Bilan TRPL

Influence du solvent sur la durée de vie de l’exciton des couches pérovskites seules

Perovskite layers on glass

from anhydrous DMF
Normalized PL emission [a. u.] 1
from aqueous DMF

0.1
0 5 10 15
Time (ns)

Durée de vie de PL plus longue dans le cas du film élaboré à partir du DMF aqueux : indique des processus radiatifs
plus intenses via une réduction des recombinaisons non radiatives, le plus souvent associées à la présence de
défauts électroniques. Cet résultat est à mettre en parallèle de la morphologie et de la structure des films : grains
plus gros et cristallites plus grandes pour le film basé sur le DMF aqueux. La présence d’eau permet donc de
réduire les pièges et donc de limiter les recombinaisons non-radiatives.

Estimation du rendement de transfert de trous de la pérovskite vers le HTM (spiro)

Pour cela, comparaison entre TRPL des couches pérovskites seules et avec spiro.

Using aqueous DMF for perovskite processing Using anhydrous DMF for perovskite processing
Glass/perovskite Glass/perovskite
Normalized PL emission [a. u.]

Normalized PL emission [a. u.]

Glass/perovskite/HTM Glass/perovskite/HTM
1
1

0.1

0.1

0.01
0 5 10 15 0 5 10 15
Time (ns) Time (ns)

La quantification de ces données se fait via l’ajustement des courbes par les fonctions bi-exponentielle
décroissantes, dont les valeurs sont reportées dans le tableau suivant.
 A1 (%) T1 (ns) A2 (%) T2 (ns)
MAPI3
aqueous
DMF
MAPI3
aqueous
DMF + spiro
MAPI3 80 1.19 20 13.44
anhydrous
DMF
MAPI3 60 0.76 40 6.95
anhydrous
DMF + spiro