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Chapitre 3

Microgéométrie et mesure des


états de surface

Métrologie 22
INTRODUCTION

1. INTRODUCTION
Une surface peut être caractérisée par divers ordres géométriques. De façon classique on en discerne
6 dont seuls les quatre premiers sont à caractère géométrique. Ce sont ceux qui nous intéressent ici.
A chaque ordre géométrique, on associe un écart ou défaut.
• ordre 1 : macrogéométrie. Défaut de forme
• ordre 2 : mésogéométrie. Défaut d'ondulation
• ordre 3 et 4 : microgéométrie. Défaut de rugosité.
L'analyse classique est bidimensionnelle, elle tend à devenir tridimensionnelle.
La normalisation est en pleine évolution. Actuellement les normes françaises, qui comme d'autres nor-
mes ne traitent que l'aspect bidimensionnelle sont :
• NFE 05-050 : Généralités sur les appareils électroniques à capteur ;
• NFE 05-015 : Généralités, terminologie et définition des paramètres caractéristiques des états de
surface ;
• NFE 05-052 : Profilomètres d'états de surface à contact ;
• NFE 05-016 : Spécification des états de surface sur les dessins ;
• NF ISO 5436/NFE 05-053 : Etalonnage des appareils à palpeur.
Ces normes vont être modifiées pour :
• entrer dans le cadre des normes européennes en préparation ;
• traiter les aspects tridimensionnels.
Le premier problème qui se présente est double, il concerne :
• les mesures nécessaires pour identifier une surface ;
• la séparation des trois niveaux géométriques dans les données acquises lors des mesures.
Figure 1: Trois ordres géométriques

Métrologie 23
Microgéométrie et mesure des états de surface

Désignation Illustration Surface spécifiée


N° d’ordre

(Profils d’écarts
géométriques de surface) Dessin Signification par
d’exécution rapport à
la fonction (1)
1 ECART DE FORME 1er et 2e ordre :
Exemple :
Ecart de - Influent sur :
- rectitude Prescription + frottement de glisse-
- circularité géométrique ment et de roulement.
- etc + Résistance au
(Voir NF E 04-552) matage.
+ Etanchéité dynami-
que et statique
+ Résultat de mesurage
+ etc
2 ONDULATION
- Créent :
+ Usure
+ Grippage
- Diminuent :
+ Durée de vie des
organes
Symbolisation + etc
des écarts
géométriques du
2e au 4e ordre
3 STRIE, SILLON 3e et 4e influent sur :
(Voir NF E 05-016)
(périodique ou + Ecoulement des flui-
pseudo-périodique) des.
+ Etanchéité dynami-
que et statique.
+ Revêtement.
4 ARRACHE-
RUGOSITE

+ Adhésivité.
MENT, + Dépôt électrolytique.
MARQUE + Résistance aux
D’OUTIL efforts alternés.
et FENTE, + etc.
PIQÛRE, Etc

(apériodique)

PROFIL TOTAL Ensemble des défaults de Il ne sert à rien d’affi-


Somme des écarts
du 1er au 4e ordre

surface dont l’analyse ner la rugosité si l’écart


permet de déterminer leur de forme et l’ondula-
influence spécifique sur tion ne sont pas réduits
une ou plusieurs fonc- au niveau admissible
tions données. pour une fonction don-
nées.

5 STRUCTURE Phénomènes
CRISTALLINE
Etat physico-chimique - Mécaniques :
- Matériau + Usure
- Traitement thermique + Grippage
6 RESEAU - Procédé et conditions + etc
CRISTALLIN d’usinage.
- Electrochimiques :
+ Corrosion
+ etc

24 Métrologie
INTRODUCTION

Surface réelle
N° d’ordre Origine des écarts Moyens d’évaluation
au cours de l’élaboration des surfaces mesurées par exploration
- PROCÉDÉ D’USINAGE - MACHINE D’UNE SURFACE D’UN PROFIL
- MATÉRIAU USINÉ - INSTALLATION globale ou limitée total ou partiel
1 - Déformation de la pièce. - Défaut de bridage. - Portée au marbre. “PALPAGE” en discontinu :
+ Pendant l’usinage, indépen- - Flexion des éléments de - Tampon. + Lunette autocollimatrice.
damment du procédé. la machine. - Bague. + Comparateur.
+ Après l’usinage, dépendant - Qualité du guidage des - Machine à mesurer. + Machine à mesurer, etc.
du matériau (libération des éléments coulissants. - Appareil de mesurage “PALPAGE” en continu :
tensions internes). - Usure des organes. d’écart de forme. + Appareil électronique à
- Etc. capteur avec référence de
mesure (palpeur touche ou
aiguille).
+ Boite à lumière.
+ Etc.
2 - Fraisage (pas de l’ondula- - Vibrations de basses fré- - Echantillon de compa- - Microscope à coupe opti-
tion : par exemple, avance par quences raison viso-tactile : esti- que.
tour de fraise). + De la pièce. mation de l’ondulation - Appareil électronique à
- Inclinaison de la fraise (en + De l’outil. et de la rugosité des piè- capteur, avec référence de
bout). + Des deux, dues aux ces fraisées. mesure.
+ Mauvais affûtage. flexions, mauvais guidage - Microscope stéréosco- Palpeur :
+ Mauvais réglage des dents et équilibrage des éléments pique. + Touche.
(en bout, en roulant). de machine, et également à - Appareil de mesurage + Aiguille.
+ Rectification : mauvais dia- l’insuffisance de l’installa- d’écart de forme.
mantage de la meule. tion de l’isolation passive
et active.
3 - Procédé par enlèvement de - Vibrations de hautes fré- - Echantillon de compa- - Microscope à coupe opti-
copeaux : quences (causes analogues raison viso-tactile : esti- que.
STRIES, SILLONS, dus à à celles énumérées ci-des- mation de la rugosité. - Microscope interférentiel.
l’avance de l’arète coupante sus). - Rugomètre : - Appareil électronique à
de l’outil; à l’avance par tour - Installation de lubrifica- + Pneumatique. capteur : (palpeur aiguille).
de la pièce ou de la meule, etc. tion : + Capacitif.
- Procédés de formage à + Lubrifiant : nature, qua- - Divers appareils opti-
4 chaud où à froid : lité lubrifiante, action de ques.
BOSSES et CRATERES jux- refroidissement, stabilité - Microscope stéréosco-
taposés. dans le temps. pique.
- Géométrie d’affûtage de + Mode d’arrosage. - Microscope électroni-
l’outil : + Filtre : efficacité du sys- que.
Qualité de la meule. tème (entre autres, fré-
- Qualité d’affûtage de l’outil quences de nettoyage).
et du diamantage de la meule.
- Hétérogénéité, plasticité du
matériau usiné (Fonte; Alu-
minium à forte teneur en sili-
cium.)
Identification et évaluation des écarts géométriques, de Diverses méthodes chi- Appareil électronique à cap-
Somme des écarts
du 1er au 4e ordre

diverses origines accompagnées de mesures d’autres gran- miques permettant de teur avec référence de
deurs physiques (température, vibration, vitesse, accéléra- déterminer la surface mesure : (Palpeur aiguille :
tion, etc.) permettant l’analyse de la relation de ccause à totale d’échantillons longueur d’évaluation > 25
effet en cas de perturbations dans la réalisation d’état géo- d’études. mm ).
métrique d’un produit donné.

5 Interaction entre : Ne sont pas traités dans la norme.


+ Conditions de coupe.
+ Matériau usiné.
+ Lubrifiant, d’où résulte la transformation de la couche
superficielle.
6 + Changement de structure.
+ Changement de dureté.
+ Tensions internes.
+ Glissement dans le réseau cristallin.

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Microgéométrie et mesure des états de surface

2. LES TROIS ORDRES GEOMETRIQUES


La norme NFE 05-015 fournit, outre la définition, les causes des ordres géométriques.
La difficulté réside dans la séparation de ceux-ci dans le signal de sortie des mesures.
Ceci peut se faire de deux façons :
• par filtrage ;
• par analyse des motifs locaux du profil.
Dans l'immédiat on ne parlera que du filtrage, dans la suite on abordera la méthode d'analyse par dé-
composition des profils en motifs.
Le filtrage s'effectue à différents niveaux. Pour l'instant nous ne retiendrons que les filtrages électrique
et numérique.

2.1. Filtrage électrique


Ce type de filtrage tend à disparaître au profit du filtrage numérique. On trouve :
• les filtres de rugosité passe haut ;
• les filtres d'ondulation passe bas.
Ces filtres sont normalisés. Ils ont plusieurs longueurs d'onde de coupure sélectionnables (cut-off)
normées longueurs de base. C'est la longueur d'onde pour laquelle le coefficient de transfert K % =
0,75.
;Si λ f est la longueur de base retenue ; un filtre passe haut parfait serait tel que :
• tous les signaux dont λ ≤ λ f sont totalement restitués
• tous les signaux dont λ > λ f sont supprimés.
Figure 2: Fonction de transfert d’un filtre 2RC
K
partie éliminée à tort
1
filtre parfait
0,75
filtre réel

partie conservée à tort

λ
λf

En fait les filtres réels ne donnent pas ceci.


Les valeurs normalisées (en mm) du cut-off sont : λ f = 0, 08 0, 25 2, 5 8
On voit que les filtres électriques n'éliminent pas totalement l'ordre qu'ils sont censés faire disparaître.
Par contre ils suppriment une partie de celui qu'ils sont censés conserver. De plus, ils introduisent un
déphasage entre le profil réel et le signal obtenu.
C'est pour ces raisons que l'on abandonne progressivement ce type de filtrage au profit du filtrage nu-
mérique.

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LES TROIS ORDRES GEOMETRIQUES

2.2. Filtrage numérique ou filtrage à phase correcte


L'utilisation courante des calculateurs intégrés aux appareils de mesure à facilité le filtrage numéri-
que. Ces filtres sont dits à phase correcte ou encore gaussien.
Une longueur de base étant choisie, l'ordonnée de chaque point du profil réel est pondérée par la valeur
de la fonction de densité gaussienne, ayant même abscisse que le point considéré, la fonction étant
centrée sur le point à calculer (voir figure précédente). La fonction gaussienne est telle que 6σ est égal
à la longueur de base choisie.
Figure 3: Filtre Gaussien

Ainsi l'image filtrée M du point P aura comme ordonnée :


n n
1 1
yM = --- ∑ y Mi f ( x Mi ) = --- ∑ O i M i × O i G i
n n
o o
On remarque que c'est un filtre passe bas qui n'est pas parfait puisque pour une longueur d'onde égale
à la longueur d'onde de coupure le facteur K est d’environ 50 %.
Le "lissage numérique" effectué ne laisse que l'ondulation du profil. Le déphasage étant nul, la rugo-
sité s'obtient en retranchant le résultat du filtrage au profil total.
Remarque :
Lors d'un filtrage électrique, de par le déphasage, l'ondulation ne peut être obtenue en retranchant le
résultat du filtrage au profil total.
Pour terminer avec ce problème de séparation, on dira, le plus souvent, que toute irrégularité dont la
longueur d'onde :
• varie entre 2 et 500 à 800 µm est considérée comme rugosité,
• varie entre 500 à 800 et 2500 à 8000 µm est considérée comme ondulation,
• est supérieure à 8000 µm est considérée comme défaut de forme.

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Microgéométrie et mesure des états de surface

Figure 4: Filtrage d’un échelon avec un filttre 2RC

Caractéristique de la réponse d’un filtre 2RC

Créneau théorique dont la largueur est inférieure à Créneau théorique dont la largeur est supérieu-
la longueur de base (0,8 mm ) : re à la longueur de base (0,8 mm ) :
le créneau devrait être conservé en rugosité et éli- le créneau devrait être éliminé en rugosité et
miné en ondulation conservé en ondulation.

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LES TROIS ORDRES GEOMETRIQUES

Figure 5: Filtrage d’un échelon avec un filttre Gaussien

Caractérisation de la réponse d’un filtre à phase correcte

Créneau théorique dont la largueur est inférieure à Créneau théorique dont la largeur est supérieu-
la longueur de base (0,8 mm ) : re à la longueur de base (0,8 mm ) :
le créneau devrait être conservé en rugosité et éli- le créneau devrait être éliminé en rugosité et
miné en ondulation conservé en ondulation.

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Microgéométrie et mesure des états de surface

Figure 6: Profil mesuré

Figure 7: Extraction de la forme (profil total)

30 Métrologie
LES TROIS ORDRES GEOMETRIQUES

Figure 8: Profil d’ondulation

Figure 9: Profil de rugosité

Métrologie 31
Microgéométrie et mesure des états de surface

3. LES DEUX SYSTEMES DE CARACTERISATION DE LA


RUGOSITE ET DE L'ONDULATION
3.1. Système de la ligne moyenne

311. Différentes surfaces


• Surface réelle : surface qui limite le corps et le sépare du milieu qui l'environne. Elle résulte de la
fabrication.
• Surface géométrique : surface idéale dont la forme et les dimensions sont définies par le dessin de
définition ou tout autre document technique. Une surface géométrique peut être composée.

• Surface spécifiée : surface dont les limites sont définies, à partir de la surface géométrique, aux
moyens de symboles (les spécifications) et de valeurs numériques indiquées sur le dessin la repré-
sentant.

• Surface de référence : surface à partir de laquelle les écarts géométriques de surface sont déterminés.
Elle a la même forme que la surface géométrique et sa position coïncide avec l'orientation générale
de la surface réelle au sens de la méthode des moindres carrés.
• Surface mesurée : surface déterminée par des instruments de mesure à partir de la surface réelle. Elle
dépend de l'instrumentation choisie : divers types d'instruments et diverses techniques de mesurage

32 Métrologie
LES DEUX SYSTEMES DE CARACTERISATION DE LA RUGOSITE ET DE L'ONDULATION

peuvent donner, à partir d'une même surface réelle, des surfaces mesurées différentes. La surface
mesurée est une image (approximation) de la surface réelle, c'est sur elle que s'appuiera tout le trai-
tement de caractérisation de la surface réelle.

312. Coupe de surface


Elles sont déterminées par l'intersection de la surface considérée (réelle, géométrique, spécifiée, de
référence, mesurée) avec des plans de coupe, qui en un point considéré peuvent être normaux ou obli-
ques à la surface.
De façon générale, on utilise des coupes normales.

313. Profils
Dans ce qui précède nous avons utilisé la notion de profil sans la définir, parce que ce n'était pas né-
cessaire alors. Maintenant nous allons la préciser.
Un profil est la ligne d'intersection de la surface considérée avec un plan de coupe. Pour un plan don-
né, à chaque surface (réelle, géométrique, spécifiée, de référence, mesurée) correspond un profil (réel,
géométrique, spécifié, de référence, mesuré).
De façon générale on utilise des plans de coupe "normaux" et dont les orientations sont fixées a priori.
Le profil, et donc les paramètres qui le caractérisent, dépendent souvent de l'orientation. Ceci traduit
le caractère anisotrope de l'état de surface étudié.
- une surface usinée possède un état de surface orthotrope.

Surface réelle ayant des motifs de surface orientés en stries parallèles

- une surface grenaillée suivant une direction perpendiculaire à la surface est isotrope.
L'étude de l'état de surface peut se faire de façon tridimensionnelle ou bidimensionnelle. Dans le pre-

Métrologie 33
Microgéométrie et mesure des états de surface

mier cas, tout une série de profils obtenus par des coupes parallèles entre elles est nécessaire. Dans le
second cas, l'orientation du plan de coupe est choisie de façon à rendre maximale la rugosité. Par
exemple dans le cas de l'usinage, la coupe sera perpendiculaire au mouvement de coupe.
Remarque importante.
Le profil obtenu sous forme numérique peut être représenté dans un diagramme :
- dont les orientations des axes sont liées à l'instrument de mesure. C'est un système d'axes cartésiens
dont l'axe des abscisses porte les longueurs sur la pièce et l'axe des ordonnées porte les profondeurs.
La norme française ne s'intéresse qu'aux profils total, d'ondulation et de rugosité. Pour qu'il n'y ait pas
d’ambiguïté, on porte les indices :
P pour le profil total
W pour le profil d'ondulation
R pour le profil de rugosité
La position du système d'axes n'est pas fixée par la norme, aussi on fait passer l'axe des abscisses par
le point le plus haut du profil et l'axe des ordonnées par le premier point enregistré.
- le diagramme représente un profil anamorphosé, c'est-à-dire enregistré avec des échelles différentes
sur les deux axes de coordonnées. L'anamorphose donne une image de la réalité d'autant plus défor-
mée que les échelles sont différentes.
Figure 10: Effet de l’anamorphose

34 Métrologie
LES DEUX SYSTEMES DE CARACTERISATION DE LA RUGOSITE ET DE L'ONDULATION

Figure 11: Influence de l’anamorphose

314. Lignes associées au profil.


• Direction générale du profil : c'est la direction locale de la ligne des moindres carrés du profil, ligne
de même nature géométrique que la ligne d'intersection du plan de coupe avec la surface géométri-
que associée à la surface étudiée. De façon générale l'étude est locale et la ligne en question sera

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Microgéométrie et mesure des états de surface

approximée par un segment de droite.


• Longueur d'évaluation L : c'est la longueur, mesurée suivant la droite d'orientation générale, de la
partie de profil utilisée pour le calcul des paramètres caractéristiques.

• Longueur de base l : c'est une partie de la longueur de base qui sert à séparer les irrégularités du pro-
fil. L = n × l avec n entier.
λf
En principe la longueur l est telle que 2 l # période de l'ondulation. Donc l ≈ -----
2

• Ligne de référence : c'est la ligne par rapport à laquelle les paramètres du profil seront déterminés.
En général, cette ligne n'appartient pas à la surface de référence. Dans le système de la ligne moyen-
ne, la ligne de référence est la ligne moyenne. Elle peut être définie de deux façons :
- Ligne des moindres carrés à l'intérieur de la longueur de base.
- Ligne centrale arithmétique à l'intérieur de la longueur de base. La somme des aires comprises
entre elle et le profil est égale de part et d'autre.

36 Métrologie
LES DEUX SYSTEMES DE CARACTERISATION DE LA RUGOSITE ET DE L'ONDULATION

• Lignes enveloppes supérieure (LES) et inférieure (LEI) : voir la méthode de décomposition des pro-
fils en motifs.

315. Définitions liées à la ligne moyenne.


• Saillie du profil : partie du profil dirigée vers l'extérieur du corps, reliant deux intersections consé-
cutives du profil avec la ligne moyenne.

• Creux du profil : partie du profil dirigée vers l'intérieur du corps, reliant deux intersections consé-
cutives du profil avec la ligne moyenne.

• Ligne des saillies : ligne parallèle à la ligne de référence passant par le point le plus haut du profil
dans la longueur de base.
• Ligne des creux : ligne parallèle à la ligne de référence passant par le point le plus bas du profil dans
la longueur de base.

• Niveau de coupe c : c'est la distance entre la ligne des saillies et une droite parallèle à la ligne de
référence, coupant le profil. Le niveau de coupe s'exprime en µm .
• Longueur portante n p : c'est la somme des longueurs des segments de matière définis par l'intersec-
tion du profil avec une droite parallèle à la ligne de référence, pour un niveau de coupe fixé.
La longueur de base utilisée pour la détermination de n p peut être plus grande que celle qui sert à
déterminer les paramètres. Par exemple on peut prendre L .
• Taux de longueur portante T p : c'est le rapport de la longueur portante et de la longueur utilisée pour
n
définir n p . T p = ----p- si L est la longueur utilisée.
L

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Microgéométrie et mesure des états de surface

• Courbe du taux de longueur portante : c'est le graphe qui représente la relation liant le taux de lon-
gueur portante et le niveau de coupe c .

• Hauteur d'une saillie du profil Y p : c'est la distance entre le point le plus haut de la saillie et la ligne
moyenne.

• Profondeur d'un creux du profil Y v : c'est la distance entre le point le plus bas du creux et la ligne
moyenne.

• Hauteur d'une irrégularité du profil : c'est la somme de la hauteur d'une saillie du profil et de la pro-
fondeur d'un creux du profil qui sont adjacents.

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LES DEUX SYSTEMES DE CARACTERISATION DE LA RUGOSITE ET DE L'ONDULATION

• Pas des saillies locales du profil S i : distance entre les projections sur la ligne moyenne des deux
points les plus hauts de deux saillies locales adjacentes.

• Pas des irrégularités du profil S mi : distance entre deux points d'intersection de la ligne moyenne
avec une irrégularité du profil.

3.2. Système de la décomposition du profil en motif


La méthode de décomposition des profils en motifs est inspirée des techniques de reconnaissance de
forme. C'est une alternative au système de la ligne moyenne qui va être exposé dans la suite, système
jugé pas toujours bien adapté pour caractériser certaines surfaces à la vue de leur fonctionnalité (étan-
chéité, glissement, roulement...). Cette méthode a été développée à partir de 1980 par les secteurs
automobiles.
L'objectif est de créer une séparation de l'ondulation et de la rugosité sans modification du profil réel
et en prenant en compte de façon prioritaire les parties du profil orientées vers l'extérieur de la pièce.

321. Description de la méthode :


Définition d'un motif :
Afin de donner la définition d'un motif, il faut traduire deux notions descriptives du profil : la saillie
et le creux.
Une saillie locale du profil est une partie du profil comprise entre deux minima adjacents.

Métrologie 39
Microgéométrie et mesure des états de surface

Un creux local du profil est une partie du profil comprise entre deux maxima adjacents.

Un motif est une portion du profil comprise entre les points les plus hauts de deux saillies locales du
profil, consécutives ou non.

Le j ième motif est caractérisé par :


sa longueur AR j , ses deux profondeurs R j et R j + 1 et sa caractéristique T égale à la plus petite pro-
fondeur :
T = Inf(R j, R j + 1)

Identification des motifs.


Elle se fait à partir :
• de la longueur : sa valeur étant comprise entre les limites conventionnelles qui séparent la rugosité
de l'ondulation et l'ondulation de l'écart de forme.
• des deux profondeurs qui doivent satisfaire des conditions définies à partir des motifs adjacents et
de l'ensemble des motifs caractéristiques du profil.
Tout ceci est explicité dans les quatre conditions suivantes :
Condition 1 ou d'enveloppe : cette condition sélectionne les pics plus élevés que les pics avoisinants,
qui peuvent être porteur de la ligne enveloppe supérieure. Donnons la définition des lignes enveloppes
supérieure (LES) et inférieure (LEI).
La LES (resp. LEI) est l'ensemble des segments de droites joignant les points les plus hauts des saillies
locales (resp. : plus bas des creux locaux) du profil, avec ou sans discrimination conventionnelle de
certaines saillies (resp. : certains creux).

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LES DEUX SYSTEMES DE CARACTERISATION DE LA RUGOSITE ET DE L'ONDULATION

En fait la première condition sélectionne les pics les plus élevés, de telle sorte que la LES qui leur est
associée ne coupe pas le profil.
Condition 2 ou de longueur : cette condition limite la longueur des motifs à une valeur A, définie con-
ventionnellement comme étant la limite entre la rugosité et l'ondulation (généralement 500 µm ) pour
les motifs de rugosité ou à une valeur B définie conventionnellement comme étant la limite entre l'on-
dulation et des écarts de forme (généralement 2500 µm ) pour les motifs d'ondulation.
Motifs caractéristiques Motifs caractéristiques
du profil de rugosité du profil d’ondulation

Toutefois la norme prévoit que les valeurs de A et B puissent être choisies dans la série suivante :
4, 20, 1000, 500, 2500, 12500 µm .
Condition 3 ou condition d'agrandissement. Cette condition sert à éliminer les plus petits pics, en re-
cherchant le plus grand motif possible. Elle n'autorise pas la combinaison de deux motifs en un seul,
plus long, si le résultat est un motif de caractéristique T plus faible que celle de l'un des deux motifs
d'origine.
Condition 4 ou de profondeur relative. Cette condition permet de limiter la combinaison des motifs
de profondeurs sensiblement égales, en particulier sur les surfaces périodiques.
On regroupe deux motifs de caractéristiques T 1 et T 2 en un seul motif de caractéristique T si T 1 et
T 2 sont inférieurs à 60 % de T .

322. Principe de la méthode


• Cette méthode est basée sur la construction de la LES. Elle s'applique à un profil total obtenu par
rapport à une référence indépendante de la surface (référence qui ne filtre pas).
• On établit, par la méthode des moindres carrés, un système d'axe (X, Y), (meilleure orientation pour
le calcul du taux de portance à un niveau défini).
• Le profil, dans son système d'axe est traité par un algorithme ayant pour fonction la séparation de la
rugosité et de l'ondulation, et le calcul des paramètres qui les caractérisent. Ces paramètres seront
définis dans la suite.
Etapes de l'algorithme.
- à partir du profil total il élimine les irrégularités dont la hauteur est inférieure à 5 % de l'ordre de
grandeur de la profondeur moyenne de rugosité,
- il définit les motifs caractéristiques du profil de rugosité. Pour cela il met en oeuvre les quatre
conditions qui viennent d'être décrites afin de regrouper des motifs locaux en procédant plu-
sieurs fois sur toute la longueur du profil. Lorsqu'il n'y a plus de combinaisons possibles entre
motifs, il déclare que les motifs combinés obtenus sont les motifs caractéristiques du profil de
rugosité.
La ligne passant par les sommets des motifs caractéristiques et nommée "LES du profil total mesuré".
- il calcule les paramètres de rugosité liés aux motifs.

Métrologie 41
Microgéométrie et mesure des états de surface

- à partir de l'ensemble des motifs caractéristiques, il discrimine les pics et les creux isolés, c'est-
à-dire ceux dont la hauteur est supérieure à une valeur H ; ( H = hauteur moyenne des motifs +
1,65 fois l'écart type des hauteurs des motifs). Alors l'algorithme construit la LES corrigée du
profil total, c'est-à-dire qu'il ramène la hauteur des pics et des creux à la hauteur H . Le calcul
des espaces et profondeur moyens des motifs caractéristiques est fait.
Cette action s'explique par le fait que les pics isolés fausseraient de façon aléatoire le calcul des para-
mètres d'ondulation et qu'ils disparaîtront rapidement par usure. Quant aux creux isolés, ils subsiste-
ront même lorsque la pièce sera hors d'usage.
- à partir de la "LES corrigée", considérée comme profil d'ondulation, l'algorithme définit de nou-
veaux motifs grâce aux 4 règles. Lorsque aucun regroupement n'est plus possible après plu-
sieurs passages, il déclare les motifs obtenus comme motifs caractéristiques de l'ondulation.
- il calcule les paramètres qui caractérisent l'ondulation, associés aux motifs.

42 Métrologie
LES DEUX SYSTEMES DE CARACTERISATION DE LA RUGOSITE ET DE L'ONDULATION

Figure 12: Algotithme de décomposition du profil en motifs

Métrologie 43
Microgéométrie et mesure des états de surface

Figure 13: Conditions de découpage de profils en motifs caractéristiques

Figure 14: Exemple de découpage de profils en motifs

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LES DEUX SYSTEMES DE CARACTERISATION DE LA RUGOSITE ET DE L'ONDULATION

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Microgéométrie et mesure des états de surface

4. LES PARAMETRES DE RUGOSITE


4.1. Paramètres de rugosité liés à la ligne moyenne
Ils sont calculés à partir du profil de rugosité obtenu après filtrage électrique ou gaussien.
La ligne moyenne du profil sert de ligne de référence pour le calcul des paramètres.
Les calculs sont fait sur une longueur de base l définie comme étant la 1/2 longueur d'onde du filtre.
La longueur d'évaluation L fera n fois la longueur de base.
L = nl
n est un entier qui en général est égal à 5, mais il peut varier de 1 à 4.
La longueur de mesure est égale à la somme de la longueur d'évaluation et de la longueur de base :
longueur de mesure = ( n + 1 )l = L + l
Quoiqu'il en soit le paramètre R i est calculé sur la i ème longueur de base. Le paramètre caractéristique
de rugosité R qui correspond est la moyenne des R i :
n
1
R = --- ∑ R i
n
1
Les paramètres de rugosité sont homogènes à une longueur. On les exprime en microns ( µm ).
La norme française définit 9 caractéristiques relatives à l'étalement vertical du profil (les profondeurs)
et à son étalement horizontal (les pas). Citons :
• Hauteur maximale du profil R t : c'est la distance entre la ligne des sailles et la ligne des creux.
• Hauteur maximale des saillies R p : c'est la distance entre la ligne des saillies et la ligne moyenne :
n li
1 1
R p = --- ∑ R pi R pi = --- ∫ y dx
n l
0 0

• Ecart moyen arithmétique du profil R a : En considérant un système d'axe dont l'axe des abscisses
est la ligne des saillies et celui des ordonnées perpendiculaire à la ligne des saillies et orienté vers la
n
1
matière, on note y ( x ) l'ordonnée d'un point du profil d'abscisse x . Alors : R a = --- ∑ R ai
n
1
li
1
R ai = --- ∫ y i ( x ) – R p dx
ème
pour la i longueur de base
li 0

• Maximum de la hauteur des irrégularités du profil R max :


R maxi = Sup l i { Y p i + Y vi }

R max = Sup i R max i

• Hauteur des irrégularités sur 10 points R z : Sur la longueur de base, on considère 5 hauteurs de
sailliesY pi1, Y pi2, …et 5 profondeurs de creuxY vi1, Y vi2, …. Alors

46 Métrologie
LES PARAMETRES DE RUGOSITE

∑ ( Yp ij
+ Y vij ) n
1
R zi = 1
-----------------------------------
- et R z = --- ∑ R zi
5 n
1
• Ecart moyen quadratique du profil R q
1
--- n
1 li  2
1
=  --- ∫ y i ( x ) dx  et R q = --- ∑ R qi
2
: R qi
 li 0  n
1
• Pas moyen des irrégularités du profil S m
m n
1 1
:S mi = ---- ∑ S mij et S m = --- ∑ S m i
m n
1 1
• Pas moyen des saillies locales du profil S
m n
1 1
:S i = ---- ∑ S ij et S = --- ∑ S i
m n
1 1
• Taux de longueur portante T p : tel qu'il a été défini précédemment. Le symbole de l'ISO est TP .
Remarque : ces paramètres sont définis dans la norme NFE-05-015. On définit encore des coefficients
tels que :
• La longueur développée du profil L 0 : c'est la longueur obtenue en étirant le profil suivant une droite
1---
l 2 2
∫0  1 +  -----
dy -
L0 = dx
dx

• Le rapport de longueur du profil L r :

L
L r = -----0-
l
• Le coefficient d'asymétrie de la distribution du profil S k : il mesure la dissymétrie de la densité de
distribution des amplitudes du profil. Il est donné par :
1--- l

3
( y ( x ) – R p ) dx
l 0
S k = ---------------------------------------------
-
3
Rq

Métrologie 47
Microgéométrie et mesure des états de surface

48 Métrologie
LES PARAMETRES DE RUGOSITE

Métrologie 49
Microgéométrie et mesure des états de surface

50 Métrologie
LES PARAMETRES DE RUGOSITE

4.2. Paramètres de rugosité liés aux motifs de rugosité


On définit une série de paramètres de rugosité qui sont :
• La hauteur moyenne des motifs R
• La largeur moyenne des motifs AR
• L'écart type de la hauteur moyenne des motifs SR
• L'écart type de la largeur moyenne des motifs SAR
Deux paramètres sont calculés avant d'appliquer la condition d'élimination des pics et creux isolés :
• La distance verticale séparant les points les plus haut et plus bas du profil de rugosité obtenu par la
méthode de décomposition en motifs soit P t
• La hauteur du plus haut motif R max

Métrologie 51
Microgéométrie et mesure des états de surface

5. LES PARAMETRES D'ONDULATION


La norme est en préparation. Les paramètres d'ondulation se calculent comme ceux relatifs à la rugo-
sité, toutefois le profil traité est le profil d'ondulation.

5.1. Paramètres liés à la ligne moyenne


La ligne moyenne d'ondulation étant établie, on caractérise les saillies et les creux d'ondulation. Les
paramètres sont :
• La hauteur maximale de saillie W p : c'est la distance entre le point le plus haut du profil d'ondulation
et la ligne moyenne.
• La profondeur maximale de creux W v : c'est la distance entre le point le plus bas du profil d'ondu-
lation et la ligne moyenne.
• La hauteur maximale du profil d'ondulation W t : c'est la distance entre les points le plus haut et le
plus bas du profil d'ondulation :
Wt = Wp + Wv

• L'écart moyen arithmétique du profil d'ondulation W a : si on se place dans les axes suivants, l'axe
des abscisses est suivant la ligne moyenne, l'axe des ordonnées lui est perpendiculaire et orienté vers
la matière, alors :
1 L
W a = --- ∫ y ( x ) dx
L 0
• L'écart moyen quadratique du profil d'ondulation W q :
1---
L 2 2
W q =  --- ∫ y ( x ) dx
1
L 0 

• Le pas moyen des irrégularités d'ondulation S wm : c'est la valeur moyenne des longueurs de la ligne
moyenne contenant une saillie et un creux adjacents.

Paramètres d'ondulation liés aux motifs d'ondulation


Les paramètres d'ondulation liés aux motifs caractéristiques de l'ondulation, obtenus par la méthode
de décomposition du profil en motifs, sont :
• La hauteur moyenne des motifs W .
• La largeur moyenne des motifs AW .
• L'écart type de la hauteur moyenne des motifs SW .
• L'écart type de la largeur moyenne des motifs SAW .
• La distance verticale séparant les points le plus haut et le plus bas de la LES, W t
• La hauteur du plus haut des motifs d'ondulation W max .

52 Métrologie
LES PARAMETRES DU PROFIL TOTAL

6. LES PARAMETRES DU PROFIL TOTAL


Le profil total regroupe les quatre premiers ordre géométriques : écart de forme, ondulation et rugo-
sité. Après avoir défini la ligne moyenne, on peut définir les mêmes paramètres que ceux relatifs à la
rugosité et à l'ondulation. A l'heure actuelle dans la normalisation française, on ne rencontre que le
paramètre P t . C'est la distance verticale séparant les points les plus haut et plus bas du profil.
Remarques :
• Lors de la spécification d'une rugosité, on doit toujours indiquer la longueur de base qui sert à dé-
terminer le paramètre prescrit. Ce sera aussi la 1/2 longueur d'onde de coupure lors de la séparation
de l'ondulation et de la rugosité. La longueur de base, ainsi que la longueur d'évaluation qui lui cor-
respond sont données par les tableaux qui suivent.
• Le plan de coupe, s'il n'est pas spécifié, est normal à la surface étudiée.
• La direction de mesurage pour une surface isotrope est arbitraire. Pour une surface anisotrope, si elle
n'est pas spécifiée, c'est celle qui rend maximaux les paramètres de rugosité.
Les trois remarques précédentes concernent le mesurage des paramètres associés au système de la li-
gne moyenne. Pour ce que concerne la méthode de décomposition du profil en motif, dans la mesure
du possible, la longueur de mesure est de 16 mm

Tableau 7: Longueurs de base pour le mesurage de R a de profils non périodiques.

R a ( µm ) Longueur de Longueur de
base l ( mm ) base l ( mm )
au delà jusqu’à
(0,006) 0,02 0,08 0,4
0,02 0,1 0,25 1,25
0,1 2,0 0,8 4,0
2,0 10,0 2,5 12,5
10,0 80,0 8,0 40,0

Tableau 8: Longueurs de base pour le mesurage de R z et R y de profils non périodiques

R z , R y ( µm ) Longueur de Longueur de
base l ( mm ) base l ( mm )
au delà jusqu’à
(0,025) 0,10 0,08 0,4
0,10 0,5 0,25 1,25
0,5 10,0 0,8 4,0
10,0 50,0 2,5 12,5
50,0 200,0 8,0 40,0

Métrologie 53
Microgéométrie et mesure des états de surface

Tableau 9: Longueurs de base pour le mesurage de R z et R a de profils périodiques

Sm Longueur de Longueur de
base l ( mm ) base l ( mm )
au delà jusqu’à
(0,01) 0,032 0,08 0,4
0,032 0,1 0,25 1,25
0,1 0,32 0,8 4,0
0,32 1 2,5 12,5
1 3,2 8,0 40,0

54 Métrologie
LES PROFILOMETRES D'ETAT DE SURFACE

10. LES PROFILOMETRES D'ETAT DE SURFACE


L'ensemble est constitué :
• d'un ensemble d'exploration,
• d'un mécanisme de commande au unité de déplacement,
• d'un amplificateur,
• d'un enregistreur,
• d'un calculateur
Figure 15: Synoptique de la chaîne de mesure

Ensemble Mécanisme de
Amplificateur
d’exploration commande

Surface à
Enregistreur Calculateur
contrôler

Profilogramme Critères

Figure 16: Profilomètre d’état de surface à contact

10.1. Ensemble d'exploration


Il est constitué :
• d'un palpeur,
• d'un convertisseur électromécanique ou transducteur,
• d'une tête de mesurage,
• d'une référence de mesure.
Les palpeurs d'exploration de la surface (ou stylet) sont caractérisés par le pouvoir d'exploration défini
Prof. mesurée
par : --------------------------------- 100 . Il s'exprime en % et, dépendant de la géométrie et des dimensions du palpeur,
Prof. réelle

Métrologie 55
Microgéométrie et mesure des états de surface

permet de classer les palpeurs en deux catégories :


• les palpeurs-touches,
• les palpeurs-aiguilles.
Les palpeurs-touches possèdent des extrémités sphériques de rayon supérieur à 12,5 µm . Ce sont des
filtres mécaniques passe-bas qui ne laissent passer que les 1er et 2ème ordre. Les autres ordres sont soit
totalement supprimés, soit altérés.
Les palpeurs-aiguilles, en saphir ou diamant on une forme conique ou pyramidale de 90° ou 60° d'an-
gle au sommet, terminée par une partie sphérique de rayon inférieur à 12,5 µm . Ce sont également
des filtres mécaniques passe-bas qui permettent d'explorer les 4 ordres géométriques. Sur l'aiguille
s'exerce un effort de mesurage, normalisé, fonction du rayon de l'extrémité.

On a remarqué que les angles des stries de rugosité sont toujours supérieurs à 143° (étude de 222 sur-
faces rectifiées), en fait les angles les plus fréquemment rencontrés se situent entre 150 et 170°. Ainsi
dans ce cas, l'angle de l'aiguille introduit peu d'erreur dans la restitution du profil.
Le rayon du palpeur a une influence plus importante. Les caractéristiques de rugosité en sont très dé-
pendantes. Suivant les cas, elles augmentent ou elles diminuent. D'où une normalisation du rayon
d'aiguille. A chaque rayon la normalisation associe un effort qui doit être suffisant pour qu'il n'y ait
pas de décollement entre l'aiguille et la surface à explorer et pas trop important afin de ne pas détério-
rer la surface étudiée.
Figure 17: Influence de la forme du palpeur

56 Métrologie
LES PROFILOMETRES D'ETAT DE SURFACE

Figure 18: Comparaison de 3 rayons de palpeur

Figure 19: Influence du rayon de pointe pour 3 procédés

Le convertisseur électro-mécanique, ou transducteur transforme, les déplacements verticaux de


l'aiguille, lorsqu'elle se déplace sur la surface, en signal électrique. On trouve trois principes de trans-
formation :
• le convertisseur inductif pour lequel le déplacement vertical est transformé en tension proportion-
nelle;
• le convertisseur piézo-électrique pour lequel la vitesse de déplacement vertical est transformée en
tension proportionnelle,
• le convertisseur photo-diodes pour lequel le déplacement vertical agit sur l'intensité lumineuse reçue
par deux cellules photo-électriques.
La tête de mesurage comporte le palpeur et son mécanisme de déplacement. Indépendamment de per-
mettre certains réglages d'orientation de la trajectoire du palpeur par rapport à la surface, elle se ca-
ractérise par son système de référence de mesure. Celui-ci peut être ou non indépendant de le surface
à explorer.
• référence de mesure extérieure à la surface : le mouvement du capteur est indépendant de la surface.
L'ensemble des ordres sont présents dans le signal obtenu, on peut obtenir des caractéristiques glo-
bales de la surface. Ce système nécessite souvent un dégauchissage de la surface.
• référence liée à la surface : la mesure s'effectue par rapport à un patin en appui sur le surface, qui
constitue un second palpeur. Deux valeurs caractérisent le patin, son rayon et son décalage par rap-
port à l'aiguille du palpeur. Le résultat du mesurage dépend de ces deux paramètres. Un dégauchis-

Métrologie 57
Microgéométrie et mesure des états de surface

sage de la surface n'est pas nécessaire. Le patin effectue un filtrage mécanique passe-bas.
• le rayon de courbure du patin élimine les 1er et 2ème ordre. L'élimination du 1er ordre se fait natu-
rellement alors que celle du 2 ème impose que le patin suive seulement l'ondulation. Pour cela il faut
que le rayon du patin ait une valeur suffisante qui élimine dans son mouvement la composante ru-
gosité. Cette condition nécessaire n'est pas suffisante, il faut aussi que la longueur de décalage avec
l'aiguille soit un multiple de la longueur d'onde de l'ondulation :
X = k × Aw k = 0, 1, …
Alors le déplacement relatif de l'aiguille par rapport au patin est caractéristique de la rugosité.
L'ensemble patin aiguille est souvent monté sur un bras articulé. La distance entre l'articulation et
le patin doit être grande devant le décalage afin que la rotation n'introduise pas d'erreur trop impor-
tante.
Signalons enfin qu'à ces éléments s'ajoutent :
• un amplificateur qui amplifie le signal sortant du transducteur de 400 à 100 000 fois,
• un calculateur dont les circuits comportent des filtres électriques passe-bas ou passe haut.
• un enregistreur qui présente le signal de sortie sous forme d'un graphe plus ou moins anamorphosé

Figure 20: Appareil à modulation d’amplitude

Figure 21: Procédé piézo-électrique

58 Métrologie
LES PROFILOMETRES D'ETAT DE SURFACE

Figure 22: Schéma du transducteur optique

Figure 23: Profilomètre à référence extérieure

Figure 24: Profondeur de profil relativement à une ligne de référence extérieure

Métrologie 59
Microgéométrie et mesure des états de surface

Figure 25: Principe du capteur avec patin

Figure 26: Influence du rapport de la longueur du bras de mesure sur la distance palpeur-patin

Figure 27: Influence de la distance palpeur-patin : X = A w

Aw
Figure 28: Influence de la distance palpeur-patin : X = -------
2

60 Métrologie
LES PROFILOMETRES D'ETAT DE SURFACE

Métrologie 61
Microgéométrie et mesure des états de surface

62 Métrologie
SYMBOLISATION DES SPECIFICATIONS D'ETAT DE SURFACE

11. SYMBOLISATION DES SPECIFICATIONS D'ETAT DE


SURFACE
Signalons à nouveau que les paramètres de rugosité sont homogènes à des longueurs, on les exprime
en microns ( µm ).
Ensuite notons qu'un état de surface doit être prescrit que si cela est nécessaire. Si c'est nécessaire,
alors la prescription sur le dessin de définition se fait à l'aide de symboles normalisés d'état de surface,
relatifs aux écarts géométriques du 2ème au 4ème ordre.
Le symbole est le suivant :

Symbolisation des écarts géométriques du 2ème et 4ème ordre

Si besoin est, aux endroits indiqués 1 , 2 , 2' , 3 , 4 on porte :


1 - L'abréviation de la fonction de la surface, soit FG, FR, ...

Tableau 12: Liste des principales fonctions


Avec assemblage Sans Avec
SURFACE Avec déplacement relatif
fixe contrainte contraintes
avec Contraintes
Ajustement fixe

Résistance aux
Efforts Alternés
Outils Coupant
Résistance au
Frottement de

Frottement de

Electrolytique
Revêtement
Dynamique
Glissement

Adhérence
Roulement

Frottement

Etanchéité

Etanchéité

(peinture)
(collage)
Statique

Mesure
Matage

(arête)
Fluide

Dépôt

FONCTION

ABREVIATION FG FR RM FF ED ES AC AD RE DE ME EA OC

2 et 2' - Le (les) symbole(s) et la (les) valeur(s) du (des) critère(s) choisi(s).

Tableau 13: Index des symboles des critères d’état géométrique (NF E 05-015)
AR : Pas moyen,ou longueur d’onde moyenne, ou fréquence moyenne de rugosité.
AW : Pas moyen, ou longueur d’onde moyenne, ou fréquence moyenne d’ondulation.
k pR : Coefficient d’évidement relatif à la rugosité.
k pW : Coefficient d’évidement relatif à l’ondulation.
( Lp )c : Longueur portante du profil total pour une profondeur de coupe égale à c .
( LR )c : Longueur portante de la rugosité, pour une profondeur de coupe égale à c .
( LW )c : Longueur portante de l’ondulation, pour une profondeur de coupe égale à c .
Pa : Ecart moyen arithmétique, par rapport à la ligne moyenne, du profil total.
Pp : Profondeur d’aplanissement du profil total.
Pt : Profondeur totale, ou écart total, du profil total.
R : Profondeur moyenne ou amplitude moyenne de la rugosité.

Métrologie 63
Microgéométrie et mesure des états de surface

Tableau 13: Index des symboles des critères d’état géométrique (NF E 05-015)
Ra : Ecart moyen arithmétique, par rapport à la ligne moyenne, de la rugosité.
R max : Profondeur maximale, ou amplitude maximale, de la rugosité.
Rp : Profondeur d’aplanissement de la rugosité.
Rt : Profondeur totale, ou écart total de la rugosité.
( Tp )c : Pourcentage portant du profil total, pour une profondeur de coupe égale à c .
( TR )c : Pourcentage portant de la rugosité, pour une profondeur de coupe égale à c .
( TW )c : Pourcentage portant de l’ondulation, pour une profondeur de coupe égale à c .
W : Profondeur moyenne, ou amplitude moyenne, de l’ondulation.
Wa : Ecart moyen arithmétique, par rapport à la ligne moyenne, de l’ondulation.
W max : Profondeur maximale, ou amplitude maximale, de l’ondulation.
Wp : Profondeur d’applanissement de l’ondulation.
Wt : Profondeur totale, ou écart total, de l’ondulation.

Les valeurs à indiquer sont normalisées, le tableau suivant en donne quelques-unes.

Tableau 14: Valeurs normalisées des critères de profil (en µm )


40 10 2,5 0,63 0,16 0,04

32 8 2 0,5 0,125 0,032

100 25 6,3 1,6 0,4 0,1 0,025

80 20 5 1,25 0,32 0,08 0,02

63 16 4 1 0,25 0,063 0,016

50 12,5 3,2 0,8 0,2 0,05

Ainsi on choisit le ou les paramètres du profil, le ou les plus caractéristiques suivant les exigences
fonctionnelles imposées à la surface par le bureau d’étude. 2 est réservé aux paramètres physiques
alors que les paramètres statistiques sont placés en 2’. Les valeurs indiquées concernent soit la valeur
maximale admissible, soit une plage définie par ses bornes.
Sauf cas contraire signalé, en l’absence de précision ces paramètres sont relatifs à un plan de coupe
perpendiculaire à la direction générale des stries.
3 - le procédé d’élaboration identifié soit par une abréviation composée de deux ou trois lettres mi-
nuscules (voir tableau suivant), soit par sa désignation littérale en utilisant un nota.

Tableau 15: Liste de procédés d’élaboration


Fraisage Rectification Sablage
Electro-érosion

Superfinition
Cylindrique
En roulant

Rabotage

Polissage
Tournage
Brochage

Dressage

Procédé
Pierrage
Perçage
Alésage

Lamage

Rodage
En bout

Humide
Etirage
Plane

A sec

d’élaboration

ABREVIATION al br frb frr lm pe pi rb rcp rcc rd to éi éé po sf sas sah dr

64 Métrologie
SYMBOLISATION DES SPECIFICATIONS D'ETAT DE SURFACE

Grenaillage Laminage Moulage

Electropolissage
Electroformage
Découpage

Estampage
Sphérique

Matricage
Forgeage
Angulaire

Galetage
Grattage
Meulage
Procédé

A chaud

Coquille
Filetage
Etitage
Sciage

A froid

Sable
d’élaboration

ABREVIATION gr me sc de ef ep gns gna es et fl fo ga laf lac mos moc ma

4- des spécifications complémentaires telles que les conditions de mesurage, ...


De plus il est recommandé d’indiquer le N° de la norme qui sert de référence à la symbolisation : NFE
05-016.
La mise en oeuvre de cette symbolisation doit être telle que l’interprétation du symbole et l’identifi-
cation de la surface à laquelle il se réfère doivent être sans ambiguïté. Des règle sont données pour
cette mise en oeuvre dans la norme NFE 05-016. Elles se traduisent par le schéma ci-dessous:
Figure 29: Exemples de mise en oeuvre de la symbolisation exposée.

Métrologie 65
Microgéométrie et mesure des états de surface

Remarque : la norme ISO 1302 donne une place privilégiée au paramètre R a

66 Métrologie
SYMBOLISATION DES SPECIFICATIONS D'ETAT DE SURFACE

Les tableaux suivants indiquent la valeur des paramètres R a et R t en fonction du procédé d’élabora-

Métrologie 67
Microgéométrie et mesure des états de surface

tion

68 Métrologie
SYMBOLISATION DES SPECIFICATIONS D'ETAT DE SURFACE

Hauteur maximale du profil R t en fonction du procédé d’élaboration


Méthode d’usinage Profondeur de rugosité R t ( µm )

1000
0,18
0,25

100
180
250
400
630
0,1

0,4
0,6

1,8
2,5

6,3
10
18
25
40
63
Groupe Désignation

4
Fonte au sable
Fonderie Fonte en coquille
Fonte fine
Forge libre
Forgeage Estampage
Forge de précision
Laminage à chaud
Laminage
Laminage à froid
Tréfilage normal
Tréfilage
Tréfilage de précision
Compression
Emboutissage
Matricage
Galetage
Galetage
Roulage
Ebauche
Limage Finition
Superfinition
Dégrossissage
Rabotage Ebauche
Finition
Tournage dégrossissage
Tournage d’ébauche
Tournage Tournage de finition
Tournage de finition avec carbure
Tournage de haute précision avec diamant
Chambrage Chambrage
Alésage normal
Alésage par
Alésage de précision
alésoir
Alésage de haute précision
Fraisage d’ébauche
Fraisage de finition
Fraisage
Fraisage de précision
Fraisage de haute précision
Brochage normal
Brochage
Brochage de précision
Grattage 1 à 3 pts/cm^3
Grattage
Grattage 3 à 5 pts/cm^3
Rectification d’ébauche
Rectification normale
Rectification
Rectification de précision
Rectification de haute précision
Honing
Honing Honing de précision
Honing de haute précision
Rodage d’ébauche
Rodage de finition
Rodage
Rodage de haute précision
Rodage de très haute précision
Pollissage par polissoir à chiffon
Polissage
Polissage normal
Sablage à gros grains
Sablage Sablage à grains moyens
Sablage à grains fins
Nettoyage à billes Nettoyage par billes soufflées

Métrologie 69

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