Institut de Technologie

Nucléaire Appliquée
Université Cheikh Anta Diop (UCAD)
(ITNA)

Méthodologie d’analyse d’échantillons par la

technique de fluorescence X (Niton XL3T
XRF Analyzer)
.
Dans ce rapport on décrit les différentes étapes à suivre pour analyser
une pastille par Niton XL3T XRF Analyser.

MANUEL DE PROCEDURE
I - Introduction

La spectrométrie de fluorescence X (XRF) est une technique analytique multi-éléments non

destructive, rapide et simultanée pour les échantillons solides ou liquides. Ses applications sont
versatiles et les spectres XRF couvrent la plupart des éléments jusqu’à des niveaux de concentration
de µg/g. La fluorescence X est une technique bien établie en laboratoire, mais c'est également l'une
des rares techniques de spectrométrie atomique pouvant être utilisée pour l'instrumentation
portable sur le terrain. En ce sens, nous pouvons l’utiliser pour l'analyse des sols, des sédiments, des
eaux, des déchets liquides, de l'air, de la poussière, des artefacts archéologiques, des œuvres d'art,
de la peinture, des métaux, des alliages, des minéraux et échantillons médico-légaux.

II – Méthodologie d’analyse par Niton XL3T XRF Analyser

Ci-contre l’image (Figure 1) de la mallette contenu l’appareil Niton XL3T XRF Analyzer et les
accessoires (deux batteries, câble de recharge, filtre, etc.)

Figure 1 – Manette de l’appareil Niton XL3T XRF Analyzer.

On sort l’appareil de la mallette pour le relier à l’ordinateur (Figure 2). Avant de le brancher à
l’ordinateur, il faut insérer la batterie de charge pour l’alimentation en électricité. Sur la figure 2,
nous pouvons apercevoir également l’appareil Niton XL3T XRF Analyzer portatif et les accessoires
prêt à être utilisé pour l’analyse.
 Figure 2 - Appareil Niton XL3T XRF Analyzer.

L’appareil Niton XL3T XRF Analyzer est placé verticalement (Figure 3). Au-dessus de l’appareil, le filtre
est monté sur la fenêtre de sortie des rayons X. Dans certains cas de figure, des mesures sont faites
avec/sans filtre en vue d’une comparaison des résultats.

Figure 3 – Disposition verticale de l’appareil.

L’appareil est relié à l’ordinateur (Figure 4). Sur l’ordinateur le programme du logiciel NDTr 6.5.2
(Figure 5) est installé en vue lire les données de celui-ci.

Figure 6 - Vu d’ensemble de Figure 7 - Ouverture du logiciel NDTr 6.5.2

l’appareil relié à l’ordinateur. .

Dès l’ouverture du programme, la fenêtre (Figure 8) apparait à l’écran avec différentes options (Test,
Utilities, Common Setup, Mode, Data et Log Off).

Figure 9 - Fenêtre apparaissant à l’ouverture du logiciel.

Avant de lancer les mesures des échantillons, il est fondamental de calibrer le détecteur de l’appareil
Niton XL3T XRF Analyzer. Pour ce faire il faut suivre la procédure suivante : Utilities puis Calibrate et
enfin Calibrate Detector (Figure 7 et 8).

Figure 10 - Calibrage de l’appareil. Figure 11 - Fenêtre apparaissant après avoir

cliqué sur Calibrate.
.
La figure 9 montre l’interface de l’opération de Calibrage du détecteur de l’appareil Niton XL3T XRF
Analyzer. En effet, la figure 10 montre la fenêtre apparaissant à la fin de l’opération de calibrage.
Après il faut cliquer sur NAV pour visualiser l’option EXIT en vue de continuer le réglage de l’appareil.

Figure 12 – Calibrage en cours de l’appareil. Figure 13 – Fenêtre apparaissant à la fin du

calibrage.
On appuie sur NAV puis exit pour retourner à l’écran figurant au point 6. Pour le réglage de la date et
de l’heure on clique sur Date &Time.

Figure 14 - On appuie sur NAV puis exit. Figure 15 - Réglage de la date et de l’heure.

La figure 13 montre la fenêtre apparaissant après avoir appuyé sur Date & Time. Le réglage de la
date et de l’heure est important car perméttant de retrouver les fichier dans la base de donnée.

Figure 13 - Fenêtre apparaissant après avoir appuyé sur Date & Time.
 Le réglage du détecteur de l’appareil Niton XL3T XRF Analyzer est fonction des éléments d’intérêt
(Figure 14). Sur la figure 15, nous pouvons apercevoir la fenêtre apparaissante après avoir appuyé
sur Instrument Setup et Filter Config .

Figure 14 - Réglage du détecteur de l’appareil Niton Figure 16 – Fenêtre du mode de réglage du

XL3T XRF Analyzer. détecteur.

La figure 16 représente le Mode de la configuration du filtre. La bande déroulante permet de

sélectionner le mode souhaité ( Soil Mode, Alloy Mode, Soil Mode, Thin Film et Mining Mode).

Figure 176 – Bande déroulante permettant de sélectionner le mode souhaité

 Le classement des éléments d’intérêts à analyser se fait en cliquant sur Element Display Options puis
Sort Element Display (Figure 17). La figure 17 montre la fenêtre apparaissant après avoir cliqué sur
Sort Element Display.

Figure
Figure 17
18 –Mode de classement
- Réglage des
du détecteur deéléments
l’appareilà
analyser.
Niton XL3T XRF Analyzer.

Fenêtre apparaissant après avoir cliqué sur Mode (voir fenêtre du point 6).

Fenêtre apparaissant après avoir cliqué sur Bulk Analysis.

Figure 20 –Mode de classement des éléments à

Figure 19 –Mode de classement des éléments à
analyser.
analyser.
Fenêtre apparaissant après avoir cliqué sur Mining Mode Cu/Zn.

Figure 20 –Mode de classement des éléments à

analyser.

Fenêtre apparaissant après avoir cliqué sur Data Entry et rempli les cases.

Figure 20 –Mode de classement des éléments à

analyser.
Fenêtre apparaissant après avoir cliqué sur Start.

Figure 20 –Mode de classement des éléments à

analyser.

III - Conclusion
La spectrométrie XRF portable bénéficie d'un large domaine d'applications. Cela résulte
principalement sa capacité multi élémentaire et instantanée d’analyse, exigences de préparation
minime des échantillons et de sa nature non destructive. Cet instrument offre des perspectives
d’analyse utilisant peu de consommable et rapide pour la caractérisation des échantillons sur des
sites contaminés.