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Durée : 1H 45 min
1) Expliquer la différence entre capabilité intrinsèque et indicateur de déréglage, quand est ce qu’on
peut juger qu’un processus est capable.
2) Citer les règles de décision pour une carte de contrôle par mesure avec des limites de contrôle et de
surveillance.
3) Classer les outils suivants selon leurs objectifs (Etude, Analyse, Optimisation) : Diagramme ISHIKAWA,
Histogramme, Carte de contrôle, Diagramme de concentration de défaut, feuille de relevé,
4) Les diagrammes d’affinité et relationnel permettent de trouver les causes racines d’un problème,
d’autre part le diagramme ISHIKAWA a le même objectif. Quelle est la différence entre les deux
méthodes : ISHIKAWA et Diagramme d’affinité + Diagramme relationnel.
Une fonderie vient d’obtenir un nouveau marché pour des feuilles métal destinées à mouler les
capots d’automobile. Parmi les étapes de ce processus le passage dans un atelier de peinture. Un
contrôle de conformité est fait juste avant l’étape de peinture.
Un trop grand nombre de défauts mineurs (seul type de défauts) peuvent conduire à un traitement
particulier du capot considéré alors comme non conforme. Les observations sur 15 échantillons ont
donné les résultats suivant :
N° 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
Taille échantillon 100 120 90 80 110 100 10 110 90 90 90 11 80 100 100
0 0
Nombre de défauts 12 4 8 15 7 3 14 2 5 8 3 10 9 5 2
sur l’échantillon
Une entreprise X vérifie le diamètre d’une surface cylindrique coté 20 +0,05, 20-0,08.Un lot de 46
pièces est mesuré à l’aide d’un micromètre (résolution = 0,01 mm).Les mesures des 42 sont les
suivantes: