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Réalisé par:
BAZINE Sofiane
HARA Hamza
IKHLEF Idir
Plan de travail
I)-Rayon x
1)- Introduction
2)- Principe de l’émission
3)- Les propriétés des rayons X
II)- Diffraction des rayons X
1)- Introduction
2)- La loi de Bragg
3)- Formation des pics de diffraction:
4)- Identification de la structure cristalline
5)- Les principaux résultats de l’analyse DRX
III)-Conclusion
I)-Rayon x:
1)- Introduction:
n : l’ordre de la diffraction.
dhkl : la distance inter planaire (entre deux plans
consécutifs) de la famille.
θ : angle de diffraction.
λ : longueur d’onde des rayons X.
3)-Formation des pics de diffraction:
Dans un diffractomètre, un détecteur ou compteur mesure
l’intensité du rayonnement X diffracté dans certaines
directions. Il tourne autour du même axe mais à une vitesse
double de celle de l’échantillon. L’enregistrement réalisé est
appelé diffractogramme ou spectre, c’est la courbe de
l’intensité des rayons X diffractés en fonction des angles de
diffraction.
Donc pour certains angles de déviation 2θ (angle entre le
faisceau RX diffracté et le faisceau incident), on détecte des
rayons X (interférences constructrices ), ce sont les pics du
diffractogramme (spectre), ces angles de déviation sont
caractéristiques de l’organisation des atomes dans la maille
cristalline.
4)-Identification de la structure cristalline:
Les positions (2θ) des différents pics de diffraction
représentent la signature du matériau étudié. Les
distances dhkl peuvent être déduites par la relation de
Bragg. Les différentes distances interréticulaire dhkl (ou 2θ )
des milliers de matériaux naturels ou artificiels sont
disponibles sous forme de fiches, appelées fiches JCPDS
(Joint Committee of Powder Diffraction), elles ont été
élaborées par l'ASTM (American Society for Testing
Materials) et constituent la référence.
L'identification se fait
manuellement (on indexe
les pics) ou maintenant
automatiquement par
les logiciels d'identification
et les banques de données
de références JCPDS.
K= D (λ/β cosθ)
Avec
D: taille moyenne des grains
λ: longueur d’onde des rayons X
β: Élargissement réel de la raie de diffraction
θ: Angle de diffraction.
Lorsque β est pris à mi hauteur de la raie de diffraction, la
constante K=0.9.
Dans ce cas β est désigné par l’abréviation FWHM: Full Width
at Half Maximum.