Bouzid otman -Mohamed el neijdi

-Mohamed el ouahi -Adbe el ali meskin

-Ismail bouteskaouin -Salhi abde el samade

TD2
TD1 : Evaluation de la fiabilité des sous - systèmes en série.
Un système composé d’au moins de deux sous-systèmes, tel que l’évènement Ei,
défaillance d’un d’entre eux, entraine l’évènement E, défaillance de système.

1- le diagramme de fiabilité de ce système.

1 2 n

2- Si les sous-systèmes sont indépendants du point vu de leurs défaillances, donner

l’expression de la fiabilité du système R(t) en fonction Ri(t) et λi (t).

3- la loi exponentielle :
En cas de la loi exponentielle, où λi(t)=λi (constante)

 R(t) = ∏𝑛1 𝑒 −𝜆𝑡

 𝞴 = ∑𝑛1 𝜆𝑖
 𝞴 = n 𝜆1

Application
1- le taux de défaillance du système.

𝞴s= 𝞴a + 𝞴b + 𝞴c

𝞴s = 4×10-5+3×10-5+10×10-5
𝞴s = 17×10-5 h-1
2- le MTTF.
1 1
MTTF = λs
= 17∗10−5

MTTF = 5882 h
3- R(t) pour 1000h de fonctionnement.

R1000 = 𝑒 −1000∗λs
R1000 = 0.84
L’entreprise décide d’améliorer la fiabilité de cette installation pour obtenir une durée
Moyenne de fonctionnement avant défaillance d’une année (ligne de production utilisée
24h /24h, 7j/7j).
1- Sur quelle machine l’entreprise doit-elle porter son étude ?
L'entreprise devrait porter son étude sur la machine C (𝞴c=10×10-5 h) car c'est celle avec le
taux de défaillance le plus élevé.
2- la valeur de R(t) pour 1000h de fonctionnement.
Pour atteindre une durée moyenne de fonctionnement avant défaillance d'une année (8760
heures), nous voulons MTTF=8760 heures. Donc, nous pouvons calculer le nouveau taux de
défaillance (λc’) après l'amélioration.
1
MTTF = 𝜆c′
1
𝜆c′ = 𝑀𝑇𝑇𝐹

𝜆c′ = 1,141552511415525 * 10-4 h-1

3- le taux de défaillance de la machine modifiée.

Utilisons le nouveau taux de défaillance λc’ pour recalculer la fiabilité R1000après

l'amélioration de la machine C.

R’1000 = 𝑒 −(𝜆a+𝜆b+𝜆c’)∗1000
R’1000 = 0.9999699898
TD1 : Evaluation de la fiabilité des sous - systèmes en série.

1- Diagramme de fiabilité du système :

2-Expression de la fiabilité du système R(t) en fonction de Ri(t) et λi : Pour des sous-

systèmes en parallèle, la fiabilité du système R(t) peut être calculée comme suit :
𝑅(𝑇) = 1 − 𝜫(𝟏 − 𝑹𝒊(𝒕))
3-En cas de loi exponentielle : Si les sous-systèmes suivent une loi exponentielle avec des
taux de défaillance λi, alors la fiabilité de chaque sous-système est donnée par :
𝑅𝑖 (𝑇) = 𝐸𝑋𝑃(−𝝀𝒊 ∗ 𝒕)

a-Expression de R(t) en fonction de λi :

𝑅 (𝑇) = 1 − 𝜫(𝟏 − 𝐸𝑋𝑃(−𝝀𝒊 ∗ 𝒕))
b. Expression du taux de défaillance du système λ en fonction de λi : Le taux de défaillance
du système λ est donné par la dérivée de la fiabilité par rapport au temps :
λ(t) = dR(t)/dt= ∑(λi * e^(-λi * t))
c. Si tous les composants ont le même λ1, l'expression de MTTF en fonction de λ1 est
donnée par : MTTF = 1 / λ1
d-pour le cas d’un système composé de deux sous-systèmes parallèles
R(T)=1-(1-R1(t)) *(1-R2(t))
1 1 1
MTTF = + −
λ1 λ2 λ1 + λ2
Pour le cas d’un système composé de trois sous-systèmes parallèles
R(T)=1-(1-R1(t)) *(1-R2(t)) *(1-R3(t)) =R1+R2-R1R2-R2R3-R1R3+R1R2R3
1 1 1 1 1 1 1
MTTF = + + − − − +
λ1 λ2 λ2 λ1 + λ2 λ3 + λ2 λ1 + λ3 λ1 + λ2 + λ3

Application
1-Le MTTF devient donc
1 1 1
MTTF = + −
λL1 λL2 λL1 + λL2
AVEC λL1 = λL1 = λs
2
MTTF = = 8824h
2∗λs

2-Le R1000 est :

𝑅 (𝑇) = 1 − (𝟏 − 𝐸𝑋𝑃(−𝟏𝟎𝟎𝟎𝝀𝑳𝟏))(𝟏 − 𝐸𝑋𝑃(−𝟏𝟎𝟎𝟎𝝀𝑳𝟐))= 0.98

1- Dans ce cas, la machine C a le taux de défaillance le plus élevé (10 * 10-5h-1), donc l'entreprise doit
se concentrer sur la redondance de la machine C.
1-la fiabilité de la nouvelle installation
λt=5*10-5h-1

2-R1000 = EXP(-λt*t)

R1000 = EXP (-5*10-5*1000)

 R1000 =0.951

3- le MTTF total égal à 20000h donc plus d’une année de 8760h donc l’objectif est respecté