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COMPTE RENDU : TRAVAUX PRATIQUE PHR007

Etalonnage d’un dispositif optique dans le domaine de longueurs d’ondes visibles

1- Objectif
Le but de cette manipulation est d’exploiter le phénomène de diffraction d’un faisceaux
lumineux afin de déterminer le pas d’un réseau de diffraction, ce qui permettra tout d’abord,
à étalonner ce système de mesure, puis à calculer la valeur d’une longueur d’onde inconnue
d’une source lumineuse incidente provenant d’un laser.

2- Principe physique
La diffraction est une propriété des ondes lumineuses qui est souvent utilisée en
spectroscopie, dans des monochromateurs, afin d’analyser certaines molécules par exemple.
Cette propriété se décrit comme la modification de la direction de la propagation d’une onde
lorsqu’elle rencontre un objet ou une ouverture dont les dimensions sont de l’ordre de la
longueur d’onde de l’onde incidente.
Le montage optique comprend pour cela une source lumineuse non cohérente tel qu’un
laser, un réseau de diffraction composés de fentes parallèles régulièrement espacées, dont
chaque espace constitue un pas de réseau A, et d’un capteur de lumière en lien avec système
de traitement de signal aboutissant à l’affichage d’un spectre sur écran d’ordinateur.
Lorsque le faisceau lumineux, d’une longueur d’onde donnée, traverse le système dispersif,
un motif de diffraction apparait. Ce motif est le résultat d’une séparation d’une longueur
d’onde en d’autres longueurs d’ondes qui la composent. Celles-ci sont chacune identifiées par
un ordre p , mais aussi par l’angle qu’elles forment entre la direction du rayon et la normale à
la surface
La loi qui régit ce phénomène se traduit par la formule suivante :
𝐴(𝑠𝑖𝑛 𝑖 − 𝑠𝑖𝑛 𝑖0 ) = 𝑝 ⋅ 𝜆
A , le pas de réseau
𝑖0 angle d’incidence
i angle de diffraction
𝜆 longueur d’onde
P ordre de diffraction
Puisque 𝑖0 =0 𝑠𝑖𝑛 𝑖0 =0 l’expression de cette loi devient :
𝐴 𝑠𝑖𝑛 𝑖 = 𝑃𝜆

3- Protocole
Après avoir disposé les différents éléments du dispositif, dans un alignement presque
parfait, à partir de cette loi, certaines données seront à déterminer afin de calculer le pas de
diffraction. L’angle de diffraction de l’onde de premier ordre peut être schématisé sous forme
de triangle rectangle dont il est nécessaire de connaitre les côtés. La distance entre le réseau
de diffraction et le capteur peut être mesuré. Le coté opposé de l’angle et l’hypoténuse
seront calculés à partir des données collectées sur le spectre, à savoir la position respective
des pics d’intérêt

1 – image du spectre obtenu lors d’une expérience :

Les calculs, à partir d’une valeur de longueur d’onde connues, sont consignées sur le fichier
Excel suivant :
1027,63244, le nombre de raies spectrales par unité de longueur, est en concordance avec la
valeur de référence, le montage est donc satisfaisant. L’étalonnage du système se poursuit
par la vérification de la longueur d’onde connue suivant ces données obtenues
Résultat des calculs pour la détermination des valeurs différentes longueur d’onde λ,
l’une connue, les deux autres,. inconnues
4- Discussion :
649,933821 arrondie à 650 nm est la longueur d’onde expérimentale.
Considérant une certaine incertitude du fait de l’imprécision de la mesure à la
règle graduée de la distance entre le filtre et le capteur, cette valeur est
suffisamment proche de la valeur théorique pour valider l’étalonnage de ce
dispositif optique.
Les longueurs d’ondes inconnues, dont les valeurs respectives de 422 nm et
520nm ont été détermineés, correspondent à l’ordre de grandeur des
rayonnements de couleur violet (422nm) et vert (520nm) , comme il était possible
de le voir lors de l’expérimentation.

5- Conclusion :

La diffraction est un phénomène important en physique, elle est particulièrement


exploitée dans le domaine de la spectroscopie, méthode largement utilisée en chimie,
biochimie et biologie à des fins d’identification de molécules, de matériaux, entre autres.
Dans ce cas, l’obtention d’un rayonnement monochromatique pour l’analyse est très souvent
fondamental.
L’étude portée sur l’expérimentation de ce dispositif optique a permis de mettre en
évidence des étapes d’un procédé d’étalonnage. L’écart de mesure entre 650 nm, valeur
expérimentale, et 670 nm, valeur théorique, en tenant compte d’une certaine incertitude
dans la mesure de la distance filtre-capteur, est tout à fait acceptable.
De plus , les valeurs déterminées de longueurs d’onde inconnues , cohérentes par rapport à
leur couleur, viennent confirmer que ce type de dispositif peut correspondre au cahier des
charges

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