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L3 Physique et Applications
Examen de Physique des Composants – 2ème session
Durée 3 heures
Documents non autorisés. Les téléphones portables doivent être éteints. Le texte est composé de 3
exercices qui peuvent être résolus indépendamment les uns des autres.
dE d 2 ( x )
Equation de Poisson dans un semiconducteur :
dx dx 2
SC 0
avec qp N D n N A
où 0 = 8,85×10
-12 -1 -19
F.m et q = 1,6×10 C
n ( x, t )
Modèle de dérive-diffusion du courant : J n ( x, t ) q.n ( x, t ). n .E q.D n
x
p( x, t )
J p ( x, t ) q.p( x, t ). p .E q.D p
x
k BT
Relation d’Einstein : D µ où kB = 1,38×10-23 J.K-1
q
n ( x, t ) 1 J n ( x, t )
Equations de continuité : GR
t q x
p( x, t ) 1 J p ( x, t )
GR
t q x
I. Réponses courtes :
1. Décrire au moins deux différences entre un métal et un semiconducteur.
2. Décrire au moins deux différences entre un isolant et un semiconducteur.
3. Quelle est la concentration de trous dans la bande de valence d’un semiconducteur dopé p
avec une concentration de dopants NA à T=0K ?
1
4. Quelle est la concentration d’électrons dans la bande de conduction d’un semiconducteur
dopé n avec une concentration de dopants ND à très haute température ? Expliquer.
5. Un semiconducteur dopé est-il neutre ou chargé ? Justifier votre réponse.
0.44 eV
0.83 eV 0.7 eV
0.42 eV Ec
EF 0.12 eV
0.29 eV
0.7 eV 1 eV
Ei
x=5L/16 Ev
3L/8 5L/8
2
f) Expliquer comment le type de dopage à x=0 est obtenu dans le
silicium. Quelle caractéristique doivent avoir les impuretés ajoutées ?
4. Quelles sont les concentrations d’électrons dans la bande de conduction et de trous
dans la bande de valence à x=L/2 ?
5. Quelles sont les concentrations d’électrons dans la bande de conduction et de trous
dans la bande de valence à x=5L/16?
6. Trouver la valeur du champ électrique pour L=0,8 cm à
a) x=L/2
b) x=L
c) x=5L/16
7. Quelle est la valeur du courant total dans le dispositif ? Expliquer votre réponse.
8. Le courant de diffusion est-il nul à x=5L/16 ? Expliquer votre réponse.
9. En général, que faut-il afin d’avoir un courant de diffusion dans un semiconducteur ?
III. Caractéristique C(V)
Dans la figure 2 se trouve la caractéristique C(V) d’une capacité MOS (métal, oxyde de silicium,
-3 2
silicium). L’aire de la grille est de 3,84.10 cm .
3
-11
x 10
12
11
10
“aller”
C (F) 9
8
Figure 2
7
6
“retour”
5
4
-10 -8 -6 -4 -2 0 2
V (V))
Figure 3