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References [1] G.H. Jonker, J.H. Van Santen Physica, 16 (3) (1950), pp. 337349. [2] G.H. Jonker Physica, 22 ((612) (1956), pp. 707722 [3] E.O. Wollan, W.C. Koehler Phys. Rev., 100 (1955), p. 545. [4] L. Li, X.M. Chen, Materials Science and Engineering: B, 108, (2004) p.200. [5] C.D. Yin, M. Okuno, H. Morikawa, F. Marumo, T. Yamanaka, Journal of Non-Crystalline Solids, 80, ( 1986) 167-174. [6] Li Zhang, Yue Meng, Wendy L. Mao, Earth and Planetary Science Letters, 317 (2012) 120.
Rapport de Mini projet 2011-2012 Chapitre 1 Gnralits sur les matriaux provskites I. Introduction:
Page | 6 Les provskites forment une des principales familles d'oxydes cristallins. Leur nom provient du minral CaTiO3 qui prsente une structure cristalline analogue. Ce minral fut dcrit pour la premire fois en 1830 par le gologue Gustav Rose qui l'a nomm en l'honneur de LEV ALEKSEVICH VON PEROVSKI. La maille typique d'une provskite a une symtrie cubique, mais un nombre important d'exceptions sont connues, celles-ci prsentent des structures voisines plus ou moins distordues. La composition chimique d'un oxyde structure provskite est le plus souvent constitu d'un cation alcalino-terreux (A), un cation de transition ttravalent (B) et des anions oxyde. Cette description (AIIBIVO3) correspond la composition de rfrence CaTiO3 dont la structure est orthorhombique. Cependant, des compositions AIIIBIIIO3 et AIBVO3 sont galement connues depuis longtemps.
II.
La provskite idale ABO3 est dcrite dans le groupe d'espace Pm-3m. C'est une structure tridimensionnelle dans laquelle le plus petit cation B, se trouve dans un environnement octadrique, les octadres tant relis entre eux par les sommets, le cation A, se trouvant au centre de polydres de 12 oxygnes, relis entre eux par des faces carres. En fonction du choix de l'origine, il y a deux faons de dcrire la structure. Dans la premire A se trouve l'origine, dans la position 1a (0, 0, 0), B se trouve au centre du cube, dans la position 1b (1/2, 1/2, 1/2), et les oxygnes se trouvent au milieu de chaque face, dans la position 3d (0, 1/2,1/2) , Dans la deuxime faon, l'origine est dplace d'un vecteur (1/2, 1/2, 1/2), ce qui amne A occuper la position 1b (1/2, 1/2, 1/2), B la position 1a (0, 0, 0), les oxygnes se trouvant au milieu de chaque arrte, dans la position 3c (1/2, 0, 0) . Le rseau provskite est un ensemble trs compact qui ne permet pas la formation des compositions interstitielles. En revanche, de nombreuses substitutions sont possibles sur les sites A ou B ou sur les anions oxygnes. Chaque composition ainsi obtenue peut prsenter une structure provskite distordue, en fonction de la taille des ions occupant les sites A, B et O. On peut distinguer deux types de provskites suivant l'occupation des sites A et B : Les provskites simples dont les sites A ou B sont occups par un seul type d'atome : BaTiO3, KNbO3, NaTaO3, PbTiO3.... Les provskites complexes dont l'un des deux sites A ou B est occup par deux types d'atomes : PbMg1/3Nb2/3O3, PbSc1/2Ta1/2O3, Na1/2Bi1/2TiO3,...
Arrangement des octadres dans la maille idale provskite (ABO3) Etude des proprits (structurale, magntique dilectrique et optique) de LaMnO3
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Maille lmentaire de la provskite Simple cubique ABO3 (origine en A). Simple cubique ABO3 (origine en B).
III.
La stabilit de la structure provskite dpend essentiellement de facteur de tolrance t : Goldschmidt a dfini un critre dimensionnel, appel facteur de tolrance qui tient compte de la taille des ions pour caractriser les diffrentes structures drives de la structure de ABO3. D'aprs ce critre, la structure cubique est observe pour t trs proche de 1, les limites de stabilit de la phase provskite (plus ou moins distordue) tant dfinies par t compris entre 0.75 et 1.06 . En fonction de la valeur du facteur de tolrance, on peut distinguer plusieurs situations, schmatises dans le tableau suivant :
t>1.06 hexagonal
Remarque :
A) La structure idale est rarement rencontre. Le plus souvent, on trouve des formes distordues, dans lesquelles la symtrie est abaisse par la rotation des octadres BO6. b) L'Ionicit des liaisons anions-cations : Le caractre ionique d'une composition ABO3 est quantifi d'aprs l'chelle de Pauling partir de la diffrence d'lectrongativit :
IV.
La structure idale est rarement rencontre. Le plus souvent, on trouve des formes distordues, dans lesquelles la symtrie est abaisse par la rotation des octadres BO6, leurs mailles prsentent alors de lgres dformations de type quadratique, rhombodrique ou orthorhombique des une trs faible modification des paramtres de la maille cubique. Ces distorsions correspondent une dformation des octadres d'oxygne avec dcentrage de l'ion B qui se produit suivant certaines directions privilgies par les lments de symtrie du nouveau systme cristallin. Ces directions sont les suivantes les 3 axes d'ordre 4 (A4) dans la phase quadratique. les 6 axes d'ordre 2 (A2) dans la phase orthorhombique. les 4 axes d'ordre 3 (A3) dans la phase rhombodrique.
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Directions de dformations dues au dplacement de l'ion B dans l'octadre. Ces dplacements des ions B sont dus essentiellement un problme de liaisons B-O dans l'octadre des oxygnes. Par exemple, en prenant le mme ion A soit le Baryum on obtient BaTiO3 quadratique et ferrolectrique parce que l'ion Ti4+ est assez petit, ce qui lui permet de se dcentrer dans l'octadre, tandis que BaSnO3 est cubique et para-lectrique parce que l'ion Sn4+ plus gros est cal au centre de l'octadre, il peut cependant y avoir des pivotements d'octadres avec des symtries non cubiques et para-lectriques (CaTiO3, CaSnO3).
V.
Diffraction :
La diffractomtrie de rayons X (DRX ou l'abrviation anglo-saxonne XRD pour X-ray diffraction) est une technique d'analyse base sur la diffraction des rayons X sur la matire. La diffraction n'ayant lieu que sur la matire cristalline, on parle aussi de radiocristallographie. Pour les matriaux non cristallins, on parle de diffusion. Les techniques de diffractions des rayons X ont pris leur essor partir de 1912, date laquelle MAX VON Laue et ses collaborateurs FRIEDRICH ET KNIPPING MUNICH russirent obtenir le premier diagramme de diffraction des rayons X par un cristal, confirmation directe de la structure priodique des milieux cristalliss. L'appareil de mesure s'appelle un diffractomtre. Les donnes collectes forment le diagramme de diffraction ou diffracto-gramme.
1. PRODUCTION RAYON X :
Les sources les plus courantes pour produire les rayons X sont les tubes rayons X dans lesquels le rayonnement est produit sous l'effet du bombardement d'une cible mtallique par des lectrons.
a) Dimension du foyer:
En raison de la forte absorption des lectrons, les rayons X proviennent d'une couche superficielle trs mince de l'anticathode. La zone source est appele foyer. Pour de nombreuses applications, il est souhaitable que la source des rayons X prsentant un faible diamtre apparent. Pour atteindre ce rsultat, on utilise une lectrode de focalisation, appele souvent wehnelt. La surface mtallique de cette lectrode est une quipotentielle, dont la forme est tudie pour focaliser les lectrons sur la surface de l'anticathode. On focalise gnralement suivant un foyer linaire et on travail avec un faible angle de sortie de rayons X (environ 6). Par un effet de perspective, on obtient ainsi dans une direction un foyer linaire et dans la direction perpendiculaire un foyer ponctuel.
b) Choix de l'anticathode :
Pour viter la fusion de l'anticathode sous le bombardement lectronique, il faut un lment bon conducteur de la chaleur et suffisamment rfractaire, ce qui limite pratiquement le choix aux mtaux. Pour avoir un spectre simple, on utilise un lment pur sous forme d'une pastille rapporte sur le corps de l'anticathode en cuivre. Le spectre des rayons X mis par bombardement lectronique est form par la superposition de deux types d'mission ; un fond continuait un spectre de raies caractristiques suivant les applications, on a besoin d'un rayonnement poly-chromatique ou monochromatique.
3. RAYONNEMENT MONOCHROMATIQUE :
Pour la diffraction X, on s'intresse principalement aux raies K de la cible, pas au rayonnement de fond. En effet, la direction de diffraction dpendant de la longueur d'onde (selon la loi de Bragg), on cherche avoir la plupart du temps une radiation monochromatique ( l'exception des clichs de Laue). En fait, on limine en gnral la raie K mais on conserve les raies K1 et K2, ainsi que le rayonnement continu de freinage qui contribuera au bruit de fond. Dans certains cas o le rapport signal sur bruit est capital, on utilise un monochromateur, au prix d'une perte importante d'intensit, on a alors une radiation rellement monochromatique ; on peut aussi utiliser un dtecteur solide (diode de silicium dop au lithium ou diode de silicium diffusion) ayant une trs bonne discrimination en nergie (principe de l'analyse dispersive en nergie), ce qui permet de travailler en monochromatique tout en ayant un signal intense. On utilise typiquement des hautes tensions de 50 kV, et des cibles de cuivre en gnral, parfois de molybdne, cobalt ou de manganse. En effet, la longueur d'onde des raies K1 du cuivre (de l'ordre de 1,6 ) permet d'observer le phnomne de diffraction pour une grande plage de distances inter-rticulaires (d allant de 0,9 9,2 sur une plage angulaire 2 de 10 120 (Loi de Bragg). Par Etude des proprits (structurale, magntique dilectrique et optique) de LaMnO3
Effet photolectrique.
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= ,
Le coefficient de proportionnalit m(E, M), appel coefficient d'attnuation linaire, dpend de l'nergie E des photons incidents et du milieu M. Il a la dimension de l'inverse d'une longueur. L'intgration de cette relation donne la loi d'attnuation d'un faisceau parallle mono-nergtique de rayonnement lectromagntique en fonction de l'paisseur x:
() = [ , ]
I(x) est l'intensit du faisceau aprs avoir travers une paisseur x de matire et I0 l'intensit du faisceau incident [I0 = I(x = 0)]. L'intensit d'un rayonnement lectromagntique dcrot exponentiellement en fonction de l'paisseur de matire traverse. Le coefficient d'attnuation varie fortement en fonction de la matire et de l'nergie des photons. De manire gnrale, il crot en fonction du numro atomique du milieu et dcrot en fonction de l'nergie du rayonnement. La pntration du rayonnement travers la matire est souvent caractrise par l'paisseur de demi-attnuation, paisseur de matire telle que l'intensit du faisceau incident est rduite de moiti.
Ainsi, on voit sur la figure qu'il y aura interfrence constructive dans la direction donne par l'angle si la diffrence entre les parcours des rayons 1 et 2 est gale un nombre entier n de la longueur donde . Il ressort de la figure que = 2dsin, d'o la loi de Bragg: = Connaissant , il est possible de dterminer d par la mesure de l'angle . La famille de plans atomiques spars par la distance d diffracte le faisceau dans la direction si cet angle satisfait la loi de Bragg.
a. Condition de diffraction:
Les conditions de diffractions sont diffrentes suivant le mode d'empilement. On peut montrer que pour une : Maille P : tous les plans diffractent. Maille I : seul les plans tels que (h+k+l) paire diffractent. Maille F : seul les plans tels que h, k, l soient de mme parit diffractent.
b. Intensit diffract :
Facteur de diffusion:
Le facteur de diffusion f d'un atome mesure sa capacit diffuser les rayons X. Si ce facteur est grand, cet atome contribue beaucoup la diffusion des rayons X qui provoque la figure de diffraction. Le facteur de diffusion est reli la densit lectronique I et l'angle de diffusion par:
Facteur de structure:
a. Principe de la mthode :
Une poudre forme d'une phase cristalline donne, va toujours donner lieu des pics de diffraction dans les mmes directions, avec des hauteurs relatives peu prs constantes. Ce diagramme de diffraction forme ainsi une vritable signature de la phase cristalline. Il est donc possible de dterminer la nature de chaque phase cristalline au sein d'un mlange (mlange de poudre ou chantillon massif poly-phasique), condition d'avoir auparavant dtermin la signature de chaque phase. La dtermination de cette signature peut se faire soit de manire exprimentale (mesure d'un produit pur dans des conditions idales), soit par simulation numrique partir de la structure cristallographique connue ; structure ayant elle-mme pu tre dtermine par diffraction X. Cette signature est consigne dans une fiche sous la forme d'une liste de pics; la position en 2 est convertie en distance inter-rticulaire d par la loi de Bragg, afin d'avoir une valeur indpendante de la longueur d'onde des rayons X utilise. L'intensit I de chaque pic est exprime en pourcent %, 100 % tant la hauteur du pic le plus intense. L'intrt de cette mthode est qu'elle permet de distinguer les diffrentes formes de cristallisation d'un mme compos (par exemple pour la silice, distinguer le quartz de la cristobalite). Cependant, elle ne peut gnralement pas permettre d'identifier des composs amorphes.
b. Appareillage de la mthode :
Du point de vue instrumental, on peut distinguer plusieurs montages chambre DEBYESCHERRER, chambres focalisation (SEEMAN-BOHLIN et GUINIER) et diffractomtre de poudres en gomtrie Bragg-Brentano. L'avantage de ce dernier par rapport aux autres est que l'enregistrement est fait l'aide d'un goniomtre mobile muni d'un dtecteur au lieu d'un film photosensible.
Rfrences
[1] Ciprian Bogdan JURCA Synthse et caractrisation de provskites double Magntorsistives drives de Sr2FeMoO6: thse doctorat, Universit Paris XI (2004). [2] Abdelhadi Aydi Elaboration et caractrisation dilectriques de cramiques ferrolectriques et/ou relaxeur de formule MSnO3-NaNbO3 (M= Ba, Ca) thse doctorat, Universit Bordeaux 1. (2005) [3] Cristian PERCA Structure cristalline et magntique de provskites RBaMn2O6- (o = 0 et 0,5) thse doctorat, Universit Paris XI (2005) [4] Jean-Pierre Eberhart Analyse structurale et chimique des matriaux .DUNOD, Paris, 1997.
Rapport de Mini projet 2011-2012 Chapitre 2 Proprits lectroniques et magntiques de LaMnO3 I. Introduction
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Durant les dix dernires annes, la miniaturisation constante des dispositifs micro-lectroniques conventionnels, motive par la ncessit de stocker et de traiter l'information en plus grande quantit et a plus grande vitesse, a laiss entrevoir les limites de cette technologie. Ce constat a stimul une intense recherche dans un grand nombre de branches des sciences de la matire, dans le but de fabriquer des systmes alternatifs plus performants et/ou de taille largement infrieure au micron. Dans le premier cas, l'volution consiste dvelopper des dispositifs plus simples, plus rapides et moins couteux en nergie. Dans le second cas, il s'agit d'atteindre Des dimensions critiques pour lesquelles la taille de l'objet devient similaire aux longueurs caractristiques du matriau afin de tirer profit de nouveaux effets inobservables l'chelle micronique. La fabrication de ces systmes et leur intgration dans des dispositifs grande chelle impliquent l'utilisation de composs de nature diffrente organiss en htro-structures. Dans ce cadre, le contrle des proprits des matriaux aux interfaces apparait comme un lment cl pour le bon fonctionnement du systme. Parmi les technologies candidates l'laboration d'une nouvelle gnration de dispositifs microlectroniques, l'lectronique de spin prsente de nombreux atouts. Les premires jonctions tunnel magntiques et les systmes vannes de spin ont apport la preuve de l'intrt que reprsente la manipulation du spin de l'lectron dont s'tait dsintresse l'lectronique jusqu'alors. Notamment, l'interaction entre les lectrons itinrants polariss et les moments magntiques localiss donne lieu plusieurs phnomnes de magntorsistance dont l'industrie a dj su tirer profit. Les provskites de manganse (AMnO3), dcouvertes dans les annes 50, sont des oxydes magntiques prsentant une grande varit de proprits. En particulier, les solutions solides du type A1xA'xMnO3 (A = La, Nd ; A' = Ca, Sr, Ba) peuvent prsenter une magntorsistance "colossale" pour x ' 1/3] et il a t dmontr par plusieurs tudes que pour La2=3Ca1=3MnO3 et La2=3Sr1=3MnO3 la polarisation du spin des porteurs de charge est proche de 100 %, ce qui fait de ces composs des semi-mtaux ferromagntiques. Ces deux caractristiques sont d'un grand intrt pour la fabrication de dispositifs. Notamment, la forte polarisation des porteurs permet d'imaginer des portes logiques magntiques, commandes par un champ magntique externe ou par l'injection de courant polaris, et une nouvelle gnration de ttes de lecture magntiques. L'objectif de cette tude est de dvelopper et caractriser des interfaces dans des couches minces de manganites valence mixte (La2=3Ca1=3MnO3 et La2=3Sr1=3MnO3) dans le but de mieux comprendre la relation entre les proprits lectroniques, les proprits magntiques et les perturbations structurales. Des phnomnes plus fondamentaux comme la magntorsistance et l'effet Hall ont galement t l'objet d'une attention particulire dans le cadre des rcentes thories expliquant la transition mtalisolant dans ces composs.
II.
Structure cristalline
Les manganites cristallisent dans la structure provskite ABO3. Celle-ci est cubique dans le cas idal (CaTiO3, SrTiO3, etc) mais selon la grandeur relative des rayons ioniques de A et de B, la structure peut se distordre lgrement et perdre la symtrie cubique. Le facteur de tolrance de Goldschmidt permet de dterminer la stabilit de la structure: Etude des proprits (structurale, magntique dilectrique et optique) de LaMnO3
Pour le cas de LaMnO3 la courbe de diffraction des rayons X est reprsente sur la figure ci-dessous.
III.
1. STRUCTURE ELECTRONIQUE
Dans le compos LaMnO3 la valence de l'ion manganse est 3+ ce qui correspond une configuration lectronique 3d4. Les corrlations inter-lectroniques qui donnent lieu a la loi de Hund dans le cadre d'un modle d'ions libres sont perturbes par le champ lectrostatique octadrique d Etude des proprits (structurale, magntique dilectrique et optique) de LaMnO3
b. Effet Jahn-Teller
Pour les ions 3d4 comme Mn3+, il est possible de diminuer encore l'nergie coulombienne due la rpulsion des orbitales 2p des ions O par l'intermdiaire d'un nouvel abaissement de symtrie consistant en la distorsion des octadres rguliers MnO6. Ce phnomne est l'effet Jahn-Teller. L'longation de l'octadre selon z stabilise l'orbitale dz2 et la compression selon z l'orbitale dz2-y2. Cette modification structurale peut donner lieu des dplacements corrles et devenir un effet coopratif. LaMnO3 pour lequel la valence des ions Mn est 3+ est un compose prototype prsentant une distorsion Jahn-Teller cooprative. La bande eg est spare en deux sous-niveaux, celui de plus basse nergie (dz2) tant occupe par un lectron. On dit que cet effet est coopratif car la distorsion d'un octadre induit la distorsion de ses voisins, de sorte que la configuration la plus favorable correspond alternativement dz2 selon x ou selon y. Les orbitales s'arrangent ainsi de faon priodique dans tout le cristal (ordre orbital). La bande correspondante est totalement remplie et le compose est donc isolant.
2. PROPRIETES MAGNETIQUES
a. Anisotropie
La position des axes de facile et difficile aimantation des couches minces magntiques est dtermine par la comptition des diffrentes anisotropies prsentes. Suzuki et al ont montr qu'un monocristal de LSMO prsente une anisotropie uni-axiale attribue a des effets magnto-cristallins. L'anisotropie de forme joue gnralement un rle important pour des couches. Dans le cas de couches minces de manganite relaxes, une anisotropie bi-axiale dominante, avec des directions faciles contenues dans le plan, est observe. Si le paramtre de maille n'est pas relax, Etude des proprits (structurale, magntique dilectrique et optique) de LaMnO3
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Les SQUID sont les dtecteurs de flux magntique les plus sensibles qui soient connus. Certains sont capables aujourdhui de dceler des variations de flux magntique aussi faibles que le millionime dun quantum de flux ils peuvent galement mesurer toutes grandeurs physiques, quelles soient magntiques, lectriques, thermiques, mcaniques , cela au travers dune conversion en flux Page | 19 magntique, et leurs bandes passantes peuvent tre aussi trs tendues, allant du quasi continu aux trs hautes frquences (au del du gigahertz). Cest la raison pour laquelle les SQUID offrent un panel dapplications extrmes vaste, touchant de nombreux domaines dont celui de la mtrologie. Par lutilisation de la technique Squid, nous avons donn la variation de la susceptibilit et laimantation en fonction de la temprature. La valeur de la temprature de transition est 139.5 K pour diffrente valeurs de champ magntique. Ce qui est remarquable dans les deux figures suivantes.
La mtrologie est la science de la mesure. Des SQUID, combinant ensemble les deux proprits dune sensibilit extraordinaire et dune rponse priodique un signal dentre qui est fonde sur un talon quantique (le quantum de flux 0 = h/2e), sont particulirement bien adapts pour des applications mtrologiques, notamment pour la mtrologie lectrique quantique. Aussi simple quun anneau supraconducteur interrompu par une ou deux jonctions Josephson, le principe de fonctionnement du SQUID repose sur un double phnomne quantifique impliquant la fois le mme quantum 0 : la quantification du flux magntique traversant un anneau supraconducteur et loscillation du supra-courant circulant travers une jonction. Il sagit en fait dun vritable convertisseur tension-flux. La tension de rponse du SQUID tant une fonction priodique du flux appliqu, de priode 0, elle est linarise par une lectronique spcifique (gnralement dans un mode verrouillage de flux). Le dtecteur dispose alors dune trs grande dynamique tout en gardant un rapport signal bruit lev. Le principe de fonctionnement des deux types de SQUID, SQUID radiofrquence (RF) une jonction et SQUID courant continu (DC) deux jonctions. La premire utilisation mtrologique du SQUID comme voltmtre (un dtecteur de zro pour un niveau de tension en dea du femto-volt) pour tester luniversalit de la relation courant-phase dune jonction Josephson est peine une surprise.
Conclusion
La structure cristallographique de LaMnO3 est dterminer est le plus stable orthorhombique. Lnergie de gap est dduite partir de la structure de bande. La temprature de transition est dduite. Le matriau LaMnO3 est antiferromagntique.
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Sigles utiliss
CCC : Comparateur Cryognique de Courants EHQ : Effet Hall Quantique EJ : Effet Josephson EQR : talon Quantique de Rsistance LNM : Laboratoire National de Mtrologie SET : Single Electron Tunneling
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