ELEMENTS DE DIFFRACTION DES RAYONS X PDF

Université Mentouri de Constantine
Faculté des Sciences

Département de Physique
ELEMENTS DE DIFFRACTION
DES RAYONS x
&
Travaux Pratiques
(D.E.S Physique - 4ème année)
Pr. Lounis CHEKOUR

Diffraction des rayons X
Première partie
Généralités sur la diffraction des RX
I – Introduction………………………………………………………………………………………..……………………………..4
II - Propriétés des RX…………………………………………………………………………………………………………...….4
1 - Nature des RX
2 - Production des RX
2.1 - Tube à RX
2.1.1 -Tube de Coolidge
2.1.2 -Tube à anode tournante
2.1.3 - Synchrotron
2.2 - Spectre d'émission
2.2.1 - Spectre continu
2.2.2 - spectre de raies
III - Théorie de la diffraction des RX……………………………………………………………………………...………….17
1 - Diffraction des RX par les cristaux
1.1 - Condition de BRAGG
1.2 - Condition LAUE
2 - Direction du faisceau diffracté
IV - Interaction des RX avec la matière………………………………………………………………………………….…..26
1 - Absorption des RX par la matière : Loi macroscopique
2 - Variation du coefficient d'absorption en fonction de la
longueur d'onde des RX et du numéro atomique de la matière
3 - Fluorescence X
3.1 - Fluorescence due aux raies caractéristiques
3.2 - Fluorescence due au fond continu
4 - Effet Auger
5 - Diffusion des RX par la matière
5.1 - Effet Compton : diffusion incohérente
5.2 - Diffusion cohérente
V - Monochromatisation des RX……………………………………………………………………………..………………..35
1 - Filtrage , monochromatisation approchée
2 - Mono-chromatisation rigoureuse
2.1 - Monochromateur primaire
2
2.2 - Monochromateur secondaire

VI - Détection des RX……………………………………………………………………………………………………………41
1 - Les compteurs
1.1 - Compteur à gaz scellé
1.1.1 - Description
1.1.2 - Fonctionnement d'un compteur à gaz
1.1.3 - Le compteur proportionnel
1.1.3.1 - Forme du signal
1.1.3.2 - Allure du pic principal
1.1.3.3 - Pic de fuite
1.1.3.4 - Résolution du compteur
1.2 - Le compteur à scintillation
1.3 - Le compteur à semi-conducteur
2 - Electronique de mesure
2.1 - Alimentation haute tension
2.2 - Préamplificateur
2.3 - Amplificateur
2.4 - Discriminateur
. 2.5 - Compteur d'impulsions
2.6 - Analyseur monocanal
2.7 - Analyseur multicanaux
2.8 - Temps mort
3 - Statistiques de comptage
3.1 - Introduction
3.2 - Caractère aléatoire des comptages
3.2.1 - Variables aléatoires
3.2.2 - Distribution
3.3 - Test d'hypothèse
3.4 - Pratique de contrôle
VII - Quelques applications de la diffraction des RX - Contraintes résiduelles
2 - Textures
3 - Diffraction en incidence rasante
3
Seconde Partie
Manipulations
T.P 1 ………………………………………………………………………………………………………………………..59
EMISSION X (I)
Enregistrement et étude d'un spectre d'émission donné par un tube de RX
T.P 2……………………………………………………………………………………………………………………….….65
EMISSION X (II)
Influence de la haute tension - Détermination de la constante de Planck
T.P 3…………………………………………………………………………………………………………………………….67
ABSORPTION DES RX (I)
filtrage , détermination du coefficient d'absorption d'un matériau
T.P 4………………………………………………………………………………………………………………………….....69
ABSORPTION DES RX (II)
Variation du coefficient d'absorption en fonction de la longueur d'onde des RX
T.P 5…………………………………………………………………………………………………………………………….71
MISE EN ŒUVRE DE LA METHODE DIFFRACTOMETRIQUE

Identification de phases
4
GENERALITES SUR LES RX ET LA

DIFFRACTION X
5
INTRODUCTION
A la suite de la découverte des rayons X par Röntgen en 1895, les premières applications ont
été tournées vers l'étude des cristaux car on espérait mettre en évidence les atomes constitutifs des
molécules et confirmer ainsi la justesse du nombre d'Avogadro.
En 1912 le physicien Laüe détermine grâce à un réseau cristallin la longueur d'onde de rayons
X. Il devint donc possible de faire l'inverse, c'est-à-dire de déterminer les distances entre les atomes
grâce à ces mêmes rayons. La plupart des scientifiques du début du siècle dont Pasteur utilisèrent
ainsi les rayons X pour étudier les corps cristallisés.
La diffraction des rayons X est une méthode universellement utilisée pour identifier la nature
et la structure des produits cristallisés. En effet, cette méthode ne s'applique qu'à des milieux
cristallins (roches, cristaux, minéraux, pigments, argiles...) présentant les caractéristiques de l'état
cristallin, c'est-à-dire un arrangement périodique, ordonné et dans des plans réticulaires
tridimensionnels des atomes constitutifs. Les atomes s'organisent donc en plans réticulaires plus ou
moins denses qui sont désignés par leurs coordonnées (h, k, l) dans un système de repérage de
l'espace. La méthode permet ainsi clairement de distinguer les produits amorphes (verres...) des
produits cristallisés.
Le diffractomètre est l'outil idéal pour les études de poudre. Dans sa conformation de base, il
est composé de : l'enceinte de protection, du meuble, de la gaine et de son tube à rayons X, du
monochromateur (Ge(111) ou graphite plan), d'un système de fentes, du porte-échantillon de base,
du détecteur courbe CPS 120 et de son électronique, d'une mémoire tampon, et d'un générateur 3.5
kW.
Dans le marché de l’analyse d’aujourd’hui, le contrôle sa production industrielle intègre de
plus en plus la diffraction des rayons X. Ces dix dernières années, les évolutions technologiques ont
permis d’adapter l’utilisation de la DRX dans des environnements industriels très demandeurs et
exigeants.
La DRX est aussi largement reconnue pour sa souplesse et sa capacité à résoudre un nombre
pratiquement illimité de problèmes d’analyse de matériaux. Elle est souvent la seule technologie
capable de donner un résultat. Ce qui est particulièrement vrai dans le domaine de l’expertise légale.
APPLICATIONS :
- Identification de phases,
- Réflexion ou transmission,
- Analyses quantitatives,
- Détermination des paramètres de maille,
- Raffinement de structure,
- Microdiffraction,
- Degré de cristallinité,
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- Contrôle industriel,
- Expertise légale,
- Applications aux œuvres d’art.
La méthode de diffraction de poudres est traditionnellement utilisée pour l'identification de

phases, la détermination de paramètres de maille et l'analyse des imperfections structurales. Des
banques de données comme celle de l'ICDD, peuvent être facilement consultées sur CDROM,
permettant ainsi la comparaison ou l'identification de données expérimentales.
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I – PROPRIETES DES RAYONS X

Les rayons X ont été découverts en 1895 par W. Röntgen à Würzbug en Allemagne. Il baptise
les rayons qu’il a découverts “Rayons X” avec le “X” comme l’inconnue en Mathématiques. Le
pouvoir des rayons X, qui a semblé merveilleux, de traverser des parois opaques et de révéler
l’intérieur du corps humain a immédiatement donné un grand retentissement populaire à cette
découverte scientifique. Les premières applications (tableau 1) ont été tournées vers l'étude des
cristaux car on espérait mettre en évidence les atomes constitutifs des molécules et confirmer ainsi
la justesse du nombre d'Avogadro.
Rayonnement incident
Effet Infra-rouge Lumière, UV Rayons X
absorption FTIR spectrométrie d'absorption radiographie
fluorescence microscope laser spectrométrie de fluorescence X

diffraction diffraction X
effet photoélectrique XPS, ESCA
Tableau 1 - Méthodes d'analyse utilisant un rayonnement incident électromagnétique
En 1912 le physicien Lauë détermine grâce à un réseau cristallin la longueur d'onde de rayons
I.1 - Nature des rayons X
Les Rayons X sont des électromagnétiques que l’on retrouve dans le large domaine des
-4
radiations (fig.1), qui va des longueurs d’onde très courtes de l’ordre de 10 nm jusqu’à celles de
l’ordre de plusieurs kilomètres.
On appelle rayons X les radiations comprises entre 0,02 et 50Å environ. Ces limites ne sont
pas précises et, en fait, c’est plutôt leur mode de production qui définit les rayons X : ils sont émis
par le bombardement de la surface d’un solide par des rayons cathodiques ou faisceaux d’électrons
3 6
accélérés par des tensions variant entre 10 et 10 volts.
Du côté des grandes longueurs d’onde, le domaine des rayons X est limité pratiquement du
fait de l’absorption de plus en plus considérable par toute matière, même de faible densité, si bien
que ces rayons, dits rayons mous (5 -100 Å), deviennent très difficiles à utiliser et à détecter quand
la longueur d’onde croît. Les rayons X sont reliés au domaine de l’ultraviolet très lointain par des
radiations qui ont été produites et étudiées mais qui sont très peu employées.
Du côté des petites longueurs d’onde (rayonnement "dur"  [0.01-0.5 Å]), des sources à très
haute tension deviennent nécessaires, et la limitation est due aux difficultés techniques de
réalisation. Le domaine des rayons X (fig.2) recouvre celui des rayons  émis par certains atomes
radioactifs.
8
10-14 10-12 10-10 10-8 10-6 10-4 10 -2 1 102 104 106 108
Radiations Ondes Radioélectriques Circuits

Radiations
Rayons Ultra- Ondes FM TV ondes En
Infra-
Rayons X Viollettes Radar Grandes ondes moyennes et courant
rouges
Gamma courtes ondes alternatif
Spectre visible
Bleu Jaune
vert vert
VIOLET BLEU VERT JAUNE ORANGE ROUGE
400 500 600 700
Longueur d’onde en nm
Fig. 1 - Les RX dans l'échelle des longueurs d'onde des rayonnements électromagnétiques
0.05 0.5 1 2.5  (Å)
RX durs RX mous
Fig. 2 - Domaines de longueur d'onde des RX durs et mous (1 Å = 0.1nm =10-10 m)
Dans le cas de l'application du diffractomètre, l'intervalle utilisé est [0.1 - 3] Å, les limites du
domaine étant approximatives.
L’ensemble des radiations électromagnétiques a fondamentalement une nature commune : ce
qui les distingue dans leur interaction avec la matière est le paramètre qui caractérise chacune : la
longueur d’onde λ, ou l’énergie E du photon. Un photon est une particule de masse nulle non
chargée, se déplaçant à la vitesse de la lumière c et transportant une quantité d’énergie E
déterminée.
Les rayons X possèdent, comme toute forme d'énergie radiante, un double caractère
ondulatoire et corpusculaire. Ils peuvent être assimilés, dans le second cas, à un ensemble de
particules se propageant à la vitesse de la lumière et dont l'énergie est donnée par :
E  h   hc

Avec : - h = 6.6254 10-34 joules. Seconde, constante de Planck

-  , longueur d'onde (m)
- c = 3 10 8 m/s, vitesse de la lumière dans le vide.
En introduisant les valeurs numériques, on obtient une relation simple permettant le passage
9
de l'énergie à la longueur d'onde :
(1)
E ( eV )  12398
 (A )
Ordre de grandeur :
Les rayonnements électromagnétiques les plus couramment utilisés en diffraction appatiennent à la gamme des
rayons X allant de 0.2 à 2Å. Ce qui correspond à des énergies comprises entre 60 KeV et 6 KeV, environ. Cette énergie
est très grande par rapport à l’énergie d’excitation des atomes qui est de l’ordre de 10 eV; mais elle est du même ordre
de grandeur que l’énergie d’excitation des couches profondes.
L'intensité d'une onde électromagnétique est proportionnelle au carré de l'amplitude du

vecteur champ électrique. En pratique expérimentale de diffraction, l'intensité mesurée est
généralement exprimée en impulsions ou en nombres de photons détectés par unité de temps.
I.2 - Production des rayons X
Actuellement, la source de rayons X la plus intense, mais très rarement disponible, est celle
fournit par un synchrotron. Plus habituellement sont utilisés les tubes à anodes fixes et parfois à
anode tournante.
I.2.1 - Tubes à rayons X
I.2.1.1 - Tube de Coolidge
La source usuelle des rayons X est appelée le tube de Coolidge (fig.3, 4), du nom de son
inventeur (1917). C’est un tube à vide poussé comportant deux électrodes :
- une cathode émettrice d’électrons qui est un filament de tungstène chauffé par effet
thermoïonique,
- et une anticathode représentant la cible métallique qui est portée, dans les tubes ordinaires, à
un potentiel positif de l’ordre de 10 à 50 kV.
Les caractéristiques d’un tube à RX sont reportées dans le tableau 2.
10
Circuit de
refroidissement Enceinte sous vide
Fenêtre au béryllium
Contact
THT
Cathode Anode
(cible) (filament)
Fig.3 - Détails d’un tube classique à RX
Fig. 4 - Schéma d’un tube à rayons X.
C’est cette très haute tension (THT) qui accélère les électrons du filament pour aller
bombarder la cible et produire les rayons X. Cette dernière doit être refroidie, car la plus grande
partie de l’énergie cinétique des électrons est transformée en chaleur. Moins de 1% de cette énergie
est transformée en rayons X. La distribution spectrale d’un tube à rayons X est composée d’un
rayonnement continu (rayonnement de freinage) et de radiations caractéristiques du matériau
composant la cible. Le tube est muni d’une fenêtre en béryllium pour absorber les rayonnements
visibles.
11
Foyer optique Puissance (W)

Foyer Trait Point
(mm²) (mm²) (mm²) Cr Fe Co Cu Mo Ag W
1x10 0,1x10 1x1 1800 1500 1800 2000 2400 2000 2400
0,4x8 0,04x8 0,4x0,8 1300 900 1200 1500 2000 1500 2000
0,15x8 0,015x8 0,15x0,8 800 300 600 800 800 800 800
2x12 0,2x12 2x1,2 2700 2200 2700 2700 2700 2700 2700
0,4x12 0,04x12 0,4x1,2 1800 1500 2200 2200 3000 2200 3000
Tableau 2 – Caractéristiques des tubes à rayons X
I.2.1.2 - Tube à anode tournante
Les tubes à RX à anode tournante peuvent fournir une puissance qui peut atteindre 8 fois celle
fournie par un tube classique, mais la technologie d'élaboration de tels tubes est bien plus
compliquée. La rotation de l'anode est de l'ordre de 6000 tours par minute, le vide assez poussé (10-
7
mbar) est assuré par un système de pompes primaire et turbomoléculaire. La puissance maximale
est de 18 kW.
I.2.1.3 - Synchrotron à RX
Le rayonnement synchrotron est un autre exemple du champ électromagnétique rayonné par

une particule accélérée.
Dans le cas des tubes à RX, le rayonnement est engendré par le freinage des électrons
accélérés par une THT et par émission radiative suite à l’excitation des niveaux d’énergie des
atomes de la cible et à leur désexcitation.
Dans le cas du synchrotron, le rayonnement X est obtenu à partir d’électrons ou de positrons

accélérés. En effet, d’après les lois de l'électromagnétisme toute particule chargée accélérée émet un
rayonnement. C'est cette idée qui servit à la construction de synchrotron, et ce, en accélérant des
électrons dans le vide par des forces magnétiques. Ces derniers émettent un spectre de rayons X
continu. Un système de filtrage est nécessaire pour sectionner la radiation à utiliser.
L'intensité du rayonnement synchrotron est considérable par rapport aux autres sources de RX.
Le gain peut dépasser d'un facteur 1000 à 10000 dans certains cas. L’analyse des couches minces
(jusqu’à quelques dizaines de nanomètres) et même des matériaux amorphes devient possible.
I.2.2 - Spectre d'émission d'un tube à RX
Deux phénomènes bien distincts, basés sur l'interaction d'électrons avec les atomes, sont à
l’origine de la production des rayons X, l’émission du spectre continu, d’une part, et celle des raies
caractéristiques, d’autre part.
I.2.2.1 - Spectre continu
Le spectre d’émission est constitué par un ensemble de radiations dont l’intensité varie de
façon continue avec la longueur d’onde. La figure 5 donne l’exemple d’un spectre émis par une
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anticathode de tungstène. Les faits essentiels sont les suivants :
- Le spectre comporte un seuil d’émission brusque du côté des courtes longueurs d’onde.
Cette limite inférieure est inversement proportionnelle à la tension appliquée.
- Quand la tension appliquée au tube croît, la proportion des radiations de courte longueur
d’onde augmente : on dit que le rayonnement devient plus dur.
K
Spectre Continu K
Intensité (cps - u.a )
Raies
Caractéristique
s
D
min
0 0.5 1 1.5 2
(Å)
Fig. 5 - Distribution spectrale d’une émission X
(D : discontinuité due à l'auto absorption de la cible).
D’après l’électromagnétisme classique, un électron en mouvement accéléré émet une

radiation électromagnétique continue. Or, dans le tube de rayons X, l'électron est décéléré
brusquement après son interaction avec la cible. Sa vitesse au moment de l’impact est égale à
(2e/m)V, soit 50 000 kilomètres par seconde pour V = 8 000 volts; elle s’annule sur un parcours de
l’ordre d’un à quelques microns dans le métal de l’anticathode. Il en résulte une émission radiative
qui constitue le rayonnement de freinage ou fond continu. C'est l'interaction coulombienne des
électrons (fig.6) avec les noyaux de la cible qui provoque leur freinage et l'émission consécutive des
RX. Cet effet est dit de Bremstrahlung.
Comme l'interaction coulombienne dépend directement de la distance de l'électron au noyau,

et comme les électrons passent à des distances différentes des noyaux, le freinage de chacun
électron est différent et par conséquent les énergies rayonnées sont différentes. C'est ainsi qu'on
obtient un fond continu constitué de photons de diverses longueurs d'ondes.
La présence d’un seuil d’émission (minimale ou h Max) est expliquée par le transfert intégral
de l'énergie incidente des électrons quand ceux-ci sont arrêtés brutalement dans la cible. Ainsi,
l'énergie de l’électron est transformée dans le choc en photon h  dont l’énergie ne peut être
supérieure à celle de l’électron incident égale à e V. Il existe donc une limite supérieure de la
fréquence de la radiation ou bien une limite inférieure de la longueur d’onde, telle que :
13
h   hc  eV

Soit,
 min ( A  )  12398 (2)
V ( volts )
Où : h est la constante de Planck,  la fréquence du rayonnement, e la charge de l’électron et c

la vitesse de la lumière.
Ordre de grandeur :
La longueur d'onde minimale d'un spectre d'émission d'un tube de rayons X soumis à une alimentation de
30 kV est : = 0.41 Å. Ces radiations correspondent à des rayonnements durs.
L'énergie du fond continu a pour expression :

m
I  AiZV (3)
Où, A = constante de proportionnalité,

m = constante qui vaut approximativement 2.
Empiriquement, on peut dire que le maximum de l'intensité du spectre se produit pour une
longueur d’onde de l’ordre de (3/2)m. La décroissance vers les grandes longueurs d’onde tient en
partie à l’absorption des rayons X dans l’anticathode elle-même et aussi dans la fenêtre de sortie du
tube.
Électron incident
d'énergie E cinétique
électron
h
Interaction
Électron - noyau
Ze
E = E cinétique - h
Fig. 6 - Origine du spectre continu : Rayonnement de freinage ou Bremsstrahlung.
La forme du spectre dépend du numéro atomique Z de l’atome (fig.7b), de l'intensité I et de la

tension V (fig.7a) appliquée entre cathode et l'anode. Notons que l'intensité intégrale du spectre
continu est proportionnelle à ZV². L'interprétation théorique de l'effet "Bremsstrahlung", très
complexe, n'est pas pour le moment en parfait accord avec l'expérimentation.
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Des électrons de grande énergie, soumis à un champ magnétique normal à leur vitesse,
subissent une accélération et émettent un rayonnement, dit rayonnement synchrotron (fig. 8), qui
peut comprendre des radiations X, si l’énergie des électrons est assez grand. Il existe actuellement
dans le monde quelques grands accélérateurs qui sont des sources de rayonnement synchrotron,
d’une intensité plus de mille fois supérieure à celle des tubes à rayons X classiques.
(a) I (b)
I
V1
V1 > V2 > V3
V2
V3
Au (79)
Ag (47)
Cr (24)
min1min2 min3 (Å) (Å)


Fig.7 - Variation du spectre du fond continu en fonction (unités arbitraires) :

(a) de la tension appliquée, (b) du numéro atomique Z du matériau cible pour une tension donnée
106
Synchrotron
Photons/seconde
L L L
103
Tube classique
100
0 20 40 60 80 Energie (keV)
Fig. 8 - Distribution spectrale :
Synchrotron (3 GeV), tube en tungstène (45 kV)
15
Le spectre de raies caractéristiques n’existe pas dans ce cas car tout le rayonnement est issu
du freinage d’électrons ou de particules chargées. Il y a lieu, naturellement de procéder à une
monochromatisation du rayonnement obtenu pour son utilisation en diffraction. Ce rayonnement
permet une analyse plus minutieuse des couches minces et même de matériaux amorphes.
Signalons que des objets variés dans l’univers émettent des rayons X. Ils ne sont pas
observables sur terre, parce qu’ils sont absorbés dans l’atmosphère. Mais les observatoires sur
satellites ont ouvert l’ère de l’astronomie par rayons X.
La distribution spectrale d'un tube à rayons X est donnée approximativement par la loi de
Kramers :
N   I   iZ ( I 1 )( 13 ) (4)
I0 
I.2.2.2 - Raies caractéristiques
Au spectre continu se superpose un spectre de raies dont les longueurs d’onde, indépendantes
des conditions de fonctionnement de tube, ne dépendent que de la nature de l’anticathode. Ce sont
les raies caractéristiques des atomes constituant l’anticathode.
Contrairement aux spectres optiques qui sont très complexes et composés d’un très grand
nombre de raies, les spectres de RX caractéristiques comprennent un petit nombre de raies. Ils sont
constitués par des groupes de raies, désignés par des séries de lettres K, L, M, etc. Chaque série
comporte une suite de raies qui se succèdent de façon homologue. Celles-ci forment des séries
reconnaissables d’un élément à l’autre, et les longueurs d’onde prennent des valeurs précises et
spécifiques pour chaque élément. La fréquence  d’une raie déterminée dans une série est une
fonction simple du nombre atomique Z de l’élément (loi de Moselle) :
  c ( Z  ) (5)
Expression dans laquelle c et  sont des constantes,  étant voisine de l’unité.

La raie K est la plus intense des raies d’un élément. Elle est située dans la série K, et a une
longueur d’onde variant de 0.013 nm, pour l’uranium, à 1.19 nm pour le sodium
L’origine des raies caractéristiques est la suivante (fig. 9) : Certains atomes de l’anticathode,
sous l’action du choc des électrons du faisceau cathodique, sont ionisés, c’est-à-dire qu’un électron
gravitant autour du noyau est expulsé. L’atome se trouve alors dans un état excité.
Pour sa désexcitation, et pour retrouver un état stable, la place laissée libre (trou) est occupée
par un électron d’une orbite plus éloignée du noyau : ce saut est accompagné d’une émission d’un
photon correspondant à l’énergie que l’électron a perdu en se rapprochant du noyau.
Si Wi (i = k) et Wf (f = L) sont les énergies initiale et finale, la raie émise aura la fréquence,

telle que :
h  wi  w f (6)
16
Photoélectron
Electron
incident
K lacune
K
L Photon
X
(a) (b)
Fig. 9 - Excitation (a) et désexcitation (b) d'un atome.
Dans l’atome, les électrons sont tous à des niveaux d’énergie bien définie. Il en résulte que
l’énergie du photon émis par radiation, est aussi bien déterminée. D’où l’émission d’un certain
nombre de raies composées chacune de photons de même énergie caractéristique des niveaux entre
lesquels a lieu la transition électronique. Ainsi, ces raies sont dites caractéristiques.
Exemple : La raie K est émise lors du saut d’un électron de la couche LIII à la couche K. L’énergie
des photons contenus dans cette raie s'écrit :
hk  wLIII  wk
L'intensité des raies caractéristiques dépend du courant du tube i, de la tension appliquée V et

du potentiel d'excitation du niveau VK des atomes de la cible. Pour une raie K, l'intensité est donnée
approximativement par :
n
I ( raieK )  Bi ( V  V k )
Où B est une constante, et n une autre constante qui avoisine 1.5 mais qui dépend de V et
varie entre 1 et 2.
Les couches électroniques qui interviennent dans l’émission des raies X sont les couches
profondes de l’atome. Les niveaux d’énergie que peuvent occuper les électrons sont peu nombreux.
Ils dépendent, en première approximation, de la charge du noyau central et sont indépendants des
électrons extérieurs qui régissent les propriétés chimiques des atomes et les spectres optiques. De là
résultent la simplicité des spectres X.
Les spectres X correspondent à des transitions entre niveaux d'énergie de couches profondes.
Tandis que les spectres optiques proviennent des transitions entre les niveaux des couches externes.
Ceux-ci sont très nombreuses et dépendent de la liaison dans laquelle est engagé l’atome :
D’où la complexité des spectres optiques et leur dépendance vis-à-vis des liaisons chimiques.
17
L’émission d’un photon peut aussi correspondre à une transition entre deux états d’un noyau.
Elle est à l’origine des rayons  émis par des noyaux radioactifs. Généralement, les différences
d’énergie entre deux états du noyau sont de l’ordre du mégaélectronvolt (longueur d’onde de l’ordre
-3
de 10 Å), mais certaines transitions donnent des radiations du domaine des rayons X. Il y a des
atomes radioactifs qui sont des sources de rayons X monochromatiques. Ces sources seraient très
commodes mais, malheureusement, elles sont bien moins intenses que les émissions caractéristiques
d’un tube à rayons X dans des conditions normales de fonctionnement.
La quantité de matière radioactive qui serait nécessaire pour atteindre les mêmes intensités
occuperait un volume incompatible avec les applications usuelles des rayons X, où l’on utilise un
foyer ponctuel dont les dimensions sont de l’ordre de quelques dixièmes de millimètre.
Toutefois, ces sources sont maintenant nécessaires pour des applications telle que l’effet
Mössbauer.
La figure 10 montre les raies caractéristiques d'un atome de cuivre. Par exemple, les
transitions vers les niveaux K conduisent à des raies monochromatiques nommées : K1, K2, K1,
K2, etc. Il y va de même pour les autres transitions sur les autres niveaux L, M,…
Les transitions possibles ou probables sont déterminées par des règles de sélection définies en
mécanique quantique :
n = 0, l =  1, j = 0
Les intensités relatives des rais d'émission K et K sont, pour le cuivre, dans les rapports :
I(k1) 2I(k2) ; I(k1) 10I(k)
1 2 1 2
1 2 Série L
1 2 1 2
K
Série K
Fig. 10 - Schéma des transitions des raies caractéristiques d'un atome de cuivre.
18
Elément K1(Å) K2(Å) K(Å) K1(Å)

Ag 0.55941 0.56380 0.56084 0.49707
Mo 0.70930 0.71359 0.71073 0.63229
Cu 1.54056 1.54439 1.54184 1.39222
Ni 1.65791 1.66175 1.65919 1.540014
Co 1.78897 1.79285 1.79026 1.62079
Fe 1.93604 1.93998 1.93998 1.75661
Cr 2.28970 2.29361 2.29100 2.08487
Tableau. 3 - Energies et longueurs d’onde des raies K caractéristiques des matériaux utilisés dans les tubes à RX
Le tableau 3, rassemble les énergies et les longueurs d’onde des raies K caractéristiques des
matériaux les plus utilisés dans les tubes à RX.
La longueur d’onde de la raie K non résolue :
 k   2  k    k 2 (7)
3
Ainsi, l'énergie de la raie Cu (K1) est égale à la différence des énergies de liaison des niveaux
K et LIII, c'est à dire :
E k  1 ( Cu )  E k ( Cu )  E LIII 1 ( Cu )
19
II - NOTIONS DE CRISTALLOGRAPHIE
Plus de 95% des solides existent à l’état cristallisé. D’autres substances comme les verres,
ainsi que les liquides, les gaz et les plasmas ont une structure amorphe.
Les matériaux peuvent être classés selon qu’ils présentent :
- une structure parfaitement désordonnée comme les gaz monoatomiques,

- un ordre à courte distance tel les gaz multiatomiques, les verres et les substances
amorphes,
- une structure bien ordonnée, c’est à dire les substances cristallisées.
Certains solides peuvent passer d’un état cristallisé à un état amorphe ou inversement, par
exemple par fusion ou sublimation.
Initialement, le domaine de la cristallographie était limité à l’étude géométrique des cristaux.
II.1 - Réseaux cristallins
Une grande partie de la matière solide (métaux, oxydes, minéraux, sels...) est sous forme
cristalline.
II.1.1 - Cristal monoatomique
C’est un empilement infini et régulier d'atomes identiques :
 infini : la distance entre deux atomes voisins d'un cristal est de quelques angströms
(1 Å = 10-10 m), donc dans un cristal de 1 micron cube, il y a de l'ordre de 1012 atomes, soit
10 000 milliards ;
 régulier : les atomes sont empilés de manière ordonnée, selon un schéma répétitif ou
"réseau" (lattice en anglais).
Un réseau est un ensemble de points, ou "nœuds", en 3 dimensions, qui présente la propriété

suivante : Lorsque l'on se translate dans l'espace selon certains vecteurs, on retrouve exactement le
même environnement. Il y a donc une périodicité spatiale (fig.11).
Fig. 11 - Invariance par translation dans un réseau
20
Le réseau est donc un objet mathématique descriptif. A chaque nœud de ce réseau se trouve
un "motif", c'est à dire un objet physique, souvent un atome. Dans certains cas, le motif peut être
une molécule (par exemple, I2 dans un cristal d'iode, H2O dans un cristal de glace, produit
organique cristallisé comme le sucre...), voir une molécule très complexe. Il faut donc maintenant
étendre la définition précédente aux différents cas.
II.1.2 - Cristal
C’est un empilement infini et régulier de motifs identiques, un motif pouvant être un atome,
plusieurs ou bien une molécule.
On peut illustrer ces notions de motif (Fig.12) et de réseau dans le cas d'un carrelage : les
carreaux sont les motifs, et leurs emplacements sont les nœuds d'un réseau.
Fig. 12 - Illustration de la notion de motif et de réseau dans un carrelage
Ceci fut confirmé en 1912 par les expériences de diffraction de rayons X sur la matière par
Laue : la figure de diffraction étant elle-même un réseau ordonné, cela ne peut s'expliquer que s'il y
a une périodicité spatiale.
21
Les principales symétries sont :
parallélépipèdes rectangles
Cubique
Tétragonale ou
Quadratique
(base carrée)
Orthorhombique
(base rectangulaire)
Prismes droits
Hexagonale
(base losange à 120o)
Monoclinique
(base parallélogramme
quelconque)
prismes obliques
Rhomboédrique ou
Trigonale
(tous les côtés sont égaux,
tous les angles sont
égaux)
Triclinique
(prisme quelconque)
Fig.13 - Principales symétries cristallines
22
On voit que l'on peut découper le réseau en mailles, une maille étant la plus petite portion
(fig.14) du réseau ayant les mêmes symétries que le réseau lui-même. Une maille est donc un
prisme composé de plusieurs nœuds ; le réseau est un empilement de mailles élémentaires.
Fig. 14 - Exemple de mailles élémentaires dans des réseaux à deux dimensions
Les motifs sont donc situés aux nœuds du réseau, c'est à dire aux 8 sommets de la maille
élémentaire. Cependant, on a parfois des motifs situés au centre de la maille, structure dite
"centrée", ou bien encore aux centres des faces, structure dite "à faces centrées" (fig.15).
Fig. 15 - Structures cubique centrée (cc - ou body centered cubic bcc) et cubique à faces centrées (cfc - ou face
centered cubic fcc).
En combinant ces différentes possibilités, on obtient les 14 réseaux de Bravais (cf II.1.5)
II. 1.3 - Paramètres de maille (fig. 16)
Fig. 16 - Paramètre de 4 types de maille classiques
23
Les paramètres de maille désignent les dimensions de la maille élémentaire. Dans le cas le
plus complexe, le réseau triclinique, on a 6 paramètres : trois dimensions a, b et c, et trois angles, ,
 et . Dans le cas du réseau cubique, on ne cite qu'un paramètre de maille, a (puisque a = b = c, et
que  =  =  = 90°), dans le cas d'un orthorhombique, on n'en cite que trois, a, b et c (puisque  =
 =  = 90°), et dans le cas de l'hexagonal, on en cite également trois, a, c et  = 120° (puisque a =
b, et que  =  = 90°).
II. 1.4 - Plans nodaux (plans atomiques) et indices de Miller
On appelle un plan nodal (fig. 17 et 18) l'ensemble des nœuds situés sur un plan de l'espace.
Cette notion joue un rôle très important dans les phénomènes de diffraction ainsi que pour la
déformation plastique. Étant donné que la plupart des motifs étudiés sont des atomes uniques, on
parle souvent de "plan atomique". Un des problèmes de la cristallographie consiste donc à décrire
ces plans, c'est à dire notamment à donner leur orientation dans l'espace. Cette orientation est
donnée par trois nombres entiers mis entre parenthèse, dits "indices de Miller", et traditionnellement
appelés h, k et l ; on parle ainsi de plans (100), (110)... La première idée consiste donc à définir une
base vectorielle liée au réseau. On prend pour vecteurs de la base les arrêtes de la maille
élémentaire ; donc, en dehors des structures cubiques, la base est quelconque, c'est à dire ni
orthogonale, ni normée.
L'orientation d'un plan est décrite, comme en mathématiques, par la donnée de son vecteur
normal. Dans le cas d'un réseau cubique, ce vecteur est perpendiculaire au plan. Dans le cas d'un
réseau quelconque, il n'est plus perpendiculaire au sens "angle droit", mais si on déformait la maille
pour la rendre cubique, alors il le deviendrait. Ce sont les coordonnées de ce vecteur qui forment les
indices de Miller. Lorsque des coordonnées de vecteur sont négatives, on place une barre au-dessus
de l'indice de Miller correspondant : par exemple, le plan représenté par le vecteur de composantes
(-1,1,2) sera noté (1 1 2). Cependant, la barre au-dessus ne faisant pas partie des polices
informatiques standard, on le verra aussi souvent écrit (-112). Pour des raisons géométriques
évidentes, si l'on change le signe des trois indices, on obtient le même plan, (hkl) = (-h-k-l).
Du fait de l'invariance par translation du cristal, il y a une infinité de plans parallèles entre
eux. La distance, qui sépare deux plans parallèles voisins, est appelée "distance inter-réticulaire", et
est notée dhkl. On remarque que plus les indices de Miller sont élevés, plus les plans sont proches
(plus dhkl est petit).
24
Fig. 17 - Plans nodaux, vecteurs normaux et distance inter-réticulaire
Fig. 18 - Exemples de plans nodaux dans un réseau cubique
Dans le cas ou il y a des nœuds au centre des mailles ou des faces, il peut y avoir des "sous-
plans" (fig.19) d'indices supérieurs :
25
Fig. 19 - "Sous-plans" de type (002) dans une structure cubique centrée
II.1.5 - Réseaux de Bravais
Au paragraphe II.1.2, nous avons décrit 7 formes de mailles, 7 réseaux élémentaires. Chaque
réseau peut se décliner de quatre manières :
 Simple : il y a un motif à chacun des 8 sommets de la maille, notation P (primitive) ;

 Centrée : il y a de plus un motif au centre de la maille, notation I
 A faces centrées : il y a un motif au centre de chaque face, notation F (face) ;
 A deux faces centrées : il y a un motif au centre de deux faces opposées, notation C ;
Où C désigne les faces perpendiculaires à l'axe des z, puisque le paramètre c est la dimension de la
maille selon cet axe, on peut avoir de même A ou B ;
À ceci, il faut ajouter la structure rhomboédrique : dans le cas de la symétrie trigonale (ou
rhomboédrique), on peut avoir les motifs disposés en rhomboèdre au sein d'une maille hexagonale ;
en plus des 12 nœuds aux sommets du prisme à base hexagonale, on a des nœuds situés sur les
segments parallèles à l'axe ; ceci est noté R (rhomboèdre) ; seules les mailles trigonales peuvent être
R.
On obtient donc ainsi 14 réseaux de Bravais (cf. tableau 3.1).
26
structure
à 2 faces centrées à faces centrées
Système simple (P) centré (I) rhomboédique
(C) (F)
(R)
Cubique
Hexagonal
Tétragonal
(quadratique)
Trigonal
(rhomboédrique)
Orthorhombique
Monoclinique
Triclinique
Tableau 4 - Les 14 réseaux de Bravais
27
II.1.6 - Indices de Miller
Du fait de l'invariance par translation, il y a une infinité de plans atomiques parallèles à un

plan atomique donné. Considérons une maille élémentaire munie de son repère défini au paragraphe
2.3. Alors, le plan d'orientation (hkl) le plus proche de l'origine mais ne passant pas par l'origine,
coupe l'axe des x en 1/h, l'axe des y en 1/k et l'axe des z en 1/l ; si l'un des indices est nul,
alors le plan est parallèle à l'axe, avec la convention .
Fig. 20 - Indice de Miller et interception des axes
Dans le repère de la maille, le plan a pour équation
h.x + k.y + l.z = C

Où C est une constante.
* Rangées nodales
Il peut être intéressant de repérer les directions, les droites, dans un cristal. C'est par exemple
très utilisé dans le domaine de la déformation plastique (vecteurs de Burger).
 Définition
On appelle rangée nodale une droite de l'espace passant par des nœuds du cristal.
De même que pour les plans nodaux, on parle souvent de "rangées atomiques". Les indices de
Miller d'une rangée sont notés entre crochets [uvw]. u, v et w sont des entiers qui sont les
composantes d'un vecteur de la droite. Les nombres négatifs étant notés avec une barre au-dessus.
On parle aussi de direction cristallographique pour désigner les indices [uvw].
28
Fig. 21 - Indice de Miller de quelques directions cristallographiques dans une maille triclinique
* Cas des structures cubiques
Dans le cas des structures cubiques, on peut appliquer toutes les relations classiques de la
géométrie et de la trigonométrie. On peut par exemple calculer aisément la distance inter-
réticulaire :
Où a est le paramètre de la maille.
De plus, d'après les symétries des structures cubiques, on voit que les plans (100), (010) et
(001) sont équivalents. De manière plus générale, si l'on considère les plan (hkl), alors tous les plans
obtenus par permutation des indices et par leur changement de signe sont équivalents ((hkl), (hlk),
(lhk)….) ; on parle alors de famille de plans {hkl} (notation entre accolades). Ainsi, la famille {110}
comprend les plans :
De même, les directions cristallographiques obtenues par permutation et changement de signe

des indices de Miller sont équivalentes, on parle donc de famille de rangées <uvw> (notation entre
brackets). Ainsi, la famille <110> comprend les droites :
Mais ceci n'est malheureusement valable que pour les réseaux cubiques...
29
III - THEORIE DE LA DIFFRACTION des RX
III.1 - Introduction
La diffraction des rayons X (DRX) est une méthode universellement utilisée pour identifier la
nature et la structure des produits cristallisés. Cette méthode ne s'applique, jusqu'à récemment, qu'à
des milieux cristallins (roches, cristaux, minéraux, pigments, argiles...) présentant les
caractéristiques de l'état cristallin, c'est-à-dire un arrangement périodique et ordonné des atomes
dans des plans réticulaires (hkl) tridimensionnels. La méthode permet ainsi clairement de distinguer
les produits amorphes (verres...) des produits cristallisés. La diffraction des rayons X sur poudre est
une méthode d'analyse de phases non destructive. Au début de son introduction (années 1910), la
diffraction des rayons X était utilisée surtout pour déterminer les structures des cristaux.
Grâce à l'avancée technologique moderne, qui a introduit la diffractométrie, la diffraction

permet la détermination des structures nouvellement élaborées, et d'identifier en quelques minutes
les phases cristallisées présentes dans tout matériau par comparaison automatisée avec un fichier de
références réactualisé annuellement et comportant actuellement les données de plus de 69 500
composés. Elle permet également d'étudier les conditions de formation de phases, leur évolution en
fonction de la température ou de l'atmosphère, donc de connaître le comportement d'un matériau
dans les conditions d'utilisation telles que la température, le balayage gazeux, etc. D'autres
applications de la diffraction des RX ont été aussi développées. On citera :
- La détermination des macrocontraintes et microcontraintes résiduelles

- La détermination du degré de texture ou d'orientation préférentielle,
- L'analyse des dépôts en films minces, jusqu’à quelques centaines d’angströms (diffraction
en incidence rasante).
- L’analyse des couches minces par réflectométrie, …etc.
Le diffractomètre de poudres, compte parmi les appareils les plus utilisés actuellement dans le
monde industriel et de la recherche, à cause de sa simplicité et de sa généralité d'emploi. Par contre,
le diffractomètre pour monocristaux qui permet l'étude des structures des cristaux est surtout utilisé
dans les instituts de cristallographie de chimie et de biologie.
Actuellement on assiste à l'utilisation de synchrotrons dont la technique est basée sur le

principe de l'émission d'un rayonnement par des particules chargées accélérées à des vitesses
proches de celle de la lumière. Cette technique permet d'étudier les couches minces et très
récemment les matériaux amorphes.
III.2 - Théorie de la diffraction des rayons X
A la suite de la découverte des rayons X par Röntgen en 1895, les premières applications ont
été tournées vers l'étude des cristaux car on espérait mettre en évidence les atomes constitutifs des
molécules et confirmer ainsi la justesse du nombre d'Avogadro.
En 1912 le physicien Laüe détermine grâce à un réseau cristallin la longueur d'onde de rayons
30
III.2.1 - Diffraction des RX par les cristaux
III.2.1.1 - Principe
Les corps cristallins peuvent être considérés comme des assemblages de plans réticulaires
plus ou moins denses. Les plans contiennent les atomes (fig.22) : certains plans contiennent bien
plus d'atomes que d'autres en fonction de la formule chimique du minéral. Ces plans réticulaires
sont séparés par des distances caractéristiques (d) selon la nature du cristal ou du minéral considéré.
Trois ou quatre distances réticulaires bien choisies permettent une reconstitution du réseau cristallin
du minéral.
Fig. 22 - Organisation tri - périodique d'un cristal
Avec un rayonnement de longueur d'onde suffisamment petit on peut obtenir des diffractions
par les plans réticulaires (de la même manière que les rayons lumineux sont diffractés par les petites
fentes d'un réseau en optique). Cette réfraction est d'autant plus intense que le plan est « dense »
c'est-à-dire riche en atomes.
On assiste au phénomène de diffraction dans une direction donnée, si les ondes du

rayonnement diffusées par les nœuds des différents plans réticulaires du réseau cristallin engendrent
une interférence constructive dans cette même direction. Cette condition s'exprime de manière
simple soit dans le réseau direct, en considérant les familles des plans (hkl) dans le réseau direct
(condition de Bragg), soit par la condition de Laue, en considérant les rangées [hkl]* du réseau
réciproque.
III.2.1.2 - Condition de BRAGG
Soient deux ondes arrivant sur deux plans réticulaires sous un angle d'incidence  et
diffusées sous le même angle (fig.23). La différence de marche entre les ondes, entre les plans (P) et
(P’) est donnée par :
31
  HO  O' H '  2d sin 

(hkl ) (hkl )
La diffraction aura lieu quand la condition d'interférence constructive est vérifiée, à savoir :
  n
La condition de diffraction, dite de Bragg est alors :
2 d ( hkl ) sin  ( hkl )  n ( hkl )  (3)
Cette équation représente la relation fondamentale qui régie la diffraction.
(P)
(2') Rayonnement
Rayonnement diffusé
incident (P’)
(2) (1')
(1) Diffusion


Interférences:
      
O
d(hkl) Atomes
H Constructives
H'
Destructives
      
2
O'
d(hkl)
      Diffraction Absence
de
diffraction
Fig. 23 : Principe de la loi de Wulff-Bragg
Remarque 1 : On assistera au phénomène de diffraction, ce qui est peu probable, si et seulement si on a :

Une diffusion accompagnée d’interférences constructives
Remarque 2:
De la relation (1) :
sin  1    2dhkl
La longueur d'onde du rayonnement utilisé en diffraction doit être de l'ordre de la distance inter réticulaire des
matériaux cristallins. Comme ces distances sont de l'ordre de quelques angströms, le rayonnement correspondant
appartient au domaine des RX (§ II-1).
La longueur des RX utilisés en diffraction est comprise entre 0.1 et 3 Å environ.
32
Pour effectuer les mesures, l'appareil de base est un goniomètre. Il diffère peu des
goniomètres classiques qui servent à mesurer les angles entre les plans des faces cristallines (les
angles dièdres) si ce n'est la présence d'une source de rayons X (les rayons utilisés ont généralement
une longueur d'onde de l'ordre de 0,5 à 2 Å) et d'un détecteur ou d'un film photographique.
III.2.1.3 - Condition de Laue
La condition de diffraction exige que :


- Le vecteur K soit un vecteur du réseau réciproque,
   
 K  K 0 K  R
 
- Les extrémités des vecteurs K0 et K soient des nœuds du réseau réciproque.
-
Direction du
rayonnement diffracté
r*
P
Sphère d'Ewald 
Rayonnement transmis
Rayonnement incident
2
Q  O Cristal
2/ Sphère de résolution
Fig. 24 - Position de la sphère de réflexion dans un réseau réciproque
Dans le R.R, la distance inter-réticulaire s’écrit : d (hkl )  n ,

R*
De la figure 24, on relève :
nd
sin   r *   2 d ( hkl ) sin  ( hkl )  n (hkl ) 
2 2
Ou de la figure 25, on déduit :
sin    K    n   2 d (hkl ) sin   n(hkl )

2 K 2 R* 2 d
33
On retrouve ainsi la condition de Bragg à partir de celle de Laue (fig.IV.4).
Faisceau
incident
Nœud du réseau
 
Famille de
plans (hkl)
0
Nœud du réseau
Fig. 25 - Condition de diffraction de Laue.
III.2.1.4 - Direction du faisceau diffracté
Rayons diffractés Rayons diffractés

« retour » « direct »
Faisceau
Emergeant
Faisceau
incident
Echantillon
Cônes de diffraction Cônes de diffraction

"en retour" "en direct"
Fig.26 - Directions du faisceau diffracté.
Dans le cas de poudres dont les cristallites sont orientés de manière aléatoire, la direction de
diffraction, donnée par la loi de Bragg, génère des cônes (fig. 26) de révolution dont l'axe est
confondue avec la direction du faisceau incident.
34
III.2.2 - Les différentes méthodes de diffraction des rayons X
Selon la nature du renseignement que l'on désire obtenir - identification minéralogique simple
ou structure cristalline - et selon la nature du matériau, différentes analyses sont possibles. Les
méthodes diffèrent selon qu'elles utilisent des rayons X polychromatiques ou monochromatiques.
III.2.2.1 - La méthode de Laüe
Elle utilise un petit cristal ou une section plane dans un cristal sur lesquels tombe le faisceau
polychromatique de rayons X. Le cristal est immobile et l'interaction des rayons X avec les plans
réticulaires fait que certaines incidences satisfont à la relation de Wulff-Bragg. Les rayons diffractés
forment des taches : elles permettent de mettre en évidence la symétrie cristalline.
III.2.2.2 - La méthode des poudres ou de Debye-Scherrer
C'est la méthode la plus utilisée lorsque le matériau est réductible à une fine poudre (les grains
sont de l'ordre de 0,01 mm), ce qui est presque toujours possible.
On fait tomber le faisceau de rayons X qui est ici monochromatique sur la poudre
microcristalline disposée sur une petite baguette de verre, dans un petit capillaire ou encore étalée
sur un lame mince spéciale.
Fig. 27 - Principe de la chambre de Debye-Scherrer

F, C = fente, collimateur du rayonnement X, E = place de l'échantillon, P = puits d'absorption des rayons X
L'hypothèse de base est que parmi tous les petits cristaux présents (en principe non orientés) il
s'en trouvera suffisamment pour présenter des faces cristallines telles que des diffractions pourront
se faire selon l'angle 2 de Bragg.
35
Selon les appareils, on enregistrera donc les rayons diffractés sur un film photographique avec
une chambre cylindrique ou on obtiendra un diffractogramme par l'intermédiaire d'un compteur de
rayons X (Geiger-Muller) qui détectera les rayons diffractés et leur différente intensité.
Avec une chambre circulaire de Debye-Scherrer (fig. 27), on obtient sur le film des anneaux
concentriques dont chacun représente une distance réticulaire.
Sur le diffractogramme (fig. 28), on obtient une succession de « pics » correspondant à des
angles précis : chacun de ces pics correspond à une distance réticulaire.
III.2.2.3 - La méthode du cristal tournant
Pour cette méthode il faut disposer d'un monocristal (de bonne qualité). Le cristal de petite
taille est placé au centre de la chambre. Il tourne autour de son axe et reçoit le faisceau incident de
rayons X monochromatique. Chaque rayon réfracté se traduit par l'apparition d'une tache sur la
plaque photographique. On peut ainsi étudier le réseau cristallin.
III.2.2.4 - Autres méthodes
La possibilité de détection annulaire (et non plus circulaire comme dans le goniomètre ) ainsi
que l'augmentation considérable de la puissance du tube à rayons X (« haute brillance » : 60 kV, 200
mA) a donné naissance à de nouveaux diffractomètres très performants permettant d'analyser très
peu de matière. Le modèle « Rigaku » est particulièrement recommandé pour l'analyse des quantités
de l'ordre du milligramme ou des surfaces de l'ordre de 30 µm2.
III.2.3 - Obtention des résultats
Les différentes distances réticulaires des milliers de minéraux naturels ou artificiels sont
disponibles sous forme de fiches, de recueils de fiches ou sur CD-Rom. Ils ont été élaborés par
l'ASTM (American Society for Testing Materials) et constituent la référence : plusieurs milliers de
minéraux sont ainsi décrits avec toutes leurs distances réticulaires.
Raies de diffraction
Fig. 28 - Diagramme de Debye-Scherrer sur film.
L'identification se fait manuellement (on indexant les pics) ou automatiquement en utilisant

des logiciels d'identification et les banques de données de références ASTM.
36
Les différents anneaux correspondent aux pics obtenus avec le diffractomètre. Ils indiquent
une valeur de distance réticulaire.
Les difficultés d'application de la méthode diffractométrique sont liées à :
 La nécessité de prélever et mettre suffisamment de matière dans le porte substrat, pour

qu’elle soit représentative ;
 La présence de plusieurs produits : les mélanges sont toujours difficiles à analyser car les «
pics » caractéristiques peuvent se confondre ;
 Certains effets de matrice ou de structure (argiles par exemple) qui peuvent perturber
l'analyse diffractométrique.
III.2.4 - Applications aux œuvres d'art
L'application de la diffractométrie à l'étude des constituants des œuvres d'art se heurte à la

nécessité de prélever suffisamment de matière pour obtenir un résultat satisfaisant. Plusieurs
dizaines de milligrammes de matière sont en effet nécessaires pour obtenir une analyse.
Analyse de pierres précieuses (gemmes)
Les gemmes sont parfois difficiles à identifier car les pierres naturelles sont très difficiles à
différencier des minéraux artificiels ou de simples verres colorés. La diffraction permet d'identifier
le cristal sans ambiguïté.
Analyse des sels d'altération des pierres, des céramiques, des terres cuites
Les sels d'altération des matériaux pierreux sont constitués de minéraux souvent de même
aspect cristallisé blanchâtre avec des teneurs fortes en calcium. La diffraction des rayons X permet
de différencier facilement les différents produits d'altération : sulfates de calcium, chlorures de
calcium, nitrates de calcium etc.
Analyse des pigments des peintures (de chevalet, murales...)
En association avec les méthodes d'analyse élémentaires (qui ne donne accès qu'à l'élément
chimique et non à la formule complète) la diffraction permet une détermination parfaite des
minéraux constitutifs des pigments. Par exemple l'azurite et la malachite ne donnent qu'un signal
cuivre en analyse élémentaire. Seule la diffraction des rayons X permet de les différencier. Il en est
de même des pigments à base de plomb ou de fer. Les blancs de plomb sont particulièrement bien
identifiés par cette méthode, alors qu'en spectrométrie élémentaire différents éléments gênent la
reconnaissance.
Les produits de corrosion des métaux dont les bronzes, qui sont des chlorures, des sulfates,
des oxydes de cuivre sont bien identifiés en diffraction X alors qu'en spectrométrie d'énergie ils ne
donnent qu'un signal Cu.
37
III.3 - La diffraction des électrons
Beaucoup moins utilisée que la diffraction des rayons X, la diffraction électronique est une
puissante méthode d'identification des composés minéralogiques microscopiques. A ce titre elle
présente un grand intérêt pour l'étude des constituants des œuvres d'art.
Principe
En microscopie électronique à transmission, le faisceau d'électrons peut servir non seulement

à constituer les images mais aussi en le défocalisant, pour obtenir des diffractions. On démontre
qu'il existe une relation simple entre la distance des plans réticulaires (h,k,l) du réseau direct et la
distance séparant les nœuds correspondants du réseau réciproque (d*) (celui-ci ne sera pas détaillé
ici car il s'agit d'une notion complexe).
2
d  s 
hkl
d hkl
Avec s2 produit de la longueur d'onde du faisceau utilisé et de la distance du film à la

préparation.
En comparant avec un standard interne (en général de l'aluminium) on peut calculer les
distances interréticulaires des minéraux observés par une formule appropriée.
L'avantage est donc de combiner l'observation microscopique à fort grossissement (de l'ordre
de x 20 000 ) avec l'identification cristallographique.
Applications
A partir de coupes stratigraphiques de peintures de chevalet, des sections ultra-fines ont été
pratiquées afin d'obtenir une préparation pour microscopie électronique à transmission : il est en
effet nécessaire que le faisceau électronique traverse l'échantillon pour l'observation. Ceci nécessite
une délicate opération de coupe avec un microtome spécial.
Sur la coupe observée, les grains de pigments peuvent être aisément différenciés des autres
minéraux (quartz, calcite...) et des produits organiques.
Les pigments eux-mêmes peuvent être déterminés par l'analyse minéralogique en complément
des observations morphologiques et des analyses élémentaires par spectrométrie X de dispersion
d'énergie
38
IV - Interaction des rayons X avec la matière

Les différents processus d'interaction des photons X avec la matière sont résumés sur le
schéma (fig. 29) suivant :
Photoélectrons
A Electron Auger
B
S
Photons transmis
Photons O
incidents R
P Diffusion Compton
T
I
O Diffusion Reyleigh
N
Fluorescence
Fig. 29 - Différents processus d'interaction photons - matière
IV.1 - Absorption des rayons X dans la matière : Loi macroscopique
L’absorption des rayons X dans la matière se traduit par la diminution de l’intensité du

faisceau traversant un écran. Les photons disparus du faisceau transmis sont soit, déviés par
diffusion (effet Compton, diffusion de Reileight,…) soit absorbé complètement par interaction
photo-électrique avec les atomes. C'est ce dernier phénomène qui constitue l'absorption vraie du
rayonnement X.
I0 I

dx
Fig. 30 - Loi d'absorption
Pour un faisceau incident parallèle de rayons x mononchromatique d'énergie E0 et d'intensité

I0 (fig. 30), pénétrant sous incidence normale dans un matériau d'épaisseur x (x en cm) et de densité
 (g/cm3), le rayonnement transmis est absorbé suivant une loi exponentielle dite de Lambert.
L'intensité transmise I est donnée par la relation :
x   x
I  I 0e  I 0e
39
Avec,  : coefficient d'absorption linéaire (cm-1)

et  = ( / ) : coefficient d'absorption mssique (cm².g-1).
Le coefficient d'absorption massique, conrtrairement au coefficient d'absorption linéaire, ne

dépend pas de l'état dans lequel se trouve les éléments absorbants (liquide, solide ou gazeux). Et de
ce fait, sont faciles à tabuler (voir annexe).
Il se trouve que l'effet photoélectrique, en général, est le mécanisme le plus prépondérant dans
le phénomène d'absorption des rayons X par la matière.
Etant donné que l'absorption est un phénomène atomique, le coefficient d'absorption d'un
composé ou d'un mélange, est la somme des coefficients atomiques de chaque élément, multiplié
par le nombre d'atomes correspondants. Il en résulte une règle d'addition des coefficients
d'absorption massiques :
 )  )
 
(

  c
i i
(
 i
Où ci est la concentration massique de l'élément i.
IV.2 - Variation du coefficient d'absorption en fonction de la longueur d'onde  et

d'un numéro atomique Z
La variation du coefficient d’absorption en fonction de la longueur d’onde (fig. 20), pour un

élément donné, présente des discontinuités qui s’expliquent par le mécanisme de l’effet
photoélectrique.
Le choc de l’atome et du photon est comparable à celui de l’atome et de l’électron, choc décrit
lors de l’étude de l’émission des raies caractéristiques : l’atome qui a absorbé le photon est ionisé,
c’est-à-dire qu’un électron est expulsé d'une couche profonde de l'atome. Pour qu’une certaine
couche, K par exemple, puisse être ionisée, il faut que l’énergie du photon (E = hc / ) soit
supérieure ou égale à l’énergie de liaison ( Wk  hc ) de l’électron, soit,
k
   hc  w k
k
L'électron éjecté, appelé photo-électron, emporte l'énergie excédante sous forme d'énergie
cinétique :
E i h  W i
À chaque couche électronique correspond une longueur d’onde limite, comme il lui
correspond un potentiel limite d’excitation V. Dans le cas de couche, par exemple, ces deux valeurs
sont reliées par la relation :
 k
( A  )  hc
eV k

V
12398
k
( volts )
40
Le coefficient d'absorption varie en fonction de la longueur d'onde du rayonnement utilisé et

du numéro atomique de l'élément absorbant. Entre deux discontinuités d'absorption (/) varie
comme le cube de la longueur d'onde (fig. 31), et comme la quatrième puissance du numéro
atomique :

 C 3 Z 4

A chaque discontinuité d'absorption, la constante C varie fortement. Ceci est dû à ce qu'une

discontinuité marque l'endroit de l'échelle des longueurs d'onde où le photon incident est capable
d'éjecter un électron d'une couche atomique donnée.
µ
 
  Z
 L3
 L1  L2
k 
Fig.31 - Variation du coefficient d'absorption (u, a) en fonction de la longueur d'onde (u, a).
Le coefficient d'absorption correspond, en fait, à la contribution de quatre processus (fig. 32):

l'effet photoélectrique, la diffusion cohérente, la diffusion incohérente et la création de paires
électron-positron.
Il est souvent utile de connaître pour les substances usuelles, l'épaisseur qui réduit de moitié,
par exemple (tableau 5), l'intensité d'un rayonnement de sa valeur initiale On trouve facilement
que :
x  0 . 69
1 2
 (Z ,  )
41
 Z
( ) Tantale

M L
Photoélectrique
K
Reileigh
Compton
10 101 102 103 E(keV) (échel. log)
Fig. 32 - Différents processus d'interaction
Substance absorbante
Air
0°C, 760mm Hg
(Å) Cellophane Al Cu Pb
0.1 ….
43 16 2.1
0.7 4100
4 0.50 0.016 0.16
1.5 620
1.10 0.056 0.016 0.0044
2.0 260
0.49 0.025 0.0071
Tableau 5 - Epaisseur (mm) de substance absorbante réduisant de moitié l'intensité d'un rayonnement.
IV.3 - Effet de la Fluorescence (fig. 33)
Lorsqu'on irradie un volume de matière de la cible avec des électrons, il y a émission d'un
rayonnement X. Ce dernier peut, éventuellement, à son tour ioniser par effet photoélectrique,
d'autres atomes appartenant un d'autres éléments, et ce, avant son émergence de la cible. Il en
résulte le même processus d'émission X que celui qui a été décrit pour l'excitation par des électrons.
Le rayonnement secondaire dit de fluorescence due aux photons primaires, se superposera au
rayonnement primaire (dû aux électrons) et ne peut être différencié par le spectromètre.
42
h = EB2 - EB1
électron
E = EA2 - EA1 = ho> EB1
EA1 EB1
EA2 EB2
Photoélectron Photoélectron
Atome A Atome B
Fig.33 - Mécanisme de fluorescence
IV.3.1 - Fluorescence due aux raies caractéristiques
La cible ou anticathode, est généralement composée de plusieurs éléments, surtout quand

celle-ci est utilisée de façon accrue provoquant la pollution et la formation d'oxydes et d'autres
phases. Et lorsqu'on analyse le spectre d'émission d'un tube (de cuivre par exemple), des photons
(engendrés par l'excitation d'éléments autres que le cuivre), dont l'énergie est supérieure à celle du
niveau k de la cible, peuvent exciter les niveaux de cette dernière. Les raies correspondantes
peuvent être cachées par superposition avec les raies de fluorescence et deviendront plus intenses
que dans la réalité.
IV.3.2 - Fluorescence due au fond continu
De la même façon, dans le spectre du cuivre toute la bande spectrale ( = 0 -l) comprise
entre la longueur d'onde minimale 0 et la longueur marquant la discontinuité d'absorption l , est
capable d'exciter par fluorescence le niveau l.
Remarquons que l'effet de la fluorescence est pratiquement négligeable dans le cas où la cible
serait utilisée comme anticathode d'émission ou production des RX. Car le filtrage atténue les raies
satellites dues à la fluorescence éventuellement présentes. Le matériau de l'anticathode ne présente
généralement que des éléments étrangers sous forme de traces, dont la concentration dépend du
vieillissement du tube. L'influence de la fluorescence peut être importante dans le cas d'une mise en
œuvre d'une analyse quantitative d'un échantillon.
IV.4 - Effet Auger
Ce mode de désexcitation (fig.34) de l'atome conduit à l'émission d'un électron par effet
photoélectrique interne" au lieu d'un photon X. Dans le cas des éléments légers, l'émission Auger est
importante et se trouve en concurrence avec le phénomène de fluorescence X. Il présente ainsi une
double ionisation de l'atome, perturbant ses niveaux d'énergie.
La spectroscopie Auger est utilisée pour l'analyse superficielle des matériaux.
43
Electron Auger
Photon
Fig.34 - Mécanisme de l'effet

Auger
IV.5 - Diffusion des rayons X par la matière : Interactions rayonnement X -matière

Outre les rayonnements électroniques et de fluorescence, liés à l’effet photoélectrique, toute
matière touchée par les rayons X émet un rayonnement secondaire dont la longueur d’onde est égale
(ou très voisine) à celle du rayonnement primaire : c'est la diffusion sans changement de longueur
d'onde ou diffusion cohérente. Elle génère des interférences constructives qui donnent naissance à
la diffraction. Elle est à l’origine de l’application scientifique la plus importante des rayons X, la
détermination de la structure atomique des cristaux.
IV.5.1 - Effet photoélectrique 2 (fig. 35, 36)
L'énergie du photon incident est totalement transférée à un électron d'une couche interne
(photoélectron).
Fig. 35 - Effet photoélectrique
La vacance créée dans la couche interne est comblée par un électron issu d'une couche plus
externe, l'énergie étant libérée sous forme d'un photon X de fluorescence ou d'un électron Auger.
Les photons X de réarrangement des couches électroniques portent le nom générique de la

couche contenant la vacance initiale : XK, XL,...
Un photon d'énergie incidente EI (fig. 36) qui interagit avec un électron d'un atome cible peut
éjecter cet électron de son orbite en lui communiquant une énergie cinétique EC, telle que :
44
EC = EI - EL,
Où EL est l'énergie de liaison de l'électron éjecté de son orbite.
Fig.36 - Effet photoélectrique
Si l'énergie du photon incident est inférieure à l'énergie de liaison de l'électron K, l'effet

photoélectrique se fait avec un électron de la couche L,... etc.
a) Le photoélectron mis en mouvement perd son énergie par phénomène d'ionisation du

milieu, comme on l'a vu lors du premier cours: Ces ionisations sont à l'origine des
radiolésions.
b) La seconde conséquence d'une interaction par effet photoélectrique est la réorganisation du

cortège électronique pour combler la lacune sur la couche dont a été expulsé l'électron.
Il en résulte essentiellement l'émission d'un autre électron d'une couche encore plus
périphérique que l'on appelle un électron Auger.
IV.5.3 - Effet Compton ; diffusion incohérente (fig. 37)
C’est en 1926 que A. H. Compton a découvert, en étudiant le spectre du rayonnement

diffusé, que celui-ci comportait, à côté de la longueur d’onde de la radiation incidente, une radiation
de longueur d’onde légèrement plus grande, la différence ne dépendant pas de la nature du diffuseur
mais seulement de l’angle de diffusion. L’effet Compton s’explique simplement en appliquant les
lois de la conservation de l’énergie et du moment au choc du photon et d’un électron libre.
Le photon est dévié, l’électron acquiert une énergie cinétique qui dépend de l’angle de
diffusion, et l’énergie de recul est soustraite à l’énergie du photon h.
45
Le photon secondaire h' correspond ainsi à une radiation de fréquence moindre, donc de
plus grande longueur d’onde que la radiation incidente. La rémission de ces photons se fait avec un
déphasage aléatoire, le rayonnement Compton est dit incohérent. Il contribue au bruit de fond du
spectre d'émission.
Une partie de l'énergie du photon incident est transférée à un électron d'une couche
périphérique. L'énergie incidente se trouve donc répartie entre l'électron Compton et le photon
diffusé.
Fig. 37 - Effet Compton
IV.5.3 - Production de paires
L'énergie du photon incident ( > 1 022 eV) est totalement absorbée pour la création d'une
paire électron-positon. Ce processus est suivi d'une annihilation dans laquelle le positon et un
électron s'annihilent mutuellement en générant une paire de photons de 511 keV émis à 180° l'un de
l'autre (fig. 38).
Fig. 38 - Principe de la « production de paire »
IV.5.4 - Diffusion cohérente
Dans le cas de la diffusion sans changement de longueur d’onde, tous les atomes de la matière
forment un ensemble de sources cohérentes dont les radiations peuvent interférer. Or les distances
entre atomes dans les systèmes condensés sont du même ordre de grandeur que la longueur d’onde
46
des rayons X. Grâce à ces conditions favorables, des phénomènes d’interférences sont observés. Au
lieu qu’une énergie très faible soit répartie dans tout l’espace, le rayonnement diffusé se concentre
dans les directions particulières où il devient bien plus intense. On obtient ainsi des «figures de
diffraction», d’où il est possible de déduire des données sur les positions respectives des atomes.
Le phénomène élémentaire de la diffusion cohérente est la diffusion d’une onde par un

électron. La théorie classique montre, en effet, que seuls les électrons, et non les noyaux, de masses
bien plus élevées sont des sources diffusantes. Un atome intervient donc par l’intermédiaire de ses
électrons. En première approximation, le nombre atomique Z suffit à le caractériser. L’amplitude de
l'onde diffusée est proportionnelle à Z. De plus, la théorie classique montre, ce que vérifie
l’expérience, que l’amplitude décroît avec le paramètre (sin21/); 21 étant l’angle de diffusion et
 la longueur d’onde.
Les interférences entre les «ondelettes» diffusées par les différents atomes d’un corps sont
remarquables surtout quand ce corps est un cristal. C’est-à-dire quand les atomes sont
périodiquement disposés selon un réseau cristallin. Dans un cristal, les atomes homologues peuvent
être groupés, d’une infinité de façons, en familles de plans réticulaires parallèles et équidistants. En
considérant une famille de plans (hkl), irradiés par des R X de longueur d’onde , Bragg a démontré
que les interférences annulaient exactement la radiation diffusée, sauf si l’angle d’incidence que fait
le faisceau incident avec cette famille de plans était relié à la distance interréticulaire d (hkl) de cette
même famille par la relation :
2 d ( hkl ) sin   n 
Où n est un nombre entier, correspondant à l'ordre de diffraction. C’est la relation dite de Bragg.
Pour les angles de Bragg 1, 2,…, Correspondant aux valeurs possibles de n (on doit avoir
n  < 2 d), les ondes diffusées par tous les atomes sont en phase, donc leurs amplitudes s’ajoutent,
ce qui donne naissance à un rayon diffracté dans la direction de réflexion sur les plans réticulaires.
Ainsi, quand un rayon diffracté est observé, on en déduit l’orientation des plans réticulaires
réfléchissants et leur distance réticulaire.
47
V - Monochromatisation des RX.
Alors que le spectre d'émission des sources de RX (tubes et synchrotron) est poly-
chromatique, les expériences de diffraction, excepté la méthode de Laue, nécessitent un
rayonnement monochromatique. Différentes techniques de monochromatisation ont été
développées, dans le but d'obtenir un rayonnement dont le rapport pic sur bruit de fond soit
optimum. Les deux dispositifs les plus utilisés sont :
- Filtrage 
- Monochromateur plan.
V.1 - Filtrage , monochromatisation approchée (Fig. 39)
Le spectre d'émission des RX émis par une cible excitée sous une tension supérieure à la
tension critique est composé de trois parties, essentiellement :
- Un bruit de fond ou continu,

- Des raies caractéristiques K et K de l'anticathode ou cible utilisée,
- Des raies caractéristiques dues à la pollution du tube.
La monochromatisation du rayonnement d'un tube à RX consiste à conserver le rayonnement

K et à atténuer autant que possible et le bruit de fond, les raies satellites et particulièrement la raie
K qui est la plus gênante dans l'analyse des spectrogrammes.
L'absorption sélective des filtres est mise à profit pour "monochromatiser" le faisceau de RX
poly - chromatique sortant du tube :
- Toutes les longueurs d'onde avant la discontinuité sont fortement absorbées

- Toutes celles immédiatement après, le sont légèrement (fig.39)
Pour une anticathode donnée, on choisit un matériau filtre (Tableau 6) dont la discontinuité
d'absorption K est située entre les longueurs d'onde K et Kde l'anticathode.
48
K
K
Intensité (u.a)
(Å)
0.5 1.5 2
 2 -1
   [cm g ]
 Z
Variation du coefficient.
d’absorption du filtre K
utilisé
(Å)
k
K
Spectre d’émission après

filtrage
K
(Å)
Fig.39 : Effet du filtre  sur un spectre d'émission d'une anticathode.
49
Elém Discontinuité de k
(K) en Å (K)en Å Filtre
ent (Å)
Mo 0.711 0.632 (Z-2)Zr 0.6873
Cu 1.542 1.392 (Z-1)Ni 1.4839
Co 1.790 1.621 (Z-1)Fe 1.7394
Fe 1.937 1.756 (Z-1)Mn 1.8916
Cr 2.291 2.085 (Z-1)V 2.2630
Tableau 6 : Différentes anticathodes et leur filtre associé.
Pour déterminer l'épaisseur du filtre, on utilise habituellement l'un des deux critères suivants :
- Un filtre donnant un rapport d’intensité des raies (K) et (K) égal ou inférieur au 1/100
au niveau du détecteur
- Une atténuation de 50% sur le rayonnement K.
V.2 - Monochromatisation rigoureuse

 i : rayonnement
monochromatique
1 diffracté
(hkl)1
2
1
(hkl)2
 i (rayonnement
polychromatique)
2
Fig. 40 - Cristal monochromateur plan
50
Une monochromatisation rigoureuse est obtenue en plaçant un cristal monocristallin dans le

faisceau direct ou diffracté. On choisira un rayonnement monochromatique de longueur d'onde
donnée, en calant le monocristal sur un angle  de manière à ne faire diffracter que la raie en
question. Ainsi, on placera le monocristal de LiF (2d=4.026 Å) à  =22.49° pour obtenir la raie K
(fig.40) du cuivre.
Remarque :
Pour obtenir, par exemple, la raie K (K = 1.54 Å) tube du cuivre, il faut caler le mono-cristal
(analyseur) à  =22.49°.
V.2.1 - Monochromateur primaire (fig. 41)
L'avantage important du monochromateur placé entre la source de RX et l'échantillon est la

possibilité de le maintenir en position fixe, ne perturbant pas les réglages délicats, surtout quand on
veut isoler la raie K1. On utilise des cristaux de réflectivité élevée et de haute résolution, tels que le
quartz (2d1011 = 6.532Å ), le silicium (2d111 = 6.271 Å ) ou autres.
Monochromateur
primaire Détecteur
Fente
réceptrice
Fente de
divergence
2
Tube à Rx
Echantillon
Cercle
goniométrique
Fig. 41 - Schéma de principe du montage avec monochromateur primaire.
L’enregistrement des raies (111) - 2 = 38.2° - et (333) - 2 = 157.8° de l'or, en utilisant

respectivement le monochromateur (fig.42 a) et le filtre K (fig.42 b) montre bien la résolution relative des
deux méthodes.
51
(111)
(333)
(111)
Intensité (u.a)
(333)
2
(a) Filtre K (b) Monochromateur
Fig.42 - Enregistrement des raies (111) - 2 = 38.2° - et (333) - 2 = 157.8° de l'or, respectivement avec
monochromateur et filtre K.
V. 2.2 - Monochromateur secondaire (fig. 43)
L'avantage de placer le cristal entre l'échantillon et le détecteur est d'éliminer les

rayonnements incohérents et de fluorescence. Le montage du cristal ne nécessite aucune
modification du diffractomètre conventionnel et permet de placer le monochromateur simplement
sans réajustement.
Fente de
Cristal réception
Monochromateur
Détecteur
Fente de
divergence
•
Tube à
Rx Cercle de
focalisation
2
Echantillon
Echantillon
Cercle
goniométrique
Fig. 43 - Schéma de principe du montage avec monochromateur secondaire.
52
VI - Détection et mesure des rayons X

La détection des RX consiste à les mettre en évidence, et à en mesurer soit leur intensité soit
leur énergie.
 Détection qualitative : Ecran fluorescent
Les RX d'intensité suffisante provoquent la fluorescence du sulfure de zinc dans le domaine

du visible. Ce composé déposé sur un long support (bras) permet de localiser le faisceau primaire,
soit pour s'assurer de la présence des RX qui arrive sur l'échantillon ou des différents réglages du
faisceau incident. Comme l'interaction rayons X - matière est relativement faible, il est pratiquement
impossible de mettre en évidence un faisceau diffracté à l'aide de l'écran fluorescent.
 Détection semi-qualitative : Films photographiques
Pour la détection semi-quantitative, on utilise les films photographiques composés

d'émulsions d'halogénure d'argent qui sont développés et rendus visibles par révélation chimique.
C'est la méthode la plus ancienne, celle qui est à l'origine de la découverte des RX en 1895 par
Roentgen qui observa le noircissement de plaques photographiques à proximité d'un tube de
Krookes en fonctionnement. Ce moyen de détection permet la mesure d'intensité des RX en
évaluant le noircissement du film à l'aide d'un microdensimètre optique. La précision des mesures
est limitée par différents facteurs :
- Influence de la dilatation des films

- Superposition des intensités des raies du même ordre
- Erreurs de mesures manuelles
- Mesure imprécise des intensités.
 Détection qualitative et quantitative : Détecteurs de photons
De nos jours, pour avoir une bonne précision de la mesure de l'intensité diffractée, on
n’utilise pratiquement que des détecteurs comptant le nombre de photons ou d'impulsions.
Quelque soit le type de détecteurs, on peut en définir un certain nombre de caractéristiques

générales :
- Temps mort tm : temps qui s'écoule après détection d'un photon pour que
l'appareil réponde à un nouveau photon,
- Taux maximum par comptage : nombre maximal de photons pouvant être

comptés par seconde; lié au temps mort, le temps maximal est théoriquement égal à 1/tm.
- Rapport : signal / bruit de fond important,
- Efficacité : Nombre d'impulsions comptées pour 100 photons incidents
53
- Seuil énergétique de détection : énergie minimale que doit posséder un photon

incident pour déclencher le processus de détection,
- une parfaite linéarité entre les amplitudes des impulsions de l'amplificateur et

l'énergie des RX détectés
VI.1 - Le compteur
Les compteurs utilisent la propriété du pouvoir ionisant des RX. C'est ainsi que les
constructeurs ont pensé réaliser des compteurs à remplissage gazeux, comme celui monté sur le
diffractomètre vertical "Philips" ou des compteurs "solide" soit à scintillations NaI ou à semi-
conducteur Si-Li.
VI.1.1 - Compteur à gaz scellé
VI.1.1.1 - description (Fig. 44)
cathode
E=h E0-Wm E0-nWm
+V -- Pré-ampli
photons e- e- e- E -- Ampli
Mesure -- Chaîne de
comptage
Anode R C
Fenêtre en béryllium
Fig.44 -Schéma de principe de fonctionnement d'un détecteur à gaz
Le compteur à gaz est formé d'une enceinte cylindrique conductrice en acier qui joue le rôle
de cathode, et d'un fil métallique coaxial qui porté à un potentiel positif joue le rôle d'anode.
Le tube contient un mélange gazeux qui sera ionisé par le faisceau incident de RX. Dans le
compteur à flux gazeux (utilisé en analyse par fluorescence X), on fait circuler un mélange de 90%
de xénon et 10% de méthane. Dans le compteur scellé le mélange est formé de xénon et d'halogène
avec les mêmes proportions.
VI.1.1.2 – Fonctionnement du compteur à gaz
Lorsqu'un photon X d'énergie E0 arrive dans le compteur, son énergie est absorbée
entièrement pour ioniser un atome de gaz par effet photoélectrique. Ainsi, un électron d'un niveau i
est chassé de son orbite avec une énergie cinétique Ec = E0 - Ei. Ei, étant l'énergie d'ionisation du
niveau i excité. Le retour à l'état fondamental de l'atome peut s'effectuer suivant deux processus :
54
- par transitions radiatives, avec émission de photons

- ou, par transition Auger, avec émissions électroniques (électrons Auger)
Les photoélectrons et les électrons Auger perdront leur énergie progressivement par
interactions inélastiques successives, en créant d'autres ionisations et en générant d'autres paires
électrons – ions.
L'ionisation étant un phénomène aléatoire, si  représente l'énergie moyenne nécessaire pour

la création d'une paire d'électron - ion, le nombre moyen de paires formées est égal à :
N  E0

Où,  est compris entre 20 et 30 eV, selon le gaz utilisé.
Ordre de grandeur
Pour l'argon ( = 26.4 eV), un photon de 10 keV peut engendrer : 104 / 23.4 = 380 ionisations

Un champ électrique E crée par la haute tension positive V du fil coaxial permet de collecter
ces électrons en les accélérant vers l'anode. Leur nombre d'électrons dépend de la tension appliquée
au compteur.
Lorsque V croît, on distingue expérimentalement (fig.45) six régimes de fonctionnement du
compteur :
- Régime de recombinaisons :
La tension appliquée est trop faible pour accélérer les n électrons primaires vers l'anode : les
paires électrons – ions se recombinants. La collection est pratiquement nulle.
Intensité (A)
Chambre d'ionisation
1010
Recombinaison
Arc
Proportionnalité
Décharge
Compteur
proportionnel
Geiger-
Compteur
104 105
102 103
10
V
0
Fig. 46 - Différents régimes de fonctionnement d'un compteur à gaz.
55
- Régime de chambre d'ionisation
La tension est juste suffisante pour collecter les n électrons primaires, mais ne peut augmenter
leur nombre par amplification. Les courants produits sont très faibles dans le cas d'un rayonnement
X diffracté, de l'ordre de 10-14 à 10-15, nécessitant pour leur mesure des électromètres très sensibles.
Cette région est peu utilisée pour cette raison.
- Régime proportionnel
Au-dessus d'une certaine valeur du potentiel V (ordre de quelques centaines de volts), les
électrons produits par un photon acquièrent dans le champ électrique une énergie suffisante pour
ioniser eux-mêmes d'autres atomes de gaz, produisant de nouveaux électrons, accélérés à leur tour
et ainsi de suite, déclenchant ce qu'on appelle une avalanche, dite de TOWNSEND, au niveau du fil
coaxial. La charge ainsi récupérée croît avec la tension de polarisation et avec l'énergie des
électrons. Mais, pour une même tension la charge reste proportionnelle à l'énergie des photons
incidents. On arrive ainsi à rester dans la région de proportionnalité avec des coefficients
d'amplification pouvant atteindre 105.
- Régime de proportionnalité limitée
Lorsque V dépasse une certaine valeur limite, il se produit des interactions entre les
avalanches. La zone des avalanches envahit progressivement tout e l'enceinte. La proportionnalité
entre taux de comptage et le nombre de photons incidents n'est plus assurée. Cette région présente
peu d'intérêt.
- Régime du compteur Geiger – Muller
Lorsque la tension V augmente encore et atteint une valeur juste inférieure à celle provoquant
la décharge spontanée (ordre de 1000 à 1300 V), il suffit d'un photon incident pour déclencher cette
décharge : le phénomène d'avalanche devient général, avec excitation supplémentaire due
particulièrement à l'émission d'électrons par les parois et l'électrode, soumis au bombardement
ionique et électronique, ainsi qu'à l'émission de rayonnement ultraviolet. Pour amortir le
phénomène, on place une résistance élevée R dans le circuit d'utilisation provoquant une chute de
tension sensible qui coupe la décharge. Un auto amortissement peut aussi être produit, comme dans
le compteur proportionnel, par addition d'une proportion de gaz organique ou d'halogène. L'impact
d'un photon produira, quelle que soit l'énergie incidente (supérieure au seuil) une avalanche : il n'y a
donc plus aucune proportionnalité entre l'amplitude du signal et l'énergie.
- Régime de décharge
La tension V étant supérieure au seuil de déclenchement de la décharge, celle-là devient

spontanée et permanente.
- Régime de l'arc
A une tension encore plus élevée, un arc électrique jaillit entre les électrodes, détruisant le
compteur.
56
Dans les applications des RX, on utilise généralement le compteur proportionnel et le

compteur Geiger-Muller.
VI.1.2 - Le compteur proportionnel - Le compteur proportionnel
Le compteur peut être assimilé à un condensateur qui se charge, suite à l'ionisation du gaz et
le phénomène d'avalanche, puis se décharge dans une résistance R. La décharge étant recueillie sous
forme de signal qui est analysé par un dispositif électronique.
a) Forme du signal (fig. 4)
L'avalanche fait apparaître au voisinage du fil coaxial (anode) une charge électrique
Q  N .e
Avec en moyenne :
N  A.n A E0

Où : A, désigne le coefficient d'amplification du gaz et

n, le nombre moyen d'ionisations crées avant toute avalanche.
Le fil anodique présente une certaine capacité C, par rapport à la masse. La charge Q
provoque une chute maximale Vmax de la tension de polarisation, égale à :
Q
Vmax   AE0.e
C .C
En fait, la chute de tension n'atteint pas la valeur Vmax , mais se stabilise autour d'une valeur
moyenne Vm. Cette stabilité est due au nuage d'ions qui se forme autour de l'anode.
V
Vmax 0.5 1
a b c
Vmin
t(s)
Fig. 77 : Forme de l'impulsion délivrée par le compteur proportionnel :

(a) temps de latence, (b) temps de montée, (c) temps de décroissance.
Lorsque l'ionisation est achevée, le compteur se décharge comme un condensateur dans la

résistance R. La durée du phénomène est inférieure à 1s. En réalité, le compteur ne compte pas
pendant la durée de la décharge, qui est de l'ordre de 200ns. C'est le temps mort du compteur.
57
b) Allure du pic principal
Même dans les meilleures conditions de fonctionnement de l'ensemble de l'appareillage, les

impulsions provoquées par un flux de photons X d'énergie E0 donnée, n'ont pas toutes la même
amplitude. C'est le caractère aléatoire de l'événement "ionisation" qui engendre les fluctuations des
amplitudes et une répartition des hauteurs des impulsions proche d'une gaussienne centrée sur une
valeur moyenne Vm. Cette tension vérifie (fig. 48) la relation de proportionnalité :
Vm  K. E0

Où, k est un facteur de proportionnalité qui englobe les effets du coefficient d'amplification
A, l'influence du gaz poly-atomique et la géométrie du compteur.
I
Im
Im/2 t
Vm
V
Fig. 48 - Forme gaussienne des amplitudes (pic) - Résolution du compteur proportionnel.
c) Pic de fuite
Après l'absorption d'un photon incident, si la désexcitation de l'atome ionisé se fait par
l'émission d'un électron Auger, la totalité de l'énergie incidente du photon est récupérée par le
compteur sous forme de charges. Mais si l'énergie du photon E0 est supérieure à l'énergie Ek
(énergie d'ionisation de la couche k du gaz), et si le photoélectron est un électron K, une transition
radiative avec "émission d'un photon k peut avoir lieu. Ce photon d'énergie Ek a une faible
probabilité d'être absorbé par le gaz et peut être considéré comme perdu. Il reste une énergie E0 –
Ek , qui se dissipera en ionisant un nombre (N') d'atomes. Nombre exprimé par :
N ' E 0  E k

Ce phénomène se manifeste par la présence d'un pic, dit pic de fuite (fig.49), d'intensité plus
faible que celle du pic principal et dont l'énergie moyenne est centrée sur la valeur ( E0 – Ek ).
58
(b)
(a)
% hauteur des
impulsions
Fig. 49 - Répartition en amplitude des impulsions (a) pic de fuite, (b) pic principal.
d) Résolution du compteur
L'élargissement de la répartition gaussienne (pic) en amplitudes des impulsions

engendrées par les photons X, limite le pouvoir séparateur entre deux photons dont les énergies
sont voisines. La capacité de discriminer ou de séparer deux signaux d'énergies voisines est
représentée par le pouvoir de résolution R :
R %  100  V
V
Où: V est la largeur à mi-hauteur du pic principal et V l'énergie du maximum du pic principal.
VI.1.3 - Le compteur à scintillations (fig. 49)
La partie active du détecteur solide est le scintillateur qui transforme un photon X en un

certain nombre de photons lumineux se manifestant par une scintillation. Pour être intéressant
comme détecteur d'une certaine gamme de rayonnement, le scintillateur doit être tel quel :
- absorber la plus grande proportion du rayonnement incident

- être transparent pour ses propres scintillations
- avoir un temps mort faible
L'iodure de sodium activé au thallium NaI(Tl) est le scintillateur le plus utilisé en diffraction
X pour son efficacité de scintillation élevé et son important coefficient d'absorption pour ces
rayonnements.
Le phénomène de détection est régi par les processus suivants :
- absorption des photons incidents par le scintillateur

- production de lumière dans le scintillateur par excitation des niveaux d'énergie optiques
actifs, puis désexcitation de ces niveaux avec émission de lumière
- collection de la lumière (absorption des photons) par la photocathode
- émission de photoélectrons par la photocathode
59
- collection de ces photoélectrons par la première dynode

- multiplication des électrons par les dynodes suivantes
- collection des électrons par l'anode.
Scintillateur photomultiplicatrice Electrons secondaires
dynode
RX
Anode
Photocathode Vers le Pré-

- H.T. Diviseur de tension
amplificateur
Fig. 49 - Schéma de principe d'un détecteur à scintillation
Le photomultiplicateur (PM) convertit les signaux lumineux en signaux électriques avec un

taux de conversion de 106 à 108 électrons par photon incident.
VI.1.4 - Le compteur à semi-conducteur (fig. 50)
RX n i p
Préampli- Ampli
Photon-
 électron
électron Zone refroidie à

 Si(Li)
l'azote liquide Cryostat


V
Fig.50 - Schéma de principe d'un détecteur Si(Li)
Les meilleures performances de haute résolution en énergie sont réalisées à l'aide des
détecteurs à semi-conducteur comme le SI(Li), constitué par des diodes de silicium dopées au
lithium. Ces diodes, polarisées en sens inverse, se comportent comme une chambre d'ionisation à
60
l'état solide. Par la compensation au lithium, on réalise une zone de jonction à conduction
intrinsèque (P-I-N), relativement, relativement épaisse et de valeur ohmique élevée, dans laquelle
les photons X incidents sont absorbés et convertis en impulsions électriques. Un photon X perd
entièrement son énergie dans le cristal par effet photo – électrique et produit une rafale de
photoélectrons. Ces derniers excitent des électrons d'atomes SI de la bande de valence vers la bande
de conduction, créant ainsi des paires d'électron - trou. L'énergie de création d'une paire électron -
trou est de 3.81 eV pour le silicium. Le détecteur semi-conducteur fournit un nombre de charges
libres n très élevé :
NE

Sous l'action d'un champ électrique important, ces porteurs sont séparés, puis collectés sur les
électrodes en métal (Al, Au). Il apparaît une impulsion électrique dont l'amplitude est
proportionnelle à l'énergie des photons incidents.
Comme détecteur semi-conducteur à refroidissement par azote liquide, on utilise les

compteurs en silicium ou germanium compensés au lithium (Si-i ou Ge-Li).
La qualité la plus importante de ce détecteur est sa résolution en énergie, bien meilleure que
celle des autres types détecteurs.
Efficacité pour Coefficient Temps Taux de

Seuil énergétique
Détecteur Cu(K) (%) d'amplification mort comptage
de détection (eV)
(s) max.
Proportionnel
(Ar-CH4) 30 10-105 0.5 2106 26
Scintillation 1 (sans PM)

NaI(Tl) 50 106 (avec PM) 0.2 5106 50
Semi-conducteur
(Si-Li) 100 1 1 106 3.5
Tableau 7 : Comparaison des principales caractéristiques des détecteurs à ionisation
VI.3 - Electronique de mesure
La figure 51 reporte le schéma de l'électronique impulsionnelle associée aux trois types de

détecteurs (à gaz, à scintillation et à semi-conducteur Si-Li)
61
Chaîne de
comptage
RX
Pré- Ampli
Détecteur Discrimination Calculateur
ampli
Analyseur
Haute multicanaux
tension
Fig.51 - Electronique de mesure
VI.3.1 - Alimentation haute tension
Le générateur fournit une tension continue de haute stabilité, de l'ordre de 1600 volts pour les
compteurs scellés à gaz, de 900 volts pour les détecteurs à scintillation et de 500 volts pour un
détecteur semi-conducteur Si(Li).
VI.3.2 – Préamplificateur
L'information issue du détecteur est une quantité de charges électriques proportionnelle à

l'énergie des photons incidents. La charge totale de cette impulsion est intégrée et convertie à l'aide
d'un préamplificateur en un signal de tension reflétant la proportionnalité de l'énergie arrivant au
détecteur.
VI.3.3 – Amplificateur d'impulsions
L'amplificateur linéaire d'impulsions transforme le signal du préamplificateur, de l'ordre de

quelques mV, pour le rendre apte à la mesure. Après amplification et mise en forme, le signal de
sortie est généralement compris entre 0 et 1.0 V
VI.3.4 – Discriminateur des amplitudes des impulsions (fig.52)
Les impulsions correspondant à une amplitude donnée peuvent être sélectionnées à l'aide d'un
discriminateur. En mode intégral, on rejette uniquement les impulsions dont l'amplitude est
inférieure à un seuil minimum. Cette méthode permet surtout d'éliminer le bruit de fond de
l'amplificateur. En mode différentiel, les amplitudes des impulsions sont sélectionnées par deux
niveaux inférieur et supérieur formant une fenêtre, la ligne inférieure étant le seuil minimum.
Ce dernier mode permet la sélection d'impulsions correspondant à une énergie fixée est
principalement utilisée en diffraction X, afin de rejeter les impulsions correspondant à des énergies
non utiles telles que celles du bruit de fond, du pic de fuite ou de raies de fluorescence. Cet
ensemble joue le rôle d'un discriminateur en énergie des photons X.
62
h V
V3
Compteur + V2
préamplificateur
V1
t
V
Mise en forme
Discriminateur 1
Lower Level
(LL) LL
V
W
Discriminateur 2
Window
V
W
Résultat de la
discrimination
et comptage LL
Fig.52 - Discrimination : V1 impulsion acceptée, V2 et V3 impulsions éliminées
L'analyseur peut fonctionner selon deux modes :
63
- Mode intégral (LL) : On procède au réglage du seuil inférieur; toutes les impulsions de
tension supérieure sont transmises au compteur. Le seuil d'environ 5% est nécessaire pour éliminer
le bruit de fond électronique du pré ampli.
- Mode différentiel (w : 10 -100%) : La discrimination se fait, dans ce cas, à l'aide d'un seuil
inférieur et un seuil supérieur qui correspondent à la distribution des impulsions que nous voulons
sélectionner.
VI.3.5 – Compteur d'impulsions
Une échelle de comptage raccordée au calculateur par l'intermédiaire d'une interface indique
le nombre d'impulsions enregistrées à la sortie du discriminateur.
Les impulsions normalisées délivrées par le discriminateur peuvent également être envoyées
dans un intégrateur transformant les impulsions en une tension continue proportionnelle au taux de
comptage pour être utilisé par un enregistreur.
VI.3.6 - Analyseur multicanaux
L'impulsion gaussienne, de l'amplificateur, est transformée à l'aide d'un convertisseur

analogue - digital, en un signal dont la durée est proportionnelle à l'amplitude d'entrée. Ce signal est
alors adressé dans un canal donné de l'analyseur multicanaux et finalement les informations
accumulées dans la mémoire du multicanaux aboutissent à un histogramme (fig.53) du nombre
d'impulsions en fonction du canal ou de l'énergie après calibration.
Tension (V) K
K
Intensité
(impulsions)
3 3
10
1 Bruit fond
0
0 10 20 30 0 1 2 3
Temps ( s) Tension (V)
Ecran des multicanaux
Sortie de l'amplificateur
Fig. 53 - Traitement du signal
En diffraction X avec mesure angulaire, cette fonction sert surtout de contrôle et un analyseur
de 200 canaux généralement suffisants. Par contre, avec les détecteurs à semi-conducteur,
64
l'analyseur doit comporter entre 1024 et 4096 canaux pour effectuer une analyse fine.
VI.3.7 – Temps mort
Le temps mort du compteur à gaz monté sur le diffractomètre vertical "Philips" est de 200 ns.
Mais ce temps mort peut varier avec l'énergie des photons, du vieillissement du compteur et avec le
taux de comptage. On préfère alors fixer le temps mort électronique  supérieur à celui du compteur
de façon à supprimer les variations aléatoires de la durée réelle de comptage. Ce temps mort non
extensible est fixé, dans la baie Philips 1390 à 1µs. Ainsi, dès qu'une impulsion est comptée, la
chaîne reste aveugle pendant 1µs.
Si N est le taux de comptage réel, et N ' le taux de comptage apparent donné par la chaîne,
celle-ci reste aveugle pendant N '  par seconde. Le taux de comptage apparent est donné par :
N '  N(1 N ')
Où : N et N ' sont exprimés en nombre d'impulsions par seconde.
VI.4 - Statistiques des comptages
VI.4.1 - Introduction
Les mesures effectuées par comptage de photons ou autres particules conduisent à l'obtention
de résultats expérimentaux aléatoires de part leur nature. Les aspects liés au caractère aléatoire sont,
entre autres : contrôle de l'instrument et la détection des valeurs aberrantes.
VI.4.2 – caractère aléatoire des comptages
VI.4.2.1 – Variables aléatoires
Les valeurs des comptages successifs ne sont pas identiques, toutes choses égales par ailleurs.
Un comptage n'est pas une valeur déterminée, c'est une grandeur aléatoire. Une variable de ce type
peut prendre un ensemble de valeurs : x1, …, xi, …xn. Chaque valeur xi étant affectée d'une
probabilité Pi. L'ensemble des valeurs xi suit une loi de distribution statistique définie par cette
application. Une grandeur aléatoire ne peut être définie complètement que par sa loi de probabilité.
On appelle moyenne, et variance ² les moments d'ordre 1 et 2 (centré) de la distribution, 

étant l'écart type.
n
* Moyenne :   1  xi
n i 1
n
* Variance :  2 
1 (xi  ) 2 n étant le nombre de comptages non répétitifs.
i 1
65
* Ecart - type = variance  2 
VI.4.2.2 – Distributions
Le nombre de distributions possibles pour des variables aléatoires est infini. On démontre
que les comptages de photons X accumulés suivant des temps fixes ont une distribution qui peut
être décrite par une loi connue, de distribution de variables entières positives, appelée loi de
Poisson, qui a la forme :
x
P (x)  exp(   )
x!
Avec : x ≥0, ² = µ
Nous allons considérer le caractère Poissonnien des mesures faites en pré-temps comme une
hypothèse fondamentale.
VI.4.3 – Tests d'hypothèse
Si l'instrument fonctionne convenablement, toutes choses égales par ailleurs, la variable

observée des comptages doit obéir au caractère Poissonnien de sa distribution.
Le ² (khi 2) est défini par la relation suivante :
n (xi  m ) 2
 2 
i 1 m
n
Avec : m  1  xi n 20
n i 1
Dans ce cas de figure, on montre que le ² (m>10) est asymptotiquement distribué. comme
une variable de ² à (n-1) degré de liberté.
Cette méthode du test du ² permet de contrôler très simplement la stabilité de la mesure. Il
suffit, pour une série de n comptage, relatifs à la même mesure faite pendant un même temps donné,
de calculer la valeur du ² et de la comparer à sa valeur critique de la table (voir annexe) pour (n -
1) degré de liberté, au seuil de probabilité choisi.
VI.4.4 – Pratique de contrôle
Chaque mesure est constituée par une série de n comptages faits chacun avec un pré-
temps donné. A la fin de la série on calcule la valeur du ² et on la compare aux valeurs critiques,
aux seuils  = 5%, 1% et 0.1%. Si ² est plus petit que la valeur à 5%, il n'y a pas de raison de
considérer que le comptage n'est pas Poissonnien, et ceci peut être admis comme une preuve d'une
mesure de bonne qualité.
Si ² est compris entre les valeurs à 5% et 1% la mesure est considérée comme moyenne,
médiocre entre 1% et 0.1%. Le seuil de probabilité ou risque d'erreur de première espèce, c'est à
66
dire le risque de considérer comme trop grande une valeur de ² qui correspond au fait à une
fluctuation naturelle.
Dans un travail de routine, les résultats des applications du test sont calculés et affichés par
le micro-ordinateur de façon que l'opérateur puisse décider de façon rationnelle de la suite à donner
aux mesures. L'utilisation systématique de ce test est une manière très efficace de surveiller
l'instrument. En effet, beaucoup de défauts n'apparaissent à leur début que par une augmentation de
la dispersion des mesures, qui sans contrôle statistique, passe inaperçue.
VII - Quelques applications de la diffraction des RX
La diffraction des rayons X sur poudre est une méthode d'analyse de phases non destructive.
Grâce aux technologies modernes, elle permet d'identifier en quelques minutes les phases
cristallisées présentes dans tout matériau par comparaison avec un fichier de références réactualisé
annuellement et comportant actuellement les données de 69 500 composés (fichier J.C.P.D.S.).
Elle permet également d'étudier les conditions de formation de phases, leur évolution en
fonction de la température ou de l'atmosphère, donc de connaître le comportement d'un matériau en
conditions d'utilisation (température, balayage gazeux, etc.).
- Contraintes résiduelles
- Textures
- Incidence rasante
La diffraction X sous incidence rasante permet de déterminer la cristallographie superficielle

sur 20 à quelques centaines de nanomètres. Contrairement au montage classique, l'angle d'incidence
entre le rayonnement X et le plan de l'échantillon est constant et faible (0,1 à 3°) ce qui permet de
limiter la pénétration des rayons X. Il est ainsi possible d'analyser des couches superficielles:
implantation d'ions, agrégats, etc.
67
Seconde Partie
MANIPULATIONS
68
Préambule
Les travaux pratiques de physique constituent une interface entre les concepts théoriques acquis des
cours magistraux et des travaux dirigés, et la compréhension véritable des phénomènes physiques et leurs
exploitations dans la vie professionnelle et sociale. Il est, par conséquent, indispensable que l’étudiant porte
un nouveau regard d’intéressement et de motivation sur les travaux pratiques.
Le volume horaire des séances de TP est de 3 à 4 heures. Les comptes rendus doivent être remis
impérativement avant la fin de chaque séance. Dans le barème de notation l’avancement dans la réalisation
du TP est pondéré à environ 20% de la note globale. Par conséquent, pour pouvoir mener à bien le travail
demandé et en tirer le maximum de profits (enseignement et note) il est conseillé à l’étudiant :
 de lire attentivement le polycopié et de préparer, avant la séance de TP, proprement le

(*)
squelette du compte rendu. Ce dernier doit contenir exclusivement :
- Le(s) but(s) du TP
- Description personnalisée et succincte du matériel utilisé et de la mise en œuvre de
l’expérimentation :
- Les résultats des mesures (tableaux des valeurs, courbes...)
- Interprétation des résultats
- Conclusion
 D’identifier, à chaque début de manipulation les éléments du montage à réaliser
 D’essayer, par votre propre initiative, de monter les éléments de l’expérience et de réfléchir
sur la façon de démarrer et de mener la manipulation.
 De savoir exactement les grandeurs que vous mesurez
 D’effectuer vos mesures et erreurs avec le plus grand soin
 De faire appel à l’enseignant qu’en cas de blocage
 De ne pas hésiter pour marquer un temps d’arrêt après chaque mesure pour ‘’la regarder’’
d’un oeil critique et de décider si celle-ci est bonne (cohérente) ou aberrante. Dans ce dernier cas, chercher
l’origine de l’erreur (instrumentale, mesure ou calcul), sinon faites appel à l’enseignant
 De dessiner proprement vos courbes, d’abord sur du papier millimétré (brouillon), à la fin de
chaque manipulation (ou mieux encore, porter chaque point expérimental obtenu sur le graphe avant de
passer à la mesure suivante)
 De se comporter de façon simple et naturelle, de manière à faciliter la communication avec

l’enseignant. Il n’y a pas de pédagogie ou de passation de savoir sans communication !
 D’essayer d’apprendre à se comporter devant un problème scientifique de manière énergique

(motivation et détermination) rationnelle (logique des événements) et efficace (résolution rapide du
problème).
(*)
N.B : Ne pas recopier le texte et les schémas du polycopié dans le compte rendu.
69
T.P - 1
EMISSION X (I)
Analyse d'un spectre
d'émission donné par un tube à RX
70
I - Description du diffractomètre de poudres (fig. 1 et 2)
a)
Détecteur
Tube RX
Porte
échantillon
b)
Fig. 1 : (a) Goniomètre Philips, (b) Goniomètre de la marque Bruker-AXS, type D8
71
La composition du diffractomètre, type « Philips » (fig.1) est la même que les autres appareils
utilisant les rayonnements corpusculaires ou photoniques, tels que :
- les montages de Debye - Scherrer, de Laue,

- les spectromètres à I.R (infrarouge), à U.V (ultraviolet)
- les spectromètres aux rayonnements visibles,
- les spectromètres aux rayonnements corpusculaires (microscopie électronique,
neutrons,…etc.).
Ces appareils sont constitués de trois éléments fondamentaux :

- source de rayonnement
- porte-échantillon
- système de détection.
L'appareil le plus utilisé, en diffraction X, est le diffractomètre de poudres à focalisation de

Bragg – Brentano (fig.1 et 2). Il est constitué d'un tube à RX, d'un porte-échantillon, d'un détecteur,
d'un système de fentes et d'un goniomètre. L'avantage qu'il présente est l'obtention de raies de
diffraction très fines et d'intensité importante.
Cercle de
mesure Pré-ampli
Ampli
Echantillon
Tube
axe du
F O goniomètre Compteur
Digital
Géné- 0028710
rateur
2
Refroidis- Zoom Enregistreur

-seur '
I=f(2)
Détecteur Baie
électronique
Source Goniomètre et détection Traitement des données

RX et résultats
Fig. 2 - Schéma d'un diffractomètre.
72
Un circuit d'eau assure le refroidissement de l'anticathode, où 98% de l'énergie apportée

par les électrons est transformée en effet calorifique. Un système de sécurité assure la protection du
tube.
Le faisceau divergent est issu du foyer du tube. Il passe par une fente primaire dite de
"divergence" qui focalise ce dernier sur l'échantillon pour être diffracté, avec les conditions de
Bragg, et converger en un point (fente de réception) situé sur le cercle de focalisation.
Une fente "anti-diffusion", placée devant la fente réceptrice, élimine les photons parasites
issus soit de l'échantillon ou de l'extérieur. Un balayage de l'angle de diffraction est obtenu à l'aide
d'un goniomètre nommé  - 2. L'échantillon plan effectue un mouvement de rotation uniforme
de vitesse angulaire  = d/dt. Le détecteur muni de sa fente réceptrice placée sur le point de
focalisation tourne autour de l'échantillon avec une vitesse uniforme double 2. Le rayon R = OS
du cercle goniométrique reste constant et son centre O est fixe. Par contre, le rayon r (r= R/2sin)
du cercle de focalisation diminue constamment à mesure que  croît, pendant que son centre O'
varie suivant un mouvement hélicoïdal.
Les points de focalisation sont délimités par l'anode (foyer du tube) et par la fente
réceptrice (F') placée devant le détecteur. Selon le degré de focalisation défini par les grandeurs de
la source et des différentes fentes, on obtient soit un diagramme à intensité élevée, soit un
diagramme à haute résolution.
La figure 2 schématise le parcours des RX suivant les différents éléments du diffractomètre

à 2 cercles  - 2. Au niveau de la source et de la fente du détecteur, la section rectangulaire du
faisceau est large de 0.04 mm à 0.2 mm. Quand la résolution n'est pas primordiale cette largeur peut
aller jusqu'à 2mm et sa longueur de 8 à 12 mm La divergence horizontale ou équatoriale,
contrôlée par la fente d'ouverture fixe ou variable est généralement comprise entre 0.05° et 3°
comme la fente anti-diffusion. La divergence verticale ou axiale est délimitée par des fentes de
Soller primaires ou/et secondaires dont la divergence est de l'ordre de 2°.
Après détection des photons que le compteur transforme en charge électrique, un

préamplificateur assure la transformation de cette charge en une différence de potentiel de quelques
mV. Un amplificateur donne de ce signale une tension de quelques volt.
On utilise comme détecteurs conventionnels les compteurs à scintillateur ou les compteurs

proportionnels à gaz.
La plupart des goniomètres ont des mouvements  et 2 qui peuvent être couplés ou
découplés à volonté, selon la spécificité de la manipulation de l'utilisateur, et peuvent être montés
horizontalement ou verticalement.
2 - Manipulation sur diffractomètre « Philips »
Il s'agit d'obtenir un spectre d'émission du faisceau primaire des RX et d'en étudier les
caractéristiques.
Un monocristal de LiF (fluorure de lithium) est disposé dans le porte échantillon *(fig.3). Il
ne diffracte, pour un angle  donné, que pour les longueurs d'onde  telles que :
73
2 d (hkl ) sin   n 
Cercle de focalisation
S O'
Détecteur
 2
O
Tube à RX
(hkl) LiF
Fig.3 - Géométrie du montage
La mise en œuvre de l’enregistrement d’un spectrogramme se fait comme suit :
- Mise sous tension du refroidisseur (Zéphir), s'assurer au toucher du tube, que la

température de ce dernier est de 10°C environ.
- Mise sous tension du générateur. L'affichage de la haute tension et du courant doit être
au minimum avant de démarrer.
- Mettre la tension et le courant désirés, en les augmentant progressivement. Ne jamais

dépasser la puissance maximale requise.
- Opérer sans filtre :

▪ Choisir les paramètres : le range (échelle de l’intensité) et les vitesses du goniomètre
et du déroulement du papier.
▪ Placer l'échantillon LiF(2d(200) = 4.026 Å) sur le porte échantillon de manière à ce que
l'axe de rotation du goniomètre appartienne au plan de l'échantillon. Comme le LiF diffracte
intensément, exposer seulement une surface de quelques mm², et choisir un range (échelle des
intensités) qui fait rentrer le « maximum » du bruit de fond dans le spectrogramme.
▪ Choisir le 20 du spectre, en fonction de la tension appliquée
▪ Déclencher la mise en route du goniomètre et de l'enregistreur en même temps.
▪ Surveiller le déroulement de la mesure
74
3 - Dépouillement du spectrogramme (tab.1)
Raie N° 1 2 3
2  (°)
Intensité I (cps)
(Å)
Désignation de la raie
(K, K, …)
Transition électronique
Matériau cible
Intensité I(cps) maximale du

fond continu
(minimale) (Å)
THTappliquée (kV)
Tableau 1
* L’intensité relative est obtenue en divisant l’intensité de chaque raie par celle de la raie d’intensité maximale.
- Relever les angles 2 des différentes raies du spectre

- Sélectionner les raies les plus intenses, dites caractéristiques de la cible pure
- Identifier à partir de ces raies importantes et des tables données en annexe, le matériau
qui constitue la cible du tube.
- A quelles transitions électroniques ces raies correspondent-elles ?
- Déterminer la longueur d'onde min minimale et celle du maximum. Interprétation.
- Calculer le rapport des intensités des deux raies (identifiées) les plus intenses.
4 - Analyse du spectre
- Décrivez le spectre en donnant ses caractéristiques et les points singuliers

- Expliquer le ou les phénomènes observés.
75
T.P - 2
EMISSION X (II)
Influence de la haute tension et
détermination de la constante de Planck
76
Du point de vue manipulation, l’enregistrement se fait de la même manière que dans le TP

précédent.
Spectre 1 2 3
minimale (Å)
Intensité relative (%) des raies
les plus importantes : (I/Io)*
Intensité (cps) maximale du fond
continu
Tension (kV)
Tableau 1
Trois spectres d’émission ont été enregistrés pour trois THT (tableau 1) tout en gardant
les autres conditions constantes (courant, vitesse du goniomètre, vitesse de défilement du papier,
etc.)
- Quels sont les paramètres des spectres obtenus, qui sont sensibles à la variation de la
THT ;
- Expliquer ces variations observées ;
- Tracer V = f (1/). Commenter la courbe obtenue ;
- En déduire la valeur de la constante de Planck h.
- Interprétation.
- Conclusion
77
T.P - 3
ABSORPTION RX (I)
Filtrage  - détermination du coefficient

d'absorption d'un matériau
78
1) Filtrage  (cf. § IV-2)
- Enregistrer un spectre d'émission sans mettre le filtre, comme il a été réalisé pendant la
séance précédente
- Mettre en place le filtre correspondant (cf. § IV-2) au tube utilisé, et enregistrer dans les
mêmes conditions que précédemment un deuxième spectre.
 Calculer les rapports des intensités des mêmes raies des spectres obtenus avec et sans
filtrage
 Comparer les caractéristiques des spectres obtenus
 Interprétation.
2) Mesure du coefficient d'absorption d'un matériau
- Mise en place de l'échantillon (monocristal LiF, 2d = 4.03Å) de telle manière que l'axe du
goniomètre soit dans le plan de sa surface, et que la surface irradiée ou présentée au faisceau
incident, soit minimale. La diffraction du LiF étant très intense, le compteur peut recevoir un
nombre d'impulsion important, créant ainsi une avalanche d'ions au niveau du gaz et endommager le
compteur.
- Mettre une tension et une intensité minimales (20kV, 5mA).
- Procéder à un enregistrement d'un spectre d'émission, sans filtre, pour localiser les raies
K et K de l'anticathode utilisée.
3) Mise en œuvre de la mesure des coefficients d'absorption d'un échantillon d'aluminium

(épaisseur de 0.1mm, densité = 2.7 g/cm3)
- Opérer sans le filtre. Caler manuellement le goniomètre sur les positions 2 des raies K
et K respectivement , en s’aidant de l'affichage digital.
- Lire et enregistrer dans tableau ci-après, le nombre d'impulsions correspondant aux deux
raies I(K) et I(k), respectivement, dix fois et pendant 10 s pour chaque mesure.
- Relever, ainsi, les intensités des raies en présence du filtre : [I(K) et I(k)] ; et en
l’absence du filtre [I0(K) et I0(k)].
- Calculer, à partir de données récoltées, les coefficients d'absorption massique pour les
raies K et K
- Vérifier la qualité des mesures obtenues en appliquant le test du ²
4) Détermination de l'épaisseur d'un échantillon d'aluminium
Il s'agit de mettre en œuvre la même manipulation que précédemment sauf que l'objectif est
de mesurer l'épaisseur d'un échantillon d'aluminium, et ce, en considérant que son coefficient
d'absorption a la même valeur que celle obtenue précédemment.
79
T.P - 4
ABSORPTION des RX (II)
Variation du coefficient d'absorption d'un

matériau en fonction de la longueur d'onde
des RX
80
Du point de vue manipulation, l’enregistrement se fait de la même manière que dans le TP

précédent.
 Installer l’échantillon diffractant de dhkl connu : LiF, 2d(200) = 4.03 Å
 Mettre le filtre dont on cherche à connaître la variation de son coefficient d'absorption, et

qui correspond (tabl. 3) au tube utilisé.
 Procéder à la lecture des impulsions pour chaque pas 2 du compteur choisis tels que :
- 2 = 0.5 ° pour les points situés autour de la discontinuité d'absorption en

2,
- 2 = 5° pour les points loin de la discontinuité,
- Relever l’intensité I avec filtre et I0 sans filtre. Chaque mesure doit être répétée dix fois
successivement, et le comptage se faisant pendant 10 seconde par point. Faire le traitement
statistique.
Elément (K) en Å (K) en Å Filtre Discontinuité de () [Å]
Mo 0.711 0.632 Zr 0.6873

Cu 1.542 1.392 Ni 1.4839
Co 1.790 1.621 Fe 1.7394
Fe 1.937 1.756 Mn 1.8916
Cr 2.291 2.085 V 2.2630
- Tracer µ/ = f() et ln (µ/) = f(ln()).

- Exploiter et discuter les graphes obtenus
- Conclusion.
81
T.P - 5
MISE EN ŒUVRE DE LA
METHODE DIFFRACTOMETRIQUE (I)
Identification de phases
Cas d’un échantillon monophasé
82
1 – Choix des conditions expérimentales
1.1 – Choix du tube et des paramètres de production des RX
1.1.1– Choix du tube, effet de la fluorescence X
(Fe)
k (Cu) =1.54 Å - forte fluoresence
600
k (Co) =1.79 Å ; Fluorescence très réduite
400 k (Fe) =1.94 Å Fluorescence réduite

k (Cr) =2.29 Å Fluorescence réduite
200
Matériau étudié : Fe
1.5 2 (Å)
k (Fe) =1.74 Å
Fig.1 – Choix d'une longueur d'onde incidente
Dans les expériences de diffraction, on cherche à éviter la contribution de la fluorescence

X du matériau étudié. Cette fluorescence X (cf. §III-3) conduit, sur les enregistrements, à un fond
continu important qui peut masquer des pics de diffraction de faible intensité qui sont parfois
indispensable à l'analyse du spectrogramme. Pour éliminer cet effet, on choisit du rayonnement
incident (tube) dont la longueur d'onde de la raie k ne doit pas être plus courte que la longueur
d'onde de la discontinuité K du matériau étudié (fig.1). En d'autres termes, l'énergie des photons de
la raie K utilisée doit être inférieure à l'énergie d'ionisation de la couche K du matériau analysé. Et
ce, naturellement, pour ne pas exciter sa fluorescence X.
Si la fluorescence X due à la raie K est supprimée, le phénomène peut subsister avec les
longueurs d'onde du fond continu située entre min et k, même si l'intensité de celles-ci soit
atténuée au préalable par un filtre.
Exemples :
- Dans le cas de la figure 24, si le rayonnement choisi est celui du tube de cobalt fonctionnant
sous la haute tension de 25 kV, la fluorescence X sera provoquée par les photons de longueur d'onde
situées entre min = 0.496 Å et k = 1.743 Å.
Cette dernière correspondant à la discontinuité d'absorption, appelée K « edge » du Fer.
83
- Dans ce même cas de figure, on peut étudier un acier avec le rayonnement non filtré d'un
tube de chrome (K =2.291 Å), en plaçant un filtre de vanadium (K edge = 2.269 Å) entre le
détecteur et l'échantillon. Ainsi, il absorbera les photons de fluorescence de  < 2.269 Å.
- On peut également étudier un échantillon de fer avec le rayonnement de cuivre (K = 1.54
Å) en plaçant devant le détecteur un filtre d'aluminium qui absorbe plus les photons de fluorescence
du fer (  /  = 85 cm²g-1 ) qui contribue au fond continu, que le rayonnement du cuivre ( / = 49
cm²g-1 ) qui lui, contribue à al diffraction.
1.1.2 – Choix du tube et la distribution des raies de diffraction
On choisit, également, un tube en fonction de la distribution des raies au niveau du spectre

que l'on veut obtenir. Pour un échantillon donné, les premières raies du spectre réalisé avec un tube
de cuivre (K =1.54 Å), par exemple, apparaîtront à des angles relativement grands que si le tube
était en molybdène (K=071 Å). Le spectre va se déplacer vers les petits angles lorsque la longueur
d'onde du tube diminue. Ceci, selon la relation de Bragg : 2d (hkl) sin = n 
1.2– Choix des paramètres de production des RX
1.2.1 – Choix de la THT
Pour avoir un bon rapport I (raie K) / I (bruit de fond), on choisit une THT (tableau 1) de
l'ordre de trois fois la tension d'excitation VK :
VK =12400/K , où K est la longueur d'onde qui correspond à l'énergie d'ionisation Wk de

la couche K des atomes constituant l'anticathode. Au delà de cette valeur, l'intensité globale du
spectre peut être augmentée, mais le bruit de fond sera plus important provoquant parfois le
recouvrement de petites raies de l'échantillon analysé.
Tube Wk (keV) THT (kV)

Cu 8.97 30
Fe 7.11 25
Co 7.70 7.70
Cr 5.90 30
Tableau 1
1.2.2 – Choix de l'intensité du filament
L'intensité du tube est réglée de façon à obtenir la raie K suffisamment élevée. L'intensité
de la raie caractéristique K, mesurée à partir du niveau supérieur du bruit de fond,, est donnée par
relation :
I = Bi (V - Vk)3/2
Avec : B : une constante, i : courant électronique, V : THT appliquée, Vk : Tension excitatrice du

niveau K
84
On choisit en outre, l'intensité électronique i, en sachant que la durée de vie du tube sera
d'aussi grande que l'intensité appliquée sera choisie petite. Ainsi, on ne dépassera guère les 10 à 15
mA, sauf pour des manipulations courtes et spécifiques.
1.3 – Obtention du rayonnement monochromatique
1.3.1 – Filtrage  ou monochromatisation non rigoureuse (fig.2, tableau 2)

Le filtrage repose sur l'absorption différentielle de part et d'autre de la discontinuité
d'absorption des matériaux. Pour obtenir un rayonnement monochromatique on utilise un filtre sous
forme de lame constituée d'un élément tel que sa discontinuité d'absorption K, la plus marquée, se
trouve entre les raies K et K du tube mis en place.
K
Intensité, unité arbitraire (cps)
µ/ (g.cm-2)
K
k=1.39 Å
k=1.54 Å
 (Å)
k=1.48 Å
Fig. 2 - Filtrage  : Cas du cuivre.

(Trait plein : Spectre d'émission – Trait discontinu : Courbe d'absorption du filtre Nickel)
Exemple :
Dans le cas de l’anticathode de cuivre (  K = 1.54 Å,  k = 1.39 Å. ), le filtre le plus
approprié est le nickel dont la discontinuité k est  k = 1.48 Å. Cette dernière est comprise,
effectivement, entre les raies K et K.
85
D'une manière générale, le filtre qui correspond à une anticathode de numéro atomique Z
est celui dont l'élément possède le numéro atomique Z-1. Cette règle n'est pas toujours valable pour
les éléments lourds. Aussi, pour le rayonnement du Mo (Z=42), on prend le filtre de numéro
atomique 40, soit Z -2.
L'épaisseur du filtre est généralement choisie afin d'obtenir un rapport des intensités tell
que :
I (K) / I(k) = 100.
Emission Filtre
Epaisseur
(µm)
K1 K2 K Wk Wk K
Elt Z Elément Z [I(K) /I(K)]
(Å) (Å) (Å) (keV) (keV) (Å)
=100
Mo 42 0.711 0.713 0.632 20.0 (Z-2) Zr 40 17.998 0.689 81
Cu 29 1.542 1.544 1.392 8.979 (Z-1) Ni 28 8.333 1.488 15
Co 27 1.790 1.793 1.621 7.709 (Z-1) Fe 26 7.114 1.743 12
Fe 26 1.937 1.94 1.756 7.114 (Z-1) Mn 25 6.539 1.896 11
Cr 24 2.291 2.294 2.085 5.989 (Z-1) V 23 5.465 2.070 11
Tableau 2
– Monochromatisation rigoureuse (Fig.3)

Le principe du monochromateur repose sur la réflexion sélective du rayonnement par une
famille de plans réticulaires (hkl), de pouvoir réflecteur élevé. On règle la position de réflexion du
monochromateur de telle façon que seule la raie voulue, la K1 par exemple, soit diffractée ou
réfléchie sur le monocristal. L'avantage du monochromateur est son aspect rigoureux dans sa
résolution. L'inconvénient principal qu'il présente est la perte d'intensité qu'il engendre. On peut
utiliser des lames de clivage telles que (001) LiF, (001)- mica, etc.
86
monocristal
(hkl)
2(k1)
(k 1) (k1 )
k1 +k2 +k

+ fond continu k1
Fig.3 – Réflexion sélective du rayonnement k
1.2.3 – Réglage de la haute tension du compteur proportionnel
I(cps) Mo Cu Cr
HV
Fig.4 : Variation de l'intensité (nombre d'impulsions) en fonction de la tension (HV)

appliquée au compteur.
La courbe de variation (fig.4) des impulsions en fonction de la HV est caractérisée par la

présence d'un palier où le nombre d'impulsions reste constant pour une même intensité des RX
incidents. Mais l'amplitude de ces imputions croît en fonction de la même tension. Ce palier
correspond au régime proportionnel du compteur. On règle la HV au tiers de ce palier, selon les
tensions croissantes.
2 - Mise en œuvre de l'analyse qualitative

Les diagrammes de poudre ne sont pas, en général, suffisants pour permettre une
détermination complète de la structure d'un matériau.
87
Un diagramme de diffraction consiste en une liste de distances intérréticulaires

décroissantes correspondante à des angles de diffraction croissants. Actuellement l'utilisation la plus
courante des diagrammes de poudre est l'analyse qualitative, c'est à dire l'identification des phases.
Chaque substance cristallisée présente un diffractogramme unique car les positions des
raies dépendent des dimensions de la cellule élémentaire, tandis que les intensités des raies
dépendent du type d'atomes et de leur arrangement dans le cristal. Par conséquent, chaque
substance ou phase peut être identifiée par son "empreinte digitale" caractérisée par les distances
réticulaires d(hkl) et les intensités des raies (hkl) correspondantes.
2.1 - Enregistrement d'un diagramme de diffraction
On choisit les conditions de diffraction selon l'échantillon à analyser, et en se référant aux

paragraphes précédents. On choisit aussi les paramètres suivants :
- vitesse de rotation du goniomètre
- vitesse de défilement du papier enregistreur
- constante de temps
- le range (ou l'échelle ) des intensités
2.2 - Dépouillement du spectre
- On relève minutieusement les positions angulaires de toutes les raies en utilisant la méthode
manuelle du milieu de la corde à mi-hauteur (fig.5) et leur intensité en coups par seconde (cps))
respective. Le bruit de fond étant soustrait auparavant.
- On calcule les distances inter réticulaires dm et les intensités relatives Im/I0 de toutes les
raies. I0 est l'intensité de la raie la plus intense.
- On dresse la liste sous forme de tableau, où les raies sont classées selon les dm décroissants
avec leur intensité relative.
88
Raie 2° Sin() I(cps) I/I0(%) d(Å)

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Tableau 3 - Présentation des résultats du dépouillement d’un spectre
Raies d(Å) I/I0(%)

1
2
3
Tableau 4 : Classement des trois raies les plus intenses
3 - Evaluation
3.1 – description des fichiers
Jusqu'à présent environ 60000 phases ont été dénombrées et collectées tout d'abord par
Hanawalt de la Dow Chemical Compagny (1936), puis constitués en fichiers par l'American Society
for Testing and Material (ASTM entre 1941 et 1968) et actuellement par le Joint Comittee on
Powder on Power Diffraction Standard (JCPDS depuis 1969). Environ 2000 phases sont
répertoriées chaque année.
JCPDS Powder Diffraction file (PDF) publie ainsi les trois fichiers suivants pouvant être
subdivisés selon les phase inorganiques, minéralogiques, organiques et organo-métalliques :
a) Une recherche manuelle selon la méthode de Hanawalt éditée sous forme de livre et
répertoriant les phases suivant les valeurs des distances inter-réticulaires.
89
b) Un index classifié par ordre alphabétique des phases comprenant les formules
chimiques, les valeurs des distances inter-réticulaires des trois raies les plus intenses et le numéro
de la carte PDF.
c) Une bibliothèque de toutes les fiches comportant un maximum d'informations.
3.2 - Recherche des phases
Nous présentons deux méthodes, l'une manuelle de Hanawalt et la méthode automatique de

Jonhson-Vand.
3.2.1 – Recherche manuelle de Hanawalt
Elle consiste à repérer dans le fichier de recherche les trois raies les plus intenses enregistrées.
Les données sont préparées suivant les d (d1, d2, …) décroissants avec des intensités relatives
à la raie la plus intense normée à 100.
Parmi les fichiers, on cherche celui où apparaît dm de la raie la plus intense et on sélectionne
les phases en tenant compte de la tolérance sur d. Par exemple, si d = 2.68 Å avec (d = 0.01 Å) on
choisit entre d = 2.67 Å et d = 2.69 Å. On regarde ensuite si d2 et d3 sont présents dans le sous-
groupe et s'ils sont appareillés avec une phase en contrôlant les intensités relatives.
Un dernier test consiste à confirmer la phase avec la fiche complète.
Tandis que la méthode reste relativement simple dans le cas d'une seule composante (et si
les données sont correctes), la méthode risque d'être ardue dès que deux et à fortiori plusieurs
phases sont mélangées. L’identification devient encore lus délicate quand on est en présence de
superposition de raies correspondant à différentes phases.
3.2.2– Recherche automatique de Jonhson - Vand
Cette stratégie, la plus utilisée, compare le diagramme complet de l'échantillon inconnu,

successivement à chaque fiche JCPDS. On peut explorer toutes ces fiches en moins d'une minute.
Mais pour diminuer le temps d'acquisition on peut se référer à la composition chimique, à la
provenance de l'échantillon ou à un fichier plus réduit comme l'organique ou le minéralogique.
Le principe est le suivant : pour chaque standard (ou fiche), la raie la plus intense est
examinée en premier (alors que dans la méthode manuelle, c'est la raie la plus intense de l'inconnue
qui est considérée en premier), puis vérifiée si elle est présente dans l'inconnu. Si c'est le cas alors
on vérifie si la deuxième puis la troisième raie est vérifiée, et ainsi de suite. Dans la plupart des cas
les trois raies les plus intenses sont suffisantes pour la première identification. La comparaison doit
tenir compte de la position et de l'intensité des raies. Ensuite on vérifie la superposition des autres
raies pour valider.
90
Fiche caractéristique d’une phase
91
Lecture
Histoire, Protection & Applications des RX
1) Historique
____L'histoire des découvertes en optique ondulatoire est passionnante et exemplaire en ce

qui concerne les étapes d'une vraie démarche scientifique. Nous n'en donnerons dans ce texte de
manipulation qu'un bref résumé. La bibliographie et les liens internet permettront à ceux qui
aiment la Physique et son histoire de compléter leurs connaissances.
C'est en 1657 [1] que le mathématicien français Pierre Fermat (1601-1665) énonce le
premier principe fondamental de l'optique dont nous donnons ici la forme initiale:
"La nature agit toujours par les voies les plus courtes"
Pierre Fermat contestait vigoureusement les propositions initiales de Descartes qui servaient
de base à sa Dioptrique. Descartes supposait en effet que la vitesse de la lumière était plus faible
dans l'air que dans l'eau. La controverse fut très vive. Il qualifiait la démonstration de l'auteur du
fameux "discours de la méthode" de "véritable paralogisme" En utilisant son principe et des
suppositions inverses, Fermat, qui ne disposait pas des facilités du calcul intégral parvenait
cependant démontrer mathématiquement les mêmes lois de la réfraction que Descartes.
Dans les ouvrages actuels, sans doute pour éviter toute confusion avec "le principe
du moindre effort", l'énoncé du principe de Fermat est proposé sous une forme moins
générale, mais plus explicite :
"La lumière se propage d'un point à un autre sur une trajectoire telle que la durée du parcours
soit minimale ou plutôt stationnaire"
La notion de chemin optique en découle directement. On en déduit les lois de la réflexion, de

la réfraction et plus généralement celles de l'optique géométrique. Les notions de stigmatisme des
systèmes optiques dans la formation des images font également appel au principe de Fermat. Les
calculs de chemins optiques jouent un rôle fondamental dans l'interprétation des phénomènes de
diffraction et d'interférence.
On attribue la découverte de la diffraction au père jésuite italien de Bologne Francesco

Grimaldi [1] (1618-1663). Citons la première proposition de son ouvrage publié en 1665 :
"Physico-mathesis de Lumine, coloribus et iride"
92
___" Lumen propagatur seu diffunditur non solum Directe, Refracte, ac Refexe, sed etiam
Quatro modo, Diffracte."
Enfermé dans une chambre obscure il perçait de minuscules ouvertures dans un rideau noir
exposé au soleil. Il interposait sur le trajet du faisceau un écran percé d'un petit trou ou une fente,
un bord d'écran, des fils, des cheveux, de la toile, des plumes d'oiseaux. Chaque fois il observait sur
un écran placé derrière ces objets, des franges irisées en dehors du trajet géométrique normal. Il
suppose donc que le changement de trajectoire de la lumière lors de son passage à proximité
d'objets opaques, est la conséquence d'un phènomène nouveau qu'il appelle diffraction.
Grimaldi a probablement observé des interférences avec deux sources proches. Mais ses
descriptions ne sont pas suffisamment précises pour conclure.
2) Protection des rayonnements

Les rayonnements mous utilisés en radiocristallographie sont facilement absorbés par les
tissus humains et sont donc très dangereux. Une exposition de courte durée des mains au
rayonnement direct peut causer des brûlures douloureuses qui peut mettre plusieurs années à se
guérir. Il faut avoir à l'esprit que les effets ne sont pas immédiatement douloureux. Des atteintes
aussi sérieuses peuvent être produites par les rayonnements diffusés par les sources secondaires
telles que fentes primaires et secondaires, entrée du détecteur, etc. Ne pas faire de manipulations
utilisant les RX dans des lieux non aérés. L'air ionisé ambiant peut provoquer des maux de tête et
un fourmillement au niveau de la peau qui risquent de provoquer des complications insoupçonnées.
Malgré les efforts des constructeurs pour pouvoir ajuster un appareil automatiquement, il
existe encore des cas où on est amené à effectuer un ajustement manuel. Dans ce cas, on utilisera
des outils de réglage longs, ainsi qu'une protection par panneaux de verre plombé ou de feuilles
de plomb.
Des propriétés des rayons X découlent un certain nombre d’applications qui en font
l’importance pratique.
3) Applications des RX
Le rayonnement X est particulièrement utilisé dans les domaines de la recherche scientifique, de

l'industrie et de la médecine.
- Recherche
L'étude des rayons X a joué un rôle essentiel en physique théorique, en particulier dans le
développement de la mécanique quantique. Les rayons X ont permis aux physiciens de confirmer
expérimentalement les théories de la cristallographie. En utilisant des méthodes de diffraction des
rayons X, il est possible d'identifier des substances cristallines et de déterminer leur structure.
Pratiquement toutes les connaissances actuelles dans ce domaine ont été découvertes ou vérifiées
par examen aux rayons X. Il est également possible d'appliquer des méthodes de diffraction des
93
rayons X à des substances réduites en poudre, non cristallines mais affichant une certaine
régularité de structure moléculaire. Au moyen de telles méthodes, il est possible d'identifier des
composants chimiques et de déterminer la taille de particules ultramicroscopiques. Les éléments
chimiques et leurs isotopes peuvent être identifiés par la spectroscopie à rayons X, qui détermine
les longueurs d'onde des raies caractéristiques dans leurs spectres. Plusieurs éléments ont été
découverts par analyse de leurs spectres de rayons X.
La microradiographie permet de produire des images à grain fin, qui peuvent être
considérablement agrandies. Il est possible de combiner deux radiographies dans un projecteur
pour produire une image tridimensionnelle appelée stéréoradiogramme. On utilise également la
radiographie en couleur pour renforcer le détail des radiographies ; dans ce processus, des
différences d'absorption des rayons X par un spécimen sont qualifiées de couleurs différentes. Des
informations très détaillées sont fournies par la microsonde électronique, qui utilise un faisceau
d'électrons très précisément défini pour générer des rayons X dans une zone de spécimen ne
dépassant pas 1 µm2.
- Industrie
Outre les applications de recherche des rayons X en physique, chimie, minéralogie,

métallurgie et biologie, les rayons X sont utilisés dans l'industrie comme outil de recherche et pour
de nombreux processus de test. Ils sont précieux pour tester des moulages métalliques sans les
détruire. Des images par rayons X sur des plaques photographiques révèlent la présence de taches,
mais l'inconvénient d'une telle inspection est que l'équipement de radiographie à énergie
nécessairement très élevée est encombrant et onéreux. Dans certains cas, par conséquent, on les
remplace par des radio-isotopes, qui émettent des rayons gamma très pénétrants. Ces sources
d'isotopes peuvent être enchâssées dans des conteneurs relativement légers, compacts et blindés. En
radiographie industrielle, les techniciens ont utilisé le cobalt 60 et le césium 137. Le thulium 70 a
été utilisé dans des projecteurs à isotopes petits et commodes pour certaines applications médicales
et industrielles.
De nombreux produits industriels subissent une inspection de routine au moyen de rayons X,

qui permet l'élimination des produits défectueux dès la production. La détection de gemmes fausses
et de marchandises de contrebande lors des contrôles douaniers utilise aussi les rayons X. On
utilise des rayons X ultradoux pour prouver l'authenticité d'œuvres d'art et pour restaurer des
images.
- Médecine
Les radiographies et la fluoroscopie sont très couramment utilisées en médecine comme outils
de diagnostic. En radiothérapie, les rayons X sont utilisés pour traiter certaines affections, comme
par exemple le cancer, en exposant des tumeurs aux rayons X.
La valeur des radiographies à des fins de diagnostic provient des propriétés pénétrantes des
rayons X. Quelques années à peine après leur découverte, les rayons X ont été utilisés pour
localiser des corps étrangers, des balles par exemple, à l'intérieur du corps humain. Avec
l'amélioration des techniques d'examen par rayons X, la radiographie a révélé d'infimes altérations
94
des tissus et de nombreux états pathologiques ont pu être diagnostiqués par ce moyen. Les rayons X
ont fourni la plus importante méthode de diagnostic de la tuberculose lorsque cette maladie est
déclarée. Les images des poumons étaient faciles à interpréter, car les espaces remplis d'air sont
moins opaques aux rayons X que les tissus pulmonaires. Diverses autres cavités corporelles
peuvent être remplies artificiellement avec des substances de contraste, plus ou moins opaques que
les tissus environnants, de manière qu'un organe particulier apparaisse plus distinctement sur
l'image. Le sulfate de baryum, très opaque aux rayons X, est utilisé pour radiographier le tractus
gastro-intestinal. Certains composés opaques sont administrés par voie orale ou intraveineuse
avant l'examen des reins ou de la vésicule biliaire. De telles teintures peuvent avoir des effets
secondaires importants et ne devraient être employées qu'après une consultation minutieuse.
L'utilisation du diagnostic par radiographie a diminué récemment par suite de la concurrence
d'autres méthodes d'investigation parfois plus fiables et moins dangereuses (endoscopies, scanner,
échographie, etc.).
Un appareil de radiographie à rayons X offre des vues anatomiques claires de n'importe

quelle partie du corps humain, y compris des tissus mous. L'appareil de tomograpie axiale
informatisée (CAT ou CT) tourne de 180° autour du corps d'un patient, en émettant un faisceau de
rayons X fin comme un pinceau en 160 points différents. Des cristaux placés face au faisceau
recueillent ce dernier et enregistrent les taux d'absorption des diverses épaisseurs de tissus et d'os.
Ces données sont ensuite retransmises à un ordinateur, qui les transforme en une image à l'écran.
En utilisant le même dosage de rayonnement que celui de la machine à rayons X conventionnelle, il
est possible de rendre environ cent fois plus claire tout une « tranche » du corps humain. Le
scanner a été inventé dans les années 1970 par Godfrey Hounsfield, ingénieur en électronique
britannique, et il devint d'usage courant vers 1979.
L'absorption faible des rayons X par la matière donne un moyen d’explorer l’intérieur
d’objets opaques aux radiations lumineuses. Le principe consiste à faire l’ombre de l’objet à partir
d’une source ponctuelle sur un écran fluorescent ou un film photographique; suivant l’épaisseur de
l’objet à traverser, on change la longueur d’onde moyenne du rayonnement, donc le coefficient
moyen d’absorption, en réglant la tension appliquée au tube à rayons X, de 10 kilovolts pour les
objets minces et légers à 300 kilovolts pour les pièces métalliques épaisses (10 cm d’acier). Les
variations de l’intensité de l’image correspondent soit à des variations d’épaisseurs si l’objet est
homogène, soit à des variations de composition chimique pour des objets hétérogènes, soit à la
combinaison de ces deux causes.
La radiographie est utilisée en médecine pour l’observation de l’intérieur du corps humain.

Les différences de densité des tissus, comme les os et la chair, des cavités ou des corps étrangers
sont rendues visibles. Si l’on injecte des substances à hauts poids atomiques, on en suit la
répartition dans le sang par exemple.
Les doses reçues par le patient en radiographie sont assez faibles pour être inoffensives. Par
contre, on utilise aussi en radiothérapie les rayons X à doses considérablement plus fortes pour
détruire certains tissus, la difficulté étant de déterminer la géométrie des faisceaux et leur intensité
pour minimiser les effets nocifs sur les tissus sains.
La radiographie industrielle est utilisée pour contrôler l’état interne de pièces en cours de
fabrication ou terminées : détection des hétérogénéités dans les pièces coulées, qualité des
soudures des circuits électriques à l’intérieur d’un isolant opaque, etc.
95
Le pouvoir de résolution d’une radiographie est limité par la dimension de la source et par la
superposition des ombres provenant de toute l’épaisseur de l’objet. Avec des tubes à foyer très fin
(inférieur à 1 mm), l’objet étant près de la source, on obtient sur un film placé à grande distance
des ombres agrandies et d’une netteté telle que l’on distingue des détails de l’ordre de grandeur du
diamètre de la source. Une autre technique, la microradiographie, consiste à choisir un objet sous
forme de lamelle très mince appliquée contre le film. Avec des rayons mous (tension de l’ordre de
1 kV), on arrive à obtenir des images de coupes biologiques permettant de localiser les éléments
lourds à l’échelle du micron, ce qui est un complément très important de l’examen usuel de la
préparation au microscope optique.
- L’analyse radiocristallographique
La détermination de la structure atomique des molécules dans les cristaux est un outil
essentiel du chimiste et du biochimiste. Un autre usage de la diffraction des rayons X est la
recherche des phases dans une poudre de microcristaux. En effet, le diagramme de poudre de
l’échantillon est la superposition des diagrammes des phases cristallisées constituantes. Pour les
identifier, il existe des programmes informatiques à partir des données sur les phases pures,
Powder Diffraction Data, recueillies et classées par International Centre for Diffraction Data
(États-Unis). En 1995, ce fichier comporte soixante mille espèces. Cette méthode d’analyse est
utilisée en métallographie (structure des alliages), en chimie du solide et en minéralogie.
Pour une phase connue, le diagramme de diffraction peut donner des informations détaillées,
la grandeur exacte de la maille dépendant des impuretés dissoutes dans la phase et de son état de
tension élastique. Les variations sont très faibles, mais la précision de la mesure des paramètres de
la maille est telle que ces variations sont utilisables quantitativement.
Le cristal réel contient des défauts qui perturbent la parfaite périodicité du cristal idéal
parfait : défauts localisés (lacunes, dislocations, macles, entre autres) ou répartis (ordre imparfait
dans l’alternance des atomes d’un alliage métallique). Il existe des techniques spéciales de
diffraction qui peuvent mettre en évidence ces défauts dont le rôle est important dans la physique
du métal: technique de Lang pour la photographie des lignes de dislocation, diffusions anormales
provoquées par l’ordre imparfait des atomes dans un cristal mixte.
Dans les solides amorphes ou les liquides, il n’existe plus d’ordre à grande distance, mais,
néanmoins, la disposition des proches voisins d’un atome donné n’est pas complètement irrégulière
comme dans un gaz: on dit qu’il y a un ordre à petite distance, et c’est ce qui caractérise la
structure de l’état amorphe. La diffraction des rayons X est capable d’indiquer la répartition
statistique des atomes par rapport à un atome pris comme origine. C’est la seule information que
l’on tire des données expérimentales. Il y a d’ailleurs de grandes similitudes en ce qui concerne
l’ordre à petite distance dans des substances de compositions et de propriétés différentes: cela
tient, en particulier, au fait que le paramètre important dans l’empilement des atomes est leur taille
et que celle-ci varie relativement peu d’une espèce à l’autre. Aussi les diagrammes de diffraction
d’un corps amorphe ne permettent-ils pas de l’identifier, comme cela se fait avec les phases
cristallisées.
- La spectrographie X
L’application fondamentale des spectres caractéristiques des différents atomes est la
96
détermination des niveaux d’énergie des électrons. Dans ce cas aussi, il existe des applications plus
pratiques qui sont actuellement fort répandues.
L’intérêt de la spectrographie X tient à ce que les différents atomes de l’émetteur sont

caractérisés séparément les uns des autres. Le spectre observé est, avec une très bonne
approximation, indépendant des combinaisons entre atomes. En outre, un autre avantage est la
simplicité des spectres: ceux-ci sont semblables pour les différents atomes et comportent un faible
nombre de raies qui sont faciles à identifier, même si l’émetteur contient des éléments de nombres
atomiques voisins. Ainsi, à l’aide des tables de longueurs d’onde de tous les éléments, le
dépouillement du spectre émis par un émetteur contenant plusieurs sortes d’atomes est aisé, ce qui
permet une analyse quantitative élémentaire de l’émetteur. Mais l’intensité des raies émises par
deux éléments est fonction des proportions relatives de ces éléments. On conçoit donc qu’avec
l’aide des spectres étalons obtenus avec des mélanges de proportions connues on puisse faire une
analyse quantitative.
Pour exciter le spectre X, il y a deux procédés: soit bombarder l’échantillon avec des
électrons (excitation directe), soit avec des rayons X de courte longueur d’onde (fluorescence).
La seconde méthode est plus aisée car l’échantillon peut être irradié dans l’air par un tube
fonctionnant sous haute tension. Tel est le principe de l’analyse par fluorescence X, qui s’est
beaucoup développée dans les laboratoires industriels parce que c’est une méthode non destructive
d’analyse élémentaire du solide. Chaque élément est caractérisé par la raie d’émission la plus
intense; on dispose les détecteurs de façon à enregistrer ces raies. Ainsi, la réponse de ces
détecteurs peut être enregistrée puis traitée par ordinateur de façon à donner les proportions des
éléments cherchés dans l’échantillon: il existe des analyseurs automatiques à fonctionnement
continu. La composition d’un produit (par exemple, une tôle d’alliage ou un mélange
d’alimentation d’un four à ciment) peut être contrôlée et éventuellement modifiée instantanément.
Si les analyses qualitatives ou semi-quantitatives sont très aisées, il est nécessaire de prendre
d’assez nombreuses précautions expérimentales et de faire subir de multiples corrections aux
résultats bruts pour arriver à une analyse quantitative précise sans erreurs systématiques.
L’excitation par électron du spectre d’émission est plus compliquée puisque l’échantillon doit
être introduit dans le vide; elle est utilisée dans la microsonde électronique (Castaing, 1952) parce
que l’on peut réaliser une analyse ponctuelle de l’échantillon. Le faisceau d’électrons excitateurs
est focalisé sur une surface de l’échantillon de l’ordre de 1 micromètre carré. Comme la
pénétration des électrons est de l’ordre de 1 micromètre, le volume émetteur est de 1 micromètre
cube. Par déplacement de l’échantillon sous le faisceau, on explore point par point sa surface;
l’indication des détecteurs disposés de façon à enregistrer la raie caractéristique principale d’un
élément reproduit la variation de la teneur de cet élément d’un point à un autre.
Dans les microsondes actuelles, la réponse du détecteur peut être envoyée sur l’écran d’un
oscillographe cathodique qui est balayé en synchronisme avec le mouvement de l’échantillon.
Ainsi, on obtient sur l’écran la carte de la répartition d’un élément avec un pouvoir séparateur de
l’ordre de celui d’un microscope optique. En changeant le réglage du détecteur, on obtient
successivement les cartes de répartition des divers éléments. L’analyse quantitative, après des
corrections diverses, atteint une précision de l’ordre de 1 p.100.
97
Repères
1895 : ROENTGEN, découverte des rayons-X
1905 : BARKLA, démonstration du comportement ondulatoire des rayons-X
1912 : EWALD, étude de la propagation de la lumière dans les cristaux [thèse de Ph.D.]
1912 : von LAUE, réalisant que la distance interatomique cristalline est de l 'ordre de la longueur
d'onde de rayons-X, suggère à FRIEDRICH et à KNIPPING, sur la base des travaux de EWALD, de vérifier
que les cristaux agissent comme réseaux de diffraction pour les RX
1912 : FRIEDRICH et KNIPPING, expérience concluante de la prédiction deVon LAUE
1913 : W.L. BRAGG, explication des résultats expérimentaux de F & K [condition de diffraction]
1913 : W.H. BRAGG, réalisation du premier spectromètre à RX. Obtention des spectres X du NaCl,
de KCl et de KBr
1913 : SOMMERFELD, calcul de l'intensité des pics de diffraction X. Notion de facteur de forme
atomique et de facteur de structure
Bibliographie
- Guinier A., Théorie et technique de la radiocristallographie (1956) Dunod, Paris.
- Cullity B.D., Elements of X-Ray Diffraction (1956) Addiso-Wesley Publishing
Company, Inc.
- J. P. Eberhart, Méthodes physiques d“étude des minéraux et des matériaux solides, Doin, Editeurs,
1976.
- R. Jenkins et R. L. Snyder, Introduction to X-ray powder diffractometry
vol. 138 in Chemical Analysis: A series of monographs on analytical chemistry and its
applications (J. D. Winefordner editor), éd. Wiley Interscience, 1996
- J.-P. Eberhart Analyse structurale et chimique des matériaux,

éd. Dunod (Paris), 1997
- J. Protas, Diffraction des rayonnements, Dunod éd., 1999.

- N. Broll – Caractérisation de solides cristallisés par diffraction X. PE 1 080, Traité,
Analyse et Caractérisation.
- A. Guinier, Théorie et technique de la radiocristallographie, Dunod éd., 1964.

- Cohen – Tanoudji C., Mécanique quantique, Vol. 1et 2, Collection Enseignement des
- Diu B. Laloe F., Sciences. Hermann ed., 1977.
- Vasco Ronchi "Histoire de la lumière" Librairie Armand Colin 1956"
- José-Philippe Pérez ; Optique géométrique et ondulatoire; Editions Masson 1994
98
- Les cahiers de Science & Vie n°5: " Fresnel : qu'est-ce que la lumière"
- Les cahiers de Science & Vie n°25 "Comment on a réussi à mesurer la vitesse de la lumière"
- Les cahiers de Science & Vie n°17 "Maxwell ou les champs de la lumière"
- Les cahiers de Science & Vie n°30 "Hertz : comment il a révélé l'existence des ondes radio"
- P. Fleury J.P. Mathieu : Images Optiques Editions Eyrolles 1960 p.236
99

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Université Mentouri de Constantine

Faculté des Sciences

Pr. Lounis CHEKOUR

2.2 - Monochromateur secondaire

MISE EN ŒUVRE DE LA METHODE DIFFRACTOMETRIQUE

GENERALITES SUR LES RX ET LA

La méthode de diffraction de poudres est traditionnellement utilisée pour l'identification de

I – PROPRIETES DES RAYONS X

fluorescence microscope laser spectrométrie de fluorescence X

Tableau 1 - Méthodes d'analyse utilisant un rayonnement incident électromagnétique

I.1 - Nature des rayons X

Radiations Ondes Radioélectriques Circuits

0.05 0.5 1 2.5  (Å)

Fig. 2 - Domaines de longueur d'onde des RX durs et mous (1 Å = 0.1nm =10-10 m)

Avec : - h = 6.6254 10-34 joules. Seconde, constante de Planck

de l'énergie à la longueur d'onde :

L'intensité d'une onde électromagnétique est proportionnelle au carré de l'amplitude du

I.2 - Production des rayons X

I.2.1 - Tubes à rayons X

I.2.1.1 - Tube de Coolidge

Les caractéristiques d’un tube à RX sont reportées dans le tableau 2.

Fig.3 - Détails d’un tube classique à RX

Fig. 4 - Schéma d’un tube à rayons X.

Foyer optique Puissance (W)

Tableau 2 – Caractéristiques des tubes à rayons X

I.2.1.2 - Tube à anode tournante

Le rayonnement synchrotron est un autre exemple du champ électromagnétique rayonné par

Dans le cas du synchrotron, le rayonnement X est obtenu à partir d’électrons ou de positrons

I.2.2 - Spectre d'émission d'un tube à RX

I.2.2.1 - Spectre continu

anticathode de tungstène. Les faits essentiels sont les suivants :

D’après l’électromagnétisme classique, un électron en mouvement accéléré émet une

Comme l'interaction coulombienne dépend directement de la distance de l'électron au noyau,

Où : h est la constante de Planck,  la fréquence du rayonnement, e la charge de l’électron et c

L'énergie du fond continu a pour expression :

Où, A = constante de proportionnalité,

Fig. 6 - Origine du spectre continu : Rayonnement de freinage ou Bremsstrahlung.

La forme du spectre dépend du numéro atomique Z de l’atome (fig.7b), de l'intensité I et de la

min1min2 min3 (Å) (Å)

Fig.7 - Variation du spectre du fond continu en fonction (unités arbitraires) :

Expression dans laquelle c et  sont des constantes,  étant voisine de l’unité.

Si Wi (i = k) et Wf (f = L) sont les énergies initiale et finale, la raie émise aura la fréquence,

Fig. 9 - Excitation (a) et désexcitation (b) d'un atome.

L'intensité des raies caractéristiques dépend du courant du tube i, de la tension appliquée V et

I(k1) 2I(k2) ; I(k1) 10I(k)

Elément K1(Å) K2(Å) K(Å) K1(Å)

La longueur d’onde de la raie K non résolue :

Les matériaux peuvent être classés selon qu’ils présentent :

- une structure parfaitement désordonnée comme les gaz monoatomiques,

Initialement, le domaine de la cristallographie était limité à l’étude géométrique des cristaux.

II.1 - Réseaux cristallins

II.1.1 - Cristal monoatomique

C’est un empilement infini et régulier d'atomes identiques :

Un réseau est un ensemble de points, ou "nœuds", en 3 dimensions, qui présente la propriété

Fig. 11 - Invariance par translation dans un réseau

Fig. 12 - Illustration de la notion de motif et de réseau dans un carrelage

Les principales symétries sont :

Fig.13 - Principales symétries cristallines

Fig. 14 - Exemple de mailles élémentaires dans des réseaux à deux dimensions

II. 1.3 - Paramètres de maille (fig. 16)

Fig. 16 - Paramètre de 4 types de maille classiques

II. 1.4 - Plans nodaux (plans atomiques) et indices de Miller

Fig. 17 - Plans nodaux, vecteurs normaux et distance inter-réticulaire