SDF02 : Diagrammes de fiabilité Cours Mai 2004

CHAPITRE 2 : DIAGRAMMES DE FIABILITE OU

DIAGRAMMES DE SUCCES
(Reliability block diagram).

C'est la méthode la plus anciennement connue pour le calcul de la fiabilité des

systèmes non réparables. Bien qu'elle puisse aussi s'appliquer aux systèmes
réparables, son usage y reste limité.

Le diagramme de fiabilité représente les conditions de réalisation de la fonction d'un

système composé de sous systèmes caractérisés par leur fiabilité. On appelle parfois
chemin de succès, un chemin permettant d’aller de l’extrémité gauche à l’extrémité
droite du diagramme, symbolisant ainsi que la fonction du système est réalisée. C’est
par analogie avec les circuits électriques que cette méthode a été proposée. La perte
d’un composant dans un circuit électrique empêche le passage du courant. Par
analogie, la défaillance d’un composant interrompt le chemin de succès.

1 Système série

1.1 Cas général

Un système composé d'au moins 2 sous-systèmes, tel que l'événement Ei, défaillance
d'un d'entre eux, entraîne l'événement E, défaillance du système.

1 2 n

Fig. 2.1 Système série.

R ( t ) = P ⎡⎣ E ⎤⎦ = P ⎡⎣ E1ouE 2 ou…ouE n ⎤⎦

R ( t ) = P ⎡⎣ E1et E 2 et...et E n ⎤⎦

Si les sous systèmes sont indépendants du point de vue de leurs défaillances:

n n ⎛ t n ⎞ ⎛ n t ⎞
R(t) = ∏ P[E i ] = ∏ R i (t) = ∏ exp ⎜ − ∫ λ i (x)dx⎟ = exp ⎜ ∑ − ∫ λ i (x)dx⎟
i =1 i=1 i =1 ⎝ 0 ⎠ ⎝ i=1 0 ⎠

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La fiabilité du système est donc le produit des fiabilités des sous ensembles :

n
R = ∏ ( Ri )
i =1

Pour une série de composants de même type, on peut rechercher des expressions
analytiques de la fiabilité, du taux de défaillance ou du MTTF équivalents comme le
montrent les alinéas suivants. Lorsque les composants ne sont pas de même type,
seul le recours au calcul numérique permettra de calculer les RS(t), λS(t) et MTTFS
équivalents du système.

1.2 Taux de défaillance constant

Si le taux de défaillance est constant pour chaque sous ensemble :

⎛ ⎛ n ⎞ ⎞
R = exp ⎜ − ⎜ ∑ λ i ⎟ t ⎟
⎜ ⎜ ⎟ ⎟
⎝ ⎝ i =1 ⎠ ⎠

Par identification, le taux de défaillance du système est donc :

n
λ = ∑ λi
i =1

et le MTTF du système :

1
MTTF = n
∑ λi
i =1

1
Si les composants sont tous identiques : MTTF =
nλ

Il est n fois plus petit que celui de chaque composant.

1.3 Taux de défaillance linéairement croissant

λi = ki t (distribution de Rayleigh(Maxwell))

n ⎛ t2 ⎞ ⎛ n t2 ⎞
R ( t ) = ∏ exp ⎜ − k i ⎟ = exp ⎜ − ∑ k i ⎟
⎜ 2 ⎟⎠ ⎜ ⎟
k =1 ⎝ ⎝ k =1 2 ⎠

∞
π
MTTF = ∫ R ( t )dt = n
0 2 ∑ ki
k =1

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1.4 Taux de défaillance de Weibull

λi = ki tmi

n ⎛ k i t mi +1 ⎞
R ( t ) = ∏ exp ⎜ −
⎜ m + 1 ⎟⎟
i =1 ⎝ i ⎠
⎛ +
n
kt i ⎞
m 1
R ( t ) = exp ⎜ − ∑ i ⎟⎟
⎜
⎝ i =1 mi + 1 ⎠

−1
⎡ 1 ⎤
⎢ ⎛ n ⎞ m +1 ⎥
⎢ ⎜ ∑ ki ⎟ ⎥
⎛ 1 ⎞⎢ ⎜ ⎟
⎟ ( m + 1) ⎜
MTTF = Γ ⎜ i =1 ⎥ si mi = m
⎝ m +1 ⎠ ⎢ m +1 ⎟ ⎥
⎢ ⎜⎜ ⎟⎟ ⎥
⎢ ⎝ ⎠ ⎥
⎣⎢ ⎦⎥

u
Γ ( u )continu = ∫ e− x .x u −1.dx
Γ est la fonction gamma : 0
Γ ( u )entier = ( u − 1) !

Une ligne de production de la société SDF est constituée de trois machines montées
en série (A, B, C) sans aucune zone de stockage entre les trois machines. Chacune
des trois machines constituant la ligne est considérée comme ayant un taux de
défaillance constant (λA = 4.10-5 h-1, λB= 3.10-5 h-1 et λC = 10.10-5 h-1).
La défaillance d’une des trois machines entraînera automatiquement l’arrêt de la
ligne de production.

Le taux de défaillance du système sera donc égal à :

λS = λ A + λ B + λ C = 4.10-5 + 3.10-5 +10.10-5 = 17.10-5 h-1.

1
Et MTTF = = 5882 h
λS
Nous pouvons également estimer la fiabilité à 1000 h de fonctionnement à :
R1000 = e −1000λS = 0.84

SDF02E01A
L’entreprise SDF décide d’améliorer la fiabilité de cette installation pour obtenir une
durée moyenne de fonctionnement avant défaillance d’une année (ligne de
production utilisée 24h/24, 7j/7). Pour cela elle concentre ses efforts sur une seule
des trois machines.
1- Sur quelle machine l’entreprise doit elle porter son étude ?
2- Que deviens la valeur de R1000 ?
3- Quel sera le taux de défaillance de la machine modifiée ?

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2 Système parallèle

2.1 Cas général

Fig. 2.2 Système parallèle.

Le système fonctionne dès que l'un au moins des sous systèmes fonctionne, sa
défaillance implique la défaillance de tous les sous ensembles.

1 - R (t) = P [E1 et E2 et ... et En]

Si les sous systèmes sont mutuellement indépendants :

1 - R (t) = P [E1] . P [E2] … P [En]

= [1 - R1 (t)] . [1 - R2 (t)] … [1 - Rn (t)]

n
R(t) = 1− ∏ (1 − R i (t ))
i =1

n ⎛ t ⎞
R (t ) = 1 − ∏1 − exp⎜ − ∫ λ i (x)dx⎟
i=1 ⎝ 0 ⎠

2.2 Remarques sur la nature des diagrammes de fiabilité

• Supposons que la défaillance redoutée d'un relais (risque) soit de ne pas se

fermer, on en placera alors un second en parallèle réalisant ainsi une
redondance parallèle.

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Schéma électrique Diagramme de fiabilité

Fig. 2.3

• Supposons maintenant que la défaillance redoutée d'un relais soit de ne pas

s'ouvrir. On place alors un deuxième relais en série

Schéma électrique Diagramme de fiabilité

Fig. 2.4

Electriquement, les deux relais sont en série, mais fonctionnellement, du point de vue
fiabilité, ils sont en parallèle. On a réalisé une redondance parallèle.

• Supposons maintenant que deux relais sont en série pour réaliser une
fonction logique ET, si la défaillance redoutée de ces relais est le refus de se
fermer, les deux relais sont également en série du point de vue de la
fiabilité de la fonction logique réalisée, car le refus de se fermer de l'un ou
l'autre des deux composants entrave la réalisation de la fonction.

Schéma électrique Diagramme de fiabilité

Fig. 2.5

d - De même, les 2 relais en parallèle réalisant une fonction logique OU, le refus de
se fermer de l'un ou l'autre des relais empêche la fonction de se réaliser. Les deux
relais sont alors en série du point de vue de la fiabilité de la fonction logique.

Schéma électrique Diagramme de fiabilité

Fig. 2.6

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On conçoit donc aisément que pour augmenter la fiabilité de systèmes on soit amené
à mettre des sous systèmes en parallèle ou en série, selon la nature des défaillances
redoutées de ces derniers.

La mise en parallèle de sous systèmes du point de vue fiabilité peut se confondre

avec la notion de redondance à laquelle on recourt pour améliorer la fiabilité. Il faut
cependant faire remarquer que parfois des sous systèmes se trouvent naturellement
en redondance ou qu'il peut y avoir dans un système des redondances cachées. Il est
donc important de faire précéder l'établissement du diagramme de succès (fiabilité)
d'une analyse fonctionnelle précise du système, tout au moins lorsqu'on cherche à
évaluer à posteriori la S.d.F. d'un système déjà conçu.

L'idéal, bien sûr, consiste à intégrer l'analyse de la S.d.F. lors de la conception du

système.

L'étude systématique des configurations redondantes sera vue ultérieurement. Nous

nous plaçons ici dans le seul cas de la redondance statique (où tous les éléments
redondants sont simultanément en service et pour cela encore appelée redondance
active).

2.3 Cas du taux de défaillance constant

[ ]*
n
R (t ) = 1 − ∏ 1 − e
−λ i t

i=1
n

= ∑e
n
t − ∑ ∑e
( )+
− λ i +λ j t ( ) +.....+(−1)n e − ∑ λ t **
− λ i +λ j +λ k t
−λ i
∑∑ ∑e
i
i=1

i =1 i j≠ i i j≠i k≠ j≠i

dR(t)
Le taux de défaillance du système est obtenu par la relation λ ( t ) = − dt en
R(t)
n
−λ j t ⎤
dérivant * considérée sous la forme R ( t ) = 1 − ⎡1 − e
⎣ ⎦ ∏ ⎡1 − e −λ i t ⎤ et en
⎣ ⎦
i =1;i ≠ j
itérant on obtient :

−R' 1 n
( )
n
−λ
λ(t ) = = ∑ λ i e −λ i t ∏ 1 − e j t
R R i=1 j=1; j≠i

∞
En intégrant chacun des termes de R (t) dans ** , le MTTF = ∫ R(t).dt est alors:
0

n
1 1 1 n +1 1
MTTF = ∑ −∑∑ + ∑∑ ∑ +.....+ (−1)
λ
i =1 i
λ + λj
i j≠ i i
λ + λj + λk
i j≠i k ≠ j≠i i ∑λi
i

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Dans le cas où tous les éléments ont le même λ :

1 n 1
MTTF = ∑
λ i =1 i

Dans le cas simple de deux sous systèmes en parallèle

R (t) = 1 - (1 – R1) (1 – R2) = R1 + R2 – R1 R2

1 1 1
MTTF = + −
λ1 λ 2 λ1 + λ 2

Dans le cas de trois sous systèmes en parallèle

R (t) = 1 - (1 - R1) (1 - R2) (1-R3) = R1 + R2 - R1R2 – R2R3 – R1R3 + R1R2R3

1 1 1 1 1 1 1
MTTF = + + − − − +
λ1 λ 2 λ 3 λ1 + λ 2 λ1 + λ 3 λ 3 + λ 2 λ1 + λ 2 + λ 3

Si les 2 éléments ont même taux λ de défaillance et même fiabilité :

R(t) = 2R1 − R12

R(t) = R1 ( 2 − R1 )

1,5
MTTF =
λ

L’entreprise SDF découvre qu’il est impossible de d’améliorer le taux de défaillance

des machines constituant la ligne de production pour des raisons techniques. Elle
évalue donc la possibilité de mettre une seconde ligne L2 (identique à la première L1)
de production en parallèle.

Le MTTF devient donc :

1 1 1
MTTF = + − avec λ L1 = λ L2 = λs
λ L1 λ L2 λ L1 + λ L2
3
MTTF = = 8824h
2 * λs
−1000λ L1 −1000λ L2
Et R1000 = 1 − (1 − e ).(1 − e ) ≈ 0.98

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SDF02E02A
Compte tenu du coût d’installation d’une nouvelle ligne production, la société
s’interroge sur l’opportunité d’acquérir une ou plusieurs machines pour obtenir un
MTTF d’une année (on considèrera pour la suite que les taux de défaillances des
trois machines restent inchangés). Pour des considérations de gestion de stock de
pièces de rechange, il est décidé de mettre en redondance uniquement la machine A
ou B ou C.
1- Sur quelle machine l’entreprise doit elle porter son étude ?
2- Combien faut il mettre de machines de même type en parallèle ? Conclusion ?

Il est illusoire de chercher des expressions analytiques du taux de défaillance ou du

MTTF équivalents pour des systèmes parallèles dont les composants sont de même
type mais avec des taux non constants. Les outils de calcul disponibles permettent
d’obtenir ces résultats numériquement.
La mise en parallèle de composants du point de vue fiabilité correspond à la notion
de redondance. Il est rare d’avoir affaire à des niveaux de redondance supérieurs à 4
(redondance d’ordre 5 par exemple pour des calculateurs embarqués sur la navette
spatiale parce qu’ils sont soumis à des conditions d’environnement extrêmes).

SDF02E03A
Un système dispose de deux options de fermeture indépendantes (l’une
électromagnétique et l’autre mécanique). Ce système peut être représenté de la façon
suivante :

a b

Fig. 2.7 Figure exercice SDF02E03A.

C1 : Composant électrique régit par une loi lognormale de paramètres µ=7.5 et σ=2
C2 : Composant électronique régit par une loi exponentielle de paramètre λ =5.10-4
h-1
C3 : Composant mécanique régit par une loi de weibull de paramètres η=1000, γ=0
et β=3.

Représenter graphiquement entre 0 et 4000h l’évolution de la fiabilité de ce système

en fonction du temps pour t allant de t=0 à t=4000h (les trois entités C1, C2 et C3
sont neuves à t=0)

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3 Systèmes mixtes

3.1 Systèmes parallèle série

1 1 1

2 2 2

i i i

ml mj m

Ensemble 1 Ensemble j Ensemble n

Fig. 2.8 Système mixte.

Fiabilité d'un ensemble j :

mj
R j = 1 − ∏ 1 − R ij ( ) Rij : fiabilité de l'élément i du jième ensemble
i =1

Fiabilité du système :

n⎡ mj ⎤
R = ∏ ⎢1 − ∏ 1 − R ij ( )⎥
j=1 ⎢
⎣ i =1 ⎥⎦

3.2 Système série parallèle

1 2 i m1

1 2 i m1

1 2 i m1

1 2 i m1

Fig. 2.9 Système série parallèle.

Fiabilité d'une branche série :

mj
R = ∏ R ij ( )
i =1

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Fiabilité de l'ensemble :

n ⎡ mj ⎤
R = 1 − ∏ ⎢1 − ∏ R ij ⎥( )
j=1 ⎢
⎣ i =1 ⎥⎦

SDF02E04A
Finalement après différentes études de disponibilité, coût, criticité de l’installation…,
la direction de la société SDF a décidé de valider la configuration suivante :

A B C

A B C

Fig. 2.10 Figure exercice SDF02E04A.

1- Quelle est la fiabilité de cette nouvelle machine ? Evaluer R1000 .

2- L’objectif du MTTF = 1 an est-il respecté ?

4 Systèmes plus complexes

Système avec redondance partagée : dans les chemins aa’ et bb’, on a constaté que a
et b ont une fiabilité insuffisante. On a alors ajouté le composant c en redondance
partagée ; il permet de rajouter les chemins de succès ca’ ou cb’ :

a a’

b b’

Fig. 2.11 Exemple de système complexe.

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_
Soit S l'événement le système s fonctionne et S l'événement le système s est
défaillant

Soit C l'événement le sous système c fonctionne

Appliquons le théorème des probabilités totales en considérant comme système

complet d'événements, les événements :

- le composant c fonctionne
- ce même composant est défaillant.

P[S] = P[S / C].P[C] + P[S / C].P[C]

1 − R(s) = P[S / C]R(c) + P[S / C][1 − R(c)]

- Si on sait que c fonctionne, cela revient à dire qu’il y a une connexion directe entre
l’extrémité gauche du diagramme et les composants a’ et b’. La probabilité que s
soit défaillant, sachant que c fonctionne, correspond donc à celle de la défaillance
simultanée de a' et b' qui sont en parallèle, soit [1 - R(a')] . [1 - R(b')]

- Si on sait que c ne fonctionne pas alors il peut être retiré du diagramme qui est
réduit aux composants a, b, a’, b’. La probabilité que s soit défaillant sachant que c
est défaillante correspond donc à celle de la défaillance simultanée des voies aa' et
bb' soit [1 - R(aa')] [1 - R (bb')]
où R (aa') = R(a) R(a') et R(bb') = R(b) R(b')

1 - R(s) = [1 - R(a')] [1 - R(b')] R(c) + [1 - R(a) R(a')] [1 - R(b) R(b')] [1 - R(c)]

SDF02E05A
Afin d’augmenter le nombre de chemins de succès et donc la fiabilité du système, on
intercale un commutateur (composant 3) ayant lui-même une fiabilité propre.

1 4

2 5

Fig. 2.12 Figure exercice.

Calculer la fiabilité équivalente du système.

Il existe d'autres moyens pour trouver ce résultat que nous verrons dans l'étude
d'autres méthodes.

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5 Conclusion

Cette méthode permet de calculer la fiabilité d'un système à partir de l'étude de sa

structure fonctionnelle qui permet de définir le diagramme de fiabilité. Elle devient
difficile à appliquer pour les structures non simples. On peut également l'utiliser pour
le calcul de la S.d.F. (maintenabilité, disponibilité).

Elle peut être systématisée pour les cas non simples en faisant appel à la théorie des
graphes, c'est ce que nous verrons dans le chapitre 5.

Il faut noter qu'elle exige de nombreuses conditions : sous systèmes indépendants,

taux constants, etc …

Elle peut cependant s'appliquer en dehors de ces hypothèses mais exige alors des
calculs plus complexes, cf. [Corazza] pp 97 à 106 pour l'étude de systèmes à
éléments à plusieurs états (ex : bon état - court circuit - circuit ouvert), de systèmes à
éléments dépendants et taux de défaillance variables.

BIBLIOGRAPHIE
(Références citées dans le texte ou documents dont la lecture peut-être profitable)

[Birolini] Reliability Engineering - Theory and Practice

A. BIROLINI – Springer – 1999

[Chapouille] Fiabilité des systèmes

J P. CHAPOUILLE et R. DE PAZZIS - Editions Masson et Cie
- 1975

[Corazza] Technique mathématique de la fiabilité prévisionnelle

M. CORAZZA - Cepadues éditions - 1975

[Kaufmann] Modèles mathématiques pour l’étude de fiabilité des systèmes

A. KAUFFMANN, G. GROUCHKO, R. CRUON – Editions
Masson et Cie – 1975

[Lyonnet] La maintenance, Mathématiques et Méthodes

P. LYONNET – Editions Lavoisier – 1986

[Modares] Reliability and risk analysis

M. MODARES – Marcel Dekker Inc. – 1993

[Pages] Fiabilité des systèmes

A. PAGES et M. GONDRAN – Edition Eyrolles

[Villemeur] Sûreté de fonctionnement des systèmes industriels

A. VILLEMEUR – Edition Eyrolles – 1988

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