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Les surfaces des pièces fabriquées présentent toutes des irrégularités qui sont fonction de la matière
et du procédé d’élaboration.
La représentation des caractéristiques d’une surface s’effectue habituellement sous la forme d’un
profil fortement agrandi.
L’enregistrement de ce profil est effectué, dans la plupart des cas, avec ANAMORPHOSE :
Ce sont les défauts de forme et de position de la surface, tels que : planéité, circularité,
parallélisme, etc..
- Moyens d’évaluation
- Marbre,
- Comparateur,
- Calibres à limites (tampons, bagues),
- Banc de mesure.
- Moyens d’évaluation
Les défauts de 1er et de 2ème ordre ont une influence importante sur :
Ils sont, d’autre part, à la base d’usure et de grippage, et ils diminuent sensiblement, de ce fait, la
durée de vie des organes de machine.
- Moyens d’évaluation
Les défauts de 3ème et 4ème ordre ont une influence importante sur :
Les défauts de 5ème ordre (structure cristalline) et de 6ème ordre (réseau cristallin) qui intéressent
l’état physico-chimique du matériau, ne sont pas traités ici.
Motif de rugosité
Remarque : Par définition, un motif de rugosité a une longueur Ari inférieure ou égale à A.
Motif d'ondulation
n
AR = 1 ∑ A Ri
n i =1
m
R= 1 ∑ Hj
m j =1
où m est le nombre de valeurs Hj.
Paramètres de rugosité
n
AW = 1 ∑ AWi
n i =1
où n est le nombre de motifs d’ondulation (égal au nombre de valeurs de AWi).
m
W = 1 ∑ Hw j
m j =1
où m est le nombre de valeurs Hwj.
Remarque : il y a deux fois plus de valeurs Hwj que de valeurs AWi (m=2n)
Paramètres d'ondulation
Remarque : Les algorithmes de calculs des motifs sont normalisés ainsi que tous les paramètres de
calculs (A et B) incluant des critères statistiques éliminant les pics peu représentatifs.
Le tableau indique, pour information, les paramètres liés aux motifs qui peuvent être spécifiés suivant
la fonction des surfaces.
Paramètres
Fonction appliquée à la surface Profil
Surface Profil de rugosité Profil d’ondulation
primaire
Désignation Sym * R Rx AR W Wx Wte AW Pt Pδx
≤
Glissement (lubrifié) FG • 0,8R
Ο •
Avec déplacement
Frottement à sec FS • Ο • Ο
relatif
≤
Roulement FR • 0,3R • Ο Ο
Résistance au matage RM Ο Ο Ο •
Frottement d’un fluide FF • Ο Ο Ο
Contact de deux pièces
Avec ≤
Etanchéité joint • Ο Ο
0,6R
Ο
ED
dynamique
Sans ≤
joint
Ο • 0,6R •
Assemblage fixe
Avec ≤
Etanchéité joint
Ο • R
Ο Ο
ES
statique
Sans ≤
joint
Ο • R •
Ajustement fixe avec
contrainte
AC Ο •
Adhérence (collage) AD • Ο
Avec
Outils (face de coupe) OC Ο Ο • •
Résistance aux efforts
•
contrainte
EA Ο Ο
Surface indépen-dante
alternés
Résistance à la corrosion RC • •
Sans contrainte
Revêtement (peinture) RE Ο Ο
≤
Dépôt électrolytique DE • 2R •
≤
Mesurage ME • R
Aspect AS • Ο Ο Ο
Ces critères sont calculés par rapport à une ligne référence appelée ligne moyenne.
L
Ra = 1 ∫ y dx
L 0
C’est la moyenne entre les cinq plus hauts pics et les cinq creux les plus profonds mesurés par
rapport à une ligne de base.
h2, h4, h6, h8, h10 : profondeurs des creux par rapport à la ligne de base.
6.7.1- Description
Ce sont des plaquettes en acier reproduisant des états de surfaces correspondant à des valeurs
limites du critère Ra, pour des usinages tels que le tournage, le fraisage, la rectification, le rodage,
etc...
6.7.2- Utilisation
- Le principe de ce contrôle consiste à comparer par la vue et le toucher les échantillons et la
surface à contrôler.
- L’expérience montre que le procédé de contrôle par comparaison viso-tactile est d’une relative
précision.
C’est un instrument à exploration progressive, servant à mesurer les paramètres géométriques d’état
de surface du 1er au 4ème ordre.
6.8.1- Description
Cet appareil est constitué d’un capteur, d’un amplificateur, d’un calculateur et d’un enregistreur.
L’unité d’avance déplace le palpeur sur la surface à explorer et le guide le long d’une référence.
Cette dernière est constituée soit par la surface elle-même, dans le cas d’un mesure avec capteur
avec patin soit par un plan ou une broche dans le cas d’un palpage avec un capteur sans patin.
Capteur inductif
Capteur piézo-électrique
Le palpeur est fixé sur une lame piézo-électrique (quartz, titanate de baryum, etc.) et l’extrémité
de la lame est fixée au corps du capteur.
Sous l’action des variations de pression (dues aux déformations engendrées par les mouvements
du palpeur) des charges électriques de signe différent apparaissent sur les faces opposées de lame de
quartz.
Ce système de captage nécessite une pression de mesure relativement importante qui impose
l’emploi d’un palpeur de rayon important (12,5 µm).
Capteur optoélectronique
Le système optique comprend : une tige articulée portant le palpeur et une plaque comportant
une fente, un guide de lumière et deux cellules photo-électriques.
En position d’équilibre, ou position zéro, la fente de la plaque est en ligne avec le centre du
guide de lumière ; le rayon lumineux passant par la fente se répartit également sur les éléments
inférieurs et supérieurs. Ainsi les signaux électriques des cellules photo-électriques s’annulent.
Lorsque le palpeur monte ou descend, la lumière se répartit de façon inégale sur les deux cellules
photo-électriques.
Le signal de l’une des cellules augmente, alors que celui de l’autre diminue.
6.8.4- Palpeurs
- Palpeurs touches
- Palpeurs aiguilles
L'angle de 60° évite tout risque, même dans les usinages modernes les plus serrés.
Le signal obtenu à l'aide d'un palpeur aiguille est désigné par le terme "profil total obtenu sans
filtrage, ni mécanique, ni électrique".
IUT MCQ Etats de surface page 19
6.9- Filtres électriques
L'étude d'un état de surface nécessite souvent la séparation des types de défauts que l'on désire
analyser.
Il est souvent intéressant par exemple, de séparer les écarts de 1er et de 2ème ordre (forme,
ondulation) et ceux du 3ème et 4ème ordre (rugosité).
Les calculateurs comportent des filtres qui donnent les moyens d'analyser les profils.
- Cela signifie, par exemple, qu'un filtre passe-bas de 2,5 mm ne restitue que 80 % de la
valeur de l'amplitude (profondeur) d'un écart dont la longueur d'onde (AW) est de 2,5 mm.
- Cela signifie, par exemple, qu'un filtre passe-haut de 0,8 mm ne restitue que 75 % + 5 % de
l'amplitude (profondeur) d'un écart dont la longueur d'onde (AR) est de 0,8 mm.
- Pour obtenir une valeur de l'amplitude de l'écart proche de 100 %, il faut utiliser un filtre
dont la longueur d'onde est supérieure ou égale à 10 fois la longueur d'onde (AR) de
l'écart (voir courbe de réponse).
Le paragraphe précédent montre que le choix du filtre passe-haut doit impérativement être
effectué en fonction de la valeur du pas de la rugosité (AR).
Un bon choix des filtres passe-haut permet d'obtenir la valeur Ra la plus proche possible de la
valeur réelle.
La longueur d'onde du filtre passe-haut doit être comprise entre 10 et 5 fois le pas de la
rugosité (AR).
10 AR ≥ λ ≥ 5 AR
On pratique on prendra :
λ = 5 AR
Remarques :
- Pour éviter d'intégrer une partie de l'amplitude de l'ondulation, dans la mesure de la
rugosité, il faut également choisir le filtre de telle façon que :
λ = AW / 3
patin
palpeur
palpeur
patin d
1er cas : d = AW
(où d = multiple pair de AW)
6.13.1- Sécante
La sécante est une ligne parallèle au profil de référence. Elle sépare du profil de rugosité les
intervalles remplies par le matériau bi (i = 1 ………., n) (voir figure au § 3.4)
La proportion de matériau Mr est le rapport de la longueur totale remplie par le matériau l sur la
longueur de l'intervalle de mesure lm.
Mr = l × 100 (en %)
lm
Portion de matériau Mr en %
Approximation de la courbe d'Abbott par trois droites et paramètres qui en sont tirés
Portion de matériau Mr en %
Grâce à un pré-filtrage (voir figure 1a) du profil réel non filtré avec le filtre de profil ayant la
longueur d'onde limite λc correspondante selon le tableau 1, toutes les proportions de creux qui se
trouvent en dessous de la ligne médiane de ce filtrage (représentées en hachuré sur la figure 1a) sont
éliminées. A ces endroits, le profil réel non filtré est remplacé par le tracé de la ligne médiane.
Sur le profil réel non filtré après l'élimination des creux (voir la figure 1b), on emploie de nouveau
le filtre de profil. La ligne médiane obtenue sur ce profil est le profil de référence pour la détermination
des valeurs mesurées pour Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2.
Ce profil de référence est reporté sur le profil réel non filtré original (voir la figure 1d) ; par
formation de la différence entre le profil réel et le profil de référence on obtient ensuite le profil de
rugosité (voir figure 1e).
Profil de rugosité
Pour la mesure, on prendra de préférence la longueur d'onde limite λc = 0,8 mm. Lorsque cela sera
justifié, on prendra exceptionnellement la longueur d'onde λc = 2,5 mm et il faudra que cette valeur
soit ensuite indiquée en même temps que les résultats des mesures.
On a par exemple un cas d'exception de ce type pour les surfaces pierrées en plateau, lorsque
certains creux profonds et larges ou un grand nombre de creux communiquant directement provoquent
de fausses crêtes de matériau dans le profil de rugosité.
En cas de doute, il faut choisir une longueur d'onde limite λc qui donne pour Rk la valeur la plus
faible.
Tableau 1
Correspondance entre l'intervalle de mesure lm et la longueur d'onde limite λc
λc (mm) lm (mm)
0,8 4
2,5 12,5
Remarque : Pour les mesures réalisées, on emploiera que des filtres de profil ayant pour longueur
d'onde limite λc = 0,8 mm et λc = 2,5 mm.
L'intervalle de mesure lm est l'intervalle de mesure le plus faible pour la détermination des
paramètres.
L'intervalle lm peut être choisi inférieur à 5 × λc lorsque l'on ne dispose pas sur la surface de la
pièce à usiner d'un intervalle d'exploration correspondant. Il faut alors réaliser plusieurs mesures et
calculer la moyenne des résultats des mesures individuelles.
Remarque : Les paramètres ne seront calculés que lorsque la forme de la courbe d'Abbott aura la
forme en "s" qui est représentée sur les figures et ne présente dans la pratique qu'un seul
point d'inflexion. On peut dire empiriquement que c'est toujours le cas pour les surfaces
rodées, polies ou pierrées.