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Conversion photovoltaïque
• Le photocourant
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Etude théorique de la photopile
Présentation de la photopile
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I. Etude théorique de la photopile à jonction verticale parallèle
Équation de continuité
2 x, t x, t x, t
D 2
G x, , t (1)
x t
G x , t g x e j t
(3)
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I. Etude théorique de la photopile
Solution de l’équation de continuité
x x
x, , A cosh B sinh K e H x (5)
L L
CONDITIONS AUX LIMITES
x, , x, ,
En x=0, à la jonction émetteur-base D Sf (6)
x x 0
D x 0
x, , x, ,
En x = H, à la face arrière de la base D Sb (7)
x xH
D x H
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Densité des porteurs minoritaires
Figure 2: Module de densité de porteurs minoritaires en excès en fonction de l'épaisseur de base pour différentes
fréquences (D = 35 cm2/s ; α = 6,2 cm-1)
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Densité des porteurs minoritaires
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Influence de l’épaisseur de la base sur la densité de photocourant
Pour un coefficient d’absorption faible
(8)
D H (9)
Sb1H , . tanh
L L
H H H
L L ch sh e
D
L L (10)
Sb2 H , ,
L H H H
ch L sh e 1
L L
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Détermination de l’épaisseur optimum de la base sous l’influence de la
fréquence par la technique de l’intersection des courbes des vitesses de
recombinaison à la face arrière
Pour un coefficient d’absorption faible base
ω(rad.s-1) 102 103 104 2.104 3.104 4.104 5.104 6.104 7.104 8.104 9.104 105
D(cm/s2) 35 34.9983 34.8263 34.3203 33.5239 32.4967 31.3050 30.0123 28.6731 273305 26.0131 24.7487
Hop (cm) 0.0117 0.0117 0.0116 0.0114 0.0111 0.0106 0.0102 0.0096 0.0091 0.0086 0.0081 0.0077
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Détermination de l’épaisseur optimum de la base sous l’influence
de la fréquence par la technique de l’intersection des courbes des
vitesses de recombinaison à la face arrière
donnant le profil de l’épaisseur optimum en fonction de la fréquence pour un coefficient
d’absorption faible.
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Détermination de l’épaisseur optimum de la base sous l’influence
de la fréquence par la technique de l’intersection des courbes des
vitesses de recombinaison à la face arrière
Hop 4 10 4 D 2.2 10 3
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Détermination de l’épaisseur optimum de la base sous l’influence
de la fréquence par la technique de l’intersection des courbes des
vitesses de recombinaison à la face arrière
Figure 9: Sb1 et Sb2 en fonction de l'épaisseur de la base pour différentes fréquence pour un grand
coefficient d’absorption (D0 = 35cm2/s; α = 21000 cm-1)
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Détermination de l’épaisseur optimum de la base sous
l’influence de la fréquence par la technique de l’intersection des
courbes des vitesses de recombinaison à la face arrière
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Détermination de l’épaisseur optimum de la base sous
l’influence de la fréquence par la technique de l’intersection des
courbes des vitesses de recombinaison à la face arrière
Ainsi la technique d’optimisation de la base ici présentée prenant en compte la profondeur de pénétration
(courtes
longueurs d’onde), permettrait de réduire la quantité de matériau (Si) nécessaire à la fabrication des photopiles
cristallines
dédiées à une application spécifique d’éclairement et réduirait aussi le coût de fabrication et le prix de revente.
Notre travail, utilisant des paramètres optoélectroniques électroniques, y compris la surface arrière les vitesses de
recombinaison par ses composantes intrinsèques (diffusion) et de génération (absorption α(λ)),
nous avons déterminé l'épaisseur optimale de la base de la cellule solaire éclairée par sa face arrière par une lumière
monochromatique en modulation de fréquence. Une modélisation de l'épaisseur optimale de la base est ainsi obtenue
et peut conduire à la réduction de l'épaisseur du matériau lors de l'élaboration de la cellule solaire en silicium. 19
Détermination des caractéristiques I-V, P-V, FF et η
sous l’influence de l’épaisseur optimum
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Détermination des caractéristiques I-V, P-V, FF et η
sous l’influence de l’épaisseur optimum
Influence de la fréquence et de l’épaisseur optimum de la base sur la phototension pour un coefficient
d’absorption respectivement faible
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Influence de la fréquence et de l’épaisseur optimum de la base sur
la caractéristique I-V
Pour un coefficient d’absorption faible
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Influence de la fréquence et de l’épaisseur optimum de la base sur
la caractéristique I-V
25
Influence de la fréquence et de l’épaisseur optimum de la base sur
la caractéristique I-V
Pour un coefficient d’absorption grand
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Influence de la fréquence et de l’épaisseur optimum de la base sur
la caractéristique I-V
27
Influence de la fréquence et de l’épaisseur optimale de la base
sur la phototension pour un coefficient d’absorption
respectivement faible
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Influence de la fréquence et de l’épaisseur optimale de la base
sur la phototension pour un coefficient d’absorption
respectivement faible
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Influence de la fréquence et de l’épaisseur optimale de la base sur la
phototension pour un coefficient d’absorption respectivement faible
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Rendement de conversion photovoltaïque
ω(rad.s-1) 102 103 104 2.104 3.104 4.104 5.104 6.104 7.104 8.104 9.104 105
Hop(cm) 0.0117 0.0117 0.0116 0.0114 0.0111 0.0106 0.0102 0.0096 0.0091 0.0086 0.0081 0.0077
Pmax(mW) 0.8055 0.8055 0.801 0.7917 0.7775 0.7539 0.7344 0.7053 0.6803 0.6548 0.6290 0.6079
Pinc(mW) 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100
ɳ(%) 0.8055 0.8055 0.801 0.7917 0.7775 0.7539 0.7344 0.7053 0.6803 0.6548 0.6290 0.6079
ω(rad.s-1) 102 103 104 2.104 3.104 4.104 5.104 6.104 7.104 8.104 9.104 105
Hop (cm) 0.0086 0.0086 0.0084 0.0079 0.0073 0.0065 0.0056 0.0048 0.004 0.0033 0.0026 0.002
Pmax(mW) 9.919 9.919 9.991 10.14 10.38 10.79 11.15 11.7 12.22 12.77 13.36 13.9
Pinc(mW) 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100
ɳ(%) 9.919 9.919 9.991 10.14 10.38 10.79 11.15 11.7 12.22 12.77 13.36 13.9
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Détermination de paramètres électriques macroscopiques
Figure 25: Détermination de la résistance série à partir de la caractéristique I-V au voisinage du circuit ouvert
34
Influence de la fréquence et de l’épaisseur optimale
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Influence de la fréquence et de l’épaisseur optimale
Rs / cm 2 52 Hopcm 0.79 (12)
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Résistance shunt
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Influence de la fréquence et de l’épaisseur optimale
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Publications
1)Mamadou Sall, Dianguina Diarisso, Mame Faty Mbaye Fall, Gora Diop, Mor Ndiaye, Khady Loum,
Gregoire Sissoko (2021) Back Illuminated N/P/P+ Bifacial Silicon SolarCell under Modulated Short-
Wavelength: Determination of Base Optimum Thickness Energy and Power Engineering, 2021, 13, 207-
220 https://www.scirp.org/journal/epe
2) Mamadou SALL, Mame Faty Mbaye FALL, Ousmane DIASSE, Gora DIOP, Ibrahima DIATTA, Oumar
DIA, Khady LOUM, Mamadou WADE et Grégoire SISSOKO.(2022) Détermination de l'épaisseur optimum
de la base de la photopile n+/p / p + au silicium, éclairée par la face arrière par une lumière
monochromatique de grande longueur d'onde en modulation de fréquence. Journal of Chemical, Biological
and Physical Sciences. JCBPS; Section C; August 2021 –October 2021, Vol. 11, No. 4; 0078-091. DOI:
10.24214/jcbps.C.11.4.07891.
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