1)Les lois dans le calcul de fiabilité :

Il existe plusieurs lois de probabilité qui sont utilisées pour calculer la fiabilité du système, dont les plus
importants sont :

1.1) loi binomiale :

En théorie des probabilités, la loi binomiale modélise la fréquence du nombre de succès obtenus lors de
la répétition de plusieurs expériences aléatoires identiques est indépendantes.

Soit une défaillance D avec sa probabilité de survenir P, la probabilité d’apparaitre K défaillances en N

essais est :
K K n−k
P (X = K) = C N P (1− p)

1.2)loi de poisson :

La loi de poisson est une loi de probabilité discrète. Donnant la probabilité de défaillance n fois dans une
période de temps t, lorsque la probabilité de réalisation d’un évènement est très faible et que le nombre
d’essais est très grand :
−λt n
e (λt )
P(n , t) =
n!
1.3)loi de survie :

Est une branche des statistiques qui chercher à modéliser le temps restant avant l’échec ou la panne
dans le système.

La fiabilité ou la probabilité de survie donnée comme suit :

N (t )
R(t) =
N (0)
Avec :

N(t) : le nombre de survivants à la fin de la période t.

N(0) : le nombre de matériel mis en service.

-Le taux de défaillance est :

N ( t−1 ) −N (t)
λ(t) =
N (t−1)

-le facteur de fiabilité MTBF est :

∞ ∞
N (t)
MTBF = ∑ =¿ ∑ R (t)¿
T =1 N (0) T =1
1.4)loi de Weibull :

La distribution de weibull est utilisée pour former des données asymétrique à droite, à gauche ou
asymétrique, elle est donc utilisée dans des nombreux domaines pour évaluer la fiabilité, notamment
ceux des tubes électroniques, des condensateur, des roulements à billes, des relais et de la résistance
des matériaux.

Weibull a donné le taux d’avarie Z(t) une formule générale dépendant de trois paramètres : β, η et γ,

β : paramètre de forme ¿ 0 sans dimension :

Le paramètre de forme β qui est associé à la cinétique du processus observé.

- Si β¿1 le taux de défaillance est croissant, caractéristique de la zone de vieillesse

- Si β=1 le taux de défaillance est constant, caractéristique de la zone de maturité

- Si β¿1 le taux de défaillance est décroissant, caractéristique de la zone de jeunesse

η : paramètre d’échelle ¿ 0 qui s’exprime dans l’unité de temps :

Le paramètre d’échelle η, nous indique l’étendue de la distribution.

γ : paramètre de position −∞ <¿ γ¿+ ∞, qui s’exprime dans l’unit é de temps :

le paramètre de position γ, qui représente le décalage entre le début de l’observation ( la date à laquelle
l’observation de l’échantillon commence)et le début du processus que l’on observe ( date à laqelle s’ est
manifesté pour la première fois le processus observé).

- γ¿ 0: survie totale sur l’intervalle de temps [0. γ]

- γ=0 : les défaillances débutent à l’origine des temps

- γ¿ 0: les défaillance on débuté avant l’origine des temps

- la densité de probabilité pour la distribution de weibull est :

β
β −1 −( t−γ )
𝒇(t) = β ( t−γ ) e η
η η
-La probabilité d’avarie cumulée au temps de 0 à t :
β
t −γ
−( )
F(t) = 1- η
e
-La fonction de fiabilité est :
β
t −γ
−( )
R(t) = 1 - F(t) = η
e
-Le taux de défaillance est :

( )
β−1
β t−γ
λ(t) =
η η
-Le MTBF :

( 1β ) η+ γ
MTBF = Γ 1+

Pour la fonction de R(t) on distingue trois allures de graphe :

Figure : différentes formes de R(t)

-courbe 1 : signifie la présence de défaut de jeunesse ( β¿1)

-courbe 2 : l’équipement n’est pas encore sujet de vieillissement (β=1)

-courbe 3 : signifie la présence du phénomène d’usure (β¿ 1)

1.4.1)Papier de Weibull :

Ce papier se weibull sert à lire graphiquement les paramètres d’une loi de weibull dans le cas ou le
paramètre γ est nul.
 Figure : représentation graphique de papier de weibull

C’est un papier log/log qui comporte 4 axes :

- Axe A : axe de temps sur lequel on porte les valeurs ti des TBF.

- Axe B : valeur des probabilités de défaillance Fi calculées par la méthode de rangs moyens ou des rangs
médians. On estime R(t) par R(t) = 1-F(t).

- Axe a : axe des temps en logarithmes népérien : ln(t)

- Axe b : axe qui permet l’évaluation de β.

1.5)Loi exponentielle :

Il est considéré comme le plus utilisé en fiabilité électronique pour connaitre la période pendant laquelle
le taux de défaillance des équipements est considéré comme constant. Le temps écoulé jusque’ à ce
qu’une panne se produise, ou le temps entre deux pannes successives.

On applique la loi exponentielle lors le composant à un taux de défaillance λ constant.

-La fonction de fiabilité est :

R(t) = e− λt

-La probabilité de défaillance est :

F(t) = 1 -e− λt

Figure : tracé de la fonction F(x)

-La densité de probabilité est :

𝒇(t) = λe− λt

Figure : tracé de la fonction 𝒇(x)

Le MTBF est égale à :
1
MTBF =
λ
1.6) loi normal (Laplace-gauss) :
Il est utilisé pour représenter la distribution de la durée de vie des appareils en fin de vie (usure) ou
une augmentation du taux de défaillance se produit.
-La fonction de fiabilité :
2
t −(t−m )

R(t) = 1- ∫ 1 2σ
2
dt
e
−∞ σ √2 π
Avec m est la moyenne (espérance mathématique).
E(t) = m
1.7) Loi Log-normale :
Dans cette loi, le logarithme de la durée de vie suit la distribution normale, et cette loi est invoquée
lorsque les cas de distribution des données ne sont pas symétriques.
-La fonction de fiabilité :
2
t −(ln−m)

R(t) = 1- ∫ 1 1 2σ
2

e dt
−∞ σ √2 π t
1.8)lois gamma(loi d’erlang) :
Cette distribution est utilisée dans les paramètres de redondance de séquence [B.Z] et elle dépend
de deux paramètres principaux K et λ et représente également certains phénomènes de défaillance
en chaines.
-La fonction de fiabilité est :
1
R(t) = 1-
Γ (k )
∫ k−1 −kt
λ (tλ ) e dt

Et l’espérance mathématique :
k
E(t) =
λ