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1/.Introduction :
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2/.Principe de fonctionnement :
3/.Applications :
*En microélectronique *
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L'introduction de dopants dans un semi-conducteur est
l'application la plus commune de l'implantation ionique. Les ions
utilisés pour le dopage, tels que le bore, le phosphore ou l'arsenic, sont
généralement produit à partir d'une source gazeuse, garantissant une
grande pureté de la source. Ces gaz ont tendance à être très dangereux.
Lorsqu'ils sont implantés dans un semi-conducteur, chaque atome
dopant crée un porteur de charge (trou ou électron suivant qu'il s'agit
d'un dopant de type p ou n) modifiant ainsi localement la conductivité
du semi-conducteur.
La mésotaxie est une méthode dans laquelle on fait croitre une phase
cristallographiquement appariée sous la surface du cristal hôte (par
opposition à l'épitaxie où la croissance de la phase appariée se fait à la
surface du substrat). Dans ce processus, les ions sont implantés dans
un matériau à l'aide d'une forte dose et d'une énergie élevée pour créer
une seconde phase. La température est alors contrôlée afin que la
structure cristalline de la cible ne soit pas détruite. L'orientation
cristalline de la couche peut être organisée pour correspondre à celle
de la cible, même si la structure cristalline exacte et la constante de
réseau peuvent être très différentes. Par exemple, après l'implantation
d'ions de nickel dans une plaquette de silicium, une couche de siliciure
de nickel peut croître avec une orientation cristalline du siliciure
correspondant à celle du silicium.
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dite « classique » transporte des ions dans un faisceau, le substrat est
ici directement immergé dans un plasma. Une fois le plasma créé dans
la chambre de procédé, une tension négative est appliquée sur le porte-
substrat. Une zone de charge d’espace est alors créée autour du
« porte-substrat » et toutes les espèces ioniques positives contenues
dans le plasma et se situant dans cette zone sont accélérées puis
implantées dans le substrat avec une énergie égale à la tension de
polarisation (pour un ion mono chargé). La dose d’ions implantés est
directement proportionnelle au temps pendant lequel le substrat est
exposé au plasma en présence de cette tension. Dans le cas de
l'implantation PIII les ions ne sont pas triés avant d'être implantés,
toutes les espèces positives du plasma sont implantées dans le substrat.
*Coalisation ionique :*
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Si la cible possède une structure cristallographique, certains
directions cristallographiques présentent une distance d'arrêt beaucoup
plus faible que d'autres. Il en résulte que la portée d'un ion peut être
beaucoup plus grande si l'ion se déplace exactement le long d'une
direction particulière comme la direction <110> dans le silicium et
d'autres matériaux avec une structure diamant. Cet effet est appelé
canalisation ionique. Il s'agit d'un effet fortement non-linéaire où de
petites variations par rapport à l'orientation cristalline se traduit par
des écarts importants de profondeur d'implantation. Pour cette raison,
la plupart des implantations sont réalisées légèrement désaxées de
quelques degrés, où les petites erreurs d'alignement ont des effets plus
prévisibles.
Possibilité d'introduire presque tous les types d'impuretés dans divers substrats.
Un contrôle précis de la quantité de dopant introduit, avec le contrôle de la vitesse des
molécules.
Un contrôle précis de la distance de pénétration.
Possibilité de régler l'épaisseur de l'épaisseur de la couche dopée d'une manière
totalement indépendante de la dose implantée.
Une bonne homogénéité et la reproductibilité de l'opération (± 3%).
le profil de contrôle par modulation de l'énergie d'implantation. L'épaisseur de la jonction
est de l'ordre de microns, avec un meilleur contrôle de 100 Å.
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Possibilité de dopage à travers les couches d'oxyde ou de nitrure de silicium.
Possibilité d'utiliser résine photosensible comme blindage.
procès température ambiante.
Possibilité d'avoir des niveaux de dopage 4 ordres de grandeur inférieure à la diffusion et
donc très faible quantité introduite.
L'extension spatiale de l'agent de dopage est très faible.
6/.Travail à réaliser :
Le silicium est l'élément chimique de numéro atomique 14,
de symbole Si. Il appartient au groupe 14 du tableau périodique. C'est
l'élément le plus abondant dans la croûte terrestre après l'oxygène, soit
25,7 % de sa masse8, mais il n'est comparativement présent qu'en
relativement faible quantité dans la matière constituant le vivant. Il
n'existe pas dans la nature à l'état de corps simple, mais sous forme de
composés : sous forme de dioxyde de silicium (SiO2), d'origine
biogène (fabriqué par un organisme vivant comme les diatomées ou
les radiolaires), on le trouve sous forme de silice amorphe (dans
le sable), ou d'origine lithogénique lorsqu'il est sous la forme de silice
minérale (le quartz, la cristobalite, etc.) ou d'autres silicates(dans
les feldspaths, la kaolinite…).
Silicium
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»Représentation de la maille du cristal de type diamant, mettant en
évidence les sites tétraédriques (tétraèdres orange).
Si
200nm Sio2
100nm
1mm
Silicium
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Dopage de type N
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-choisir un dopant de type(P) phosphore :
Dopage de type P
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7/.Conclusion :
Dopage N Dopage P
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Dopage N Dopage P
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