Cahier de TP de nanophysique

Pré-orientation 2IMACS
Pour toute question ou problème relatifs aux travaux
pratiques ou pour envoyer vos justificatifs d’absence
vous pouvez contacter :
Pier Francesco FAZZINI
(fazzini@insa-toulouse.fr)
 Table des matières

1 Fonctionnement général 5
1.1 Organisation des Séances . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
1.2 Compte rendu et évaluation. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
1.3 Absences . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
1.4 Consignes de sécurité pour les manipulations d’optique . . . . . . . . . . 6

2 Interférences 7
2.1 Cohérence de la source . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
2.2 Observation de la figure finale . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
2.3 Bifente de Young . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
2.3.1 Réalisation de l’expérience . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.3.2 Interprétation des résultats . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.4 Biprisme de Fresnel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
2.4.1 Réalisation de l’expérience . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
2.4.2 Interprétation des résultats . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
2.5 Anneaux de Newton . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
2.5.1 Réalisation de l’expérience . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
2.5.2 Interprétation des résultats . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15

3 Diffraction 16
3.1 Figure de diffraction d’une fente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
3.2 Figure de diffraction d’un réseau . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
3.2.1 Réalisation des expériences . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
3.2.2 Activités pendant la séance . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
 4

4 Spectroscopie 22
4.1 Rappels Théoriques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
4.1.1 Effet photoélectrique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
4.1.2 Le puits de potentiel quantique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
4.1.3 Réseaux optiques et spectroscopie de longueur d’onde . . . . . . 23
4.1.4 Effet Franck/Hertz . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
4.2 Manipulations et expériences . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
4.2.1 Activité principale : Absorption de lumière par des nanoparticules 27
4.2.2 Activité secondaire I : comprendre l’effet Franck/Hertz . . . . . . 29
4.2.3 Activité secondaire II : comprendre le fonctionnement d’un spec-
tromètre commercial . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
4.2.4 Activité secondaire III : « construire » un spectromètre . . . . . . 30
4.2.5 Activité secondaire IV : mesure de la constante de Planck par effet
photoélectrique . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
 1. Fonctionnement général

1.1 Organisation des Séances

Ces travaux pratiques se composent de trois séances encadrées pendant lesquelles vous
réaliserez des expériences de :
• Interférences
• Diffraction
• Spectroscopie, Franck/Hertz et effet photoélectrique
Vous trouverez dans ce cahier une description détaillée du travail à effectuer pendant ces
trois séances. Merci de suivre l’ordre proposé, les consignes données et de s’assurer de
connaître les réponses aux différentes questions posées dans le texte.
N’oubliez pas que les intervenants seront à votre disposition en cas de difficultés.
Pensez à lire ce document avant les TP pour être sûrs de maîtriser les connaissances
théoriques nécessaires à la réalisation et la compréhension des TP. Révisez le cours avant
la séance si ce n’est pas le cas.
L’ordre des séances est différent pour les différents binômes et il vous sera communiqué
par mail avant le début des TP pour vous permettre de préparer les séances.
1.2 Compte rendu et évaluation. 6

1.2 Compte rendu et évaluation.

A la fin de chaque séance vous devrez donner aux intervenants un compte rendu
qui permettra votre évaluation. Merci d’y indiquer tous vos résultats de mesure et les
réponses aux différentes questions que vous trouverez dans ce cahier. Soyez précis et
concis pendant sa rédaction.
Votre note finale de TP sera obtenue en faisant la moyenne des notes obtenues sur les
différents comptes rendus.

1.3 Absences
Vous devez être présents à TOUTES LES SÉANCES. Toute absence non justifiée
entraînera une note finale de TP de zéro. Si votre absence est justifiée merci d’envoyer
un justificatif au responsable des TP (fazzini@insa-toulouse.fr) DANS LES JOURS QUI
SUIVENT le jour de votre absence.

1.4 Consignes de sécurité pour les manipulations d’op-

tique
Veuillez respecter scrupuleusement les consignes suivantes :
• Danger Laser : le rayonnement laser provoque des dommages irréversibles sur la ré-
tine. En conséquence ne jamais manipuler d’éléments avec les yeux au même niveau
que le faisceau, toujours repérer la trajectoire du faisceau pendant la manipulation.
• Danger rayonnement UV : les lampes à vapeur de Mercure émettent dans la gamme
des ultraviolets. Éviter de regarder directement leur lumière.
• Danger Thermique : les lampes à vapeur de mercure chauffent la cage métallique
qui les contient. Attention au danger de brûlure.
• Risque électrique : le démarrage des lampes à vapeur nécessite une haute tension :
en conséquence ne toucher à aucun élément électrique.
• Matériel fragile : faire attention aux lentilles et autres dispositifs fragiles. Éviter de
mettre les doigts sur un élément optique. Ne pas positionner les filtres près d’une
source de chaleur sous peine de détérioration.
 2. Interférences

Dans cette séance on s’intéressera aux interférences optiques, c’ est à dire aux phéno-
mènes qui se produisent quand deux ondes lumineuses se superposent dans l’espace. Pour
que le phénomène d’interférences soit visible les ondes doivent idéalement avoir la même
phase et la même longueur d’onde. Cela n’est pas une condition facile à obtenir dans la
pratique.
Le problème de la longueur d’onde peut être résolu en se servant de filtres monochro-
matiques ou d’une source monochromatique. C’est pour cela que pour les différentes
expériences on se servira de filtres colorées si l’éclairage est réalisé en lumière polychro-
matique ou d’un faisceau laser.
Le problème du déphasage entre les ondes pour les sources de lumière non cohérentes
peut être résolu en séparant une onde initiale sinusoïdale en deux parties qui sont par la
suite amenées à interférer. Plus en particulier :
• dans le montage de type bifente le faisceau sera séparé en deux parties grâce à deux
ouvertures.
• dans le montage de type biprisme le faisceau sera séparé en deux parties grâce à un
prisme.
• dans le montage de type anneaux de Newton le faisceau sera séparé en deux parties
grâce à la réflexion partielle de l’onde sur la surface d’une lentille et d’une lame de
verre.
2.1 Cohérence de la source 8

F IGURE 2.1 – Ondes sinusoïdales (a) et superposition d’ondes sinusoïdales déphasées (b)

2.1 Cohérence de la source

Pour que l’onde initiale soit approximativement sinusoïdale il faudra soit se servir
d’une source cohérente (comme le laser) soit d’une fente initiale, quand l’éclairage est
obtenu en utilisant une source « incohérente » comme une ampoule classique. Pour mieux
comprendre le pourquoi on peut imaginer que dans une source incohérente, différentes
zones de la source émettent des ondes de manière indépendante. Ces différentes ondes
sont donc déphasées de manière aléatoire, l’une par rapport à l’autre. Le fait d’utiliser une
fente permet de diminuer le nombre de composantes déphasées dans l’onde incidente et
d’obtenir une onde approximativement sinusoïdale. Plus la dimension de la fente d’entrée
sera faible, meilleure sera la qualité de notre figure d’interférences. D’un autre côté le fait
de choisir une petite fente d’entrée, amènera forcement une diminution de la luminosité de
la figure d’interférences finale. Il faudra donc trouver un bon compromis.
2.2 Observation de la figure finale 9

2.2 Observation de la figure finale

F IGURE 2.2 – Projection directe et utilisation d’une lentille pour visualiser une image très
éloigné

Pour les manipulations d’interférences et de diffraction, on fera en sorte d’obtenir une

image sur un plan situé à une grande distance de l’objet qui crée les interférences ou qui
diffracte la lumière. Il s’agit, du point de vue optique, de visualiser, sur un écran ou par un
oculaire, une image qui se forme à l’infini.
Ce type d’image peu être obtenue, dans la pratique, en situant l’écran à une grande
distance de l’objet qui crée la diffraction ou les interférences, ou en se servant d’une
lentille convergente de distance focale OF 0 . L’avantage de l’approche de « projection
directe » et que l’on peut obtenir des grandes distances D de projection. Cette configuration
est utile si on se sert d’un écran (ou d’un mur). En revanche, l’utilisation d’une lentille
a l’avantage de condenser la lumière et permet ainsi d’obtenir une intensité finale de
l’image plus élevée. Cette deuxième configuration peut être intéressante si on se sert d’un
oculaire (ATTENTION : pas d’oculaire si vous utilisez un laser ! !) mais il faut utiliser
une lentille avec une grande distance focale ( f 0 ∼ 10 cm) car dans ce cas D = f 0 .
2.3 Bifente de Young 10

2.3 Bifente de Young

Dans cette expérience on va utiliser
bifente deux ouvertures séparées par une petite
distance pour créer des interférences entre
deux ondes. Les phénomènes d’interfé-
Onde
rences entre les deux ondes secondaires
primaire interférence peuvent être observés dans la zone de che-
vauchement. En principe cette expérience
peut être réalisée avec une illumination
sphérique. Pour comprendre la raison de la
présence d’une figure d’interférence com-
F IGURE 2.3 – Schéma de principe de l’expé- posée de minima et maxima (franges d’in-
rience d’interférence de Young terférence) il faut observer qu’il y a une
différence de chemin optique entre deux
rayons qui se rejoignent dans un point x1
sur l’écran après être passés par les fentes opposées. La différence de chemin entre ces
deux rayons dépend de la distance entre l’axe de symétrie du système et le point sur l’écran.

F IGURE 2.4 – Calcul de la différence de chemin optique entre deux rayons

Plus en particulier si on fait l’approximation que la distance a entre les deux fentes est
beaucoup plus petite que la distance bifente-écran (D) on peut supposer que les rayons qui
se rejoignent en x1 sont parallèles et on peut calculer la différence de chemin optique de la
manière suivante :
a
∆l = x1 (2.1)
D
Si on suppose que les ondes ont un vecteur d’onde k = 2π λ on aura des interfé-
rences constructives quand k∆l = 0, 2π, 4π, ..., 2nπ avec n ∈ N et destructives quand
k∆l = π, 3π, ..., (2n + 1)π. Comme ∆l dépend de la position x1 du point que l’on observe
sur l’écran ceci veut dire que l’on aura un maximum chaque fois que k∆l = 2π a M
λ D x = 2nπ
et donc quand xnM = n λaD . De manière analogue on peut montrer que la position des minima
est donnée par xnm = 2n+1
2
λD
a . La distance inter-frange est donc donnée par :
λD
∆i = (2.2)
a
2.3 Bifente de Young 11

2.3.1 Réalisation de l’expérience

Pour cette expérience on réalisera un montage différent de celui indiqué en figure 2.3.
Ce montage a l’avantage de nous permettre de modifier la cohérence de la source initiale
par une fente (voir section 2.1), d’obtenir une illumination plus uniforme de la bifente, et
de permettre une meilleure concentration de la lumière afin d’obtenir une figure finale plus
intense.

oculaire
bifente

lentille
lentille
source
fente

F IGURE 2.5 – Schéma du montage pour l’expérience d’interférences de Young

2.3.2 Interprétation des résultats

Une fois le montage réalisé, et après s’être assuré que vous avez compris la fonction de
tous les éléments du montage répondez aux questions suivantes :
1. Quel est l’effet de la largeur de la fente initiale ? L’alignement de la fente initiale
et de la bifente à-t-il une effet sur la figure finale ? Pourquoi ? Servez vous de ces
résultats pour améliorer la visibilité des franges d’interférences.
2. Quelle est la valeur de la distance inter-frange ∆i ? Cherchez à obtenir une mesure la
plus précise possible.
3. Déduisez à partir de ∆i la distance a entre les fentes. Vous pouvez vérifier votre
mesure en observant la bifente au microscope optique.
4. Question bonus (difficile) : Comment pourrait-on mesurer la largeur des fentes
si on suppose que les deux fentes sont identiques ? (Indice : pensez aux effets de
diffraction)
2.4 Biprisme de Fresnel 12

2.4 Biprisme de Fresnel

source
virtuelle

biprisme
onde primaire zone
a
source d'intérference

source
s
virtuelle

F IGURE 2.6 – Schéma de principe pour l’utilisation d’un biprisme de Fresnel

Dans cette expérience on va se servir d’un type particulier de prisme (le biprisme
de Fresnel) pour obtenir une figure d’interférences. Il y a beaucoup d’analogies entre
cette expérience et les interférences obtenues avec la bifente. Dans les deux cas on a des
interférences entre deux ondes qui proviennent de deux sources séparées d’une distance a.
Comme dans le cas précédent, la distance entre les franges d’interférences est donc donnée
par l’équation 2.2. A différence du cas précédent les deux sources sont ici virtuelles, et
leur distance dépend de l’angle α du biprisme, de l’indice de réfraction n du matériau
dont il est composé et de la distance source/biprisme s. Pour obtenir l’expression de s il
faut suivre la déviation d’un rayon axial à travers le biprisme, et se servir de la relation de
Snell-Descartes.

source
virtuelle

source

F IGURE 2.7 – Déviation des rayons par un biprisme

On peut donc obtenir la distance entre les sources virtuelles de la manière suivante
a = 2sθ = 2s(α 0 − α) = 2(n − 1)sα.
2.5 Anneaux de Newton 13

2.4.1 Réalisation de l’expérience

Pour cette expérience on peut se servir de deux montages différents : soit en utilisant
un laser, soit en utilisant une source de lumière blanche et une fente. Le montage avec
la source et la fente est assez critique, demandez à un enseignant de vous aider si vous
n’arrivez pas à le réaliser. Dans le cas de l’utilisation du Laser on a besoin d’une lentille
(de focale 5 mm) pour élargir le faisceau et s’assurer ainsi que la lumière passe des deux
côtés du biprisme.

écran (pas d'oculaire!!)

écran ou oculaire
biprisme
biprisme

laser
lentille

source

fente
F IGURE 2.8 – Schémas du montage pour le biprisme

2.4.2 Interprétation des résultats

Une fois le montage réalisé, et après s’être assuré que vous avez compris la fonction de
tous les éléments du montage répondez aux questions suivantes.
1. Quel est l’effet de la largeur de la fente initiale ? L’alignement de la fente initiale
et du biprisme à-t-il un effet sur la figure finale ? Servez-vous de ces résultats pour
améliorer la visibilité des franges d’interférences.
2. Quelle est la valeur de la distance inter-frange ∆i ? Cherchez à obtenire une mesure
la plus précise possible.
3. Déduisez à partir de ∆i la distance a entre les fentes et enfin l’angle α du biprisme
en supposant que son indice de réfraction est n = 1.5.

2.5 Anneaux de Newton

Les anneaux de newton sont une figure d’interférences que l’on obtient quand la lumière
traverse deux objets transparents séparés par un espace vide non homogène. Les franges
d’interférences peuvent donner des renseignements sur la forme de l’espace vide entre les
deux objets et donc, indirectement, sur la forme des ces mêmes objets. On peut observer
ce type de figure d’interférences en transmission ou en réflexion. Concentrons nous sur le
cas en réflexion pour comprendre le principe physique. Dans ce cas, des phénomènes de
réflexion peuvent avoir lieu aux différentes interfaces. Considérons les deux rayons (a) et
(b) de la figure 2.9 qui ont été dessinés légèrement inclinés par rapport à la verticale pour
mieux pouvoir visualiser le phénomène.
2.5 Anneaux de Newton 14

b
a+b
a

F IGURE 2.9 – Interférences entre rayons réfléchis et calculs géométriques pour les anneaux
de Newton

Le rayon (a) subit une réflexion dans l’aire à l’interface air/verre (avec nair < nverre ).
Les lois de la réflexion (exprimées par les coefficients de Fresnel), prévoient que dans
ce cas, l’onde réfléchie est déphasée d’un facteur π (réflexion vitreuse). L’onde (b), au
contraire, ne subit pas ce déphasage car la réflexion a lieu dans le verre à l’interface
verre/air et la loi de la réflexion ne prévoient aucun déphasage dans ce cas (réflexion non
vitreuse). Il y a, en plus de la différence de déphasage liée à la réflexion, une différence de
chemin optique d entre les deux ondes. Le déphasage final entre deux rayons verticaux (a)
et (b) qui subissent une réflexion à deux interfaces différentes est donc ∆ϕ = 2π λ 2d + π.

Dans le cas où l’espace entre les deux verres n’est pas homogène (d = d(x)) le
déphasage dépend de la position ∆ϕ = ∆ϕ(x).
En TP on se servira d’une lentille (ou d’un verre déformé) posé sur une lame plate pour
obtenir des anneaux de Newton. On va donc étudier le cas particulier d’un objet sphérique
posé sur un objet plat . Dans ce cas on obtient la relation suivante entre d et x (voir fig 2.9
) : x2 + (R − d)2 = R2 . Puisque d  r on obtient au premier ordre en Rd :

x2
d(x) = (2.3)
2R
Les interférences constructives, qui donnent lieux aux franges claires sont donc obte-
nues quand ∆ϕ = 2π λ d(x) + π = 2πn avec n ∈ N. Par conséquent la position des franges
claires est donnée par : s  
M 1
xn = λ R n − (2.4)
2
De manière analogue on peut montrer que la position des franges sombres est donnée
par :
√
xnm = λ Rn (2.5)
On en déduit qu’en réflexion, le centre de l’image doit être sombre car la position x = 0
correspond a la position de la première frange sombre x0m .
2.5 Anneaux de Newton 15

La même expérience peut être effectuée en transmission. Dans ce cas l’image obtenue
est la complémentaire de l’image en réflexion (la lumière incidente est soit transmise, soit
réfléchie). Par conséquent les positions des maxima et des minima sont inversées.

2.5.1 Réalisation de l’expérience

Pour l’expérience en transmission on se
sert d’un microscope optique, une lentille
et une lame de verre. Aucun montage n’est

lentille
nécessaire.
source
Pour le montage en transmission on se
servira d’un élément optique qui contient
à l’intérieur une lame plate, une lame lames écran
courbée et une réglette. Il faudra proje- de verrs
ter l’image d’interférences obtenue sur un
écran (le mur dans ce cas) pour pouvoir F IGURE 2.10 – Schéma du montage en trans-
agrandir l’image et effectuer la mesure. mission

2.5.2 Interprétation des résul-

tats
Une fois les montage en transmission réalisé, et après s’être assuré que vous avez
compris la fonction de tous les éléments du montage répondez aux questions suivantes :
1. Quelle est la valeur du rayon de courbure de la lentille ? Pour cela mesurez la position
de M
√ plusieurs franges claires et servez-vous d’un graphique de type xn en fonction de
n.
2. Quelle est l’erreur sur les xnM ? Reporte-la sur les points de votre graphique.
3. Mesurez le rayons de courbure en utilisant une procédure similaire en réflexion.
Attention : assurez-vous que le centre de votre figure d’interférence soit sombre
avant d’effectuer la mesure.
4. Question bonus : comment peut-on estimer l’erreur sur R ?
 3. Diffraction

On parle de phénomènes de diffraction quand une onde interagit avec un objet dont
les dimensions caractéristiques sont de l’ordre de sa longueur d’onde. Dans ce type de
situation l’onde est modifiée de manière complexe.
La diffraction est un phénomène purement ondulatoire qui ne peut pas être compris
juste en traçant les trajectoires des différents rayons.
Le principe d’Huygens-Fresnel permet d’établir un lien entre diffraction et inter-
férence. Ce principe affirme que les effets de diffraction peuvent être vu comme des
interférences entre des ondes sphériques qui sont émises à chaque point de l’objet. L’inter-
venant vous montrera une application simple de ce principe en utilisant une cuve à ondes
au début du TP.
Le traitement rigoureux des effets de diffraction demande le calcul, en général, d’in-
tégrales complexes. Mais il existent des conditions expérimentales qui permettent de
faciliter l’étude des phénomènes de diffraction. Dans les conditions dites de Fraunhofer,
par exemple, l’onde diffractée doit être une onde plane. En plus on observe la figure de
diffraction dans un plan très éloigné de l’objet diffractant. Dans ces conditions, l’intensité
de la figure de diffraction est liée à la transformée de Fourier de l’objet. L’image obtenue
sur l’écran ne change pas d’aspect si on modifie sa position (qui doit toujours être très
éloignée). Seule sa taille varie à cause d’un effet de projection (voir section 2.2 pour plus
de détails sur les méthodes de projection).
Pour étudier les effets de diffraction on a besoin d’une source de lumière non seulement
parallèle mais aussi cohérente (voir section 2.1). On se servira pour les manipulations de
diffraction d’un éclairage laser. Merci donc de vous assurer d’avoir lu toute les normes de
sécurité relatives à l’utilisation de ce type de source.
3.1 Figure de diffraction d’une fente 17

objet
laser laser
objet

lentille

lentille
F IGURE 3.1 – Techniques d’éclairage

L’éclairage de l’objet pourra être effectué de deux manières. Par faisceau direct ou
après élargissement de la source laser. L’élargissement de la source ne sera nécessaire que
dans le cas où la taille du faisceau laser est trop petite pour couvrir l’objet entier.
Pour la projection on utilisera une des techniques illustrées dans la section 2.2. La
relation qui lie l’angle α entre le faisceau de rayons parallèles qui sortent de l’objet
diffractant et la position de l’écran x où se rayons convergent est la suivante :

x = Dα (3.1)

3.1 Figure de diffraction d’une fente

Pour une fente unidimensionnelle l’in-
tensité de la figure de diffraction I peut être
obtenue analytiquement grâce aux transfor-
més de Fourier :

sin2 ( πb
λ α)
I(α) = I(0)
2 (3.2)
πb
λ α
Dans cette expression λ est la longueur
d’onde du laser, b la largeur de la fente, et
α l’angle de sortie des rayons parallèles qui
ont une intensité I(α). L’équation 3.1 nous
permet de calculer l’intensité sur l’écran
Iecran (x) = I(x/D) et d’observer que I(0)
est l’intensité au centre de l’écran que l’on
utilisera comme intensité de référence dans
nos mesures.
F IGURE 3.2 – Intensité de la figure de diffrac- La forme de la figure de diffraction
tion d’une fente illustrée en figure 3.2 nous permet d’iden-
tifier la présence de plusieurs pics secon-
3λ 5λ
daires situés en ± 2a , ± 2a ... .
3.2 Figure de diffraction d’un réseau 18

3.2 Figure de diffraction d’un réseau

Pour un réseau comme celui de la figure
3.3, l’intensité de la figure de diffraction I
peut être obtenue analytiquement grâce aux
transformés de Fourier. L’intensité de la
figure de diffraction que l’on obtient quand
on éclaire N fentes de même largeur b et
de même espacement a est exprimée par la

N fentes
formule suivante :
a

I(0) sin2 ( πb 2 πNa

λ α) sin ( λ α)
I(α) =
2
(3.3) b
N2 πb
α sin2 πa
λ α
λ

Cette formule nous permet de remar-

quer plusieurs propriétés intéressantes de
la figure de diffraction d’un réseau. F IGURE 3.3 – Géométrie d’un réseaux
En premier lieu on peut remarquer que
si on pose b → 0 on obtient :

I(0) sin2 ( πNa

λ α)
I(α) = 2 2 πa

(3.4)
N sin λ α
Pour N = 2 on obtient une figure sinusoïdale. Ce résultat est compatible avec la figure
d’interférence obtenue pur une bifente au chapitre 2. En plus on peut remarquer que si
l’on augmente N tout en gardant b → 0 on obtient une figure similaire mais avec des pics
beaucoup plus étroits.

F IGURE 3.4 – Diffraction d’un réseau avec b → 0

C’est important donc dans des applications où l’on veut obtenir des pics bien séparés
(comme par exemple des applications spectrales) d’éclairer un large nombre de fentes du
réseau.
Une autre information intéressante peut être obtenue dans le cas où b n’est pas négli-
geable par rapport à a. Dans ce cas l’équation 3.3 représente un ensemble de pics décrits
3.2 Figure de diffraction d’un réseau 19

F IGURE 3.6 – Sur ce vernier on lit 2,98 cm

par l’équation 3.4 et modulés par la fonction sin2 ( πb

λ α), qui a la forme illustrée en figure
3.2. On obtient donc une série de pics, dont l’espacement nous renseigne sur le pas a
du réseau et dont la modulation en hauteur nous renseigne sur la largeur b des fentes du
réseau.

modulation
pics

forme générale

a
F IGURE 3.5 – Figure de diffraction d’un réseau avec b = 4 et N = 8

3.2.1 Réalisation des expériences

Pour cette expérience vous utiliserez plusieurs objets. Vous pourrez choisir comment
effectuer l’éclairage de l’échantillon (voir figure 3.1) et comment effectuer la projection de
l’image à l’infini (voir section 2.2) afin de juger quel montage donne les meilleurs résultats.
Pour les mesures d’intensité vous vous servirez d’une photodiode connectée à un
voltmètre. L’intensité détectée au point central de l’écran est directement proportionnelle à
la tension mesurée. Le capteur se trouve au centre d’un petit écran dont on peut mesurer le
déplacement latéral. Vous pourrez ainsi mesurer la distribution latérale d’intensité. Pour
lire le déplacement latéral servez-vous du vernier.
3.2 Figure de diffraction d’un réseau 20

3.2.2 Activités pendant la séance

Voici la liste des activités que vous effectuerez pendant cette séance :
1. Obtenez la figure de diffraction d’une fente rectangulaire à largeur réglable. Une
fois le montage réalisé poursuivez avec les activités suivantes :
(a) Que se passe-t-il si au niveau de la figure de diffraction si vous modifiez la
largeur de la fente ? Pourquoi ?
(b) Effectuer, à travers la photodiode, le tracé de la courbe d’intensité de la figure
de diffraction (I(α) ou Iecran (x) au choix). En déduire la largeur de la fente
b avec son erreur. Vous pouvez, si vous le souhaitez, confirmer ce résultat
par mesure directe de la largeur au microscope optique. Déterminez aussi le
rapport de l’intensité du premier pic au pic central, et confronter aux valeurs
théoriques.
(c) Activité bonus : Prendre un cheveu et le scotcher bien verticalement sur une
grande ouverture circulaire, centré et en tension sur un support libre. En relevant
un extrémum bien choisi de sa figure de diffraction, déterminer le diamètre du
cheveu, avec son erreur si possible. Vous justifierez le choix de l’extrémum
choisi, et vous confronterez cette mesure à celle donnée par le microscope
optique. Pour cela vous vous servirez du Théorème de Babinet . La fente
verticale et le cheveu sont deux objet dits complémentaires, car additionnés
ils représentent un écran opaque. Le théorème de Babinet démontre que les
figures de diffractions sont les mêmes pour ces deux objets complémentaires,
sauf au point central.
(d) La figure de diffraction à l’infini dépend-elle d’une translation le long du rail de
l’objet diffractant ? Comment se modifie-t-elle si on utilise un faisceau incident
fin ou élargi ? Attention : l’objet doit toujours être éclairé par des ondes planes
(illumination parallèle).
(e) Que se passe-t-il si on tourne autour de l’axe optique l’objet diffractant ?
Observer la figure de diffraction d’une fente verticale suivie par une autre
horizontale. Regardez attentivement !
(f) Élargissez le faisceau laser avec des lentilles. Placez une fente et une lentille
de distance focale 10 ou 20 cm entre la fente et l’écran. Placez la lentille à une
distance de l’écran égale a sa distance focale et observez la figure de diffraction
(image 1). Approchez la lentille de la fente jusqu’à obtenir une image nette de
la fente sur l’écran (image 2). Déplacer lentement la fente vers le laser jusqu’à
l’apparition, dans l’image sur l’écran, de franges à l’intérieur de la fente (image
3). Quelle image correspond à la diffraction en conditions de Frahunofer ? Et à
la diffraction en champ proche ? Quelle est la différence entre ces deux images ?
(g) Activité bonus : Obtenir la figure de diffraction d’une petite fente circulaire
de rayon R. Dans cette figure (qui a bien évidemment une symétrie circulaire)
le rayon du premier cercle sombre est donnée par r1 = A Rλ 2a . Ce cercle est
connu sous le nom de cercle de Airy et il a une importance capitale pour la
résolution des instruments optiques. Posez des questions à vos intervenants
si vous êtes intéressés au pourquoi. Après avoir mesuré r1 , mesurez R au
microscope optique et obtenez enfin la valeur de la constante A.
3.2 Figure de diffraction d’un réseau 21

2. Obtenez la figure de diffraction d’un réseau avec une densité de 80 lignes/cm. Une
fois le montage réalisé poursuivez avec les activités suivantes :
(a) Observez la figure de diffraction. Quelle information géométrique (valeur de
a, b, N....) pouvez vous déduire rapidement de cette figure ? La variation de
l’intensité des pics est-elle visible ? Qu’est-ce que cela nous indique ?
(b) Vérifiez que la densité de ligne de votre réseau correspond à celle qui est
indiquée par le constructeur.
(c) Activité bonus : Chercher une méthode (de principe, n’effectuez pas de calculs
ni de mesures) pour estimer la largeur de fente du réseau de 80 lignes/cm.
(d) Activité bonus : Éclairer directement avec le faisceau laser une bifente de
type « A » (demandez aux intervenants) placée très proche du laser et observez
la figure obtenue par projection directe (sans lentille). Vous observerez une
série de pics qui contiennent des franges à leur intérieur. Savez vous expliquer
pourquoi on observe ce type d’image ?
(e) Demandez aux intervenants de vous montrer, sur le goniomètre dédié, l’allure
des spectres obtenus de la lampe à vapeur de mercure grâce à un réseau. Savez-
vous expliquer pourquoi les couleurs sont séparées par le réseau ?
(f) Activité bonus : En spectroscopie on appelle l’ordre le nombre d’apparitions
de chaque spectre par rapport à la figure centrale. Toujours grâce au goniomètre
identifiez différents ordres dans le spectre et vérifiez si la résolution du doublet
jaune change lorsque l’ordre augmente. Et en utilisant des réseaux de pas
différent ? La capacité des réseaux à séparer deux radiations de longueurs
d’onde proches s’appelle le pouvoir de résolution et on peut montrer qu’il ne
dépend que du nombre de traits éclairés et de l’ordre du spectre. Savez-vous
expliquer ce résultat grâce à ce que vous avez appris sur la diffraction d’un
réseau ?
 4. Spectroscopie

4.1 Rappels Théoriques

4.1.1 Effet photoélectrique
L’effet photoélectrique consiste en l’émission d’électrons par un corps sous l’influence
de radiations lumineuses. Il a été mis en évidence la première fois par Antoine Becquerel
en 1839 mais c’est Albert Einstein en 1905 qui en a donné l’interprétation en s’appuyant
sur les théories de Planck. Pour cette découverte, ainsi que « ses services rendus aux
théories de la Physique », il reçut le prix Nobel de Physique en 1921.
L’énergie du photon incident est E = hν. Où h est la constante de Planck et ν est la
fréquence de la radiation lumineuse.
Si Ws est l’énergie nécessaire pour extraire un électron du métal avec une énergie
cinétique nulle à l’émission, un photon ne pourra chasser un électron du métal que si hν
est supérieur à Ws , soit :
Ws
ν> = ν0
h
Ws est le travail de sortie et ν0 est la fréquence de seuil.
Lorsqu’une onde lumineuse de fréquence ν > ν0 frappe la cathode d’une cellule
photoélectrique, celle-ci émet des électrons dont l’énergie cinétique n’est pas nulle. La
relation d’Einstein s’écrit alors :hν = hν0 + 21 mv2 .
4.1 Rappels Théoriques 23

4.1.2 Le puits de potentiel quantique

Dans un puits de potentiel « infini » (dont le barrières sont infranchissables) de largeur
a le niveau d’énergies sont quantifié est ont la valeur suivante :

n2 h̄2 π 2
En = (4.1)
2ma2
Plus la taille a du puits est faible, plus les niveaux d’énergie s’éloignent et l’énergie
du niveau fondamental (n = 1) augmente. Le passage d’un électron d’un état En2 a un état
En1 avec n2 > n1 s’accompagne avec l’émission d’un photon d’énergie Eγ = En2 − En1 et
1240
de longueur d’onde λ = hc E = E nm · eV . Le photon le moins énergétique qui peut être
émis est caractérisé par une énergie Eγmin = E2 − E1 et la longueur d’onde associée à cette
énergie représente la plus grande longueur d’onde λmax qui peut être émise par le système
quantique.

4.1.3 Réseaux optiques et spectroscopie de longueur d’onde

Le propriétés générales des réseaux optiques sont décrite en section 3.2. Du point
des applications spectroscopiques, l’effet le plus important produit par un réseau éclairé
par une onde monochromatique plane est la formation d’une figure avec des maximum
principaux situés en :
nλ
xn = D (4.2)
a
où n ∈ Z, λ est la longueur d’onde de la lumière incidente, a est la distance entre le
fentes et D est la distance entre le réseau et l’écran. On appelle n, l’ordre du maximum et
il est facile de montrer que tous les pics ont la même largeur L = 2∆x et que :

λ
D∆x = (4.3)
Na
Quand un réseau est éclaire par une onde polychromatique plane, chaque onde mono-
chromatique qui compose la lumière incidente forme des maximum situés à des positions
différentes.
intensité

position

F IGURE 4.1 – Critère de Rayleigh

Plus spécifiquement on peut observer que :

4.1 Rappels Théoriques 24

• Le maximum d’ordre 0 (n = 0) sont tous situés en x0 = 0 et donc on forme un pic

qui a exactement la même couleur que la lumière incidente au centre de la figure
d’interférence
• Les pics d’ordre n 6= 0, sont situés dans des positions différentes pour les différentes
longueurs d’ondes. En particulier si on considère deux longueur d’ondes différentes
λ1 et λ2 avec λ1 6= λ2 on obtient deux pics de même largeur ∆x séparés par une
distance xn,λ2 − xn,λ1 = n(λ2a−λ1 ) D. Plus l’ordre est grand, plus les pics sont séparés.
• On peut estimer la résolution de mesure en calculant le pouvoir séparateur du réseau
λ
R = ∆λ où ∆λ est le plus petit écart de longueur d’onde (par rapport à la longueur
λ ) qui peut être mesuré par l’instrument. Pour calculer R on peut se servir du critère
de Rayleigh qui équivaut à imposer xn,λ2 − xn,λ1 = ∆x et on obtient ainsi :

R = nN (4.4)

On peut remarquer que le pouvoir de résolution est l’inverse de la sensibilité relative

de mesure, donc plus R est grand, plus la mesure est précise.

F IGURE 4.2 – Illustration schématique de la figure d’interférence obtenue avec un réseau

éclairé par une lumière composée de deux longueur d’ondes λ1 et λ2 avec λ1 > λ2

4.1.4 Effet Franck/Hertz

Rappels sur la structure de l’atome
L’atome (modèle de Bohr-Rutherford) est formé d’un noyau de charge Ze entouré
de Z électrons périphériques. Ces électrons sont répartis en couches renfermant chacune
un nombre déterminé d’électrons. Chaque couche correspond à un niveau d’énergie sta-
tionnaire, seuls ces niveaux d’énergie quantifiés peuvent être occupés. L’état dans lequel
se trouve l’atome au repos est dit fondamental, il est caractérisé par un état d’énergie
totale minimal pour chacun des électrons périphériques. L’origine de l’échelle des énergies
est choisie de telle sorte que l’énergie totale d’un électron qui échappe à l’atome sans
vitesse initiale soit égale à zéro. L’énergie d’un électron libre est donc positive et non
quantifiée tandis que celle d’un électron est négative et quantifiée. Une preuve expérimen-
tale de la quantification des niveaux d’énergie est fournie par l’expérience de Franck et
4.1 Rappels Théoriques 25

Hertz. Les énergies mises en jeu dans l’expérience de Franck et Hertz sont assez faibles et
n’intéresseront que les électrons de valence, moins fortement liés au noyau.

Excitation de l’atome
On appelle excitation tout phénomène qui modifie l’état d’énergie fondamental de
l’atome. L’énergie nécessaire pour arracher un électron à l’atome est appelée énergie de
première ionisation. Si l’énergie communiquée à l’électron est supérieure à cette valeur,
celui-ci deviendra libre ; si elle est inférieure, l’atome et l’électron sont dits excités.

(a) Absorption d’énergie.

L’atome est susceptible d’absorber une quantité d’énergie en modifiant son état initial
de telle manière que l’énergie totale soit conservée. Au cours d’un tel processus, l’atome
possédant initialement l’énergie passe dans un état (état excité) tel que E = E1 + ε. On
parle de transition de l’état E1 vers l’état E2 (voir figure 4.3).

F IGURE 4.3 – Absorption et émission d’énergie

(b) Émission d’énergie

L’atome ne reste généralement pas dans un tel état excité. Il retourne très rapidement
(t ∼ 10−10 s) à l’état initial. L’émission d’énergie est une transition d’un état de haute
énergie (E2 ) vers un état de basse énergie (E1 ). L’énergie peut être libérée sous différentes
formes, par exemple :
• Radiations lumineuses (photons) dont l’énergie doit correspondre à celle de l’une
des raies d’émission de l’atome considéré (voir figure 4.3)
• Vibrations du milieu (phonons)
• etc. . .
Lors de l’émission de photons, la fréquence ν de l’onde lumineuse est telle que

hν = E1 − E2

où h est la constante de Planck.

4.1 Rappels Théoriques 26

c) Énergie de résonance
On appelle niveaux de résonance les niveaux d’énergie Er pour lesquels l’électron
excité est susceptible de retourner directement à l’état fondamental sans passer par des
états d’excitation intermédiaires.

Principe de l’expérience de Franck et Hertz

L’expérience de Franck et Hertz a été réalisée pour la première fois en 1914. Elle avait
pour but de mettre en évidence la quantification des niveaux d’énergie des électrons dans
les atomes et a permis de confirmer les hypothèses du modèle de l’atome de Bohr. Ses
auteurs ont reçu le prix Nobel de Physique en 1925 “pour leur découverte des lois qui
gouvernent la collision d’un électron sur un atome”.
L’expérience est réalisée à l’aide d’un
tube à trois électrodes (voir figure 4.4). Une
cathode K émet des électrons qui sont accé-
lérés par une grille accélératrice G portée à
un potentiel VG de l’ordre de quelques volts
par rapport à la cathode. Pendant ce tra-
jet, les électrons traversent un gaz à faible
pression (vapeur de mercure ou de néon,
selon les bancs de manipulation proposés).
Ces électrons sont ensuite captés par une
contre-électrode (ou plaque) A portée à un F IGURE 4.4 – Schéma de principe de l’expé-
potentiel légèrement négatif VA par rapport rience de Franck et Hertz
à la grille. Les électrons parviendront à la
contre-électrode si leur énergie cinétique est supérieure à eVA .
On mesure le courant I en fonction de VG . Si on augmente VG , le courant commence
par augmenter. Tant que VG est faible, les chocs entre électrons incidents et atomes du gaz
se font sans transfert d’énergie appréciable, ce sont des chocs parfaitement élastiques. Par
contre, pour une valeur de tension de grille VG1 les collisions deviennent inélastiques. La
tension VG1 est telle que :

VG1 = Er − E0

où Er est l’énergie du niveau excité et E0 énergie du niveau fondamental des atomes

de mercure ou de néon. Les atomes voisins de la grille absorbent l’énergie des électrons
incidents, et l’électron de valence de chaque atome excité effectue une transition E0 → Er .
Ces électrons incidents atteignent donc la grille avec une énergie nulle et ne sont plus
collectés par la plaque. On observe une diminution de l’intensité du faisceau électronique.
VG1 est le potentiel de résonance des atomes du gaz.
Si on continue à augmenter VG , les électrons atteindront l’énergie Er = eVG1 avant
d’avoir atteint la grille, ils pourront donc être accélérés sur le parcours restant entre
l’équipotentielle V = VG1 et la grille, et atteindront la plaque.
4.2 Manipulations et expériences 27

4.2 Manipulations et expériences

Ce TP ce compose d’une activité principale et de plusieurs activités complémentaires.
Tous les binômes réaliseront l’activité principale. Vous devez en suite choisir une ou
plusieurs activités complémentaires en fonction du temps à votre disposition.

4.2.1 Activité principale : Absorption de lumière par des nanoparti-

cules
L’objectif principal de cette activité est d’étudier l’interaction entre un rayonnement
optique et des nanoparticules semiconductrices fluorescentes. Vous ferez le lien entre ce
que vous observez et les lois physiques étudiées en cours de physique quantique. On fera
ici l’approximation que les particules peuvent être décrites comme des puits quantiques.
Le montage expérimental pour la mesure d’absorption optique est constitué de :
• une source lumineuse (lampe halogène ou filament)
• un porte cuve et la cuve contenant la solution de nanoparticules
• une fibre optique
• un spectromètre
Le faisceau de lumière blanche traverse la cuve contenant les nanocristaux et est ensuite
couplé à une fibre optique, reliée au spectromètre.

Cuve

Fluorescence
re
iè te
m n
Lu ide
c
in

Absorbance
F IGURE 4.5 – Montage expérimental pour les mesures d’absorbance et luminescence
4.2 Manipulations et expériences 28

Acquisition de spectres d’absorbance

Pour effectuer une mesure lancer le logiciel OceanView . S’assurer que le spectro-
mètre soit connecté à l’ordinateur via le câble USB. En suite :

1. Cliquer sur l’icône (Create a new spectroscopy measurement)

2. Choisir l’onglet Absorbance - absorbance only. Cliquer sur Next
3. Placer une cuvette à étudier dans le porte-cuve et ajuster le temps d’intégration pour
que le signal ne dépasse pas 14000 coups. Cliquer sur Next.

4. Placer une cuve remplie d’eau distillée dans le porte-cuve, cliquer sur . Ce spectre
contient la courbe d’émission de la source, la réponse du réseau, du photodétecteur,
l’absorption éventuelle de la cuve,...). Cliquer sur Next

5. Placer le parallélépipède noir dans le porte-cuve et cliquer sur pour faire l’acqui-
sition du signal de fond/bruit.
6. Le logiciel est prêt à réaliser une mesure en absorption. Placer votre cuvette d’intérêt
dans le porte-cuve.
7. Réaliser ces mesures sur toutes les solutions de nanoparticules dont vous disposez.

Pour analyser les résultats cliquer sur pour trouver les caractéristiques des pics d’ab-
sorption obtenus. Notamment vous devez estimer :
• La position du pic
• Son hauteur (notée absorbance en rouge sur les graphes)
• Sa largeur à mi-hauteur (FWHM)
Comparez les spectres d’absorption obtenus et établissez un lien entre les paramètres
physiques des solutions (taille des nanoparticules, concentration, dispersion) et les mesures
obtenues.

Acquisition de spectres de fluorescence

Vous effectuerez en suite des mesures de fluorescence :

1. Lancer une nouvelle mesure en cliquant sur et choisir Fluorescence.

2. Placer la fibre optique à 90° par rapport au faisceau de lumière blanche.
3. Ajustez le temps d’intégration pour visualiser le signal de fluorescence (~500 ms).
Cliquez sur Next.
4. Faire une acquisition du signal de fond/bruit en plaçant le parallélépipède noir dans
le porte-cuve et cliquer sur
5. Réaliser ces mesures sur toutes les solutions de nanoparticules dont vous disposez.
Comparer les spectres d’absorption et les spectres de fluorescence. Commenter.
4.2 Manipulations et expériences 29

4.2.2 Activité secondaire I : comprendre l’effet Franck/Hertz

L’intervenant vous a montré en début de séance un exemple d’expérience de Franck-
Hertz. En réfléchissant sur ce que vous avez observé, et en répétant, éventuellement
l’expérience répondez aux questions suivantes :
• Peut on savoir où les excitation atomique ont lieu dans l’ampoule ?
• Que se passe-t-il lorsque VG = 2VG1 , 3VG1 ? Où se situent les équipotentielles VG1 ,
2VG1 , 3VG1 ? Pour répondre à ces questions, observer l’ampoule de néon lorsque
VG augmente.
• Pouvez-vous estimer l’énergie nécessaire pour obtenir une transition atomique dans
le gaz ?

4.2.3 Activité secondaire II : comprendre le fonctionnement d’un spec-

tromètre commercial
Votre objectif est de comprendre le principe de fonctionnement d’un spectromètre
commercial et le rôle des différents éléments optiques. Pour visualiser sa structure interne
il faudra le « démonter ». Pour cela dévissez « à la main » les deux grosses vis noires situées
dans la partie haute de la façade, et ouvrez le capot. Enlevez la mousse de protection située
sous le capot. L’intérieur du spectromètre sera visible à travers une vitre de protection.
Vous réaliserez un schéma de principe pour décrire son fonctionnement.

F IGURE 4.6 – Le spectromètre sur lequel il faudra réaliser le « reverse engineering »

4.2 Manipulations et expériences 30

4.2.4 Activité secondaire III : « construire » un spectromètre

En utilisant des lentilles, un banc optique, des supports, un source spectrale à vapeur
de mercure, et un réseau construisez un spectromètre. Pour cela aidez-vous des propriétés
décrites en section 4.1.3.
Pouvez-vous vérifier (en utilisant par exemple le doublet jaune) la variation de R décrite
par l’équation 4.4.
Pouvez-vous vous servir de cette équation pour améliorer la résolution de votre spec-
tromètre ?

4.2.5 Activité secondaire IV : mesure de la constante de Planck par

effet photoélectrique
Pour cette activité vous vous servirez de cellules photovoltaïques et du montage réalisé
dans l’activité II ou d’un monochromateur.
La cellule photovoltaïque peut être utilisé pour mesurer l’énergie d’une onde lumineuse.
Pour cela il faut considérer que les électrons émis par effet photoélectrique dans la cathode
d’une cellule photoélectrique n’ont pas une énergie cinétique nulle et sont donc recueillis
par l’anode. Ils génèrent ainsi un courant photoélectrique. Ce courant peut être annulé
en appliquant aux bornes de la cellule une tension qui s’oppose à leur mouvement vers
l’anode. Le cellules photovoltaïques à votre disposition, vous permettent de mesurer le
potentiel d’opposition grâce à un boitier d’amplification. Vous pourrais ainsi lire la valeur
du potentiel d’opposition avec un voltmètre classique.
Si on appelle Vi la tension d’opposition associé à un faisceau incident de fréquence νi ,
la relation d’Einstein s’écrit :
hνi = hν0 + eVi
La courbe Vi = f (νi ) permet de déterminer la constante de Planck ainsi que la longueur
d’onde du seuil photoélectrique pour la cathode utilisée.
Pour différentes valeurs de longueur d’onde d’excitation, faire une mesure de la tension
qui annule le courant photoélectrique. Avant d’ouvrir le circuit, ramener sa sensibilité
de l’amplificateur à courant continu à sa valeur minimale. Tracer la courbe V = f (ν)
En déduire la constante de Planck ainsi que la longueur d’onde du seuil photoélectrique
pour la cathode utilisée.