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SAVOIR FAIRE
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TECHNIC OPERATE
IENS SAVOIR - FAIRE
URS
- LES PARTAGE
INGENIE
URS LA BONNE METHODE
SITUATION 1
RECONNAISSANCE
COMPE PLAISIR
TENCE
ENERGI
E
Permet de représenter les
L’histogrammedonnées sous forme
graphique
K=1+10/3log10 n
9
ü n=60 ; Le nombre de classe K=7
ü D’après le tableau , la plus grande
valeur dans la série est Xmax = 43.1 et la
petite Xmin = 37.0 ce qui donne : E =
43.1-37.0=6.1
ü Chaque classe aura une amplitude de
E/ K=6.1/ 7= 0.87 ; A=1
ü La plus petite valeur est 37.0 ; donc on
peut fixer la limite inférieure de la
première classe à 36.5 et( la limite
supérieure à 37.5 ( 36.5+A ) 10
37 39 39,7 40,8
37 39 39,7 40,9
37,2 39 39,9 40,9
37,6 39,1 39,9 41,2
37,6 39,1 39,9 41,2
37,8 39,2 40 41,3
37,8 39,4 40 41,5
37,9 39,4 40 41,5
38,4 39,4 40 42,1
38,4 39,4 40,1 42,2
38,5 39,4 40,3 42,6
38,5 39,5 40,4 43,1
38,6 39,5 40,4
38,7 39,5 40,6
38,8 39,6 40,6
38,9 39,7 40,7 11
Classes Dépouillement Fréquences absolues
36,5 ≤ X< 37,5 III 3
37,5 ≤ X< 38,5 IIII/ II 7
38,5 ≤ X< 39,5 IIII/ IIII/ IIII/ II 17
39,5 ≤X< 40,5 IIII/ IIII/ IIII/ III 18
40,5 ≤ X< 41,5 IIII/ IIII 9
41,5 ≤X< 42,5 IIII 4
42,5 ≤ X< 43,5 II 2
12
2-Histogramme :
Lorsque la variable est continue la représentation
graphique prendra la forme d’un histogramme.
Exemple :
l’histogramme des diamètres en mm des tiges
tournées.
20
15
10
0
Fréquences absolues 13
Outputs Customers
C ’est risqué !
Coût
Intervalle de tolérance
Capabilité du procédé Cp = =1
6 sigma
Service
Outputs Customers
Cible Exigences Besoins
z = 6 sigma
Qualité
Coût
Intervalle de tolérance
Capabilité du procédé Cp= = 2,00
6 sigma
Service
MSP concept
16
Les propriétés de la loi normale .
99,73%
5 6 7 8
Une entreprise fabrique des rondelles, on suit la distribution des
diamètres. Est-ce que la production est normale
interval xi ni
[15;25[ 18
[25;35[ 42
[35;45[ 74
[45;55[ 50
[55;65[ 16
somme 200
Une entreprise fabrique des rondelles, on suit la distribution des
diametres.
interval xi ni ni xi ni xi²
[15;25[ 20 18 360 7200
[25;35[ 30 42 1260 37800
[35;45[ 40 74 2960 118400
[45;55[ 50 50 2500 125000
[55;65[ 60 16 960 57600
somme 200 8040 346000
Courbe des
moyennes
Courbe des
valeurs
individuelles
LIC
LSC
X
Étendue des variations
Intervalle de tolérance
Types de cartes de contrôle
•Carte X/R
Graphique du test de •Carte X/S
comparaison de X p/r à une •Carte Me/R
valeur théorique (répartition +utilisée
•Carte Me/S
normale ) que X/S
•Carte Mo/R
•Carte Mo/S 33
- Carte de contrôle Moyenne
35
C - Calcul de l’estimateur de l’écart-type
σˆ = R
d2
Le coefficient d2 dépend uniquement de la
taille n de l’échantillon dont les valeurs sont
données dans la table de Shewhart
36
D - Calcul des limites de contrôle
LSC = R + 3σˆ d3 = R + 3 R d3
d2
• Le coefficient d3 dépend uniquement de la taille de
l’échantillon dont les valeurs sont données dans la
table de Shewhart
d3 Þ LSC = D4.R
• On pose : D4 = 1 + 3
d2
• Limite inférieure de contrôle LIC = D3.R
d3
avec : D3 = 1 − 3
d2
Les coefficients D3 et D4 sont liés à la taille n de 40
l’échantillon, comme le coefficient A2
CALCUL DES LIMITES DE CONTROLE
Situation données nécessaires Limite de localisation Limites de dispersions
Calcul a partir de σ
Étendu:
Écart type total moyenne
Lic = D5 * σ
Lic = cible -Aσ Lsc = D6 * σ
Lsc = cible +Aσ Ecart type:
Lic = B5 * σ
Lsc = B6 * σ
42
N° Cp Cpk
1 2,5 2,2
2 1,9 1,1
3 0,9 0,9
N° X1 X2 X3 X4 X5 Xmoy R
1 80 86 88 83 82 83,8 8
2 85 83 81 82 83 82,8 4
3 87 87 87 88 82 86,2 6
4 84 85 84 85 87 85 3
5 87 84 89 83 87 86 6
6 85 81 78 80 86 82 8
7 85 89 84 82 84 84,8 7
8 84 85 85 88 87 85,8 4
9 78 87 82 82 87 83,2 9
10 86 84 83 84 85 84,4 3
11 82 88 85 81 88 84,8 7
12 79 84 81 79 87 82 8
13 85 85 82 85 85 84,4 3
14 85 84 88 86 83 85,2 43 5
Solution:
44
45
CARTES PAR ATTRIBUT
46
Principales cartes utilisées dans le contrôle par attribut sont :
( carte np )
( carte c )
47
Étapes pour construire une
carte «np»
∑d
i =1
i
np =
k
Étapes pour construire une
carte «np»
• Calculer la limite supérieure de contrôle concernant le nombre
d’unités défectueuses d’un échantillon
np
LSCnp = n p + 3 × n p × (1 − )
n
• Calculer la limite inférieure de contrôle concernant le nombre
d’unités défectueuses d’un échantillon
np
LICnp = n p − 3 × n p × (1 − )
n
Étapes pour construire une
carte «p»
∑d
i =1
i
p= k
∑n
i =1
i
Étapes pour construire une
carte «p»
• Calculer la limite supérieure de contrôle concernant la
proportion d’unités défectueuses d’un échantillon
p × (1 − p )
LSC p = p + 3 ×
n
• Calculer la limite inférieure de contrôle concernant la
proportion d’unités défectueuses d’un échantillon
p × (1 − p)
LIC p = p − 3 ×
n
• Nous avons relevé le nombre de défauts par échantillons, dans le contrôle de sertissage, ces
données nous guide à tracer les cartes p.
• Tableau des données:
0,67
0,68 UCL = 0,6
0,67
0,66 CTR = 0,6
0,66
0,65 0,65 LCL = 0,6
LCS
0,64
p
LCI
0,63 0,64
P
0,62
0,61 0,63
0,6
0,59 0,62
1 2 03 42 5 4
6 7 68 98 10 10
11 1212
13
Subgroup
53
Remarques carte p
• Complétez le tableau ?
• Tracez la carte adéquate ?
• Identifie les points pour lesquels ils sera
nécessaire de recalculer les limites ?
La carte P et np
• Exemple:
On veut contrôler le diamètre d’une pièce
usinée par une machine-outil.
Le contrôle de 20 éch successifs de 100
pièces a permis d’enregistrer les résultats
suivants.
57
N° nb de déf proportion
1 2 0,02
2 4 0,04
3 2 0,02 Pour n=100
4 3 0,03
5 1 0,01
6 4 0,04
LSC P= 0.0775
7 3 0,03
8 2 0,02 LIC p= -0.0215
9 0 0
10 2 0,02 =0
11 6 0,06
12 2 0,02
13 6 0,06
14 1 0,01
15 2 0,02
16 3 0,03
17 2 0,02
18 5 0,05
19 2 0,02
20 4 0,04 58
P moy 0,028
Étapes pour construire une
carte «c»
∑c
i =1
i
c=
k
LSCc = c + 3 × c
LICc = c − 3 × c
Étapes pour construire une
carte «u»
k u
LSCu = u + 3 ×
∑c
i =1
i n
u= k
∑n i
u
i =1 LICu = u − 3 ×
n
Exercice
Échantillon n c d
1 100 0 0
2 100 4 1
3 100 0 0
4 100 0 0
5 100 2 2
6 100 0 0
7 100 0 0
8 100 1 1
9 100 0 0
10 100 1 1
11 100 0 0
12 100 3 2
Somme 1200 11 7
Exercice
Échantillon n c d
1 180 2 1
2 210 1 1
3 200 3 2
4 160 2 1
5 200 1 1
6 240 2 1
7 200 2 2
8 180 1 1
9 160 1 1
10 250 3 2
11 200 2 2
12 220 4 3
Somme 2400 24 18