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MESURES MCANIQUES

Mesurer lpaisseur dun revtement


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Quil serve protger une structure mtallique de la corrosion, embellir la coque dun navire, ou rendre un outil plus rsistant lusure, un revtement se doit davoir la bonne paisseur : il en faut assez pour quil joue pleinement son rle, mais pas trop pour quil ne cote pas trop cher ou quil naltre pas les proprits de la pice Pour contrler cette paisseur, il existe toute une panoplie doutils, des techniques magntiques aux mthodes spectromtriques en passant par le contrle ultrasonore ou capacitif. Mais tous ne conviennent pas aux mmes applications et noffrent pas les mmes limites. Pour bien choisir, il faut prendre en compte la nature du revtement, bien sr, mais aussi celle du substrat, et le type de mesure que lon souhaite raliser

Fischer

esurer lpaisseur dune tle mtallique, dune paroi, dune plaque de verre tout le monde sait faire. Il existe une large varit de techniques pouvant rpondre ces applications. Des capteurs avec ou sans contact que lon place devant la pice, ou de part et dautre de celle-ci, mesurent la distance entre le capteur et la surface de la pice pour en dduire son paisseur... Mais mesurer lpaisseur dun revtement est une affaire autrement plus complique. Dans bien des cas, il sagit de mesurer des centaines, voire des dizaines de micromtres. A cette chelle, ltat de surface de la pice doit tre pris en compte, tout comme lhomognit du dpt. De plus, certains revtements (tels que lor ou lmail) sont trop coteux ou fragiles pour tre mesurs avec des techniques destructives ou des capteurs contact. Enfin, il est rare que lon connaisse a priori lpaisseur de la pice avant la pose du revtement, ce qui impose dutiliser des mthodes de mesure absolues
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La mesure dpaisseur de revtements est donc une discipline part entire, avec ses particularits et ses contraintes. La plupart des mthodes que lon utilise sont elles aussi bien spcifiques. Si lon sintresse uniquement aux mthodes non destructives, on trouve ainsi des techniques magntiques (bases notamment sur linduction magntique et les courants de Foucault), des mthodes ultrasonore, optique, capacitive, et mme spectromtriques (telles que la fluorescence X et la rtrodiffusion ). Les mthodes magntiques sont les plus rpandues.A lorigine, les premiers appareils bass sur ce principe utilisaient un aimant permanent. Le dplacement de laimant lintrieur de la sonde lorsquon lapproche dun substrat ferreux fournit un signal de mesure proportionnel la distance entre la sonde et le substrat, et donc lpaisseur du revtement. Cette mthode, qui est encore utilise sur certains appareils pour des applications relativement simples, a peu peu t remplace par deux techniques drives :

linduction magntique et les courants de Foucault. Linduction magntique est utilise pour mesurer lpaisseur de revtements non magntiques (tels En bref que le vernis, la peinture, lmail, le chrome, le zinc ou le cuivre) sur un Lpaisseur est lun des premiers critres utiliss pour support ferromagnqualifier un revtement. tique (le fer et lacier Pour la mesurer, il existe de principalement). La sonnombreuses mthodes. Les de comporte une bobiplus courantes, bases sur un principe magntique, ne excite par un couassurent une mesure rant alternatif. Lorsquon simple et rapide pour un lapproche du support, cot relativement faible. elle cre un champ Dautres mthodes, bases magntique qui modisur des rayonnements X ou fie son tour linduc, permettent de rpondre tance de la bobine, et une plus large varit dapplications. donc la tension de sortie, proportionnellement Le choix de lune ou lautre des techniques dpendra lpaisseur du revtesurtout de la nature du subment. strat, du revtement, et des Le principe des couprcisions attendues. rants de Foucault est

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similaire, si ce nest que la bobine est excite par un courant alternatif de haute frquence. Lorsquon lapproche dun mtal non ferreux, on gnre des courants de Foucault qui vont leur tour affaiblir par induction le champ de la bobine. La variation du champ est directement proportionnelle la distance entre la sonde et le mtal. Contrairement linduction magntique, les courants de Foucault sont donc typiquement utiliss dans le cas de substrats non ferreux (tels que laluminium, le cuivre ou le zinc) pour mesurer lpaisseur de tout revtement isolant ou mauvais conducteur (laque, peinture, vernis). Autres mthodes galement reconnues dans le domaine des revtements, la fluorescence X et la rtrodiffusion . Comme leur nom lindique, toutes deux font appel des rayonnements ionisants. Dans le cas de la fluorescence X, on irradie la pice avec un faisceau de rayons X. Lnergie jecte un lectron des couches internes des lments traverss. Pour rtablir lquilibre, un transfert dlectrons doit alors seffectuer depuis les couches externes vers les couches internes. Ce mouvement se traduit par lmission secondaire dun photon dot dune nergie caractristique de llment tudi. La mthode permet ainsi de connatre la nature et la quantit des diffrents matriaux prsents dans le revtement. Dans le cas de la rtrodiffusion , la pice est bombarde par un faisceau dlectrons qui pntrent plus ou moins profondment dans

Testwell La plupart des appareils utiliss dans la mesure dpaisseur de revtements sont bass sur un principe magntique :linduction magntique ou les courants de Foucault.Ils sont par exemple utiliss dans le domaine de lautomobile,de laronautique ou dans la micro-lectronique

Les principales mthodes


Principaux avantages
Induction magntique - Simplicit et rapidit dutilisation - tendue de mesure pouvant aller jusqu plusieurs mm - Cot relativement faible ( partir de 500 )

Principales limitations
- Applications limites aux substrats ferreux - Sensible la forme et ltat de surface de la pice - Mthode contact (ne convient pas pour les revtements trop fragiles) - Requiert une surface minimale de mesure (quelques dizaines de mm2) - Convient aux couples substrat/revtement de conductivit lectrique diffrente (revtements non conducteurs sur substrats conducteurs idalement) - Requiert une surface minimale de mesure (quelques dizaines de mm2) - Sensible la forme et ltat de surface de la pice - Mthode contact (ne convient pas pour les revtements trop fragiles)

Champ dapplications privilgi


Tout revtement non magntique (tel que vernis, peinture, mail, chrome, cuivre, zinc, etc.) sur support ferromagntique (fer, acier)

Courants de Foucault (mesure de lamplitude et/ou de la phase du signal)

- Simplicit et rapidit dutilisation - tendue de mesure pouvant aller jusqu plusieurs mm - Cot relativement faible ( partir de 500 )

q Avec la mthode de mesure de lamplitude : tout revtement lectriquement isolant tels que laque, peinture et revtement anodis sur mtaux non-ferreux (aluminium, cuivre, zinc, laiton) et acier inoxydable q Avec la mthode de mesure de la phase : revtements conducteurs non magntiques sur bases ferreuses revtements de haute conductivit sur matriaux peu conducteurs

Ultrasons

- Permet de mesurer lpaisseur de revtements sur des substrats non mtalliques tels que le verre, le bois, le bton, les matriaux plastiques, etc. - tendue de mesure de quelques dizaines de m quelques dizaines de mm

- Cot plus lev que les mthodes magntiques - Mesures parfois complexes - Peu adapt aux faibles paisseurs de revtements (< quelques dizaines de m) - Sensible ltat de surface des pices - Mthode contact

- Plus adapts la mesure de lpaisseur des pices - Mesure de lpaisseur de peintures sur plastique (pare-chocs automobile, par exemple), revtements sur bton, vernis sur bois, etc. (*) - Mesure dpaisseur de trempe - paisseur de revtement dtanchit sur du bton, etc.(*) - Mesure dpaisseur de film humide (poudres avant cuisson)(*) paisseur des dpts dor en microlectronique, analyse de matriaux multicouches (dans le cas de la fluorescence X), mesure de revtements et substrats conducteurs lectriques, etc.

Mthodes radiomtriques (fluorescence X et rtrodiffusion )

Mesure indpendante de la nature du substrat (en fluorescence X) Mesure de trs fines paisseurs (jusquau nanomtre) Mthodes sans contact

- Cot (> 20000 pour la fluorescence, > 12000 pour la rtrodiffusion ) - Pas adapt la mesure dpaisseur de matriaux organiques

(*) mthode dinterfromtrie ultrasonore

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Quelle mthode choisir ?
TYPE DE REVTEMENT TYPE DE SUBSTRAT
Ferromagntique (fer, fonte, acier) Mtallique non ferreux (alliages daluminium, cuivre) Isolants (poxy) Matriaux organiques

Non magntique mtallique Non magntique, non mtallique (cuivre, chrome, tain, zinc, or, argent ) (peintures, laques, vernis)
Induction magntique, rtrodiffusion (1), fluorescence X(2) Rtrodiffusion (1), courants de Foucault(5), fluorescence X(2) Courants de Foucault(5), rtrodiffusion (1), fluorescence X(2) Courants de Foucault(5), rtrodiffusion (1), fluorescence X(2) Induction magntique, rtrodiffusion (1), Courants de Foucault(5), rtrodiffusion (1), capacitif Rtrodiffusion (1), optique(3), ultrasons(4) Optique(3), ultrasons(4)
Mitutoyo

(1) condition que les numros atomiques du substrat et du revtement ne soient pas voisins (diffrence dau moins 20-25 %) (2) condition que le revtement ait un numro atomique suprieur 20 (3) condition que les matriaux soient translucides la longueur donde utilise, et que le substrat ne soit pas trop rflchissant (4) sauf cas particuliers (paisseur de revtement trop fine, mauvais tat de surface, etc.) (5) condition que les conductivits lectriques de chacun des matriaux soient suffisamment diffrentes

Pour effectuer des mesures la fois sur des substrats ferreux et non-ferreux, certains appareils combinent linduction magntique et les courants de Foucault.Pour passer dune sonde lautre,il suffit de presser un simple bouton.

la matire, en fonction notamment de leur nergie et du numro atomique du matriau. Une partie des lectrons mis est absorbe, lautre est rtrodiffuse et comptabilise par un dtecteur (plus le numro atomique du matriau bombard est lev, plus il y a dlectrons rtrodiffuss). Dautres mthodes sont utilises plus ponctuellement. Cest le cas notamment de la technique capacitive. Le capteur et la pice (un conducteur lectrique quelconque) forment les deux plaques dun condensateur. Sa capacit mesure avant et aprs application du revtement (un autre matriau conducteur lectrique) permet de dduire lpaisseur du revtement. Le contrle par ultrasons, que lon utilise gnralement pour mesurer lpaisseur de pices ou de parois, peut lui aussi convenir certaines mesures dpaisseur de revtements, en particulier sur des supports non mtalliques (verre, plastique, bois, bton). Le principe utilis est souvent bas sur la mesure du temps aller/retour mis par une onde

ultrasonore pour arriver aux diffrentes couches limites de la pice. En connaissant la vitesse de propagation des ondes dans ces matriaux, on en dduit la longueur du trajet. Dautres principes sont bass sur la microscopie acoustique ou sur linterfromtrie ultrasonore. Enfin, il est possible dutiliser certaines mthodes optiques telles que la microscopie confocale (qui permet par exemple de mesurer des paisseurs de vernis sur des substrats transparents), ou encore linterfromtrie.

A chacun son territoire


Du ct des mthodes, il y a donc le choix. Mais comme souvent dans ces cas-l, chacune a ses particularits et son champ dapplications privilgi. Pour bien choisir, il faut en connatre les avantages et surtout les limites. Linduction magntique et les courants de Foucault ont toutes deux largement fait leurs preuves depuis de nombreuses annes. Ces deux mthodes sont apprcies pour leur simplicit duti-

lisation et leur cot relativement faible, indique Christophe Gabriel, technico-commercial chez Testwell. Il existe de petites sondes portables qui offrent une gamme de mesure allant jusqu 1000 ou 3000 m avec une prcision de lordre de 2 m,et qui sont disponibles pour quelques centaines deuros . Stphane Gelle, responsable communication chez Labomat Essor, fait la mme analyse. Ce sont les deux mthodes les plus rpandues car elles offrent de bons rsultats tout en tant relativement bon march.Entre 700 et 1500 euros,on a un appareil tout fait suffisant pour la plupart des besoins . Si linduction magntique et les courants de Foucault offrent une tendue de mesure et une rsolution comparables, chaque mthode a nanmoins sa chasse garde : les substrats ferromagntiques pour linduction magntique, les substrats non ferreux pour les courants de Foucault. Cest la seule diffrence entre ces deux mthodes, souligne Christelle Pressat, assistante commerciale chez Elcometer. Avant de se dcider pour lune ou lautre,il faut donc en priorit se soucier de la nature du substrat . Ou alors ne rien dcider du tout, et opter pour des appareils

Principaux critres de choix


Induction magntique
Mthode contact ou pas Gamme de mesure Rsolution Cot approximatif Contact De lordre du m au mm Jusqu 0,1 m De 500 6000

Courants de Foucault
Contact De lordre du m au mm Jusqu 0,1 m De 500 6000

Ultrasons
Contact De lordre du m au mm Jusqu 0,1 m > 5000

Fluorescence X
Sans contact De quelques centimes quelques dizaines de m Jusqu quelques angstrms (1A=10-10 m) 20000 - 46000

Rtrodiffusion
Avec ou sans contact De quelques diximes quelques centaines de m Jusqu 0,1 m 12000 - 17000

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mixtes (proposs entre autres par Cegelec,Elcometer, Fischer,Testwell ou Mitutoyo), qui combinent les deux types de sondes. Lors du salon Mesurexpo, qui sest tenu le mois dernier Paris, Testwell a ainsi prsent le QuaNix 4500, un petit appareil sonde intgre permettant de raliser des mesures la fois sur des mtaux ferreux et non ferreux. Suivant les besoins, il suffit de changer le mode de mesure en pressant un simple bouton Finalement, avec les mthodes magntiques,on traite les trois quarts des problmes rencontrs en mesure dpaisseur de revtements , indique Daniel Piffard, grant de la socit Fischer. Mais, bien sr, il existe des applications o

Tout comme les mthodes magntiques,la fluorescence X permet de mesurer lpaisseur de revtements de manire non destructive.La technique est coteuse,mais elle est utilisable dans une trs large varit dapplications

Fischer

Mesure dpaisseur de revtements* : un aperu de loffre


Fabricants (Reprsentants)
AIS Akilog Automation Kln (Testwell) Capacitec Cotec DeFelsko (Labomat Essor) Elcometer Elcometer (Sofranel) Elektro Physik (Erichsen) Euraltech Fogale Nanotech FRT (BFI Optilas) GE Panametrics (Sofranel) Helmut Fischer (Fischer) Icap Karl Deutsch (Cegelec) Metalscan Mitutoyo Niton (Fondis Electronic) Oxford Instruments Panalytical (ex Philips Analytical) Phynix (Techindustries) Rigaku (Elexience) Rontgenanalytik (Caritec) Rontgenanalytik (Insidix) Sciensoria Sensofar (BFI Optilas) Shimadzu (Fondis Electronic) Sonatest (Intercontrle IC Escoffier) Sonix (Insidix) Spectro Steag ETA Optik (Eotech) Stil Veeco Instruments

Induction magntique

Courants de Foucault

Ultrasons

Capacitif

Magntique

Mthodes optiques (1)


q

Mthodes radiomtriques (2)


q

q q q

q q q q

q q q q q

q q

q q q

q q q q

q q q q q q q q q q q q q q q q q q q q q q q (3) q q q q q

*Mthodes non destructives - (1) Microscopie confocale, interfromtrie, etc. - (2) Fluorescence X, spectroscopie IR, rtrodiffusion , etc. - (3) Microscopie acoustique

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ni les courants de Foucault ni linduction magntique ne conviennent : cest le cas par exemple des revtements non magntiques et non mtalliques (tels que des peintures ou du vernis) dposs sur des substrats isolants ou dorigine organique (le verre, le bois, les matriaux plastiques, etc.). En fait, les courants de Foucault sont utilisables lorsquil y a une diffrence de conductibilit lectrique suffisante entre le substrat et le revtement. Cela exclut par exemple les dpts dargent sur du cuivre , indique M. Piffard (Fischer). Noublions pas aussi quil sagit de mthodes contact, donc peu adaptes aux revtements fragiles ou ports des tempratures leves. Enfin, ce sont toujours des mthodes comparatives,qui ncessitent auparavant dtalonner lappareil , prcise M. Piffard (Fischer). Du ct des techniques spectromtriques, il y a l aussi certaines particularits signaler. La fluorescence X,par exemple,permet danalyser tout revtement mtallique partir du numro atomique du titane.Et contrairement aux mthodes classiques,la mesure est indpendante de la nature du substrat , indique Jean-Claude Bouttier, directeur de Caritec. On lutilise alors typiquement lorsquon a deux bons conducteurs lun sur lautre,tels que de fins dpts dor sur des matriaux cuivreux , souligne M. Piffard (Fischer).Autre avantage de la technique, la possibilit danalyser des couches dalliages binaires (alliage de zinc et de nickel sur du fer, par exemple), et mme de mesurer lpaisseur de matriaux multicouches (nickel/cuivre/fer, chrome/nickel/fer, etc.). Comme il sagit dune mthode danalyse dtourne, il est possible, du moment que lon sait dans quel ordre sont les diffrents matriaux,de connatre leurs quantits respectives , souligne Jol Le Chevalier, directeur commercial de Fondis Electronic. La mthode permet en effet de slectionner une fentre dnergie dans le spectre dmission secondaire du matriau mesurer, et donc de ne comptabiliser que le nombre de photons issus du revtement. On sintresse en fait lnergie propre de la matire, explique M. Piffard (Fischer). Il est donc possible didentifier les diffrents lments prsents dans le revtement,et danalyser la composition des alliages . La rtrodiffusion , au contraire, ne permet pas deffectuer une telle slection. Elle nest donc pas adapte la mesure dpaisseur de matriaux multi-couches. Mais dautres lments prchent en sa faveur. Son cot (qui tourne autour de 15 000 euros) peut tre jusqu quatre fois moins lev que celui de la fluorescence X. De plus, son champ dapplication est thoriquement tendu tous types de revtements et tous types de supports condition que leur numro atomique ne soit pas trop proche. On lutilise par exemple pour des dpts dor, dargent ou dtain sur du cuivre, du nickel ou du fer, ou
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Techindustries Les appareils bass sur un principe magntique comportent une sonde que lon met en contact avec la pice.Suivant les applications, on utilise des sondes plus ou moins larges :si la surface de la pice est rugueuse,il faut prfrer les sondes les plus larges.Si les conditions daccs la pice sont difficiles,on choisira les sondes les plus fines

encore pour mesurer lpaisseur de dpts organiques (peintures, laques, vernis, rsines) sur des mtaux. La limite, tout comme dans le cas des mthodes magntiques, cest la mesure de dpts organiques sur des substrats eux-mmes organiques (du vernis sur du bois, par exemple).

Des applications bien spcifiques


Les autres mthodes (capacitives, optiques et ultrasonores) sont employes pour des cas plus spcifiques. La solution capacitive (propose notamment par Capacitec et Fogale Nanotech), par exemple, est limite aux revtements et aux substrats conducteurs. Nous avons par exemple ralis une application o lon mesu-

rait lpaisseur dune couche de zinc de 25 m sur un support dacier denviron 500 m , prcise JeanFranois Doussin, directeur technique de Capacitec Europe. Lpaisseur du revtement est alors dduite dune mesure dpaisseur totale de la pice avant et aprs dpt. Mais il existe un moyen de se passer de lpaisseur avant dpt. Fogale Nanotech a ainsi dvelopp un systme de mesure original associant les technologies capacitive et inductive (les deux sondes tant places sur le mme axe), pour mesurer lpaisseur de revtements non mtalliques sur des supports mtalliques. La sonde capacitive mesure la distance avec le substrat, et la sonde inductive mesure la distance avec le revte-

Des mthodes destructives


Outre les mthodes magntiques, optiques ou radiomtriques, il existe galement des mthodes destructives permettant de mesurer lpaisseur des revtements. Cest le cas par exemple de la coulomtrie, qui consiste dissoudre localement le revtement en y formant une petite cellule dlectrolyse chimique. Le temps ncessaire la dissolution de la couche est alors reli son paisseur. La mthode est notamment utilise pour mesurer lpaisseur de revtements de nickel, indique Christophe Gabriel, technico-commercial chez Testwell. Ce matriau, qui ne prsente pas toujours le mme taux de magntisme, est en effet difficilement mesurable avec les mthodes classiques . De manire plus gnrale, la coulomtrie mesure lpaisseur de tout dpt mtallique sur des substrats mtalliques ou non de quelques fractions plusieurs dizaines de micromtres dpaisseur. Une autre mthode consiste raliser une coupe transversale de lchantillon, et lanalyser laide dun systme optique avec le grossissement appropri. On mesure ainsi des revtements allant jusqu plusieurs dizaines de micromtres dpaisseur. Il est aussi possible de raliser une empreinte sur la pice revtue, et den mesurer les dimensions. Ou mme dutiliser une mthode gravimtrique en mesurant le poids du revtement

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pas si difficile. Lindustriel doit avant tout se poser un certain nombre de questions lmentaires pour bien dfinir son besoin, indique M. Piffard (Fischer). Quelle est la nature du substrat? Quelle est celle du revtement? Quelle est la forme des pices? Doit-on utiliser une mthode non destructive? Mesurer une simple paisseur ou raliser une analyse statistique approfondie? .

Un choix pas si difficile


La nature du substrat et celle du revtement, on la vu, suffisent bien souvent orienter le choix vers lune ou lautre des mthodes. De mme, si le revtement est form de plusieurs couches (peinture et zinc sur de lacier, par exemple), on se dirigera certainement vers la fluorescence X. La forme des pices, quant elle, permet de choisir un type de sonde (sonde droite, coude, plus ou moins large, etc.). Enfin, lappareil choisi nest bien sr pas le mme suivant que lon souhaite mesurer une simple paisseur ou bnficier dune mmoire, de fonctions statistiques, de la possibilit de tracer des courbes ou encore denvoyer les donnes un PC Ces fonctions, qui sont standards dans le cas dun spectromtre de fluorescence X, par exemple, ne sont pas forcment proposes avec les systmes de mesure magntiques. Quel que soit le systme choisi, la mesure de lpaisseur dun revtement ncessite ensuite de prendre un certain nombre de prcautions. Il faut dire que dans les trois quarts des applications, les revtements mesurs ont une paisseur infrieure au millimtre! , indique M. Gabriel (Testwell). A cette chelle, ltat de surface de la pice joue un rle non ngligeable. Il suffit dimaginer que lon mesure un dpt de zinc de 12 m dpaisseur sur une pice prsentant un paramtre de rugosit Ra de 10 m :suivant lendroit o lon fera la mesure,il y aura forcment dimportantes disparits , souligne M. Piffard (Fischer). De mme, la propret de la surface a parfois son imporCertains appareils universels sont compatibles avec diffrents types de sondes :courants de Foucault,induction magntique, ou mme rtrodiffusion Suivant les applications,et en particulier suivant la nature du substrat et les prcisions attendues,on passe alors de lune lautre en gardant la mme lectronique

Simplicit et rapidit dutilisation : ce sont les deux principales raisons pour lesquelles les industriels choisissent les mthodes magntiques. Il suffit de poser lappareil la surface du revtement pour avoir une mesure au dixime de micron prs.

Fischer

ment. Par dduction, on en dduit alors lpaisseur du revtement. La mesure optique, quant elle, est logiquement rserve aux revtements et aux substrats translucides dans les longueurs donde utilises. Des stations de mesure proposes par Cotec, Stil ou Fogale Nanotech, par exemple, permettent ainsi de mesurer lpaisseur de vernis, de couches de silicones ou de colle sur tous types de substrats transparents ( condition quil y ait un changement dindice suffisant entre les diffrents milieux). Avec un principe confocal, nous pouvons mesurer des paisseurs de revtements allant jusqu plusieurs millimtres avec une prcision de lordre de 1 m, indique Serge Carras co-grant de Cotec. En mode interfromtrique,la prcision est meilleure que le micron,avec une tendue de mesure allant jusqu 250 m . Bien sr, il nest pas question de mesurer lpaisseur de couches trop minces, indique Jean-Franois Quiniou, grant dAkilog. Nous intgrons par exemple des systmes bass sur un principe confocal ne permettant que de mesurer des paisseurs suprieures 1 m sur des matriaux assez rflchissants . La mthode ultrasonore, enfin, est la plupart du temps rserve la mesure de lpaisseur de revtements dposs sur des supports non mtalliques, tels que le bois, le plastique, le verre ou encore le bton. Le PosiTector de Labomat Essor, par exemple, mesure ainsi des paisseurs allant de quelques dizaines de microns quelques dizaines de millimtres, avec une prcision de lordre de 2 m. Il est galement possible dutiliser la mthode ultrasonore sur des substrats mtalliques, explique M. Gabriel (Testwell).Mais dans ce cas,autant utiliser les systmes magntiques qui donnent le mme rsultat pour un investissement infrieur .Autre application des ultrasons, ralise notamment chez Mtalscan, la mesure de la profondeur de trempe, pour connatre la duret surfacique dun matriau. Le princi-

pe est ici bas sur la rtrodiffusion des ondes ultrasonores sur les grains constituant le matriau. Dans les zones traites (l o lacier est tremp), les grains sont relativement fins, ce qui engendre un niveau de rtrodiffusion trs faible Malgr tout, la mesure de lpaisseur de revtements par ultrasons est relativement dlicate. Dans le cas de couches trop minces, il peut y avoir des recouvrements dchos et des interfrences entre les diffrentes couches limites. De mme, si linterfromtrie ultrasonore convient la mesure de lpaisseur dune couche de peinture sur un matriau plastique, par exemple, elle trouve vite ses limites lorsquon a deux ou trois couches de revtement : Les vitesses de propagation des ultrasons dans ces couches ne sont pas si diffrentes,et lon a du mal identifier les diffrentes interfaces, explique M. Piffard (Fischer). Dans ce cas,on travaille avec un tmoin sur un substrat ferreux (une petite pastille intgre un pare-chocs par exemple) . Malgr la varit des mthodes, le choix nest

Fischer

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tance. Dans le cas dune mesure capacitive, par exemple, une infime couche de poussire ou de liquide peut suffire modifier le dilectrique form entre la sonde et la pice, et donc fausser les mesures. Autre prcaution, dans le cas de linduction magntique et des courants de Foucault,il ne faut pas oublier que mme avec la sonde la plus fine possible,le champ cr nest jamais ponctuel,mais quil ressemble plutt une demi-sphre de 5 mm de diamtre ,poursuit M.Piffard (Fischer).Des sondes plus larges permettent alors dintgrer un plus grand volume de matire et de lisser ainsi leffet de la rugosit. Mais que lon se rassure,ces spcifications figurent gnralement sur la fiche technique des appareils : le QuaNix 4200 de Testwell, par exemple, requiert une surface de mesure dau moins 10x10 mm2,le Digiderm de Mitutoyo se contente dun cercle de 3 mm de diamtre,etc. Le volume de mesure ncessite aussi de prendre en compte la forme de la pice : des mesures ralises sur des pices planes ou courbes, par exemple, ne donneront jamais les mmes rsultats. Si lon doit mesurer lpaisseur dun revtement dune pice prsentant un certain rayon de courbure, il faudra alors raliser au pralable un talonnage dans les mmes conditions, sur une pice identique, et saider ventuellement de dispositifs mcaniques pour tre sr de placer la sonde rigoureusement de la mme manire. Il peut enfin y avoir des cas trs particuliers o des applications apparemment simples se transforment en de vritables casse-tte : il suffit parfois dune peinture non homogne dpose au pistolet, ou dun revtement charg de particules mtalliques pour que des effets parasites viennent fausser les mesures Devant la varit des situations, la plupart des fournisseurs conseillent alors dessayer au pralable les appareils. De tels essais,ds que lon se trouve dans des applications un peu spciales,permettent dviter toute mauvaise surprise , estime M. Gabriel (Testwell). M. Le Chevalier (Fondis Electronic) fait la mme analyse : avec des mthodes telles que la fluorescence X, linvestissement est tel quil vaut mieux auparavant raliser des essais,et ce quel que soit le type de substrat ou de revtement que lon souhaite analyser . Il faut enfin veiller garder les pieds sur terre, et valuer correctement ses besoins. Tout est une question de besoins et de retours sur investissements, souligne M. Piffard (Fischer). Mesurer un revtement assez pais est la porte de tout le monde, avec nimporte quel produit sur catalogue.Mesurer lpaisseur dun revtement organique sur un substrat lui-mme organique, telle quune couche de vernis sur du bois, est encore trs difficile mais en a-t-on vraiment besoin? En revanche,mesurer 1 m dor sur un circuit imprim exprime un rel besoin,et fera appel de vraies comptences. Si lon nen dispose pas en interne,il ne faut pas hsiter faire appel des spcialistes . Marie-Line Zani

Principaux fournisseurs
AIS Tl. : 04 74 09 48 80 - Fax : 04 74 09 48 88 www.ais.fr Akilog Tl. : 03 81 80 44 13 - Fax : 03 81 80 44 25 www.akilog.com BFI Optilas Tl. : 01 60 79 59 00 - Fax : 01 60 79 89 70 www.bfioptilas.com Capacitec Tl. : 01 43 39 48 68 - Fax : 01 49 80 07 49 www.capacitec.com Caritec Tl. : 04 74 01 05 52 - Fax : 04 74 01 03 14 www.caritec.fr Cegelec Tl. : 01 69 88 67 62 - Fax : 01 69 88 67 68 www.ndt.cegelec.com Cotec Tl. : 04 50 71 21 63 - Fax : 04 50 71 22 46 www.cotec.fr Elcometer Tl. : 02 38 86 33 44 - Fax : 02 38 91 37 66 www.elcometer.com Elexience Tl. : 01 69 53 80 00 - Fax : 01 60 11 98 09 www.elexience.fr Eotech Tl. : 01 64 49 71 30 - Fax : 01 64 49 32 29 www.eotech.fr MESURES 759 - NOVEMBRE 2003 Erichsen Tl. : 01 47 08 13 26 - Fax : 01 47 08 91 38 www.erichsen.fr Euraltech (Logisonic) Tl. : 01 60 92 83 83 - Fax : 01 60 92 83 70 www.euraltech.fr Fischer Tl. : 01 30 58 00 58 - Fax : 01 30 58 89 50 www.helmut-fischer.com Fogale Nanotech Tl. : 04 66 62 05 55 - Fax : 04 66 62 71 60 www.fogale.fr Fondis Electronic Tl. : 01 34 52 10 30 - Fax : 01 30 57 33 25 www.fondiselectronic.com Icap Tl. : 04 76 41 13 13 - Fax : 04 76 90 17 92 www.gresivaudan.com/icap Insidix Tl. : 04 38 12 42 80 - Fax : 04 38 12 03 22 www.insidix.fr Intercontrle IC Escoffier Tl. : 02 32 63 35 00 - Fax : 02 32 59 20 66 www.sonatest-plc.com Labomat Essor Tl. : 01 48 09 66 11 - Fax : 01 48 09 98 65 www.labomat.com Metalscan Tl. : 03 85 90 07 50 - Fax : 03 85 90 07 51 www.metalscan.fr Mitutoyo Tl. : 01 49 38 35 00 - Fax : 01 48 63 27 70 www.mitutoyo.fr Oxford Instruments Tl. : 01 69 85 25 25 - Fax : 01 69 41 86 80 www.oxinst.com Panalytical (Philips Analytical) Tl. : 01 45 10 53 70 - Fax : 01 45 10 53 71 www.panalytical.com Sciensoria Tl. : 02 99 57 19 71 - Fax : 02 99 57 18 78 www.sciensoria.com Sofranel Tl. : 01 39 13 82 36 - Fax : 01 39 13 19 42 www.sofranel.com Spectro Tl. : 01 34 02 40 40 - Fax : 01 34 02 40 49 www.spectro.com Stil Tl. : 04 42 39 66 51 - Fax : 04 42 24 38 05 www.stilsa.com Techindustries Tl. : 01 34 70 03 36 - Fax : 01 34 70 39 02 www.techindustries.fr Testwell Tl. : 01 39 73 02 54 - Fax : 01 39 73 25 78 www.testwell.fr Veeco Instruments Tl. : 01 64 59 35 20 - Fax : 01 64 59 72 22 www.veeco.fr

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