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ISTA Khénifra TD n° 2 Année : 2022-2023

QHSE 101

1. Définir les termes suivants : Maitrise Statistique des Procédés ; Carte de contrôle ;
Procédé ; Capabilité de procédé.
Maitrise Statistique des Procédés : La MSP est "un ensemble d'action pour évaluer, régler et
maintenir un processus en état de livrer tous ses produits conformes aux spécifications
retenues."
Carte de contrôle : Appelée également carte de Shewhart, c’est l'un des outils graphiques généralement
utilisés dans l'analyse du contrôle de la qualité pour comprendre comment un processus évolue dans le
temps. Elle se présente sous forme d'une représentation graphique avec un axe chronologique. Chaque
repère indique un numéro d'échantillon. Une ligne centrale représente la moyenne de la statistique suivie.
On notera également la présence de 2 limites de contrôle inférieures et supérieures. Si le point se situe
dans la zone d'acceptation (entre les deux limites de contrôle), alors on fait l'hypothèse que le
processus est sous contrôle. Si le point est situé hors des limites, alors on rejette l'hypothèse que le
processus est sous contrôle.

Procédé : C’est la méthode à suivre pour produire efficacement, et qui est décrite dans un cahier des
charges appelé le « livre du procédé ».
Capabilité de procédé : La capabilité d'un processus de production est l'adéquation d'une machine (ou
d'un procédé) à réaliser une performance demandée. L’indicateur (ou indice) de capabilité (Cp, Cpk, Cm,
…) permet de mesurer la capacité d'une machine ou d'un procédé à réaliser des pièces dans l'intervalle
de tolérance (défini par sa borne inférieure TI pour Tolérance Inférieure et sa borne supérieure TS pour
Tolérance Supérieure) mentionné dans le cahier des charges (exigences clients souvent spécifiées
dans le cahier des charges).

Zone A, B, C. Habituellement, pour définir les tests des séries, les zones au-dessus et au-dessous de la
droite centrale de la carte sont divisées en trois "zones".

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Par défaut, la Zone A est définie comme la zone entre 2 et 3 fois sigma au-dessus et en-dessous de la droite
centrale ; la Zone B est définie comme la zone entre 1 et 2 fois sigma, et la Zone C est définie comme la
zone entre la droite centrale et 1 fois sigma.

9 points dans la Zone C ou au delà (du même côté de la droite centrale). Si ce test est positif (c'est-à-
dire, si nous rencontrons 9 points consécutifs du même côté de la droite centrale), la moyenne du
processus a probablement changé. Remarque : on considère que la distribution de la caractéristique de
qualité respective dans le tracé est symétrique autour de la moyenne. Ce n'est pas le cas, par exemple,
avec les cartes R, cartes S ou la plupart des cartes aux attributs. Toutefois, ce test demeure utile pour
alerter l'ingénieur qualité en cas de décalages potentiels dans le processus. Par exemple, des échantillons
successifs avec une dispersion inférieure à la moyenne peuvent être informatifs, puisqu'ils donnent des
astuces sur la manière de diminuer la dispersion dans le processus.

6 points de suite croissants ou décroissants. Ce test signale une dérive de la moyenne du processus.
Souvent, ce décalage est le résultat de l'usure de l'outil, de la détérioration de la maintenance, de
l'amélioration du savoir-faire, etc... (Nelson, 1985).

14 points de suite, montant et descendant alternativement. Si ce test est positif, il indique que deux
causes systématiques produisent des résultats différents, l'une après l'autre. Par exemple, on peut faire
appel alternativement à deux fournisseurs, ou surveiller la qualité de deux décalages différents
(s'alternant).

2 points sur 3 (de suite) dans la Zone A ou au-delà. Ce test fournit un "avertissement précoce" de la
dérive d'un processus. Notez que la probabilité de fausse alarme (le test est positif mais le processus est
sous contrôle) de ce test pour les cartes X-barre est d'environ 2%.

4 points sur 5 (de suite) dans la Zone B ou au-delà. Comme le test précédent, ce test peut être
appréhendé comme un "indicateur d'avertissement précoce" d'un éventuel décalage du processus. Le
risque de seconde espèce pour ce test est également de l'ordre de 2%.

15 points de suite dans la Zone C (au-dessus et en dessous de la droite centrale). Ce test indique une
plus petite dispersion que prévue (sur la base des limites de contrôle courantes).

8 points de suite dans la Zone B, A, ou au delà, d'un côté ou l'autre de la droite centrale (sans points
dans la Zone C). Ce test indique que différents échantillons sont affectés par différents facteurs,
produisant une distribution bimodale des moyennes. Ce peut être le cas, par exemple, si différents
échantillons d'une carte X-barre sont produits par l'une des deux machines utilisées pour la production,
la première produisant des pièces au-dessus de la moyenne, et l'autre, des pièces en dessous de la
moyenne.

Au moins un point au-delà de la zone A : càd hors limites de contrôle.

PS : Pour la suite de ce cours, on se contentera de cette dernière situation.


2. Quel est l’objectif du contrôle statistique de la qualité ?
Le contrôle statistique de la qualité vise à déterminer la conformité des caractéristiques d’un
produit (service) aux spécifications exigées. Le contrôle peut porter sur des variables ou des attributs
: il est quantitatif (on mesure un poids, une longueur…) ou qualitatif (il implique une décision plus rapide
et moins coûteuse de type oui/non, conforme/non-conforme).
3. Quels sont les types de contrôle réalisable pour le CSP ?
La carte de contrôle permet l’étude du comportement de cette caractéristique et conduit en conséquence
à indiquer si le processus est maîtrisé ou bien s’il comporte des causes spéciales. Les cartes de contrôle
sont différentes selon que l’on étudie comme caractéristiques des variables (des caractéristiques
quantifiables qui peuvent se mesurer, varier de manière plus ou moins importante : le poids, la

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longueur, l’intensité… pour un produit… un temps d’attente, un nombre de clients satisfaits de l’accueil,
du conseil à la vente… dans le cas d’un service) ou des attributs (caractéristiques qualitatives, c’est-à-
dire des caractéristiques qu’un produit (service) possède ou ne possède pas). Si la caractéristique est
une variable, deux types de cartes de contrôle complémentaires sont utilisés : la carte X et la carte R ou
la carte X et la carte S. La première permet de voir comment évolue la moyenne de la caractéristique
étudiée, la seconde s’intéresse au comportement de l’étendue. Si la caractéristique est un attribut, on se
réfère à deux autres cartes de contrôle : la carte p et la carte C.
4. Quelle est la différence entre les indices de capabilité Cp et Cpk ?
Cp : Permet de rendre compte de la capacité d'un procédé à réaliser des pièces dans l'intervalle de
tolérance souhaité. Un Cp faible (< 1) désigne une production très dispersée. Mais un bon Cp peut aussi
correspondre à une production en dehors des limites de la tolérance. Le Cp n'est donc pas suffisant pour
garantir la maîtrise du process. (Voir graphique suivant).
Cpk : Représente le centrage de la production par rapport aux limites de la tolérance. Un Cpk élevé
indique non seulement que la production est répétable, mais qu'elle est également bien centrée dans
l'intervalle de tolérance (et qu'il y aura peu de risque de voir des pièces produites en dehors des
tolérances).
Le Cpk est toujours inférieur au Cp . Ils sont égaux quand le processus est parfaitement centré.
Etant imposé par l’AIAG, en 2008, les constructeurs automobiles (PSA, Renault, Ford) imposent les
valeurs minimales à Cp et Cpk de 1.67.

Explications détaillées avec graphiques :


Lorsque que Cp = Cpk, cela indique que le process est centré dans l'intervalle de tolérance.

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Cp = 1 signifie que l'intervalle de tolérance (TS-TI) est exactement égal à la dispersion (6 Sigma).
99.7% des pièces sont donc dans l'intervalle de tolérance.

Le Cp = 1 n'est pas satisfaisant dans le sens où :


0.3 % des pièces sont hors tolérance
il n'y a aucune marge de sécurité en cas de dérive process
Type de processus :
On distingue, à partir du Cp et du Cpk, différents type de process selon leur degré de maîtrise:
Process centré (bien réglé) mais non capable.
Process capable mais non centré (mal réglé ou déréglé)
Process capable et bien réglé

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5. À partir de la relation de calcul de l’indice Cp et Cm, expliquer d’où vient les seuils de
comparaison des indices Cp=1,33 et Cm=1,67 ?
IT TS − Ti
Rappelons la formule : Cp = =
6σ 6σ
D’après la formule ci-dessus (voir aussi le 2ème graphique), l’intervalle de tolérance IT doit être supérieur
à 8 σ , càd : IT > 8 σ . Comme σ est strictement positif, il en découle :
IT 8σ 8 10
> = =1.33 . Un raisonnement similaire pour 5σ donne un seuil de =1.67
6σ 6σ 6 6

6. Exercice d’application des cartes de contrôle


Une direction d’entreprise s’intéresse à la production d’une tige métallique spéciale utilisée par
plusieurs de ses clients parmi les plus importants. Le diamètre de la tige est une variable aléatoire qu’il
faut absolument contrôler par rapport aux exigences des clients. Dix (k=10) prélèvements d’échantillons
sont effectués. La taille de l’échantillon est n=5. La question qui se pose est de savoir si le processus est
sous contrôle à l’aide de la carte X et R? Calculer Cp et Cpk. Que conclure ?

N° 1 2 3 4 5 Ri X Les estimateurs sont donnés par :


1 12 11 11 12 11 1,00 11,40 1 n =5 1 k =10 R
2 12 11 13 13 14 3,00 12,60
X= ∑
n i =1
X i ; R = ∑
k j =1
R j ; σˆ =
d2
3 14 12 14 14 13 2,00 13,40 n =5 n =5 1 k =10
4 14 13 14 14 12 2,00 13,40 Ri = Max( xi ) − Min( xi ) ; X =
i =1 i =1
∑ Xj
k j =1
5 15 14 13 15 15 2,00 14,40
6 14 15 15 14 14 1,00 14,40 LCS x = X + A2 R ; LCSR = D4 R
7 12 11 12 11 12 1,00 11,60 LCI x = X - A2 R ; LISR = D3 R
8 14 12 15 15 13 3,00 13,80 Ts= 15,2 ; Ti = 10,9 ; A2= 0.577 et d2=2.326
9 14 15 14 15 13 2,00 14,20 D3 = 0 et D4= 2.114
10 14 11 14 13 15 4,00 13,40

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Carte Xbarre
15,00
14,50
14,00
13,50
13,00
12,50
12,00
11,50
11,00
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10

X_barre X2barre= LSCX LICX

Carte R
5,00
4,50
4,00
3,50
3,00
2,50
2,00
1,50
1,00
0,50
0,00
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10

R_barre LSCR LICR R

Il peut arriver que le calcul, à l’aide de D3 et D4, de la limite inférieure de contrôle donne un
résultat négatif. Dans ce cas, la limite de contrôle utilisée pour la carte R est de 0. En effet, la limite
inférieure de contrôle de la moyenne peut être négative (une température moyenne, par exemple)
mais pas celle de l’étendue (la plus petite mesure dans un échantillon serait plus grande que la
plus grande mesure !).
1 k =10 1 k =10 R
X= ∑ X j = 13.26
k j =1
; R= ∑ R j = 2.10
k j =1
; σˆ =
d2
= 0.9028

LCS x = X + A2 R = 14.4717 ; LCSR = D4 R = 4.4394


LCI x = X - A2 R = 12.0483 ; LISR = D3 R = 0
Cp=0.7938 ; Cpk= 0.7163
Conclusions :
Le procédé n’est pas sous contrôle (n’est pas prévisible). Il faut chercher les causes communes et
spéciales.
Le procédé n’est pas capable de générer des produits conforme aux spécifications des clients
Le procédé n’est pas centré autour des spécifications exigées.

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7. Exercice d’application des cartes de contrôle


Même exercice que précédent avec les données suivantes :

N° 1 2 3 4 5 Ri X Les estimateurs sont donnés par :


1 27 30 27 26 28 4,00 27,60
1 n =5 1 k =10 R
2 28 30 30 28 30 2,00 29,20 X= ∑
n i =1
X i ; R = ∑
k j =1
R j ; σˆ =
d2
3 27 27 26 25 25 2,00 26,00
n =5 n =5 1 k =10
4 26 30 27 25 30 5,00 27,60 Ri = Max( xi ) − Min( xi ) ; X =
i =1 i =1
∑ Xj
k j =1
5 28 26 30 30 25 5,00 27,80
6 29 29 30 27 28 3,00 28,60
7 29 27 30 27 29 3,00 28,40 LCS x = X + A2 R ; LCSR = D4 R
8 30 29 29 29 30 1,00 29,40 LCI x = X - A2 R ; LISR = D3 R
9 27 25 30 29 28 5,00 27,80 Ts= 35 ; Ti = 20 ; A2= 0.577 et d2=2.326
10 28 30 29 30 26 4,00 28,60 D3 = 0 et D4= 2.114

Carte Xbarre
31,00
30,00
29,00
28,00
27,00
26,00
25,00
24,00
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10

X_barre X2barre= LSCX LICX

Carte R
8,00
7,00
6,00
5,00
4,00
3,00
2,00
1,00
0,00
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10

R_barre LSCR LICR R

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Il peut arriver que le calcul, à l’aide de D3 et D4, de la limite inférieure de contrôle donne un
résultat négatif. Dans ce cas, la limite de contrôle utilisée pour la carte R est de 0. En effet, la limite
inférieure de contrôle de la moyenne peut être négative (une température moyenne, par exemple)
mais pas celle de l’étendue (la plus petite mesure dans un échantillon serait plus grande que la
plus grande mesure !).
1 k =10 1 k =10 R
X= ∑ X j = 28.10
k j =1
; R= ∑ R j = 3.40
k j =1
; σˆ =
d2
1.4617

LCS x = X + A2 R = 30.0618 ; LCSR = D4 R = 7.1876


LCI x = X - A2 R =26.1382 ; LISR = D3 R = 0
Cp=1.7103 ; Cpk= 1.5735
Conclusions :
Le procédé n’est pas sous contrôle (n’est pas prévisible). Il faut chercher les causes communes et
spéciales.
Le procédé est capable de générer des produits conforme aux spécifications des clients
Le procédé est bien centré autour des spécifications exigées.
8. Exercice d’application des cartes de contrôle
Une entreprise conçoit et fabrique des circuits intégrés (puces électroniques) et souhaite mettre
en place des cartes de contrôle pour savoir si certains de ses processus clés sont maîtrisés. Des
échantillons de 500 pièces sont prélevés et contrôlés en 30 lots et font apparaître les résultats suivants :
Lot 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
Nombre de défaut
6 17 15 11 6 9 5 18 16 16 8 10 7 5 20
(Non-Conformité)
Proportion pi 0,012 0,034 0,030 0,022 0,012 0,018 0,010 0,036 0,032 0,032 0,016 0,020 0,014 0,010 0,040

Lot 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30
Nombre de défaut
12 18 13 3 4 8 4 6 5 4 4 6 5 9 6
(Non-Conformité)
Proportion pi 0,024 0,036 0,026 0,006 0,008 0,016 0,008 0,012 0,010 0,008 0,008 0,012 0,010 0,018 0,012

1 i =30 p (1 − p )
n= 500 ; p= ∑ pi =0.0128
30 i =1
;σ =
n
= 0.005027 ; LSCp= 0.02788 ;LICp= 0

Graphique de la Carte p
0,040
0,035
0,030
0,025
Proportion
0,020
P-barre
0,015
LSCp
0,010
0,005
0,000
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30

Le procédé n’est pas sous contrôle : Présence d’un échantillon hors LSC (n° 15). Il faut chercher
les causes communes et spéciales.

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