UFR-SMBH UNIVERSITE SORBONNE-PARIS NORD

TRAVAUX PRATIQUES EN LICENCE BIOPHYSIQUE (L2-S4)

TP1 et 2 : Phénomènes de diffraction et d’interférences

lumineuses
Objectifs de l’expérience : Durée : 2h
 Diffraction par une fente et mesure de la largeur microscopique d’une fente.
 Diffraction par deux fentes :
o Principe de diffraction et d’interférences lumineuses.
o Détermination de la largeur des fentes et de la distance entre deux fentes.

1 Partie Théorique
1.1 Principe de la diffraction
On considère une source ponctuelle S qui éclaire une plaque opaque contenant un trou (fente),
laissant ainsi passer de la lumière à travers, on constate qu’à une certaine distance, au lieu
d’observer une image du trou dont les dimensions peuvent être données par l’optique
géométrique, l’image est plutôt plus grande. On dit alors que le trou (fente) diffracte de la
lumière : c’est le fait que les rayonnements lumineux soient déviés de leur trajectoire incidente
(figure 1).

Trou

Image Image
géométrique Diffractée
Source
ponctuelle S

Figure 1 : Schéma de principe de diffraction par un trou.

1.2 Diffraction par une fente : Description théorique de l’intensité

diffractée
On considère une fente de largeur a et de hauteur h  a , éclairée par un faisceau de lumière
monochromatique et parallèle de longueur d’onde  . Dans les conditions de Fraunhofer
(diffraction d’une onde plane à grande distance, ou au voisinage de l’image géométrique de la
source lumineuse), on calcule l'intensité diffractée dans la direction  .

Pour cela on considère deux ondes électromagnétiques incidentes de vecteur d’onde ki
diffractées, une à l’origine (centre de la fente) et une autre au point situé à une distance x par

rapport au centre de la fente (défini par le vecteur x  Ox ). Les deux ondes diffractées se
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superposent au point M, situé dans un plan parallèle, à une distance D du plan de la fente et à une
distance l par rapport à l’axe de propagation (Oz) (figure 2). Dans l’approximation ou D est très

grand, les rayonnements diffractés sont considérés parallèles ayant le vecteur d’onde k d . La
différence de phase entre les deux rayonnements s’écrit :

 
    
  kd  ki  x  q  x (1)

  l
a 2 kd 
ki q

x 
0 z
a 2
D

Figure 2 : Schéma de diffraction de 2 rayonnements.

On considère E0 comme l’amplitude complexe du champ au centre de la fente, la contribution du

champ émis au point x est alors :
 
 q   E0 exp i   E0 exp iqx  (2)

Pour tous les points de la fente, l’amplitude totale serait la sommation des champs émis par tous
ces points :
a2

E q    E0 exp  iqx x dx (3)
a 2

On obtient facilement le module de l’amplitude:

 qx 
sin  
2
E q   E0   (4)
 qx
 
 2
L’intensité s’écrit comme le module au carré de l’amplitude:
q a
sin 2  x 
I q   I 0  2  (5)
2
 qx a 
 
 2 
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Comme :

2
qx  sin  (6)

On réécrit l’expression de l’intensité en fonction de l’angle de diffraction  pour chaque longueur
d’onde  :
 a 
sin 2   sin  
  
I  ,    I 0 2
(7)
 a 
  sin  
  

On obtient les résultats suivants (représentés dans la figure 3) :

 un maximum d’intensité I  ,    I 0 pour   0 , appelé maximum principal.
 I  ,   possède des minima d’intensité pour :

sin   n  a (8)
n un entier non nul n  0
 I  ,   possède des maxima secondaire pour :
 1
sin    n    a (9)
 2
n un entier non nul n  0
maximum principal
a=200µm
678nm
0,8
intensité (u,a)

0,4 minima d'intensité

maxima secondaires

0,0

-0,020 -0,015 -0,010 -0,005 0,000 0,005 0,010 0,015 0,020

sin
Figure 3 : distribution de l’intensité diffractée par une fente de largeur a  200µm pour
  678nm .

Comme  est très petit, on peut donc écrire :

l
sin     (10)
D
l est la position du point M (axe transversal x) par rapport au centre du pic principal sur un écran
placé à une distance D parallèlement à la fente.
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1.3 Diffraction par 2 fentes : Diffraction et interférences lumineuses

Dans le cas de deux fentes identiques de largeur a , séparées d’une distance b sachant que b  a ,
les deux fentes donnent séparément un spectre de diffraction dont l’intensité est donnée par
l’expression (7). Mais cette fois-ci, on introduit aussi le phénomène d’interférence lumineuse qui
représente la superposition des ondes qui sont issues des deux fentes. Le résultat de cette
superposition donne une intensité totale en fonction de l’angle de diffraction :

 a 
sin 2   sin  
   cos 2   b sin  
I  ,    I 0   (11)
 
2
 a  
  sin  
  
 a 
sin 2   sin  
   est le terme de diffraction par une fente de largeur a .
2
 a 
  sin  
  
 b 
cos 2   sin   est le terme d’interférence des ondes issues des deux fente distante de b .
  

Diffraction par une fente Diffraction par deux fentes

1,2 Interférence par les deux fentes 1,2
Diffraction par une fente
678nm a=200µm 678nm a=200µm b=500µm
b=500µm
intensité (u,a)
intensité (u,a)

0,8 0,8

0,4 0,4

0,0 0,0

-0,020 -0,015 -0,010 -0,005 0,000 0,005 0,010 0,015 0,020 -0,020 -0,015 -0,010 -0,005 0,000 0,005 0,010 0,015 0,020

sin sin
Figure 4 : (a) Spectre de diffraction par une fente de largeur a  200µm et d’interférences lumineuses par
deux fentes distantes de b  500µm pour   678nm . (b) spectre de diffraction par deux fentes (selon
l’expression 11, couplage entre interférences lumineuse et diffraction par les fentes séparément)

On peut alors constater que la courbe de diffraction par la fente, représente l’enveloppe de la
courbe d’interférence.
En d’autres termes, les franges d'interférences sont modulées par le phénomène de diffraction dû
à l'une ou l'autre des deux fentes. Il y a donc deux dimensions caractéristiques dans ce profil
d’intensité : la modulation à petite échelle  b due à la présence des deux fentes, et celle à plus
grande échelle  a due à chacune des deux fentes prise séparément.

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Diffraction par deux fentes

Diffraction par une fente
1,2
678nm
a=200µm b
intensité (u,a) b=500µm
0,8

0,4

a a

0,0
-0,010 -0,005 0,000 0,005 0,010
sin
Figure 5 : Spectres de diffraction par une et deux fentes (position des maxima et minima de
diffraction)

1.4 Diffraction par un réseau (complément du cours)

1.4.1 Loi fondamentale d’un réseau de diffraction
Un réseau de diffraction est un système constitué d’un support solide (verre, polymère ou cristal)
gravé et sur lequel apparaissent un grand nombre de traits fins (fentes) et équidistants (figure 6).
La distance constituant l’espace entre deux traits consécutifs est appelé le pas du réseau qu’on
note généralement « d ». On définit ainsi le nombre de traits n par unité de distance, donné par
la relation :
1
n (12)
d
1
Son unité est l’inverse de l’unité de (donné généralement dans la littérature en mm ).

Figure 6 : Schéma descriptif d’un réseau de diffraction.

Selon la nature des supports (opaque ou transparent), deux configurations possibles sont utilisées
dans les dispositifs expérimentaux de mesures spectroscopiques : configuration par transmission
ou configuration par réflexions (figure 7)

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(a) (b)

Figure 7 : configuration expérimentale du principe de diffraction de la lumière par un réseau, soit par
transmission (a) ou par réflexion (b).

Dans les deux cas, selon l’angle d’incidence i du faisceau lumineux (figure 8), les photons sont
diffractés suivant un angle  . Une figure d’interférence constructive se produit à une distance infinie si
la différence de marche  entre deux rayonnements issus de deux fentes consécutives du réseau, soit
un multiple de la longueur d’onde  du faisceau lumineux :

  S1R1  R1 A1  S 2 R2  R2 A2  k (13)

A2
R2  A2
i A1
R1 R2
A1
 R1
S2
i
S1 S2
(a) (b)
S1

Figure 8 : trajectoires des rayonnements lumineux diffractés par deux fentes consécutives d’un réseau,
par transmission (a) ou par réflexion (b).

Géométriquement, on peut aisément déduire les relations suivantes :

Par transmission :
  d sin i  sin    k (14)

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Par réflexion :
  d sin i  sin    k (15)

k est un entiers positif ou négatif, il correspond à l’ordre de diffraction de part et d’autre par
rapport à la direction du faisceau incident. k  0 correspond à la partie de l’intensité transmise
sans qu’elle subisse une diffraction.
Dans la majorité des cas, on utilise la configuration d’une incidence normale   0 , ce qui
permet de déduire :

  d sin   k (16)

1.4.2 Dispersion angulaire et Dispersion linéaire d’un réseau de diffraction

La différentielle des deux termes de l’équation (16), donne la variation de l’angle de diffraction 
en fonction de la longueur d’onde  . On obtient ainsi la loi de dispersion angulaire
d k
D    (17)
d d cos 

La dispersion est alors d’autant plus élevée que le pas du réseau est plus petit (donc le nombre de
trait par unité de longueur n  1 d est plus élevé).
Si on utilise une lentille de focalisation à la sortie du réseau, deux longueurs d’onde séparée d’une
valeur d sont séparées spatialement dans le plan focal de la lentille (objectif) par une distance :
dx  fd (18)

Et d’après la relation de dispersion angulaire (expression (17)) :

k
dx  f d (19)
d cos 

on déduit la relation de dispersion linéaire :

dx d k
D x    f  f (20)
d d d cos 

1.4.3 Distribution de l’intensité diffractée par un réseau idéal

Un réseau idéal est considéré comme celui qui est constitué d’un ensemble de fentes infiniment
fines. Quand on éclaire ce type de réseau sur un ensemble de N traits (fentes) et on considère E0
comme l’amplitude complexe de la fente centrale, la contribution de la teme fente est alors :

Et  E0 exp it  (21)

 représente la phase entre deux ondes émises par deux fentes consécutives:

  2 (22)


compte tenu de l’expression de la différence de marche  (voir l’équation (15)) :

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d sin 
  2 (23)


Pour une direction  donnée, l’amplitude totale intégrée sur la totalité des fentes éclairées est le
résultat de l’interférence des N ondes électromagnétiques issues des N fentes de largeur
infiniment petite (réseau idéal):

N
1  exp  iN 
E  E0  exp  it   E0 (24)
t 0 1  exp  i 

L’intensité est définie comme étant :

1  cos N sin 2  N 2
I  EE*  I 0  I0 (25)
1  cos  sin 2  2

Cette fonction présente des maximas principaux quand :

d sin 
  2  k  2 (26)


En accord avec la relation (16) donnant ainsi d sin   k .

Entre deux maximas principaux, il existe des maxima secondaires pour

d sin  m
  2   2 (27)
 N

250 N=5

maxima
200 principaux

150
intensité

maxima
100 secondaires

50

0
0 d d
sin
Figure 9 : Courbe de distribution de l’intensité diffractée par un réseau idéal (cas de 5 fentes)

Le nombre de minima d’intensité (I=0) entre deux maximas principaux est égal à N-1.
On remarque que pour un N donné et un pas d donné, la position des maximas d’intensité ne
dépend que de la longueur d’onde suivant la loi fondamentale du réseau (équation 16). La figure

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10 illustre le cas d’une couleur bleue et d’une couleur rouge émise par une lampe de mercure pour
des intensités supposées égales (ce qui n’est pas réellement le cas).
500
N=20 fentes, d=2µm 678nm
435nm
k=-1 k=0 k=1
400

300
intensité (u,a)

200

100

0
-0,4 -0,3 -0,2 -0,1 0,0 0,1 0,2 0,3 0,4
sin
Figure 10 : intensité relative diffractée par un réseau idéal de pas d=2µm, et de nombre de fentes N=
20 pour deux longueurs d’onde.

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2 Partie Expérimentale
2.1 Diffraction par une fente
2.1.1 Matériel :
 1 banc optique gradué de 2 m de longueur.
 1 Laser He-Ne émettant à la longueur d’onde 𝜆 = 632,8𝑛𝑚 (avec son alimentation
électrique).
 1 écran d’observation.
 1 jeu de 7 fentes de différentes largeurs d’ouverture (gravées dans disque argenté).
 1 jeu d’objets fins de différentes épaisseurs (traits fin en argenté tracé sur un disque)

2.1.2 Dispositif expérimental :

 Placer et fixer le laser (avec son cavalier) sur l’une
des extrémités du banc et l’écran d’observation
sur l’autre extrémité.
 Faire attention à ce que le faisceau soit
perpendiculaire (normal) à l’écran (le mieux est
d’avoir aussi le point d’impact du faisceau au
centre de l’écran).
 Interposer le disque contenant les fentes et les
objets (fils) de diffraction entre le laser et l’écran
d’observation, à (approximativement) 10cm de la
sortie du laser. Utiliser le cavalier coulissant
latéralement comme support du disque.
 Faire en sorte que le faisceau laser soit
perpendiculaire au disque contenant les fentes.
Pour cela, vérifier que la partie réfléchie du Figure 11 : Image du disque
faisceau laser par le disque argenté, revient contenant des fentes et des
approximativement sur la fente de sortie du laser objets de diffraction
(si ce n’est pas le cas, tourner le disque avec son
support jusqu’à l’obtention du résultat souhaité)
 Déplacer, latéralement le disque contenant les fentes pour passer d’une fente à une autre
(ou d’un objet à un autre).

2.1.3 Mesures Expérimentales

Une fente fine de largeur 𝑎 (ou un objet fin tel qu’un cheveu d’épaisseur 𝑎) est éclairée par un
laser He-Ne de longueur d’onde   632.8nm . L’ écran d’observation est placé à une distance D
par rapport à la fente. On observe ainsi des franges lumineuses et des franges obscures. La frange
centrale est d’une largeur L (2 fois plus grande que la largeur des autres franges situées à droite ou
à gauche de l’axe Z qui passe par le centre de la frange centrale), voir la figure 12.

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Écran
x l
z

Figure 12 : configuration expérimentale de la diffraction par des fentes.

1. Pour la fente centrale :

1.1. Représenter graphiquement l’intensité des franges suivant l’axe horizontal x (en
respectant l’échelle des distance), et ce pour une distance D=1m.
1.2. Que constatez-vous si vous augmentez la distance entre la fente et l’écran ?

2. Fixer la distance D (au choix) et pour 3 fentes (la centrale et les deux extrêmes). Remplir le
tableau ci-dessous en rapportant :
2.1. Les valeurs des largeurs L (en mm) du maximum principal (frange centrale)
2.2. Déduire les valeurs de la largeur 𝑎(𝜇𝑚) des 3 fentes et leurs incertitudes ∆𝑎(𝜇𝑚).

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𝐷 = (… … … … … . ± ⋯ … … … … … )𝑚𝑚
𝐿(𝑚𝑚) ∆𝐿(𝑚𝑚) 𝑎(𝜇𝑚) ∆𝑎(𝜇𝑚)
Fente 1
Fente 2
Fente 3

3. Pour la même distance D et pour 3 objets (fils) (le central et les deux extrêmes), situés juste au-
dessous des fentes utilisées dans la partie précédente :
3.1. Remplir le tableau ci-dessous :

𝐷 = (… … … … … . ± ⋯ … … … … … )𝑚𝑚
𝐿(𝑚𝑚) ∆𝐿(𝑚𝑚) 𝑎(𝜇𝑚) ∆𝑎(𝜇𝑚)
fil 1
fil 2
fil 3

3.2. Comparer les valeurs de 𝑎 obtenues pour une fente et son objet équivalent.
4. Coupez-vous un cheveu et accrochez-le sur un support. Faites l’expérience de diffraction sur ce
cheveu et mesurer son épaisseur 𝑎(𝜇𝑚).
5. A quel dispositif expérimental utilisé en biologie, peut-on comparer l’expérience de
diffraction ?

2.2 Interférences par 2 fentes (fentes de Young)

Remplacer la fente du dispositif 1 (figure 12) par un support à deux fentes pour différents
espacement b .

1. Représenter l’image des interférences et de

diffraction.
2. Pour les trois séries de fentes, sélectionner un
certain nombre N de franges d’interférences
successives et compléter le tableau ci-dessous, en
précisant :
2.1. La distance 𝑙 entre la première et la dernière
franges sélectionnées.
2.2. La distance 𝑑 entre 2 franges d’interférences
successives.
2.3. En déduire la distance 𝑏 entre les 2 fentes.
3. Quelle est la largeur L du pic de diffraction ? En
déduire la valeur de a de chaque fente.
4. Conclure. Figure 13 : Image du disque
contenant des doubles fentes
d’épaisseur 𝑎 espacées par
différentes distances 𝑏

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𝐷 = (… … … … … . ± ⋯ … … … … … )𝑚𝑚
𝑁 𝑙(𝑚𝑚) ∆𝑙(𝑚𝑚) 𝑑(𝜇𝑚) ∆𝑑(𝜇𝑚) 𝑏(𝜇𝑚) ∆𝑏(𝜇𝑚) 𝑎(𝜇𝑚) ∆𝑎(𝜇𝑚)
Série de
fentes 1
Série de
fentes 2
Série de
fentes 3

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