Diffractomètre de diffraction des rayons X

pour poudre en réflexion (Bragg Brentano)

Diffractomètre modèle X’PERT Pro MPD

PANALYTICAL.

Principe
La technique de caractérisation par diffraction des
rayons X est une méthode d’analyse non destructive
des matériaux cristallins permettant d’identifier la
structure de chaque phase cristalline au sein d’un
mélange (poudre ou lames).
Les diffractogrammes sont obtenus en enregistrant
l’intensité du faisceau diffracté en fonction de l’angle
de déviation 2ϴ du faisceau incident .

Caractéristiques techniques :
Générateur haute tension :60 KV, 60 mA .
Source à rayons X :Tube de rayons X céramique à anode
en cuivre de puissance 1,8 kW.
Goniomètre de configuration ϴ-2ϴ :
Rayon de goniomètre : 240 mm
Source RX fixe
Détecteur X’Celerator mobile (2ϴ)

Echantillon (en position horizontale ) mobile (ϴ)

Pas : 0.001°