Compétences en conception et caractérisation optique :

 Conception optique :

Optique géométrique : Compréhension des lois de base régissant le chemin des rayons
lumineux à travers des systèmes optiques.

Conception de lentilles et d'optiques : Capacité à concevoir des lentilles, miroirs, filtres

optiques et autres éléments pour répondre à des exigences spécifiques en termes de
résolution, de champ de vision, etc.

 Caractérisation optique :

Mesures de performance : Capacité à évaluer et mesurer la performance des systèmes

optiques, tels que la résolution, le contraste, la distorsion, etc.

 Résolution spatiale : C'est la capacité à distinguer les détails dans une image
ou à résoudre des structures distinctes dans un système optique. Elle est
souvent exprimée en unités de distance, comme les micromètres ou les
nanomètres.
 La résolution spatiale dépend de plusieurs facteurs :

Longueur d'onde de la lumière : Plus la longueur d'onde est courte,

meilleure est la résolution. C'est pourquoi les microscopes à lumière
visible ont une limite théorique de résolution due à la diffraction de la
lumière.

Diffraction :

Lorsque la lumière passe par une ouverture ou autour d'un objet, elle
se courbe ou se plie autour des bords de cet objet, créant des motifs
de distribution de la lumière. Ces motifs résultent de l'interférence
entre différentes parties de l'onde lumineuse.

 Taille de l'ouverture numérique (NA) : Une plus grande ouverture

numérique permet une meilleure résolution. L'ouverture numérique
est déterminée par les lentilles et l'objectif utilisé dans un système
optique.
 Qualité de l'optique : La qualité des lentilles, des miroirs et des
composants optiques influe sur la résolution globale d'un système
optique.

les principes de microscopie

 Microscopie optique (microscope optique) :
 Lentilles et Illumination : Utilise des lentilles pour grossir l'image et la
lumière pour illuminer l'échantillon.
 Résolution : Capacité à distinguer les détails fins de l'échantillon. La
résolution dépend des caractéristiques de l'objectif et de la longueur d'onde
de la lumière utilisée.
  Contraste : Le contraste en microscopie fait référence à la différence de
luminosité ou de couleur entre les parties de l'échantillon observé. Un bon
contraste est crucial pour distinguer les détails et les structures de
l'échantillon.Différentes techniques sont utilisées pour améliorer le
contraste et rendre visibles les détails subtils de l'échantillon, comme la
coloration, la polarisation, la phase, etc.
 Microscopie électronique :
 Faisceau d'électrons : Utilise des faisceaux d'électrons au lieu de la lumière
pour former une image.
 Résolution élevée : La microscopie électronique offre une bien meilleure
résolution que la microscopie optique, permettant de visualiser des détails à
une échelle beaucoup plus petite.
 Types :
 Principe TEM (Transmission Electron Microscopy)
 Faisceau d'électrons : Un faisceau d'électrons est dirigé vers
l'échantillon. La longueur d'onde des électrons est bien plus courte
que celle de la lumière visible, permettant une résolution bien plus
élevée.
 Interaction avec l'échantillon : Lorsque les électrons traversent
l'échantillon, ils interagissent avec sa structure. Certains électrons
sont transmis à travers l'échantillon, tandis que d'autres sont
dispersés ou absorbés.
 Formation de l'image : Les électrons transmis sont collectés par une
lentille électromagnétique pour former une image sur un écran
fluorescent ou un capteur numérique. Cette image correspond aux
variations d'interaction des électrons avec différentes parties de
l'échantillon.
 Principe La Microscopie Électronique à Balayage (SEM pour
Scanning Electron Microscopy en anglais) :
est une technique de microscopie qui utilise un faisceau d'électrons
pour générer des images détaillées de la surface des échantillons à
des résolutions élevées.

Faisceau d'électrons : Un faisceau d'électrons est balayé sur la

surface de l'échantillon. Contrairement à la TEM où les électrons
traversent l'échantillon, dans le SEM, les électrons incidents
interagissent avec la surface de l'échantillon.

Interaction avec l'échantillon : Lorsque le faisceau d'électrons

frappe la surface de l'échantillon, il provoque l'émission d'autres
électrons, de rayons X et de signaux de rétrodiffusion. Ces signaux
sont détectés pour former une image.

Formation de l'image : Les signaux générés sont collectés et

analysés pour former une image de la surface de l'échantillon.
Différentes informations, comme la topographie, la composition et
la texture de la surface, peuvent être obtenues à partir de ces
signaux.