseaux de courbes orthogonales. Cette
représentation est plus "parlante" que celle des isoclines car les isostatiques donnent une idée de
la distribution et du cheminement des contraintes. Elles sont également utiles pour les calculs
de séparation des contraintes par intégration graphique. (cf § 2.3.7.1). On déduit ces réseaux
d’isostatiques à partir des isoclines par un procédé graphique.
2.3.6.1 Tracé des isostatiques

Pour tracer les isostatiques, on commence par relever les isoclines par exemple de 15 en 15
degrés. Le long de chacune d’entre elles, on trace de proche en proche des petites croix dont
les branches sont parallèles aux directions principales. Par définition, tout le long d’une même
isocline, les branches des croix sont parallèles à des directions fixes. Ensuite, on trace de proche
en proche les isostatiques. Évidemment, on n’en trace qu’un nombre limité puisqu’il en existe
une infinité. La distance qui sépare deux isostatiques successives est choisie arbitrairement par
25
un compromis entre la précision recherchée et la nécessité de ne pas trop charger le graphique.

On est aidé lors du tracé par certaines de leurs propriétés géométriques. en particulier, deux
isostatiques qui se croisent se coupent à angle droit. La seule difficulté que présente, le tracé des
isostatiques, est le passage des points singuliers.
Aux points singuliers (points isotropes), les contraintes normales sont égales dans toutes les
directions. Les directions principales sont alors indéterminées. On reconnaît un point singulier
au fait que, lorsqu’on tourne solidairement le polariseur et l’analyseur, une isocline tourne en
passant toujours par ce point. Sauf dans le cas de charges élémentaires, on trouve pratiquement
toujours des points singuliers lors de l’analyse photoélastique d’une structure. Théoriquement,
les expressions analytiques qui peuvent représenter des états de contraintes conduisent à une
infinité de types de points singuliers. Cependant, dans la pratique, seuls quelques cas simples
facilement identifiables peuvent se présenter. Sur la figure suivante, sont représentés les exemples
les plus courants, c’est-à-dire, un point répulsif à 3 axes (a) et un point attractif à un axe (b) :
Figure 2.14 – Tracé d’une isostatique aux points singuliers
On les reconnaît au fait que lorsqu’on tourne solidairement d’un quart de tour l’ensemble
des polaroïds, l’isocline tourne d’un demi tour, en sens contraire pour un point répulsif, dans le
même sens pour un point attractif. Les mêmes cas peuvent se produire le long des bords libres,
donnant ce qu’on appelle des demi-points singuliers.
Concernant les isostatiques, il existe plusieurs autres techniques simples de tracé des isosta-
tiques à partir d’un réseau d’isoclines assez serré. En voici deux exemples.
2.3.6.1.1 Méthode des cordes

Soient θ1 et θ2 les paramètres de deux isoclines voisines, A1 A2 un arc isostatique. On assimile
l’arc A1 A2 à un arc de cercle. D’où la construction du point A2 à partir du point A1 .
\ α1 + α2
DA1 A2 = (2.36)
2
Le deuxième réseau est obtenu par le même procédé après une rotation de π/2 de la direction
du repère.
2.3.6.1.2 Méthode des tangentes

Entre deux isoclines I1 et I2 , on assimile l’isostatique passant par A1 à sa tangente en ce
point. Á l’intersection A2 de cette tangente avec l’isocline I2 , on répète l’opération et de proche
26
Figure 2.15 – Tracé d’une isostatique par la méthode des cordes
en proche on obtient ainsi un tracé approché de l’isostatique, d’autant meilleur que les isoclines
sont plus serrées.
Figure 2.16 – Tracé d’une isostatique par la méthode des tangentes
2.3.6.2 Propriétés des isostatiques

La seule considération du rayon de courbure des isostatiques permet de connaître sans mesure,
l’allure de variation des contraintes principales.
– Lorsqu’une isostatique présente une forte courbure (un faible rayon), la contrainte prin-
cipale qui lui est perpendiculaire varie rapidement dans le voisinage de cette région. La
variation est d’autant plus rapide que le rayon de courbure est plus faible.
– Lorsqu’une isostatique est rectiligne sur une portion de sa courbure, la contrainte principale
qui lui est perpendiculaire est stationnaire, présentant généralement soit un maximum, soit
un minimum. Un point d’inflexion d’une isostatique correspond donc à un maximum ou à
un minimum de la contrainte qui lui est perpendiculaire.
– Les axes de symétrie sont des isostatiques.
– Si on considère l’isostatique parallèle à σ1 (σ1 > σ2 ) et que l’on s’éloigne du point considéré
le long de cette isostatique et qu’on quitte l’isostatique de la famille perpendiculaire par sa
convexité, σ1 décroît. Cette règle est inversée avec la courbure et également lorsqu’il s’agit
de σ2 au lieu de σ1 . Voici un exemple d’application de cette règle sur la figure ci-dessous.
2.3.7 Séparation des contraintes

Dans un état de contraintes planes, le nombre d’inconnues en chaque point est de trois, les
deux contraintes principales, orthogonales entre elles et l’angle que fait l’une d’entre elles avec
une direction de référence. La photoélasticimétrie ne fournit que deux mesures, la connaissance
des isochromes donne une information sur la différence des contraintes principales (σ1 − σ2 ) et le
réseau d’isoclines conduit à la connaissance de l’angle α. Il faut donc réaliser "la séparation des
27
Figure 2.17 – Sens de variation des contraintes principales
contraintes". Pour cela, il existe plusieurs méthodes conduisant à une troisième valeur permettant
de "séparer" les contraintes principales. Soit effectuer une mesure de photoélasticité interféro-
métrique afin d’obtenir un troisième réseau de franges appelé isopachique, ces isopaches étant
les lieux où σ1 + σ2 a une valeur constante. Autre possibilité, réaliser une mesure en incidence
oblique. Enfin, la dernière méthode consiste à faire une intégration le long d’une isostatique.
2.3.7.1 Méthode d’intégration
2.3.7.1.1 Le long d’une droite quelconque

Les composantes analytiques d’un état de contrainte bidimensionnel rapporté aux directions
x et y sont liées par les relations classiques dites de compatibilités. Soit l’une d’entre elles :
∂σxx ∂τxy
+ =0 (2.37)
∂x ∂y
avec :
1
τxy = − (σ1 − σ2 )sin(2α) (2.38)
2
où σ1 et σ2 sont les contraintes principales et α le paramètre isocline. τxy peut être connu en
chaque point par des mesures en incidence normale qui donne σ1 − σ2 et α.
En partant d’un point connu A (par exemple sur un bord libre), on trace les deux axes x
et y. L’intégration se fera suivant la direction x. On trace ensuite une droite D d’ordonnée ∆y
parallèle à Ox. On mesure alors les valeurs de σ1 − σ2 au points Mi sur Ox et Ni sur D, de mêmes
abscisses. La différence donc donc :
∂σxx ∂τxy ∆τxy

=− ≃− (2.39)
∂x ∂y ∆y
Il faut tracer la courbe représentative de cette fonction le long de x. l’intégration donne alors
σxx . De plus, σxx est liée aux contraintes principales par la relation :
σ1 + σ2 σ1 − σ2
σxx = + cos(2α) (2.40)
2 2
On dispose donc d’une équation supplémentaire pour calculer séparément σ1 et σ2 .
28
2.3.7.1.2 Le long d’une isostatique

Cette méthode, qui consiste a faire une intégration le long d’une isostatique implique bien
évidemment leur tracé (cf § 2.3.6). Soit I1 une isostatique portant la contrainte principale σ1
et s1 l’abscisse curviligne d’un point M sur I1 et ρ2 le rayon de courbure de l’isostatique I2
perpendiculaire à I1 . La relation de Lamé-Maxwell donne :
∂σ1 σ2 − σ1
= (2.41)
∂s1 ρ2
De même, avec s2 l’abscisse de M sur I2 et ρ1 le rayon de courbure de l’isostatique I1
∂σ2 σ1 − σ2
= (2.42)
∂s2 ρ1
ρi est positif si, quand sj croit, on rencontre l’isostatique par sa concavité, et réciproquement.
On peut, connaissant les contraintes principales en un point (par exemple sur un bord)
intégrer les relations de Lamé-Maxwell de proche en proche et ainsi déterminer les contraintes
en tout point.
2.3.8 Passage du modèle au prototype

Lors de l’analyse d’un modèle fabriqué à partir d’un matériau photoélastique, la question
d’applicabilité des résultats est soulevée, car le prototype est rarement de cette matière. Bien
entendu, les constantes élastiques du modèle photoélastique sont très différentes de celles du
prototype.
Des résultats de la théorie de l’élasticité et des considérations de similitude permettent de
l’étude photoélastique de déduire les grandeurs mécaniques dans le prototype.
Dans le cas d’une plaque remplissant les conditions de contraintes planes généralisées, la
distribution des contraintes moyennes est généralement indépendante des constantes élastiques
du matériau, pourvu que la la limite d’élasticité linéaire ne soit pas dépassée. Une exception à
cette règle se produit dans le cas où la plaque est multiplement connexe. Dans un tel cas, la
distribution des contraintes dans le modèle varie suivant le coefficient de Poisson du matériau.
la valeur de cette variation est cependant faible et donc les résultats obtenus sur le modèle
photoélastique plan peuvent être transposés au cas d’une structure réelle.
L’indépendance de la constante élastique n’est pas applicable en général à un système de
contraintes à trois dimensions, mais tant que le coefficient de Poisson n’est pas sérieusement
différent pour les deux matériaux, la différence dans les contraintes est faible.
Finalement, les contraintes dans le prototype peuvent s’écrire :
FP ro LM od eM od
σP ro = σM od (2.43)
FM od LP ro eP ro
avec σ la contrainte, F l’effort appliqué, L la dimension latérale et e l’épaisseur.
2.3.9 Méthodes d’analyse automatique

Les méthodes de photoélasticimétrie bidimensionnelle permettent de déterminer l’état de
contrainte d’un modèle photoélastique plan. Lorsque l’on étudie une éprouvette plane, on ob-
tient des informations sur les contraintes principales, tandis que l’étude d’une tranche donne
généralement des informations sur les contraintes principales secondaires. Dans les deux cas, on
place le modèle dans un polariscope et on observe des réseaux de franges. L’analyse de ces réseaux
permet d’obtenir deux paramètres qui intéresse le mécanicien :
29
– le paramètre isocline α, pour définir les directions des contraintes principales (secondaires
ou non),
– le paramètre isochrome ϕ proportionnel à leur différence.
Cette analyse s’est longtemps faite à la main, mais la mesure des paramètres en plusieurs
points prenait beaucoup de temps et la précision des résultats ainsi obtenus était modérée. Il y a
donc eu de nombreuses tentatives pour automatiser les mesures des paramètres photoélastiques.
Les premières méthodes à champ complet permises par cette automatisation sont nées fin des
années 70 avec l’apparition des techniques d’acquisition et de traitement d’images.
2.3.9.1 Premières méthodes
La méthode présentée dans ce paragraphe a été parmi les premières proposant de remplacer
l’habituel appareil photographique par une caméra CCD qui, reliée à une carte d’acquisition
numérique, permettait de stocker un très grand nombre de données dans un ordinateur. Ces don-
nées pouvaient ensuite être traitées par différentes techniques comme la binarisation, le filtrage,
l’amincissement, etc..
R. K. Müller et L. R. Saackel ont proposé en 1979, une des toutes premières méthodes
automatiques à champ complet. Cette méthode consiste à enregistrer à l’aide d’une caméra CCD
l’image du modèle photoélastique dans sa totalité. Puis il faut stocker 16 images de franges
isoclines pour des orientations des polariseurs variant de 0˚ à 90˚. Enfin, est enregistrée une
image des franges isochromes (cf fig. 2.18a). Ces images sont ensuite traitées numériquement de
la manière suivante. Le contour du modèle est premièrement identifié par binarisation de l’image
du modèle enregistrée sans les polariseurs. Cette image binarisée permet alors de définir un
masque, qui, superposé à l’image du réseau de franges, permet d’analyser uniquement les points
appartenant au modèle. Un filtrage passe-bas est utilisé pour réduire les effets du bruit. Chaque
image de frange est ensuite binarisée en effectuant un seuillage (cf fig. 2.18b). Une technique
d’amicissement permet d’extriare alors les lignes centrales des franges isochromes (cf fig. 2.18c)
et des franges isoclines.
Figure 2.18 – Obtention des lignes centrales des franges isochromes
Une méthode de suivi de point permet alors de déterminer l’ordre de frange isochrome en
repérant manuellement les lignes centrale par un nombre. Ce n’est pas encore une méthode
automatique et totalement à champ complet puisque les informations sont issues des lignes
médianes de chaque frange. de plus, cette méthode suppose un éclairage de très bonne qualité du
point de vue du contraste et de la variation d’intensité de l’éclairement. Il est tout à fait possible,
afin de réduire le bruit dès la prise d’images, de moyenner plusieurs prises de vues de la même
30
scène et aussi de tenir compte des variations d’éclairage avec des enregistrement préalable des
champs lumineux en l’absence de chargement.
2.3.9.2 Méthodes à plusieurs configurations de polariscope

Quelque soit le polariscope utilisé, on peut déterminer l’expression générale de l’intensité
lumineuse émergente. Cette expression est toujours fonction du paramètre isocline α et du pa-
ramètre isochrome ϕ :
Type de polariscope Champ clair Champ sombre

h ϕ i ϕ
Rectiligne I(x, y) = I0 1 − sin2 (2α)sin2 I(x, y) = I0 sin2 (2α)sin2
2 2
ϕ ϕ
Circulaire I(x, y) = I0 cos2 I(x, y) = I0 sin2
2 2
Table 2.2 – Répartition de l’intensité lumineuse pour divers types de polariscopes
Dans le cas général d’un polariscope rectiligne, défini par l’angle θ entre le polariseur et
l’analyseur, les équations deviennent :
h ϕ i
I(x, y) = I0 cos2 (2α − θ) − sin(2α)sin2(α − θ)cos2 (2.44)
2
Les méthodes que nous allons décrire dans ce paragraphe consistent à utiliser différentes
configurations du polariscope. A chaque configuration correspond une forme particulière de l’ex-
pression générale de l’intensité. La combinaison de plusieurs de ces équations permet de calculer
α et ϕ, en tout point du modèle.
Si par exemple le modèle, placé dans un polariscope rectiligne, est observé pour trois confi-
gurations différentes de l’analyseur (θ = 0˚, θ = 45˚ et θ = 90˚) correspondant à trois images
de franges que l’on note I0 , I45 et I90 , le paramètre isocline en tout point du modèle est donnée
par :
1 2I90
α = arctan (2.45)
2 2I45 − I0 − I90
Les valeurs de α sont donc comprises entre −π/4 et π/4. Comme elles sont connues à π/2
près et que les directions principales sont perpendiculaires entre elles, ces valeurs suffisent pour
une détermination complète.
Les valeurs du paramètre isochrome sont obtenues par :
A − A2 − B 2

ϕ = arccos (2.46)
1−A
avec : 
I0 − I90


 A=


I0 + I90 (2.47)
2I45 − I0 − I90


 B=


I0 + I90
Elles sont comprises entre 0 et π puisqu’elles sont issues d’une fonction cosinus inverse. Il est
donc très difficile de les recaler, c’est-à-dire de trouver l’ordre de frange local par des méthodes
31
de proximité comme on peut faire avec les méthodes de recalage de phase qui utilisent une
fonction tangente inverse. Pour obtenir une équation donnant la valeur de la tangente de ϕ, il
faut introduire une lame quart d’onde devant l’analyseur et donc utiliser un polariscope rectiligne
circulaire. Dans ces conditions, l’intensité lumineuse en sortie de l’analyseur peut être calculée
classiquement (cf éq. 2.19).
Figure 2.19 – Configuration d’un polariscope rectiligne circulaire
En sortie du polariseur, la vibration lumineuse A a pour forme :

1
A=a (2.48)
0 xy
À l’entrée de la lame biréfringente, cette lumière se projette sur les axes (xB , yB ) par :

cos α sin α 1 cos α
A=a =a (2.49)
− sin α cos α 0 − sin α x y
B B
En sortie du biréfringent, la composante yB de la lumière est retardé d’un angle ϕ :

cos α
A=a (2.50)
− sin α e−iϕ x y
B B
De même avec la lame quart d’onde qui est orientée de β par rapport aux directions précé-
dentes :
cos β sin β cos α
A=a (2.51)
− sin β cos β − sin α e−iϕ x y
Q Q
En sortie de cette lame, la composante yQ de la lumière est retardée d’un π/2 :

cos α cos β − sin α sin β e−iϕ
A=a π (2.52)
−(cosα sin β + sin α cos β e−iϕ ) e−i 2 x y
Q Q
L’action de l’analyseur orienté d’un angle γ, est de conserver la composante suivant xA .

cos γ sin γ cos α cos β − sin α sin β e−iϕ
A=a π (2.53)
− sin γ cos γ −(cos α sin β + sin α cos β e−iϕ ) e−i 2 x y
A A
D’où :
π
(cos α cos β − sin α sin β e−iϕ )cosγ − (cos α sin β + sin α cos β e−iϕ )sinγ e−i 2
A=a π
(cos α cos β − sin α sin β e−iϕ )sinγ − (cos α sin β + sin α cos β e−iϕ )cosγ e−i 2
(2.54)
32
Ainsi, l’amplitude de la vibration en sortie est :

cos α cos β cos γ − sin α sin β cos γ cos ϕ − sin α cos β sin γ sin ϕ
A=a (2.55)
+i(cos α sin β sin γ + sin α sin β cos γ sin ϕ − sin α cos β sin γ cos ϕ
Ce qui donne pour l’intensité lumineuse :
cos2 γ (cos2 α cos2 β + sin2 α sin2 β − 2 cos α sin α cos β sin β cos ϕ)
 
I = a2  + sin2 γ (sin2 α cos2 β + cos2 α sin2 β + 2 cos α sin α cos β sin β cos ϕ)  (2.56)
−2 cos α sin α cos γ sin γ sin ϕ
On retrouve bien les cas particuliers du polarsicope rectiligne à champ clair (γ = 0, β = −α) :
h ϕ i
I = a2 1 − sin2 (2α) sin2 (2.57)
2
et champ sombre (γ = 0, β = −(α + π2 )) :
ϕ
I = a2 sin2 (2α) sin2 (2.58)
2
Pour déterminer le paramètre isocline α, une première image est enregistrée lorsque le modèle
n’est pas chargé, c’est l’image I0 . Dans un polariscope rectiligne, trois images du modèle chargé
sont enregistrées pour trois configurations particulières des éléments optiques. L’image I1 est
obtenue en champ clair (équation 2.57), l’image I2 lorsque l’analyseur a subit une rotation de 45˚
(γ = 0, β = −α + π4 ) puis l’image I3 quand le polariseur et l’analyseur sont à nouveau parallèles
mais à 45˚ de la position de référence γ = 0, β = α + π4 ). On a alors :

I0 = a2







 h ϕ i
 I1 = a2 1 − sin2 (2α) sin2


2 (2.59)

2 1 2 ϕ
I2 = a + cos(2α) sin(2α) sin






 2 2
 h ϕ i
 I3 = a2 1 − cos2 (2α) sin2


2
La détermination de l’angle isocline peut donc se faire de deux manières à partir des équations
précédentes : 
 1 2I2 − I0
 α = arctan


2 2I0 − 2I3
(2.60)
 1 2I0 − 2I1
 α = arctan


2 2I2 − I0
Les valeurs de α sont comprises entre −π/4 et +π/4, et connues modulo π/2, un processus de
recalage est alors utilisé pour restaurer la continuité de ce paramètre. Elles ne peuvent pas être
calculées lorsque le paramètre isochrome est égal à 2kπ en raison de la division des sinus carrés
de ϕ. Les valeurs manquantes sont obtenues par interpolation linéaire. Les valeurs du paramètre
isocline sont utilisées pour tracer automatiquement les isostatiques.
Les différentes étapes expérimentales pour le calcul du paramètre isocline sont schématisées
sur les figures suivantes (cf fig. 2.21) à partir des images de franges précédentes : Figure (a), c’est
33
Figure 2.20 – Les trois images permettant le calcul de α
Figure 2.21 – Étapes du calcul de α
la résolution de l’équation 2.60 ; figure (b) c’est l’interpolation linéaire pour combler les zones
non analysables ; figure (c) c’est le recalage du paramètre isocline.
Le tracé des isostatiques est directement issu des courbes isoclines qui donnent l’orientation
de l’une des directions principales. Ainsi on peut dessiner de proche en proche, à partir d’un
point initial, les courbes dont la pente est égale au paramètre isocline suivant le schéma simplifié
de la figure 2.22.
Ces images permettent également de calculer les valeurs du paramètre isochrome par une
fonction arc cosinus. Mais on préfère utiliser une cinquième image pour les calculer à l’aide d’une
fonction arc tangente. I4 est obtenue en champ sombre (polariseur et analyseur perpendiculaires),
avec la lame quart d’onde orientée à 45˚du polariseur, on obtient à partir de l’équation 2.56 avec
β = π/4 − α et γ = π/4 la relation :
I4 = a2 (1 − sin(2α) sin2 (ϕ)) (2.61)
34
Figure 2.22 – Tracé des lignes isostatiques
Les valeurs du paramètre isochrome sont alors données par :

I0 − 2I4
ϕ = arctan (2.62)
(2I1 + 2I3 − 3I0 )sin(2α)
Du fait de la présence de la fonction tangente inverse, les valeurs du paramètre isochrome sont
comprises entre −π/2 et +π/2, et connues modulo π. De plus, elles sont fonction des valeurs de
l’isocline, qu’il faut donc calculer auparavant. Comme pour le paramètre isocline, la continuité du
paramètre isochrome est rétablie à l’aide d’une technique de recalage. L’initialisation du recalage
pour le paramètre isochrome suppose la connaissance de l’ordre de frange en un point donné qui
est généralement défini par la frange d’ordre zéro. Les figures 2.23 montrent la détermination de
ce paramètre. En (a) : intensité lumineuse I4 (équation 2.61) ; en (b) : paramètre isochrome non
recalé (équation 2.62) ; en (c) : paramètre recalé. On peut constater que dans les zones de forte
densité de franges, le processus numérique ne peut pas donner d’informations correctes.
Figure 2.23 – Calcul du paramètre isochrome
L’introduction dans le montage expérimental de la lame quart d’onde a pour effet de modifier
le contraste et l’intensité lumineuse de la dernière image par rapport aux trois autres. De plus, il
est nécessaire d’enregistrer l’intensité lumineuse en l’absence de charge. Il est cependant possible
de développer une méthode d’analyse similaire, à partir d’un polariscope circulaire complet, en
jouant sur l’orientation de la lame quart d’onde de l’analyseur. Dans ce contexte, le montage
optique devient :
La relation donnant l’intensité lumineuse de sortie peut être calculée de la même manière
que précédemment, on alors :
I = a2 (1 + sin2γ cosϕ + sin2β cos2γ sinϕ) (2.63)
35
Figure 2.24 – Configuration d’un polariscope circulaire à géométrie variable
Six configurations du polariscope sont nécessaires, au lieu de quatre précédentes. Elles sont
regroupées dans le tableau ci-dessous :
Configurations Valeurs des angles Valeur de l’intensité
π
Polariscope circulaire γ= I1 = a2 (1 + cosϕ)
4
π
γ=− I1 = a2 (1 − cosϕ)
4
α+β =0 I3 = a2 (1 − sin(2α) sinϕ)
π
lame quart d’onde de sortie α+β = I4 = a2 (1 + cos(2α) sinϕ)
4
π
et analyseur parallèle α+β = I5 = a2 (1 + sin(2α) sinϕ)
2
3π
α+β = I6 = a2 (1 − cos(2α) sinϕ)
4
Table 2.3 – Les six configurations utilisées avec le polariscope circulaire
Le paramètre isocline est donné par les quatre dernières équations, tandis que le paramètre
isochrome est calculé à l’aide des deux premières équations de manière à réduire le nombre des
indéterminées :

 1 I5 − I3
 α = arctan


2 I − I6
4 (2.64)
 I 4 − I 6 I 5 − I 3
 ϕ = arctan = arctan


(I1 − I2 ) cos(2α) (I1 − I2 ) sin(2α)
Les méthodes que nous venons d’énoncer ont deux inconvénients majeurs :
– le paramètre isocline est déterminé quand le paramètre isochrome est égal à kπ (ou 2kπ
suivant les cas) ;
– les valeurs du paramètre isochrome sont calculées en donnant sa valeur en un point du
modèle pour initialiser le recalage.
Des méthodes un peu plus complexes ont été mises au point pour essayer d’annuler ou du
moins minimiser ces inconvénients en utilisant un rayonnement à plusieurs longueurs d’ondes.
36
Deuxième partie
Sujets de Travaux Pratiques
37
1
Etude d’une poutre circulaire en flexion

pure
L’objet de cette étude est de déterminer l’état de contrainte dans une section d’une poutre
courbe (circulaire) sollicitée en flexion pure plane. Pour cela, la technique de photoélasticimétrie
bidimensionnelle déjà appréhendée dans une séance précédente sera mise en oeuvre. Ces résultats
expérimentaux seront comparés à ceux issus de la théorie de l’Élasticité fourni dans le sujet mais
aussi à ceux provenant de la théorie des poutres d’Euler-Bernoulli.
Préparation : Lire au préalable et intégralement le chapitre relatif à la Photoé-

lasticimétrie présentée dans la partie techniques expérimentales.
1.1 Description du polariscope utilisé

Vous avez à votre disposition le même polariscope que lors du TP précédent de mécanique
des solides. celui-ci est un polariscope à lumière diffuse classique ou de type Tiedemann suivant
les postes de travail.
1.2 Cas d’une poutre courbe en flexion

Soit une poutre courbe circulaire dont la géométrie est définie par un un rayon intérieur R1
et un rayon extérieur R2 , une d’épaisseur e (cf fig. 1.1). Cette poutre est soumise à ses deux
extrémités à deux moments Mt de même intensité et de sens opposé conduisant à solliciter la
poutre en flexion pure plane.
Pour étudier l’état des contraintes sur une section matérialisée par la droite (AB), on dispose
d’un banc de photoélasticimétrie, d’un modèle photoélastique en polyester de la poutre et d’un
système mécanique reproduisant le chargement décrit ci-dessus.
39
Figure 1.1 – Géométrie de la poutre courbe
1.2.1 Étude expérimentale

On place la poutre courbe et son dispositif de chargement dans un polariscope. On réalise
ensuite le chargement de la pièce de manière à avoir suffisamment de points de mesure sur
(AB), soit par l’utilisation de masses étalons disponibles dont le nombre peut varier entre 3 et 5
(maximum).
Travail :
1. Quelle(s) configuration(s) du polariscope prenez-vous ? Justifiez votre choix.
2. Après avoir réalisé le-dit chargement, qu’observez-vous ?
En utilisant le fichier TP_Disque-Modèle.xlsx se trouvant sur le bureau de la session Méca des
PC à votre disposition :
3. Déterminez les valeurs de (σ1 − σ2 )Exp en différents points le long de (AB).
4. Effectuez la séparation des contraintes par la méthode d’intégration graphique à l’aide des
équations de Lamé-Maxwell.
dσ1 σ1 − σ2
=− (1.1)
ds1 ρ2
dσ2 σ1 − σ2
= (1.2)
ds2 ρ1
5. En déduire les valeurs expérimentales et le tracé des courbes σ1Exp et σ2Exp en fonction de
x entre A et B.
1.2.2 Étude analytique

L’étude de ce problème classique d’Élasticitié conduit à la solution analytique donnant les
contraintes principales le long de la droite (AB) :
4.Mt R12 .R22

R2 2 x 2 R1
σX = 2
ln + R2 .ln + R1 .ln (1.3)
S.e x R1 R2 x
R12 .R22

4.Mt R2 2 x 2 R1 2 2
σY = − ln + R2 .ln + R1 .ln + R2 − R1 (1.4)
S.e x2 R1 R2 x
40

2 R2
S = R22 − R12 − 4.R12 .R22 .ln2 (1.5)
R1
Travail :
1. Précisez à quoi correspondent les directions principales des contraintes X et Y pour votre
étude dans le repère (−
→
x,−→
y ).
2. Calculez la norme des moments appliqués aux extrémités de la poutre.
En utilisant le fichier TP_Anneau-Modèle.xlsx se trouvant sur le bureau de la session Méca des
PC à votre disposition :
3. À partir des relations ci-dessus déjà implémentées dans la feuille excel et issues de la
résolution en Élasticité linéaire de ce problème, reportez sur la feuille excel ces données
pour en déduire les valeurs et les graphes de σ1 et σ2 analytiques.
4. Claculez et reportez sur la feuille excel les données correspondant à la théorie des poutres
d’Euler-Bernoulli pour en déduire les valeurs et les graphes de σ1 et σ2 analytiques.
5. Comparez l’ensemble de ces résultats.
41
42
2
Cas de la flexion simple
Cette étude a pour objectif de déterminer les grandeurs élastiques (E, ν) d’un matériau
isotrope dans le cas d’une poutre à section rectangulaire sollicitée en flexion simple (cf. fig.
ci-dessous).
Préparation : Lire au préalable et intégralement le chapitre relatif à l’Extenso-

métrie à fil résistif présentée dans la partie techniques expérimentales.
r
y
A C h r
x
B b
r r
z L −F y
Figure 2.1 – Modèle de la poutre en flexion simple
La poutre peut être instrumentée soit par deux jauges unidirectionnelles (respectivement
h h
suivant →
−
x et −→
z aux points A (d1 , , 0) et B (d1 , − , 0)), soit par une rosette à 45˚ en A
2 2
43
h
(suivant une orientation quelconque) ou soit par un comparateur au point C (d2 , , 0) mesurant
2
le déplacement suivant la direction −
→
y . Plusieurs approches sont ainsi proposées et pourront ainsi
être comparées.
2.1 Etude analytique

1. Précisez quelle est la forme des tenseurs de contraintes et de déformations d’un matériau
sollicité uniaxialement dans la base principale (→
−
x ,→
−
y ,→
−
z ).
2. Quelles sont les informations que vous donnent des conditions de bords libres sur le tenseur
local de contraintes ?
3. Rappelez la définition du module de Young E en précisant sa signification physique.
4. Rappelez la définition du coefficient de Poisson ν. Quelle est la signification physique du
coefficient de Poisson ?
2.2 Détermination du module de Young par mesure de déplace-

ment
Une première possibilité pour estimer expérimentalement le module de Young consiste à
instrumenter la poutre (cf. fig. 2.1) à l’aide d’un comparateur positionné à la distance d2 de
l’encastrement selon l’axe −
→
x afin de mesurer le déplacement suivant →
−y en ce point.
1. Démontrez que la flèche suivant →−
y au point d’abscisse d a pour valeur :
2
F d22
y(d2 ) = (d2 − 3L)
6EI
2. Après avoir effectué la mise en place du dispositif expérimental et de son instrumentation,

étudiez les différences (hypothèses, écarts, etc.) entre le modèle défini dans par la figure
2.1 et le montage expérimental.
3. En déduire la valeur du module de Young E pour cinq chargements correspondant à des
masses de 1 à 5 kg.
2.3 Détermination du module de Young par mesure de déforma-

tions
Une seconde possibilité pour obtenir le module de Young utilise cette fois-ci des jauges de
déformation (cf. chapitre 1 de la partie techniques expérimentales). Deux jauges unidirectionnelles
h h
sont ainsi collées aux points A (d1 , , 0) et B (d1 , − , 0) respectivement suivant → −
x et →−z (cf.
2 2
fig. 2.1).
1. Démontrez que l’état de contrainte au point A est de même intensité qu’au point B mais de
signe opposé et que la contrainte normale de flexion σxx en ces points s’écrit de la forme :
6(L − x)F
|σxx | =
Bh2
44
2. Donnez un exemple de chargement simple pour lequel l’intensité de la contrainte au point
A et au point B sont différents.
3. Déterminez la valeur du module de Young E pour cinq chargements correspondant à des
masses de 1 à 5 kg (relevez les valeurs de déformation pour les deux jauges). Commentez.
2.4 Détermination du coefficient de Poisson par mesure de défor-

mations
On peut Démontrer que le coefficient de Poisson peut être mesuré dans la configuration
expérimentale décrite dans le paragraphe précédent. Pour cela :
1. Approche " graphique " : la section S de la poutre dans le plan (→
−
y ,→
−
z ) est initialement
rectangulaire. Dessinez qualitativement (en prenant en compte l’influence du coefficient de
Poisson) la géométrie déformée de cette section lorsque la poutre est en flexion.
2. La définition du coefficient de Poisson a été donnée précédement pour un état de sollici-
tation uniaxiale. Ici, le matériau est sollicité en flexion. Que faut-il démontrer pour que le
rapport des deux déformations mesurées en a et b permette de calculer le coefficient de
Poisson ? Démontrez-le.
3. Déterminez la valeur expérimentale de ν à partir des mesures effectuées précédemment.
2.5 Détermination du coefficient de Poisson par mesure de défor-

mations
Une troisième configuration expérimentale de flexion est maintenant utilisée. Une rosette à
45˚, constituée de trois jauges de déformations orientées à 45˚l’une par rapport à l’autre, est collée
h
au point A (d1 , , 0) avec une orientation quelconque dans le plan (→−x ,→
−
z ). Ces jauges permettant
2
de mesurer les déformations " en un même point " suivant trois directions différentes :
e2
e1′
45° e1
Figure 2.2 – Orientation des jauges de la rosette
Les mesures effectuées à l’aide d’une telle rosette vont permettre de déterminer expérimen-
talement l’état de déformation local dans une base quelconque (mais pas directement !) :
 
εxx εxy εxz
ε =  εyx εyy εyz  (2.1)
εzx εzy εzz
1. Avant d’effectuer le moindre calcul, identifiez les valeurs du tenseur sur lesquelles vous
n’aurez aucunes informations expérimentales.
45
2. Que représente un cercle de Mohr ? Énoncez les relations entre un angle physique et l’angle
associé représenté sur un cercle de Mohr. Pour établir une stratégie permettant de tracer
un cercle de Mohr, tracez un cercle " comme si vous connaissiez le résultat " et reportez
les déformations associées en prenant en compte la géométrie de la rosette à 45˚.
3. Tracez les cercles de Mohr expérimentaux utilisant pour des valeurs de charges de 4 et 5
kg (un par personne, sur papier millimétré). Quelle valeur numérique obtenez-vous pour
les déformations principales εI et εII ?
4. Calculez le rapport des déformations principales. Commentez...
5. Pour aller plus loin : que vaut εIII ?
46
3
Étude de la déformée d’une structure

par les méthodes énergétiques
L’objet de cette étude est de déterminer la déformée d’une structure à partir des théorème
énergétiques et de comparer ce résultat aux valeurs expérimentales utilisant des jauges d’exten-
sométrie.
Préparation : Lire au préalable et intégralement le chapitre relatif à l’Extenso-

métrie à fil résistif présentée dans la partie techniques expérimentales.
3.1 Description de l’étude

3.1.1 Configuration de l’étude
On considère une structure métallique constituée de 3 poutres droites de section en U et
encastrées entre elles. La structure est liée à une extrémité au bâti par une liaison encastrement
(cf. fig. 3.1). Les caractéristiques sont les suivantes :
– moment quadratique par rapport à l’axe → −z est Igz = 747 mm4 ;
– acier de module d’élasticité de 210 GP a.
Cette structure peut subir un chargement mécanique considéré comme une force ponctuelle
suivant −− →y aux points B ou D. Le chargement mécanique sera appliqué progressivement par
paliers pour des masses de 1 kg, 2 kg et 3 kg.
L’observation de la réponse en rigidité de la structure à l’un de ces chargements mécaniques
est permise par une instrumentation composée de trois jauges de déformations unidirectionnelles
(orientées suivant −− →
x ) positionnées aux points J1 , J2 et J3 , qui sont respectivement les centres
des poutres AB, BC et CD.
47
r r r
y − FA y y
r J1
x
2,9 mm
A B
r
z
11 mm
G
8,1 mm
J2
1,5 mm 29,5 mm
r
− FC y
J3
D C
Figure 3.1 – Modèle de la strucure étudiée
3.1.2 Objectifs
Mesurer d’une part les déformations (avec des jauges de déformations) et déplacements (avec
des comparateurs) en différents points de la structure et d’autre part de mettre en oeuvre des
méthodes énergétiques pour estimer analytiquement les déplacements. La confrontation de ces
résultats permettra alors de conclure sur leur pertinence.
3.2 Travail à effectuer

1. Analysez le modèle de comportement et définir ensuite la nature des sollicitations que subit
cette structure ? Justifiez votre réponse.
2. Déterminez analytiquement les contraintes aux points J1 , J2 et J3 pour chaque étape de
chargement ayant lieu aux points B et D.
3. Après avoir effectué la mise en place du dispositif expérimental et de son instrumentation,
étudiez les différences (hypothèses, écarts, etc.) entre le modèle défini dans le paragraphe
ci-dessus et le montage expérimental.
4. Relevez les déformations fournies par les jauges aux points J1 , J2 et J3 ainsi que le dépla-
cement vertical en D et le déplacement horizontal de C pour chaque étape de chargement
ayant lieu aux points B et D.
5. Déduire des valeurs de déformations aux points J1 , J2 et J3 les contraintes et les comparer
aux résultats analytiques.
6. Calculez, à l’aide du théorème de Castigliano, le déplacement vertical du point D (on pourra
s’appuyer sur le tableau des intégrales de Mohr) dans le cas du chargement au point D.
7. Calculez par la méthode de la force fictive le déplacement horizontal du point C dans le
cas du chargement au point B.
8. Concluez à partir de l’analyse de tous ces résultats ainsi obtenus.
48
4
Étude du flambement
Cette étude consiste à analyser expérimentalement l’effet des conditions aux limites d’une
structure subissant du flambement. Pour cela des essais seront menés pour déterminer par l’ex-
périence la charge critique et la flèche correspondante puis de comparer ces résultats à la théorie
d’Euler.
4.1 Description de l’étude

4.1.1 Configuration de l’étude
On considère une structure métallique constituée d’une poutre droite élancée pouvant être
liée au bâti à ses extrémités soit par une articulation, soit par un encastrement.
Les caractéristiques sont les suivantes :
– Longueur : L = 300 mm ;
– Largeur : ℓ = 20 mm ;
– Épaisseur : e = 2 mm ;
– acier de module d’élasticité de 210 GP a.
Cette structure peut subir un chargement mécanique considéré comme une force ponctuelle
suivant −− →
x . Le chargement mécanique sera alors appliqué progressivement. On observe alors
deux type de réponse de la structure :
– pour une charge F inférieur à une valeur limite FC , la poutre est en compression simple ;
– pour une charge FC ≥ F , la poutre fléchit brusquement et l’on oberserve des grands
déplacements : on parle alors d’instabilité. Si la poutre retourne à sa position initiale après
déchargement, c’est une instabilité élastique ;
Dans le cas du flambement, cas de l’instabilité élastique réduite aux poutres droites élancées
subissant une effort de compression, l’hypothèse de linéarité des poutre n’est plus valide.
4.1.2 Objectifs
Trois configurations de conditions aux limites vont être utilisées dans cette étude et sont
définies dans les figures ci-dessous.
49
r
y
A B P r
x
Figure 4.1 – Cas 1 : poutre "articulée-articulée"

r
y
A B P r
x
Figure 4.2 – Cas 2 : Poutre "encastrée-articulée"

r
y
A B P r
x
Figure 4.3 – Cas 3 : Poutre "encastrée-encastrée"
4.2 Travail à effectuer

Pour les trois configurations définies sur les figures ci-dessus :
1. Configurez les mors dans la position souhaitée et placez l’éprouvette sans appliquer d’effort.
2. Faites le zéro du capteur de force ainsi que du comparateur servant à mesurer la flèche.
Réglez le comparateur de sorte à avoir suffisamment de course pour mesurer les flèches tout
en veillant que la pression de contact, ne modifie l’état de repos de la poutre.
3. Appliquer le chargement par palier de d’environ 10 N et arrêter lorsque la flèche devient
très importante, soit de l’ordre de respectivement 300 N , 600 N et 1200 N pour les cas 1,
2 et 3.
4. Tracez les courbes force de compression = f(déplacement transversal).
5. En déduire la valeur expérimentale de FC en considérant l’asymptote de la courbe précé-
dente. Pour cela, il est nécessaire de réaliser une interpolation hyperbolique au sens des
moindres carrés de la courbe.
6. Déterminez ensuite la charge critique d’Euler à partir de la droite de Southwell
7. Calculez cette valeur à partir de la théorie d’Euler.
8. Comparez ces valeurs.
50
A
Structure d’un compte rendu
Le compte-rendu, à rendre en fin de chaque séance, doit reprendre dans la mesure du possible
le plan présenté ci-dessous.
Ne rien écrire dans le compte rendu sans l’avoir compris. Se fier uniquement à vous et vos
observations plutôt qu’aux autres !
A.1 Introduction
Réaliser une introduction présentant le but du TP...
A.2 Approche analytique / numérique

Effectuer les calculs analytiques / numériques préliminaires demandés et nécessaires au dé-
roulement du TP.
A.3 Expérimentation
Partie comprenant l’ensemble des manipulations faites lors du TP.
1. Dispositif expérimental
Décrire le montage utilisé, schéma...
2. Mode opératoire
Expliquer comment ont été faites les manipulations.
3. Résultats
Présenter les résultats obtenus, sous forme de tableaux, de graphes... en n’omettant pas les
unités (si possible en SI ou à défaut celles considérées comme usuelles ; exemple : contraintes
en MPa) !
4. Interprétation
Analyser les résultats, avec une éventuelle comparaison entre modèle (analytique, numé-
rique) et expérience. Faites un calcul d’erreur...
51
A.4 Conclusion
Rappeler les grandes lignes du travail effectué en dégageant l’intérêt, la pertinence, l’apport
de ce type d’essais.
Réfléchir et proposer une critique (constructive) sur le thème abordé.
Éviter les affirmations gratuites mais au contraire justifiez votre argumentation.
52

TP Meca

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Discipline Mécanique des Solides

UEF Mécanique des Solides - Intermédiaire

Mécanique des Structures (1)

Mécanique expérimentale des solides

Partie I Éléments sur les techniques expérimentales 1

Chapitre 1 Extensométrie à fil résistif 3

Partie II Sujets de Travaux Pratiques 37

Chapitre 1 Etude d’une poutre circulaire en flexion pure 39

Chapitre 2 Cas de la flexion simple 43

Chapitre 3 Étude de la déformée d’une structure par les méthodes énergé-

Chapitre 4 Étude du flambement 49

Éléments sur les techniques

Extensométrie à fil résistif

1.1 Principe de la mesure de déformation

Figure 1.1 – Schéma de principe d’une jauge de déformation

1.2 Procédure de collage des jauges

Figure 1.2 - Collage de jauges (étape 1)

Figure 1.3 - Collage de jauges (étape 2)

Figure 1.4 - Collage de jauges (étape 3)

Figure 1.5 - Collage de jauges (étape 4)

Figure 1.6 - Collage de jauges (étape 5)

Figure 1.7 - Collage de jauges (étape 6)

Figure 1.8 - Collage de jauges (étape 7)

Figure 1.9 - Collage de jauges (étape 8)

1.3 Mesure de la variation de résistance : Pont de Wheatstone

Alimentation Pont Jauge

Celui-ci utilise trois résistances d’équilibrage. On peut écrire :

2.1 Principe de la Photoélasticité

2.1.1 Rappel sur la nature de la lumière

2.1.1.1 Équations de Maxwell

2.1.1.1.1 Équations fondamentales

2.1.1.1.2 Équations complémentaires

2.1.1.2 Propagation d’une onde lumineuse dans un milieu

et on déduit de l’équation 2.9, l’expression :

Figure 2.1 – Représentation vectorielle d’une onde électromagnétique progressive

introduire un déphasage sont négligeables et de plus, correspondent aux approximations faites

Figure 2.2 – Spectre de la lumière

Cependant, on se limitera maintenant au cas des ondes monochromatiques en raison de leur

Figure 2.3 – Schématisation d’une onde plane

2.1.1.3 Polarisation de la lumière

Figure 2.4 – Polarisation de la lumière

Figure 2.5 – polaroïds à axes parallèles (a) et axes perpendiculaires (b)

2.1.2 Phénomène de biréfringence

Figure 2.6 – Décomposition de l’onde polarisée incidente en deux ondes perpendiculaires

Ce retard optique δ, exprimé en longueur, est une caractéristique du phénomène de biréfrin-

2.1.2.1 Biréfringence naturelle

2.1.2.2 Biréfringence accidentelle

Figure 2.7 – Biréfringence naturelle

Figure 2.8 – Biréfringence accidentelle

2.1.3 Lois de la photoélasticité

où ǫ est la constante diélectrique du matériau en l’absence de contraintes (matériau isotrope),

Matériau Désignation Constante photoélastique E ν

Table 2.1 – Propriétés optico-mécaniques de matériaux

2.2 Les différentes configurations de polariscope

Quelque soit le type de technique de photoélasticimétrie (par transmission ou par réflexion)

Figure 2.9 – Schéma d’un polariscope à lumière dirigée

Figure 2.10 – Schéma d’un polariscope à lumière diffuse

2.2.1 Le polariscope rectiligne

Figure 2.11 – Schéma d’un polariscope rectiligne

2.2.2 Le polariscope circulaire

Figure 2.12 – Schéma d’un polariscope circulaire

2.3 Photoélasticimétrie bidimensionnelle

2.3.1 Les données de l’étude photoélastique