L3 SPI Capteurs Acquisition de Donnees UE 522

UNITE : UED522
Resp. N.Neji
najett.neji@univ-evry.fr
Bureau CX 117
Capteurs et acquisition de données
L3 SPI FI - TC UED522 : Capteurs et acquisition de données E. Connessons / N. Neji 1

Description générique
Enseignement en deux grandes parties :
• Instrumentation : métrologie, chaine d’acquisition des mesures et capteurs

• Traitement des mesures par la transformée de Fourier discrète
Volume horaire :
• CM : 8h
• TD : 12h
• TP : 8h
• 2 séances de 4h notées
• Préparation individuelle notée pour le 1er TP à rendre en début de séance

Description générique
Compétences à acquérir :
• Utiliser à bon escient le vocabulaire de métrologie et traitement du signal
• Etre capable de choisir un instrument de mesure à partir des besoins de

l’application et des notices techniques
• Etre capable de dimensionner une chaîne de mesure
• Etre capable d’exploiter un signal de mesure

UNITE : UED522
Resp. N.Neji
Bureau CX 117
Première partie :
Instrumentation

Instrumentation - Sommaire
1. Introduction
2. Caractéristiques métrologiques
3. Chaine d’instrumentation
4. Instruments de mesure - capteurs

Introduction
Qu’est ce que l’instrumentation ?
L’instrumentation regroupe les outils permettant de faire au moins une

des opérations suivantes :
‒ Mesure d’une grandeur physique

‒ Acquisition de données
‒ Système d’asservissement, régulation
‒ Tout dispositif de contrôle, surveillance, sécurité
L’instrumentation intervient à deux niveaux :

Introduction
Qu’est ce que l’instrumentation ?
L’instrumentation intervient dans tous les domaines :
‒ Recherche : extrêmes précision et fiabilité

‒ Production : robustesse, simplicité
‒ Produit : faible coût
=> De très nombreux produits différents !
Ce qu’il faut ABSOLUMENT retenir :
UNE MESURE EST TOUJOURS FAUSSE

UNE MESURE N’EST UTILE QUE SI ELLE PRESENTE UNE QUALITE
SUFFISANTE
1. Introduction

Caractéristiques métrologiques
Vocabulaire et définitions
Mesurande : grandeur physique à mesurer, entrée de l’instrument de mesures
Mesurage : action de faire une mesure

Mesure : résultat du mesurage, sortie de l’instrument de mesures
Métrologie : science des mesurages et ses applications
Principe de mesure : phénomène servant de base à un mesurage

Méthode de mesure : description générique de l’organisation des
opérations mises en œuvre dans un mesurage
Procédure de mesure : description détaillée d’un mesurage

Vocabulaire et définitions
Ecart (noté  : différence entre la valeur théorique et la valeur pratique,

donnée en unité de cette valeur
Ecart global : valeur maximale prise par les écarts
Erreur (notée E) : différence entre la valeur théorique et la valeur pratique,
donnée en pourcentage
Erreur relative : pourcentage par rapport à la valeur à mesurer
Erreur absolue : pourcentage par rapport à l’étendue de mesures
Ecart ou erreur systématique : peut être corrigé ou compensé
Ecart ou erreur non systématique : incertain, incontrôlé
Précision : intervalle de vraisemblance d’une mesure

Mesurande
Détermination de la nature de la grandeur à mesurer :

Vitesse, poids, pression, température, distance, luminosité,
radioactivité, tension, courant, force…
Détermination de l’évolution de la grandeur :

Statique ou dynamique
Etendue des valeurs prises par la grandeur :

Valeurs courantes, valeurs accidentelles

Domaines d’utilisation
Exemple : température
Domaine nominal d’utilisation
Médical
= Etendue de mesure
34 à 43°C
= Portée
Extérieur
Possibilité d’avoir des technologies, -25 à +40°C
instruments, matériaux… différents
pour un même mesurande mais sur
des étendues différentes Industriel
-50 à +150°C

Domaine nominal d’utilisation = étendue de mesure = portée
Domaines de non-détérioration = surcharges admissibles
Domaines de non-destruction
Domaines de destruction

Exemple : dynamomètre à ressort
4,5 Kg
Domaine
nominal
d’utilisation 17 Kg
Retour à zéro
Domaine de non
120 Kg
détérioration
Retour à zéro Domaine de
destruction
60 Kg
Domaine de non destruction
Non retour à zéro
Fonction de transfert
Equation qui modélise le phénomène de conversion du mesurande en mesure
Exemple du dynamomètre : coefficient de raideur
Cas linéaire Cas non linéaire

sortie sortie sortie
Sensibilités locales
entrée entrée entrée

Sensibilité moyenne ou globale Loi de conformité Sensibilités locales
Sensibilité = sortie / entrée Tangentes

Meilleur choix possible : linéaire avec sensibilité la plus élevée possible
sortie
∆𝑠𝑜𝑟𝑡𝑖𝑒
∆𝑠𝑜𝑟𝑡𝑖𝑒
entrée

Possibilité de la retrouver avec des méthodes d’identification

Par exemple : la méthode des moindres carrés
Minimiser la somme des carrés des écarts entre la théorie et la pratique
𝑁 σ𝑁 𝑁 𝑁
𝑖=1 𝑥𝑖 𝑦𝑖 − σ𝑖=1 𝑥𝑖 . σ𝑖=1 𝑦𝑖 mesure
𝑎= 2
𝑁 σ𝑁 2 𝑁
𝑖=1 𝑥𝑖 − (σ𝑖=1 𝑥𝑖 )
σ𝑁 2 𝑁 𝑁 𝑁
𝑖=1 𝑥𝑖 . σ𝑖=1 𝑦𝑖 − σ𝑖=1 𝑥𝑖 . σ𝑖=1 𝑥𝑖 𝑦𝑖
𝑏= 2
𝑁 σ𝑁 2 𝑁
𝑖=1 𝑥𝑖 − (σ𝑖=1 𝑥𝑖 )
Avec :
N : nombre de mesures prises en compte

𝑥𝑖 : mesurandes appliqués au capteur mesurande
𝑦𝑖 : mesures prises

Ecarts élémentaires
Ecart de mobilité :
Plus petite valeur en entrée qui déclenche la mesure
Ecart de résolution :
Plus petite variation de l’entrée qui fait varier la sortie
Exemple : pèse personne

Mobilité : environ 10Kg
Résolution : 100g
Attention à ne pas confondre résolution et précision

Ecart d’ajustement :
apparaît lorsque l’on suppose que
l’instrument suit une loi de conformité
et qu’en fait il ne la suit pas tout à fait
Ecart de linéarité :
apparaît lorsque l’on suppose que
l’instrument est linéaire et qu’en fait il
ne l’est pas tout à fait

Possibilité de vérifier la modélisation de la fonction de transfert (sensibilité ou

loi de conformité) grâce aux écarts de linéarité ou d’ajustements
mesure
Mesures systématiquement en dessous
de la droite
mesure
Ecarts dans le même sens et croissants
a est faux
mesurande
mesure
Mesures systématiquement en dessous
de la droite
Ecarts dans le même sens et constants
b est faux mesurande

mesurande
Pour que le modèle soit correct, les signes et les valeurs des écarts doivent être différents

Sortie / mesure
Ecart d’hystérésis :
différence de la sortie entre un Charge
parcours croissant et décroissant de hystérésis

l’étendue de mesures Décharge
Entrée / Mesurande
Sortie / mesure
Ecart de zéro :
apparaît lorsque l’entrée est égale à
zéro et que la sortie ne l’est pas 

 Entrée / Mesurande

Sortie / mesure
Retour à zéro :
Charge
Dû aux écarts de zéro et hystérésis,
apparaît lorsque la sortie n’est plus à
zéro après le retrait du mesurande Décharge
Entrée / Mesurande

Ecarts combinés
Ecart de justesse : Systématique

j f
pouvant être corrigé ou compensé
Nombre d'occurrences
Ecart de fidélité :
Non systématique ne pouvant être ni
corrigé, ni compensé
Ecart de précision :
Sortie
Intervalle de vraisemblance prenant en ½ largeur à la
Valeur
compte la justesse et la fidélité vraie ½ hauteur
Valeur
𝜀𝑝 = 𝜀2 + 𝜀2 moyenne
𝑗 𝑓

Ecarts combinés

Caractéristiques diverses
Grandeur d’influence :
Grandeur étrangère au mesurage qui selon sa nature et importance
peut provoquer des perturbations (température, instrumentation aval,
alimentation, humidité, poussières, pression, vibrations…)
Domaine de non-destruction
Grandeur d’influence
Domaine de non-détérioration
Domaine nominal
d’utilisation
Mesurande

Sélectivité :
Aptitude d’un instrument de mesure à résister aux grandeurs d’influences
(la mesure ne dépend que du mesurande)
Rapidité :
Aptitude d’un instrument à suivre les variations du mesurande dans le
temps (s’estime en réponse à un échelon)
Mesure
Mesurande
Temps

Finesse :
Aptitude d’un instrument de mesures à ne pas perturber la mesure à
cause de sa présence
Durée de vie :
Temps durant lequel les caractéristiques métrologiques d’un instrument
sont garanties
Résistance à la fatigue :
Nombre de cycles de fonctionnement pouvant être effectués par un
instrument sans modification de ses caractéristiques métrologiques

Etalonnage - calibration
Il s’git d’établir une relation entre :
- les valeurs étalons d’une grandeur

- les valeurs fournies par l’instrument
- dans des conditions déterminées et fixes (pas de variation des
grandeurs d’influence)
Dans le but de :
- régler l’instrument de mesure (uniquement les écarts systématiques,

fait par le constructeur)
- établir une courbe de correction des valeurs brutes (aux utilisateurs)
- évaluer les écarts aléatoires

Etalonnage - calibration
Etalon primaire : établi à l'aide d'une procédure de mesure primaire ou

créé comme objet par convention
Etalon secondaire : établi par l'intermédiaire d'un étalonnage par

rapport à un étalon primaire d'une grandeur de même nature
Etalon de référence : conçu pour l'étalonnage d'autres étalons de grandeurs

de même nature dans une organisation donnée ou en un lieu donné
Etalon de travail : utilisé couramment pour étalonner ou contrôler des

instruments de mesure ou des systèmes de mesure

1. Introduction

Chaine d’instrumentation
Synoptique générale
PROCESSUS
CAPTEUR
OPERATEUR ACTIONNEURS
PRE-AMPLI
FILTRE
AFFICHAGE
AMPLI STOCKAGE
ORGANE DE TRAITEMENT
CAN CNA
NUMERIQUE

Amplification directe :
amplification du signal ET
du bruit
Signal inexploitable
www.ensta-paristech.fr

Filtrage direct :
atténuation du
bruit ET du signal
Risque de ne plus
détecter le signal

Pré-amplification :
augmenter le niveau du
signal sans trop
augmenter le bruit
Filtrage : atténuer le
bruit, atténuation aussi
du signal mais qui a été
augmenté
précédemment
Amplification :
augmenter le signal et le
bruit mais qui a été très
atténué précédemment

Fonction Amplification
Système physique qui fournit une grandeur utile Su(t) de puissance Pu(t),
assujettie à une grandeur Se(t), dite d’excitation de puissance Pe(t)
IL Y A AMPLIFICATION SI : Pu(t) > Pe(t)
Sp(t)
Pp(t)
Se(t) Su(t)
Pe(t) Pu(t)
Sa(t)
Pa(t)
 Pu 
Amplification : A  Su  Pu Gain : G(dB)  20log10  Su   10log10  
Se Pe  Se   Pe 
Rendement : Pu Pu
  1
Pa  Pe Pu  Pp

Sueff
I : Seuil de sensibilité, dépend du bruit
Vsat
Rapport signal bruit: Sueff Vso
II : Régime linéaire
Ap = constante selon Se et f
III : Zone de distorsion d’amplitude

Amplificateur en saturation
Vso
IV : Zone de détérioration puis
destruction
I II III IV Seeff

Sueff
fc1: première fréquence de
coupure
3dB
fc2: deuxième fréquence de
coupure
Δf : bande passante
f
Le produit gain-bande est constant
COMPROMIS
fc1 fc2 f

Amplificateurs petits signaux ou d’instrumentation

Vso le plus faible possible, S/B le plus grand possible, f ajustée
1er ou 2ème étage d’une chaîne d’amplification
Amplificateurs grands signaux

Souvent non-linéaire
Amplificateurs de puissance, étages de sortie
Amplificateurs a-périodiques
Théoriquement parfaitement linéaires, f souvent grand
Utilisés surtout en audio et vidéo
Amplificateurs sélectifs
f étroite
Remise en forme de sinusoïdes, sélection d’émetteur radio, extraction de signal bruité

Fonction Filtrage
Sinusoïde pure 0 t
0 f
V
Bruit blanc 0 t
0 f
V
Sinusoïde bruitée 0 t
0 f
V
Sinusoïde filtrée 0 t
0 f

Fonction Filtrage
Mise en forme d’un signal

Réduction du bruit superposé au signal
Sélection d’une partie d’un signal
Passe-bas Passe-bande Passe-haut
0 f 0 f 0 f
fc à –3dB Pente ou sélectivité

Fonction CAN
La numérisation implique une perte d’informations !!
Sortie en V
Première étape : ECHANTILLONNAGE
Prélever des échantillons à intervalle de

temps régulier (Te)
Fe = 1/Te : fréquence d’échantillonnage

Temps
Sortie en V
Respecter le théorème de Shannon :
Fe > 2 Fmax
Fmax : fréquence maximale présente

dans le spectre du signal
Temps

Fonction CAN
Deuxième étape : BLOQUAGE

Sortie en V
Maintenir la valeur de l’échantillon le
temps qu’elle soit saisie et mémorisée
Signal bloqué : succession de palier de

durée Te
Temps
La valeur de chaque palier est égale à la
valeur de l’échantillon

Fonction CAN
Troisième étape : QUANTIFICATION

Sortie en codes
binaires Conversion d’un niveau analogique en
111 un code binaire signé ou non
110
101 Chaque code binaire correspond à une
100
valeur entière n (signée ou non)
011
010
001 Cette valeur indique le nombre de pas
000 Temps
de quantification q contenu dans le
niveau analogique
Le signal quantifié ne peut prendre

qu’un nombre restreint de valeurs

Fonction CAN
Xmax = Vref- q
Sortie en codes q : pas de quantification
binaires
111
Vref : tension de référence
110
101
N : nombre de bits
100
011
Xmax : tension maximale codable
010
001
q 000
Temps
44
L3 SPI FI - TC UED522 : Capteurs et acquisition de données E. Connessons / N. Neji
Fonction CAN
- Premier choix :
Uniforme : q = constante
Non uniforme : q non constant
- Deuxième choix :
Vref
Signée : le signe du signal (+ ou -) est codé q 
2N1
Vref
Non signée : le signe du signal n’est pas codé q N
2
- Troisième choix :
Par troncature : 1,2  1 / 1,5  1 / 1,7  1
Par arrondi par défaut : 1,2  1 / 1,5  1 / 1,7  2
Par arrondi par excès : 1,2  1 / 1,5  2 / 1,7  2
Par arrondi au plus proche : 1,2  1 / 1,5  1 ou 2 / 1,7  2

Choix ensemble capteur / CAN par troncature

V
En violet : le signal analogique
11 - 3 En vert : le signal quantifié
③
10 - 2 En rouge : l’écart de quantification
②
01 - 1
q=1V ① : lorsque le signal analogique est à 0V, le signal
00 - 0
①
t numérique donne le code 00 donc le signal
𝜀𝑞 quantifié vaut 0V et 𝜀𝑞 = 0𝑉
②
q ② : lorsque le signal analogique augmente (par ex
: 0,2V – 0,5V – 0,9V) le signal numérique reste sur
①
t le code 00 donc 𝜀𝑞 augmente
③
③ : lorsque le signal analogique arrive à 1V (1 pas

de quantification entier), le CAN va commuter et
𝜀𝑞 𝑔𝑙𝑜𝑏𝑎𝑙 = 𝑀𝑎𝑥 𝜀𝑞𝑖 = 𝑞 passer sur le code 01, le signal quantifié vaut 1V et
𝜀𝑞 = 0𝑉

Choix ensemble capteur / CAN par arrondi

En violet : le signal analogique
V En vert : le signal quantifié
11 - 3 En rouge : l’écart de quantification
③ ④
10 - 2 ① : lorsque le signal analogique est à 0V, le signal numérique
②
01 - 1 donne le code 00 donc le signal quantifié vaut 0V et 𝜀𝑞 = 0𝑉
q=1V
00 - 0 ② : lorsque le signal analogique augmente (par ex : 0,2V –
①
t 0,4V) le signal numérique reste sur le code 00 donc 𝜀𝑞
𝜀𝑞 augmente, lorsque le signal analogique arrive à 0,5V (1/2 pas de
quantification), 𝜀𝑞 = 0,5𝑉 , il y a commutation sur le code 01 et
② ④
q/2
𝜀𝑞 = − 0,5𝑉
③ : le signal analogique continue d’augmenter, le code 01 ne
①
t
③
change pas, donc 𝜀𝑞 diminue
④ : lorsque le signal analogique arrive à 1V, il rejoint le signal
numérique : le signal analogique et le signal quantifié ont alors
𝜀𝑞 𝑔𝑙𝑜𝑏𝑎𝑙 = 𝑀𝑎𝑥 𝜀𝑞𝑖 = q/2 la même valeur et 𝜀𝑞 = 0𝑉
L’écart de quantification est 2 fois plus petit que pour la

quantification par troncature, donc la quantification par
arrondi est à privilégier
Choix ensemble capteur / CAN
Si chaine d’instrumentation = capteur + CAN

Quel
CAPTEUR CAN
défaut ? Quel défaut (𝜀 𝑝𝑟é𝑐 𝑐𝑎𝑝𝑡 ou 𝜀𝑞 𝐶𝐴𝑁 ) sera « vu » en sortie ?
𝜀𝑝𝑟é𝑐 𝑐𝑎𝑝𝑡 𝜀𝑞 𝐶𝐴 𝑁
① : si 𝜀𝑝𝑟é𝑐 𝑐𝑎𝑝𝑡 ≪ 𝜀𝑞 𝐶𝐴𝑁 => capteur « très précis » mais
pas de quantification q important
Les doubles flèches représentent
l’écart de précision du capteur Défaut prépondérant => celui du CAN
𝜀𝑞 CAN sous-dimensionné par rapport au capteur, dont la
précision est perdue
q/2 ② : si 𝜀 𝑝𝑟é𝑐 𝑐𝑎𝑝𝑡 ≫ 𝜀 𝑞 𝐶𝐴𝑁 => capteur « peu précis », mais
① ③ ② pas de quantification q très petit
t
Défaut prépondérant => celui du capteur
CAN surdimensionné
③ : donc compromis idéal : 𝜀 𝑝𝑟é𝑐 𝑐𝑎𝑝𝑡 = 𝜀 𝑞 𝐶𝐴𝑁

Choix ensemble capteur / CAN
Raisonnement précédent incomplet, car entre le capteur et le CAN, manquent un ou plusieurs amplis et un
ou plusieurs filtres.
Les filtres : aucune influence, car traitent les fréquences, or nous raisonnons par rapport aux tensions
Les amplis : énorme influence car amplification du signal du capteur, mais aussi de ses défauts, donc son
écart de précision
CAPTEUR AMPLI CAN

𝜀 𝑝𝑟é𝑐 𝑐𝑎𝑝𝑡 𝜀 𝑞 𝐶𝐴𝑁
Le compromis idéal prenant en compte l’ampli est :

𝜀 𝑝𝑟é𝑐 𝑐𝑎𝑝𝑡 × 𝐴 = 𝜀 𝑞 𝐶𝐴𝑁

Ecarts dus à la chaîne d’instrumentation
Ecart de quantification :
Par troncature : q=q
Par arrondi : q=q/2
Ecart de lecture :
Lié à l’affichage. Apparaît uniquement lors des lectures de graduations

1. Introduction

Instruments de mesure - capteurs
Classification
En fonction de la sortie :
Sortie
Sortie ANALOGIQUE CAPTEUR
Entrée
Sortie
Sortie NUMERIQUE CODEUR
Entrée
Sortie
Sortie LOGIQUE DETECTEUR

Entrée

Classification
En fonction du principe de mesure :
Capteurs actifs :
Fonctionne en générateur
Converti une partie de l’énergie du mesurande en énergie électrique
Effets : piézo-électrique, pyroélectrique, thermoélectrique,
photoélectrique, inductif, Hall
Capteurs passifs :
Variations d’une impédance soumise aux variations du mesurande
Effets : Résistif, capacitif

Constituants d’un capteur


Mesurande Signal électrique

Entrée Sortie
Corps Déformation
Transducteur
d’épreuve
Alimentation
éventuelle
Corps d'épreuve : élément mécanique réagissant de façon sélective à la grandeur à

mesurer, il transforme le mesurande en grandeur mesurable, présence non
systématique.
Transducteur : élément sensible lié au corps d'épreuve, il traduit les réactions du

corps d'épreuve en une grandeur électrique.


Corps d’épreuve
Mesurage de pression :
Capsule anéroïde Tube de Bourdon Membrane
www.directindustry.fr
Larousse.fr

Corps d’épreuve
usinenouvelle.com
filame.com
Mesurage de force, poids : Gtm38.com

Pesage.biz
francois.louf.free.fr
stephane.genouel.free.fr
www.hellopro.fr
Compression Traction
Torsion Cisaillement

Effet piézoélectrique
Polarisation électrique d’un matériau soumis à une contrainte (céramiques,

cristaux, composites…)
Mesurage de force, poids, pression, accélération…

+F
+ + + + + + +
Matériau Plaques
piézoélectrique conductrices
- - - - - - - - - -
-F Masse sismique
Compression Cisaillement
francois.louf.free.fr Flexion

Effet pyroélectrique
Polarisation électrique temporaire d’un matériau soumis à une température

(sous famille des piézo)
Mesurage de température, détection de présence
+ + + + + + +
Matériau Plaques
pyroélectrique conductrices
Onde infra-rouge -- - - - - - - - -
usinenouvelle.fr
interface-z.fr

Effet thermoélectrique
Effet Seebeck : apparition d’une fem dans un circuit ouvert constitué de

deux conducteurs différents
Mesurage de température : thermocouple

Chromel = nickel + chrome
Jonction mesure
Acquisition
Raccordements signal
Constantan = nickel + cuivre
medicalexpo.fr
vertex-tw.com

Effet photoélectrique
Emission d’électrons par un matériau soumis à la lumière
Mesurage de l’intensité lumineuse, de déplacement, détection de présence
fr.wikiversity.org
axesindustries.com
audin.fr

Effet inductif
Réluctance variable : création d’un courant dans la bobine par la modification

de la réluctance
Détection de présence, mesurage de position, vitesse

V
N2
L
 N S
N : nombre de spires actives Objet

R : réluctance du circuit magnétique ferromagnétique
Directindustry.com
http://abadia-autoeditions-techniques.blogspot.fr

Effet inductif
Courant de Foucault : perturbation du champ magnétique par les courants

de Foucault
Détection de présence, mesurage de position, vitesse
Mise en
Oscilla-
forme
sortie
Etage
-teur
de
Objet
métallique
Directindustry.com
Pm-instrumentation.com

Effet inductif
F.E.M. : modification de la tension de sortie d’une génératrice tachymétrique

(dynamo) par la variation de la vitesse angulaire
Mesurage de vitesse
E = Kn
E : tension de sortie
K : constante de f.e.m.
N : vitesse de rotation
Parvex.com

Effet inductif
Transformateur différentiel : modification de la tension de sortie par la

variation de la position du noyau ferromagnétique
Mesurage de déplacement
Ve V1 Vs = V1- V2 V1
Vs
V2
V2 x
rdpe.com

Effet Hall
Modification de la tension de Hall par la modification de l’intensité du courant

traversant un conducteur soumis à un champ magnétique (ou l’inverse)
Mesurage de champ, d’intensité de courant, détection de présence
B
E +++++++++++++++ I
-- ------------------
Fr.farnel.com
web-in-pocket.blogspot.fr
www.passelec.fr

Effet résistif
Potentiomètre : modification de la résistance par variation de la longueur

de la piste résistive
Mesurage de distance, position, accélération

Piste
course totale du curseur butée résistive
E course utile
V zones de dépassement
Masse
zones neutres sismique
Axesindustries.com
Directindustries.com

Effet résistif
Modification circuit ouvert / circuit fermé
Détection de présence
Interfacetactile.com
Adt-didactique.com
Hellopro.fr
Conrad.fr

Effet résistif
Jauge de contrainte : modification de la résistance par variation de la longueur

de la piste résistive
Mesurage de déformation
J1 J2
E V
J4 J3
Montage électrique Montage mécanique

en pont de Wheatston en rosette
Lextronic.fr
Gotronic.fr

Effet capacitif
Modification de la capacité par

variation de l’épaisseur du diélectrique
Armature rigide
Armature déformable
Mesurage de pression F
S
C  0r Modification de la
e capacité par variation de
: permittivité la taille des surfaces en
S : surface des plaques en regard
e : épaisseur du diélectrique
regard
Mesurage de déplacement
Fr.wikipédia.org

Effet capacitif
Modification de la capacité par création d’un condensateur « parasite »
Détection de proximité
Vue de face
Armatures :
principale
Mise en
Oscilla-
forme
sortie
Etage
-teur
de
de compensation
de masse
Objet
Lamaintenance.fr

UNITE : UED522
Resp. N.Neji
Bureau CX 117
Deuxième partie :
Traitement des mesures par la

Transformée de Fourier Discrète (TFD)

TFD - Sommaire
1. Rappels
2. Spectres des signaux numériques
3. Repliement de spectre
4. Leakage

Rappels
Les Décibels
Signal : 𝑋𝑑𝐵 = 20𝐿𝑜𝑔10 𝑥
Puissance : 𝑃𝑑𝐵 = 10𝐿𝑜𝑔10 𝑝𝑊
Rapports de puissance (exemple de l’amplification)
𝑉s2 /R
𝑃𝑆 𝑉𝑆
𝐴𝑑𝐵 = 10𝐿𝑜𝑔10 = 10𝐿𝑜𝑔10 = 20𝐿𝑜𝑔10
𝑃𝑒 𝑉𝐸
𝑉𝑒2 /R

Rappels
Analyse directe des signaux temporels
Oscillations simples
‒ Possibilité de plusieurs phénomènes superposés

‒ Plus ou moins difficile à analyser dans
le domaine temporel
pixelab.org
perceptionsonoretpe.free.fr

Rappels
Signaux aléatoires
‒ Nécessite une étude statistique

‒ Expression analytique temporelle non immédiate
‒ Possibilité de présence de bruits
F-legrand.fr
=> Obligation d’analyser dans le domaine fréquentiel : spectre

Rappels
s(t) modélisé par la superposition de signaux purement oscillants de fréquences,

énergies et phases différentes
qsl.net
Domaine temporel Domaine fréquentiel
Signal rouge = somme des signaux

Rappels
Transformée de Fourier
+∞
Signaux déterministes continus, non périodiques : X(f)= ‫׬‬−∞ 𝑥 𝑡 . 𝑒 −2𝑗𝜋𝑓𝑡 𝑑𝑡
Spectres non périodiques, continus :
slideplayer.fr
snight.free.fr
Domaine temporel Domaine fréquentiel
Densité spectrale d’énergie (DSE) : 𝑋 𝑓 2
+∞ 2 𝑑𝑡 +∞ 2 𝑑𝑓
Théorème de Parseval : E= ‫׬‬−∞ 𝑥 𝑡 = ‫׬‬−∞ 𝑋 𝑓
La puissance ou l’énergie du signal est égale à la
puissance ou l’énergie du spectre

Rappels
Série de Fourier
Signaux déterministes continus, périodiques (T 0) :

Spectres non périodiques, discrets (échantillons tous les F0) :
+∞ C0
C-2 C1
𝑋 𝑓 = σ 𝐶𝑛. 𝛿 𝑓 − 𝑛𝐹0 C-1
C3
… -3F0 +2F0 …
𝑛=−∞
-2F0 -F0 0 +F0 +3F0 f
C-3 C2
Densité spectrale de puissance (DSP) : 𝐶𝑛 2
Egalité de Parseval :

Rappels
Fonction Dirac
Représentation des évènements ponctuels :

𝜹𝒗
1 𝑠𝑖 𝑣 = 0
𝛿 𝑣 =
0 𝑠𝑖 𝑣 ≠ 0
0 𝑣
Relations temps / fréquences :

Rappels
Fonction Sinus cardinal
sin(𝜃)
𝑠𝑖𝑛𝑐 𝜃 =
𝜃 𝑥 𝑡 = 𝐴. 𝑟𝑒𝑐𝑡𝑇 𝑡 = > 𝑋 𝑓 = 𝐴𝑇𝑠𝑖𝑛𝑐(𝜋𝑓𝑡)
𝑠𝑖𝑛𝑐 0 = 1
X(f)
𝑠𝑖𝑛𝑐 𝜃 = 0 ↔ 𝜃 = 𝑘𝜋, 𝑘 ∈ 𝑍∗ 𝑠𝑖𝑛𝑐 0 = 1 ↔ 𝑋 0 = 𝐴𝑇
Lobe principal
Largeur 2/T
90% de l’énergie
Lobes secondaires
Largeur 1/T
-4/T -3/T -2/T -1/T 0 1/T 2/T 3/T 4/T 5/T
𝑘
𝑠𝑖𝑛𝑐 𝜋𝑓𝑇 = 0 ↔ 𝜋𝑓𝑇 = 𝑘𝜋 , 𝑘 ≠ 0 ↔ 𝑓 = ,𝑘 ≠ 0
𝑇

Rappels
Fonction Cosinus
𝐴 +2𝜋𝑗𝐹 𝑡 𝐴 −2𝜋𝑗𝐹 𝑡
x 𝑡 = 𝐴𝑐𝑜𝑠 2𝜋𝐹0𝑡 = 𝑒 0 + 𝑒 0
2 2
𝑻𝑭
Or 𝒆−𝟐𝝅𝒋𝒇𝟎 𝒕 ↔ 𝜹 𝑓 + 𝑓0 et TF linéaire (conserve les coefficients)
𝐴 𝐴
Donc X f = 2 𝜹 𝑓 − 𝐹0 + 2 𝜹 𝑓 + 𝐹0
Spectre du A/2 Spectre du A/2

A/2 A/2
signal 𝑋(𝑓) module 𝑋(𝑓)
f f
-F0 0 F0 -F0 0 F0
Spectre de A2/4 Spectre de

A2/4
DSP 𝑋(𝑓) 2 phase 𝜑(𝑓)
f f
-F0 0 F0 -F0 0 F0

Rappels
Fonction Sinus
𝐴 +2𝜋𝑗𝐹0𝑡 𝐴 −2𝜋𝑗𝐹0𝑡
x 𝑡 = 𝐴𝑠𝑖𝑛 2𝜋𝐹0 𝑡 = 𝑒 − 𝑒
2𝑗 2𝑗
𝑻𝑭
Or 𝒆−𝟐𝝅𝒋𝒇𝟎 𝒕 ↔ 𝜹 𝑓 + 𝑓0 et TF linéaire (conserve les coefficients)
𝐴 𝐴
Donc X f = 2𝑗 𝜹 𝑓 − 𝐹0 − 2𝑗 𝜹 𝑓 + 𝐹0
Spectre du +A/2j Spectre du A/2

-A/2j A/2
signal 𝑋(𝑓) module 𝑋(𝑓)
f f
-F0 0 F0 -F0 0 F0
𝜋/2
Spectre de A2/4 Spectre de
A2/4
DSP 𝑋(𝑓) 2 phase 𝜑(𝑓)
f
-F0 0 F0
f −𝜋/2
-F0 0 F0

Rappels
Paramètres caractéristiques
Composantes spectrales d’un signal : ensemble des fréquences le

constituant
Fréquence fondamentale F0 : PGDC des composantes spectrales
𝐴𝑚𝑝𝑙𝑖𝑡𝑢𝑑𝑒 max 𝑑𝑒𝑠 𝑐𝑜𝑚𝑝𝑜𝑠𝑎𝑛𝑡𝑒𝑠
Dynamique de la DSP d’un signal : 𝛿𝑎 = 𝐴𝑚𝑝𝑙𝑖𝑡𝑢𝑑𝑒 min 𝑑𝑒𝑠 𝑐𝑜𝑚𝑝𝑜𝑠𝑎𝑛𝑡𝑒𝑠
en dB : 20𝐿𝑜𝑔10 𝛿𝑎
Finesse spectrale d’un signal : 𝛿𝑓 = plus petit écart entre deux composantes
fréquentielles successives (continu compris)
Fréquence maximale du signal : 𝐹𝑚𝑎𝑥 = composante de fréquence la plus
élevée en valeur absolue

TFD - Sommaire
1. Rappels
4. Leakage

Spectre des signaux numériques
Problématique
Traitements informatisés => numérisation

‒ CAN : échantillonnage, blocage, quantification
‒ Echantillonnage = prise d’échantillons à intervalles réguliers = perte d’informations
‒ ATTENTION : risque de repliement de spectre
TF et SF inadaptées aux signaux échantillonnés => TFD Transformée

de Fourier Discrète
‒ Impossibilité de faire une TFD de −∞ à +∞
‒ Mémorisation d’une séquence finie et troncature
‒ ATTENTION : risque de leakage

Echantillonnage
Période d’échantillonnage : 𝑇𝑒
Fréquence d’échantillonnage : 𝐹𝑒
Discrétisation de l’échelle temporelle : perte d’information
x(t) xe(t)
0 2Te 3Te 4Te … t

Te

Echantillonnage
𝑥𝑡
Multiplication en
amplitude d’un « peigne
de Dirac » par x(t)
0 Te 2Te 3Te 4Te … t
𝜋𝑒 𝑡 1
t
𝑥𝑒 𝑡
𝑥𝑒 𝑡 = 𝑥 𝑡 . 𝜋 𝑇𝑒 𝑡
0 Te 2Te 3Te 4Te … t

Echantillonnage
𝑡 = 𝑛𝑇𝑒 → 𝑥𝑒 𝑡 = 𝑥 𝑛𝑇𝑒
Valeur des échantillons :
𝑡 ≠ 𝑛𝑇𝑒 → 𝑥𝑒 𝑡 = 0
Repérage de l’instant associé par des impulsions de Dirac :

Echantillonnage
𝑇𝐹
𝑥𝑒 𝑡 = 𝑥 𝑡 . 𝜋𝑇𝑒 𝑡 𝑋𝑒 𝑓 = 𝑋 𝑓 ∗ Π𝐹𝑒 𝑓
Spectre du peigne de Dirac :

Π𝐹𝑒 𝑓 1/Te
f
-Fe Fe 2Fe 3Fe
Spectre après échantillonnage

𝑋 𝑓 ∗ 𝛿 𝑓 − 𝑛𝐹𝑒 = 𝑋 𝑓 − 𝐹𝑒

Echantillonnage
Spectre périodique !
𝑋𝑒 𝑓 = … + 𝐹𝑒. 𝑋 𝑓 + 𝐹𝑒 + 𝐹𝑒. 𝑋 𝑓 + 𝐹𝑒. 𝑋 𝑓 − 𝐹𝑒 + 𝐹𝑒. 𝑋 𝑓 − 2𝐹𝑒 …
1
Signal échantillonné à 𝑇𝑒  Spectre de période 𝐹𝑒 = 𝑇
𝑒
1
Signal de période 𝑇0  Spectre échantillonné à 𝐹0 = 𝑇
0

TFD - Sommaire
1. Rappels
4. Leakage

Repliement de spectre
Description
Interpolation
𝐹𝑒 . 𝑋 𝑓 + 𝐹𝑒 𝐹𝑒 . 𝑋 𝑓 𝐹𝑒 . 𝑋 𝑓 − 𝐹𝑒
… …
-Fe -Fe/2 0 Fe/2 Fe f
Interpolateur de Shannon 𝐻𝑓
𝐻 𝑓 = 𝑇𝑒. 𝑟𝑒𝑐𝑡𝐹𝑒 𝑓
𝑇𝑒
ℎ 𝑡 = 𝐹𝑒 . 𝑇𝑒 . 𝑠𝑖𝑛𝑐 𝜋𝐹𝑒 𝑡
ℎ 𝑡 = 𝑠𝑖𝑛𝑐 𝜋𝐹𝑒𝑡 -Fe/2 0 Fe/2
f
Non réalisable sous forme de filtre analogique

Description
Si Fe est mal dimensionné : 𝐹𝑒 < 2𝐹𝑚𝑎𝑥

𝐹𝑒 . 𝑋 𝑓 𝐹𝑒 . 𝑋 𝑓
… … … …
-Fe -Fe/2 0 Fe/2 Fe f -Fe -Fe/2 0 Fe/2 Fe f
Chevauchement Aliasing
Cas limite : 𝐹𝑒 = 2𝐹𝑚𝑎𝑥

𝐹𝑒 . 𝑋 𝑓
… …
-Fe -Fe/2 0 Fe/2 Fe f

Théorème de Shannon
Il faut 𝐹𝑒 − 𝐹𝑚𝑎𝑥 > 𝐹𝑚𝑎𝑥 => 𝐹𝑒 > 2𝐹𝑚𝑎𝑥
Limitations :
‒ Il faut connaître 𝐹𝑚𝑎𝑥

‒ Il faut que 𝐹𝑒soit compatible avec les fréquences d’horloge des CAN et utiliser un
filtre anti-repliement en amont
Filtre
Capteur CAN
Anti-repliement

Théorème de Shannon : construction d’un spectre
1. Tracer le spectre de la Série de Fourier

2. Placer les multiples de Fe
3. Tracer les périodes de la Série de Fourier, centrées sur les multiples de Fe
4. Placer l’interpolateur de Shannon sur l’intervalle [-Fe/2 ; +Fe/2]
5. Tracer le spectre résultant
6. Faire la Série de Fourier inverse pour estimer les dégâts causés ou non
par le repliement de spectre

Théorème de Shannon : exemple 1
𝑋𝑓
1/2 1/2 1/2 1/2
Spectre du signal analogique
𝑥 𝑡 = cos 2𝜋𝑡 + 𝑐𝑜𝑠 6𝜋𝑡
f
-12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
Spectre du signal échantillonné

à 𝐹𝑒 = 7𝐻𝑧, périodisation en 𝐹𝑒 𝑋𝑓
1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2
Interpolation
𝑥(𝑡) = cos 2𝜋𝑡 + 𝑐𝑜𝑠 6𝜋𝑡
-12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2 -Fe Fe
1
𝑃 = 4. = 1𝑊
2
𝑋෨𝑓
1/2 1/2 1/2 1/2
Signal = signal de départ
-12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

-Fe/2 Fe/2

𝑋𝑓
1/2 1/2 1/2 1/2
f
-12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
Spectre du signal échantillonné 1 1
à 𝐹𝑒= 6𝐻𝑧, périodisation en 𝐹𝑒 𝑋𝑓

1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2
Interpolation
𝑥(𝑡) = cos 2𝜋𝑡 + 2𝑐𝑜𝑠 6𝜋𝑡
2 -12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1 -Fe Fe
𝑃 = 2. + 2. 1 2 = 2,5𝑊
2
1
𝑋෨𝑓
1
1/2 1/2
Augmentation artificielle de la puissance
-12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

-F e/2 Fe/2

𝑋𝑓
1/2 1/2 1/2 1/2
f
-12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
à 𝐹𝑒 = 5𝐻𝑧, périodisation en 𝐹𝑒
𝑋𝑓
1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2
Interpolation
𝑥(𝑡) = cos 2𝜋𝑡 + 𝑐𝑜𝑠 4𝜋𝑡
2
1 -12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2
-Fe
-1 0 1 2 3 4
Fe
5 6 7 8 9 10 11 12
𝑃 = 4. = 1𝑊
2
𝑋෨𝑓
Modification de la fréquence de la 1/2 1/2 1/2 1/2
2ème composante
-12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
-Fe/2 Fe/2

𝑋𝑓
1/2 1/2 1/2 1/2
f
-12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
à 𝐹𝑒 = 5,5𝐻𝑧, périodisation en 𝐹𝑒
𝑋 𝑓
1/2 1/2 1/2 1/21/2 1/2 1/2 1/21/2 1/2 1/2 1/2
Interpolation
𝑥
෤ 𝑡 = cos 2𝜋𝑡 + 𝑐𝑜𝑠 5𝜋𝑡
2
1 -12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2
-Fe
-1 0 1 2 3 4 5
Fe
6 7 8 9 10 11 12
𝑃 = 4. = 1𝑊
2
𝑋෨𝑓
Modification de la fréquence 1/2 1/2 1/2 1/2
fondamentale
-12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
-Fe/2 Fe/2

𝑋𝑓
1/2 1/2 1/2 1/2
f
-12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
à 𝐹𝑒 = 3𝐻𝑧, périodisation en 𝐹𝑒
𝑋 𝑓
1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2
Interpolation 1/2 1/2
𝑥
෤ 𝑡 = 1 + cos 2𝜋𝑡
2
1 -12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2
-F e
-1 0 1 2
Fe
3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
𝑃 = 1 + 2. = 1,5𝑊
2 1
𝑋෨
Apparition d’une composante 1/2
𝑓1/2
continue
-12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
-Fe/2 Fe/2

Conséquences du repliement de spectre
En cas de repliement de spectre, il peut y avoir :
‒ Modification des amplitudes

‒ Modification des puissances
‒ Modification des fréquences
‒ Apparition ou disparition d’une composante
‒ Modification de la fréquence fondamentale
‒ Apparition d’une composante continue
‒ …

TFD - Sommaire
1. Rappels
4. Leakage

Leakage
Troncature
Prélèvement d’une partie du signal sur une « Période d’observation 𝑇𝑜𝑏𝑠 »

Mathématiquement : multiplication du signal par une fonction rectangle,
appelée « Fenêtre d’observation »
𝑟𝑒𝑐𝑡𝑇𝑜𝑏𝑠 𝑡
𝑥𝑡
𝑤 𝑡 = 𝑟𝑒𝑐𝑡𝑇𝑜𝑏𝑠 𝑡
t
𝑇𝑜𝑏𝑠
𝑥𝑇 𝑡 = 𝑥 𝑡 . 𝑤 𝑡
𝑥𝑡
t
𝑇𝑜𝑏

Leakage
Troncature
Possibilité de voir apparaître des effets de bord

Exemple avec : 𝑥 𝑡 = 𝑐𝑜𝑠 2𝜋𝐹0𝑡
𝑇𝑜𝑏𝑠
𝑇′𝑜𝑏𝑠
𝑇0 t
Signaux périodiques : Effets de bord

𝑇𝑜𝑏𝑠 = 𝑘. 𝑇0 𝑎𝑣𝑒𝑐 𝑘 ∈ ℕ∗
Signaux non périodiques : effets de bord systématiques

Leakage
Transformée de Fourier Discrète TFD
Calcul numérique de spectres
𝑥 𝑡 échantillonné à 𝐹𝑒: 𝑥𝑛
‒ Spectre périodique en 𝐹𝑒
‒ Puisque périodique, étude du spectre sur 0; 𝐹𝑒
𝑥 𝑡 observé sur une durée 𝑇𝑜𝑏𝑠 : 𝑥𝑛 𝑇 , 𝑛 ∈ 0; 𝑁 − 1
‒ Assimilé à un signal de période 𝑇𝑜𝑏𝑠

1
‒ Spectre discrétisé au pas Δ𝑓 = 𝑇
𝑜𝑏𝑠
‒ Valeurs du spectre 𝑋𝑘 𝑇, 𝑘 ∈ 0; 𝑁 − 1
𝐹𝑒
‒ Avec 𝑁 = 𝑇 𝑜𝑏𝑠 = = 𝐹𝑒
représente le nb d’échantillons calculés sur 0; 𝐹𝑒
𝑇𝑒 𝐹 𝑜𝑏𝑠 ∆𝑓

Leakage
Transformée de Fourier Discrète TFD

Leakage
TFD : Exemple 1
𝑋 𝑓 /𝐹𝑒
‒∆𝑓= 𝐹0, 𝐹𝑒 = 7𝐻𝑧 𝑒𝑡 𝑥 𝑡 = cos 2𝜋𝑡 + 𝑐𝑜𝑠 6𝜋𝑡
1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2
‒𝑇𝑜 𝑏 𝑠 = 𝑇0
‒∆𝑓 = 𝐹0 = 1𝐻𝑧
-12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 f
‒𝑁 = 7 -Fe Fe
1/2 1/2 1/2 1/2
𝑋𝑘 𝑇 1 1 1 1
‒ = 0; 2 ; 0; 2 ; 2 ; 0; 2 0 7 8 9 10 11 12 f
𝑁 ∆1𝑓 2 3 4 5 6
Fe
0 1 2 3 4 5 6
k
𝑋 𝑓 /𝐹𝑒
Interpolation 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2
-12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 f

-Fe -Fe/2 Fe/2 Fe

Leakage
TFD : Exemple 2
𝑋 𝑓 /𝐹𝑒
‒∆𝑓= 𝐹0/2, 𝐹𝑒 = 7𝐻𝑧 𝑒𝑡 𝑥 𝑡 = cos 2𝜋𝑡 + 𝑐𝑜𝑠 6𝜋𝑡
1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2
‒𝑇𝑜 𝑏 𝑠 = 2𝑇0
‒∆𝑓 = 𝐹0 /2 = 0,5𝐻𝑧
-12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 f
‒𝑁 = 14 -Fe Fe
1/2 1/2 1/2 1/2
𝑋𝑘 𝑇 1 1 1 1
‒ 𝑁
= 0; 0; 2 ; 0; 0; 0; 2 ; 0; 2 ; 0; 0; 0; 2 ; 0 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 f
Fe
01 2 4 6 8 10 12
k
𝑋 𝑓 /𝐹𝑒
Interpolation 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2
-12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 f

-Fe -Fe/2 Fe/2 Fe

Leakage
TFD : Exemple 3
𝑋 𝑓 /𝐹𝑒
‒∆𝑓= 2𝐹0, 𝐹𝑒 = 7𝐻𝑧 𝑒𝑡 𝑥 𝑡 = cos 2𝜋𝑡 + 𝑐𝑜𝑠 6𝜋𝑡
1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2
‒𝑇𝑜 𝑏 𝑠 = 0,5. 𝑇0
‒∆𝑓 = 2𝐹0 = 2𝐻𝑧
-12 -11 -10 -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 f
‒𝑁 = 4 -Fe Fe
1/2 1/2 1/2 1/2
Disparition de raies !
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
f
Impossible d’après le théorème de Parseval Fe
k
0 1 2 3
 LEAKAGE : répartition des raies sur une infinité de ∆𝑓

Leakage
Leakage : rappel troncature
Troncature
‒ Revient à multiplier le signal par une « fenêtre » rectangulaire
‒ Convolution du spectre par un sinus cardinal
Signal périodique
‒ il faut 𝑇𝑜𝑏𝑠 multiple entier de 𝑇0
‒ TFD : 𝐹0 multiple entier de ∆𝑓= 1/𝑇𝑜𝑏𝑠 (ou ∆𝑓 sous-multiple de 𝐹0)
Signal quelconque
‒ Effet de bord systématique
‒ LEAKAGE : « fuite spectrale » des composantes => risque de masquage fréquentiel
 Trouver une méthode adaptée pour observer les spectres
 FENETRAGE : choisir une autre fonction que rectangulaire pour limiter les effets de bord

Leakage
Leakage : Etude théorique du phénomène
Utiliser un signal de caractéristiques connues

‒ Permet de repérer rapidement les défauts du spectre calculé
‒ Comparaison avec le spectre théorique
Générer ce signal informatiquement
‒ Maîtrise du signal : évite les problèmes de l’acquisition et les bruits électroniques
‒ Permet d’isoler le problème : seul le défaut de leakage affecte les résultats
Signal simple pour faciliter les analyses
‒ Cosinus de fréquence et d’amplitude ajustables
‒ Paramètre fixes pour la TFD

Leakage
Exemple : 𝑥 𝑡 = 𝑐𝑜𝑠 2. 𝜋. 5. 𝑡
‒ 𝐹0 = 5𝐻𝑧 ; 𝐴0 = 1 ; 𝐹𝑒 = 15𝐻𝑧 ; ∆𝑓 = 5𝐻𝑧
‒ 𝐹0 multiple de ∆𝑓⇒ pas de leakage
Spectre de TF théorique Spectre du signal échantillonné
1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2
-5 5 f -15 -5 5 15 f
0 0
-Fe Fe
1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2

Spectre théorique
de TFD
-15 -5 5 15 f
0
-Fe Fe

Leakage
‒ 𝐹0 = 5𝐻𝑧 ; 𝐴0 = 1 ; 𝐹𝑒 = 128𝐻𝑧 ; ∆𝑓 = 1𝐻𝑧
‒ 𝐹0 multiple de ∆𝑓⇒ pas de leakage
Spectre de TFD Quelques valeurs du spectre de TFD
DSP (0) = -333,84 dB DSP(12) = -324.41 dB
DSP( 1) = -329.71 dB DSP(13) = -322.93 dB
DSP( 2) = -326.27 dB DSP(14) = -330.64 dB
DSP( 3) = -320.13 dB DSP(15) = -334.40 dB
DSP( 4) = -320.88 dB DSP(16) = -333.99 dB
DSP( 5) = -006.02 dB DSP(17) = -320.87 dB
DSP( 6) = -318.95 dB DSP(18) = -316.72 dB
DSP( 7) = -320.62 dB DSP(19) = -314.66 dB
DSP( 8) = -325.02 dB DSP(20) = -320.51 dB
DSP( 9) = -330.32 dB DSP(21) = -332.74 dB
DSP(10) = -326.37 dB DSP(22) = -327.68 dB
DSP(11) = -333.98 dB DSP(23) = -328.06 dB

Leakage
‒ 𝐹0 = 5𝐻𝑧 ; 𝐴0 = 1 ; 𝐹𝑒 = 15𝐻𝑧 ; ∆𝑓 = 2𝐻𝑧
‒ 𝐹0 non multiple de ∆𝑓⇒ leakage
1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2
-5 5 f -15 -5 5 15 f
0 0
-Fe Fe
1/2 1/2 1/2 1/2

Spectre théorique 1/4 1/4 1/4 1/4
de TFD
-15 -5 5 15 f
0
-Fe Fe

Leakage
‒ 𝐹0 = 5𝐻𝑧 ; 𝐴0 = 1 ; 𝐹𝑒 = 128𝐻𝑧 ; ∆𝑓 = 2𝐻𝑧
‒ 𝐹0 non multiple de ∆𝑓⇒ leakage
Spectre de TFD Quelques valeurs du spectre de TFD

DSP( 0) = -017.94 dB DSP(12) = -043.79 dB
DSP( 1) = -016.42 dB DSP(13) = -045.06 dB
DSP( 2) = -009.04 dB DSP(14) = -046.20 dB
DSP( 3) = -010.75 dB DSP(15) = -047.22 dB
DSP( 4) = -021.70 dB DSP(16) = -048.15 dB
DSP( 5) = -027.31 dB DSP(17) = -048.98 dB
DSP( 6) = -031.25 dB DSP(18) = -049.74 dB
DSP( 7) = -034.30 dB DSP(19) = -050.42 dB
DSP( 8) = -036.81 dB DSP(20) = -051.04 dB
DSP( 9) = -038.93 dB DSP(21) = -051.59 dB
DSP(10) = -040.76 dB DSP(22) = -052.08 dB
DSP(11) =-042.37 dB DSP(23) = -052.52 dB

Leakage
Leakage : Largeur à 3dB d’un pic de DSP
‒ 𝐹0 = 5𝐻𝑧 ; 𝐴0 = 1 ; 𝐹𝑒 = 15𝐻𝑧 ; ∆𝑓 = 2𝐻𝑧
1. Repérer la raie d’amplitude maximale dans le pic le plus haut

2. Calculer le seuil à -3dB = puissance de cette raie – 3dB
3. Vérifier si les raies adjacentes sont au-dessus ou en-dessous du seuil
 Si raie au-dessus du seuil : on la garde, elle appartient à la composante
 Si raie au-dessous du seuil : on ne la garde pas, elle n’appartient pas à la composante
 N’appartient pas à la composante = n’est pas nécessaire, ne comporte pas d’information

importante

Leakage
Exemple : 𝑥 𝑡 = 𝑐𝑜𝑠 2. 𝜋. 5. 𝑡 Raie maximale du pic

Echantillon à conserver
‒ 𝐹0 = 5𝐻𝑧 ; 𝐴0 = 1 ; 𝐹𝑒 = 128𝐻𝑧 ; ∆𝑓 = 2𝐻𝑧 Echantillon « inutile » arrêt de la recherche
Quelques valeurs du spectre de TFD

Spectre de TFD DSP( 0) = -017.94 dB DSP(12) = -043.79 dB
DSP( 1) = -016.42 dB DSP(13) = -045.06 dB
7,38 dB
DSP( 2) = -009.04 dB DSP(14) = -046.20 dB
1,71 dB
DSP( 3) = -010.75 dB DSP(15) = -047.22 dB
DSP( 4) = -021.70 dB DSP(16) = -048.15 dB 10,95 dB
DSP( 5) = -027.31 dB DSP(17) = -048.98 dB
DSP( 6) = -031.25 dB DSP(18) = -049.74 dB
DSP( 7) = -034.30 dB DSP(19) = -050.42 dB
DSP( 8) = -036.81 dB DSP(20) = -051.04 dB
DSP( 9) = -038.93 dB DSP(21) = -051.59 dB
DSP(10) = -040.76 dB DSP(22) = -052.08 dB
DSP(11) =-042.37 dB DSP(23) = -052.52 dB
𝐿3𝑑𝐵 = 2. ∆𝑓 = 4𝐻𝑧

Leakage

‒ 𝐹0 = 5𝐻𝑧 ; 𝐴0 = 1 ; 𝐹𝑒 = 128𝐻𝑧 ; ∆𝑓 = 2𝐻𝑧 Echantillon « inutile » arrêt de la recherche

DSP( 0) = -017.94 dB DSP(12) = -043.79 dB
Déductions : DSP( 1) = -016.42 dB DSP(13) = -045.06 dB
7,38 dB
Les 2 raies conservées ont presque la même amplitude DSP( 2) = -009.04 dB DSP(14) = -046.20 dB
1,71 dB
 Fréquence d’origine entre DSP(2) et DSP(3) donc 5Hz DSP( 3) = -010.75 dB DSP(15) = -047.22 dB
Les 2 raies sont porteuses d’informations significatives DSP( 4) = -021.70 dB DSP(16) = -048.15 dB 10,95 dB
DSP( 5) = -027.31 dB DSP(17) = -048.98 dB
 Amplitude d’origine = somme des 2 amplitudes
DSP( 6) = -031.25 dB DSP(18) = -049.74 dB
DSP( 7) = -034.30 dB DSP(19) = -050.42 dB
DSP( 8) = -036.81 dB DSP(20) = -051.04 dB
DSP( 9) = -038.93 dB DSP(21) = -051.59 dB
DSP(10) = -040.76 dB DSP(22) = -052.08 dB
DSP(11) =-042.37 dB DSP(23) = -052.52 dB
𝐿3𝑑𝐵 = 2. ∆𝑓 = 4𝐻𝑧

Leakage
‒ 𝐹0 = 5𝐻𝑧 ; 𝐴0 = 1 ; 𝐹𝑒 = 15𝐻𝑧 ; ∆𝑓 = 3𝐻𝑧
1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2 1/2
-5 5 f -15 -5 5 15 f
0 0
-Fe Fe
Spectre théorique 2/6 2/6

de TFD 1/6 1/6 Amplitudes résultantes = inverse
de la distance entre les
-15 -5 5 15 f composantes et ∆𝑓
0
-Fe Fe

Leakage
Raie maximale du pic

Exemple : 𝑥 𝑡 = 𝑐𝑜𝑠 2. 𝜋. 5. 𝑡 Echantillon à conserver
Echantillon « inutile » arrêt de la recherche
‒ 𝐹0 = 5𝐻𝑧 ; 𝐴0 = 1 ; 𝐹𝑒 = 15𝐻𝑧 ; ∆𝑓 = 3𝐻𝑧
DSP( 0) = -014.98 dB
Spectre de TFD 8,95 dB
DSP( 1) = -006.03 dB
12,66 dB
DSP( 2) = -018.69 dB
DSP( 3) = -028.23 dB
DSP( 4) = -033.80 dB
DSP( 5) = -037.75 dB
DSP( 6) = -040.78 dB
DSP( 7) = -043.19 dB
DSP( 8) = -045.14 dB
DSP( 9) = -046.73 dB
DSP(10) = -048.03 dB
DSP(11) = -049.07 dB
𝐿3𝑑𝐵 = 1. ∆𝑓 = 3𝐻𝑧

Leakage

‒ 𝐹0 = 5𝐻𝑧 ; 𝐴0 = 1 ; 𝐹𝑒 = 15𝐻𝑧 ; ∆𝑓= 3𝐻𝑧 Echantillon « inutile » arrêt de la recherche
DSP( 0) = -014.98 dB
8,95 dB
Déductions : DSP( 1) = -006.03 dB
12,66 dB
Une seule raie conservée, donc porteuse d’un maximum DSP( 2) = -018.69 dB
d’informations DSP( 3) = -028.23 dB
Fréquence originelle proche de DSP(1) = 3Hz DSP( 4) = -033.80 dB
Amplitude originelle proche de DSP(1) = -6,03 dB DSP( 5) = -037.75 dB
DSP( 6) = -040.78 dB
DSP( 7) = -043.19 dB
DSP( 8) = -045.14 dB
DSP( 9) = -046.73 dB
DSP(10) = -048.03 dB
DSP(11) = -049.07 dB
𝐿3𝑑𝐵 = 1. ∆𝑓 = 3𝐻𝑧

Leakage
Leakage : Cas de composantes multiples
𝑥 𝑡 = 𝑐𝑜𝑠 2. 𝜋. 5,5. 𝑡 + 𝑐𝑜𝑠 2. 𝜋. 6. 𝑡 ; ∆𝑓= 1𝐻𝑧 𝑥 𝑡 = 𝑐𝑜𝑠 2. 𝜋. 5,5. 𝑡 + 𝑐𝑜𝑠 2. 𝜋. 8. 𝑡 ; ∆𝑓= 1𝐻𝑧
On ne voit qu’une seule composante fréquentielle On voit les 2 composantes fréquentielles

Leakage
Leakage : Cas de composantes multiples
Pour reconstituer un signal si plusieurs pics :
1. Compter les pics qui se détachent du lot
2. Vérifier s’il y a séparation ou non des composantes

‒ Utilisation du seuil de séparation à 3dB
3. Identifier les composantes

‒ Estimer la fréquence
‒ Estimer l’amplitude

Leakage
Leakage : Cas de composantes multiples - séparation
Cas n°1 : deux composantes « séparables » à 3dB
1. Chercher le max le plus petit Max 1

2. Calculer le seuil à 3dB = Max2 – 3dB Max 2
-3dB
3. Comparer les valeurs des
échantillons et le seuil
4. Si séparation :
 Deux composantes f
Au moins 1 échantillon au-dessous
fréquentielles du seuil à 3dB
Il y a séparation des composantes

Leakage
Cas n°2 : deux composantes « non séparables » à 3dB
Max 1
1. Chercher le max le plus petit -3dB Max 2
2. Calculer le seuil à 3dB = Max2 – 3dB -3dB
3. Comparer les valeurs des

échantillons et le seuil
4. Si pas de séparation :
f
 Une seule composante Aucun échantillon au-dessous
du seuil à 3dB
fréquentielle Il n’y a pas séparation des composantes

Leakage
Cas n°3 : plusieurs composantes

Max 4
Max 3 Max 5
Max 2
-3dB -3dB -3dB
Max 1
-3dB
f
Pas de Séparation Séparation Pas de
séparation séparation
Présence de 5 pics, mais seulement 3 composantes fréquentielles (2, 3 et 4)

Leakage
Leakage : Séparation - théorie
Utiliser un signal de caractéristiques connues à deux composantes au moins

‒ Permet de vérifier si les deux composantes apparaissent ou non dans le spectre de
TFD
‒ Permet de quantifier les altérations d’amplitude et de fréquence
Faire varier les fréquences et amplitudes relatives à paramètre de TFD

constants
‒ Permet d’étudier et de quantifier l’impact du défaut en fonction de la dynamique et
de la finesse du signal d’analyse

Leakage
Leakage : Séparation - théorie
En déduire les limites de fonctionnement de la TFD :

Résolution en fréquence : 𝑅𝐹
meilleure performances possibles dB
‒ Résolution en fréquence : finesses analysables (plus

petites distances en fréquence entre deux composantes
permettant la séparation) f
Finesse (𝛿𝑓) analysable ?
‒ Résolution en amplitude : dynamiques analysables (plus

grandes différences en amplitude entre deux Résolution en amplitude : 𝑅𝐴
composantes permettant la séparation) dB
Dynamique (𝛿𝑎)
analysable ?
‒ ATTENTION : pas de solution unique, compromis choisi
en fonction du signal à analyser
f

Leakage
Leakage : Séparation et finesse
𝑥 𝑡 = 𝑐𝑜𝑠 2. 𝜋. 5,5. 𝑡 + 𝑐𝑜𝑠 2. 𝜋. 7. 𝑡 ; ∆𝑓= 1𝐻𝑧 Spectre signal analogique : deux raies rouges
(normalement on en les voit pas)
On voit deux pics.

Raie saillante 1 : DSP(5) = -9.54dB
Y a-t-il séparation des pics ?

Seuil = DSP(5)-3 = -12.54dB
DSP(6) = -10.33dB > seuil
DSP(6) n’est donc pas un échantillon séparateur
Pas de séparation des pics
 Une seule composante fréquentielle

Leakage
Leakage : Séparation et finesse
Spectre signal analogique : deux raies rouges

(normalement on en les voit pas)
𝑥 𝑡 = 𝑐𝑜𝑠 2. 𝜋. 5,5. 𝑡 + 𝑐𝑜𝑠 2. 𝜋. 8. 𝑡 ; ∆𝑓= 1𝐻𝑧
On voit deux pics.
Seuil = DSP(5)-3 = -12.54dB
DSP(7) = -20.59dB < seuil
DSP(7) est un échantillon séparateur
Séparation des pics
 Deux composantes fréquentielles
Résolution fréquentielle de la fenêtre :
𝑅𝑓 = 𝐹𝑚𝑎𝑥 − 𝐹𝑚𝑖𝑛 = 8 − 5,5 = 2,5𝐻𝑧

Leakage
Leakage : Résolution en fréquence
Déterminée à partir d’un signal test connu à deux composantes

Pour un rapport d’amplitude 𝛿𝑎 donné (dynamique du signal test)
2
𝐴𝑚 𝐴𝑚 𝑎 𝑥
𝑎𝑥
𝛿𝑎 = 10. 𝐿𝑜𝑔10 2 = 20. 𝐿𝑜𝑔10
𝐴𝑚 𝑖𝑛 𝐴 𝑚𝑖𝑛
𝑃𝑚𝑎𝑥
𝛿𝑎 = 10. 𝐿𝑜𝑔10 = 𝑃 𝑑𝐵 − 𝑃 𝑑𝐵
𝑃𝑚𝑖𝑛 𝑚𝑎𝑥 𝑚𝑖𝑛
Finesse 𝛿𝑓 minimale possible entre deux composantes séparables

Meilleure performance attendue pour les signaux à étudier par la suite :
limite de finesse

Leakage
Leakage : Séparation et dynamique

𝑥 𝑡 = 𝑐𝑜𝑠 2. 𝜋. 5,5. 𝑡 + 0,5. 𝑐𝑜𝑠 2. 𝜋. 8. 𝑡 ; ∆𝑓= 1𝐻𝑧
On voit deux pics.

Seuil = DSP(8)-3 = -16.72dB
DSP(7) = -22.96dB < seuil
DSP(7) est un échantillon séparateur
Séparation des pics
 Deux composantes fréquentielles
Résolution en amplitude :
𝑅𝐴 = −20𝑙𝑜𝑔10 0.5/1 = 6𝑑𝐵

Leakage

On voit deux pics.


Seuil = DSP(8)-3 = -22.83dB
DSP(7) = -20.59dB > seuil
DSP(7) n’est pas un échantillon séparateur
Pas de séparation des pics
 Une seule composante fréquentielle

Leakage
Un seul pic
Deuxième composante noyée dans le leakage
de la première

Leakage
Leakage : Résolution en amplitude
• Déterminée à partir d’un signal test connu à deux

composantes pour une finesse 𝛿𝑓 donnée (finesse du signal
test)
• Dynamique 𝛿𝑎 maximale possible entre deux composantes

séparables
• Meilleure performance attendue pour les signaux à étudier par la

suite : limite de dynamique

Leakage
Leakage : Performances de la TFD
Résolution en amplitude de la TFD (𝑅𝐴 en dB)

‒ Définie en fonction de la dynamique 𝛿𝑎 des signaux à étudier
Résolution en fréquence de la TFD (𝑅𝐹 en nombre de pas de calcul ∆𝑓)

‒ Définie en fonction de la finesse 𝛿𝑓 des signaux à étudier
‒ Au mieux : égale à ∆𝑓
Problème : une bonne résolution en amplitude (𝑅𝐴 élevée) induit une

mauvaise résolution en fréquence (𝑅𝐹 élevée)
Trouver un compromis
Améliorer les performances de la TFD
Augmenter 𝑇𝑜𝑏𝑠 donc diminuer ∆𝑓
Utiliser une étape préliminaire : le fenêtrage

Leakage
Fenêtrage
Pondérer / limiter l’influence de l’effet de bord

‒ Troncature par une fonction autre que la fenêtre rectangulaire
‒ Exemple de la fenêtre triangulaire (ou de Bartlett)
t t
t t
Effets de bord Effets de bord

Leakage
Fenêtrage
Allures temporelles Allures fréquentielles
139
wikipedia.org

Leakage
Fenêtrage : caractéristiques
𝐹𝑐𝑜𝑢𝑝𝑢𝑟𝑒
Résolution en fréquence : 𝑅𝐹 = /∆𝑓
𝑹𝑨 𝒆𝒏 𝒅𝑩 𝑹𝑭 𝒆𝒏 𝒏𝒃 𝒅𝒆 ∆𝒇
Rectangle 13 0,89
Résolution en amplitude : Bartlett 27 1,28
Kaiser 38 1,3
Hamming 43 1,3
𝐷𝑆𝑃𝑚𝑎𝑥 𝑙𝑜𝑏𝑒 𝑝𝑟𝑖𝑛𝑐𝑖𝑝𝑎𝑙 Blackman 58 1,68
𝑅𝐴 =
𝐷𝑆𝑃𝑚𝑎𝑥 𝑙𝑜𝑏𝑒 𝑠𝑒𝑐𝑜𝑛𝑑𝑎𝑖𝑟𝑒

Leakage
Fenêtrage : caractéristiques et exemples
𝐹𝑒 = 258𝐻𝑧 et ∆𝑓 = 0,5Hz
𝐹1 = 9,25𝐻𝑧 𝑒𝑡 𝐴1 = 1
𝐹2 = 11,5𝐻𝑧 𝑒𝑡 𝐴2 = 0,03
𝐴𝑚𝑎𝑥
Dynamique : 𝛿𝑎 = 20. 𝐿𝑜𝑔10 ≈ 30𝑑𝐵
𝐴𝑚𝑖𝑛
Finesse : 𝛿𝑓 = 11,5 − 9,25 = 2,25𝐻𝑧
Théoriquement :
‒ Fenêtres Rectangle et Bartlett : pas de séparation car 𝑅𝐴 < 𝛿𝑎
‒ Fenêtres Kaiser, Hamming et Blackman : séparation car 𝑅𝐴 > 𝛿𝑎 𝑒𝑡 𝑅𝑓 < 𝛿𝑓

Leakage
Signal : 𝛿𝑎 = 30𝑑𝐵 𝑒𝑡 𝛿𝑓 = 2,25𝐻𝑧 Raies d’amplitudes max

Fenêtre Rectangle : 𝑅𝐴 = 13𝑑𝐵 𝑒𝑡 𝑅𝐹 = 0,89∆𝑓 Echantillon séparateur
Echantillon non séparateur
DSP(13) = -029,39 dB
DSP(14) = -027,92 dB
DSP(15) = -025,99 dB
DSP(16) = -023,32 dB
DSP(17) = -019,13 dB
DSP(18) = -009,83 dB
DSP(19) = -010,06 dB
DSP(20) = -019,82 dB
DSP(21) = -024,48 dB
DSP(22) = -027,61 dB
≠ 0,98 dB
DSP(23) = -026,63 dB
DSP(24) = -031,95 dB
DSP(25) = -033,60 dB
Visuellement : 2 pics
Mais pas de séparation

Leakage
Signal : 𝛿𝑎 = 30𝑑𝐵 𝑒𝑡 𝛿𝑓 = 2,25𝐻𝑧 Raies d’amplitude max

Fenêtre de Bartlett : 𝑅𝐴 = 27𝑑𝐵 𝑒𝑡 𝑅𝐹 = 1,28∆𝑓 Echantillon séparateur
DSP(13) = -054,93 dB
DSP(14) = -051,99 dB
DSP(15) = -047,36 dB
DSP(16) = -041,84 dB
DSP(17) = -032,84 dB
DSP(18) = -013,87 dB
DSP(19) = -013,87 dB
DSP(20) = -032,72 dB
DSP(21) = -041,90 dB
DSP(22) = -042,73 dB
≠ 2,69 dB
DSP(23) = -040,04 dB
DSP(24) = -046,37 dB
DSP(25) = -058,52 dB
Mais pas de séparation

Leakage

Fenêtre de Kaiser : 𝑅𝐴 = 38𝑑𝐵 𝑒𝑡 𝑅𝐹 = 1,3∆𝑓 Echantillon séparateur
DSP(13) = -063,68 dB
DSP(14) = -060,73 dB
DSP(15) = -057,15 dB
DSP(16) = -052,83 dB
DSP(17) = -050,74 dB
DSP(18) = -018,75 dB
DSP(19) = -011,31 dB
DSP(20) = -018,74 dB
DSP(21) = -050,55 dB
DSP(22) = -044,84 dB ≠ 7,18 dB
DSP(23) = -043,37 dB
DSP(24) = -047,20 dB
DSP(25) = -062,81 dB
Confirmés par les valeurs

Leakage

Fenêtre de Hamming : 𝑅𝐴 = 43𝑑𝐵 𝑒𝑡 𝑅𝐹 = 1,3∆𝑓 Echantillon séparateur
DSP(13) = -052,94 dB
DSP(14) = -052,52 dB
DSP(15) = -053,38 dB
DSP(16) = -075,34 dB
DSP(17) = -030,32 dB
DSP(18) = -013,12 dB
DSP(19) = -013,15 dB
DSP(20) = -030,13 dB
DSP(21) = -061,67 dB
DSP(22) = -054,03 dB
≠ 13,83 dB
DSP(23) = -040,20 dB
DSP(24) = -054,48 dB
DSP(25) = -057,05 dB

Leakage

Fenêtre de Blackman : 𝑅𝐴 = 58𝑑𝐵 𝑒𝑡 𝑅𝐹 = 1,68∆𝑓 Echantillon séparateur
DSP(13) = -076,88 dB
DSP(14) = -073,02 dB
DSP(15) = -071,82 dB
DSP(16) = -050,28 dB
DSP(17) = -024,15 dB
DSP(18) = -014,67 dB
DSP(19) = -014,67 dB
DSP(20) = -024,15 dB
DSP(21) = -048,71 dB
DSP(22) = -047,95 dB
≠ 3,61 dB
DSP(23) = -044,34 dB
DSP(24) = -048,20 dB
DSP(25) = -065,79 dB

Leakage
Signal : 𝛿𝑎 = 30𝑑𝐵 𝑒𝑡 𝛿𝑓 = 2,25𝐻𝑧

Ecart avec échantillon
𝑹𝑨 𝒆𝒏 𝒅𝑩 𝑹𝑭 𝒆𝒏 𝒏𝒃 Analyse
𝒅𝒆 ∆𝒇 séparateur en dB
Rectangle 13 0,89 0,98 Pas de séparation car 𝑅𝐴 𝑅𝑒𝑐𝑡𝑎𝑛𝑔𝑙𝑒 < 𝛿𝑎
Bartlett 27 1,28 2,69 Pas de séparation car 𝑅𝐴 𝐵𝑎𝑟𝑡𝑙𝑒𝑡𝑡 < 𝛿𝑎
Mais écart plus grand car 𝑅𝐴 𝐵𝑎𝑟𝑡𝑙𝑒𝑡𝑡 > 𝑅𝐴 𝑅𝑒𝑐𝑡𝑎𝑛𝑔𝑙𝑒
Kaiser 38 1,3 7,18 Séparation car 𝑅𝐴 𝐾𝑎𝑖𝑠𝑒𝑟 > 𝛿𝑎
Hamming 43 1,3 13,83 Séparation car 𝑅𝐴 𝐻𝑎𝑚𝑚𝑖𝑛𝑔 > 𝛿𝑎
Et écart plus grand car 𝑅𝐴 𝐻𝑎𝑚𝑚𝑖𝑛𝑔 > 𝑅𝐴 𝐾𝑎𝑖𝑠𝑒𝑟
Blackman 58 1,68 3,61 Séparation car 𝑅𝐴 𝐵𝑙𝑎𝑐𝑘𝑚𝑎𝑛 > 𝛿𝑎
Mais écart plus petit alors que 𝑅𝐴 𝐵𝑙𝑎𝑐𝑘𝑚𝑎𝑛 > 𝑅𝐴 𝐻𝑎𝑚𝑚𝑖𝑛𝑔
Car 𝑅𝐹 𝐵𝑙𝑎𝑐𝑘𝑚𝑎𝑛 > 𝑅𝐹 𝐻𝑎𝑚𝑚𝑖𝑛𝑔

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UNITE : UED522

Capteurs et acquisition de données

L3 SPI FI - TC UED522 : Capteurs et acquisition de données E. Connessons / N. Neji 1

Enseignement en deux grandes parties :

• Instrumentation : métrologie, chaine d’acquisition des mesures et capteurs

L3 SPI FI - TC UED522 : Capteurs et acquisition de données E. Connessons / N. Neji 2

• Utiliser à bon escient le vocabulaire de métrologie et traitement du signal

• Etre capable de choisir un instrument de mesure à partir des besoins de

• Etre capable de dimensionner une chaîne de mesure

• Etre capable d’exploiter un signal de mesure

L3 SPI FI - TC UED522 : Capteurs et acquisition de données E. Connessons / N. Neji 3

L3 SPI FI - TC UED522 : Capteurs et acquisition de données E. Connessons / N. Neji 4

4. Instruments de mesure - capteurs

L3 SPI FI - TC UED522 : Capteurs et acquisition de données E. Connessons / N. Neji 5

Qu’est ce que l’instrumentation ?

L’instrumentation regroupe les outils permettant de faire au moins une

‒ Mesure d’une grandeur physique

L’instrumentation intervient à deux niveaux :

L3 SPI FI - TC UED522 : Capteurs et acquisition de données E. Connessons / N. Neji 6

Qu’est ce que l’instrumentation ?

L’instrumentation intervient dans tous les domaines :

‒ Recherche : extrêmes précision et fiabilité

=> De très nombreux produits différents !

Ce qu’il faut ABSOLUMENT retenir :

UNE MESURE EST TOUJOURS FAUSSE

4. Instruments de mesure - capteurs

L3 SPI FI - TC UED522 : Capteurs et acquisition de données E. Connessons / N. Neji 8

Mesurande : grandeur physique à mesurer, entrée de l’instrument de mesures

Mesurage : action de faire une mesure

Principe de mesure : phénomène servant de base à un mesurage

L3 SPI FI - TC UED522 : Capteurs et acquisition de données E. Connessons / N. Neji 9

Ecart (noté  : différence entre la valeur théorique et la valeur pratique,

L3 SPI FI - TC UED522 : Capteurs et acquisition de données E. Connessons / N. Neji 10

Détermination de la nature de la grandeur à mesurer :

Détermination de l’évolution de la grandeur :

Etendue des valeurs prises par la grandeur :

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L3 SPI FI - TC UED522 : Capteurs et acquisition de données E. Connessons / N. Neji 12

Domaine nominal d’utilisation = étendue de mesure = portée

Domaines de non-détérioration = surcharges admissibles

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Equation qui modélise le phénomène de conversion du mesurande en mesure

Exemple du dynamomètre : coefficient de raideur

Cas linéaire Cas non linéaire

entrée entrée entrée

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Meilleur choix possible : linéaire avec sensibilité la plus élevée possible

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Possibilité de la retrouver avec des méthodes d’identification

N : nombre de mesures prises en compte

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Exemple : pèse personne

Attention à ne pas confondre résolution et précision

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L3 SPI FI - TC UED522 : Capteurs et acquisition de données E. Connessons / N. Neji 19

Possibilité de vérifier la modélisation de la fonction de transfert (sensibilité ou

b est faux mesurande

L3 SPI FI - TC UED522 : Capteurs et acquisition de données E. Connessons / N. Neji 20

parcours croissant et décroissant de hystérésis

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L3 SPI FI - TC UED522 : Capteurs et acquisition de données E. Connessons / N. Neji 22

Ecart de justesse : Systématique

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