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Rdig par :
FARHAN RIDA
MOUMEN ABDERRAHIM
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Sommaire
Introduction
1 Principe gnral
2 Histoire
o 2.1 Travaux prliminaires
o 2.2 Premier microscope balayage
o 2.3 Dveloppement du microscope lectronique balayage
3 Interaction lectron-matire
o 3.1 lectrons secondaires
o 3.2 lectrons rtrodiffuss
o 3.3 lectrons Auger
o 3.4 Rayon X
4 Instrumentation
o 4.1 Canon lectrons
o 4.2 Colonne lectronique
o 4.3 Dtecteur dlectrons secondaires
5 Prparation de lchantillon
o 5.1 chantillons biologique
o 5.2 chantillons mtallique
6 Diffrents types dimageries
o 6.1 Imagerie en lectrons secondaires
o 6.2 Imagerie en lectrons rtrodiffuss
o 6.3 Imagerie en diffraction dlectrons rtrodiffuss
o 6.4 Imagerie en courant dchantillon
o 6.5 Imagerie chimique lmentaire par spectromtrie de rayons X
Conclusion
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Introduction
La microscopie lectronique balayage (MEB ou SEM pour Scanning Electron
Microscopy en anglais) est une technique de microscopie lectronique base sur
le principe des interactions lectrons-matire, capable de produire des images en
haute rsolution de la surface dun chantillon.
S'appuyant sur les travaux de Max Knoll et Manfred von Ardenne dans les annes
1930, la MEB consiste en un faisceau dlectrons balayant la surface de
lchantillon analyser qui, en rponse, rmet certaines particules. Ces
particules sont analyses par diffrents dtecteurs qui permettent de reconstruire
une image en trois dimensions de la surface.
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1 Principe gnral
Le pouvoir de rsolution (capacit distinguer des dtails fins) de lil humain
avec un microscope optique est limit par la longueur donde de la lumire
visible (photons) ainsi que par la qualit des lentilles grossissantes. Les plus
puissants microscopes optiques peuvent distinguer des dtails de 0,1 0,2 m. Si
lon veut observer des dtails plus fins, il faut diminuer la longueur donde qui
claire les cibles. Dans le cas des microscopes lectroniques, on nutilise pas des
photons, mais des lectrons, dont les longueurs dondes associes sont beaucoup
plus faibles.
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Brche des laboratoires EAG envisagrent de tester cette possibilit. Cette course
a men la construction en 1932, par Knoll et Ruska, du premier microscope
lectronique en transmission.
2.2 Premier microscope balayage
Aprs avoir rejoint Telefunken pour mener des recherches sur les tubes
cathodiques des tlviseurs, Max Knoll a dvelopp, afin dtudier la cible de
tubes lectroniques analyseurs, un analyseur faisceau dlectrons qui runissait
toutes les caractristiques dun microscope lectronique balayage : lchantillon
se trouvait lextrmit dun tube de verre scell et un canon lectrons se
trouvait lautre extrmit. Les lectrons, acclrs sous une tension de lordre de
500 4 000 volts, taient focaliss sur la surface et un systme de bobines les
dviait. Le faisceau balayait la surface de lchantillon au rythme de 50 images par
seconde. Le courant transmis par lchantillon rcupr, amplifi et modul et
permettait de reconstruire une image. Le premier appareil utilisant ce principe a
t construit en 1935.
Par la suite, cest le scientifique allemand Manfred von Ardenne qui, en 1938, a
construit le premier microscope lectronique balayage. Mais cet appareil ne
ressemblait pas encore aux MEB modernes car il avait t cr pour tudier des
chantillons trs fins en transmission. Il sapparente donc plus un microscope
lectronique balayage par transmission (MEBT ou (en) STEM pour scanning
transmission electron microscope). De plus, bien que dot dun cran tube cathodique,
les images taient enregistres sur des films photographiques disposs sur un
tambour rotatif. Von Ardenne a ajout des bobines de balayage un microscope
lectronique en transmission. Le faisceau dlectrons, dun diamtre de 0,01 m,
balayait la surface de lchantillon et les lectrons transmis taient rcuprs sur
le film photographique qui tait dplac au mme rythme que le faisceau. La
premire micrographie obtenue par un MEBT fut limage dun cristal de ZnO grossi
8 000 fois avec une rsolution latrale de 50 100nanomtres. Limage tait
compose de 400 par 400 lignes et il a fallu 20 minutes pour lobtenir. Le
microscope disposait de deux lentilles lectrostatiques entourant les bobines de
balayage.
En 1942, le physicien et ingnieur russe Vladimir Zworykin, qui travaillait dans les
laboratoires de la Radio Corporation of America Princeton aux tats-Unis, a
publi les dtails du premier microscope lectronique balayage pouvant
analyser une surface opaque et pas seulement analyser un chantillon fin en
transmission. Un canon lectrons filament de tungstne mettait des lectrons
qui taient acclrs sous une tension de 10 000 volts. Loptique lectronique de
lappareil tait compose de trois bobines lectrostatiques, les bobines de
balayage tant places entre la premire et la seconde lentille. Ce systme
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donnait une image trs rduite de la source de lordre de 0,01 m. Fait assez
courant au dbut de lhistoire des MEB, le canon lectrons se situait en bas du
microscope pour que la chambre danalyse puisse se trouver la bonne hauteur
pour le manipulateur. Mais ceci avait une fcheuse consquence car lchantillon
risquait ainsi de tomber dans la colonne du microscope. Ce premier MEB
atteignait une rsolution de lordre de 50 nm. Mais cette poque, le microscope
lectronique en transmission se dveloppait assez rapidement et en comparaison
des performances de ce dernier, le MEB suscitait beaucoup moins de passion et
son dveloppement fut donc ralenti.
2.3 Dveloppement du microscope lectronique balayage
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Limpact dun lectron primaire haute nergie peut ioniser un atome une
couche interne. La dsexcitation, le remplissage de lordre nergtique de la
structure lectronique, se produit avec mission de rayons X. Lanalyse de ces
rayons permet dobtenir des informations sur la nature chimique de latome.
4 Instrumentation
4.1 Canon lectrons
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Polarise 250 volts par rapport lchantillon (voir schma de gauche), la grille
attire une grande partie des lectrons secondaires mis par lchantillon sous
limpact du faisceau dlectrons primaire. Cest parce que le champ lectrique
gnr par la cage de Faraday est fortement dissymtrique quon peut obtenir un
effet de relief.
Lorsque la grille est polarise ngativement, typiquement - 50 volts (voir schma
de droite), le dtecteur repousse lessentiel des lectrons secondaires dont
lnergie initiale est souvent infrieure 10 eV. Le dtecteur Everhart-Thornley
devient alors un dtecteur dlectrons rtrodiffuss.
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5 Prparation de lchantillon
La qualit des images obtenues en microscopie lectronique balayage dpend
grandement de la qualit de lchantillon analys. Idalement, celui-ci doit tre
absolument propre, si possible plat et doit conduire llectricit afin de pouvoir
vacuer les lectrons. Il doit galement tre de dimensions relativement
modestes, de lordre de 1 2 centimtres. Toutes ces conditions imposent donc
un travail pralable de dcoupe et de polissage. Les chantillons isolants
(chantillons biologiques, polymres, etc.) doivent en plus tre mtalliss, cest-dire recouverts dune fine couche de carbone ou dor. Cependant cette couche
mtallique, du fait de son paisseur, va empcher la dtection de dtails trs
petits. On peut donc utiliser un faisceau d'lectrons de plus basse nergie qui
vitera de charger l'chantillon (et donc de perdre de la visibilit), la couche
mtallique ne sera alors plus ncessaire.
5.2 chantillons biologiques
Par nature, les chantillons biologiques contiennent de leau et sont plus ou moins
mous. Ils ncessitent donc une prparation plus attentive qui vise
les dshydrater sans en dtruire la paroi des cellules. De plus, comme tous les
chantillons destins tre observs dans un MEB, ceux-ci doivent
tre conducteurs. Pour cela, ils doivent donc subir une prparation spcifique en
plusieurs tapes.
La premire tape est une tape de fixation qui vise tuer les cellules tout en
sefforant den conserver les structures pour que lon puisse observer
lchantillon dans un tat aussi proche que possible de ltat vivant. La seconde
tape consiste extraire de lchantillon les lments destins lobservation. Il
nest pas rare de ne sintresser qu un organe ou un lment prcis du
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spcimen, par exemple, la surface dun il, un lytre, une caille ou un poil dun
insecte. Il faut donc souvent isoler cette partie avant de la prparer pour
lobservation. Il existe plusieurs techniques pour extraire ces parties. La plus
simple tant une dissection manuelle ou la dissolution des parties molles et les
chairs.
Une condition ncessaire tous les chantillons mais plus particulirement les
chantillons biologiques est la propret. La surface de lchantillon biologique
tudier doit contenir le moins dimpurets possible, pour permettre une nettet
parfaite mme avec des agrandissements importants. Pour cela, il existe trois
principales techniques : le nettoyage manuel, mcanique ou chimique.
Les chantillons doivent tre absolument secs et ne comporter aucune trace
deau. En effet, la pression dans la chambre dobservation est trs faible et les
molcules deau contenues dans lchantillon risqueraient de dtruire les cellules
en svaporant ou de polluer la chambre dobservation. Il existe galement
diffrentes mthodes pour y parvenir suivant la nature de lchantillon
biologique : schage lair, par contournement du point critique ou par
dshydratation chimique.
Une fois nettoy, sch, rendu conducteur, lchantillon est prt tre mont sur
le porte-objet est plac dans la chambre dobservation.
5.1 chantillons mtalliques
Mtallisation par pulvrisation cathodique dor :
Les plots avec chantillon sont introduits dans l'enceinte du mtalliseur dans
laquelle on fait le vide. On laisse remonter un peu la pression en introduisant le
gaz argon. On applique un puissant champ lectrique entre une cathode (cible en
or) et une anode qui porte les plots avec chantillon. Les lectrons libres entrans
en spirale par un systme magntique entrent en collision avec les atomes Ar, ce
qui gnre des ions Ar+. Ces cations sont acclrs vers la cathode qu'ils
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bombardent avec assez d'nergie pour arracher des atomes d'or qui tombent en
pluie sur la surface des chantillons, formant ainsi une fine couche conductrice.
6. Diffrents types dimageries
Un microscope lectronique balayage peut avoir plusieurs modes de
fonctionnement suivant les particules analyses.
6.1 Imagerie en lectrons secondaires
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Conclusion
Depuis son apparition au dbut des annes 60, le microscope lectronique
balayage sest impos comme une technique dobservation incontournable.
Couple des spectromtres de rayons X (EDS ou WDS) elle est devenue
galement un instrument danalyse prcieux.
Cependant, elle possde ses propres limites et nest absolument pas linstrument
universel qui peut tout faire et qui on peut tout demander Selon la nature du
problme que lon a rsoudre, il est trs souvent ncessaire de faire appel
dautres techniques exprimentales qui pourront apporter dautres informations,
des chelles (ou rsolutions ) diffrentes, etc.
La connaissance de ces diffrentes techniques (ou tout au moins des plus
importantes ou des plus utilises) et de ce quelles peuvent nous apprendre est
indispensable.
Ce quil faut retenir cest que la microscopie lectronique balayage et la
microanalyse X malgr lintrt quelles reprsentent, ne peuvent elles seules
rsoudre tous les problmes qui peuvent se poser dans ltude et la
caractrisation dun chantillon. Il est donc primordial de se tourner en
complment vers dautres techniques et donc de connatre leur existence, leurs
possibilits et leurs limites.
RefR
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REFERENCES
Sites internet universitaires et recherche :
[] http://materiaux.ecam.fr/savoirplus/meb/index.html
[] http://materiaux.ecam.fr/savoirplus/meb/principes.html
[]http://www.mssmat.ecp.fr/mssmat/moyens/microscopie/principes/microscope_ele
ctronique_a_balayage
Ouvrage :
[] Analyse Chimique, Mthodes et techniques instrumentales modernes.
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