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Chapitre 4 :
Cartes de Contrôle aux mesures
I. Généralité
Une carte de contrôle est un outil graphique de visualisation du processus de fabrication dans le temps
et de mise en évidence de sa stabilité (surveillance des causes spéciales). Elle permet d'effectuer un
réglage du procédé de fabrication et de connaître sa capabilité machine.
Cet outil se présente comme un graphique dont les points représentent le suivi dans le temps d'une
caractéristique du processus dont la valeur centrale (souvent la moyenne) est représentée par une ligne
horizontale ainsi que la limite de contrôle inférieure (LCI), et la limite de contrôle supérieure (LCS).
Ces deux valeurs sont les limites à l'intérieur desquelles le processus est sous contrôle. Les valeurs de
la caractéristique contrôlée doivent se trouver à l'intérieur de ces limites, sinon ces valeurs sont « hors
contrôle » et doivent être examinées.
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Contrôle qualité
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1
𝜇̂ = 𝑋 = 𝑋i
𝑚
1
𝑅= 𝑅
𝑚
𝑅
𝜎=
𝑑
où d2 est un coefficient dépendant de la taille n des échantillons.
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Dans toute carte de contrôle de Shewhart de phase I, les limites de contrôle ont un écart à la
En posant 𝐴 = , on obtient :
√
Remarque :
Pour obtenir les valeurs de A2, il suffit de se reporter à la table donnée en annexe.
Construction de la carte
- On prélève m échantillons de taille n. On a alors une réalisation des différentes variables
aléatoires présentées ci-dessus.
- On calcule, avec les règles indiquées, les différentes valeurs prises par ces variables
aléatoires.
- On trace sur la carte de contrôle la ligne centrale et les lignes de contrôle.
- On porte sur la carte, pour i = 1, . . ., m, les points Mi de coordonnées (i, 𝑋i), où 𝑋i désigne
la moyenne du caractère étudié dans l’échantillon numéro i.
Règle de décision
- Si tous les points Mi sont situés entre les linges de contrôle, le processus est déclaré
maîtrisé ; si des points Mi sont situés en dehors des limites de contrôle, le processus est
déclaré non maîtrisé.
- Si le processus est déclaré non maîtrisé, il est bon de comprendre dans quelles
circonstances les échantillons ont été prélevés pour tenter de cerner si le processus est
globalement inadapté ou s’il existe des causes spéciales à la variabilité excessive des
moyennes.
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Exemple 1 :
Dans une laiterie, un nouveau processus de production de plaquettes de 250 g de beurre est
mis en service. On a prélevé vingt échantillons de quatre plaquettes chacun et on a pesé
chaque plaquette avec une balance de précision.
Le traitement statistique des mesures est effectué à l’aide d’un tableur
LC = 250.15
LSC =254.34
LIC =245.96
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Construction de la carte
- On prélève m échantillons de taille n. On a alors une réalisation des différentes variables
aléatoires présentées ci-dessus.
- On calcule, avec les règles indiquées, les différentes valeurs prises par ces variables
aléatoires. Il peut arriver que le calcul, à l’aide de d2 et d3, de la limite inférieure de
contrôle donne un résultat négatif. Dans ce cas, la limite de contrôle utilisée pour la carte
est 0. Il est bien sûr souhaitable que l’étendu soit aussi proche de la valeur 0 que possible,
ce qui traduit une variabilité faible du caractère numérique étudié.
- On trace sur la carte de contrôle la ligne centrale et les lignes de contrôle. On porte sur la
carte, pour i = 1, . . ., m, les points Mi de coordonnées (i, ri), où ri désigne l’étendue du
caractère étudié dans l’échantillon numéro i.
Règle de décision
- Si tous les points Mi sont situés entre les linges de contrôle, le processus est déclaré
maîtrisé ;
- Si des points Mi sont situés en dehors des limites de contrôle, le processus est déclaré non
maîtrisé.
Exemple 2 :
Tracer la carte de contrôle R de l’exemple 1.
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1
𝜇̂ = 𝑋 = 𝑋i
𝑚
𝑆̅
𝜎=
𝑐
où
𝑆̅ = ∑ 𝑆 et c4 est un coefficient dépendant de la taille n des échantillons(voir la table en
annexe).
Exemple 3 :
Dans l’exemple 1 page 4, une première série de mesures a été effectuée. On renouvelle le
prélèvement d’échantillons. Les nouvelles mesures sont reportées ci-dessous. Le calcul des
écarts types est réalisé à l’aide de la formule :
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Pour déterminer les valeurs de B3 et B4, on consultera la table des valeurs de B3 et B4, en
fonction de la taille n des échantillons, fournie en annexe.
La construction de la carte S est similaire à la construction de la carte R (on reporte les écarts
type au lieu de reporter les étendues), et comme pour cette dernière, on remplace la limite
inférieure de contrôle par 0 si le calcul celle-ci donnait un résultat négatif. La règle de
décision est la même que pour une carte R.
Exemple 4
Construire la carte S de l’exemple 3.
Lorsque les cartes de contrôle de phase I font apparaître un processus maîtrisé, leurs
paramètres peuvent être utilisés pour des cartes de phase II lors de la surveillance de la
production en temps réel.
Les cartes de Shewhart sont caractérisées par des limites de contrôle situées à trois écarts type
de part et d’autre la tendance centrale. Les bases probabilistes de ces cartes sont dues au fait
que l’on considère que la variable aléatoire associée aux mesures suit la loi normale N (µ0,
σ0). Pour les cartes de Shewhart, la probabilité α de fausse alerte (risque de première espèce)
est approximativement égale à 0,0027.
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ANNEXE
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