ISIB Laboratoire de physique, 18 novembre 2022

Expérience de Young :
Couples de fentes
A. Colin, E. Espinoza, E. Poket
Institut Supérieur Industriel de Bruxelles
Rue des Goujons, 1070 Anderlecht (Belgique)
58024@etu.he2b.be 58672@etu.he2b.be 56981@etu.he2b.be

Introduction et but
Le but du présent laboratoire est de déterminer expérimentalement la longueur d’onde λ d’un
laser Neon-Helium au moyen de l’expérience de Young. Il convient donc dans un premier
temps de rappeler brièvement cette dernière.
L’expérience de Young (les fentes de Young), réalisée par Thomas Young en 1801, a permis
de mettre en lumière la dualité onde-particule. En effet, le principe appliqué à cette
expérience est l’analyse de l’interférence observée entre deux faisceaux lumineux cohérents,
à l’aide d’une seule et même source. Le front d’onde principal passe dans deux fentes
percées sur une plaque opaque et est alors divisé en deux faisceaux subséquents
cohérents. La projection de ces faisceaux sur un écran permet l’analyse de leur interférence.
Il en ressort que la matière présente un comportement ondulatoire là où leur projection
démontre un comportement particulaire.
Le déphasage est interprété par la différence d’intensité lumineuse affichée sur l’écran.
Lorsque les intensités des deux ondes se superposent, s’il s’agit de points extremums
(maximums ou creux), les deux ondes sont en phase, impliquant une interférence
constructive, une intensité maximale et donc un point lumineux. À l’inverse, si deux
extremums opposés se superposent, l’interférence résultante est destructive et un point noir
est observé.

https://www.techno-science.net/definition/2936.html

https://fr.wikipedia.org/wiki/Fentes_de_Young

cours isib
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Matériel employé
Le matériel utilisé lors de cette manipulation se compose :
 D’une source lumineuse : un laser néon-hélium
 D’une plaque opaque présentant trois couples de fentes (A,B et C)
 D’un microscope comparateur
 D’un banc optique
 D’un écran

Mode opératoire

1. Vérifier que la source lumineuse soit bien dirigée en direction des fentes et de l’écran, et que
l’ensemble des dispositifs soit alignés lors de l’expérience. Veuillez prendre en compte de la
distance entre la source, les fentes et l’écran pour faciliter les calculs lors de la rédaction du
rapport.

2. Allumer la source, et diriger le faisceau sur l’un des 3. Dès lors, vous observerez des fentes
sur l’écran, il est préférable d’éteindre les lumières lors de la mesure au point 3.

3. Tout d’abord distinguer les fentes entre elles, à l’aide d’une feuille que vous placerez au-
dessus d’elles, tracer 5 traits entre 5 fentes collées entre elle. N’oubliez pas la fente centrale
qui doit être compris dans vos 5 traits. Chaque trait correspond à une extrémité d’une fente.
Prenez en compte que si vous tracez le trait de l’extrémité droite d’une fente, vous devriez
tracer les traits des extrémités droites de chacune des fentes.

4. Mesurer chacune de ces distances à l’aide d’une règle, et noter ces mesures. Répéter l’étape
3, 5 fois. Ensuite, vous répéterez pour les 2 fentes restantes, en reprenant de l’étape 2 à 3.

Pour engager l’expérience, il convient premièrement d’aligner un laser Néon-Hélium, un

support de fentes et l’écran sur un rail d’essai. Les trois éléments doivent être alignés et
positionné de manière à faire passer le faisceau du laser à travers une première fente en
vérifiant la diffraction optimale de la lumière sur l’écran. L’intensité étant diminuée, il est plus
intéressant de réaliser cette expérience dans une pièce sombre voire dans le noir.
Sur l’écran, auquel est collé une feuille en papier pour récupérer les résultats, sont alors
observables différents points lumineux correspondants aux ordres de diffraction (m). Le
calcul de la longueur d’onde, but final de la manipulation, nécessite la connaissance de la
distance (x) entre le point lumineux central, exactement en face de la source, et les points
lumineux des ordres supérieurs, avec un total requis ici de cinq ordres différents. Afin
d’obtenir ces mesures, les points lumineux sont marqués par un trait de crayon avant d’être
mesurés à l’aide d’une équerre. Les points utilisés dans cette expérience sont à chaque fois
ceux de l’ordre un et deux de part et d’autre du point lumineux central ainsi que l’ordre trois
d’un côté pour avoir les mesures sur un total de cinq ordres (1,2,-1,-2,-3).Il est important de
spécifier que l’ordre 0 n’est pas pris en compte puisque ce dernier ne permet pas une
mesure de x puisque cette distance est de 0mm, les points étant superposés en cet ordre de
diffraction.
Cette manipulation doit être répétée pour les trois fentes différentes, avec cinq mesures
pour chacune d’entre elles. Avec cinq mesures pour les cinq ordres différents, un total de
septante-cinq mesures sont récupérées.
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Formules employées
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Mesures (incertitudes)
Dans le but de spécifier et classifier au mieux les incertitudes inhérentes à la présente
manipulation, la section suivante sera divisée en [] parties : les types d’incertitudes
présentes, les formules et incertitudes et l’analyse de ces dernières.
5.1 Types d’incertitudes
Dans la présente manipulation, les mesures sont répétées un nombre conséquent de fois.
Dès lors, les incertitudes liées aux répétitions sont dites de type A. Dans le cas de
l’expérience de young, l’incertitude sur la mesure prise de la distance x ainsi que celle finale
sur lamba sont donc des incertitudes de type A.
Les incertitudes liées, quant à elles, au matériel utilisé sont déterminées sur base de la
précision de ce dernier. Aussi la distance D mesurée sur base d’une règle au millimètre près
aura une incertitude au millimètre près.

5.2 Formules relatives et incertitudes

5.2.1 Incertitude sur la distance x

Comme décrit précédemment, la valeur moyenne des distances mesurées a dans un
premier temps été effectuée. Afin d’en déterminer l’incertitude, l’écart-type σ a donc été
calculé selon la formule (1) :

En effet, il convenait dans un premier temps de mesurer les écarts de chacune des mesures
par rapport à la moyenne avant de les élever au carré et de les sommer. Il a ensuite fallu les
diviser par le nombre d’élément mesurés (5 dans le cas présent) pour finalement en prendre
la racine carrée. L’écart-type ainsi mesuré constitue la demi-largeur d’incertitude de la
mesure.
Il est important de spécifier que cette incertitude a été déterminée sur 5 valeurs et ce pour
chaque valeur de x initialement mesurée. Ces valeurs ainsi que leurs écarts-type sont repris
dans le tableau 1 :

Fentes 1 x(±σ) [mm] Fentes 2 x(±σ) [mm] Fentes 3 x(±σ) [mm]

1,2(±0,24)
3,1(±0,37) 3(±0) 2,8(±0,40)
5,6(±0,20) 6(±0) 1,6(±0,20)
2,6(±0,20) 3(±0) 3,08(±0,21
5,6(±0,20) 7(±0) )
8,3(±0,40) 10,8(±0,04) 4,52(±0,43
)

5.2.2 Incertitude sur la distance D

La distance prise entre la plaque opaque (les fentes) et l’écran de projection, autrement
nommée distance D, a été mesurée à l’aide d’une règle précise au millimètre près.
L’instrument de mesure possède donc une incertitude proportionnelle à son échelle et donc
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une précision au millimètre près. En outre, cette distance n’a pas été modifiée lors de
l’expérience et sa valeur vaut donc 2593(±1) mm.

5.2.3 Incertitude sur l’entre-fentes a

Les trois entres-fentes à ont été mesurés au préalable et sont fournis dans la manipulation
avec le matériel, aussi chacune d’entre elle est de l’ordre du nanomètre, de même que leurs
incertitudes respectives. Les différentes valeurs sont reprises dans le tableau 2 ci-dessous :

Entre-fentes Mesure et incertitude [mm]

1 0,599(±0,001)
2 0,608(±0,001)
3 1,196(±0,001)

5.2.4 Incertitude sur la longueur d’onde λ

L’incertitude sur chaque valeur de lambda est déterminée quadratiquement sur bases des
incertitudes sur x, D et a selon la formule (2) suivante :

√( )( )( )
ua 2 u x 2 u D 2

u λ =λ + +
a x D
Les carrés de chaque incertitude préliminaire divisée par leur valeur sont additionnés, mis en
racine et multiplié par la valeur de λ pour obtenir l’incertitude sur la longueur d’onde. Cette
méthode quadratique assure une incertitude finale sur la longueur d’onde du laser néon
hélium recherchée lors de l’expérience de Young réalisée.
Ci-dessous sont reprises les valeurs des longueurs d’onde calculées et approximée ainsi
que leurs incertitudes respectives.

Couple de fentes 1 λ ¿ incertitude) [mm] Couple de fentes 2 λ ¿ incertitude) [mm]

0,00071612(±8,64433E-05) 0,00070343(±1,18834E-06)
0,00064682(±2,31272E-05) 0,00070343(±1,18834E-06)
0,00060062(±4,62128E-05) 0,00070343(±1,18834E-06)
0,00064682(±2,31272E-05) 0,00082067(±1,3864E-06)
0,00063912(±3,08203E-05) 0,00084412(±3,43623E-06)
Couple de fentes 3 λ ¿ incertitude) [mm]
0,00055349(±1,13E-04)
0,00064574(±9,22503E-05)
0,00073799(±9,22509E-05)
0,00071492(±4,84349E-05)
0,00069186(±6,61144E-05)
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Questions inhérentes
1. Le laser néon-hélium
Dans un premier temps, il convient de comprendre le fonctionnement d’un laser avant de se pencher
sur celui du laser néon-hélium. Le laser, de l’acronyme Light Amplification by Stimulated Emission of
Radiation (amplification de la lumière par émission stimulée de rayonnements) désigne un
phénomène photonique se basant, comme indiqué dans son titre, sur l’émission stimulée.

Il est important d’expliquer dans un premier temps le concept de quantification de la matière. Les
électrons situés autour d’un atome sont répartis sur des « couches », des niveaux d’énergie,
correspondant à des orbitales (régions de l’espace autour du noyau atomique où la probabilité de
trouver un électron est fortement élevée).

L’absorption désigne le phénomène par lequel, lorsqu’un rayonnement lui parvient, un électron peut
être excité et passe d’un niveau d’énergie En à un niveau supérieur En’, comme vu sur la figure ci-
dessous. La fréquence ν du rayonnement vérifie la relation E2 – E1 = hν.

S‘en suit alors l’émission spontanée, processus par lequel un électron d’une couche supérieur vient
combler la « place » vacante laissée par l’électron excité par absorption. Ce dernier doit donc
abaisser son niveau d’énergie et émet un rayonnement, émet donc un photon d’énergie hν
transportant la différence d’énergie dans une direction aléatoire, comme illustré sur la figure ci-
dessous.

Enfin, le phénomène sur lequel se base les lasers est l’absorption stimulée. Ce principe est défini
comme inverse à l’absorption. En effet, sous l’effet d’un rayonnement de fréquence ν, un électron
passe d’un état excité à un état plus stable en émettant un photon. L’onde incidente se trouve alors
amplifiée puisque la direction d’émission est équivalente à celle de l’onde incidente. Ce phénomène
est représenté sur la figure suivante.
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Dès lors le fonctionnement du laser néon-hélium peut être expliqué par les phénomènes et concepts
repris ci-dessus. Le rayon émis de longueur d’one λ = 632,8 nm correspond à une différence
d’énergie entre deux niveaux E1 et E2 du néon repris ci-dessous :

- Niveau inférieur E1 = 18,704625 eV

- Niveau supérieur E2 = 20,663362 eV

La différence E2 – E1 = 1,958737 eV peut être utilisée pour déterminer la fréquence émise de la

radiation (1) et donc la longuer d’onde dans le vide de ce type de laser (2), de valeur égale à 632,98
nm :

ν=(E 2−E 1)/(h e) (1)

λ vide=c/ ν (2)

NB : e représente la charge élémentaire, h la constante de planck et c la vitesse de la lumière dans le

vide.

La longueur d’onde dans l’aire étant inférieure de 0,17 nm à celle dans le vide, on retrouve
effectivement la valeur annoncée λair = 632,81 nm.

Dans le tube du laser étudié sont contenu du néon ainsi que de l’hélium. Ce dernier est présent en
majorité (90%). Ce constituant principal a été choisi du fait que son énergie d’excitation pour un
certain état de configuration est relativement similaire à la valeur E2 du néon. Grâce à des décharges
électriques, les électrons de l’hélium sont excités et, par collision, cette énergie est transmise aux
électrons du néon comme représenté à la figure []. Ensuite, un phénomène d’émission stimulée
permet aux électrons en E2 du néon de revenir à leur état E1, pour ensuite revenir rapidement à leur
état fondamental par successions rapides en cascade.
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http://culturesciencesphysique.ens-lyon.fr/ressource/laser-HeNe.xml

2. Relation entre λ et l’inter-fentes a

Suite à la lecture du cours de physique ondulatoire dans le cadre de la deuxième année académique
du master en sciences de l’ingénieur industriel dispensé à l’ISIB, et de l’ouvrage [], la longueur d’onde
λ et l’inter-fentes a peuvent être reliées en fonction de trois autres paramètres, à savoir la distance x,
la distance D et enfin l’ordre de diffraction m selon la relation suivante :

xa
λ=
mD
Comme expliqué, l’inter-fentes est multiplié par la distance entre le centre de diffraction et le centre
de l’ordre m considéré. La valeur obtenue est alors divisée par cet ordre m multiplié par la distance D
(prises entre l’écran de projection et la plaque opaque présentant les couples de fentes).

3. Positionnement du matériel

Comme vu selon la relation (), les paramètres impactant sont la distance x, la distance D et les ordres
de diffraction m. Ces derniers doivent donc être adapté pour une précision optimale. Les distances
respectives x et D devront donc être suffisamment élevée afin de pouvoir distinguer les figures de
diffraction avec plus de précision jusqu’à des ordres m suffisant pour croiser différentes mesures afin
d’obtenir une valeur expérimentale basée sur un nombre important de valeurs de x.
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Analyses conclusions

 Éclairer un écran opaque muni de deux fentes identiques (séparées d’une distance b) par une
onde symétrique qui tombe de même façon sur les deux fentes (pour peu que cette
condition soit respectée, l’onde peut être plane sphérique ou cylindrique) ici : plane.
